ES2239986T3 - Procedimiento y dispositivo para la determinacion del perfil transversal y del perfil longitudinal del espesor de una banda continua de material. - Google Patents
Procedimiento y dispositivo para la determinacion del perfil transversal y del perfil longitudinal del espesor de una banda continua de material.Info
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Abstract
Procedimiento para la determinación del perfil transversal y del perfil longitudinal del espesor de una banda de material continua (2) a) en el cual con ayuda de una unidad de medición (6) se determina en al menos dos puntos de medición (22) espesores de banda (D), donde los puntos de medición (22) están colocados transversalmente a la dirección de avance de la banda y distanciados entre sí, b) en el cual se fija la posición longitudinal (24) del perfil longitudinal del espesor a determinar a lo largo de la dirección de avance de la banda, c) en el cual el espesor de la banda (Do) se mide directamente en la posición longitudinal (24) por la unidad de medición y se ajusta a cero el valor de un valor de corrección (-K), d) en el cual se ajusta la unidad de medición (6) transversalmente a la dirección de avance de la banda y se determina la magnitud del ajuste (-P) en relación con la posición longitudinal, e) en el cual a partir de los espesores de la banda (D) determinados en los puntos de medición (22) se calcula el incremento (k) de los espesores de banda (D) transversalmente a la dirección de avance de la banda, f) en el cual el valor de corrección (-K) se calcula como una suma del valor de corrección hasta ahora (-K) y del producto del incremento (k) y de la magnitud del ajuste (-P), g) en el cual de los espesores de banda (D) determinados en los puntos de medición (22) se calcula el espesor de banda medio (Dm), h) en el cual el espesor de banda corregido (Dok) en la posición longitudinal (24) se calcula como la suma del espesor de banda (Dm) y el nuevo valor de corrección (-K), i) en el cual se repiten los pasos d) hasta h) dentro de un ciclo de ajuste de modo iterativo, hasta que la unidad de medición (6) se haya ajustado hasta una posición de ajustado máximo transversalmente a la posición longitudinal y de regreso hasta una posición en la cual se mide directamente el espesor de banda (Do) en la posición longitudinal (24) por la unidad de medición, y en el cual el perfiltransversal del espesor se determina del espesor de banda (Dm) determinado de modo iterativo y el perfil longitudinal del espesor, del espesor de banda (Dok) corregido de modo iterativo.
Description
Procedimiento y dispositivo para la determinación
del perfil transversal y del perfil longitudinal del espesor de una
banda continua de material.
La invención se refiere a un procedimiento y un
dispositivo para la determinación del perfil transversal y del
perfil longitudinal del espesor de una banda continua de
material.
En el estado de la técnica ya se conocen una
multitud de procedimientos de medición. La tarea principal del caso
consiste en recoger con exactitud el perfil transversal del
espesor, por tanto la medición del espesor de la banda sobre el
ancho de la banda transversalmente a la dirección de avance de la
banda y el perfil longitudinal del espesor, por tanto la medición
del espesor de la banda en el centro o en otras posiciones
longitudinales a lo largo de la dirección de avance de la banda.
Hasta ahora solo se puede cumplir este objetivo, cuando durante el
procedimiento de medición se abarca de modo simultáneo el espesor
de la banda en el centro de la banda, así como el espesor de la
banda en la posición transversal a la banda.
Esto se cumple por ejemplo en la medición del
perfil de modo simultáneo en múltiples canales, en la cual por una
parte una unidad de medición, que consta al menos de una fuente de
radiación y al menos de un detector, mide directamente en el centro
de la banda de material y por tanto determina el perfil
longitudinal del espesor. Por otra parte se han previsto unidades
de medición separadas para la determinación del perfil transversal
del espesor, que abarcan la zona de los bordes de la banda de
material.
Debido a los requerimientos anteriormente
mencionados para el volumen de las magnitudes a medir y para la
exactitud de medición los dispositivos conocidos resultan
correspondientemente costosos. Así por ejemplo son necesarias al
menos dos unidades de medición separadas cada una con un cabezal de
medición que implica la colocación de una fuente de radiación y al
menos un detector o una unidad de medición con varios cabezales de
medición.
Los dispositivos y procedimientos anteriormente
descritos están pensados principalmente para la colada continua,
para canales previos para la entrada de las etapas de fabricación
respectivamente. Pues la continua optimización del proceso de
laminado de bandas de material de las etapas de fabricación no se
pueden realizar de modo efectivo sin un conocimiento exacto de la
situación de entrada.
Por tanto la invención se basa en el problema
técnico de reducir el esfuerzo técnico del dispositivo de medición
manteniendo al mismo tiempo una determinación exacta del perfil
transversal y del perfil longitudinal del espesor de una banda
continua de material.
El problema técnico anteriormente mencionado se
soluciona de acuerdo con la invención por un procedimiento,
- a)
- con el cual se determinan con la ayuda de una unidad de medición en al menos dos puntos de medición, los espesores de banda (D), en el cual la unidad de medición presenta al menos una fuente de radiación (8) y al menos dos detectores (10), en el cual un punto de medición (22) es el alcance del volumen de la banda de material (2), por el que ha pasado una radiación medida por un detector (22) coordinado, y en el cual los puntos de medición están colocados separados entre sí transversalmente a la dirección de avance de la banda,
- b)
- en el cual se fija la posición longitudinal del perfil longitudinal del espesor a determinar a lo largo de la dirección de avance de la banda,
- c)
- en el cual se mide directamente el espesor de la banda (D_{o}) en la posición longitudinal por la unidad de medición y se ajusta a cero el valor de corrección (-K),
- d)
- en el cual se ajusta la unidad de medición transversalmente a la dirección de avance de la banda y se determina la magnitud del ajuste (-P) en relación con la posición longitudinal,
- e)
- en el cual con los espesores de banda (D) determinados en los puntos de medición se calcula el incremento (k) de los espesores de banda (D) transversalmente a la dirección de avance de la banda,
- f)
- en el cual se vuelve a calcular el valor de corrección (-K) como la suma del valor de corrección (-K) hasta ahora y del producto del incremento de (k) y la magnitud del ajuste (-P),
- g)
- en el cual se calcula el espesor medio de banda (D_{m}) de los espesores de banda (D) determinados en los puntos de medición,
- h)
- en el cual se calcula el espesor de banda corregido (D_{ok}) en la posición longitudinal como una suma del espesor de banda (D_{m}) y del nuevo valor de corrección (-K),
- i)
- en el cual se repiten de modo iterativo los pasos de d) hasta h) dentro de un ciclo de ajuste, hasta que se haya ajustado la unidad de medición hasta un ajuste máximo transversalmente a la posición longitudinal y de regreso a una posición en la cual se mide directamente el espesor de la banda (D_{o}) en la posición longitudinal por parte de la unidad de medición, y
- j)
- en el cual el perfil transversal del espesor se determina de los espesores de banda (D_{m}) determinados de modo iterativo y el perfil longitudinal de banda se determinan de los espesores de banda (D_{ok}) corregidos de modo iterativo.
La secuencia del procedimiento anteriormente
descrita también se puede designar como una medición de perfil de
múltiples canales transversales y se corresponde con una unidad de
medición para la tarea de base.
Si la unidad de medición durante el registro del
perfil transversal del espesor se encuentra fuera de la posición
longitudinal, si se determina el espesor de banda en la posición
longitudinal de la misma forma, entonces las modificaciones del
espesor que resultan del perfil transversal del espesor, siguen de
modo aditivo un procedimiento matemático. Con ello se abarcan las
diferencias de espesor entre el del perfil transversal y el de la
banda en posición longitudinal, ya que el espesor de la banda varía
en la dirección longitudinal. En conjunto hay que tener en cuenta
para la exactitud del procedimiento, que las desviaciones entre el
espesor de la banda en el centro de la banda y en los bordes
exteriores se encuentran por ejemplo en la zona de menos de un
5%.
Por tanto con la secuencia del procedimiento de
acuerdo con la invención se ha garantizado que se reduce el
esfuerzo técnico del dispositivo de medición, manteniendo así toda
una determinación exacta del perfil transversal y del perfil
longitudinal del espesor de una banda de material continuo. Como
quiera que el procedimiento de acuerdo con la invención se emplea
en particular en la zona de entrada a un tramo de laminación, la
velocidad del avance de la banda en la que tiene lugar una medición
de malla suficientemente fina de la banda de material, determina
una velocidad de paso por la zona de 5 - 15 m/min.
De acuerdo con otra realización de la presente
invención, el problema técnico anteriormente indicado se soluciona
mediante un dispositivo para la determinación del perfil
transversal y del perfil longitudinal del espesor de una banda
continua de material, con un alojamiento, con al menos una fuente
de radiación colocada en el mismo y con al menos dos detectores
alojados en el alojamiento, que están colocados distanciados entre
sí y transversalmente a la dirección de avance de la banda y en
ángulos diferentes, sobre los cuales está dirigida al menos una
fuente de radiación, donde la banda de material está colocada
entre la fuente de radiación y los detectores y donde los
detectores abarcan la banda de material a modo de sección,
transversalmente a su dirección de recorrido, para lo que se han
previsto medios de ajuste para el ajuste sincrónico de la fuente de
radiación y de los detectores en relación con la banda de
material.
material.
Además, el problema técnico se soluciona por el
empleo del dispositivo anteriormente descrito para la realización
del paso del procedimiento previamente descrito.
Otras características y ventajas de la presente
invención se aclaran a continuación en mayor detalle por medio de
unos ejemplos de realización, en los cuales se hace referencia al
dibujo adjunto. En el dibujo se muestra:
Figura 1 una vista lateral en la dirección de
avance de la banda de un primer ejemplo de realización de un
dispositivo de acuerdo con la invención
Figura 2 una vista lateral transversal a la
dirección de avance de la banda, del dispositivo representado en la
figura 1
Figura 3 una vista lateral en la dirección de
avance de la banda de un segundo ejemplo de realización de un
dispositivo de acuerdo con la invención,
Figura 4 una vista en planta de una banda de
material en una representación esquemática, que representa el
ajuste de los puntos de medición, a lo largo de la superficie de la
banda de material, y
Figura 5 una representación esquemática del
perfil transversal del espesor y de las posiciones de los puntos de
medición en diferentes momentos durante el procedimiento de
medición.
En las figuras 1 y 2 se ha representado un primer
ejemplo de realización de un dispositivo de acuerdo con la
invención para la determinación del perfil transversal y del perfil
longitudinal del espesor de una banda continua de material (2). El
dispositivo presenta un alojamiento (4), al menos una unidad de
medición (6) colocada en el alojamiento (4), que presenta una fuente
de radiación (8) y siete detectores (10a - 10g). Los detectores
(10a) hasta (10g) están colocados transversalmente a la dirección
de avance de la banda y distanciados entre sí y están dirigidos
bajo ángulos diferentes sobre la fuente de radiación (8). Además, se
ha previsto una instalación de guiado/avance (12) colocada fuera
del dispositivo y que dirige la banda de material (2), que coloca
la banda de material (2) entre la fuente de radiación (8) y los
detectores (10a - 10g). Los detectores (10a - 10g) abarcan por
tanto la banda de material (2) a modo de sección transversalmente a
su dirección de avance. Además se han previsto unos medios de
ajuste (13) para el ajuste sincrónico de la fuente de radiación (8)
y de los detectores (10a - 10g) en relación con la banda de
material (2).
material (2).
El alojamiento (4) esta realizado de modo
adecuado en forma de C para transportar tanto la fuente de
radiación (8) como también los detectores (10a - 10g) y al mismo
tiempo abarcar la banda de material (2). La fuente de radiación (8)
envía típicamente una radiación electromagnética con una energía
elevada, en particular rayos gamma o Röntgen (X).
Los detectores exteriores (10a y 10g) indican
durante el ajuste de la unidad de medición (6) que la banda de
material (2) alcanza los bordes exteriores. Para ello véase la
figura 4, en la cual se ha representado el ajuste de los puntos de
medición a lo largo de las superficies de la banda de material
(2).
Los detectores (10a - 10g) están realizados por
ejemplo como cámaras de ionización, contadores de escintilación,
tubos contadores o detectores de semiconductores. La elección del
tipo de detector tiene lugar basándose en la fuente de radiación
(8) usada así como en su intensidad.
La unidad de medición (6) descrita dispone de
siete detectores (10a - 10g), sin embargo en principio también se
puede pensar en otras unidades de medición con más o menos
detectores. La elección de la cantidad de detectores (10) tiene
lugar dependiendo del tipo y de la actividad respectivamente a la
potencia de la dosis de la fuente de radiación empleada y al tipo
de detectores empleados con vistas a la exactitud de medición
deseada, incluyendo el ruido estadístico.
La instalación de guiado (12) que no pertenece
necesariamente al dispositivo presenta dos rodillos (14a y 14b),
que son llevados por un chasis de base (16). Con ello los dos
rodillos (14a y 14b) están colocados en ambos lados de la zona
abarcada por la unidad de medición (6), de modo que la banda de
material (2) se pone en una posición definida dentro del
dispositivo.
Los medios de ajuste (13) posibilitan que se
abarque de modo cíclico el ancho de la banda de material (2) en su
conjunto. Para ello están realizados de tal forma, que ajustan el
conjunto de la unidad de medición (6) que consta de la fuente de
radiación (8) y los detectores (10a - 10g) en función con la banda
de material (2).
Como se representa en las figuras 1 y 2, los
medios de ajuste (13) mueven el alojamiento (4) con la fuente de
radiación (8) y los detectores (10a - 10g) en relación con la banda
de material (2). Esto está garantizado por el hecho de que los
medios de ajuste (13) presentan un guiado lineal (18) y unas ranuras
de guiado (20) que están en contacto con este guiado lineal (18).
Para el ajuste se ha previsto además una propulsión lineal, no
representada en detalle. Por el movimiento del alojamiento (4) en
su conjunto se asegura, que la fuente de radiación (8) y los
detectores (10a - 10g) durante el ajuste están colocados siempre en
una posición de ajuste previo entre sí. Sin embargo el tener que
mover un peso relativamente grande con el ajuste es una
desventaja.
Con el ejemplo de realización representado en la
figura 3, por lo contrario, los medios de ajuste (13) ajustan la
fuente de radiación (6) y los detectores (10a - 10g) en relación
con el alojamiento (4), de modo que se ha de mover una masa
reducida. Sin embargo, se ha de garantizar que durante el ajuste
separado, la fuente de radiación (8) y los detectores (10a - 10g)
permanecen ajustados entre sí.
Además, los medios de ajuste (13) presentan un
dispositivo de medición no representado en los dibujos, para la
determinación de la posición de la unidad de medición (13) en
relación con la banda de material (2). Por tanto se pueden abarcar
los datos de posición de la unidad de medición y se pueden dirigir
hacia la valoración de los datos de medición descrita a
continuación.
A continuación se aclara en detalle el
procedimiento de acuerdo con la invención por medio de las figuras
4 y 5.
El procedimiento de acuerdo con la invención para
la determinación del perfil transversal y del perfil longitudinal
del espesor de una banda de material continuo (2) presenta los
siguientes pasos:
- a)
- Con ayuda de una unidad de medición (6) se determinan los espesores de banda (D) en siete puntos de medición (22), los cuales están colocados transversalmente a la dirección de avance de la banda y distanciados entre sí. El valor de medición de cada punto de medición se elabora sobre la duración de un ciclo de medición prescrito. Un valor típico para un ciclo de medición es por ejemplo aproximadamente 10 ms. La determinación del espesor de la banda (D) medida por el detector (10) tiene lugar con ayuda del ángulo de la intensidad conocido de por sí del detector a la banda de material (2).
- b)
- La posición longitudinal (24) del perfil longitudinal del espesor a determinar se fija de modo longitudinal a la dirección de avance de la banda. Como se muestra en las figuras 4 y 5, la posición longitudinal (24) se coloca en el centro de la banda de material(2)
- c)
- El espesor de la banda (D_{o}) se mide en una posición de partida (A) en la posición longitudinal (24) directamente mediante la unidad de medición (6) y se pone el valor de corrección (-K) a cero. Para ello la unidad de medición (6) se coloca de tal forma que la posición longitudinal (24) se coloca dentro de la zona abarcada por los puntos de medición (22a - 22g) de la banda de material (2) y el espesor de la banda (D_{o}) se abarca directamente por un punto de medición (22), preferentemente por el punto de medición (22d) central. También se puede calcular el espesor de la banda (D_{o}) por una interpolación de los espesores de banda (D) de los puntos de medición (22).
- c)
- La unidad de medición (6) se ajusta transversalmente a la dirección de avance de la banda durante una duración de tiempo indicada previamente (t_{o}) hasta (t_{1}), representada en las figuras 4 y 5 hacia la izquierda, donde la figura 5 representa el perfil transversal del espesor y la posición de la unidad de medición (6) en los puntos en el tiempo (t_{o}) y (t_{1}). La magnitud del ajuste (-P) se determina en relación con la posición longitudinal -P = P(t_{1}) - P(t_{o}). La magnitud (-P) se encuentra preferentemente en la magnitud de la distancia de dos puntos de medición (22) del caso, como también se puede reconocer en la figura 5.
La unidad de medición (6) se ajusta con una
velocidad transversal prescrita transversalmente a la dirección de
avance de la banda, en la cual la velocidad transversal se reduce
en la zona de los bordes de la banda de material (2). Un valor
típico para la velocidad transversal es por ejemplo aproximadamente
5 - 15 m/min., sin embargo también otros valores son posibles y
técnicamente realizables. La magnitud del ajuste (-P) se obtiene
entonces de la duración del tiempo del ciclo de corrección indicado
previamente y de la velocidad transversal.
- e)
- De los espesores de banda (D) determinados en los puntos de medición (22) se calcula el incremento (k) de los espesores de la banda (D) transversalmente a la dirección de avance de la banda, con lo cual este se lleva a cabo preferentemente después del ciclo de corrección del caso. Esta duración del ciclo de corrección depende del ruido estadístico de la fuente de radiación, que se muestra por ejemplo en los espesores de banda averiguados, y sirve para reducir el ruido por la formación del valor medio.
La duración del ciclo de corrección se ajusta al
menos durante tanto tiempo como se ajusta la duración de un ciclo
de medición, en el cual preferentemente se ajusta la duración del
ciclo de corrección como un múltiplo de la duración del ciclo de
medición. Un valor típico para la duración de un ciclo de
corrección, que se elige según el caso, en dependencia de las
condiciones previas técnicas, es a modo de ejemplo aproximadamente
100 ms. Para el cálculo del incremento (k) se emplea entonces sobre
el ciclo de corrección un valor medio del espesor de la banda (D)
de cada punto de medición del caso.
Con la ayuda de una regresión lineal se calcula
el incremento (k) de los espesores de banda (D) y las posiciones
absolutas de los puntos de medición transversalmente a la dirección
de avance de la banda. En otras palabras, se adapta un polinomio de
primer grado al transcurso del espesor de la banda. El cálculo de
regresión se lleva a cabo por ejemplo según el procedimiento
Gauss-Jordan, por el método de la suma de los
cuadrados de fallo menores. La corrección lineal lleva a buenos
resultados, ya que las modificaciones del perfil transversal del
espesor sobre un ajuste de la unidad de medición de (-P) en la zona
de la distancia entre dos puntos de medición (22) del caso son
reducidos y permiten una adaptación lineal.
En general es también posible, que con la ayuda
de n puntos de medición (22), donde n es mayor que dos, y con la
ayuda de un cálculo de regresión de un polinomio de grado
n-1 se calcule el incremento (k) de los espesores
de banda (D) y de las posiciones absolutas de los puntos de
medición (22) transversalmente a la dirección de avance de la
banda. Con ello se alcanza una exactitud de medición mayor.
- f)
- El valor de corrección (-K) se calcula de nuevo de acuerdo con la fórmula -K = -K + k + -P. Esto corresponde a una adaptación lineal. El valor de corrección (-K) se puede sin embargo también determinar con términos de corrección de segundo grado o de grados mayores si es el caso, siempre y cuando en el paso e) se haya adaptado un polinomio con un grado mayor de 2.
- g)
- De los espesores de banda (D(i)) determinados en los puntos de medición (22b - 22f), i = 1-5, se calcula el espesor de banda medio (D_{m}), preferentemente como medio aritmético. Con ello se puede calcular particularmente el espesor medio de la banda (D_{m}) en el centro de la zona de la banda de material (2) abarcada por los puntos de medición.
- h)
- El espesor de banda (D_{ok}) corregido en la posición longitudinal. (24) se calcula entonces según la siguiente fórmula:
D_{ok} =
\frac{\sum\limits^{i=5}_{i=1} D(i)}{5} + \Delta K,
\hskip0.5cmi=1-5
en la cual los dos puntos de
medición exteriores (22a y 22g) permanecen sin tenerse en
consideración con los espesores de banda (D(o)) y
(D(6)). Con un procedimiento con otra cantidad de puntos de
medición (22), se ha de emplear la fórmula correspondientemente
para otros valores del índice
i.
- i)
- Los pasos d) hasta h) se repiten de modo iterativo dentro de un ciclo de ajuste. La duración de un ciclo de ajuste dura, hasta que la unidad de medición (6) se haya ajustado hasta un ajuste máximo transversalmente a la posición longitudinal y de regreso hasta una posición en la cual se mide directamente el espesor de la banda (D_{o}) en la posición longitudinal (24) por la unidad de medición (6).
El ajuste máximo en relación con la posición
longitudinal por el borde de la banda de material (2), se indica
previamente con el ejemplo de realización representado en la figura
4 de modo que se abarca esencialmente el ancho total de la banda de
material (2). Para ello se emplean los dos puntos de medición
exteriores para abarcar los laterales de la banda de material (2).
Por tanto se emplean por ejemplo con el uso de siete detectores
(10a - 10g), los dos detectores exteriores (10a y 10g) como medio
de indicación para los bordes de la banda de material (2), mientras
que los detectores (10b - 10f) se emplean para la determinación
del espesor de la banda.
- j)
- El perfil transversal de espesores se determina entonces de los espesores de banda (D_{m}) determinados de modo iterativo y el perfil longitudinal del espesor de los espesores de banda (D_{ok}) corregidos de modo iterativo.
Como medida para un control de calidad, por
tanto, como medida para la exactitud de la corrección del último
ciclo de ajuste para el procedimiento anteriormente descrito se
puede emplear la diferencia entre el espesor de la banda (D_{o})
determinado en el paso c) en la posición longitudinal al principio
del ciclo de ajuste y el espesor de banda corregido (D_{ok})
determinado en el paso i) al final del ciclo de ajuste.
Anteriormente se ha descrito la determinación del
perfil transversal del espesor a un lado de la posición
longitudinal (24), por el hecho de que se ha ajustado la unidad de
medición (6) en una dirección de la posición longitudinal de un
lado del material de banda (2) y de regreso. Esto aparece en la
figura 4 entre las posiciones (A y B). Para abarcar de modo
alternado el ancho de la banda de material (2) en su conjunto se
ajusta por tanto la unidad de medición (6) para la determinación
del perfil transversal del espesor alternativamente a ambos lados
transversalmente a la posición longitudinal (24), para ello véase
la sección (B) hasta (C) en la figura 4.
Una característica del procedimiento de acuerdo
con la invención consiste en el hecho de que con un sumado
iterativo del valor (-K) ocurre una exactitud de fallo, hasta que se
alcanzan los bordes de la banda de material (2). Durante el ajuste
opuesto se elimina ampliamente este fallo debido de nuevo al signo
contrario previo de los valores de incremento.
Claims (37)
1. Procedimiento para la determinación del perfil
transversal y del perfil longitudinal del espesor de una banda de
material continua (2)
- a)
- en el cual con ayuda de una unidad de medición (6) se determina en al menos dos puntos de medición (22) espesores de banda (D), donde los puntos de medición (22) están colocados transversalmente a la dirección de avance de la banda y distanciados entre sí,
- b)
- en el cual se fija la posición longitudinal (24) del perfil longitudinal del espesor a determinar a lo largo de la dirección de avance de la banda,
- c)
- en el cual el espesor de la banda (D_{o}) se mide directamente en la posición longitudinal (24) por la unidad de medición y se ajusta a cero el valor de un valor de corrección (-K),
- d)
- en el cual se ajusta la unidad de medición (6) transversalmente a la dirección de avance de la banda y se determina la magnitud del ajuste (-P) en relación con la posición longitudinal,
- e)
- en el cual a partir de los espesores de la banda (D) determinados en los puntos de medición (22) se calcula el incremento (k) de los espesores de banda (D) transversalmente a la dirección de avance de la banda,
- f)
- en el cual el valor de corrección (-K) se calcula como una suma del valor de corrección hasta ahora (-K) y del producto del incremento (k) y de la magnitud del ajuste (-P),
- g)
- en el cual de los espesores de banda (D) determinados en los puntos de medición (22) se calcula el espesor de banda medio (D_{m}),
- h)
- en el cual el espesor de banda corregido (D_{ok}) en la posición longitudinal (24) se calcula como la suma del espesor de banda (D_{m}) y el nuevo valor de corrección (-K),
- i)
- en el cual se repiten los pasos d) hasta h) dentro de un ciclo de ajuste de modo iterativo, hasta que la unidad de medición (6) se haya ajustado hasta una posición de ajustado máximo transversalmente a la posición longitudinal y de regreso hasta una posición en la cual se mide directamente el espesor de banda (D_{o}) en la posición longitudinal (24) por la unidad de medición, y
- j)
- en el cual el perfil transversal del espesor se determina del espesor de banda (D_{m}) determinado de modo iterativo y el perfil longitudinal del espesor, del espesor de banda (D_{ok}) corregido de modo iterativo.
2. Procedimiento de acuerdo con la reivindicación
1, en el cual la unidad de medición (6) se forma por lo menos de un
detector (10) por punto de medición (22) y al menos de una fuente de
radiación (8).
3. Procedimiento de acuerdo con la reivindicación
1 o 2, en el cual con la ayuda de los detectores (10) se mide la
intensidad disminuida de la radiación a través de la banda de
material (2).
4. Procedimiento de acuerdo con una de las
reivindicaciones de 1 a 3, en el cual se emplean una multitud de
puntos de medición (22), en particular cinco puntos de medición
(22), preferentemente siete puntos de medición en una unidad de
medición (6).
5. Procedimiento de acuerdo con una de las
reivindicaciones de 1 a 4, en el cual sobre la duración de un ciclo
de medición indicada previamente se elabora el valor de medición en
cada punto de medición.
6. Procedimiento de acuerdo con una de las
reivindicaciones de 1 a 5, en el cual la posición longitudinal (24)
en el paso b) está colocada en el centro de la banda de material
(2).
7. Procedimiento de acuerdo con una de las
reivindicaciones de 1 a 6, en el cual la unidad de medición (6) se
coloca de tal forma en el paso c), que la posición longitudinal (24)
se coloca dentro de la zona abarcada por los puntos de medición
(22) de la banda de material (2) y que se calcula el espesor de la
banda (D_{o}) por una interpolación de los espesores de banda (D)
medidos en los puntos de medición (22).
8. Procedimiento de acuerdo con una de las
reivindicaciones de 1 a 7, en el cual la posición longitudinal (24)
es abarcada directamente por un punto de medición (22).
9. Procedimiento de acuerdo con la reivindicación
8, en el cual la posición longitudinal (24) se abarca directamente
por el punto central de una cantidad impar de puntos de
medición.
10. Procedimiento de acuerdo con una de las
reivindicaciones de 1 a 9, en el cual la unidad de medición (6) se
ajusta en el paso d) con una velocidad transversal indicada
previamente transversalmente a la dirección de avance de la
banda.
11. Procedimiento de acuerdo con la
reivindicación 10, en el cual se reduce la velocidad transversal en
la zona de los bordes de la banda de material (2).
12. Procedimiento de acuerdo con la
reivindicación 10 o 11, en el cual la magnitud de ajuste (-P) se
calcula de la duración del ciclo de corrección indicado previamente
y de la velocidad transversal.
13. Procedimiento de acuerdo con una de las
reivindicaciones de 1 a 12, en el cual el incremento (k) de los
espesores de banda (D) en el paso e) se lleva a cabo después de
terminar el ciclo de corrección.
14. Procedimiento de acuerdo con la
reivindicación 13, en el cual la duración del ciclo de corrección
se ajusta tanto tiempo como la duración de al menos un ciclo de
medición.
15. Procedimiento de acuerdo con la
reivindicación 14, en el cual la duración del ciclo de corrección
se ajusta como un múltiplo de la duración del ciclo de medición y
en el cual se emplea para el cálculo del incremento (k) un valor
medio del espesor de la banda (D) sobre el ciclo de corrección de
cada punto de medición (22).
16. Procedimiento de acuerdo con una de las
reivindicaciones de 1 a 15, en el cual con la ayuda de una
regresión lineal se calcula el incremento (k) de los espesores de
banda (D) y de las posiciones absolutas de los puntos de medición
(22) transversalmente a la dirección de avance de la banda.
17. Procedimiento de acuerdo con una de las
reivindicaciones de 1 a 16, en el cual con la ayuda de n puntos de
medición, donde n es mayor que 2, y con la ayuda de un cálculo de
regresión de un polinomio de grado n - 1 se calcula el incremento
(k) de los espesores de banda (D) y las posiciones absolutas de los
puntos de medición (22) transversalmente a la dirección de avance
de la banda.
18. Procedimiento de acuerdo con una de las
reivindicaciones de 1 a 17, en el cual el valor de corrección (-K)
se calcula en el paso f) con los términos de corrección de segundo
grado o si es el caso de un grado mayor.
19. Procedimiento de acuerdo con una de las
reivindicaciones de 1 a 18, en el cual el espesor medio de la banda
(D_{m}) se calcula en el paso g) como el promedio aritmético de
los espesores de banda (D) de los puntos de medición (22).
20. Procedimiento de acuerdo con una de las
reivindicaciones de 1 a 19, en el cual el espesor medio de la banda
(D_{m}) se calcula en el centro de la zona abarcada por los
puntos de medición (22) de la banda de material (2).
21. Procedimiento de acuerdo con una de las
reivindicaciones de 1 a 20, en el cual en el paso i) se indica
previamente el ajuste máximo en relación con la posición
longitudinal (24) por el borde de la banda de material (2).
22. Procedimiento de acuerdo con una de las
reivindicaciones de 1 a 21, en el cual los dos puntos de medición
exteriores (22a, 22g) se emplean para abarcar los bordes de la
banda de material (2).
23. Procedimiento de acuerdo con una de las
reivindicaciones de 1 a 22, en el cual la diferencia entre el
espesor de banda (D_{o}), determinado en el paso c) en la posición
longitudinal al comienzo del ciclo de ajuste y el espesor de banda
corregido (D_{ok}), determinado en el paso i) al final del ciclo
de ajuste, se emplea como medida para la exactitud de la corrección
del último ciclo de ajuste.
24. Procedimiento de acuerdo con una de las
reivindicaciones de 1 a 23, en el cual la unidad de medición (6) se
ajusta para la determinación del perfil transversal del espesor,
alternativamente a ambos lados, transversalmente a la posición
longitudinal (24).
25. Dispositivo para llevar a cabo un
procedimiento de acuerdo con una de las reivindicaciones de 1 a
24,
- -
- con un alojamiento (4),
- -
- con al menos una fuente de radiación (8) colocada en el alojamiento (4) y
- -
- con al menos dos detectores (10) colocados en el alojamiento (4), que están colocados transversalmente a la dirección de avance de la banda, distanciados entre sí y ajustados bajo ángulos diferentes sobre al menos una fuente de radiación (8) y
- -
- en el cual el material de banda (2) está colocado entre la fuente de radiación (8) y los detectores (10),
- -
- en el cual los detectores (10) abarcan la banda de material (2) a modo de sección, transversalmente a su dirección de avance de la banda y en el cual
- -
- se han previsto unos medios de ajuste (13) para el ajuste sincronizado de la fuente de radiación (8) y de los detectores (10) en relación con la banda de material (2).
26. Dispositivo de acuerdo con la reivindicación
25 en el cual el alojamiento (4) está realizado en forma de C.
27. Dispositivo de acuerdo con la reivindicación
25 o 26, en el cual la fuente de radiación (8) emite una radiación
electromagnética de elevada energía, en particular rayos gamma o
X.
28. Dispositivo de acuerdo con una de las
reivindicaciones de 25 a 27, en el cual se ha previsto una multitud
de detectores (10a - 10g).
29. Dispositivo de acuerdo con la reivindicación
28, en el cual los detectores exteriores (10a, 10g) indican que se
alcanzan los bordes exteriores de la banda de material (2).
30. Dispositivo de acuerdo con una de las
reivindicaciones de 25 a 29, en el cual los detectores (10) están
formados como cámaras de ionización, contadores de escintilación,
tubos contadores o detectores de semiconductores.
31. Dispositivo de acuerdo con una de las
reivindicaciones de 25 a 30, en el cual los medios de ajuste (13)
permiten que se abarque de modo cíclico el ancho total de la banda
de material (2).
32. Dispositivo de acuerdo con una de las
reivindicaciones de 25 a 31, en el cual los medios de ajuste (13)
ajustan la unidad de medición (6), que consta de la fuente de
radiación (8) y los detectores (10), en relación con la banda de
material (2).
33. Dispositivo de acuerdo con la reivindicación
32, en el cual los medios de ajuste (13) ajustan el alojamiento
(4) con la fuente de radiación (8) y los detectores (10) en relación
con la banda de material (2).
34. Dispositivo de acuerdo con la reivindicación
32, en el cual los medios de ajuste (13) ajustan la fuente de
radiación (8) y los detectores (10) en relación con el alojamiento
(4).
35. Dispositivo de acuerdo con una de las
reivindicaciones de 25 a 34, en el cual los medios de ajuste (13)
presentan al menos un guiado longitudinal (18) y una propulsión
lineal.
36. Dispositivo de acuerdo con una de las
reivindicaciones de 25 a 35, en el cual los medios de ajuste (13)
presentan un dispositivo de medición para la determinación de la
posición de la unidad de medición (6) en relación con la banda de
material (2).
37. Empleo de un dispositivo de acuerdo con una
de las reivindicaciones 25 a 36 para llevar a cabo un
procedimiento de acuerdo con una de las reivindicaciones de 1 a
24.
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