ES2223334T3 - Procedimiento para la determinacion delaplanitud deuna banda de material. - Google Patents
Procedimiento para la determinacion delaplanitud deuna banda de material.Info
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Abstract
Procedimiento para la determinación de la planitud de una banda de material, donde la banda de material indica previamente una dirección longitudinal y está colocada entre al menos dos fuentes de radiación y una multitud de detectores - en el cual se recogen valores de medición con ayuda de al menos dos fuentes de radiación y de la multitud de detectores en una multitud de puntos de mediciones, donde los puntos de medición, separados entre sí, están colocados transversalmente a la dirección longitudinal en el material de la banda y son abarcados por al menos dos detectores que detectan la radiación del caso bajo diferentes ángulos de espacio, - en el cual la banda de material se mueve en relación con las fuentes de radiación y los detectores en la dirección longitudinal y se recogen en unas distancias indicadas previamente una serie de valores de medición del caso que abarcan esencialmente todos los puntos de medición, - en el cual para cada punto de medición recogido se calcula la inclinación de la banda de material a partir de los valores de medición de los pares de detectores del caso, - en el cual se calcula la longitud de onda y la fase de las modificaciones de la inclinación para series de valores de medición que se suceden con una velocidad relativa conocida en la dirección longitudinal, - en el cual de la longitud de onda y de la fase se calcula al menos un extremo y la serie de valores de medición de los puntos próximos que pertenecen a él, - en el cual se calcula el contorno transversal por la suma de los valores de inclinación de la serie de valores de medición de los extremos, donde se determina la amplitud del contorno transversal y - en el cual de la longitud de onda y de la amplitud del contorno se calcula el alargamiento de la banda.
Description
Procedimiento para la determinación de la
planitud de una banda de material.
La invención se refiere a un procedimiento para
la determinación de la planitud de una banda de material, un
dispositivo para llevar a cabo el procedimiento, así como el empleo
de un dispositivo de medición para un perfil en forma de banda para
la determinación de la planitud.
Con la laminación en frío y en caliente de chapas
de metal surgen desigualdades no deseadas de la chapa de metal
generada en forma de una banda de material, que se extienden en la
dirección de recorrido respectivamente en la dirección longitudinal
así como transversalmente a ella. Estas desigualdades llevan a
flexiones distinguidamente fuertes de la banda de material
verticalmente a la superficie, por lo cual se perturba la planitud
y para diferentes secciones longitudinales de la banda de material,
que están colocadas transversalmente a la dirección longitudinal,
se originan alargamientos de banda diferentes. Existe por o tanto
la necesidad, en el laminado de una chapa de metal, de vigilar la
planitud de la banda de material generada y con las desviaciones de
la planitud influenciar en las condiciones del proceso de
laminado.
El valor del alargamiento de la banda se mide en
unidades de unidad I, donde una unidad I significa una modificación
de longitud relativa de 10^{-5}, por tanto a modo de ejemplo 10
\mum por metro.
De la posición de la técnica se conocen
diferentes procedimientos para la medición de la planitud.
Un primer procedimiento consiste en palpar la
superficie de la banda de material con la ayuda de un rayo láser
paso a paso, con el cual se recoge una trama de los puntos de
separación de la fuente luminosa del láser. De ello se deduce la
flexión de la banda de material y con ello la planitud.
Un segundo procedimiento consta en el hecho de
que con ayuda de un dispositivo de representación óptica se
proyecta una muestra geométrica como por ejemplo una muestra de
rayas sobre la superficie, que se vigila con la ayuda de una cámara.
Por unas flexiones en la superficie se distorsiona la muestra, con
lo cual la magnitud de la distorsión representa una medida para la
planitud.
Los dos procedimientos anteriormente descritos
funcionan sin contacto, por lo cual se usan de preferencia con el
procedimiento de laminado en caliente. Sin embargo las condiciones
del entorno, en particular con el laminado en caliente, llevan a un
mantenimiento frecuente de los componentes ópticos. Además, en los
dos procedimientos, es necesario la colocación de un dispositivo de
medición, que se ha de añadir a los dispositivos empleados de modo
usual para la medición de los perfiles del espesor de la banda.
Estos funcionan por norma con una radiación electromagnética con
una energía elevada.
Un tercer procedimiento emplea una multitud de
medidores de presión colocados uno al lado del otro y que se
desenrollan con la banda de material, que están en contacto con la
banda de material. Flexiones diferentes llevan a presiones
diferentes, de modo que las presiones medidas se pueden valorar como
una medida de la planitud. La desventaja de este procedimiento está
en el contacto mecánico de los medidores de presión en particular
con la banda de material, de modo que no se puede emplear el
procedimiento, en particular con el procedimiento de laminado en
caliente debido a las elevadas temperaturas. Pero también con el
laminado en frío el procedimiento presenta la desventaja de que el
contacto mecánico lleva a un desgaste.
De la patente US 5465214 se conoce además,
determinar la planitud con unos dispositivos de medición óptica
(triangulación), donde se averigua la inclinación local de la
banda.
Finalmente se conocen procedimientos y
dispositivos (véase por ejemplo US 3766386) que miden con la ayuda
de una radiación electromagnética con una necesidad de energía
elevada, como por ejemplo rayos X o gamma, perfiles transversales
al espesor de una banda así como el contorno de la banda, por tanto
la forma y la posición de la banda de material sobre el ancho. Una
determinación de la planitud de la banda de material por lo
contrario no ha sido posible hasta ahora con este procedimiento de
medición.
De ello surge que aparte de con chapas de metal
también en otros materiales pueden originarse desigualdades en
bandas de material, que también se pueden medir con la ayuda del
procedimiento descrito a continuación. Por tanto en lo que sigue en
general siempre se habla de banda de material en lugar de banda de
metal.
La invención se basa en el problema técnico, de
indicar un procedimiento y un dispositivo para la determinación de
la planitud de una banda de material, en el cual el alargamiento de
la banda se calcula de los valores del contorno de la banda.
El problema técnico anteriormente indicado se
soluciona por un procedimiento de acuerdo con la reivindicación 1,
en el cual a continuación con la ayuda de al menos dos fuentes de
radiación y una multitud de detectores se recogen los valores de
medición en una multitud de puntos de medición. Con ello los puntos
de medición están colocados transversalmente a la dirección
longitudinal en el material de la banda de tal forma que están
distanciados unos de otros.
Los puntos de medición se recogen de modo
individual por al menos dos detectores que detectan la radiación
del caso bajo diferentes ángulos en el espacio. Por tanto si es el
caso un detector está adaptado a una de las al menos dos fuentes de
radiación y el otro detector está ajustado a la otra fuente de
radiación. La banda está colocada con ello entre las fuentes de
radiación y los detectores. Como puntos de medición por tanto se ha
de entender aquellos alcances de volumen de la banda de material,
que se recorren por la radiación abarcada por los detectores.
Además, se mueve la banda de material en relación
con las fuentes de radiación y los detectores en una dirección
longitudinal. En las distancias predeterminadas se recogen una
serie de valores de medición que abarcan esencialmente todos los
puntos de medición. Para cada punto de medición abarcada se calcula
después la inclinación de la banda de material a partir de los
valores de medición de los pares de detectores del caso. Por tanto
se da una trama de valores de medición y los valores de inclinación
unidos con ellos, que se extiende sobre un alcance indicado
previamente de la banda de material.
Para series de valores de medición sucesivos se
calculan entonces la longitud de onda y la fase de las
modificaciones de la inclinación con una velocidad relativa
conocida de la banda de material a las fuentes de radiación y los
detectores en la dirección longitudinal, donde estas modificaciones
caracterizan la planitud. Con ello se ha de entender como longitud
de onda la distancia de dos alcances subsiguientes del caso con una
flexión igual hacia arriba o hacia abajo.
Además a partir de la longitud de onda y la fase
se calcula al menos un extremo, para lo cual es válido que la
cantidad de los componentes de paso sea mínima en la dirección
longitudinal. Con ello se asegura que los valores de inclinación
presenten esencialmente solo un componente transversal, que
caracteriza la flexión responsable por el alargamiento de la banda
en la dirección transversal de la banda del material.
En cada extremo se calcula una serie de valores
de medición de los extremos, que representa según el caso la serie
de valores de medición más próxima al extremo, ya que las series de
valores de medición no están colocadas de modo continuado sino
distribuido de modo discreto sobre la banda de material. Por tanto
se obtiene una aproximación bastante exacta en el extremo y la
serie de valores de medición del extremo contiene las informaciones
necesarias para la determinación del contorno transversal.
El contorno transversal se calcula por sumado de
los valores de inclinación de la serie de valores de medición del
extremo y del contorno transversal se determina la amplitud de la
desigualdad en el extremo para cada punto de medición. De la
longitud de onda y de la amplitud del contorno transversal
finalmente se calcula el alargamiento de banda, donde para cada
sección longitudinal de la banda de material que contiene los
puntos de medición correspondiente sucesivos en la dirección
longitudinal se puede calcular un alargamiento de banda.
De acuerdo con la invención se ha llegado a
conocer, que basado en las absorbciones variables de la radiación
transversalmente y longitudinalmente a la banda de material se
pueden averiguar las desigualdades en la banda de material. Además
de modo ventajoso se evalúan separadamente los componentes
contenidos en los valores de los pasos en la dirección longitudinal
y transversalmente a ella.
De modo preferencial se mide la intensidad de la
radiación disminuida a través de la banda de material, con los
detectores. Con ello, el grado de debilitación es una medida para
el espesor de la banda de material traspasado por la radiación.
Además es preferido que los puntos de medición
cubran esencialmente el ancho total de la banda de material. Por
ello se posibilita una investigación del ancho total de la banda de
material con una serie de valores de medición. Entonces un
movimiento lineal hacia adelante y hacia atrás de las fuentes de
radiación y de los detectores transversalmente a la dirección
longitudinal no es necesario, sin embargo la cantidad de detectores
es relativamente grande.
Aparte de este se puede incrementar la exactitud
del procedimiento, por el hecho de que durante el movimiento
longitudinal de la banda de material los detectores se mueven
adicionalmente hacia atrás y hacia adelante transversalmente a la
banda de material con una amplitud en la zona de la distancia de
dos detectores. Por ello se pueden abarcar también los alcances
entre los dos detectores del caso, por lo cual se pueden analizar
alcances de la banda de material que de otra forma no están
incluidos.
Además se pueden resumir los puntos de medición
en canales de medición de al menos dos puntos de medición del caso.
De modo preferencial abarcan los canales de medición esencialmente
la misma cantidad de puntos de medición del caso y para cada canal
de medición se averiguan los valores de las inclinaciones. Además
de modo preferencial se calcula para cada canal de medición por
separado el alargamiento de la banda. Por ello se resume la
información de los puntos de medición vecinos, de modo que se logra
una relación mejorada de señal a ruido. También es posible resumir
los puntos de medición en su conjunto a un canal de medición o si
es el caso una mitad de los puntos de medición de dos canales de
medición. La magnitud de los canales de medición se puede ajustar en
dependencia de la calidad de los valores de medición.
De otro modo preferido se calculan la longitud de
onda y la fase de las desigualdades con la ayuda de una
transformación de fourier. Sin embargo también se pueden usar otros
métodos matemáticos, con los cuales se pueden calcular la longitud
de onda y la fase de las desigualdades.
Como se ha llevado a cabo anteriormente, se
determinan una serie de valores de medición extremos para cada
extremo. De preferencia se calcula el contorno de la banda en la
zona del extremo de los datos de la serie de valores de medición
del extremo y al menos otra serie de valores de medición fijados en
la vecindad por medio de un promedio aritmético. Por ello se mejora
también la relación de señal a ruido. En particular se emplean las
dos series de valores de medición para la valoración, entre las
cuales se encuentra el extremo calculado.
Además de preferencia se lleva a cabo el cálculo
del alargamiento de banda con la ayuda de la fórmula
\left(\frac{Amplitud \ \cdot \
\pi}{\text{Longitud de onda}}\right)^{2} \cdot
10^{5}
donde la amplitud y la longitud de
onda se introducen en el medidor de la unidad, en unidades
I-Unit. Con ello se presupone que las desigualdades
de la banda de material son de forma sinusoidal. De la misma forma,
de modo simplificado, también se puede recurrir a una forma de
triángulo como aproximación, de modo que se puede determinar de una
forma sencilla el alargamiento de la banda de modo
geométrico.
Para el transcurso del procedimiento se necesita
una multitud de series de valores de medición, para determinar la
longitud de onda y la fase de las desigualdades. Por tanto se
prefiere, que al comienzo de la medición se recojan unas series de
valores de medición para una primera longitud de banda indicada
previamente, antes que se valoren estos por primera vez. A
continuación, por tanto después de la primera longitud de banda
indicada previamente, se recogen los valores de medición para una
segunda longitud de banda menor indicada previamente, antes de
valorar finalmente los valores de medición del caso recogidos sobre
una primera longitud de banda por completo. En otras palabras
siempre se valoran series de valores de medición que se hayan
recogido sobre una sección correspondiente de la primera longitud
de banda, para la determinación de la longitud de banda.
A modo de ejemplo, sobre 10 metros de longitud de
banda se recogen a continuación valores de medición en distancias
de 10 cm cada vez. Por tanto se obtienen unos primeros resultados
de valoración después de los 10 primeros metros. A continuación se
miden otros 2 metros de longitud de banda y luego finalmente los
últimos 10 metros. Por ello se alcanza una formación del valor medio
variable dentro de los resultados de la valoración.
El problema técnico mencionado se soluciona
también de acuerdo con la invención por medio de un dispositivo con
las características de la reivindicación 13, cuyas otras
características están contenidas en las reivindicaciones
dependientes. Estos se aclaran en mayor detalle por medio de la
siguiente descripción de un ejemplo de realiza-
ción.
ción.
El problema técnico se soluciona también por
medio del empleo de un dispositivo para la medición del perfil del
espesor de una banda de material para la determinación de la
planitud (véase la reivindicación 20). Este dispositivo presenta al
menos dos fuentes de radiación, una multitud de detectores y medios
para la valoración de los valores de medición recogidos por los
detectores. Los detectores están distanciados entre sí y colocados
en las fuentes de radiación, con lo cual la banda de material está
colocada entre las fuentes de radiación y los detectores y se mueve
relativamente a ellos en la dirección longitudinal. Los detectores
generan valores de medición en puntos de medición colocados en la
banda de material y los medios de valoración calculan las
inclinaciones en los puntos de medición a partir de los valores de
medición y de ellos la planitud de la banda.
Por tanto por primera vez es posible, emplear
también para la medición y la comprobación de la planitud de la
banda de material un dispositivo, disponible simplemente para la
medición del perfil del espesor de banda. Por tanto se reduce el
gasto técnico en su conjunto considerablemente, ya que no es
necesario ningún dispositivo separado conocido por la posición de la
técnica para llevar a cabo el procedimiento mencionado. Como quiera
que la determinación de la planitud se puede llevar a cabo con un
dispositivo ya disponible para la medición del perfil del espesor
de la banda de un material, también se puede emplear la presente
invención para un equipo posterior de los dispositivos disponibles.
Pues el procedimiento de acuerdo con la invención representa
esencialmente un análisis detallado de los valores de medición
medidos hasta ahora.
A continuación se aclara en mayor detalle la
presente invención con un ejemplo de realización en relación con
los dibujos. En los dibujos se muestra:
Figura 1 Un dispositivo para llevar a cabo el
procedimiento de acuerdo con la invención en una vista lateral
esquemática en el sentido longitudinal,
Figura 2 El dispositivo de acuerdo con la figura
1 en una vista lateral esquemática transversal a la dirección
longitudinal,
Figura 3 El trayecto de los rayos a través de la
banda de material en una amplificación de recorte de la figura 1
para diferentes inclinaciones de la banda de material,
Figura 4 Una representación gráfica bidimensional
de la planitud de una banda de material,
Figura 5a Una representación gráfica del
transcurso de las inclinaciones transversalmente a la dirección
longitudinal y
Figura 5b Una representación gráfica del contorno
calculado por la suma de las inclinaciones.
Figura 6 Una representación tridimensional de la
planitud de una banda de material, donde las amplitudes de los
extremos están representadas de modo fuertemente elevado para una
ilustración más clara.
En las figuras 1 y 2 se ha representado un
dispositivo de acuerdo con la invención para la determinación de la
planitud de una banda de material (2). El dispositivo abarca un
alojamiento (4), que está formado en forma de "C" y presenta
un lado superior (6) y un lado inferior (8). En el lado superior (6)
hay colocadas dos fuentes de radiación (10 y 12), que están
colocadas transversalmente a la dirección longitudinal de la banda
de material, separadas entre sí. La dirección longitudinal
transcurre en la figura 1 vertical al plano del dibujo y en la
figura 2 horizontalmente.
Las fuentes de radiación (10 y 12) están formadas
como fuentes de rayos X puestas delante y emiten rayos X bajo un
ángulo indicado en la dirección del lado inferior (8). Sin embargo
también se pueden emitir otras radiaciones electromagnéticas de
energía elevada, en particular rayos gamma.
Una multitud de detectores (14 y 16) están
colocados distanciados entre sí en el lado inferior (8)
transversalmente a la dirección longitudinal y separados de las
fuentes de radiación (10 y 12). Dos detectores del caso (14' - 16',
14'' - 16'', ...) están alineados sobre las dos fuentes de
radiación diferentes (10 y 12) y forman un par de detectores del
caso.
En otro ejemplo de realización, no representado
en el dibujo, se emplean tres detectores para la recogida de los
valores de medición en un punto de medición. Con ello se alcanza
una redundancia más elevada en la determinación de la
inclinación.
Los detectores (14 y 16) son en el presente caso
cámaras de ionización, sin embargo a modo de ejemplo también se
pueden formar en forma de contadores de centelleo, tubos
contadores, o detectores semiconductores. Miden la intensidad de la
radiación que pasa a través de la banda de material, que representa
una medida para la longitud de la vía de paso de la radiación a
través de la banda de material.
La banda de material (2) está colocada entre el
lado superior (6) con las fuentes de radiación (10 y 12) y el lado
inferior (8) con los detectores (14 y 16). Con ello se cruzan los
ejes (18', 18'', ... y 20', 20'', ...), que se forman si es el caso
por los detectores (14', 14'', ... y 16', 16'', ...) de un par y
las fuentes de radiación (10 y 12), esencialmente en la zona de la
banda de material (2) y definen por tanto el punto de medición (22)
de cada par de detectores (14' - 16', 14'' - 16'', ...). Los dos
detectores de un par de detectores (14' - 16', 14'' - 16'', ...)
abarcan por tanto el ángulo de espacio diferencial del caso. Esto
está representado en la figura 3 de modo ampliado.
Como se ha representado en la figura 2, en la
zona del alojamiento (4) hay previstos rodillos (24), que apoyan la
banda de material que pasa a través de ellos.
Además, el dispositivo incluye medios, no
indicados en el dibujo, para la valoración de los valores de
medición recogidos por los detectores (14 y 16), donde los medios
de valoración, que de preferencia presentan al menos una
calculadora, calculan de los valores de medición la inclinación de
la banda de material (2) en los puntos de medición (22) y de ellos
la planitud de la banda de material (2), como se describe a
continuación.
En el dispositivo representado en las figuras 1 y
2 están colocados los detectores (14 y 16) esencialmente sobre el
ancho total de la banda de material (2) de modo distribuido. Por
tanto se abarca el ancho total de la banda de material (2) con la
valoración de los valores de medición de todos los detectores.
Sin embargo se puede incrementar la exactitud del
procedimiento, por el hecho de que durante el movimiento
longitudinal de la banda de material los detectores (14 y 16) se
muevan adicionalmente en va y ven transversalmente a la banda de
material (2), para lo cual hay provistos medios de propulsión, no
representados en el dibujo. La amplitud del movimiento de va y ven
está en la zona de la distancia de dos detectores (12 y 14)
transversalmente a la dirección longitudinal de la banda de
material (2). Por ello se pueden abarcar también zonas entre dos
detectores del caso (12 y 14) no abarcadas de otra forma.
En otra forma de realización, no representada en
el dibujo, los detectores (14 y 16) cubren solo parcialmente el
ancho de la banda de material (2). Con ello hay provistos medios de
propulsión para el movimiento de las fuentes de radiación (10 y 12)
y de los detectores (14 y 16), por tanto del alojamiento (4), donde
los medios de propulsión, durante una serie de mediciones, favorecen
un movimiento esencialmente transversalmente a la dirección
longitudinal. Por tanto se abarca con una cantidad reducida de
detectores (14 y 16), el ancho total de la banda de material, con
lo cual adicionalmente se debe emplear sin embargo el gasto del
movimiento transversal.
Los medios para la valoración de los valores de
medición recogidos por los detectores (14 y 16) están formados como
una multitud de calculadoras, donde una calculadora del caso o un
grupo de calculadores calculan las magnitudes de valoración del
caso como el espesor de la banda, el ancho de la banda, el contorno
de la banda y la planitud. Con ello se logra una valoración en
paralelo con una velocidad elevada.
El procedimiento de acuerdo con la invención se
lleva a cabo ahora del modo siguiente con la ayuda del dispositivo
anteriormente descrito. En una multitud de puntos de medición (22)
se recogen valores de medición, donde los puntos de medición (22)
están colocados transversalmente a la dirección longitudinal en el
material de la banda del material (2) distanciados entre sí. La
banda de material (2) se mueve en la dirección longitudinal en
relación con las fuentes de radiación (10 y 12) y con los
detectores (14 y 16) y a distancias indicadas previamente se
recogen una serie de mediciones (26) que abarcan esencialmente
todos los puntos de medición (22). Los puntos de medición (22)
correspondientes de las series de medición (26) vecinas forman con
ello, en la dirección longitudinal las secciones longitudinales en
las que se ha de investigar, la planitud de la banda de material.
Por ello se da una trama en los puntos de medición (22), que se
extiende sobre la banda de material (2), como se ha representado en
las figuras 4 y 6.
Para cada punto de medición (22) abarcado se
calcula la inclinación de la banda de material (2) a partir de los
valores de medición de los pares de detectores (14' - 16', 14'' -
16'', ...). Como se ha representado en las figuras 3a y 3b, se
provocan con iguales ángulos de espacio, que están representados por
los ejes (18' y 20'), y con inclinaciones diferentes de la banda de
material (2) en relación con estos ángulos de espacio longitudes de
paso diferentes de la radiación a través de la banda de material
(2).
Estas longitudes de paso están marcadas como (a,
b) respectivamente (a', b') con las flechas y llevan a absorciones
diferentes dentro de la banda de material (2), que se expresan en
valores de medición diferentes de los detectores (14' y 16'). De
los ángulos de espacio conocidos de los ejes (18' y 20') se puede
entonces calcular por una parte el espesor y por otra parte la
inclinación de la banda de material (2) como sigue.
Los dos detectores (14 y 16) miden la banda de
material (2) bajo ángulos de espacio conocidos que se desvían entre
sí. De los valores recogidos por los detectores (14 y 16) se
calcula entonces con ayuda de teoremas de adición geométricos
conocidos el ángulo de posición de la banda de material, a modo de
ejemplo en relación con la horizontal. A partir del ángulo de
posición se puede deducir la inclinación.
Para series de valores de medición que siguen una
a otra se calculan con una velocidad relativa conocida de la banda
de material (2) en la dirección longitudinal la longitud de onda y
la fase de las modificaciones de las inclinaciones con la ayuda de
una transformación de Fourier, donde esas modificaciones
caracterizan la planitud de la banda de material (2). Esto está
representado esquemáticamente en las figuras 4 y 6, en las cuales
hay representado un recorte de la banda de material (2). La
dirección longitudinal se extiende en la figura 4 verticalmente y
las series de valores de medición (26) individuales están
representadas como alcances horizontales. Estos alcances
representan líneas orientadas bajo ángulos determinados que
representan las inclinaciones de los puntos de medición (22) del
caso. De ello se da una muestra característica con alcances claros
y oscuros, que representan las secciones subidas y bajadas de la
banda de material (2). La distancia del caso de dos alcances claros
u oscuros en la figura 4 es una medida para la longitud de onda de
las desigualdades.
Por lo contrario en la figura 6 se extiende la
dirección longitudinal de izquierda a derecha y las inclinaciones
diferentes en los puntos de medición (22) individuales se pueden
reconocer claramente en la representación tridimensional, así como
los extremos con las series de valores de medición de los extremos
coordinados (28). Se observa en la representación, tanto en cuanto
es esquemática, que la secuencia de los extremos está representada
en forma de un seno regular. Con bandas de material por lo
contrario se originan los extremos de modo irregular, provocado por
un alargamiento de banda. La consideración como onda sinusoidal es
por tanto una aproximación muy simplificada.
De la longitud de onda y de la fase se calcula al
menos un extremo y la serie de valores de medición de los extremos
(28) próximos que pertenecen a ella. La serie de valores de
medición de los extremos (28) se distingue entonces por el hecho de
que los valores de inclinación presentan esencialmente solo
componentes transversales y con ello se pueden utilizar
directamente para el cálculo del contorno transversal. Por tanto
esencialmente ha tenido lugar una separación de los componentes
longitudinales y transversales. Una consecuencia de los valores de
inclinación transversalmente a la dirección longitudinal está
representada en la figura 5a como encapsulado (30) del plano.
Del contorno transversal se determina entonces la
amplitud de la desigualdad para cada punto de medición (22).
Finalmente se da de la longitud de onda y de la amplitud el
alargamiento de banda para cada sección longitudinal de la banda de
material.
Para una inclinación de la exactitud de la
valoración se puede resumir según el caso una multitud de puntos de
medición en los canales de medición, para los cuales entonces se
calcula según el caso un alargamiento de banda del modo descrito
previamente.
Claims (20)
1. Procedimiento para la determinación de la
planitud de una banda de material, donde la banda de material
indica previamente una dirección longitudinal y está colocada entre
al menos dos fuentes de radiación y una multitud de detectores
- -
- en el cual se recogen valores de medición con ayuda de al menos dos fuentes de radiación y de la multitud de detectores en una multitud de puntos de mediciones, donde los puntos de medición, separados entre sí, están colocados transversalmente a la dirección longitudinal en el material de la banda y son abarcados por al menos dos detectores que detectan la radiación del caso bajo diferentes ángulos de espacio,
- -
- en el cual la banda de material se mueve en relación con las fuentes de radiación y los detectores en la dirección longitudinal y se recogen en unas distancias indicadas previamente una serie de valores de medición del caso que abarcan esencialmente todos los puntos de medición,
- -
- en el cual para cada punto de medición recogido se calcula la inclinación de la banda de material a partir de los valores de medición de los pares de detectores del caso,
- -
- en el cual se calcula la longitud de onda y la fase de las modificaciones de la inclinación para series de valores de medición que se suceden con una velocidad relativa conocida en la dirección longitudinal,
- -
- en el cual de la longitud de onda y de la fase se calcula al menos un extremo y la serie de valores de medición de los puntos próximos que pertenecen a él,
- -
- en el cual se calcula el contorno transversal por la suma de los valores de inclinación de la serie de valores de medición de los extremos, donde se determina la amplitud del contorno transversal y
- -
- en el cual de la longitud de onda y de la amplitud del contorno se calcula el alargamiento de la banda.
2. Procedimiento de acuerdo con la reivindicación
1, en el cual los detectores miden la intensidad de la radiación
que se debilita a través de la banda de material.
3. Procedimiento de acuerdo con la reivindicación
1 o 2, en el cual los puntos de medición esencialmente cubren el
ancho total de la banda de material.
4. Procedimiento de acuerdo con una de las
reivindicaciones de 1 a 3, en el cual los puntos de medición en los
canales de medición están resumidos en al menos dos puntos de
medición del caso.
5. Procedimiento de acuerdo con la reivindicación
4, en el cual los canales de medición abarcan según el caso
esencialmente la misma cantidad de puntos de medición.
6. Procedimiento de acuerdo con la reivindicación
4 o 5, en el cual para cada canal de medición se averiguan los
valores de las inclinaciones.
7. Procedimiento de acuerdo con una de las
reivindicaciones de 4 a 6, en el cual para cada canal de medición
se calcula un alargamiento de banda.
8. Procedimiento de acuerdo con una de las
reivindicaciones de 1 a 7, en el cual se calcula la longitud de
onda y la fase de la planitud con la ayuda de una transformación de
Fourier.
9. Procedimiento de acuerdo con una de las
reivindicaciones de 1 a 8, en el cual se calcula el contorno de la
banda de material en el alcance del extremo a partir de los datos
de la serie de valores de medición de los extremos y al menos una
de las otras series de valores de medición.
10. Procedimiento de acuerdo con una de las
reivindicaciones de 1 a 9, en el cual se lleva a cabo el cálculo
del alargamiento de banda con la ayuda de la fórmula
\left(\frac{Amplitud \ \cdot \
\pi}{\text{Longitud de onda en unidades
I-Unit.}}\right)^{2} \cdot
10^{5}
11. Procedimiento de acuerdo con una de las
reivindicaciones de 1 a 10, en el cual se recogen los valores de
medición al principio para una primera longitud de banda indicada
previamente, antes de que sean valorados.
12. Procedimiento de acuerdo con la
reivindicación 11, en el cual después de la primera longitud de
banda indicada previamente se recogen los valores de medición para
una segunda longitud de banda más pequeña indicada previamente,
antes que se valoren finalmente los valores de medición recogidos
sobre una primera longitud de banda completa.
13. Procedimiento para la determinación de la
planitud de una primera banda de material, donde la banda de
material (2) indica previamente una dirección longitudinal,
- -
- con al menos dos fuentes de radiación (10, 12), que están colocadas transversalmente a la dirección longitudinal y distanciadas entre sí,
- -
- con una multitud de detectores (14, 16), que están distanciados entre sí transversalmente a la dirección longitudinal y distanciados de las fuentes de radiación (10, 12), donde el dispositivo está instalado de tal forma que durante el uso la banda de material (2) está colocada entre las fuentes de radiación (10, 12) y los detectores (14, 16) y
- -
- con medios para la valoración de los valores de medición recogidos por los detectores (14, 16),
- -
- donde si es el caso al menos dos detectores (14, 16) están alineados sobre dos fuentes de radiación diferentes (10, 12) y forman un par de detectores y
- -
- donde los ejes del caso formados por los detectores (14, 16) de un par y las fuentes de radiación (10, 12) se cruzan esencialmente en la zona de la banda de material y con ello indican previamente un punto de medición (22),
- caracterizado por el hecho de que,
- -
- los medios de valoración están instalados de tal forma que durante el uso calculan de los valores de medición las inclinaciones de la banda de material en los puntos de medición (22) y de ello la planitud de la banda de material.
14. Dispositivo de acuerdo con la reivindicación
13 caracterizado por el hecho de que las fuentes de
radiación (10, 12) emiten una radiación electromagnética altamente
energética, en particular radiación de rayos x o gamma.
15. Dispositivo de acuerdo con la reivindicación
13 o 14, caracterizado por el hecho de que los detectores
(14, 16) están formados como cámaras de ionización, contadores de
centelleo, un tubo contador o un detector de
semi-conductores.
16. Dispositivo de acuerdo con una de las
reivindicaciones de 13 a 15, caracterizado por el hecho de
que los detectores (14, 16) están colocados de modo distribuido
sobre esencialmente el ancho total de la banda de material (2).
17. Dispositivo de acuerdo con una de las
reivindicaciones de 13 a 15, caracterizado por el hecho de
que los medios de movimiento para el movimiento de los detectores
(12, 14) están provistos transversalmente a la dirección
longitudinal de la banda de material (2).
18. Dispositivo de acuerdo con una de las
reivindicaciones de 13 a 15, caracterizado por el hecho de
que los detectores (14, 16) cubren parcialmente el ancho de la
banda del material (2) y están provistos unos medios de propulsión
para el movimiento de las fuentes de radiación (14, 16) y de los
detectores (14, 16), donde los medios de propulsión durante una
serie de medición favorecen un movimiento esencialmente
transversalmente a la dirección longitudinal.
19. Dispositivo de acuerdo con una de las
reivindicaciones de 13 a 18, caracterizado por el hecho de
que los medios de valoración están formados como una multitud de
calculadores, donde un calculador del caso o un grupo de
calculadores calculan las magnitudes de valoración del caso al menos
parcialmente paralelas.
20. Empleo de un dispositivo para la medición del
perfil de un espesor de una banda de material para la determinación
de la planitud,
- -
- donde el dispositivo presenta
- -
- al menos dos fuentes de radiación,
- -
- una multitud de detectores, que están distanciados entre sí y colocados en las fuentes de radiación, donde la banda de material está colocada entre las fuentes de radiación y los detectores y se mueve en relación con ellos en una dirección longitudinal y
- -
- medios para la valoración de los valores de medición recogidos por los detectores,
- -
- donde los detectores generan valores de medición para los puntos de medición colocados en la banda de material y
- -
- donde los medios de valoración calculan de los valores de medición las inclinaciones en los puntos de medición y de ello la planitud de la banda de material.
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| DE19924423 | 1999-05-28 | ||
| DE19924423 | 1999-05-28 | ||
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