EP1844341A1 - Verfahren und schaltungsanordnung zum überprüfen von elektrischen kontaktierungen zwischen einem ersten ausgangspin eines ersten leistungsschalters einer leistungsschaltvorrichtung und einem externen knoten und einem zweiten ausgangspin eines zweiten leistungsschalters der leistungsschaltvorrichtung - Google Patents

Verfahren und schaltungsanordnung zum überprüfen von elektrischen kontaktierungen zwischen einem ersten ausgangspin eines ersten leistungsschalters einer leistungsschaltvorrichtung und einem externen knoten und einem zweiten ausgangspin eines zweiten leistungsschalters der leistungsschaltvorrichtung

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Publication number
EP1844341A1
EP1844341A1 EP05816268A EP05816268A EP1844341A1 EP 1844341 A1 EP1844341 A1 EP 1844341A1 EP 05816268 A EP05816268 A EP 05816268A EP 05816268 A EP05816268 A EP 05816268A EP 1844341 A1 EP1844341 A1 EP 1844341A1
Authority
EP
European Patent Office
Prior art keywords
output pin
circuit breaker
voltage
power circuit
comparison value
Prior art date
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Ceased
Application number
EP05816268A
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
Bastian Arndt
Gunther Wolfarth
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Continental Automotive GmbH
Original Assignee
Siemens AG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Siemens AG filed Critical Siemens AG
Publication of EP1844341A1 publication Critical patent/EP1844341A1/de
Ceased legal-status Critical Current

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    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R19/00—Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
    • G01R19/165—Indicating that current or voltage is either above or below a predetermined value or within or outside a predetermined range of values
    • G01R19/16533—Indicating that current or voltage is either above or below a predetermined value or within or outside a predetermined range of values characterised by the application
    • G01R19/16538—Indicating that current or voltage is either above or below a predetermined value or within or outside a predetermined range of values characterised by the application in AC or DC supplies
    • H—ELECTRICITY
    • H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03K—PULSE TECHNIQUE
    • H03K17/00—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
    • H03K17/12—Modifications for increasing the maximum permissible switched current
    • H03K17/122—Modifications for increasing the maximum permissible switched current in field-effect transistor switches

Definitions

  • the invention relates to a method for checking electrical contacts between a first output pin of a first power switch of a power switching device and an external node and a second output pin of a second power switch of the power switching device and the node.
  • Electronic circuit breakers such as half bridges, full bridges, high-side switches, low-side switches or the like, are known to be used in many applications for switching loads.
  • Electronic power switching devices often include multiple power switches, which are interconnected and used as a unit.
  • two output pins for such a power switching device.
  • Such power switching devices are often equipped with diagnostic circuits. Currents and voltages can be measured via the diagnostic circuits. By means of the measured currents and voltages become hardware-technically
  • Error symptoms such as "overcurrent” (OC), "low power overvoltage” (LVT, low voltage overvoltage) gate) or “line break voltage” (VOL, open load voltage) detected.
  • OC overcurrent
  • LVT low power overvoltage
  • VOL line break voltage
  • the existing diagnostic circuits are known to be used for the detection of error symptoms and not for checking the contacts of the output pins of the power switching devices, for example on a printed circuit board.
  • a known diagnostic circuit consists, for example, of a pull-up structure and a pull-down structure, for example of resistors or current sources.
  • a capacitive measuring method In a method used today for checking whether both output pins of the power switching device are contacted, a capacitive measuring method is used. In the capacitive measuring method used, an increased capacitance is indicated if there is no electrical connection between the two output pins and their respective circuit breakers present. Alternatively, the output pins can also be X-rayed during production and evaluated via a special image processing system. These above-mentioned, generally known methods for checking the contacting of the two output pins each require special measuring devices in order to be able to carry out the measurements. However, the special measuring devices for carrying out the measurements are cost-intensive.
  • the object of the present invention is therefore to carry out the electrical contacts of sixteenzuallerden output pins of a power switching device in a simple manner and as inexpensively. As far as possible, no additional measuring devices should be necessary for the check.
  • the diagnosis circuit present for diagnostic purposes that the two output pins to be connected outside the power switching device can be checked for their correct contacting without additional measuring devices.
  • the pull-up structure of the power switching device is connected to an output pin and the pull-down structure of the power switching device to the other output pin. This saves costs for the verification of the two output pins, since no specially provided measuring devices are necessary.
  • the use of this diagnostic circuit ensures that the implementation of the The method according to the invention is very simple in contrast to complex alternatives.
  • the pull-up resistor and the pull-down resistor are interconnected in such a way that they form a voltage divider between a test voltage and ground.
  • the pull-up resistor and the pull-down resistor are interconnected in such a way that they form a voltage divider between a test voltage and ground.
  • the pull-up resistor and the pull-down resistor are designed such that they have an identical resistance value.
  • the inventive method is further simplified by the identical resistance value for the pull-up resistor and the pull-down resistor.
  • the first reference voltage is set such that it is less than half a test voltage.
  • the second reference voltage is set such that it is greater than half a test voltage.
  • the first comparison value is set to a positive logical signal level if the first voltage is greater than the first reference voltage. According to a further preferred development, the first comparison value is set to a negative logic signal level if the first voltage is less than the first reference voltage.
  • the second comparison value is set to a positive logical signal level if the second voltage is greater than the second reference voltage.
  • the second comparison value is set to a negative logical signal level if the second voltage is less than the second reference voltage.
  • FIG. 1 shows a schematic block diagram of an embodiment of a power switching device in which the method according to the invention according to FIG. 2 can be used;
  • FIG. 2 is a schematic flow diagram of a preferred embodiment of the method according to the invention.
  • identical or functionally identical elements and signals have been provided with the same reference numerals, unless stated otherwise.
  • FIG. 1 shows a schematic block diagram of an exemplary embodiment of a power switching device 6 in which the inventive method described below with reference to FIG. 2 can be used.
  • the power switching device 6 has a first power switch 3 and a second power switch 5.
  • the two power switches 3, 5 are controlled by means of a control signal S.
  • the first power switch 3 is coupled to a pull-down resistor 7 of the power switching device 6.
  • the second power switch 5 is coupled to a pull-up resistor 8 of the power switching device 6.
  • the first circuit breaker 3 is connected to the first output pin 2 when it is correctly manufactured.
  • the second power switch 5 is connected to the second output pins 4 when correctly manufactured.
  • the to be switched with the switching device 6 load 10 which is operated with a supply voltage Ubat, is connected to a node 9, with which also the first output pin 2 and the second output pin 4 of the power switching device 6 are connected.
  • the pull-up resistor 8 and the pull-down resistor 7 are preferably interconnected in such a way that they form a voltage divider between see the test voltage Vt and ground 13.
  • the pull-up resistor 8 and the pull-down resistor 7 preferably have the identical resistance value R.
  • the first reference voltage Uref is preferably set to be less than half the test voltage Ut / 2.
  • the second reference voltage Uref2 is preferably se set to be greater than half the test voltage Ut / 2.
  • the first comparison value V1 is set to a positive logical signal level if the first one
  • the first comparison value V1 is set to a negative logical signal level.
  • the second comparison value V2 is set, for example, to a positive logic signal level, if the second voltage U2 is greater than the second reference voltage Uref2. Otherwise, the second comparison value V2 is set to a negative logical signal level.
  • the power switching device 6 has a first comparator 11 and a second comparator 12 which are known to be used in conventional methods for determining fault symptoms such as overcurrent, low power switching device voltage or open circuit voltage.
  • the first comparator 11 and the second comparator 12 are used to check whether there is an electrical contact Ia between the first output pin 2 and the first power switch 3 and an electrical contact Ib between the second output pin 4 and the second power switch 5 ,
  • the first comparator 11 compares the first voltage Ul applied to the output pin 2 with the first reference voltage Uref, which is adjusted such that it is smaller than half the test voltage Ut / 2.
  • the first comparator 11 sets the first comparison value V1 to a positive logical signal level when the first voltage Ul is greater than the first reference voltage Uref.
  • the second comparator 12 compares the second voltage U2 applied to the second output pin 4 with the second reference voltage Uref2, which is adjusted such that it is greater than half the test voltage Ut / 2.
  • the second comparator 12 sets the second comparison value V2 to a positive logical signal level when the second voltage U2 is greater than the second reference voltage Uref2.
  • the contact Ia between the first output pin (2) and the external node (9) and / or the contact (Ib) between the second output pin (4) and the external node (9) is interrupted, if the first Comparison value (Vl) to a negative logic signal level and the second comparison value (V2) are set to a positive logic signal level. If this is determined, the power switching device 6 checked after production is not suitable for transmitting the desired current via the common node 9 by means of the two output pins 2, 4.
  • Figure 2 shows a schematic flow diagram of a preferred embodiment of the inventive method for checking electrical contacts Ia, Ib between see the first output pin 2 and the external node 9 and between the second output pin 4 and the node 9 of a power switching device 6.
  • the first Circuit breaker 3 is coupled to the pull-down resistor 7 of the power switching device 6 and the second power switch 5 is coupled to the pull-up resistor 8 of the power switching device 6.
  • the first output pin 2 and the second output pin 4 are connected to a common node 9 outside the power switching device 6 (see in particular FIG. 1).
  • the method according to the invention will be explained below with reference to the block diagram in FIG.
  • the method according to the invention comprises the following method steps:
  • the first power switch 3 is coupled to a pull-down resistor 7 and the second power switch is coupled to a pull-up resistor 8.
  • the first output pin 2 and the second output pin 4 are connected to each other via a node 9 arranged outside the power switching device 6.
  • a dropping at the pulldown resistor 7 first voltage Ul is compared with an adjustable first reference voltage U refl for determining a first comparison value Vl.
  • the first reference voltage Urefl is set to be less than half a test voltage Ut / 2.
  • the first comparison value V1 is set to a positive logic signal level if the first voltage Ul is greater than the first reference voltage Uref, and the first comparison value V1 is set to a negative logic signal level if the first voltage Ul is smaller than the first reference voltage U - refl is.
  • Method step d A second voltage U2 applied to the output pin 4 is compared with an adjustable second reference voltage Uref2 to determine a second comparison value V2.
  • the second reference voltage Uref2 is set to be greater than half the test voltage Ut / 2.
  • the second comparison value V2 is set to a positive logical signal level if the second voltage U2 is greater than the second reference voltage Uref2 is, and the second comparison value V2 is set to a negative logic signal level, if the second voltage U2 is smaller than the second reference voltage Uref2.
  • the pull-up resistor 8 and the pull-down resistor 7 are formed to have an identical resistance value R (see FIG. 2).
  • the manufactured power switching device 6 is not useful to the currents of the first circuit breaker 3 and 3 via the external node 9 of the second power switch 5 to increase the Stromtragfä- ability to transmit together.
  • the first output pin 2 with the first power switch 3 and the second output pin 4 are not contacted with the second power switch 5, if the first comparison value Vl set to a negative logic signal level and the second comparison value V2 to a positive logic signal level are.

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Abstract

Erfindungsgemäß wird eine an einem Pulldown-Widerstand, der mit dem ersten Leistungsschalter gekoppelt ist, abfallende erste Spannung mit einer einstellbaren ersten Referenzspannung zur Bestimmung eines ersten Vergleichswertes und eine an dem Pullup-Widerstand, der mit dem zweiten Leistungsschalter gekoppelt ist, abfallende zweite Spannung mit einer einstellbaren zweiten Referenzspannung zur Bestimmung eines zweiten Vergleichswertes verglichen. Dann wird in Abhängigkeit des ersten Vergleichswertes und des zweiten Vergleichswertes festgestellt, ob der erste Ausgangspin des ersten Leistungsschalter und der zweite Ausgangspin des zweiten Leistungsschalter miteinander kontaktiert sind, wobei der erste Ausgangspin und der zweite Ausgangspin über einen außerhalb der Leistungsschaltvorrichtung angeordneten Knoten miteinander verbunden sind.

Description

Beschreibung
Verfahren und Schaltungsanordnung zum Überprüfen von elektrischen Kontaktierungen zwischen einem ersten Ausgangspin eines ersten Leistungsschalters einer Leistungsschaltvorrichtung und einem externen Knoten und einem zweiten Ausgangspin eines zweiten Leistungsschalters der Leistungsschaltvorrichtung und dem Knoten
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Überprüfen von e- lektrischen Kontaktierungen zwischen einem ersten Ausgangspin eines ersten Leistungsschalters einer Leistungsschaltvorrichtung und einem externen Knoten und einem zweiten Ausgangspin eines zweiten Leistungsschalters der Leistungs- schaltvorrichtung und dem Knoten .
Elektronische Leistungsschalter, wie zum Beispiel Halbbrücken, Vollbrücken, High-Side-Schalter, Low-Side-Schalter o- der dergleichen, werden bekanntermaßen in vielen Applikatio- nen zum Schalten von Lasten eingesetzt . Elektronische Leistungsschaltvorrichtungen weisen oft mehrere Leistungsschalter auf, wobei diese zusammengeschaltet werden und als eine Einheit verwendet werden . Aus technischen Gründen kann es aus Gründen der Stromtragfähigkeit notwendig sein, für eine solche Leistungsschaltvorrichtungen zwei Ausgangspins zu verwenden . Hierfür ist es notwendig, die Ausgänge der Leistungsschalter symmetrisch auf die beiden Ausgangspins zu verteilen . Die beiden Ausgangspins müssen dann außerhalb der Leistungsschaltvorrichtungen mittels eines Knotens verbunden werden .
Solche Leistungsschaltvorrichtungen sind häufig mit Diagnoseschaltungen ausgestattet . Über die Diagnoseschaltungen können Ströme und Spannungen gemessen werden . Mittels der gemessenen Ströme und Spannungen werden hardwaretechnisch
Fehlersymptome wie "Überstrom" (OC, overcurrent) , "niedrige Leistungsschalterspannung" (LVT, low voltage over transis- tor) oder "Leitungsbruchspannung" (VOL, open load voltage) detektiert . Mittels der detektierten Fehlersymptome wird dann softwaretechnisch entschieden, ob ein bestimmter Fehlertyp vorliegt . Die vorhandenen Diagnoseschaltungen werden bekanntlich zur Detektion von Fehlersymptomen und nicht zum Überprüfen der Kontaktierungen der Ausgangspins der Leistungsschaltvorrichtungen, zum Beispiel auf eine Leiterplatte, verwendet .
Eine bekannte Diagnoseschaltung besteht beispielsweise aus einer Pullup-Struktur und einer Pulldown-Struktur, zum Beispiel aus Widerständen oder Stromquellen .
Aufgrund fertigungstechnischer Probleme kann es aber vorkom- men, dass ein Ausgangspin nicht elektrisch kontaktiert ist . Tritt dies bei einer Leistungsschaltvorrichtung mit nur einem Ausgangspin auf, kann dies auf bekannte Weise über die Diagnoseschaltungen erkannt werden . Sofern aber die Leistungsschaltvorrichtung zwei Ausgangspins besitzt, ist dies nicht mehr möglich . Ist dann ein Ausgangspin nicht kontaktiert , so kann die gewünschte Stromtragfähigkeit der Leistungsschaltvorrichtung nicht erreicht werden, mit der Folge, dass die Leistungsschaltvorrichtung die Last nicht treiben kann . Damit ist eine solche Leistungsschaltvorrichtung, bei welcher einer der zusammenzuschließenden Ausgangspins nicht kontaktiert ist, unbrauchbar, um ausgangsseitig die gewünschte Stromtragfähigkeit bereitzustellen . Folglich ist nach der Montage der Leistungsschaltvorrichtung eine Überprüfung der korrekten Kontaktierung der Leistungsschalter mit ihren j eweiligen Ausgangspins notwendig .
Bei einer heute eingesetzten Methode für die Überprüfung, ob beide Ausgangspins der Leistungsschaltvorrichtung kontaktiert sind, wird ein kapazitives Messverfahren verwendet . Bei dem eingesetzten kapazitiven Messverfahren wird eine erhöhte Kapazität angezeigt, wenn keine elektrische Verbindung beider Ausgangspins zu ihren j eweiligen Leistungsschaltern vorliegt . Alternativ können die Ausgangspins bei der Fertigung auch geröntgt werden und über ein spezielles Bildverarbeitungssystem bewertet werden . Diese eben genannten, allgemein bekannten Verfahren zur Überprüfung der Kontaktierung beider Ausgangspins benötigen j eweils spezielle Messvorrichtungen, um die Messungen durchführen zu können . Die speziellen Messvorrichtungen zur Durchführung der Messungen sind allerdings kostenintensiv .
Die Aufgabe der vorliegenden Erfindung besteht daher darin, auf einfache Weise und möglichst kostengünstig die elektrischen Kontaktierungen von zusammenzuschließenden Ausgangspins einer Leistungsschaltvorrichtung durchzuführen . Für die Überprüfung sollen möglichst keine zusätzlichen Messvorrich- tungen notwendig sein .
Erfindungsgemäß wird zumindest eine dieser gestellten Aufgaben durch ein Verfahren mit den Merkmalen des Patentanspruchs 1 sowie durch eine Schaltungsanordnung zur Durchfüh- rung des Verfahrens mit den Merkmalen des Patentanspruchs 8 gelöst .
Für Diagnosezwecke, wie zum Beispiel zur Detektion der eingangs erwähnten Fehlersymptome, ist nahezu j ede Leistungs- schaltvorrichtung mit einer Diagnoseschaltung ausgerüstet .
Vorteilhafterweise wird durch die Ausnutzung der für Diagnosezwecke vorhandenen Diagnoseschaltung erreicht, dass die beiden außerhalb der Leistungschaltvorrichtung zu verbindenden Ausgangspins ohne zusätzliche Messvorrichtungen auf ihre korrekte Kontaktierung überprüft werden können . Hierzu wird die Pullup-Struktur der Leistungsschaltvorrichtung mit einem Ausgangspin und die Pulldown-Struktur der Leistungsschaltvorrichtung mit dem anderen Ausgangspin verbunden . Dadurch werden Kosten für die Überprüfung der beiden Ausgangspins eingespart, da keine eigens vorzusehenden Messvorrichtungen nötig sind. Außerdem wird durch die Ausnutzung dieser Diagnoseschaltung erreicht, dass die Durchführung des erfin- dungsgemäßen Verfahrens im Unterschied zu komplexen Alternativen sehr einfach ist .
Vorteilhafte Ausgestaltungen und Weiterbildungen der Erfin- düng ergeben sich aus den Unteransprüchen sowie der Beschreibung unter Bezugnahme auf die Zeichnungen .
Gemäß einer bevorzugten Ausgestaltung der Erfindung werden der Pullup-Widerstand und der Pulldown-Widerstand derart miteinander verschaltet, dass sie zwischen einer Testspannung und Masse einen Spannungsteiler ausbilden . Vorteilhafterweise kann durch Messung j eweils der geteilten Testspannung an dem Pullup-Widerstand und dem Pulldown-Widerstand auf einfache Weise überprüft werden, ob beide Ausgangspins der Leistungsschaltvorrichtung kontaktiert sind.
Gemäß einer bevorzugten Weiterbildung werden der Pullup- Widerstand und der Pulldown-Widerstand derart ausgebildet, dass sie einen identischen Widerstandswert aufweisen . Vor- teilhafterweise wird durch den identischen Widerstandswert für den Pullup-Widerstand und den Pulldown-Widerstand das erfindungsgemäße Verfahren weiter vereinfacht .
Gemäß einer weiteren bevorzugten Weiterbildung wird die ers- te Referenzspannung derart eingestellt, dass sie kleiner als eine halbe Testspannung ist .
Gemäß einer weiteren bevorzugten Weiterbildung wird die zweite Referenzspannung derart eingestellt, dass sie größer als eine halbe Testspannung ist .
Gemäß einer weiteren bevorzugten Weiterbildung wird der erste Vergleichswert auf einen positiven logischen Signalpegel gesetzt, falls die erste Spannung größer als die erste Refe- renzspannung ist . Gemäß einer weiteren bevorzugten Weiterbildung wird der erste Vergleichswert auf einen negativen logischen Signalpegel gesetzt, falls die erste Spannung kleiner als die erste Referenzspannung ist .
Gemäß einer weiteren bevorzugten Weiterbildung wird der zweite Vergleichswert auf einen positiven logischen Signalpegel gesetzt, falls die zweite Spannung größer als die zweite Referenzspannung ist .
Gemäß einer weiteren bevorzugten Weiterbildung wird der zweite Vergleichswert auf einen negativen logischen Signalpegel gesetzt, falls die zweite Spannung kleiner als die zweite Referenzspannung ist .
Gemäß einer weiteren bevorzugten Weiterbildung wird im Verfahrensschritt (e) festgestellt, dass die Kontaktierung zwischen dem ersten Ausgangspin und dem ersten Leistungsschalter und/oder die Kontaktierung zwischen dem zweiten Aus- gangspin und dem zweiten Leistungsschalter unterbrochen ist, falls der erste Vergleichswert auf einen negativen logischen Signalpegel und der zweite Vergleichswert auf einen positiven logischen Signalpegel gesetzt sind.
Die Erfindung wird nachfolgend anhand der in den schematischen Figuren der Zeichnung angegebenen Ausführungsbeispielen näher erläutert . Es zeigen :
Figur 1 ein schematisches Blockdiagramm eines Ausführungs- beispiels einer Leistungsschaltvorrichtung, bei welchem das erfindungsgemäße Verfahren gemäß Figur 2 einsetzbar ist; und
Figur 2 ein schematisches Ablaufdiagramm eines bevorzugten Ausführungsbeispiels des erfindungsgemäßen Verfahrens . In allen Figuren sind gleiche beziehungsweise funktionsgleiche Elemente und Signale - sofern nichts anderes angegeben ist - mit denselben Bezugszeichen versehen worden .
Figur 1 zeigt ein schematisches Blockdiagramm eines Ausführungsbeispiels einer Leistungsschaltvorrichtung 6, bei welcher das nachfolgend anhand der Figur 2 beschriebene, erfindungsgemäße Verfahren einsetzbar ist .
Die Leistungsschaltvorrichtung 6 gemäß Figur 1 weist einen ersten Leistungsschalter 3 und einen zweiten Leistungsschalter 5 auf . Die beiden Leistungsschalter 3, 5 werden mittels eines Steuersignals S gesteuert . Der erste Leistungsschalter 3 ist mit einem Pulldown-Widerstand 7 der Leistungsschalt- Vorrichtung 6 gekoppelt . Der zweite Leistungsschalter 5 ist mit einem Pullup-Widerstand 8 der Leistungsschaltvorrichtung 6 gekoppelt . Der erste Leistungsschalter 3 ist bei einer korrekten Fertigung mit dem ersten Ausgangspin 2 verbunden . Der zweite Leistungsschalter 5 ist bei einer korrekten Fer- tigung mit den zweiten Ausgangspins 4 verbunden .
Die mit der Schaltvorrichtung 6 zu schaltende Last 10 , welche mit einer Versorgungsspannung Ubat betrieben wird, ist mit einem Knoten 9 verbunden, mit welchem auch der erste Ausgangspin 2 und der zweite Ausgangspin 4 der Leistungsschaltvorrichtung 6 verbunden sind.
Der Pullup-Widerstand 8 und der Pulldown-Widerstand 7 werden vorzugsweise derart miteinander verschaltet, dass sie zwi- sehen der Testspannung Vt und Masse 13 einen Spannungsteiler ausbilden . Der Pullup-Widerstand 8 und der Pulldown- Widerstand 7 weisen vorzugsweise den identischen Widerstandswert R auf .
Die erste Referenzspannung Urefl wird vorzugsweise derart eingestellt, dass sie kleiner als eine halbe Testspannung Ut/2 ist . Die zweite Referenzspannung Uref2 wird vorzugswei- se derart eingestellt, dass sie größer als die halbe Testspannung Ut/2 ist .
Beispielsweise wird der erste Vergleichswert Vl auf einen positiven logischen Signalpegel gesetzt, falls die erste
Spannung Ul größer als die erste Referenzspannung Urefl ist . Andernfalls wird der erste Vergleichswert Vl auf einen negativen logischen Signalpegel gesetzt .
Der zweite Vergleichswert V2 wird beispielsweise auf einen positiven logischen Signalpegel gesetzt, falls die zweite Spannung U2 größer als die zweite Referenzspannung Uref2 ist . Andernfalls wird der zweite Vergleichswert V2 auf einen negativen logischen Signalpegel gesetzt .
Die Leistungsschaltvorrichtung 6 weist einen ersten Kompara- tor 11 und einen zweiten Komparator 12 auf, welche bekanntermaßen in herkömmlichen Verfahren zur Bestimmung von Fehlersymptomen wie Überstrom, niedrige Leistungsschaltvorrich- tungsspannung oder Leitungsbruchspannung eingesetzt werden .
Erfindungsgemäß werden aber der erste Komparator 11 und der zweite Komparator 12 dazu eingesetzt, um zu prüfen, ob eine elektrische Kontaktierung Ia zwischen dem ersten Ausgangspin 2 und dem ersten Leistungsschalter 3 sowie eine elektrische Kontaktierung Ib zwischen dem zweiten Ausgangspin 4 und dem zweiten Leistungsschalter 5 besteht .
Dazu vergleicht der erste Komparator 11 die an dem Ausgangs- pin 2 anliegende erste Spannung Ul mit der ersten Referenzspannung Urefl , welche derart eingestellt ist, dass sie kleiner als die halbe Testspannung Ut/2 ist . Der erste Komparator 11 setzt den ersten Vergleichswert Vl dann auf einen positiven logischen Signalpegel, wenn die erste Spannung Ul größer als die erste Referenzspannung Urefl ist . Der zweite Komparator 12 vergleicht die an dem zweiten Ausgangspin 4 anliegende zweite Spannung U2 mit der zweiten Referenzspannung Uref2 , welche derart eingestellt ist, dass sie größer als die halbe Testspannung Ut/2 ist . Der zweite Komparator 12 setzt ausgangsseitig den zweiten Vergleichswert V2 dann auf einen positiven logischen Signalpegel, wenn die zweite Spannung U2 größer als die zweite Referenzspannung Uref2 ist .
Erfindungsgemäß wird festgestellt, dass die Kontaktierung Ia zwischen dem ersten Ausgangspin (2 ) und dem externen Knoten ( 9) und/oder die Kontaktierung (Ib) zwischen dem zweiten Ausgangspin (4 ) und dem externen Knoten ( 9) unterbrochen ist, falls der erste Vergleichswert (Vl ) auf einen negativen logischen Signalpegel und der zweite Vergleichswert (V2 ) auf einen positiven logischen Signalpegel gesetzt sind. Wird dies festgestellt, so ist die nach der Fertigung überprüfte Leistungsschaltvorrichtung 6 nicht dazu geeignet, mittels der beiden Ausgangspins 2 , 4 über den gemeinsamen Knoten 9 den gewünschten Strom zu übertragen .
Figur 2 zeigt ein schematisches Ablaufdiagramm eines bevorzugten Ausführungsbeispiels des erfindungsgemäßen Verfahrens zum Überprüfen von elektrischen Kontaktierungen Ia, Ib zwi- sehen dem ersten Ausgangspin 2 und dem externen Knoten 9 und zwischen dem zweiten Ausgangspin 4 und dem Knoten 9 einer Leistungsschaltvorrichtung 6. Dabei ist der erste Leistungsschalter 3 mit dem Pulldown-Widerstand 7 der Leistungsschaltvorrichtung 6 und der zweite Leistungsschalter 5 mit dem Pullup-Widerstand 8 der Leistungsschaltvorrichtung 6 gekoppelt . Weiter sind der erste Ausgangspin 2 und der zweite Ausgangspin 4 mit einem gemeinsamen Knoten 9 außerhalb der Leistungsschaltvorrichtung 6 verbunden (siehe insbesondere Figur 1 ) . Nachfolgend wird das erfindungsgemäße Verfahren anhand des Blockschaltbilds in Figur 2 erläutert . Das erfindungsgemäße Verfahren weist folgende Verfahrensschritte auf :
Verfahrensschritt a :
Der erste Leistungsschalter 3 wird mit einem Pulldown- Widerstand 7 und der zweite Leistungsschalter wird mit einem Pullup-Widerstand 8 gekoppelt .
Verfahrensschritt b :
Der erste Ausgangspin 2 und der zweite Ausgangspin 4 werden über einen außerhalb der Leistungsschaltvorrichtung 6 angeordneten Knoten 9 miteinander verbunden .
Verfahrensschritt c :
Eine an dem Pulldown-Widerstand 7 abfallende erste Spannung Ul wird mit einer einstellbaren ersten Referenzspannung U- refl zur Bestimmung eines ersten Vergleichswertes Vl verglichen . Vorzugsweise wird die erste Referenzspannung Urefl derart eingestellt, dass sie kleiner als eine halbe Testspannung Ut/2 ist . Beispielsweise wird der erste Vergleichswert Vl auf einen positiven logischen Signalpegel gesetzt, falls die erste Spannung Ul größer als die erste Referenzspannung Urefl ist, und der erste Vergleichswert Vl wird auf einen negativen logischen Signalpegel gesetzt, falls die erste Spannung Ul kleiner als die erste Referenzspannung U- refl ist .
Verfahrensschritt d: Eine am Ausgangspin 4 anliegende zweite Spannung U2 wird mit einer einstellbaren zweiten Referenzspannung Uref2 zur Bestimmung eines zweiten Vergleichswertes V2 verglichen . Vorzugsweise wird die zweite Referenzspannung Uref2 derart eingestellt, dass sie größer als die halbe Testspannung Ut/2 ist . Beispielsweise wird der zweite Vergleichswert V2 auf einen positiven logischen Signalpegel gesetzt, falls die zweite Spannung U2 größer als die zweite Referenzspannung Uref2 ist, und der zweite Vergleichswert V2 wird auf einen negativen logischen Signalpegel gesetzt, falls die zweite Spannung U2 kleiner als die zweite Referenzspannung Uref2 ist . Vorzugsweise werden der Pullup-Widerstand 8 und der Pulldown-Widerstand 7 derart ausgebildet, dass sie einen i- dentischen Widerstandswert R (vergleiche Figur 2 ) aufweisen .
Verfahrensschritt e :
Abschließend wird in Abhängigkeit des ersten Vergleichswer- tes Vl und des zweiten Vergleichswertes V2 festgestellt, ob der erste Ausgangspin 2 mit dem ersten Leistungsschalter 3 und der zweite Ausgangpin 4 mit dem zweiten Leistungsschalter 5 kontaktiert sind. Wird also festgestellt, dass der erste Ausgangspin 2 mit dem ersten Leistungsschalter 3 und der zweite Ausgangspin 4 mit dem zweiten Leistungsschalter 5 nicht kontaktiert sind, so ist die gefertigte Leistungsschaltvorrichtung 6 nicht brauchbar, um über den externen Knoten 9 die Ströme des ersten Leistungsschalters 3 und des zweiten Leistungsschalters 5 zur Steigerung der Stromtragfä- higkeit zusammen zu übertragen . Vorzugsweise wird also festgestellt, dass der erste Ausgangspin 2 mit dem ersten Leistungsschalter 3 und der zweite Ausgangspin 4 mit dem zweiten Leistungsschalter 5 nicht kontaktiert sind, falls der erste Vergleichswert Vl auf einen negativen logischen Signalpegel und der zweite Vergleichswert V2 auf einen positiven logischen Signalpegel gesetzt sind.
Obwohl die vorliegende Erfindung vorstehend anhand der bevorzugten Ausführungsbeispiele beschrieben wurde, ist sie darauf nicht beschränkt, sondern auf vielfältige Art und
Weise modifizierbar . Beispielsweise ist es denkbar, die Zuordnung der logischen Signalpegel für den ersten und zweiten Vergleichswert umzukehren .

Claims

Patentansprüche
1. Verfahren zum Überprüfen von elektrischen Kontaktierungen (Ia, Ib) zwischen einem ersten Ausgangspin (2 ) eines ers- ten Leistungsschalters (3) einer Leistungsschaltvorrichtung ( 6) und einem externen Knoten ( 9) und einem zweiten Ausgangspin (4 ) eines zweiten Leistungsschalters (5) der Leistungsschaltvorrichtung ( 6) und dem Knoten ( 9) , mit :
(a) Koppeln des ersten Leistungsschalters (3) mit einem PuIl- down-Widerstand (7 ) und des zweiten Leistungsschalters (5) mit einem Pullup-Widerstand (8 ) ;
(b) miteinander Verbinden des ersten Ausgangspins (2 ) und des zweiten Ausgangspins (4 ) über den externen, außerhalb der Leistungsschaltvorrichtung ( 6) angeordneten Knoten ( 9) ;
(c) Vergleichen einer zwischen dem ersten Ausgangspin (2 ) und Masse (13) anliegenden ersten Spannung (Ul ) mit einer einstellbaren ersten Referenzspannung (Urefl ) zur Bestimmung eines ersten Vergleichswertes (Vl ) ; (d) Vergleichen einer zwischen dem zweiten Ausgangspin (4 ) und Masse (13) anliegenden zweiten Spannung (U2 ) mit einer einstellbaren zweiten Referenzspannung (Uref2 ) zur Bestimmung eines zweiten Vergleichswertes (V2 ) ; und (e) Feststellen in Abhängigkeit des ersten Vergleichswertes (Vl ) und des zweiten Vergleichswertes (V2 ) , ob der erste Ausgangspin (2 ) des ersten Leistungsschalters (3) und der zweite Ausgangspin (4 ) des zweiten Leistungsschalters (5) der Leistungsschaltvorrichtung ( 6) über die Kontaktierungen (Ia, Ib) mit dem externen Knoten ( 9) kontaktiert sind.
2. Verfahren nach Anspruch 1, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t , dass bei dem Koppeln in Verfahrensschritt (a) der Pullup- Widerstand (8 ) und der Pulldown-Widerstand (7 ) derart mit- einander verschaltet werden, dass sie zwischen einer Testspannung (Vt) und Masse (13) einen Spannungsteiler ausbilden .
3. Verfahren nach Anspruch 2, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t , dass der Pullup-Widerstand (8 ) und der Pulldown-Widerstand (7 ) einen identischen Widerstandswert (R) aufweisen .
4. Verfahren nach Anspruch 2, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t , dass die erste Referenzspannung (Urefl ) so eingestellt wird, dass sie kleiner als eine halbe Testspannung (Ut/2 ) ist, und die zweite Referenzspannung (Uref2 ) so eingestellt wird, dass sie größer als die halbe Testspannung (Ut/2 ) ist .
5. Verfahren nach Anspruch 4 , d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t , dass der erste Vergleichswert (Vl ) auf einen positiven logischen Signalpegel gesetzt wird, falls die erste Spannung (Ul ) größer als die erste Referenzspannung (Urefl ) ist, oder auf einen negativen logischen Signalpegel gesetzt wird, falls die erste Spannung (Ul ) kleiner als die erste Referenzspannung (Urefl ) ist .
6. Verfahren nach Anspruch 4, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t , dass der zweite Vergleichswert (V2 ) auf einem positiven logischen Signalpegel gesetzt wird, falls die zweite Spannung (U2 ) größer als die zweite Referenzspannung (Uref2 ) ist oder auf einem negativen logischen Signalpegel gesetzt wird, falls die zweite Spannung (U2 ) kleiner als die zweite Refe- renzspannung (Uref2 ) ist .
7. Verfahren nach den Ansprüchen 5 und 6, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t , dass im Verfahrensschritt (e) festgestellt wird, dass die Kontaktierung (Ia) zwischen dem ersten Ausgangspin (2 ) und dem ersten Leistungsschalter (3) und/oder die Kontaktierung (16) zwischen dem zweiten Ausgangspin (4 ) und dem zweiten Leistungsschalter (5) unterbrochen ist, falls der erste Vergleichswert (Vl ) auf einen negativen logischen Signalpegel und der zweite Vergleichswert (V2 ) auf einen positiven logischen Signalpegel gesetzt sind.
8. Schaltungsanordnung mit : dem ersten Leistungsschalter (3) , der mit dem ersten Ausgangspin (2 ) verbunden ist; dem zweiten Leistungsschalter (5) , der mit dem zweiten Ausgangspin (4 ) verbunden ist; einem außerhalb der Leistungsschaltvorrichtung ( 6) angeordneten Knoten ( 9) , der den ersten Ausgangspin (2 ) und den zweiten Ausgangspin (4 ) miteinander verbindet; einer Diagnoseschaltung (7 , 8 , 11 , 12 ) , die mit den Leis- tungsschaltern (3, 5) gekoppelt ist, zur Durchführung eines Verfahrens nach einem der Ansprüche 1-7.
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Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102006045308B4 (de) 2006-09-26 2011-07-21 Continental Automotive GmbH, 30165 Schaltungsanordnung zum Detektieren des Zustandes einer an einen Schaltanschluss verbindbaren Lasteinrichtung und Verfahren zum Betreiben einer solchen Schaltungsanordnung
DE102008018244B3 (de) * 2008-04-10 2009-11-19 Continental Automotive Gmbh Vorrichtung und Verfahren zum Erkennen eines Fehlers in einer Leistungsbrückenschaltung
JP6184321B2 (ja) 2010-08-26 2017-08-23 イナジー・オートモーティブ・システムズ・リサーチ・（ソシエテ・アノニム） 電気回路を診断する方法
DE102011088912A1 (de) * 2011-12-16 2013-06-20 Continental Automotive Gmbh Schaltungsanordnung zur Detektion eines Kurzschlusses bei einer Leistungsschalteranordnung
CN102608456B (zh) * 2012-03-02 2014-08-13 华为技术有限公司 并机线故障检测装置和系统
DE102014219468A1 (de) * 2014-09-25 2016-03-31 Siemens Aktiengesellschaft Schaltungsanordnung mit einem mindestens einen binären Eingang aufweisenden Steuergerät und zugehöriges Betriebsverfahren
JP6522201B1 (ja) * 2018-05-14 2019-05-29 ウィンボンド エレクトロニクス コーポレーション 半導体装置
DE102018219692A1 (de) * 2018-11-16 2020-05-20 Siemens Aktiengesellschaft Schutzschaltgerät für einen Niederspannungsstromkreis zur Erkennung von seriellen Fehlerlichtbögen
CN113219323A (zh) * 2021-04-29 2021-08-06 深圳数马电子技术有限公司 一种芯片引脚连通性的测试装置、方法和可读存储介质

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10025908A1 (de) * 2000-05-26 2001-08-02 Voith Turbo Kg Leistungsschalter

Family Cites Families (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE214462C (de)
DD214462A1 (de) * 1983-04-11 1984-10-10 Greifswald Nachrichtenelekt Schaltungsanordnung zum digitalen kontaktierungstest
DE3712177A1 (de) * 1987-04-10 1988-10-27 Siemens Ag Schaltungsanordnung zum ueberwachen eines stromkreises auf unterbrechung
US5357519A (en) * 1991-10-03 1994-10-18 Apple Computer, Inc. Diagnostic system
JPH0823074A (ja) * 1994-07-05 1996-01-23 Mitsubishi Denki Semiconductor Software Kk 半導体集積装置
JP3302193B2 (ja) 1994-10-06 2002-07-15 株式会社東芝 電流検出回路
DE69518973T2 (de) * 1995-05-19 2001-02-22 Stmicroelectronics S.R.L., Agrate Brianza Elektronische Schaltung mit mehreren Banddrähten, Herstellungsmethode und Testverfahren des Banddrahtzusammenhangs
JP3011234B2 (ja) * 1997-10-07 2000-02-21 日本電気株式会社 半導体装置のワイヤオープン検出方法及び装置
US5867014A (en) * 1997-11-20 1999-02-02 Impala Linear Corporation Current sense circuit having multiple pilot and reference transistors
JP3149925B2 (ja) * 1998-08-28 2001-03-26 日本電気株式会社 回路基板プロービング方式
US6385739B1 (en) * 1999-07-19 2002-05-07 Tivo Inc. Self-test electronic assembly and test system
TW451212B (en) * 1999-12-03 2001-08-21 Macronix Int Co Ltd Read only memory chip having a built in testing circuit
US6573753B1 (en) * 2001-07-20 2003-06-03 Cypress Semiconductor Corporation Microcontroller input/output nodes with both programmable pull-up and pull-down resistive loads and programmable drive strength
DE10152527A1 (de) * 2001-10-24 2003-05-08 Delphi Tech Inc Schaltungsanordnung zur Laststromüberwachung
US6792378B2 (en) * 2002-11-21 2004-09-14 Via Technologies, Inc. Method for testing I/O ports of a computer motherboard
JP2004347423A (ja) * 2003-05-21 2004-12-09 Denso Corp 電気負荷の異常検出装置及び電子制御装置
DE10347979A1 (de) * 2003-10-15 2005-05-19 Voith Turbo Gmbh & Co. Kg Diagnostizierbare Schalteranordnung
JP2006047006A (ja) * 2004-08-02 2006-02-16 Denso Corp 断線検出回路

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10025908A1 (de) * 2000-05-26 2001-08-02 Voith Turbo Kg Leistungsschalter

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
See also references of WO2006081881A1 *

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Publication number Publication date
JP2008528979A (ja) 2008-07-31
CN100549703C (zh) 2009-10-14
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DE102005004608B3 (de) 2006-04-20
US20080150539A1 (en) 2008-06-26
KR101206893B1 (ko) 2012-11-30
WO2006081881A1 (de) 2006-08-10
KR20070105352A (ko) 2007-10-30
US7719286B2 (en) 2010-05-18

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