EP1738158A1 - Fet-basierter gassensor - Google Patents

Fet-basierter gassensor

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Publication number
EP1738158A1
EP1738158A1 EP05736124A EP05736124A EP1738158A1 EP 1738158 A1 EP1738158 A1 EP 1738158A1 EP 05736124 A EP05736124 A EP 05736124A EP 05736124 A EP05736124 A EP 05736124A EP 1738158 A1 EP1738158 A1 EP 1738158A1
Authority
EP
European Patent Office
Prior art keywords
gas
layer
reference layer
sensor according
sensitive layer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
EP05736124A
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
Maximilian Fleischer
Uwe Lampe
Hans Meixner
Roland Pohle
Simon Elfriede
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
TDK Micronas GmbH
Original Assignee
TDK Micronas GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by TDK Micronas GmbH filed Critical TDK Micronas GmbH
Publication of EP1738158A1 publication Critical patent/EP1738158A1/de
Withdrawn legal-status Critical Current

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Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
    • G01N27/26—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating electrochemical variables; by using electrolysis or electrophoresis
    • G01N27/403—Cells and electrode assemblies
    • G01N27/414—Ion-sensitive or chemical field-effect transistors, i.e. ISFETS or CHEMFETS
    • G01N27/4141—Ion-sensitive or chemical field-effect transistors, i.e. ISFETS or CHEMFETS specially adapted for gases
    • G01N27/4143—Air gap between gate and channel, i.e. suspended gate [SG] FETs

Definitions

  • GasFET The basic structure of the gas sensors, hereinafter referred to as GasFET, is shown schematically in FIG. 4.
  • an electrical potential that corresponds to the change in the work function of the sensitive material arises on the sensitive layer with which, for example, the underside of the lifted gate electrode is coated.
  • This potential acts on the channel of an FET structure and changes the source-drain current.
  • the changed source-drain current is read out directly.
  • an additional voltage to the gate lifted (U ga te) or to the Transis orwanne (U we n) is the change in the source-drain current returned, for example to zero by applying.
  • the additionally applied voltage represents the readout signal, which directly correlates with the change in work function of the sensitive layer.
  • the change in the work function signal can be read out with different variants of a GasFET with an air gap, as shown in FIGS. 5, 6.
  • a GasFET with an air gap
  • FIGS. 5, 6 On the one hand using SGFET or on the other hand using a CCFET. It should be noted that all of these structures do not read out the change in the work function of the sensitive layer when exposed to gas alone, but always only the difference in the change in work function of the sensitive layer and the opposite passivation layer of the transistor, the reference layer.
  • Figures 5, 6 represent two different versions of a GasFET for reading out the work function signal.
  • a basic problem of all gas sensors and also of the variants described is the limited selectivity. I.e. the sensors may react U. not only on the target gas, but also on other gases, which is assigned to the term cross sensitivity.
  • the superimposed gas signals lead to a situation in which the determination of the target gas concentration cannot be carried out with sufficient information from the sensor signal, since this is adversely falsified by the cross-sensitivities.
  • the cause of this cross-sensitivity can, on the one hand, be a property of the sensitive layer itself, but on the other hand, other areas, for example on the channel surface of the transistor where the reference layer is placed, can also generate corrupting signals. These areas then act like a second sensitive layer and the gas signal to be read is strongly influenced. As a result, new cross-sensitivities can only arise or the existing undesirable reactions of the sensitive layer can be intensified. In addition, a reaction in the same direction at a reference layer to the target gas can lead to a reduction in the measurement signal determined by the difference between the two reactions and to an apparently significant slowdown in the response of the sensor. There is currently no definitive solution to operate a GasFET without cross-sensitivity.
  • An object of the invention is to provide a gas sensor based on field effect transistors that is as free as possible from cross-sensitivities.
  • the invention uses the targeted selection of this reference layer in such a way that reactions to gases which generate cross-sensitivities cancel each other out in extreme cases.
  • the reference layer is a layer on the transistor channel surface that has not previously been considered gas sensitive in any way. A single gas sensor can thus be set up without cross-sensitivity.
  • the invention is based on the finding that when gas signals are detected with the aid of a GasFET, it must be taken into account that the change in the work function signal, which is measured by means of a GasFET, not only the reaction of the gas-sensitive layer alone, but also the difference between the reaction between the sensitive layer and transistor channel surface or the reference layer caused by the target gas is in the active region of the GasFET, see FIG. 1.
  • ⁇ l s represents the change in the work function on the sensitive layer
  • ⁇ 2 R represents the change in the work function of the reference layer of the transistor channel when gas is applied.
  • the mutual coordination of the material selection for the gas-sensitive layer and the reference layer should provide the basis for better differentiation between the target and interference signal.
  • the ratio of the amounts of these signals is adjusted to a maximum differentiation.
  • the extinction of the signal based on cross-sensitivity is an extreme case.
  • the change in the source / drain current (IDS) or the control variables U gat e or Uranseii are thus directly influenced only by ⁇ ( ⁇ ) overall and not by individual work function changes ⁇ 1 or ⁇ 2.
  • FIG. 1 shows the reaction of the target gas on the sensitive layer and reference layer in the active area of the GasFET
  • FIG. 2 shows the reaction of the target gas on both layers, sensitive layer and reference layer, which have the same change in the work function
  • FIG. 3 shows the reaction of the target gas on both layers, sensitive layer and reference layer, with different signs or orientations being present.
  • FIG. 4 shows a schematic structure of a GasFET according to the prior art
  • FIGS. 5, 6 represent two different versions of a GasFET for reading out the work function signal according to the prior art
  • FIG. 7 shows an example of a compensation of cross-sensitivities by using a second GasFET with an adapted reference layer
  • FIG. 8 shows a work function signal of a C0 2 sensitive layer, for example BaTi03 / CuO mixed oxide, with C0 2 and NH 3 gas exposure,
  • FIG. 9 shows a CO 2 GasFET sensor signal with CO 2 gas and NH 3 gas exposure with PECVD nitride as reference material
  • FIG. 10 shows a CO 2 GasFET sensor signal with CO 2 gas and NH 3 gas exposure with the same sensitive layer according to FIG. 8 and with aluminum / 0.5% Cu as an adapted reference material.
  • case 1 and case 2 are not mutually exclusive. With the right combination of sensitive layer and reference layer it is possible that the target gas does not react with the reference layer, but only with the sensitive layer, whereas the interfering gas reacts with the reference layer and the sensitive layer and there causes a change in work function that is used for compensation.
  • the reaction of the target gas on both surfaces can cause a change in the work function with a different sign.
  • the reference layer is not inert, but reacts with the target gas.
  • ⁇ ( ⁇ ) total ⁇ l s - (- ⁇ 2 R )
  • the work function changes add up in the overall signal, so that the sensitivity of the GasFET to the target gas is higher. This can improve the sensitivity of the gas sensor.
  • a reference layer that can be prepared in CMOS technology, such as passivation layers such as LPCVD nitride, PECVD nitride, Si0 2 or materials that are used for the floating gate electrode, such as. B. polysilicon, aluminum (doped / undoped), tungsten silicide, TiN.
  • any other materials can be applied over the transistor channel surface processed in CMOS technology using mask technology, eg. B. metal layers such as gold, Ti, platinum, palladium, metal oxides or organic compounds such as polymers. These then perform the function of the reference layer. These materials can be customized so that the reaction of the gas sensitive layer and the reference layer eliminates cross-sensitivity.
  • Both the conventional suspended gate FET gas sensors (SGFET) and the gas FETs are suitable for this procedure, in which the capacitance is formed by the gas-sensitive layer, an air gap and a counter electrode and the electrical potential is then from the counter electrode to one separately attached readout FET is transmitted over an electrically conductive connection; this is the CCFET, cf. Fig. 6.
  • the invention is also suitable for all other structures with appropriate functionality.
  • FIG. 10 shows a diagram with a work function signal of a C0 2 sensitive layer (BaTi03 / Cu0 mixed oxide) with C0 2 and NH3 gas exposure.
  • C0 2 sensor with cross sensitivity to ammonia gas If this C0 2 sensitive layer is used in the GasFET, for example with a reference layer consisting of PECVD nitride, this cross sensitivity to ammonia gas is still very clearly shown in FIG. 9. The C0 2 signal itself is not influenced by the presence of ammonia.
  • Fig. 9 C0 2 GasFET sensor signal at C0 2 gas and NH 3 gas exposure with PECVD nitride as reference material.
  • the cross sensitivity to ammonia in a C0 2 GasFET can be eliminated if aluminum with 0.5% Cu is used as a reference layer. 10 that the presence of ammonia does not influence the sensor signal.
  • the reactions on the sensitive layer BaTi0 3 / CuO and on the reference layer Alu / 0.5% Cu cause a change in the work function in the presence of ammonia which is the same size on both layers, so that the GasFET sensor signal to be read out does not change.
  • the C0 2 sensor signal is not affected by this and can also be detected when exposed to ammonia.
  • Fig. 10 C0 2 GasFET sensor signal with C0 2 gas and NH 3 gas exposure with aluminum / 0.5% Cu as reference material.
  • Array-like structure If it is not possible to select the passivation material of the transistor surface for a special application to suit the requirements, a two-transistor structure is used (see FIG. 7). A transistor with any transistor surface is operated against the target gas sensitive material (GasFET on the left). The second is a second transistor operated with an identical transistor surface compared to the reference material selected according to the above criteria (right RefFET). The prerequisite for this is that the transistor surface and the target gas-sensitive layer as well as the transistor surface and the reference layer react with the same change in work function to the cross gas.
  • FIG. 7 shows an example of a compensation of cross-sensitivities by using a second GasFET with an adapted reference layer.

Landscapes

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Abstract

FET-basierter Gassensor, bestehend aus gassensitiver Schicht und Referenzschicht deren Austrittsarbeitsänderungen Feldeffektstrukturen ansteuern, wobei die Materialien der beiden Schichten derart aufeinander abgestimmt sind, dass Austrittsarbeitsänderungen auf Zielgase sich nicht, die Austrittsarbeitsänderungen auf nicht zu detektierende Gase sich jedoch in der Summe eliminieren.

Description

B e s ehre ibung
FET-basierter Gassensor
Gassensoren, die die Austrittsarbeitsänderung von sensitiven Materialien als physikalische Größe benutzen erfahren in der letzten Zeit ein gesteigertes Interesse. Gründe hierfür sind die Möglichkeiten, diese mit geringen Betriebsenergien betreiben zu können (low-power) , eine kostengünstige Ferti- gungs- und Aufbautechnologie derartiger Gassensoren (low- cost) , sowie eine breite Palette von Gasen, die mit dieser Plattformtechnologie detektiert werden kann (high versatili- ty) , da zahlreiche unterschiedliche Detektionssubstanzen in derartigen Aufbauten integriert werden können. Aufbau und Be- triebsverfahren sind z.B. aus den folgenden Schriften bekannt :
Deutsche Patentanmeldung Nr. 19814857, DE-C-19956744 , DE-C- 19849932, DE-C-19956806 oder DE-C-19926747.
Der Grundaufbau der GasSensoren, im folgenden GasFET genannt, ist in Fig. 4 schematisch dargestellt.
An der sensitiven Schicht, mit der z.B. die Unterseite der abgehobenen Gate-Elektrode beschichtet ist, entsteht bei Prä- senz des zu detektierenden Gases ein elektrisches Potential, das der Änderung der Austrittsarbeit des sensitiven Materials entspricht, beispielsweise 50-100mV. Dieses Potential wirkt auf den Kanal einer FET-Struktur und verändert den Source- Drain-Strom. Ausgelesen wird beispielsweise der geänderte Source-Drain-Strom direkt. Alternativ wird durch Anlegen einer zusätzlichen Spannung an das abgehobene Gate (Ugate) oder an die Transis orwanne (Uwen) die Änderung des Source-Drain- Stroms zurückgestellt, beispielsweise auf Null. Dabei stellt die zusätzlich angelegte Spannung das Auslesesignal dar, wel- ches mit der Austrittsarbeitsänderung der sensitiven Schicht direkt korreliert . Die Änderung des Austrittsarbeitssignals kann mit unterschiedlichen Varianten eines GasFETs mit Luftspalt ausgelesen werden, wie es in den Figuren 5, 6 dargestellt ist. Einerseits mittels SGFET oder andererseits mit Hilfe eines CCFET . Festzuhalten ist, dass mit all diesen Aufbauten nicht die Änderung der Austrittsarbeit der sensitiven Schicht bei Gasbeaufschlagung alleine, sondern immer nur der Unterschied der Änderung der Austrittsarbeit des sensitiven Schicht und der gegenüberliegenden Passivierungsschicht des Transistors, der Referenzschicht, ausgelesen wird.
Die Figuren 5, 6 stellen zwei verschiedene Ausführungen eines GasFET zum Auslesen des Austrittsarbeitssignals dar. Ein Grundproblem aller Gassensoren und auch der beschriebenen Va- rianten ist die eingeschränkte Selektivität. D. h. die Sensoren reagieren u. U. nicht nur auf das Zielgas, sondern auch auf andere Gase, was der Bezeichnung Querempfindlichkeit zugeordnet wird. Die überlagerten Gassignale führen dabei in manchen Applikation zu einer Situation, bei der die Bestim- mung der Zielgaskonzentration nicht mit ausreichender Aussagekraft aus dem Sensorsignal erfolgen kann, da dieses durch die Querempfindlichkeiten in unzulässiger Weise verfälscht wird.
Ursache dieser Querempfindlichkeit kann zum einen eine Eigenschaft der sensitiven Schicht selbst sein, zum anderen können aber auch andere Bereiche, beispielsweise an der Kanaloberfläche des Transistors, wo die Referenzschicht platziert ist, verfälschende Signale generieren. Diese Bereiche wirken dann wie eine zweite sensitive Schicht und das auszulesende Gassignal wird stark beeinflusst. Dadurch können neue Querempfindlichkeiten erst entstehen oder die vorhandenen unerwünschten Reaktionen der sensitiven Schicht verstärkt werden. Darüber hinaus kann eine gleichlaufende Reaktion an einer Re- ferenzschicht auf das Zielgas zu einer Verringerung des durch die Differenz der beiden Reaktionen bestimmten Messsignals sowie zu einer scheinbaren deutlichen Verlangsamung des An- sprechens des Sensors führen. Es gibt derzeit noch keine endgültige Lösung um einen GasFET ohne Querempfindlichkeiten zu betreiben.
- Auch bei Verwendung möglichst inerter Referenzschichten, wie LPCVD-Nitrid, zeigen direkte Untersuchungen, dass auch hier bei kritischen Gasen wie NH3, N02 oder der Verwendung sehr hoher Luftfeuchte, eine Gasreaktion auftritt. Selbst bei einer ideal gas-insensitiven Referenzschicht können Querreaktionen der sensitiven Schicht nicht verhindert werden .
Bisherige Verbesserungen: Durch applikationsspezifische Signalauswertung können Querempfindlichkeiten teilweise behoben werden, was aber nur für einfache Applikationen durchführbar ist. Verwendung eines zusätzlichen Sensors der nur auf das unerwünschte Gas reagiert und dessen Signal zur Kompensation der Querempfindlichkeit des eigentlichen Gassensors mit- tels Signalverarbeitung verwendet wird. Dies erhöht aber deutlich die Systemkosten.
Eine Aufgabe der Erfindung besteht darin, einen Gassensor auf der Basis von Feldeffekttransistoren bereitzustellen, der möglichst frei von Querempfindlichkeiten ist.
Die Lösung dieser Aufgabe geschieht durch die Merkmalskombination des Anspruches 1. Vorteilhafte Ausgestaltungen können den Unteransprüchen ent- no men werden .
Die Erfindung nutzt beim Einsatz eines GasFET mit ausgewähltem Zielgas, sensitiver Schicht und Referenzschicht, die gezielte Auswahl dieser Referenzschicht, derart, dass sich Re- aktionen auf Gase, die Querempfindlichkeiten erzeugen, im Extremfall gegenseitig aufheben. Die Referenzschicht ist eine Schicht an der Transistorkanaloberfläche, die bisher nicht als in irgend einer Weise gassensitiv betrachtet wurde. Somit kann ein Einzelgassensor querempfindlichkeitsfrei aufgebaut werden .
Der Erfindung liegt die Erkenntnis zugrunde, dass bei der De- tektion von Gassignalen mit Hilfe eines GasFETs berücksichtigt werden muss, dass die Änderung des Austrittsarbeitssignals, das mittels eines GasFET gemessen wird, nicht nur die Reaktion der gassensitiven Schicht alleine, sondern auch die Differenz der durch das Zielgas hervorgerufenen Reaktion zwi- sehen sensitiver Schicht und Transistorkanaloberfl'äche bzw. der Referenzschicht, im aktiven Bereich des GasFET ist, siehe Fig. 1.
Δ(ΔΦ)9esamt = ΔΦ ls - ΔΦ 2R
ΔΦ ls repräsentiert die Änderung der Austrittsarbeit an der sensitiven Schicht während ΔΦ 2R die Änderung der Austrittsarbeit der Referenzschicht des Transistorkanals bei einer Gasbeaufschlagung wiedergibt.
Die gegenseitige Abstimmung bei der Materialauswahl für die gassensitive Schicht und die Referenzschicht soll die Basis für eine bessere Differenzierbarkeit von Ziel- und Störsignal ergeben. Dazu wird das Verhältnis der Beträge dieser Signale auf eine maximale Unterscheidungsmöglichkeit hin angepasst. Die Auslöschung des Signals auf der Basis von Querempfindlichkeiten ist hierbei ein Extremfall.
Die Änderung des Source/Drain Stromes (IDS) bzw. die Regel- großen Ugate oder Uranseii werden also direkt nur von Δ(ΔΦ)gesamt beeinflusst nicht von einzelnen Austrittsarbeitsänderungen ΔΦ 1 oder ΔΦ 2.
Im Folgenden werden anhand von schematischen die Erfindung nicht einschränkenden Figuren Ausführungsbeispiele beschrieben. Figur 1 zeigt die Reaktion des Zielgases an der sensitiven Schicht und Referenzschicht im aktivem Bereich des GasFET,
Figur 2 zeigt die Reaktion des Zielgases an beiden Schichten, sensitiver Schicht und Referenzschicht, die die gleiche Änderung der Austrittsarbeit aufweisen,
Figur 3 zeigt die Reaktion des Zielgases an beiden Schich- ten, sensitiver Schicht und Referenzschicht, wobei unterschiedliche Vorzeichen bzw. Ausrichtungen vorliegen,
Figur 4 zeigt einen schematischen Aufbau eines GasFET nach dem Stand der Technik,
Die Figuren 5, 6 stellen zwei verschiedene Ausführungen eines GasFET zum Auslesen des Austrittsarbeitssignals nach dem Stand der Technik dar,
Figur 7 zeigt ein Beispiel einer Kompensation von Querempfindlichkeiten durch die Verwendung eines zweiten GasFETs mit angepasster Referenzschicht,
Figur 8 zeigt ein Austrittsarbeitssignal einer C02 sensitiven Schicht, beispielsweise BaTi03/CuO Mischoxid, bei C02- und NH3- Gasbeaufschlagung,
Figur 9 zeigt ein C02-GasFET-Sensorsignal bei C02 Gas und NH3 Gas-Exposition mit PECVD Nitrid als Referenzmaterial,
Figur 10 zeigt ein C02-GasFET-Sensorsignal bei C02 Gas und NH3 Gas -Exposition mit derselben sensitiven Schicht gemäß Figur 8 und mit Aluminium/0.5% Cu als ange- passtes Referenzmaterial. Fallbeispiele
1. Fall: Zur Detektion des Zielgases ist es erforderlich, dass die Änderung der Austrittsarbeit an der sensitiven Schicht größer ist als die Änderung der Austrittsarbeit an der Referenzschicht. Ist die Referenzschicht so ausgestaltet, dass sie nicht mit dem Zielgas reagiert, die Referenzschicht also diesbezüglich inert ist, ΔΦ 2 R= 0, so entspricht die Austrittsarbeitsdifferenz nur der Gasreaktion an der sensitiven Schicht.
--- Δ(ΔΦ) gesamt = ΔΦ ls
2. Fall: Zur Vermeidung von Querempfindlichkeiten der sensitiven Schicht auf Störgase muss der GasFET dagegen so ausges- taltet sein , dass beide Schichten, sensitive Schicht und Referenzschicht, mit dem Gas entweder nicht oder gleich reagieren, so dass an beiden Schichten die Änderung der Austrittsarbeit gleich groß ist und das gleiche Vorzeichen hat, siehe Fig. 2 ; wobei gilt: ΔΦ ls = ΔΦ 2R,
somit ist der Unterschied der Änderungen der Austrittsarbeit gleich Null . = Δ(ΔΦ) gesamt = 0
Die Reaktion des Gases an beiden Schichten, sensitiver Schicht und Referenzschicht, weisen hierbei die gleiche Änderung der Austrittsarbeit ΔΦ auf .
Da Zielgas und das Gas welches die Querempfindlichkeit verursacht nicht identisch sind, schließen sich Fall 1 und Fall 2 nicht gegenseitig aus. Durch die richtige Kombination von sensitiver Schicht und Referenzschicht ist es möglich, dass das Zielgas nicht mit der Referenzschicht reagiert, sondern nur mit der sensitiven Schicht, wogegen das Störgas mit der Referenzschicht und der sensitiven Schicht reagiert und dort eine Änderung der Austrittsarbeit verursacht, die zur Kompensation herangezogen wird.
3. Fall: Verbesserung der Zielgassensitivität des GasFET:
Durch die richtige Kombination von gassensitiver Referenzschicht und gassensitiver Schicht kann die Reaktion des Ziel- gases an beiden Oberflächen eine Änderung der Austrittsarbeit mit unterschiedlichem Vorzeichen verursachen. Die Referenz- schicht ist nicht inert, sondern reagiert mit dem Zielgas.
Allerdings weist die Änderung der Austrittsarbeit an der Referenzschicht im Gegensatz zur Reaktion an der sensitiven Schicht ein dazu negatives Vorzeichen auf; siehe Fig. 3.
Δ(ΔΦ) gesamt = ΔΦ ls - (-ΔΦ 2R)
In diesem Fall addieren sich die Austrittsarbeitsänderungen im Gesamtsignal, so dass die Sensitivität des GasFET auf das Zielgas höher ist. Damit kann die Sensitivität des Gassensors verbessert werden.
Als Referenzschicht können verschiedene Materialen Verwendung finden, die in CMOS-Technologie präpariert werden können, wie z.B. Passivierungsschichten, wie LPCVD Nitrid, PECVD Nitrid, Si02 oder Materialien die für die floatende Gate-Elektrode verwendet werden wie z. B. Polysilizium, Aluminium (dotiert / undotiert) , Wolframsilizid, TiN. Darüber hinaus können über der in CMOS Technologie prozessierten Transistorkanaloberflä- ehe mittels Maskentechnik auch beliebig andere Materialien aufgebracht werden, z. B. Metallschichten wie Gold, Ti, Platin, Palladium, Metalloxide oder organische Verbindungen, wie z.B. Polymere. Diese nehmen dann die Funktion der Referenzschicht wahr. Diese Materialien können so angepasst werden, dass die Reaktion der gassensitiven Schicht und der Referenzschicht die Querempfindlichkeit eliminiert. Wesentliche Vorteile werden dadurch erzielt, dass die gezielt ausgewählte Kombination der Materialien für die gassensitive Schicht und die auch als gassensitive Schicht zu betrachtende Referenzschicht in einem GasFET- - - die Entwicklung eines von Querempfindlichkeiten freien Einzelgassensors ermöglicht, und - ein Gassensor mit verbesserter Zielgassensitivität darstellbar ist .
Geeignet für diese Vorgehensweise sind sowohl die klassischen Suspended gate FET Gassensoren (SGFET) , als auch die Gas FETs, bei denen die Kapazität durch die gassensitive Schicht, einen Luftspalt und eine Gegenelektrode ausgebildet wird und das elektrische Potential dann von der Gegenelektrode zu ei- nem separat angebrachten Auslese-FET über eine elektrisch leitfähige Verbindung übertragen wird; dies ist der CCFET, vgl. Fig. 6. Geeignet ist die Erfindung auch für alle anderen Aufbauten mit entsprechender Funktionalität.
Ausführung der Kompensation von Querempfindlichkeitsreaktio- nen des GasFET :
Bei der Entwicklung einer C02 sensitiven Schicht auf der Basis von BaTi03/CuO Dickschicht konnte festgestellt werden, dass diese Schicht neben der Empfindlichkeit auf das Zielgas C02 auch eine deutliche Querempfindlichkeit zu Ammoniakgas aufweist, siehe Fig. 8. Das Signal von Ammoniak ist sogar größer als das zu detektierende C02 Signal. Eine Änderung der Ammoniakkonzentration im Gas würde also ein C02 Gassignal vortäuschen und zu einer falschen Interpretation der Sensorreaktion führen.
Fig. 10 zeigt ein Diagramm mit einem Austrittsarbeitssignal einer C02 sensitiven Schicht (BaTi03/Cu0 Mischoxid) bei C02 und NH3 Gasbeaufschlagung.
C02 Sensor mit Querempfindlichkeit auf Ammoniakgas : Wird diese C02 sensitive Schicht im GasFET z.B. mit einer Referenzschicht bestehend aus PECVD Nitrid verwendet, so zeigt sich diese Querempfindlichkeit gegenüber Ammoniakgas weiterhin sehr deutlich Fig. 9. Das C02 Signal selbst ist von der Anwesenheit von Ammoniak nicht beeinflusst.
Fig. 9: C02 GasFET Sensorsignal bei C02 Gas und NH3 Gas Exposition mit PECVD Nitrid als Referenzmaterial.
C02 Sensor ohne Querempfindlichkeit auf Ammoniakgas
Im Gegensatz dazu kann die Querempfindlichkeit zu Ammoniak in einem C02 GasFET eliminiert werden, wenn als Referenzschicht Aluminium mit 0.5% Cu Anteil verwendet wird. In Fig. 10 ist deutlich zu erkennen, dass die Anwesenheit von Ammoniak das Sensorsignal nicht beeinflusst. D.h. die Reaktionen an der sensitiven Schicht BaTi03/CuO sowie an der Referenzschicht Alu/0.5% Cu verursachen bei Anwesenheit von Ammoniak eine Änderung der Austrittsarbeit die an beiden Schichten gleich groß ist, so dass sich das auszulesende GasFET Sensorsignal nicht verändert. Das C02 Sensorsignal wird dadurch nicht beeinflusst und kann auch bei Ammoniakexposition detektiert werden.
Fig. 10: C02 GasFET Sensorsignal bei C02 Gas und NH3 Gas Expo- sition mit Aluminium/0.5% Cu als Referenzmaterial.
Messgeometrien zur Ausführung der Erfindung. i) klassischer Aufbau des SGFET oder CCFET, vgl. Fig. 4 und 5 bzw. 6,
ii) Arrayähnlicher Aufbau Wenn nicht die Möglichkeit besteht, für eine spezielle Anwendung das Passivierungsmaterial der Transistoroberfläche passend zu den Anforderungen zu wählen, wird ein Zweitransistoraufbau verwendet (siehe Fig. 7) . Hierbei wird einmal ein Transistor mit beliebiger Transistoroberfläche gegen das zielgassensitive Material betrieben (links GasFET) . Zum anderen wird ein zweiter Transistor mit identischer Transistoroberfläche gegenüber dem nach obigen Kriterien gewählten Referenzmaterial betrieben (rechts RefFET) . Voraussetzung ist dabei, dass die Transistoroberfläche und die zielgassensitive Schicht sowie Transistoroberfläche und die Referenzschicht gegenüber dem Quergas mit gleicher Austrittsarbeitsänderung reagieren.
Es gilt in diesem Fall für die Querempfindlichkeit:
Δ(ΔΦ) GasFETquer = ΔΦ 1 quer - ΔΦ 2 quer Δ(ΔΦ) RefFETquer = ΔΦ 1 quer- ΔΦ 2 quer folglich ist : Δ(ΔΦ) GasFETquer = Δ(ΔΦ) RefFETquer
Wenn die Signale der beiden Transistoren dann miteinander verglichen werden, erhält man das oben beschriebene kompensierte Signal.
Wenn nun die Referenzschicht gegenüber dem Zielgas inert ist, d.h. nur die zielgassensitive Schicht reagiert mit dem Ziel- gas gilt also: Δ(ΔΦ) GasFETzielgas = ΔΦ 1 zielgas Δ(ΔΦ) RefFETzielgas = 0
Fig. 7 zeigt ein Beispiel einer Kompensation von Querempfindlichkeiten durch die Verwendung eines zweiten GasFETs mit an- gepasster Referenzschicht.

Claims

Patentansprüche
1. FET-basierter Gassensor, bestehend aus mindestens einem Feldeffekt-Transistor sowie einer gassensitiven Schicht und einer Referenzschicht, bei dem die bei Gasbeaufschlagung auftretenden Austrittsarbeitsänderungen an den jeweiligen Schichtmaterialien zur Ansteuerung der Feldeffekt-Strukturen verwendet werden, wobei die Materialien der beiden Schichten derart aufeinander abgestimmt sind, dass: - die jeweiligen Gassensitivitäten der gassensitiven Schicht und der Referenzschicht entweder auf ein zu detektierendes Gas oder auf mindestens ein Störgas unterschiedlich sind oder sich diese sowohl bezogen auf das zu detektierende Gas als auch auf das mindestens eine Störgas unterscheiden und durch Verknüpfung der Signale der beiden Schichten ein verknüpftes Signal erzeugbar ist, welches bezogen auf die Gassensitivität des gesamten Sensors auf das zu detektierende Gas einen größeren Abstand zum Störsignal aufweist, im Vergleich zum Signal der gassensitiven Schicht relativ zum Störsignal.
2. Gassensor nach Anspruch 1 bei dem die Verknüpfung aus einer Summen- oder Differenzbildung besteht .
3. Gassensor nach einem der vorhergehenden Ansprüche, bei dem die Gassensitivät der gassensitiven Schicht und die der Referenzschicht auf das zu detektierende Gas ungleich sind und/oder die Gassensitiväten der gassensitiven Schicht und der Referenzschicht auf mindestens ein Störgas annähernd gleich sind.
4. Gassensor nach einem der vorhergehenden Ansprüche, bei dem bei einem vorhandenem Zielgas die Änderung der Austrittsar- beit an der gassensitiven Schicht entgegengesetzt der Änderung der Austrittsarbeit an der Referenzschicht ist und als Verknüpfung eine Differenzbildung vorliegt.
5. Gassensor nach einem der Ansprüche 1 oder 3 bis 4, bei dem die Referenzschicht derart ausgelegt ist, dass sie keine Sensitivität auf das Zielgas aufweist.
6. Gassensor nach einem der vorhergehenden Ansprüche, bei dem das Material einer Referenzschicht aus einem Stoff der folgenden Stoffgruppen besteht : in CMOS-Technologie präparierbare Schichten wie LPCVD Nitrid, PECVD Nitrid, Si02, oder - Materialien für floatende Gate-Elektroden, wie Polysili- ziu , Aluminium, Wolframsilizid, TiN.
7. Gassensor nach einem der vorhergehenden Ansprüche, bei dem die Referenzschicht zumindest teilweise mit einer Schicht aus Metall, Metalloxid, einem Salz oder einer organischen Verbindung bedeckt ist.
8. Gassensor nach Anspruch 7, bei dem eine die Referenzschicht bedeckende Schicht aus Au, Ti, Pd oder Pt besteht.
9. Gassensor nach einem der vorhergehenden Ansprüche, bei dem die gassensitive Schicht und die Referenzschicht einen dazwischen befindlichen Gaskanal begrenzen und die sich bei Gasbeaufschlagung ergebende Differenz der Austrittsarbeitsänderun- gen der beiden Materialien entsprechend der Auslesung durch eine SGFET-Struktur oder CCFET-Struktur zur Ansteuerung eines Feldeffekt-Transistors verwendbar ist.
10. Gassensor nach einem der Ansprüche 1-9, bei dem ein Zwei- transistoraufbau eingesetzt wird, bei dem die gassensitive
Schicht und eine beliebige Oberfläche mit dazwischen befindlichem Gaskanal zur Ansteuerung eines ersten Feldeffekttransistors, sowie die Referenzschicht und eine mit der beliebigen Oberfläche mit dazwischen befindlichem Gaskanal zur An- Steuerung eines zweiten Feldeffekttransistors vorhanden sind und das Differenzsignal der bei den Transistoren zur Auswertung erzeugbar ist.
11. Gassensor nach einem der Ansprüche 1-10, bei dem ein Mehrtransistoraufbau verwendet wird, bei dem die gassensitiven Schichten und jeweils identische beliebige Oberflächen mit dazwischen befindlichen Gaskanälen jeweils einen Feldef- fekttransistor ansteuern, und die Auswertung auf den Differenzsignalen der Transistoren basiert.
12. Gassensor nach einem der Ansprüche 1-11, bei dem zur De- tektion von C02 als sensitive Schicht eine Schicht aus einem BaTi03/CaO-Gemisch und als Referenzschicht eine Schicht aus Aluminium mit 0,5% Cu-Anteil vorhanden ist.
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