Halbbrückenbaugxuppβ
Beschreibung
Hintergrund der Erfinduncr
Die Erfindung betrifft eine Halbbruckenbaugruppe zum Schalten elektrischer Leistungen, bei der wenigstens zwei Halbleiterschalter unter Bildung einer Halbbrücke in Serie geschaltet sind. Dabei weist jeder Halbleiterschalter einen Steuerein- gang auf. Weiterhin hat jeder erste Halbleiterschalter einen ersten Leistungsanschluß, der mit einem hohen Spannungspotential verbindbar ist und jeder zweite Halbleiterschalter weist einen zweiten Leistungsanschluß auf, der mit einem niedrigen Spannungspotential verbindbar ist. Ein zweiter Leistungsan- Schluß jedes ersten Halbleiterschalters ist mit einem ersten Leistungsanschluß des jeweiligen zweiten Halbleiterschalters verbunden; Schließlich weist jeder der Halbleiterschalter eine Freilaufdiode auf, die parallel zu den beiden Leistungsanschlüssen des jeweiligen Halbleiterschalters liegt.
Stand der Technik
Eine solche Halbbruckenbaugruppe ist aus der DE-A-42 30 510 bekannt. Derartige Halbbrückenanordnungen sind zur Bildung von Wechselrichtern für die unterschiedlichsten Anwendungs- bereiche, z.B. zur Speisung von Drehfeldmaschinen, Permanentmagnetmotoren und dergl . im Einsatz (siehe z.B. auch die DE- A-40 27 969) .
Dabei ist insbesondere bei FET-Leistungshalbleiterschaltern üblicherweise die Freilaufdiode mit dem Halbleiterschalter integriert. Die integrierte Freilaufdiode ist als Silizium- Sperrschichtdiode ausgestaltet. Allerdings hat eine derartige integrierte Freilaufdiode eine relativ lange Schaltzeit (im Bereich von 10 Nanosekunden bis einige MikroSekunden) . Dies führt dazu, daß in der integrierten Freilaufdiode eine nennenswerte elektrische Verlustleistung auftritt, die in Wärme umgewandelt und abgeführt werden muß. Zumindest für hohe elektrische Schaltleistungen sind Halbbrückenanordnungen
flüssigkeitsgekühlt . Da die integrierten Freilaufdioden eine nennenswerte Stro festigkeit aufweisen müssen, erfordern diese auch erhebliche Halbleiterflächen und damit Bauraum.
Um die Schaltzeiten der Dioden und damit der Verlustleistung zu verringern wird bereits vorgeschlagen, den integrierten Freilaufdioden jeweils - mit gleicher Polarität wie die Freilaufdioden - Schottkydiöden parallel zu schalten und jeden Halbleiterschalter mit seiner integrierten Freilaufdiode und jede Schottky-Diode zu kühlen, d.h. wärmeleitend mit einer Wärmesenke zu verbinden. Dabei müssen die Dioden zur Vermeidung parasitärer Induktivitäten möglichst dicht bei dem Halbleiterschalter angeordnet sein.
Schottkydiöden haben sehr kurze Schaltzeiten, da sie anstelle eines pn-Übergangs einen Metall-Halbleiterübergang haben, der ebenfalls eine Gleichrichter-Wirkung aufweist. Bei dem Metall-Halbleiterübergang ist jedoch die gespeicherte Ladung sehr klein, so daß die Schaltzeit sehr kurz ist. Ein weiteres Merkmal von Schottky-Dioden ist die im Vergleich zu Silizium- Sperrschichtdioden kleinere Durchlaßspannung von etwa 0.3 Volt.
Die integrierte Freilaufdiode ist eine Silizium-Sperrschicht- diode mit einer Durchlaßspannung von etwa 0.7 Volt. Damit fließt im Freilaufbetrieb der Halbbrückenanordnung praktisch der gesamte Strom über die Schottkydiode, da deren Durchlaß- Spannung geringer ist. Die Schottkydiode hat Schaltzeiten in der Größenordnung von 10 bis 100 Picosekunden. Somit ist auch die in Wärme umzuwandelnde Verlustleistung erheblich verringert. Dennoch wird auch die Schottkydiode in gleicher Weise gekühlt wie der Leistungshalbleiterschalter mit der integrierten Freilaufdiode, da sonst eine Überhitzung (über 175 Grad Celsius) und thermische Zerstörung erwartet wird.
Diese Verbesserung des Schaltverhaltens erfordert auch eine entsprechende Dimensionierung der Schottkydioden, da diese in
der Lage sein müssen, den gesamten Strom im Freilaufbetrieb der Halbbrückenanordnung zu übernehmen.
Aus der US 5,661,644 ist eine Halbbruckenbaugruppe mit zwei in Serie geschalteten Halbleiterschaltern bekannt. Parallel zu jedem Halbleiterschalter ist eine Freilaufdiode und parallel zu jeder Freilaufdiode eine Schottky-Diode geschaltet. Ferner ist aus dieser Druckschrift die Anordnung von Halbleiterschaltern und Freilaufdioden auf einer Wärmesenke bekannt.
Aus der DE 195 32 992 AI ist eine einseitig mit elektrischen bzw. elektronischen Bauelementen bestückte Leiterplatte bekannt, auf deren Rückseite unter Einfügung einer Zwischenschicht eine Kühlplatte aufgebracht ist. Ein thermisch hoch belastbares Bauelement ist durch eine Wärmeleitbrücke mit der Kühlplatte verbunden.
Aus der US 6,055,148 ist eine Halbleiterbaugruppe mit einem ersten auf einer Grundplatte angeordneten Halbleiterbauelement bekannt. Auf dem ersten Halbleiterbauelement ist eine Schottky- Diode mittels einer Klebeschicht befestigt.
Aus der DE 196 24 475 AI ist eine Vorrichtung zum Temperieren elektronischer Bauteile bekannt, die auf einem in einem Gehäuse eingebauten Träger angeordnet sind. Zwischen dem Träger und einer Gehäusewand ist ein Körper angeordnet, der eine geschlossene elastische Umhüllung mit darin befindlichem wärmeleitenden Material besitzt und weitgehend luftdicht an dem Träger und der
Gehäusewand anliegt.
Der Erfindung zugrundeliegendes Problem
Der Erfindung liegt das Problem zugrunde, die Leistungsdichte
(schaltbare elektrische Leistung bezogen auf das Bauvolumen) derartiger Halbbrückenanordnungen weiter zu steigern und sie insbesondere noch kostengünstiger zu gestalten.
Erfindungsgemäße Lösung
Dieses Problem wird bei einer Halbbrückenanordnung der oben
genannten Art dadurch gelöst, daß der Wärmewiderstand zwischen jeder Schottky-Diode und der Wärmesenke größer dimensioniert ist als der Wärmewiderstand zwischen jeder Freilaufdiode und der Wärmesenke und die Wärmekopplung der Schottky-Diode gegen- über der Wärmekopplung der integrierten Freilaufdiode derart verringert ist, daß die Durchlaßspannung der integrierten Freilaufdiode auch unter Last stets über der Durchlaßspannung der Schottky-Diode liegt.
Dies bedeutet, daß die thermische Ankopplung der Schottky-Diode an das Kühlmedium "schlechter" ist als die thermische Ankopplung der integrierten Freilaufdiode an das Kühlmedium.
Die "thermische Ankopplung an ein Kühlmedium" kann hierbei sowohl die Ankopplung an einen (metallischen) Kühlkörper als auch die Ankopplung an eine die Halbleiterbauteile umgebende Kühlflüssigkeit sein.
Diese Maßnahme läuft der üblichen Vorgehensweise zuwider, Halbleiter möglichst gut zu kühlen.
Dennoch erlaubt sie gegenüber dem Stand der Technik eine signifikant kleinere Dimensionierung der Schottky-Diode hinsichtlich ihrer Strombelastbarkeit und damit des Halbleiterflächenbedarfs aufgrund folgender Umstände: Die Dioden-Kennlinie einer Schottky-Diode ist stärker temperaturabhängig als die Dioden-Kennlinie einer integrierten Freilaufdiode mit Silizium-Sperrschichtdioden-Eigenschaften. Außerdem hat die Kennlinie einer Schottky-Diode einen relativ hohen ohmschen Anteil. Wenn die Schottky-Diode bestromt wird, erwärmt sie sich aufgrund der schlechteren Kühlung stärker, so daß die Durchlaß-Spannung der Schottky-Diode bei steigender Temperatur
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sinkt. Dies hat zur Folge, daß aufgrund der verringerten Kühlung ihre Kennlinie stärker verschoben wird, so daß die Schottkydiode den Strom von der Freilaufdiode übernehmen kann. Es versteht sich, daß die Anordnung insgesamt (auch hinsichtlich der Kühlung der Schottkydiode) so dimensioniert sein muß, daß keine Zerstörung der Halbleiter eintritt.
Wenn durch die geringere Wärmekopplung (und den daraus resultierenden höheren Warmewiderstand zwischen) der Schottkydiode und dem Kühlmedium die Schottkydiode sich stärker erwärmt als die integrierte Freilaufdiode, hat dies zur Folge, daß die Durchlaßspannung der integrierten Freilaufdiode auch unter Last stets über der Durchlaßspannung der Schottkydiode liegt. Mithin fließt im Freilaufbetrieb der Halbbrückenanordnung der Strom stets durch die schneller schaltende Schottkydiode.
Vorteile der Erfindung
Durch den erfindungsgemäßen Aufbau der Halbbruckenbaugruppe wird eine besonders kompakte Anordnung erreicht, die eine mit bisherigen Lösungen nicht vergleichbare Packungsdichte ermöglicht. Gegenüber bisherigen Ausführungsformen ist eine Verringerung der Halbleiterfläche der Schottkydioden um etwa 66% möglich. Damit kann sowohl das erforderliche Volumen an Kühlmedium bzw. Kühlflüssigkeit bezogen auf das Gesamtvolumen ge- ring gehalten werden, als auch eine Miniaturisierung der Gesamtanordnung erreicht werden, die einen Einsatz der Erfindung insbesondere auch in mobilen Anwendungen sehr wirtschaftlich werden läßt.
Weitere Ausgestaltungen der Erfindung
In einer derzeit bevorzugten Ausführungsform der Erfindung ist zwischen der Schottkydiode und einem Kühlkörper für die Schottkydiode ein Keramikplättchen oder eine Kunststoff- schicht angeordnet, wobei ggf. eine beidseitige Kupferbe- Schichtung vorgesehen ist, während der Halbleiterschalter mit seiner integrierten Freilaufdiode direkt mit dem Kühlkörper thermisch gekoppelt ist. Es ist jedoch auch möglich, für die Schottkydiode einen Kühlkörper zu wählen, der zwar (in glei-
eher Weise wie der Halbleiterschalter mit seiner integrierten Freilaufdiode) mit der Schottkydiode direkt thermisch verbunden ist, aber seinerseits einen höheren Wärmewiderstand gegenüber seiner Umgebung (Flüssigkeit oder Luftstrom) hat als der Kühlkörper für den Halbleiterschalter mit seiner integrierten Freilaufdiode.
Um sicherzustellen, daß auch beim "Anfahren" der Schaltung, also bei kalten Halbleitern und kaltem Kühlmedium die inte- grierte Freilaufdiode des Halbleiterschalters durch einen hohen Leistungsstromstoß nicht zerstört werden kann, ist es vorteilhaft, vor dem tatsächlichen Betrieb der Halbbrückenanordnung eine "Auf ärmphase" vorzusehen. Während dieser Auf- wärmphase wird die Schottkydiode von einem Strom durchflos- sen, der zwar zu einer Erwärmung der Schottkydiode und ggf. auch der integrierten Freilaufdiode, aber nicht zu deren Zerstörung führt. Sobald die Schottkydiode hinreichend erwärmt ist, kann auch im Voll-Lastbetrieb der Strom die Schottkydiode nicht mehr überlasten, da dann ihre Durchlaß-Spannung ausreichend niedrig ist.
Da für den Betrieb der Halbbrückenanordnung bzw. die Ansteue- rung der an der Halbbrückenanordnung angeschlossenen Last (zum Beispiel Asynchronmaschine) ohnehin eine Ansteuerschal- tung mit einem Steuerrechner erforderlich ist um die einzelnen Phasen entsprechend zu bestromen, kann für diese Aufwärmphase in dem Steuerrechner ein Progam abgelegt sein. Durch dieses Steuerrechnerprogramm für die Aufwärmphase wird die Halbbrückenanordnung in einer Weise betrieben, daß der Strom durch die Schottkydiode im Freilaufbetrieb solange reduziert ist, bis sich die Schottkydiode gegenüber dem Halbleiterschalter und dessen integrierter Freilaufdiode soweit erwärmt hat, daß die Durchlaßspannung der integrierten Freilaufdiode auch unter Last stets über der Durchlaßspannung der Schottky- diode liegt.
Bei einer bevorzugten Ausführungs orm sind die Halbleiterschalter durch schnellschaltende, verlustarme Feldeffekt- Transistoren (FETs) gebildet. Dabei können mehrere Paare in Serie geschalteter Halbleiterschalter parallel geschaltet sein. Außerdem können die Halbleiterschalter durch eine große Anzahl von einzelnen Halbleiterschalter-Bauelementen mit jeweils kleinen Schaltleistungen gebildet sein. Durch die Verwendung vieler Halbleiterschalterelemente mit jeweils einer relativ kleinen Schaltleistung, die jedoch einfach parallel- schaltbar sind, kann eine gute Kühlung erreicht werden, da die vielen Einzelbauteile gut durch das Kühlmedium erreichbar sind.
Die Erfindung betrifft auch eine Leistungsendstufe einer An- Steuereinrichtung für einen mehrphasigen Elektromotor, bei der für jede Phase des Elektromotors eine Halbbrückenanordnung bereitgestellt ist.
Kurzbeschreibung der Zeichnung In der Zeichnung ist eine bevorzugte Ausführungsform des Erfindungsgegenstandes veranschaulicht .
Fig. 1 zeigt einen elektrischen Schaltplan einer erfindungsgemäßen Halbbrückenanordnung.
Fig. 2 zeigt einen Halbleiterschalter mit integrierter Freilaufdiode sowie eine parallelgeschaltete Schottkydiode einer erfindungsgemäßen Halbbrückenanordnung nach Fig. 1 auf einem Kühlkörper angeordnet in einer schematischen Seitenansicht.
Beschreibung einer Ausführungsform der Erfindung Fig. 1 zeigt eine Halbbrücke 10, die ein Paar in Serie geschaltete N-Kanal MOSFETs 12, 14 aufweist. Der erste MOSFET 12 liegt mit seinem Source-Anschluß Sl (=erster Leistungsan- schluß) auf einem hohen Spannungspotential Vss. Der zweite MOSFET 14 liegt mit seinem Drain-Anschluß D2 (^zweiter Leistungsanschluß) auf einem niedrigen Spannungspotential Vjyo - Zur Bildung eines Ausgangs A der sind der Drain-Anschluß Dl
(=zweiter Leistungsanschluß) des ersten MOSFETs 12 und der Source-Anschluß S2 (=erster Leistungsanschluß) des zweiten MOSFETs 14 miteinander verbunden. Jeweils ein Steuereingang Gl, G2 ist für die beiden MOSFETs 12, 14 vorgesehen, die über (nicht weiter veranschaulichte) Gatewiderstände durch eine Ansteuerschaltung ECU angesteuert werden.
Zwischen dem hohen und dem niedrigen Spannungspotential V55 und VDD ist ein (nicht weiter veranschaulichter) Stützkon- densator vorgesehen. Die Ansteuerung der jeweiligen MOSFETs
12, 14 erfolgt mit einem (pulsweiten odulierten) Steuersignal von mehr als 20 kHz Schaltfrequenz. Vorzugsweise beträgt die Schaltfrequenz 100 kHz und mehr.
Die beiden MOSFETs 12, 14 haben integrierte Freilaufdioden, welche Silizium-Sperrschichtdioden-Eigenschaften haben. Erfindungsgemäß sind parallel zu den integrierten Freilaufdioden der beiden MOSFETs 12, 14 Schottkydioden 16, 18 geschaltet, wobei die Schottkydioden 16, 18 die gleiche Orien- tierung haben wie die integrierten Freilaufdioden.
Wie in Fig. 2 veranschaulicht, ist jeder MOSFET 12 mit seiner integrierten Freilaufdiode direkt an einen Kühlkörper 22 wärmeleitend angekoppelt. Die zugehörige parallelgeschaltete Schottkydiode 16 ist zwar ebenfalls mit dem Kühlkörper 22 verbunden, allerdings befindet sich zwischen der Schottkydiode 16 und dem Kühlkörper 22 ein Keramikplättchen 20, so daß die Wärmeleitung zwischen MOSFET 12 mit seiner integrierten Freilaufdiode und dem Kühlkörper 22 besser ist als zwi- sehen der Schottkydiode 16 und dem Kühlkörper 22.
In Fig. 2 ist diese Anordnung nur in Bezug auf den ersten MOSFET 12 mit seiner integrierten Freilaufdiode und parallelgeschalteter Schottkydiode 16 gezeigt. Es versteht sich je- doch, daß diese erfindungsgemäße Anordnung auch für den zweiten MOSFET 14 mit seiner integrierten Freilaufdiode und parallelgeschalteter Schottkydiode 18 gilt.