DE975679C - Verfahren zur Herstellung von Selengleichrichtern - Google Patents
Verfahren zur Herstellung von SelengleichrichternInfo
- Publication number
- DE975679C DE975679C DES35730A DES0035730A DE975679C DE 975679 C DE975679 C DE 975679C DE S35730 A DES35730 A DE S35730A DE S0035730 A DES0035730 A DE S0035730A DE 975679 C DE975679 C DE 975679C
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- cover electrode
- selenium
- metal
- electrode
- melting point
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- BUGBHKTXTAQXES-UHFFFAOYSA-N Selenium Chemical compound [Se] BUGBHKTXTAQXES-UHFFFAOYSA-N 0.000 title claims description 18
- 229910052711 selenium Inorganic materials 0.000 title claims description 18
- 239000011669 selenium Substances 0.000 title claims description 18
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 11
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 4
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 22
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 22
- 230000008018 melting Effects 0.000 claims description 16
- 238000002844 melting Methods 0.000 claims description 16
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 claims description 10
- 229910052716 thallium Inorganic materials 0.000 claims description 10
- BKVIYDNLLOSFOA-UHFFFAOYSA-N thallium Chemical compound [Tl] BKVIYDNLLOSFOA-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 10
- 229910000925 Cd alloy Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 229910001128 Sn alloy Inorganic materials 0.000 claims description 3
- BDOSMKKIYDKNTQ-UHFFFAOYSA-N cadmium atom Chemical compound [Cd] BDOSMKKIYDKNTQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 239000000654 additive Substances 0.000 claims description 2
- 239000006023 eutectic alloy Substances 0.000 claims description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 2
- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims description 2
- 238000005507 spraying Methods 0.000 description 5
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 3
- 230000002349 favourable effect Effects 0.000 description 3
- 239000011888 foil Substances 0.000 description 3
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000007792 addition Methods 0.000 description 2
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 2
- 230000000996 additive effect Effects 0.000 description 1
- 229910052797 bismuth Inorganic materials 0.000 description 1
- JCXGWMGPZLAOME-UHFFFAOYSA-N bismuth atom Chemical compound [Bi] JCXGWMGPZLAOME-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 1
- 229910052793 cadmium Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000006378 damage Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 229910000743 fusible alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052736 halogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002367 halogens Chemical class 0.000 description 1
- 230000035876 healing Effects 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 229910052738 indium Inorganic materials 0.000 description 1
- APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N indium atom Chemical compound [In] APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000155 melt Substances 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- 238000009987 spinning Methods 0.000 description 1
- 239000007921 spray Substances 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/06—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising selenium or tellurium in uncombined form other than as impurities in semiconductor bodies of other materials
- H01L21/14—Treatment of the complete device, e.g. by electroforming to form a barrier
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/06—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising selenium or tellurium in uncombined form other than as impurities in semiconductor bodies of other materials
- H01L21/12—Application of an electrode to the exposed surface of the selenium or tellurium after the selenium or tellurium has been applied to the foundation plate
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/06—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising selenium or tellurium in uncombined form other than as impurities in semiconductor bodies of other materials
- H01L21/14—Treatment of the complete device, e.g. by electroforming to form a barrier
- H01L21/145—Ageing
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Gerontology & Geriatric Medicine (AREA)
- Battery Electrode And Active Subsutance (AREA)
- Coating By Spraying Or Casting (AREA)
Description
AUSGEGEBENAM 26. APRIL 1962
S 35730 VIII c 121g
Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zur Herstellung von Selengleichrichterplatten, insbesondere
auf Maßnahmen bei der Herstellung der Deckelektrode.
Bekanntlich dient bei Selengleichrichterplatten die Grundplatte als eine Abnahmeelektrode und als
zweite Abnahmeelektrode eine auf die Selenschicht aufgebrachte Metallschicht, die beispielsweise aus
einer niedrigschmelzenden Legierung der Metalle Zinn, Blei, Wismut und Kadmium besteht. Diese
Legierung wird z. B. durch Aufspritzen auf die Selenoberfläche aufgebracht. Zur Verbesserung der
Eigenschaften der Gleichrichterplatte wird dem Deckelektrodenmetall oft noch eine geringe Menge
eines weiteren Stoffes zugesetzt, der das überschüssige Halogen, das zur Leitfähigkeitserhöhung
dem Selen zugesetzt worden ist, in der Grenzschicht bindet. Als Zusatzstoff wird meist Thallium oder
Indium verwendet. Es hat sich weiter als vorteilhaft erwiesen, zur Ausbildung einer guten Reaktionsschicht zwischen dem Selen und dem Deckelektrodenmetall
die Deckelektrode eine bestimmte Zeit über ihren Schmelzpunkt zu erwärmen, so daß
sie schmilzt. Selengleichrichterplatten, die auf diese Weise hergestellt sind, eignen sich besonders zur
Anwendung bei hoher spezifischer Belastung.
Es hat sich nun als Nachteil des Anschmelzens der Deckelektrode herausgestellt, daß der Selengleichrichter
nach dem Anschmelzen nicht mehr die Eigenschaft hat, an den schlechten Stellen auszuheilen.
Bekanntlich zeigen Selengleichrichterplatten die Eigenschaft, daß die in der Selenschicht
209 564/2
vorhandenen schwachen Stellen bzw. Kurzschlüsse bei Belastung durch Wegbrennen eines Teiles
der Deckelektrode von selbst ausheilen. Diese wünschenswerte Eigenschaft geht beim Anschmelzen
der Deckelektrode verloren, offenbar dadurch, daß das Metall der Deckelektrode nach
dem Anschmelzen eine kompakte Schicht bildet, deren Querleitfähigkeit so groß ist, daß bei einem
Durchschlag an einer schwachen Stelle die Energie ίο zu schnell von der Durchschlagstelle abgeleitet
wird, so daß an dieser Stelle ein Schmelzen oder Wegbrennen des Deckelektrodenmetalls nicht mehr
eintritt. Weiter hat sich gezeigt, daß Zusätze von Thallium zum Deckelektrodenmetall wohl für die
Formierung Vorteile bringen, beim späteren Betrieb des Gleichrichters aber unerwünscht sind. Es
wurde deshalb schon vorgeschlagen, die Formierung der Gleichrichterplatte in der Weise vorzunehmen,
daß eine thalliumhaltige Metallfolie während des Formiervorganges gegen die Selenoberfläche gedrückt
und nach der Formierung diese Metallfolie durch eine der üblichen Spritzmetallschichten
ersetzt wird.
Bei diesem Verfahren ist jedoch der Nachteil zu beobachten, daß eine sich insbesondere aus dem
Metall der Deckelektrode und dem Selen bildende Reaktionsschicht durch das unvollständige Anliegen
der Metallfolie ungenügend ausgebildet oder beim Abheben beschädigt wird.
Die genannten Nachteile werden durch die Erfindung vermieden. Das Verfahren gemäß der Erfindung
ist dadurch gekennzeichnet, daß die beim Formieren verwendete Deckelektrode nach der
elektrischen Formierung bis zum Schmelzpunkt erhitzt, dann abgeschleudert und durch eine aufgespritzte
poröse Deckelektrode, gegebenenfalls anderer Zusammensetzung, ersetzt wird. Dadurch
wird erreicht, daß sich beim Anschmelzen eine gut ausgebildete und gleichmäßige Reaktionsschicht
zwischen dem Deckelektrodenmetall und dem Selen bildet, die durch das Abschleudern des Deckelektrodenmetalls
weder beschädigt noch entfernt wird. Durch nachfolgendes Aufbringen einer aufgespritzten
und somit porösen Deckelektrode werden die Ausheileigenschaf ten der Selengleichrichterplatte wiederhergestellt, so daß auf diese Weise die
günstigen Eigenschaften der Selengleichrichterplatten mit aufgespritzter Deckelektrode und der
mit angeschmolzener Deckelektrode vereinigt sind. Das Verfahren gemäß der Erfindung kann weiter
gleichzeitig dazu verwendet werden, die Deckelektrode mit höherem Thalliumzusatz, der für die
Formierung günstig ist, durch eine Deckelektrode mit einer geringeren Thalliummenge oder eine
thalliumfreie Deckelektrode zu ersetzen, so daß sich beim Dauerbetrieb des Gleichrichters keine unerwünschten
Nebenerscheinungen ergeben. Es wird also als erste Deckelektrode eine Legierung mit
höherem Thalliumgehalt verwendet, der Gleichrichter, eventuell unter gleichzeitiger Erwärmung
bis zum Schmelzpunkt der Deckelektrode, einer elektrischen Formierung unterworfen, die Deckelektrode
dann in geschmolzenem Zustand abgeschleudert und eine andere Deckelektrode mit
geringerem Thalliumgehalt auf die so erhaltene Gleichrichterplatte durch Aufspritzen aufgebracht.
Es ist dabei wesentlich, daß die verbleibende Deckelektrode keine kompakte Metallschicht darstellt
und daher vorzugsweise durch Aufspritzen aufgebracht wird.
Als Deckelektrodenmetall hat sich in beiden Fällen eine eutektische Legierung von Kadmium
und Zinn mit einem Schmelzpunkt von etwa 1770 C
als besonders günstig erwiesen. Die erste Deckelektrode kann nach einem beliebigen Verfahren
beispielsweise auch durch Aufspritzen aufgebracht werden. Zweckmäßig wird die Gleichrichterplatte
vor oder nach dem Aufspritzen der ersten Deckelektrodenschicht auf eine bewegliche, vorteilhaft
drehbare Unterlage aufgelegt und in der Kälte oder auch bei Erwärmung bis zum Schmelzpunkt der
Deckelektrode einer elektrischen Formierung bis zu der gewünschten Sperrspannung unterworfen.
Nach Erstarren der Deckelektrode wird dann gegebenenfalls die Gleichrichterplatte von neuem erwärmt,
um das Metall der Deckelektrode zu schmelzen und das überflüssige Metall beispielsweise
durch rasche Rotation der Gleichrichterplatte abzuschleudern. Auf diese Weise werden mindestens
80% der Metallmenge des Deckelektrodenmetalls wieder entfernt. Auf die von dem Deckelektrodenmetall
weitgehend befreite Oberfläche des Selens wird schließlich nach Abkühlen der Gleichrichterplatte
die endgültige Deckelektrode durch Aufspritzen aufgebracht, beispielsweise durch Verwendung
der gleichen Legierung aus Zinn und Kadmium mit einem Schmelzpunkt von 1770 C. Wenn
die erste Deckelektrode eine gewisse Menge Thallium zur Verbesserung der Formierung enthält,
so wird der Thalliumgehalt der zweiten Deckelektrode vorzugsweise vermindert. Es ist jedoch
nicht unbedingt notwendig, daß die zweite Deckelektrode aus denselben Stoffen wie die erste besteht.
Es kann beispielsweise auch eine Legierung mit einem Schmelzpunkt verwendet werden, der
niedriger als 1770C liegt.
Die nach dem Verfahren gemäß der Erfindung hergestellten Selengleichrichterplatten zeigen nicht
nur eine gute Spannungsfestigkeit, sondern lassen sich auch mit verhältnismäßig hohen Strömen ohne
Gefahr der Zerstörung belasten.
Claims (4)
1. Verfahren zur Herstellung von hochbelastbaren Selengleichrichterplatten, dadurch gekennzeichnet,
daß die beim Formieren verwendete Deckelektrode nach der elektrischen Formierung
bis zum Schmelzpunkt erhitzt, dann abgeschleudert und durch eine aufgespritzte poröse Deckelektrode,
gegebenenfalls anderer Zusammen- iao setzung, ersetzt wird.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß als Metall für die beiden Deckelektrodenschichten eine eutektische Legierung
von Zinn und Kadmium mit einem 1*5 Schmelzpunkt von 1770 C verwendet wird.
3· Verfahren nach Anspruch ι und 2, dadurch
gekennzeichnet, daß die erste Deckelektrodenschicht einen höheren Gehalt an Zusatzstoffen,
beispielsweise Thallium, als die zweite Elektrodenschicht aufweist.
4. Verfahren nach Anspruch 1 und 3, dadurch gekennzeichnet, daß das Material der
zweiten Deckelektrodenschicht einen niedrigeren Schmelzpunkt als das der ersten Deckelektrodenschicht
aufweist.
© 509 565/126 9.55 (209 564/2 4.62)
Priority Applications (6)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DES35730A DE975679C (de) | 1953-10-02 | 1953-10-02 | Verfahren zur Herstellung von Selengleichrichtern |
US456610A US2842830A (en) | 1953-10-02 | 1954-09-16 | Process for the manufacture of selenium rectifier |
GB27667/54A GB755085A (en) | 1953-10-02 | 1954-09-24 | Method of manufacturing selenium rectifiers |
BE532221D BE532221A (de) | 1953-10-02 | 1954-10-01 | |
FR66848D FR66848E (fr) | 1949-12-05 | 1954-10-01 | Perfectionnements aux redresseurs secs |
FR67184D FR67184E (fr) | 1949-12-05 | 1954-10-08 | Perfectionnements aux redresseurs secs |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DES35730A DE975679C (de) | 1953-10-02 | 1953-10-02 | Verfahren zur Herstellung von Selengleichrichtern |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE975679C true DE975679C (de) | 1962-04-26 |
Family
ID=7481991
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DES35730A Expired DE975679C (de) | 1949-12-05 | 1953-10-02 | Verfahren zur Herstellung von Selengleichrichtern |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US2842830A (de) |
BE (1) | BE532221A (de) |
DE (1) | DE975679C (de) |
GB (1) | GB755085A (de) |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US2193610A (en) * | 1938-02-17 | 1940-03-12 | Westinghouse Electric & Mfg Co | Selenium contact electrode |
US2321523A (en) * | 1942-06-27 | 1943-06-08 | Standard Telephones Cables Ltd | Method of reclaiming selenium elements |
US2644915A (en) * | 1950-07-24 | 1953-07-07 | Bell Telephone Labor Inc | Selenium rectifier and method of its production |
-
1953
- 1953-10-02 DE DES35730A patent/DE975679C/de not_active Expired
-
1954
- 1954-09-16 US US456610A patent/US2842830A/en not_active Expired - Lifetime
- 1954-09-24 GB GB27667/54A patent/GB755085A/en not_active Expired
- 1954-10-01 BE BE532221D patent/BE532221A/xx unknown
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
BE532221A (de) | 1958-01-31 |
US2842830A (en) | 1958-07-15 |
GB755085A (en) | 1956-08-15 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE1214786B (de) | Elektrischer Kondenstator und Verfahren zu seiner Herstellung | |
CH181908A (de) | Elektrostatischer Kondensator. | |
DE975679C (de) | Verfahren zur Herstellung von Selengleichrichtern | |
EP0258670B1 (de) | Füllschichtbauteil | |
DE742762C (de) | Verfahren zur Herstellung eines Sperrschichtelektrodensystems mit einer Selenelektrode | |
DE908043C (de) | Verfahren zur Herstellung von Selengleichrichtern, vorzugsweise solcher mit Leichtmetall-Traegerelektroden | |
DES0035730MA (de) | ||
EP0260427A1 (de) | Füllschichtbauteil und Verfahren zu dessen Herstellung | |
DE946302C (de) | Verfahren zur Herstellung elektrisch leitender Verbindungen zwischen aeusserst duennen Metallbelegungen elektrischer Kondensatoren und ihren drahtfoermigen Stromzufuehrungen | |
DE2832735A1 (de) | Stabilisierter varistor | |
DE1007689B (de) | Verglasbares Flussmittel sowie keramischer Gegenstand | |
CH334115A (de) | Verfahren zur Herstellung von Selengleichrichtern | |
DE892945C (de) | Verfahren zur Herstellung von Selenphotoelementen | |
DE1011594B (de) | Verfahren zur Herstellung von Quarzglas | |
DE1060053B (de) | Verfahren zur Herstellung von Selengleichrichtern mit einem mehrschichtigen Halbleiter mit verschiedenem Gehalt an Halogen und elektropositiven Zusaetzen in den einzelnen Schichten | |
DE2849606B2 (de) | Basismetallplattenmaterial für direkt erhitzte Oxidkathoden | |
DE883476C (de) | Verfahren zur Verringerung der Alterung von Selengleichrichtern mit auf die Selenschicht aufgebrachter, beispielsweise aus einer Zinn-Kadmium-Legierung bestehender Deckelektrode | |
DE1928718C (de) | Verfahren zur Herstellung eines Metalloxydkondensators | |
DE739644C (de) | Direkt oder indirekt geheizte Gluehkathode fuer Elektronenroehren | |
DE2723212A1 (de) | Verdampfungsvorrichtung | |
DE898468C (de) | Verfahren zur Herstellung von elektrischen Widerstaenden | |
DE2040511A1 (de) | Verfahren zum Herstellen einer Graphitelektrode | |
DE932812C (de) | Verfahren zur Herstellung von Trockengleichrichtern, insbesondere Selengleichrichtern | |
DE1614656C3 (de) | Verfahren zum Verlöten der Gitter draYitetiocribelasfbarerKreuzspanngitter fur elektrische Entladungsgefäß | |
DE1061448B (de) | Verfahren zur Herstellung eines isolierenden UEberzuges fuer Brenner von indirekt geheizten Kathoden |