DE973156C - Verfahren zur Herstellung lichtelektrisch leitender Schichten fuer Photowiderstaende - Google Patents
Verfahren zur Herstellung lichtelektrisch leitender Schichten fuer PhotowiderstaendeInfo
- Publication number
- DE973156C DE973156C DEP36925A DEP0036925A DE973156C DE 973156 C DE973156 C DE 973156C DE P36925 A DEP36925 A DE P36925A DE P0036925 A DEP0036925 A DE P0036925A DE 973156 C DE973156 C DE 973156C
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- substance
- layer
- gas
- layer substance
- ions
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/32—Gas-filled discharge tubes
- H01J37/34—Gas-filled discharge tubes operating with cathodic sputtering
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C14/00—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
- C23C14/22—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C14/00—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
- C23C14/22—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
- C23C14/24—Vacuum evaporation
- C23C14/32—Vacuum evaporation by explosion; by evaporation and subsequent ionisation of the vapours, e.g. ion-plating
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C14/00—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
- C23C14/22—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
- C23C14/34—Sputtering
- C23C14/35—Sputtering by application of a magnetic field, e.g. magnetron sputtering
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Metallurgy (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Plasma & Fusion (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Physical Vapour Deposition (AREA)
- Photoreceptors In Electrophotography (AREA)
Description
(WiGBl. S. 175)
AUSGEGEBEN AM 10. DEZEMBER 1959
ρ 36925 VIIIc/2ig D
Ernst Schwarz, London
ist als Erfinder genannt worden
Hilger & Watts Limited, London
für Photowiderstände
Patenterteilung bekanntgemacht am 26. November 1959
Die Erfindung bezieht sich auf Photowiderstände der Bauart, bei welcher das Auftreffen von
Photonen- auf ein empfindliches Material die Auslösung von Elektronen in einer die ankommenden
Photonen übersteigenden Anzahl bewirkt, wodurch eine höhere elektrische Leitfähigkeit bewirkt wird.
Solche Photowiderstände sind bereits bekannt. Der erste enthielt Selen als empfindliches Material, doch
sind auch andere Materialien vorgeschlagen worden, wie z. B. Thalliumsulfid, Bleisulfid, Bleiselenid,
Bleitellurid.
Die die vorstehend benannten Stoffe enthaltenden Photowiderstände werden manchmal in der Weise
hergestellt, daß die Schichtsubstanz im Hochvakuum oder in einer Sauerstoffatmosphäre bei
Unterdruck verdampft wird. Sie können aber auch auf nassem Wege erzeugt werden, wobei die
Schichtsubstanz in. einer chemischen Reaktion gefällt wird. Es scheint, daß Sauerstoff für die hohe
Empfindlichkeit all dieser Zellen wesentlich ist. Häufig ist es auch notwendig, nach der Niederschlagung
der Substanzschicht eine Heißbehandlung in Sauerstoff folgen zu lassen.
Die Erfindung erstreckt sich hauptsächlich auf die Herstellung mittels Sauerstoff oder eines die
gleiche Wirkung auslösenden Gases und bezweckt,
909 665/27
eine bessere Aufnahme dieser Gase während des Verdampfungsprozesses herbeizuführen, als dies
bisher möglich war.
Das Ergebnis ist, daß die Eigenschaften der Photowiderstände, soweit sie aus bekannten Substanzen
hergestellt sind, verbessert werden und daß viele neue Substanzen aufgefunden werden, die für
den Zweck brauchbar sind, woraus sich ein weiterer Spielraum für die Auswahl der Empfindlichkeitsbereiche
für die verschiedensten Zwecke ergibt.
Gemäß der Erfindung werden zur Herstellung von Photowiderständen lichtelektrisch leitende
Schichten auf einem nichtleitenden Schichtträger dadurch gebildet, daß die Schichtsubstanz oder
eine ihrer Komponenten unter stark vermindertem Druck eines solchen Füllgases verdampft wird, das
von den verdampften Teilchen noch in der Dampfphase in Anwesenheit einer elektrischen Entladung
ohne wesentliche Reaktion adsorbiert wird, und daß die mit dem Gas beladenen Teilchen auf einem
Träger niedergeschlagen werden, der sich außerhalb des Dunkelraumes der Entladung befindet.
Das in Frage kommende Gas ist gewöhnlich Sauerstoff, man kann aber in manchen Fällen auch
Luft oder ein anderes geeignetes Gas oder Gasgemisch anwenden.
Der Erfinder hat eine große Anzahl von Versuchen mit verschiedenen Halbleitern durchgeführt,
um festzustellen, ob sie für die Herstellung von lichtelektrisch leitenden Widerständen brauchbar
sind, und um weiter zu ermitteln, welche Bedingungen bei der Herstellung zu beachten sind. Diese
Versuche haben zu der Formulierung einer Theorie geführt, welche den Mechanismus der lichtelektrischen
Leitfähigkeit zum Gegenstand hat und, obgleich die Richtigkeit dieser Theorie nicht der
Kern der vorliegenden Erfindung ist, sich doch als wertvoller Führer für die Bestimmung der wahrscheinlichen
lichtelektrischen Eigenschaften der verschiedenen Materialien erwiesen hat und überdies
geeignete Methoden zur Herstellung von Photowiderständen aufzeigt.
Die durchgeführten Versuche lassen vermuten, 4-5 daß die spezielle Wirkung des Sauerstoffes am zuverlässigsten
erfaßt werden kann, wenn man annimmt, daß der wesentliche Vorgang in der Adsorption
von Sauerstoff an der Oberfläche der einzelnen Halbleiterteilchen besteht und der Einbau
von Sauerstoff ins Kristallgitter der Teilchen nur eine sekundäre Wirkung ausübt. Es ist bekannt,
daß die Adsorption von Gasen in feinverteilten Metallen wesentlich gefördert wird, wenn durch
das das Absorbens enthaltende Gefäß eine elekirische Entladung erfolgt.
Gemäß der hier vertretenen Theorie adsorbiert ein solches Partikelchen auf seinem Wege zum
Schichtträger Sauerstoff unter dem Einfluß der elektrischen Entladung und ist nach seiner Anlagerung
von einer isolierenden Schicht von Sauerstoffionen umgeben, welche einen engen Kontakt
mit dem benachbarten Partikelchen verhindert. Diese Schicht von Sauerstoffionen verursacht einen
hohen Widerstand der niedergeschlagenen Schichtsubstanz im Normalzustand und einen negativen
Temperaturkoeffizienten des Widerstandes. Auf die Schicht fallende Strahlung steigert ihre Leitfähigkeit.
Aus den durchgeführten Versuchen ergab sich die Möglichkeit, allgemeine Regeln abzuleiten.
welchen die für die Herstellung lichtempfindlicher Widerstände geeigneten Substanzen entsprechen
müssen.
Die erste Bedingung ist, daß der Temperaturkoeffizient des Widerstandes negativ ist, und das
hängt von der Sauerstoffmenge ab, welche die Schichtsubstanz in der Dampfphase auf dem Wege
ihrer Partikelchen von der Quelle bis zum Schichtträger adsorbieren kann. Die Menge des adsorbierten
Gases wird bestimmt durch die Kraft zwischen den Substanzpartikelchen und den Gaspartikelchen,
durch den Gasdruck und die Länge des Weges, den das dampfförmige Schichtsubstanzpartikelchen bis
zu seinem Schichtträger zurückzulegen hat. Diese Kräfte werden reguliert durch die elektrischen Bedingungen
der Entladung; die Weglänge sowie der Gasdruck müssen entsprechend eingestellt werden,
um einen negativen Temperaturkoeffizienten zu erhalten.
Die zweite zu erfüllende Bedingung ist, daß die Schichtsubstanz auf ihrem Träger ohne wesentliche
chemische Veränderung angelagert wird. Das bedeutet, wenn die Schichtsubstanz eine Verbindung
ist, daß diese nicht merklich bei der Temperatur dissoziiert wird, bei welcher der Dampfdruck der
Verbindung hoch genug ist, um in angemessener Zeit eine Schicht von ausreichender Stärke zu erzeugen.
Ungeachtet dessen können aber auch gewisse Verbindungen Anwendung finden, welche bei
der erforderlichen Temperatur dissoziieren, indem man sie nacheinander zur Ablagerung bringt. Dissoziierende
Λ^erbindungen dieser Art enthalten ein
Metall. Das Metall wird zunächst verdampft und niedergeschlagen und danach die andere Komponente,
die ein Metalloid sein kann.
Die vorstehend erläuterte ζλνείίε Bedingung
schließt alle Substanzen aus, und zwar sowohl Elemente als auch Verbindungen, welche unter den
gegebenen Niederschlagungsbedingungen stark oxydiert würden.
Die dritte Bedingung für die Herstellung von lichtempfindlichen Widerständen ist durch die elektrische
Leitfähigkeit der sauer stoff freien Substanz in der Masse gegeben, bei der also keine isolierende
Schicht zwischen den einzelnen Teilchen vorhanden ist. Da die Empfindlichkeit des Widerstandes durch
das Verhältnis der Leitfähigkeit der Substanz mit und ohne isolierende Schicht bestimmt wird, so
wird sie unter sonst gleichen Bedingungen um so höher sein, je größer die Leitfähigkeit der Substanz
in der Masse ist.
Die vierte Bedingung, die eine Schichtsubstanz rfüllen muß, wenn ein hochempfindlicher Widertand
erreicht werden soll, besteht darin, daß die adsorbierenden Kräfte zwischen der Substanz und
dem Sauerstoff stärker sind als die Bindung zwi-
sehen den Partikelchen selbst. Diese Bedingung bedarf einer Erläuterung.
Nach der Niederschlagung der verdampften Partikelchen sollte die Schicht in Sauerstoff oder
Luft zwecks Erreichung optimaler Empfindlichkeit erhitzt werden. Während dieser Behandlung wird
im allgemeinen in den Zwischenräumen benachbarter Teilchen mehr Sauerstoff adsorbiert, und die
isolierende Schicht und damit die Lichtempfindlichkeit nimmt in der Stärke zu. Es kann aber bei gewissen
Substanzen vorkommen, daß diese Wärmebehandlung den Temperaturkoeffizienten des Widerstandes
in positive Werte mit einer Verminderung des Widerstandes umschlagen läßt. In diesem Falle
geht die Photoleitfähigkeit vollkommen verloren, und keine Nachbehandlung vermag die Empfindlichkeit
wieder herzustellen. In welcher Richtung der Prozeß verläuft, hängt von der relativen Stärke
der Bindung zwischen Schichtsubstanz und Sauerstoff einerseits und der Bindung der Partikel untereinander
andererseits ab.
Verfahren zur Ausführung der Erfindung sind in den Zeichnungen dargestellt, welche in schematischer
Weise die für die verschiedenen Methoden brauchbaren Apparate erkennen lassen. Es zeigt
Fig. ι ein Verfahren mit Kathodenzerstäubung,
Fig. 2 eine Methode der Verdampfung in einer Gasentladung,
Fig. 3 eine Methode mit Niederspannungs-Lichtbogen,
Fig. 4 eine Aufsicht auf den Apparat nach
Fig. 3,
Fig. 5 eine Kombination der beiden letztgenannten Methoden,
Fig. 6 ein Verfahren mit getrennter Ionenerzeugung.
Gemäß Fig. 1, die das Verfahren mit Kathodenzerstäubung
zeigt, ist ein luftdichtes Gefäß 1 vorgesehen, das durch den Stutzen 2 an eine Vakuumpumpe
und durch den Anschluß 3 an eine Gasleitung angeschlossen ist. Zunächst wird das Gefäß
evakuiert und danach das Gas eingelassen. Dieses kann Sauerstoff, Luft oder ein anderes geeignetes
Gas oder Gasgemisch sein. Der Gasdruck wird mit Hilfe eines Nadelventils 39 geregelt. Der optimale
Gasdruck ändert sich mit den Schichtsubstanzen und muß angesichts der großen Anzahl der für den
Zweck anwendbaren Stoffe von Fall zu Fall durch Versuche ermittelt werden. In dem Gefäß ist an
einer leitenden Stütze 5 ein Tisch 4 angeordnet, auf dem mit Beinen 8 ein zweiter Tisch 7 steht, der den
zu beschichtenden Träger 6 aufnimmt. Dieser Schichtträger 6 kann aber auch unter Weglassung
des Zwischentisches 7 direkt auf den Tisch 4 aufgelegt werden.
Eine Kathode 9 in Form einer Kreisscheibe von etwa 2 bis 5 cm Durchmesser besteht aus der
Schichtsubstanz, die auf dem Träger niedergeschlagen werden soll, und wird von einer leitenden
Stange 10 getragen.
Zur Ausführung der Kathodenzerstäubung wird eine Gleichstromspannung von ungefähr 3000 Volt
an die Leiter 5 und 10 angelegt, wobei der letztere den negativen Pol bildet. Für die Herstellung ist
eine hohe Stromdichte günstig. Um zu verhüten, daß die bombardierenden Elektronen die auf dem
Schichtträger 6 niedergeschlagenen Schichtsubstanzen überhitzen, werden diese Elektronen durch ein
magnetisches oder elektrisches Feld abgelenkt. Dazu dienen die im Behälter 1 eingesetzten Spulen 11
zur Erzeugung eines magnetischen Feldes. Die Schichtsubstanzpartikeln, die von der Kathode 9
zum Schichtträger hinüberwandern, werden durch das Feld nur wenig abgelenkt, weil ihre Masse
im Vergleich zu ihrer Ladung verhältnismäßig groß ist.
Der Schichtträger 6 soll in jedem Falle außerhalb der Dunkelzone der Entladung liegen und in
ziemlich großem Abstand von der Kathode 9. Der Schichtträger kann während oder nach der Zerstäubung
durch geeignete Mittel gekühlt oder geheizt werden. Auf diese Weise kann diese Behandlung
der niedergeschlagenen Schicht entweder im gleichen Gase oder, wenn sie schrittweise erfolgt,
in einem anderen Gase durchgeführt werden.
In manchen Fällen bereitet die Durchführung der
Kathodenzerstäubung Schwierigkeiten, nämlich dann, wenn die Herstellung einer Kathode von ausreichend
großem Durchmesser Schwierigkeiten macht oder wenn beim optimalen Gasdruck die Kathode so stark oxydiert, daß die Kathodenzerstäubung
übermäßig verzögert oder gar zum Stillstand gebracht wird. In solchen Fällen ist die Verdampfung
in einer Gasentladung, wie sie in Fig. 2 gezeigt ist, vorzuziehen.
Behälter, Anschlüsse und Elektrodenanordnung sind grundsätzlich die gleichen wie in Fig. 1, jedoch
ist in diesem Falle die Kathode 9 aus einer Platte aus Aluminium oder einem anderen nicht
zerstäubenden Metall hergestellt. Zwischen Kathode und Anode ist eine Heizspirale 12 angeordnet, die
eine kleine Menge 13 der niederzuschlagenden Schichtsubstanz enthält und auf die erforderliche
Temperatur durch einen Heizstrom erhitzt wird. Bei dieser Anordnung wandern die in der Heizspirale
12 frei werdenden Partikelchen in einen Raum, der mit den Ionen von Sauerstoff oder
einem anderen Behandlungsgas angefüllt ist, und adsorbieren dieses Gas, bevor sie auf den Schichtträger
6 gelangen.
In Abänderung dieser Einrichtung kann man die Kathode aus einem Stoff herstellen, der leicht zerstäubt
und dann mit den in der Heizspirale 12 frei werdenden Partikelchen sich mischt bzw. auf diese
reagiert.
Ein sehr vorteilhaftes Verfahren zur Herstellung lichtempfindlicher Schichten mit Hilfe eines Niederspannungs-Lichtbogens
ist in den Fig. 3 und 4 gezeigt. In diesem Falle sind im Gehäuse 1 die
Schichtträger 6 senkrecht in einem Behälter 14 aufgestellt, der einen doppelten Boden aufweist,
durch den mittels der Rohranschlüsse 15 ein Kühlmittel geleitet werden kann. Die Schichtsubstanzmasse 13 ist in einem kleinen Trichter 16 aus
Wolframdraht auf einem Stützdraht 17 angeordnet. Eine Drahtwicklung 18 oberhalb des Gefäßes 14
stellt eine Elektronenquelle dar und wird durch die Leiter 19 durch einen Strom von etwa 12 Volt
Spannung erhitzt. Eine Gleichstromspannung von etwa 50 bis 220 Volt wird zwischen dem Stützdraht
17 und einem der Leiter 19 angelegt, wobei der letztere negativ ist. Die Schichtsubstanz 13
wird durch Elektronen und negative Gasionen von der Heizquelle 18 bombardiert, und die durch das
Bombardement erzeugte Hitze reicht zur Verdampfung der Schichtmasse aus.
Eine Kombination des ersten und dritten Verfahrens, nämlich der Kathodenzerstäubung mit
dem Niederspannungs-Lichtbogen, ist in Fig. 5 gezeigt. Gehäuse und Anschlüsse sind dieselben
wie in Fig. 1. Die Kathode 20 ist in geeignetem Abstand vom Schichtträger 6 angeordnet, und eine
hohe Gleichstromspannung von etwa 3000 Volt wird zwischen Anode 4 und Kathode 20 angelegt.
Zwischen der letzteren und der Trägerplatte 6 sind ao zwei Becher 21 angeordnet, welche mittels der Leitung
22 unter eine Wechselstromspannung von etwa 220 Volt gelegt sind. In den Bechern 21 ist
die zu verdampfende Schichtsubstanz eingelegt. Die Substanz kann in beiden Bechern dieselbe sein.
Es können aber auch verschiedene Substanzen angewendet werden, die sich miteinander vermischen
bzw. aufeinander reagieren. Unter dem Einfluß der Gasentladung zwischen Kathode 20 und Anode 4
wird das Gas leitend. So entsteht ein Lichtbogen zwischen den Bechern 21, der genügend Hitze zur
Verdampfung der Substanzen erzeugt. Die Kathode kann aus einem geeigneten, nicht zerstäubenden
Material, z. B. Aluminium, bestehen oder aber auch aus einer der Substanzen, die auf den Schichtträger
aufzutragen sind bzw. mit einer solchen Substanz bekleidet sein.
In den bisher beschriebenen Anordnungen werden die Substanzpartikelchen in einem Räume
erzeugt, der die Gasionen enthält. In den meisten Fällen ist es aber vorzuziehen, die Erzeugung der
Gasionen von der Erzeugung der Substanzionen zu trennen und ihnen nach der Erzeugung die
Möglichkeit zu geben, vor der Anlagerung auf dem Schichtträger aufeinander zu reagieren. Ein
besonderer Vorteil dieser Methode besteht in einer wesentlichen Erleichterung der Kontrolle der Verfahrensbedingungen.
Eine für diese Methode geeignete Einrichtung ist in Fig. 6 gezeigt. In diesem Falle hat das gasdichte
Gehäuse 23 die Form eines T. Die Beschreibung wird an Hand des aufrecht stehenden T
durchgeführt, obwohl das Gerät in Praxis in waagerechter Lage sich befindet.
Der Luftpumpenanschluß 2 befindet sich am Boden des Schaftes und der Gaseinlaß 3 in der
Nähe seines oberen Endes. Eine Elektronenquelle 24 ist in diesem Gehäuseschaft angeordnet; sie
wird mit einem Gleichstrom von 12 Volt erregt.
Oberhalb der Elektronenquelle 24 befindet sich ein Gitter 25, das im Verhältnis zur Windung 24 unter
positiver Spannung gehalten wird, und darüber ein weiteres Gitter 26 mit noch höherer positiver
Spannung. Die beiden Gitter 25, 26 sind so angeordnet, daß der aus dem Einlaß 3 eingeführte Gasstrom
zwischen den beiden Gittern eintritt. In dem rechten Schenkel des T befindet sich, von rechts
beginnend, zunächst eine der Windung 24 ähnliche Elektronenquelle 27, dahinter ein Gitter 28, das
unter positiver Spannung gehalten wird, um die Elektronen nach links zu beschleunigen. Das
nächste Element ist eine Drahtwindung 29, die mit einem Gleichstrom von 6 Volt erhitzt wird und die
Schichtsubstanzmasse 13 enthält. Weiter nach links liegt ein Gitter 30, das im Verhältnis zur
Elektronenquelle 27 unter negativer Spannung gehalten wird, um das in der Windung 13 durch das
Elektronenbombardement frei gemachte positive Ionenmaterial nach links zu beschleunigen.
Ein weiteres Gitter 31, das in noch höherem
Grade negativ gehalten wird, sorgt für weitere Beschleunigung der Ionen.
Da das bei 3 einströmende Gas die Schichtsubstanz möglicherweise in ungünstigem Maße
oxydieren könnte, ist es ratsam, die Ionen in einer inerten Gasatmosphäre zu erzeugen und zu beschleunigen.
Zu diesem Zwecke wird Stickstoff oder ein anderes inertes Gas durch die Leitung 32
so eingeführt, daß es unmittelbar auf die Windung
29 oder in deren Nähe einströmt. Eine Vermischung mit dem Behandlungsgas wird praktisch
verhindert durch eine Trennwand 33, durch deren zentrale öffnung 34 die Ionen der Schichtsubstanz
austreten. Das inerte Gas wird dauernd in Fluß gehalten, indem es durch eine zwischen den Gittern
30 und 31 liegende Leitung 35 abgezogen wird. Der Schichtträger 6 wird von einem Halter 36
im linken Schenkel des T so gehalten, daß er in dem Raum 37 dort angrenzt, wo der linke Schenkel des
T-förmigen Gehäuses vom Schaft des T abzweigt. Durch die Leitungen 38 kann dem Träger 36 durch
ständigen Zufluß ein Kühlmittel zugeführt werden.
Im Betriebe werden die Gasionen durch das Gitter 26 in den Reaktionsraum 37 beschleunigt,
während die Ionen der Schichtsubstanz durch die Gitter 30 und 31 in den gleichen Raum getrieben
werden. Die Ionen reagieren in der bereits erläuterten Weise miteinander und lagern sich dann
auf dem Schichtträger 6 ab.
Substanzen, die zur Herstellung von Photozellen gemäß der Erfindung anwendbar sind, fallen
in verschiedene Klassen, die gemäß der Natur der Metalloide sich nicht gegenseitig auszuschließen
brauchen. Vier Bedingungen aber sind zu erfüllen, wenn die Substanzen für ihren Zweck
geeignet sein sollen.
Eine Klasse, die den Bedingungen entspricht und infolgedessen Substanzen enthält, die für
Photozellen verwendbar sind, ist die der binären Metallverbindungen, d. h. echte chemische Verbindungen
eines Metalls mit einem anderen im Gegensatz zu den Legierungen. Geeignete Substanzen
dieser Klasse sind die Antimonide des Zinns, Indiums und Cadmiums sowie die Aluminide des
Goldes.
Eine zweite Gruppe von Substanzen, welche alle vier Bedingungen unmittelbar erfüllen, einschließ-
lieh der Möglichkeit der Ablagerung als Verbindung unter Verdampfung ohne merklicher
Dissoziation, besteht aus Verbindungen der überwiegend metallischen Elemente der b-Untergruppe
der IL, III., IV. und V. Gruppe des Periodischen Systems mit Elementen der b-Untergruppe der
VI. Gruppe. So ist es möglich, mit Hilfe der oben beschriebenen Verfahren höchst empfindliche
Zellen herzustellen, die als aktive Substanz die
ίο Sulfide, Selenide und Telluride des Cadmiums,
Indiums, Thalliums, Zinns, Bleis, Antimons und Wismuts enthalten.
Eine weitere Klasse besteht aus Verbindungen von zw'ei oder mehreren Metallen der soeben erwähnten
Klasse mit einem oder mehreren Elementen der b-Untergruppe der VI. Gruppe. Soweit
festgestellt, erscheinen diese als echte Verbindungen, die mehr den Doppelsalzen entsprechen als
den Mischungen binärer Verbindungen der früher erwähnten Klasse. Für geeignet befunden wurden
die kombinierten Sulfide und Telluride des Silbers und Thalliums und des Bleis, kombiniert mit Silber,
Wismut, Zinn oder Thallium. In einigen Fällen wurden die kombinierten Sulfide und Telluride
zweier solcher Metalle als geeignet befunden.
Mit jeder der vorstehend definierten Substanzen kann die erste Bedingung durch entsprechende Einstellung
der elektrischen Bedingungen, des Druckes, unter welchem die Verdampfung stattfindet, und
der Lage des Schichtträgers erfüllt werden.
Wenn die zweite Bedingung nicht erfüllt werden kann, d. h. wenn die Substanz bei der erforderlichen
Verdampfungstemperatur dissoziiert, dann kann der metallische Anteil der Verbindung nach
einem der oben beschriebenen Verfahren verdampft und auf dem Schichtträger niedergeschlagen werden,
wobei sich oft ein negativer Temperaturkoeffizient ergibt. Der Metallniederschlag wird
dann in die gewünschte Verbindung dadurch übergeführt, daß er in einem evakuierten Glasgefäß
erhitzt und darüber ein Strom der anderen Komponente geführt wird zusammen mit einem
geringen Betrag von Sauerstoff oder Luft. Man kann auch die zweite Komponente auf den Metallniederschlag
zerstäuben, wobei der letztere unter hoher Temperatur gehalten wird.
Durch das Verfahren der getrennten Ablagerung der Komponenten wurde es möglich, hochempfindliche
Widerstände aus Silbersulfid, Silberselenid, Silbertellurid, Platintellurid und Goldtellurid herzustellen.
Es gibt aber auch einige Fälle, bei welchen die Verbindung zwar bei den in Frage kommenden
Temperaturen nicht dissoziiert, wo es aber trotzdem nützlich ist, das Verfahren der getrennten
Ablagerung anzuwenden, weil es empfindlichere Widerstände ergibt.
Es kann auch eintreten, daß die dritte Bedingung nicht direkt von einer anzuwendenden Substanz
erfüllt wird, z. B. wenn der spezifische Widerstand der Substanz in der Masse zu hoch ist. Die Leitfähigkeit
der Grundsubstanz kann oft durch Hinzufügen einer kleinen Menge einer anderen Substanz
erhöht werden, die eine Komponente der Grundsubstanz im Überschuß oder eine Fremdsubstanz
sein kann; jedoch muß darauf geachtet werden, daß die anderen Bedingungen erfüllt sind.
Cadmiumselenid ist eine Substanz der erwähnten Art. Zwei Verfahren haben sich als geeignet erwiesen,
durch welche die Leitfähigkeit in der Masse zur Erhöhung der Lichtempfindlichkeit vermehrt
werden kann. Das eine ist die Hinzufügung eines geringen Anteils von Silberselenid. Das
andere Verfahren besteht darin, daß man etwas Selenid durch Erhitzen austreibt, z. B. im Vakuum
oder in Wasserstoff- bzw. Luftatmosphäre, wodurch Cadmium im Überschuß verbleibt.
Die vierte Bedingung ist immer erfüllt bei Substanzen mit wenig hervortretender metallischer
Bindung. Es wurde indessen gefunden, daß die Langwellenempfindlichkeit sich um so weiter in
das Infrarot erstreckt, je mehr die metallischen Eigenschaften der Substanz vorherrschen. Infolgedessen
verlangt eine weit im Infrarot empfindliche Zelle eine Substanz mit ausgesprochen metallischen
Eigenschaften. Wird eine solche Substanz direkt nach einer der oben beschriebenen Methoden behandelt,
dann besteht aber die Gefahr, daß der Temperaturkoeffizient des Widerstandes positiv
wird, weil die metallische Bindung zwischen den Partikeln die Adsorptionskraft zwischen den Partikeln
und dem Schichtgitter übersteigt, wodurch natürlich die Lichtempfindlichkeit verlorengeht.
Dieser Nachteil kann vermieden werden durch Hinzufügung eines geringen Anteils einer Fremdsubstanz,
der bei Ablagerung der Substanzpartikel auf den Träger zwischen den einzelnen Partikeln
niedergeschlagen wird und gierig Sauerstoff adsorbiert. Dadurch wird eine wirksame Trennschicht
erzeugt, welche einen empfindlichen Widerstand gewährleistet.
Substanzen, die dem vorerwähnten Nachteile unterliegen, wenn sie in reinem Zustande angewendet
werden, schließen einige intermetallische Verbindungen ein, z. B. Platinplumbid, Goldbismuthid
und Platinantimonid. Die Schwierigkeiten können in diesen Fällen durch die Hinzufügung von kleinen
Mengen Aluminium, Thallium oder Magnesium überwunden werden.
In der Einleitung der Beschreibung wurden einige Substanzen erwähnt, die bereits für lichtelektrisch
leitende Widerstände Anwendung gefunden haben. Diese Stoffe fallen ebenfalls unter
die im vorstehenden festgelegte Definition. Es besteht jedoch ein sehr bedeutsamer Unterschied. Die
in der früher bekannten Weise aus diesen Substanzen hergestellten Photowiderstände mußten
unter Vakuum gehalten werden. Die aus diesen Stoffen gemäß der Erfindung hergestellten Widerstände
bedürfen jedoch nicht dieses Schutzes und sind wesentlich empfindlicher als die bisher bekannten.
Außerdem erweitert aber die Erfindung den Kreis der Substanzen, aus denen Photowiderstände
hergestellt werden können, und dadurch wird wiederum eine sehr viel weitere Auswahlmöglichkeit
hinsichtlich der Spektralempfindlichkeit be-
909 665/27
dingt. So haben z. B. die Telluride eine Empfindlichkeit,
die weit in das Infrarot hinreicht, und diese Eigenschaft ist in noch höherem Maße bei allen
Verbindungen festzustellen, die Antimon enthalten. 5
Claims (14)
1. Verfahren zur Herstellung lichtelektrisch ίο leitender Schichten für Photowiderstände durch
Verdampfung der Schichtsubstanz und Ablagerung auf einem nichtleitenden Träger, dadurch
gekennzeichnet, daß die Schichtsubstanz oder eine ihrer Komponenten unter stark verminder-
IS tem Druck eines solchen Füllgases verdampft
wird, das von den verdampften Teilchen noch in der Dampfphase in Anwesenheit einer elektrischen
Entladung ohne wesentliche chemische Reaktion adsorbiert wird, und daß die mit dem
Gas beladenen Teilchen auf einem Träger niedergeschlagen werden, der sich außerhalb
des Dunkelraumes der Entladung befindet.
2. Verfahren nach Anspruch i, gekennzeichnet durch die Verwendung von Sauerstoff als
Füllgas.
3. Verfahren nach Anspruch 1, gekennzeichnet durch die Verwendung von Luft als Füllgas.
4. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Verdampfung
der abzulagernden Schichtsubstanz durch Kathodenzerstäubung erfolgt.
5. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Schichtsubstanz
durch Wärmewirkung einer Gasentladung verdampft wird.
6. -Verfahren nach einem der Ansprüche 1
bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Schichtsubstanz mittels eines Niederspannungs-Lichtbogens
verdampft wird, der zwischen einem Substanzträger (16) und einer Elektronenquelle
(18) liegt, während der zu beschichtende Träger (6) seitlich von der direkten Verbindung der
beiden Lichtbogenpole angeordnet ist (Fig. 3,4).
7. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Schichtsubstanz
auf den Schichtträger (6) mit Hilfe einer nicht zerstäubenden Kathode (20) geschleudert
wird, wobei die Substanzquelle ein Niederspannungs-Lichtbogen ist, der im Entladungswege
zwischen zwei Elektroden (21) brennt, welche die Schichtsubstanz oder ihre
Komponenten enthalten (Fig. 5).
8. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Ionen
der Schichtsubstanz und die Gasionen voneinander getrennt erzeugt und vor Ablagerung
auf dem Schichtträger zur Einwirkung aufeinander gebracht werden (Fig. 6).
9. Unter Anwendung einer Metallverbindung durchgeführtes Verfahren nach einem der An-Sprüche
1 bis 8, dadurch gekennzeichnet, daß auf dem Schichtträger zunächst die Metallkomponente
und danach die andere Komponente niedergeschlagen wird.
10. Verfahren nach einem der Ansprüche 1
bis 9, dadurch gekennzeichnet, daß als Schichtsubstanz eine binäre Metallverbindung angewendet
wird.
11. Verfahren nach einem der Ansprüche 1
bis 9, dadurch gekennzeichnet, daß die Schichtsubstanz eine Verbindung einer oder mehrerer
der mehr metallischen Elemente der b-Untergruppe der IL, III., IV. und V. Gruppe des
Periodischen Systems mit einem oder mehreren Elementen der b-Untergruppe der VI. Gruppe ist.
12. Verfahren nach einem der Ansprüche 1
bis 11, dadurch gekennzeichnet, daß die Schichtsubstanz mit einem geringen Zusatz einer
Fremdsubstanz zur Verdampfung gebracht wird.
13. Vorrichtung zur Ausführung des Verfahrens nach Anspruch 8, bestehend aus einem
Gefäß mit drei von einem gemeinsamen Reaktionsraum (37) abzweigenden Kammern, deren
erste (23) in der Nähe ihres äußeren Endes einen Gasabzug (2), in der Nähe ihres inneren
Endes einen Gaseinlaß (3), eine Elektronenquelle (24) und zwischen dieser und dem gemeinsamen
Raum (37) zwei Gitter (25, 26) enthält, die beiderseits des Gaseinlasses (3) angeordnet
sind, deren zweite ■ Kammer eine Elektronenquelle (β1/), eine Heizeinrichtung
(29) zur Verdampfung der Schichtsubstanz (13) sowie zwei Gitter (30, 31) zwischen der
Heizvorrichtung (29) und dem gemeinsamen Raum (37) enthält und deren dritter Raum
einen Halter (36) einschließt, der den Schichtträger (6) am Rande des gemeinsamen Reaktionsraumes
(37) hält.
14. Vorrichtung nach Anspruch 13, dadurch
gekennzeichnet, daß die Erzeugung und Beschleunigung der Schichtsubstanzionen in einer
inerten Gasatmosphäre erfolgt.
In Betracht gezogene Druckschriften:
Deutsche Patentschriften Nr. 623 488, 683 330, 702937, 713 401;
britische Patentschrift Nr. 314838;
USA.-Patentschrift Nr. 2154295;
Journ.- Opt. Soc. Am., Jg. 1935, Januarheft, S. 1
bis 3.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen
©909 665/27 12.59
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
GB2636855X | 1948-03-25 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE973156C true DE973156C (de) | 1959-12-10 |
Family
ID=10912292
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DEP36925A Expired DE973156C (de) | 1948-03-25 | 1949-03-17 | Verfahren zur Herstellung lichtelektrisch leitender Schichten fuer Photowiderstaende |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US2636855A (de) |
DE (1) | DE973156C (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4449286A (en) * | 1979-10-17 | 1984-05-22 | Licentia Patent-Verwaltungs Gmbh | Method for producing a semiconductor layer solar cell |
Families Citing this family (38)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US2879400A (en) * | 1954-04-12 | 1959-03-24 | Westinghouse Electric Corp | Loaded dielectric x-ray detector |
US2847329A (en) * | 1957-02-15 | 1958-08-12 | Lloyd E Schilberg | Sensitization of photoconductive cells by the use of indium vapor |
US3252830A (en) * | 1958-03-05 | 1966-05-24 | Gen Electric | Electric capacitor and method for making the same |
US3049440A (en) * | 1959-07-28 | 1962-08-14 | Chilean Nitrate Sales Corp | Process and apparatus for the vapor deposition of metals |
US3235476A (en) * | 1960-04-18 | 1966-02-15 | Gen Motors Corp | Method of producing ohmic contacts on semiconductors |
US3133874A (en) * | 1960-12-05 | 1964-05-19 | Robert W Morris | Production of thin film metallic patterns |
US3073770A (en) * | 1961-04-24 | 1963-01-15 | Bell Telephone Labor Inc | Mullite synthesis |
US3305473A (en) * | 1964-08-20 | 1967-02-21 | Cons Vacuum Corp | Triode sputtering apparatus for depositing uniform coatings |
US4025339A (en) * | 1974-01-18 | 1977-05-24 | Coulter Information Systems, Inc. | Electrophotographic film, method of making the same and photoconductive coating used therewith |
US4019902A (en) * | 1974-06-10 | 1977-04-26 | Xerox Corporation | Photoreceptor fabrication |
GB1505101A (en) * | 1974-08-19 | 1978-03-22 | Xerox Corp | Preparation of a xerographic photoreceptor |
US4099969A (en) * | 1974-10-10 | 1978-07-11 | Xerox Corporation | Coating method to improve adhesion of photoconductors |
DE2549405A1 (de) * | 1974-11-05 | 1976-05-06 | Eastman Kodak Co | Verfahren zum niederschlagen einer schicht aus photosensitivem material auf einer oberflaeche |
US4013463A (en) * | 1975-08-15 | 1977-03-22 | Leder Lewis B | Photoreceptor fabrication utilizing AC ion plating |
US4025410A (en) * | 1975-08-25 | 1977-05-24 | Western Electric Company, Inc. | Sputtering apparatus and methods using a magnetic field |
US4328258A (en) * | 1977-12-05 | 1982-05-04 | Plasma Physics Corp. | Method of forming semiconducting materials and barriers |
US4288306A (en) * | 1978-07-08 | 1981-09-08 | Wolfgang Kieferle | Process for forming a metal or alloy layer and device for executing same |
US4282267A (en) * | 1979-09-20 | 1981-08-04 | Western Electric Co., Inc. | Methods and apparatus for generating plasmas |
US7968287B2 (en) | 2004-10-08 | 2011-06-28 | Medical Research Council Harvard University | In vitro evolution in microfluidic systems |
JP2009536313A (ja) | 2006-01-11 | 2009-10-08 | レインダンス テクノロジーズ, インコーポレイテッド | ナノリアクターの形成および制御において使用するマイクロ流体デバイスおよび方法 |
US20080014589A1 (en) | 2006-05-11 | 2008-01-17 | Link Darren R | Microfluidic devices and methods of use thereof |
US9562837B2 (en) | 2006-05-11 | 2017-02-07 | Raindance Technologies, Inc. | Systems for handling microfludic droplets |
US8772046B2 (en) | 2007-02-06 | 2014-07-08 | Brandeis University | Manipulation of fluids and reactions in microfluidic systems |
US8592221B2 (en) | 2007-04-19 | 2013-11-26 | Brandeis University | Manipulation of fluids, fluid components and reactions in microfluidic systems |
US12038438B2 (en) | 2008-07-18 | 2024-07-16 | Bio-Rad Laboratories, Inc. | Enzyme quantification |
WO2010009365A1 (en) | 2008-07-18 | 2010-01-21 | Raindance Technologies, Inc. | Droplet libraries |
US10351905B2 (en) | 2010-02-12 | 2019-07-16 | Bio-Rad Laboratories, Inc. | Digital analyte analysis |
WO2011100604A2 (en) | 2010-02-12 | 2011-08-18 | Raindance Technologies, Inc. | Digital analyte analysis |
US9399797B2 (en) | 2010-02-12 | 2016-07-26 | Raindance Technologies, Inc. | Digital analyte analysis |
US9366632B2 (en) | 2010-02-12 | 2016-06-14 | Raindance Technologies, Inc. | Digital analyte analysis |
US9562897B2 (en) | 2010-09-30 | 2017-02-07 | Raindance Technologies, Inc. | Sandwich assays in droplets |
US9364803B2 (en) | 2011-02-11 | 2016-06-14 | Raindance Technologies, Inc. | Methods for forming mixed droplets |
EP3736281A1 (de) | 2011-02-18 | 2020-11-11 | Bio-Rad Laboratories, Inc. | Zusammensetzungen und verfahren für molekulare etikettierung |
EP2714970B1 (de) | 2011-06-02 | 2017-04-19 | Raindance Technologies, Inc. | Enzymquantifizierung |
US8658430B2 (en) | 2011-07-20 | 2014-02-25 | Raindance Technologies, Inc. | Manipulating droplet size |
US11901041B2 (en) | 2013-10-04 | 2024-02-13 | Bio-Rad Laboratories, Inc. | Digital analysis of nucleic acid modification |
US9944977B2 (en) | 2013-12-12 | 2018-04-17 | Raindance Technologies, Inc. | Distinguishing rare variations in a nucleic acid sequence from a sample |
US10647981B1 (en) | 2015-09-08 | 2020-05-12 | Bio-Rad Laboratories, Inc. | Nucleic acid library generation methods and compositions |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE623488C (de) * | ||||
GB314838A (en) * | 1928-04-03 | 1929-07-03 | Charles Ruzicka | Improvements in or relating to light sensitive cells |
US2154295A (en) * | 1936-04-24 | 1939-04-11 | Westinghouse Electric & Mfg Co | Copper oxide photovoltaic cell with impedance layer |
DE683330C (de) * | 1930-12-03 | 1939-11-03 | Aeg | Verfahren zur Herstellung von als lichtelektrisch empfindliches Organ bei Sperrschichtzellen dienenden Metallverbindungen |
DE702937C (de) * | 1938-07-12 | 1941-02-24 | Dr Kurt Richter | Verfahren zur Herstellung von Niederschlaegen von Metallen, Legierungen, Metalloiden und Verbindungen im Vakuum |
DE713401C (de) * | 1935-08-09 | 1941-11-06 | Zeiss Ikon Akt Ges | Verfahren zur Herstellung einer lichtempfindlichen Schicht fuer Photozellen |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US1765413A (en) * | 1928-12-31 | 1930-06-24 | Western Electric Co | Vibratory element and method of producing the same |
US2066611A (en) * | 1932-12-10 | 1937-01-05 | G M Lab Inc | Selenium cell |
US2103623A (en) * | 1933-09-20 | 1937-12-28 | Ion Corp | Electron discharge device for electronically bombarding materials |
US2153363A (en) * | 1935-12-18 | 1939-04-04 | Gen Electric | Laminated metal body |
US2239642A (en) * | 1936-05-27 | 1941-04-22 | Bernhard Berghaus | Coating of articles by means of cathode disintegration |
US2164595A (en) * | 1936-12-07 | 1939-07-04 | Siemens Ag | Method of coating electrodes |
US2189580A (en) * | 1937-05-29 | 1940-02-06 | Gen Electric | Method of making a photoelectric cell |
US2420722A (en) * | 1942-12-11 | 1947-05-20 | Bausch & Lomb | Apparatus for coating surfaces |
-
1948
- 1948-10-18 US US55216A patent/US2636855A/en not_active Expired - Lifetime
-
1949
- 1949-03-17 DE DEP36925A patent/DE973156C/de not_active Expired
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE623488C (de) * | ||||
GB314838A (en) * | 1928-04-03 | 1929-07-03 | Charles Ruzicka | Improvements in or relating to light sensitive cells |
DE683330C (de) * | 1930-12-03 | 1939-11-03 | Aeg | Verfahren zur Herstellung von als lichtelektrisch empfindliches Organ bei Sperrschichtzellen dienenden Metallverbindungen |
DE713401C (de) * | 1935-08-09 | 1941-11-06 | Zeiss Ikon Akt Ges | Verfahren zur Herstellung einer lichtempfindlichen Schicht fuer Photozellen |
US2154295A (en) * | 1936-04-24 | 1939-04-11 | Westinghouse Electric & Mfg Co | Copper oxide photovoltaic cell with impedance layer |
DE702937C (de) * | 1938-07-12 | 1941-02-24 | Dr Kurt Richter | Verfahren zur Herstellung von Niederschlaegen von Metallen, Legierungen, Metalloiden und Verbindungen im Vakuum |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4449286A (en) * | 1979-10-17 | 1984-05-22 | Licentia Patent-Verwaltungs Gmbh | Method for producing a semiconductor layer solar cell |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US2636855A (en) | 1953-04-28 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE973156C (de) | Verfahren zur Herstellung lichtelektrisch leitender Schichten fuer Photowiderstaende | |
DE2659392C2 (de) | Verfahren zur Herstellung eines Halbleiterbauelementes mit pn-Übergang | |
DE2653242A1 (de) | Verfahren und vorrichtung zum ueberziehen eines isoliersubstrats durch reaktive ionenablagerung mit einer oxidschicht aus mindestens einem metall | |
DE2711365C2 (de) | ||
DE2513034C2 (de) | Vorrichtung zur Herstellung von dotierten dünnen Halbleiterschichten | |
DE2915705A1 (de) | Verfahren zur herstellung von elektroden fuer brennstoffzellen, vorrichtung zur durchfuehrung dieses verfahrens sowie durch dieses verfahren hergestellte elektroden | |
DE1144846B (de) | Verfahren zur Herstellung und zur Erhoehung der Oberflaechenleitfaehigkeit elektrisch leitender Filme sowie zur schichtweisen AEnderung des Leitungstyps fuer n- und p-Schichten, insbesondere fuer elektrolumineszente Flaechenlampen und Photozellen | |
DE2636961C2 (de) | Verfahren zur Herstellung eines Halbleiterspeicherelementes | |
DE2826752A1 (de) | Photoelement | |
DE1489147B2 (de) | ||
DE1032404B (de) | Verfahren zur Herstellung von Flaechenhalbleiterelementen mit p-n-Schichten | |
DE2839057A1 (de) | Transparente leitende schichten und verfahren zur herstellung von transparenten leitenden schichten | |
DE3877405T2 (de) | Verfahren zur herstellung einer supraleitenden duennen schicht und anordnung zu seiner durchfuehrung. | |
DE2300813A1 (de) | Verfahren zum niederschlagen von stickstoffdotiertem beta-tantal sowie eine beta-tantal-duennschicht aufweisender artikel | |
DE1764757B2 (de) | Verfahren zur herstellung eines feldeffekttransistors mit isolierter gateelektrode | |
DE1111748B (de) | Lichtempfindliche photoleitende Schicht | |
DE803779C (de) | Verfahren zum Herstellen eines Mosaikschirmes | |
DE102021109368A1 (de) | Galliumoxid-basierter halbleiter und herstellungsverfahren desselben | |
DE102012104616B4 (de) | Verfahren zum Bilden einer Fensterschicht in einer Dünnschicht-Photovoltaikvorrichtung auf Cadmiumtelluridbasis | |
DE19605097A1 (de) | Eingekapseltes Kontaktmaterial und Herstellungsverfahren für dieses und Herstellungsverfahren und Verwendungsverfahren für einen eingekapselten Kontakt | |
DE1297236B (de) | Verfahren zum Einstellen der Steilheit von Feldeffekttransistoren | |
DE1671718A1 (de) | Katalysator fuer Brennstoffelemente | |
DE605675C (de) | Elektrodensystem mit unsymmetrischer Leitfaehigkeit | |
DE3839903C2 (de) | ||
DE1614753A1 (de) | Fotoelektrische Leiter |