DE971526C - Verfahren zur Herstellung von Selengleichrichtern - Google Patents
Verfahren zur Herstellung von SelengleichrichternInfo
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- BUGBHKTXTAQXES-UHFFFAOYSA-N Selenium Chemical compound [Se] BUGBHKTXTAQXES-UHFFFAOYSA-N 0.000 title claims description 69
- 229910052711 selenium Inorganic materials 0.000 title claims description 69
- 239000011669 selenium Substances 0.000 title claims description 69
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 34
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 4
- 238000002425 crystallisation Methods 0.000 claims description 36
- 230000008025 crystallization Effects 0.000 claims description 36
- 239000000126 substance Substances 0.000 claims description 34
- ZMANZCXQSJIPKH-UHFFFAOYSA-N Triethylamine Chemical compound CCN(CC)CC ZMANZCXQSJIPKH-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 21
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 claims description 11
- -1 triethylamine) Chemical compound 0.000 claims description 9
- 150000001412 amines Chemical class 0.000 claims description 7
- 150000002019 disulfides Chemical class 0.000 claims description 7
- QMMFVYPAHWMCMS-UHFFFAOYSA-N Dimethyl sulfide Chemical compound CSC QMMFVYPAHWMCMS-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- OKKJLVBELUTLKV-UHFFFAOYSA-N Methanol Chemical compound OC OKKJLVBELUTLKV-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- NINIDFKCEFEMDL-UHFFFAOYSA-N Sulfur Chemical compound [S] NINIDFKCEFEMDL-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- 229920001021 polysulfide Polymers 0.000 claims description 6
- 229910052717 sulfur Inorganic materials 0.000 claims description 6
- 239000011593 sulfur Substances 0.000 claims description 6
- RMVRSNDYEFQCLF-UHFFFAOYSA-N thiophenol Chemical compound SC1=CC=CC=C1 RMVRSNDYEFQCLF-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- 239000005077 polysulfide Substances 0.000 claims description 5
- 150000008117 polysulfides Polymers 0.000 claims description 5
- YXIWHUQXZSMYRE-UHFFFAOYSA-N 1,3-benzothiazole-2-thiol Chemical compound C1=CC=C2SC(S)=NC2=C1 YXIWHUQXZSMYRE-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-N Ammonia Chemical compound N QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- BWGNESOTFCXPMA-UHFFFAOYSA-N Dihydrogen disulfide Chemical compound SS BWGNESOTFCXPMA-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- OAKJQQAXSVQMHS-UHFFFAOYSA-N Hydrazine Chemical compound NN OAKJQQAXSVQMHS-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- WQOXQRCZOLPYPM-UHFFFAOYSA-N dimethyl disulfide Chemical compound CSSC WQOXQRCZOLPYPM-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 150000002148 esters Chemical class 0.000 claims description 4
- 229910052714 tellurium Inorganic materials 0.000 claims description 4
- PORWMNRCUJJQNO-UHFFFAOYSA-N tellurium atom Chemical compound [Te] PORWMNRCUJJQNO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- UMGDCJDMYOKAJW-UHFFFAOYSA-N thiourea Chemical compound NC(N)=S UMGDCJDMYOKAJW-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- KUAZQDVKQLNFPE-UHFFFAOYSA-N thiram Chemical compound CN(C)C(=S)SSC(=S)N(C)C KUAZQDVKQLNFPE-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 229960002447 thiram Drugs 0.000 claims description 4
- HTDIUWINAKAPER-UHFFFAOYSA-N trimethylarsine Chemical compound C[As](C)C HTDIUWINAKAPER-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- RIOQSEWOXXDEQQ-UHFFFAOYSA-N triphenylphosphine Chemical compound C1=CC=CC=C1P(C=1C=CC=CC=1)C1=CC=CC=C1 RIOQSEWOXXDEQQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 150000003751 zinc Chemical class 0.000 claims description 4
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- UCKMPCXJQFINFW-UHFFFAOYSA-N Sulphide Chemical compound [S-2] UCKMPCXJQFINFW-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229910052787 antimony Inorganic materials 0.000 claims description 3
- WATWJIUSRGPENY-UHFFFAOYSA-N antimony atom Chemical compound [Sb] WATWJIUSRGPENY-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- RBFQJDQYXXHULB-UHFFFAOYSA-N arsane Chemical class [AsH3] RBFQJDQYXXHULB-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229910052785 arsenic Inorganic materials 0.000 claims description 3
- RQNWIZPPADIBDY-UHFFFAOYSA-N arsenic atom Chemical compound [As] RQNWIZPPADIBDY-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229910052797 bismuth Inorganic materials 0.000 claims description 3
- JCXGWMGPZLAOME-UHFFFAOYSA-N bismuth atom Chemical compound [Bi] JCXGWMGPZLAOME-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 239000013078 crystal Substances 0.000 claims description 3
- 229910052698 phosphorus Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 239000011574 phosphorus Substances 0.000 claims description 3
- 150000003346 selenoethers Chemical class 0.000 claims description 3
- 229910052979 sodium sulfide Inorganic materials 0.000 claims description 3
- GRVFOGOEDUUMBP-UHFFFAOYSA-N sodium sulfide (anhydrous) Chemical compound [Na+].[Na+].[S-2] GRVFOGOEDUUMBP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- OUULRIDHGPHMNQ-UHFFFAOYSA-N stibane Chemical class [SbH3] OUULRIDHGPHMNQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- OWRCNXZUPFZXOS-UHFFFAOYSA-N 1,3-diphenylguanidine Chemical compound C=1C=CC=CC=1NC(=N)NC1=CC=CC=C1 OWRCNXZUPFZXOS-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- UJPKMTDFFUTLGM-UHFFFAOYSA-N 1-aminoethanol Chemical compound CC(N)O UJPKMTDFFUTLGM-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- BZIYHCQUSPCWQC-UHFFFAOYSA-N 2-phenylethylcarbamodithioic acid Chemical compound SC(=S)NCCC1=CC=CC=C1 BZIYHCQUSPCWQC-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- RWSOTUBLDIXVET-UHFFFAOYSA-N Dihydrogen sulfide Chemical class S RWSOTUBLDIXVET-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- FVCPXLWAKNJIKK-UHFFFAOYSA-N Dimexano Chemical compound COC(=S)SSC(=S)OC FVCPXLWAKNJIKK-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- XSQUKJJJFZCRTK-UHFFFAOYSA-N Urea Natural products NC(N)=O XSQUKJJJFZCRTK-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- IBQKNIQGYSISEM-UHFFFAOYSA-N [Se]=[PH3] Chemical class [Se]=[PH3] IBQKNIQGYSISEM-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 229910021529 ammonia Inorganic materials 0.000 claims description 2
- BPBOBPIKWGUSQG-UHFFFAOYSA-N bismuthane Chemical class [BiH3] BPBOBPIKWGUSQG-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 229910052798 chalcogen Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 150000001787 chalcogens Chemical class 0.000 claims description 2
- AFZSMODLJJCVPP-UHFFFAOYSA-N dibenzothiazol-2-yl disulfide Chemical compound C1=CC=C2SC(SSC=3SC4=CC=CC=C4N=3)=NC2=C1 AFZSMODLJJCVPP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- REQPQFUJGGOFQL-UHFFFAOYSA-N dimethylcarbamothioyl n,n-dimethylcarbamodithioate Chemical compound CN(C)C(=S)SC(=S)N(C)C REQPQFUJGGOFQL-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 125000004119 disulfanediyl group Chemical group *SS* 0.000 claims description 2
- 239000012990 dithiocarbamate Substances 0.000 claims description 2
- 150000004659 dithiocarbamates Chemical class 0.000 claims description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 claims description 2
- ZEUUVJSRINKECZ-UHFFFAOYSA-N ethanedithioic acid Chemical compound CC(S)=S ZEUUVJSRINKECZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 229910052732 germanium Inorganic materials 0.000 claims description 2
- GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N germanium atom Chemical compound [Ge] GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 150000004820 halides Chemical class 0.000 claims description 2
- 230000002401 inhibitory effect Effects 0.000 claims description 2
- 239000007791 liquid phase Substances 0.000 claims description 2
- 229910001507 metal halide Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 150000005309 metal halides Chemical class 0.000 claims description 2
- WREDNSAXDZCLCP-UHFFFAOYSA-N methanedithioic acid Chemical compound SC=S WREDNSAXDZCLCP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims description 2
- LFMTUFVYMCDPGY-UHFFFAOYSA-N n,n-diethylethanamine oxide Chemical compound CC[N+]([O-])(CC)CC LFMTUFVYMCDPGY-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- MPQXHAGKBWFSNV-UHFFFAOYSA-N oxidophosphanium Chemical class [PH3]=O MPQXHAGKBWFSNV-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 150000003003 phosphines Chemical class 0.000 claims description 2
- 150000003053 piperidines Chemical class 0.000 claims description 2
- 150000003839 salts Chemical class 0.000 claims description 2
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims description 2
- 238000003860 storage Methods 0.000 claims description 2
- ZWZVWGITAAIFPS-UHFFFAOYSA-N thiophosgene Chemical compound ClC(Cl)=S ZWZVWGITAAIFPS-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 229910052718 tin Inorganic materials 0.000 claims description 2
- WTNQHMJTIHJURG-UHFFFAOYSA-N triethyl(sulfanylidene)-$l^{5}-phosphane Chemical compound CCP(=S)(CC)CC WTNQHMJTIHJURG-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- RXJKFRMDXUJTEX-UHFFFAOYSA-N triethylphosphine Chemical compound CCP(CC)CC RXJKFRMDXUJTEX-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 239000012989 trithiocarbonate Substances 0.000 claims description 2
- JTXDFCUHUYEYQE-UHFFFAOYSA-N 1,1-bis(sulfanylidene)-1,3-thiazole Chemical class S=S1(=S)C=CN=C1 JTXDFCUHUYEYQE-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 230000002542 deteriorative effect Effects 0.000 claims 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims 1
- 150000002898 organic sulfur compounds Chemical class 0.000 claims 1
- RGSFGYAAUTVSQA-UHFFFAOYSA-N pentamethylene Natural products C1CCCC1 RGSFGYAAUTVSQA-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- WSANLGASBHUYGD-UHFFFAOYSA-N sulfidophosphanium Chemical class S=[PH3] WSANLGASBHUYGD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 150000003498 tellurium compounds Chemical class 0.000 claims 1
- WFSHMSGJALVRMK-UHFFFAOYSA-N trimethyl(sulfanylidene)-$l^{5}-stibane Chemical compound C[Sb](C)(C)=S WFSHMSGJALVRMK-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 239000000654 additive Substances 0.000 description 13
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 10
- UHOVQNZJYSORNB-UHFFFAOYSA-N Benzene Chemical compound C1=CC=CC=C1 UHOVQNZJYSORNB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 9
- 230000000996 additive effect Effects 0.000 description 3
- XYFCBTPGUUZFHI-UHFFFAOYSA-N Phosphine Chemical compound P XYFCBTPGUUZFHI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 description 2
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 description 2
- 229910052736 halogen Inorganic materials 0.000 description 2
- 150000002367 halogens Chemical class 0.000 description 2
- 238000010348 incorporation Methods 0.000 description 2
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 2
- 230000002829 reductive effect Effects 0.000 description 2
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 2
- 238000003892 spreading Methods 0.000 description 2
- KKOFCVMVBJXDFP-UHFFFAOYSA-N triethylstibane Chemical compound CC[Sb](CC)CC KKOFCVMVBJXDFP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000005019 vapor deposition process Methods 0.000 description 2
- 239000002253 acid Substances 0.000 description 1
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- 229910000074 antimony hydride Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000007864 aqueous solution Substances 0.000 description 1
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 1
- 230000003197 catalytic effect Effects 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 125000000118 dimethyl group Chemical group [H]C([H])([H])* 0.000 description 1
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 125000002496 methyl group Chemical group [H]C([H])([H])* 0.000 description 1
- 150000002894 organic compounds Chemical class 0.000 description 1
- 230000036961 partial effect Effects 0.000 description 1
- 229910000073 phosphorus hydride Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002985 plastic film Substances 0.000 description 1
- 229920006255 plastic film Polymers 0.000 description 1
- 230000001737 promoting effect Effects 0.000 description 1
- 229920006395 saturated elastomer Polymers 0.000 description 1
- 125000003748 selenium group Chemical group *[Se]* 0.000 description 1
- 238000002791 soaking Methods 0.000 description 1
- OKQKDCXVLPGWPO-UHFFFAOYSA-N sulfanylidenephosphane Chemical compound S=P OKQKDCXVLPGWPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XSOKHXFFCGXDJZ-UHFFFAOYSA-N telluride(2-) Chemical compound [Te-2] XSOKHXFFCGXDJZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000004772 tellurides Chemical class 0.000 description 1
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 1
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 1
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-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/06—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising selenium or tellurium in uncombined form other than as impurities in semiconductor bodies of other materials
- H01L21/10—Preliminary treatment of the selenium or tellurium, its application to the foundation plate, or the subsequent treatment of the combination
- H01L21/103—Conversion of the selenium or tellurium to the conductive state
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/02104—Forming layers
- H01L21/02365—Forming inorganic semiconducting materials on a substrate
- H01L21/02518—Deposited layers
- H01L21/02521—Materials
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/02104—Forming layers
- H01L21/02365—Forming inorganic semiconducting materials on a substrate
- H01L21/02612—Formation types
- H01L21/02617—Deposition types
- H01L21/02631—Physical deposition at reduced pressure, e.g. MBE, sputtering, evaporation
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
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- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/02104—Forming layers
- H01L21/02365—Forming inorganic semiconducting materials on a substrate
- H01L21/02656—Special treatments
- H01L21/02664—Aftertreatments
- H01L21/02667—Crystallisation or recrystallisation of non-monocrystalline semiconductor materials, e.g. regrowth
- H01L21/02672—Crystallisation or recrystallisation of non-monocrystalline semiconductor materials, e.g. regrowth using crystallisation enhancing elements
-
- H—ELECTRICITY
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- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/06—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising selenium or tellurium in uncombined form other than as impurities in semiconductor bodies of other materials
- H01L21/10—Preliminary treatment of the selenium or tellurium, its application to the foundation plate, or the subsequent treatment of the combination
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- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/06—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising selenium or tellurium in uncombined form other than as impurities in semiconductor bodies of other materials
- H01L21/10—Preliminary treatment of the selenium or tellurium, its application to the foundation plate, or the subsequent treatment of the combination
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Description
(WiGBl. S. 175)
AUSGEGEBEN AM 12. FEBRUAR 1959
S 23037 VIIIc 121g
Bei der Herstellung von Selengleichriditern zeigt sich vielfach der Nachteil, daß Gleichrichterscheiben
mit wechselnden elektrischen Eigenschaften erhalten werden. Eine wesentliche Ursache für diese Erscheinung
wurde darin gefunden, daß die Kristallisation des Selens nicht immer in gleicher Weise erfolgt und
der Auf- und Abbau von Gitterstörungen nicht genügend einheitlich durchgeführt wird.
Die Erfindung schafft Abhilfe; die neue Lösung besteht bei der Herstellung von Selengleichrichtern
darin, daß bereits bei der Überführung des Selens in den kristallinen Zustand zusätzliche Stoffe Anwendung
finden, die — ohne die elektrischen Eigenschaften der Gleichrichter zu verschlechtern — im Sinne einer Vereinheitlichung
des Gefüges, d. h. der Größe und Form sowie der Lagerung und Ausrichtung der im Entstehen
begriffenen Kristalle der Selenschicht wirken. Hierzu werden gemäß der Erfindung vorzugsweise
Stoffe verwandt, die die Kristallisation des Selens bzw. den Ein- und Abbau der Gitterstörungen auf
katalytischem Wege beschleunigen oder hemmen.
Die zusätzlich angewandten Stoffe, auf die unten noch näher eingegangen ist, können der Selenmasse,
aus der die Selenschicht der Gleichrichter gebildet wird, beigegeben werden, so daß also die betreffenden
Stoffe mit der Selenschicht auf die Trägerelektrode aufgebracht werden. Es besteht aber auch die Möglichkeit,
die Stoffe beim Aufbringen des Selens auf die Grundelektrode zusätzlich mit aufzubringen oder mit
dem zur Auftragung gelangenden oder bereits auf-
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getragenen Selen in Kontakt zu bringen, und zwar in Dampfform oder in einer flüssigen Phase. Insbesondere
ist hier an den Fall gedacht, daß die Selenschicht auf die Grundelektrode aufgedampft wird.
Alsdann können die Zusatzstoffe, z.B. aus einem gesonderten Schiffchen, im gleichen Raum mit verdampft
werden. Dieses Verfahren bietet die Möglichkeit, die Einwirkung der Zusatzstoffe über die Dicke
der Selenschicht zu variieren, etwa in der Weise, daß ίο die Öffnung des Schiffchens der Zusatzstoffe allmählich
geöffnet oder geschlossen wird. Dies kann stufenweise oder auch stetig erfolgen. Es besteht auch die
Möglichkeit, die Einwirkung oder das Aufbringen der Zusatzstoffe vor Beendigung des Aufdampfens der
Selenschicht zu beenden.
Ferner kann man auch zunächst Stoffe zur Einwirkung bringen, die die Kristallisation der Selenschicht
fördern, und späterhin Stoffe, die die Kristallisation der Selenschicht bzw. der dann noch zur Auftragung
gelangenden Teilselenschicht hemmen. Durch dieses Verfahren läßt sich besonders einfach erreichen,
daß die Kristallisation der Selenschicht von einer der beiden Begrenzungsflächen aus einheitlich fortschreitet
und daß auch der Innenaufbau der sich bildenden Kristallite einheitlich vor sich geht. Insbesondere
kann man z.B. das Verfahren so führen, daß die Kristallisation von der Trägerelektrode aus erfolgt.
Wenn man also auf die der Trägerelektrode benachbarte Zone der Selenschicht Stoffe einwirken läßt, die
die Kristallisation fördern, und auf die obere Zone der Selenschicht Stoffe zur Einwirkung bringt, die die
Kristallisation hemmen, so wird nahezu zwangläufig erreicht, daß die Kristallisation von der Trägerelektrode
aus beginnt und fortschreitet. Dies läßt sich noch sicherer erreichen, wenn, wie schon angegeben,
der Einwirkungsgrad der die Kristallisation fördernden Mittel allmählich geändert wird, wenn man ihn z.B.
von der Trägerelektrode aus stetig abnehmen läßt, indem man z.B. das Schiffchen, aus dem die betreffenden
Zusatzstoffe verdampft werden, während des Aufdampfprozesses der zu beeinflussenden Selenschicht
allmählich abdeckt.
Die zur Beeinflussung des kristallinen Zustandes der
Selenschicht dienenden Stoffe können auch in der Weise zur Einwirkung gebracht werden, daß die
bereits aufgebrachte Selenschicht im amorphen Zustand mit einem Zusatzstoff in Kontakt gebracht
wird, der die Kristallisation beeinflußt. Der hierzu dienende Zusatzstoff, für den unten eine Anzahl
Beispiele gebracht werden, kann gasförmig oder flüssig sein oder sich in Lösung befinden.
Wenn von Stoffen, die zusätzlich Anwendung finden, gesprochen wird, so soll dies bedeuten, daß es
sich dabei um einen einzelnen Stoff wie auch um mehrere nacheinander Anwendung findende Stoffe
oder um ein Gemisch von mehreren Stoffen handeln kann.
Es ist bekannt, die Selenschicht, wenn sie sich bereits im kristallinen Zustand befindet, unter Anwendung
von Zusatzstoffen zu behandeln. Einer derartigen Nachbehandlung können auch die nach dem
beschriebenen neuen Verfahren erzielten Selenschichten zusätzlich unterworfen werden. Es ist damit möglich,
den Kristallisationszustand der Selenschicht noch nachträglich günstig zu beeinflussen. Dies gilt insbesondere
für die Beeinflussung des Gitters der einzelnen Selenkristallite, sei es, daß unerwünschte
Gitterstörungen abgebaut oder erwünschte Gitterstörungen eingebaut werden. Es ist hier hinzuzufügen,
daß bei Selengleichrichtern ein gewisses Ausmaß von Gitterstörungen günstig und daher erwünscht ist.
Es sind verschiedene Stoffe bekannt, die die Kristallisation des Selens beschleunigen bzw. hemmen
und das Ausmaß der in den Kristalliten vorhandenen Gitterstörungen erhöhen oder vermindern. Diese
Eigenschaften sind aber allein nicht ausschlaggebend für die Anwendung der betreffenden Stoffe bereits
während des Kristallisationsvorganges zum Zwecke der Gefügevereinheitlichung. So ist beispielsweise der Einfluß
der Halogene auf den makroskopischen Schichtaufbau nur bei größeren Halogengehalten nachweisbar.
Um einen solchen Einfluß in genügendem Ausmaße hervorzurufen, müßte das Mengenverhältnis dieser
Zusatzstoffe so stark erhöht werden, daß dadurch eine erhebliche Verschlechterung der elektrischen Eigenschäften
der Gleichrichter verursacht werden würde. Hingegen sind ohne solche nachteiligen Folgen
kristallisationsbeschleunigend bzw. im Sinne des Abbaues von Gitterstörungen wirksam z. B. die Ansolvobasen,
wie Ammoniak und dessen Derivate, z. B. Hydrazin, Aldehydammoniak, Diphenylguanidin, insbesondere
Amine, Phosphine, Arsine, Stibine und Bismutine. Als Beispiele seien genannt: Triethylamin,
Triäthylphosphin oder Triphenylphosphin, Trimethylarsin usw. Ferner wirken im gleichen Sinne die Verbindungen
zwischen den obengenannten Stoffen und den Chalkogenen, wie z. B. Aminoxyde, Phosphinoxyde,
Phosphinsulfide, Phosphinselenide und Phosphintelluride, ferner die analogen Verbindungen der
Arsine, Stibine und Bismutine. Als Beispiele seien genannt: Triäthylaminoxyd, Triäthylphosphinsulfid,
Triäthylstibinsulfid oder auch Triäthylstibinselenid.
Ferner kommen andere organische Verbindungen in Betracht, und zwar solche, die Schwefel, Selen oder
Tellur enthalten.
Im folgenden seien nur die entsprechenden Verbindungen des Schwefels angeführt. Für die analogen
Verbindungen des Selens und des Tellurs, soweit sie existieren, gilt das gleiche. Zur Beeinflussung des
Kristallisationszustandes des Selens eignen sich be- no
sonders die nachstehend aufgeführten Verbindungsklassen :
1. Merkaptane, z. B. Thiophenol, oder Merkaptobenzothiazol;
2. Dithiosäuren sowie deren Salze und Ester, wie Dithiocarbonsäure und deren Derivate, Dithiocarbamate,
Dithioxanthogenate, Trithiocarbonate. Als Beispiele seien erwähnt: Dithioessigsäure sowie
deren Zinksalz und Ester mit Methylalkohol, Piperidinsalz der Pentamethylendithiocarbaminsäure,
Zinksalz der Phenyläthyldithiocarbaminsäure;
3. Verbindungen, die Schwefel in doppelter Bindung an Kohlenstoff enthalten, wie Thiophosgen, Thioharnstoff
und dessen Derivate, wie z. B. Diphenythioharnstoff;
4· Mono- und Polysulfide, wie Dialkylmonosulfide, Dialkyldisulfi.de und Dialkylpolysulfi.de, Dithiodiacylmonosulfide
und -disulfide, Thiurammonosulfide und -disulfide, Xanthogenmonosulfide und -disulfide, Thiazoldisulfi.de. Als Beispiele seien genannt
: Dimethylsulnd.Dimethyldisulfid, Dimethylpolysulfid,
Dithiodiacetyldisulfid, Tetramethylthiuramsulfid, Tetramethylthiuramdisulfid, Dimethylxanthogendisulfid
und Dibenzothiazoldisulfid.
Zur Beeinflussung des Kristallisationsverlaufes ist es nicht notwendig, die Mono- oder Polysulfide, -selenide
oder -telluride zu isolieren. Es genügt z. B., das Selen mit einer organischen Substanz zu erhitzen oder gemeinsam
mit einer organischen Substanz aufzudampfen. Dabei bilden sich genügend Polyselenide,
die je nach ihrer Natur die Überführung in den kristallinen Zustand erleichtern oder hemmen. Die
unter 1 bis 4 genannten Verbindungen sind besonders wirksam, wenn sie im Gemisch mit den weiter oben
angeführten Verbindungen, z. B. Aminen, zur Anwendung gelangen.
Kristallisationsbeschleunigend wirken insbesondere Sulfid-, Selenid- und Telluridionen, sobald die Selenmasse
mit einer entsprechenden Lösung in Berührung gebracht wird, die diese Ionen enthält, z. B. mit einer
Natriumsulfidlösung, oder die mit Hilfe einer Glimmentladung z. B. während eines Auf dampfprozesses
erzeugt wird. Wird die Selenschicht mit Hilfe eines Aufdampfprozesses auf der Trägerplatte niedergeschlagen,
so läßt sich die Erscheinung ausnutzen, daß Dämpfe von wasserfreien Halogeniden, insbesondere
von flüchtigen Metallhalogeniden, den Kristallisationsverlauf des Selens und das Ausmaß der sich bildenden
Gitterstörungen beeinflussen.
Kristallisationsfördernd oder auch insbesondere aber kristallisationshemmend wirken die Elemente Schwefel,
Tellur, Phosphor, Arsen, Antimon, Wismut, Silizium, Germanium oder auch Zinn, insbesondere dann, wenn
sie von vornherein der Selenmasse, die zur Erzeugung der Selenschicht des Gleichrichters dient, zugeschmolzen
werden.
Die oben gegebenen Ausführungen seien durch folgende Beispiele erläutert:
i. Auf eine in üblicher Weise vorbereitete Trägerelektrode
wird Selen aufgedampft. Dabei nimmt man den Aufdampfprozeß in der Weise vor, daß zunächst
das Selen in Gegenwart von kristallisationsfördernden Zusätzen zur Auf dampf ung gelangt, z. B. bei Gegenwart
von Triäthylamindämpfen, die die Kristallisation in außerordentlicher Weise beschleunigen. Dadurch
wird die Selenschicht, selbst bei tiefen Temperaturen, sogleich kristallin niedergeschlagen. Der Dampfdruck
des Triäthylamin kann im Laufe des Aufdampfprozesses immer mehr vermindert werden. Man kann
zum Schluß sogar ein Selen aufdampfen, das kristallisationshemmende Stoffe enthält, wie z. B. Phosphor.
Auf diese Weise erhält man eine Selenschicht, deren Kristallite einheitlich entstanden und einheitlich ausgerichtet
sind.
2. Eine Selenschicht, die nach dem bekannten Aufstreichverfahren hergestellt worden ist, wird erfindungsgemäß
in der Weise in die kristalline Form übergeführt, daß sie in eine Lösung eines Amins, z. B.
in eine Lösung von Triäthylamin, in einem geeigneten Lösungsmittel wie Benzol einige Stunden eingetaucht
wird. Man kann z. B. auch wässerige Lösungen von Natriumsulfid nehmen. Die Weiterbehandlung der so
kristallin gewordenen Schicht kann in der üblichen Weise erfolgen.
Wird die Selenschicht nach dem an sich bekannten Preßverfahren aufgebracht, so kann man einen Preßstempel
aus einer porösen keramischen Masse verwenden und diesen mit einem den Kristallisationszustand
beeinflussenden Stoff in einem Lösungsmittel tränken. Oder man legt zwischen den Preßstempel und
die Selenschicht Kunststoffolien, die kristallisationsbeeinflussende Bestandteile oder Stoffe enthalten, z. B.
dadurch, daß sie mit Lösungen von kristallisationsbeeinflussenden Stoffen getränkt wurden. Es ist so
möglich, beim Pressen zugleich den zur Beeinflussung des Kristallisationsvorganges dienenden Zusatzstoff
zur Einwirkung auf die Selenschicht zu bringen.
In gleicher Weise kann man auch die Druckumwandlung, die beim bekannten Aufstreichverfahren
Anwendung findet, benutzen, um über den Preßstempel die Zusatzstoffe zuzuführen, die im Sinne der
Herbeiführung eines einheitlichen Kristallisationszustandes der Selenschicht wirken.
3. Eine zusätzliche Nachbehandlung unter An-Wendung geeigneter Zusatzstoffe kann, wie oben ausgeführt
ist, dazu benutzt werden, das Ausmaß der Gitterstörungen in der Oberflächenzone der Selenschicht,
die der Deckelektrode benachbart liegt, zu beeinflussen. So können z. B. die Gitterstörungen dadurch
abgebaut werden, daß schon kristallin gewordene Selenschichten in Lösungen eingetaucht werden, die
kristallisationsfordernde Stoffe enthalten, wie z. B. die
oben angeführte Lösung von Triäthylamin in Benzol.
4. Mit einer dem Verfahren des dritten Beispiels entsprechenden nachträglichen Behandlung ist es auch
möglich, in eine kristalline Selenschicht gleichzeitig spezifische Störungen einzubauen, indem die Selenschicht
in Lösungen von z. B. Triäthylamin und Dimethylpolyseleniden in Benzol eingetaucht wird. Das
Amin katalysiert dabei gleichzeitig neben dem Abbau von Gitterstörungen den Einbau von Methylgruppen
in Gitterstörstellen, indem die Selenketten, die einen Selenkristall aufbauen, an ihren Enden mit Methylresten
stabil abgesättigt werden.
Claims (14)
- Patentansprüche:i. Verfahren zur Herstellung von Selengleichrichtern, in dessen Verlauf die Selenschicht in den kristallinen Zustand gelangt, dadurch gekennzeichnet, daß bereits bei der Überführung des Selens in den kristallinen Zustand zusätzliche Stoffe Anwendung finden, die — ohne die elektrischen Eigenschaften der Gleichrichter zu verschlechtern — im Sinne einer Vereinheitlichung des Gefüges, d. h. der Größe und Form sowie der Lagerung und Ausrichtung der im Entstehen begriffenen Kristalle der Selenschicht wirken.
- 2. Verfahren nach Anspruch i, dadurch gekennzeichnet, daß der Selenmasse, aus der die Selenschicht gebildet wird, die den Kristallisationsvorgang beeinflussenden Stoffe beigegeben werden.
- 3. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die den Kristallisationsvorgang beeinflussenden Stoffe beim Aufbringen des Selens auf die Grundelektrode mit aufgebracht werden oder mit dem zur Auftragung gelangenden oder aufgetragenen Selen vor oder während der Kristallisation in Kontakt gebracht werden, und zwar in Dampfform oder in einer flüssigen Phase.
- 4. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß Gemische verschiedener den Kristallisationsvorgang beeinflussender Stoffe angewendet werden.
- 5. Verfahren nach Anspruch 1, gekennzeichnet durch eine solche Führung des Verfahrens, daß die Kristallisation der Selenschicht von einer der beiden Begrenzungsflächen aus einheitlich fortschreitet.
- 6. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Einwirkung der den Kristallisationsvorgang beeinfmssendenStoffe über dieDicke der Selenschicht variiert wird, z. B. stufenweise oder stetig.
- 7. Verfahren nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß — über die Dicke der Selenschicht betrachtet — teilweise kristallisationsfördernde und/oder teilweise kristaUisationshemmende Stoffe zur Einwirkung gebracht werden.
- 8. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß als den kristallinen Zustand beeinflussende Stoffe Ansolvobasen Anwendung finden, wie Ammoniak und dessen Derivate, z. B. Hydrazin, Aldehydammoniak oder Diphenylguanidin, Amine (z. B. Triäthylamin), Phosphine (z. B. Triäthylphosphin oder Triphenylphosphin), Arsine (z. B. Trimethylarsin), Stibine und Bismutine oder auch deren Verbindungen mit Chalkogenen, wie Aminoxyde (z. B. Triäthylaminoxyd), Phosphinoxyde, Phosphinsulfide (z. B. Triäthylphosphinsulfid), Phosphinselenide u. dgl. und analoge Verbindungen des Arsens, Antimons (z. B.Trimethylstibinsulfid) und Wismuts.
- 9. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß als den kristallinen Zustand beeinflussende Stoffe organische Schwefel-, Selen- oder Tellurverbindungen Anwendung finden, wie insbesondere1. Merkaptane, z. B. Thiophenol oder Merkaptobenzothiazol;2. Dithiosäuren sowie deren Salze und Ester, wie Dithiocarbonsäure und deren Derivate, Dithiocarbamate, Dithioxanthogenate, Trithiocarbonate. Als Beispiele seien erwähnt: Dithioessigsäure sowie deren Zinksalz und Ester mit Methylalkoho^PiperidinsalzderPentamethylendithiocarbaminsäure, Zinksalz der Phenyläthyldithiocarbaminsäure;3. Verbindungen, dieSchwefel in doppelter Bindung an Kohlenstoff enthalten, wie Thiophosgen, Thioharnstoff und dessen Derivate, wie z. B. Diphenythioharnstoff ;4. Mono- und Polysulfide, wie Dialkylmonosulfide, Dialkyldisulfide und Dialkylpolysulfide, Dithiodiacylmonosulfide und -disulfide, Thiurammonosulfide und -disulfide, Xanthogenmonosulfide und -disulfide, Thiazoldisulfide. Als Beispiele seien genannt: Dimethylsulfid, Dimethyldisulfid, Dimethylpolysulfid, Dithiodiacetyldisulfid, Tetramethylthiuramsulfid, Tetramethylthiuramdisulfid,Dimethylxanthogendisulfidund Dibenzothiazoldisulfid.
- 10. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß als den kristallinen Zustand beeinflussende Stoffe Schwefel, Tellur, Phosphor, Arsen, Antimon, Wismut, Silizium, Germanium oder Zinn zur Anwendung gelangen.
- 11. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Kristallisation bei Gegenwart von Sulfid-, Selenid- oder Telluridionen durchgeführt wird, z. B. bei Gegenwart einer Natriumsulfidlösung.
- 12. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß mit Hilfe einer Glimmentladung Sulfid-, Selenid- oder Telluridionen erzeugt und auf die Selenschicht zur Einwirkung gebracht werden.
- 13. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Selenschicht in an sich bekannter Weise auf die Grundelektrode aufgedampft wird und hierbei Dämpfe von wasserfreien Halogeniden, insbesondere Metallhalogeniden, zugeführt werden.
- 14. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß auf die Selenschicht, nachdem diese ganz oder im wesentlichen in den kristallinen Zustand übergegangen ist, zusätzlich den KristaUisationszustand beeinflussende Stoffe im Sinne einer nachträglichen Beeinflussung ihres Gitteraufbaues oder ihres Gehaltes an Gitterstörungen zur Einwirkung gebracht werden.105In Betracht gezogene Druckschriften:Deutsche Patentanmeldungen ρ 4850 VIIIc/2ig (bekanntgemacht am 15. 2.19.51), ρ 4860 VIIIc/2ig (bekanntgemacht am 2. 5.1951), ρ 4479 VIIIc/2ig (bekanntgemacht am 15. 2.1951) ;deutsche Patentschriften Nr. 562 535, 724 888;Buch »Metal Rectifiens« von H. K. Henisch, 1949, S. 11;schweizerische Patentschriften Nr. 225 868,157 167; österreichische Patentschrift Nr. 155 712.© m 725/25 2.59
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
NL7011346A NL169311B (nl) | 1951-05-05 | Werkwijze voor het bereiden van een hydroxylgroep bevattend, op de 4'-plaats gesubstitueerd fenylsulfonyl-4-halogeenbenzeen en werkwijze voor het bereiden van etherbindingen houdende polymeren die 4'-fenylsulfonyl-4-fenyleenheden bevatten. | |
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GB11032/52A GB747762A (en) | 1951-05-05 | 1952-05-01 | Improvements in or relating to processes for the production of selenium rectifier elements |
FR1055456D FR1055456A (fr) | 1951-05-05 | 1952-05-05 | Procédé pour la fabrication de redresseurs au sélénium et produits conformes à ceux obtenus |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DES23037A DE971526C (de) | 1951-05-05 | 1951-05-05 | Verfahren zur Herstellung von Selengleichrichtern |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE971526C true DE971526C (de) | 1959-02-12 |
Family
ID=7477195
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DES23037A Expired DE971526C (de) | 1951-05-05 | 1951-05-05 | Verfahren zur Herstellung von Selengleichrichtern |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
CH (1) | CH313672A (de) |
DE (1) | DE971526C (de) |
FR (1) | FR1055456A (de) |
GB (1) | GB747762A (de) |
NL (1) | NL169311B (de) |
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