DE945195C - Interferenzmikroskop zur Untersuchung der Oberflaechenguete fester Koerper - Google Patents

Interferenzmikroskop zur Untersuchung der Oberflaechenguete fester Koerper

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DE945195C
DE945195C DEZ1117A DEZ0001117A DE945195C DE 945195 C DE945195 C DE 945195C DE Z1117 A DEZ1117 A DE Z1117A DE Z0001117 A DEZ0001117 A DE Z0001117A DE 945195 C DE945195 C DE 945195C
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DE
Germany
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microscope
examining
interference microscope
interference
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Expired
Application number
DEZ1117A
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English (en)
Inventor
Dr Kurt Raentsch
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Carl Zeiss SMT GmbH
Original Assignee
Carl Zeiss SMT GmbH
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Publication date
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    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/06Means for illuminating specimens
    • G02B21/08Condensers
    • G02B21/14Condensers affording illumination for phase-contrast observation

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Microscoopes, Condenser (AREA)

Description

  • Interferenzmikroskop zur Untersuchung der Oberflächengüte fester Körper Zur Untersuchung der Oberflächengüte fester Körper, insbesonldere der Güte von fejust bearbeiteter Flächen, verwendet man neuerdings Interferenzapparate, bei denen in üblicher Weise zwei von einer Lichtquelle durch eine physikalische Strahlenteilung aufgespaltete Lichtbündel nach Reflexion des ersten Bündels an der zu überprüfenden Fläche und des anderen Bündels an einer Vergleichsfläche miteinander zur Interferenz gebracht werden. In beiden Strahlengängen befindet sich je ein Mikroskopobjektiv, die das Licht sowohl auf dem Hinweg wie auf dem Rückweg durchsetzt. Die Beobachtung der entstehenden Interferenzen erfolgt durch ein gemeinsames Okular, in dem gleichzeitig die Prüffläche vergrößert abgebildet erscheint. Die beiden Objektive müssen, um die Entstehung der Interferenzen zu ermöglichen, gleiche optische Eigenschaften, insbesondere gleicheBrennweite besitzen. Will man also aus Gründen der besseren Beobachtungsmöglichkeit die Vergrößerung verändern, so müssen stets beide Objektive durch solche mit anderer Brennweite ersetzt werden.
  • Die Erfindung betrifft ein Interferenzmikroskop, bei dem in der von der Mikroskoptecbnik her bekannten Art die Obj ektoberfläche wahlweise sowohl von oben her als auch nach der Anordnung von L e C h a t e 1 i e r von unten her betrachtet werden kann.
  • Um bei derartigen Interferenzmikroskopen den Objektivwechsel in einfacher Weise vornehmen zu können, werden gemäß der Erfindung mehrere Paare zusammenarbeitender Mikroskopobjektive mit von Paar zu Paar verschiedener Brennweite auf einem gemeinsamen Revolver derart sternförmig angeordnet, daß die Objektive eines jeden Paares symmetrisch zur Revolverachse einander gegenüberliegen und die gleiche zur Revolverachse senkrechte optische Achse besitzen. Durch die erfindungsgemäße Kombination der einzelnen Merkmale ergibt sich eine Bauart, die es ermöglicht, interferenzmikroskopische Untersuchungen, insbesondere Reihenuntersuchungen an Oberflächen fester Körper mit derartigen an sich schon diffizil zu handhabenden Geräten auch durch ungeübtere Kräfte durchführen zu lassen, da man damit in der Lage ist, durch einfaches Verdrehen des Revolvers einen Vergrößerungswechsel vornehmen und damit die günstigste Vergrößerung für die Beobachtung auch bei verschiedener Betrachtungsweise ohne besondere umständliche Justierung auswählen zu können. Die Betrachtungsweise von unten her ist deswegen zweckmäßig, weil auch bei Oberflächenprüfungen mittels Interferenzmikroskopen vielfach Objekte mit größeren Abmessungen in Betracht koenrien. In an sich bekannter Weise werden zu diesem Zweck zwei Auflagetische vorgesehen, so daß man den Prüfling sowohl auf dem einen Objekttisch von oben her als auch nach der Anordnung von L e C h a t e ii e r auf dem anderen Tisch von unten her beobachten kann. Gleichzeitig läßt sich ein räumlich gedrängter und damit handlicher Aufbau erreichen.
  • In der Mikroskoptechnik sind bereits Trommelrevolvereinrichtungen bekannt, die jedoch andere Aufgaben zu erfüllen haben. So ist es bekannt, bei Stereomikroskopen paarweise zusammengehörige Mikroskopobj ektive nebeneinander auf einer Trommel anzuordnen. Auch sind Anordnungen für die Kopplung zusammengehöriger Mikroskopobjektive und Kondensorlinsen hekannt, die je auf Revolvertrommeln angeordnet und miteinander gekoppelt sind und gleichzeitig gedreht werden, so daß die für das jeweilig benutzte Mikroskopobj ektiv optimale Kondensorbeleuchtung zwangläufig eingestellt ist. Bei Interferenzgeräten sind die beiden zusammenwirkenden Objektive auf verschtiedene Objektivebenen scharf einzustellen, was mit besonderen Schwierigkeiten verbunden ist, weil geringste Abweichungen der einmal eingestellten Justierlage der miteinander zu vergleichenden Strahlengänge das Interferenzbild zunichte machen.
  • Die zur Erzeugung der Interferenzen benutzte Vergleichsfläche wird im allgemeinen nicht immer die gleiche sein; man wird das Reflexionsvermögen derselben von Fall zu Fall so wählen, wie es die zu prüfende Fläche erfordert. Es empfiehlt sich daher, jede solche Vergleichsfläche in an sich bekaunter Weise in einer Kappe unterzubnngen, die am zugehörigen Objektiv, beispielsweise durch Aufstecken oder Aufschrauben befestigt werden kann. Da der jeweils als Vergleichsfläche dienende Spiegel mit dem zugehörigen Mikroskopobjektiv verbunden ist, genügt eine einfache Weiterdrehung des Objektivrevolvers, um von der einen Beobachtungsweise zur anderen umzuschalten.
  • Als Ausführungsbeispiel der Erfindung ist auf der Zeichnung ein Interferenzmikroskop mit drei Ohjektivpaaren dargestellt.
  • Fig. I zeigt eine Ansicht, von der Seite des Objektivrevolvers her gesehen; Fig. 2 zeigt einen Horizontalschnitt des Instruments in Höhe der Revolverachse.
  • Die für die Erfindung nebensächlichen Dinge sind nur schematisch wiedergegeben oder weggelassen. Ein im wesentlichen rechteckiges Metallgehäuse a besitzt im Innern eine lotrechte Wand a,: die den vorderen, den Objektivrevolver enthaltenden Raum von dem dahinterliegenden Raum abgrenzt, in dem die übrigen optischen Teile geschützt untergebracht sind. Das Licht einer Lichtquelle b gelangt über ein Kondensorsystem b1 in ein System von Prismen dt, d2, d3, d4, d5 und ds, die im Innern des Gehäuses a in passender Weise gelagert. zu denken sind. Die Prismen dj und d2 sind miteinander verkittet und besitzen in der Kittfläche eine halbdurchlässige Verspiegelung, die das ankommende Lichtbündel in zwei kohärente Bündel auteilt. Die beiden Bündel werden dann durch die Prismen d3 und d4 den Prismen d5 und d6 zugeführt, die sich in einer zur Zeichenebene der Fig. 2 unter 450 liegenden Ebene berühren und dort ebenfalls miteinander verkittet sind. In der Kittfläche ist eine lichtundurchlässige Verspiegelung angebracht, die die von beiden Seiten ankommenden Lichtbündel in entgegengesetzter Richtung senkrecht zur Zeichenebene der Fig. 2 weiterleitet.
  • Die beiden Prismen d5 und d6 ragen durch eine Öffnung der Wand al hindurch in den Hohlraum eines zylindrischen Körpers e, der den Objektivrevolver bildet. Er ist in der Öffnung der Wand a1 drehbar gelagert und wird durch eine auf die Stirnfläche drückende Kugel j in Verbindung mit einer am Gehäusea befestigten federnden Brücketl in seiner Lage gehalten. Der Revolver e trägt am Umfang sechs senkrecht zu seiner Drehachse angesetzte Mikroskopobj ektive et mit gleichen äußeren Abmessungen, von denen je zwei einander gegenüberliegende Objeldive gleiche Brennweite besitzen. Die Brennweiten der drei Paare von Objektiven sind verschieden und so gewählt, daß eine zweckmäßige Abstufung der Vergrößerung sich ergibt. Durch geeignete Rasten, die in der Zeichnung nicht angegeben sind, wird jeweils für eines der Objektivpaare die lotrechte Stellung gesichert. In Fig. 2 ist der Deutlichkeit wegen der Objektivrevolver e etwas verdreht gegenüber der Stellung in Fig. I dargestellt, damit ein Objektivpaar in der Zeichenebene erscheint. Zur bequemen Drehung des Revolvers ist derselbe mit einem vorstehenden Rändel e2 versehen. Auf der oberen Seite des Instruments befindet sich ein Tisch g zur Aufnahme der zu prüfenden Gegenstände, beispielsweise eines gestrichelt angedeuteten Prüflings Ii, nach der von L-e C h a t e 1 i e r eingeführten Methode zur Betrachtung von unten. Außerdem ist unterhalb des Revolvers ein zweiter Tisch i vorgesehen, der eine Beobachtung in der normalen Mikroslcopanordnung von oben erlaubt. Beide Tische g und i können in üblicher Weise als Kreuztisch ausgeführt und mit einer Höheneinstellung zur Fokussierung versehen sein. Auf das jeweils dem Prüfling gegen- überliegende Objektiv ist eine Kappe k federnd aufgesteckt, die im Innern einen als Vergleichsfläche dienenden Spiegel kl trägt. Das nach Durchsetzung der Mikroskopobjektive hin und zurück in der halbdurchlässigen Spiegelfläche nach links austretende Licht kommt über ein Objektiv m in ein Okular n, in dem die entstehenden Interferenzen und gleichzeitig die zu prüfende Fläche dem Auge sichtbar werden.

Claims (5)

  1. PATENTANSPRÜCHE: 1. Interferenzmikroskop zur Untersuchung der Oberflächengüte fester Körper, wahlweise sowohl in üblicher Weise von oben her als auch nach der Anordnung von L e C h a t e 1 i e r von unten her, dadurch gekennzeichnet, daß mehrere Paare zusammenarbeitender Mikroskopobjektive (el) mit von Paar zu Paar verschiedener Brennweite auf einem gemeinsamen Revolver zwischen zwei Objekttischen (g und i) derart sternförmig angeordnet sind, daß die Objektive eines jeden Paares symmetrisch zur Revolverachse einander gegenüberliegen und die gleiche zur Revolverachse senkrechte optische Achse besitzen.
  2. 2. Interferenzmikroskop nach Anspruch I, dadurch gekennzeichnet, daß die als Vergleichsflächen dienenden Spiegel (k) jeweils in einer Kappe (k) untergebracht sind, die am zugehörigen Objektiv (el) befestigt werden kann.
  3. Angezogene Druckschriften: Deutsche Patentschriften Nr. 698 936, 622 772, 608 804; österreichische Patentschrift Nr.
  4. I46 9o6; USA.-Patentschrift Nr. 1 622 350; L i n n i k, Comptes Rendus URSS, I933,
  5. 5. I9, Fig. I.
DEZ1117A 1950-08-17 1950-08-17 Interferenzmikroskop zur Untersuchung der Oberflaechenguete fester Koerper Expired DE945195C (de)

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Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US1622350A (en) * 1926-06-08 1927-03-29 Bausch & Lomb Binocular microscope
DE608804C (de) * 1933-08-05 1935-02-01 Zeiss Carl Fa Mikroskop mit geknicktem Abbildungsstrahlengang
DE622772C (de) * 1934-05-12 1935-12-05 Haag Streit Fa W Objektivwechsler
AT146906B (de) * 1933-10-17 1936-09-10 Zeiss Carl Fa Beleuchtungsvorrichtung für Mikroskope.
DE698936C (de) * 1936-06-14 1940-11-20 Leitz Ernst Gmbh Wechselvorrichtung an Mikroapparaten

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