DE919490C - Elektronenmikroskop mit Objektschleuse - Google Patents

Elektronenmikroskop mit Objektschleuse

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DE919490C
DE919490C DEA2148D DEA0002148D DE919490C DE 919490 C DE919490 C DE 919490C DE A2148 D DEA2148 D DE A2148D DE A0002148 D DEA0002148 D DE A0002148D DE 919490 C DE919490 C DE 919490C
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expediently
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objective
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DEA2148D
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Manfred Von Ardenne
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    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/02Details
    • H01J37/22Optical, image processing or photographic arrangements associated with the tube
    • H01J37/224Luminescent screens or photographic plates for imaging; Apparatus specially adapted therefor, e. g. cameras, TV-cameras, photographic equipment or exposure control; Optical subsystems specially adapted therefor, e. g. microscopes for observing image on luminescent screen
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    • H01J37/02Details
    • H01J37/04Arrangements of electrodes and associated parts for generating or controlling the discharge, e.g. electron-optical arrangement or ion-optical arrangement
    • H01J37/09Diaphragms; Shields associated with electron or ion-optical arrangements; Compensation of disturbing fields
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/02Details
    • H01J37/18Vacuum locks ; Means for obtaining or maintaining the desired pressure within the vessel

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  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Microscoopes, Condenser (AREA)

Description

  • Elektronenmikroskop mit Objektschleuse Die bisher bekanntgewordenen Elektronenmikroskopkonstruktionen ergeben in besonders günstigen Fällen ein Auflösungsvermögen von 7o bzw. 5o AE bei Durchstrahlung dünnster Objektschichten und Hellfeldbetrieb. Sie sind außerordentlich erschütterungsempfindlich, so daß die Instrumente möglichst zu ebener Erde und auf Betonfundamenten aufgestellt werden müssen. Sie gestatten keine übermikroskopischen Dunkelfeldbilder. Zum Objektivwechsel und zum Auswechseln etwa verunreinigter Blenden sind weiterhin ziemlich weitgehende Demontagen des Instrumentes notwendig. Die Anwendung von Hilfseinrichtungen zur Aufnahme stereoskopischer Teilbilder ist nicht ohne komplizierten Umbau möglich. Im folgenden sollen die Merkmale einer den Gegenstand der vorliegenden Erfindung bildenden Übermikröskopanlage besprochen werden, für die im Hellfeldbetrieb ein Auflösungsvermögen von mindestens 30 AE und im Dunkelfeldbetrieb ein besseres Auflösungsvermögen als 5o AB nachgewiesen werden konnte und die außerdem die vorstehend aufgezählten Nachteile der bisherigen Elektronenmikroskopkonstruktionen durch Beschreitung neuer Konstruktionswege weitgehend vermeidet. Durch die angeführten Fortschritte sind der An-Wendungsbereich und die Betriebssicherheit des Elektronenmikroskops außerordentlich erhöht und damit der Übermikroskopie neue Möglichkeiten von grundsätzlicher Bedeutung erschlossen worden. Erfindungsgemäß sollen bei dem Elektronenmikroskop mit Objektschleuse die das Objektiv bildenden Polschuhe oder Elektroden zusammen mit der Objekthalterungseinrichtung, insbesondere zum Zweck des Objektwechsels, ein- und auszuschleusen sein.
  • Das erfindungsgemäße Instrument verdankt seine überlegenen Eigenschaften zum großen Teil einem einzigen Konstruktionsprinzip. Fast alle für die Wirkung wesentlichen Bestandteile können einzeln aus dem fertig montierten Mikroskop meist seitlich aus dem rohrartigen Mikroskopgehäuse herausgenommen werden. Da für ein günstiges Endergebnis fast alle Teile des Instrumentes zum optimalen Arbeiten gebracht werden müssen, sollen in der folgenden Beschreibung nacheinander die verschiedenen Bestandteile ausführlicher besprochen werden.
  • Das Strahlerzeugungssystem besteht, wie üblich, aus einer Wolframdrahtkathode, einer sie umgebenden Steuerelektrode von schwach negativem Potential (Wehneltzylinder) und einer dazu gleichachsigen zweiten durchbohrten Elektrode (Anode) von dem Potential der Beschleunigungsspannung. Die Durchgriffsverhältnisse sind so gewählt, daß bei r bis Zoo Volt negativer Vorspannung der Steuerelektrode und bei der Beschleunigungsspannung von 6o bis 70 kV ein schwach divergierendes Elektronenbündel von etwa Z bis 5 - 1o-4 Ampere Gesamtstrom sich einstellt. Die Glühkathode befindet sich in einer einfachen Patrone und kann nach Querstellung des obersten Absperrhahnes des Instrumentes im Laufe weniger Minuten ausgewechselt werden. Durch Verschiebung und Verkantung des Kathodensystems gegen die Anodenblende -mit Hilfe von Schraubenanordnungen läßt sich während des Betriebes unter Beobachtung der mit einem Leuchtschirm versehenen Zentrierblende das Elektronenbündel gegenüber dieser Blende ausrichten. Die Entfernung zwischen der durch den Kondensor abgebildeten Ebene des Elektronenstrahles und dem Schwerpunkt der Kondensoroptik ist etwa doppelt so groß wie die Strecke Kondensoroptik-Objekt, so daß im Kondensorsystem eine Verkleinerung auf i/2 stattfindet. Hieraus folgt eine besonders geringe Gesamtbelastung von Objekt und Objektträger durch die auffallende Elektronenstrahlung, ohne daß die Größe des bestrahlten Objektquerschnittes bereits die Größenordnung des Gesichtsfeldes annimmt bzw. ohne daß die Zentrierung des Kathoden- und Kondensorsystems kritisch erschwert wird. Auch bei längeren Bestrahlungszeiten bleibt die unerwünschte Mehrbelastung des Objektträgers so schwach, daß auch die Untersuchung wärmeempfindlicher Objekte gelingt, sofern nicht die Strahlungsabsorption im Objekt selbst ihr bereits frühere Grenzen zieht.
  • Der Blendeneinsatz ist ähnlich konstruiert wie der entsprechende, unten ausführlicher besprochene Blendeneinsatz des Objektivsystems. Die verschiedenen Blendenbohrungen (Hellfeld- oder Dunkelfeldblenden) befinden sich genau ausgerichtet auf einer Blendenzunge, die über einem mit Teilung versehenen Federkörperantrieb um genau definierte Beträge verschoben werden kann. Das Arbeiten mit Dunkelfeldblenden erfordert eine besonders sorgfältige Anpassung der beteiligten Aperturen und eine besonders sorgfältige Zentrierung. Ein sehr leistungsfähiger Dunkelfeldbetrieb läßt sich auch mit Hellfeldblenden im Kondensor dadurch erreichen, daß nach Einstellung der größten Beleuchtungsstärke entweder die Blende des Objektivs oder aber das Kondensorsystem etwas verstellt wird. Elektronenoptisch günstiger ist der zweitgenannte Weg. Beide Maßnahmen bewirken, daß die von der Elektronenquelle kommende Strahlung nicht mehr unmittelbar in die Objektivöffnung gelangt, sondern nur die am Objekt schwach gestreute Strahlung. Je kleiner die Dezentrierung ist, mit der ein Dunkelfeldbetrieb auf dem angedeuteten Wege herbeigeführt wird, desto hellere Dunkelfeldbilder werden erhalten und desto dünnere Objekte werden erkennbar. Zentrierung und Dezentrierung des Kondensorsystems erfolgen durch zwei Justiervorrichtungen, die sowohl eine Parallelverschiebung als auch eine Verkantung des ganzen Beleuchtungssystems gestatten. Der Strahlengang im Kondensorsystem ist nach einem weiteren Gegenstand der Erfindung ebenfalls magnetisch abgeschirmt. Erst hierdurch wird erreicht, daß die im Laufe von Stunden oder Tagen eintretenden, sehr starken Erdfeldschwankungen ohne Einfluß auf die Güte der Zentrierung des Instrumentes bleiben.
  • Das Objekt-Objektiv-System wird entweder durch eine Einheit mit elektrostatischer Linse oder durch eine Einheit mit magnetischer Polschuhlinse gebildet.
  • Die oberhalb und unterhalb des Linsenraumes vorgesehenen Hähne zur Abtrennung des Hauptvakuums sind so ausgeführt, daß der Strahlengang gegen Dichtungsfettreste abgeschirmt ist. Die entsprechenden Abschirmrohre dienen gleichzeitig zur Verbesserung der magnetischen Abschirmung.
  • Der Polschuhobjektträgereinsatz eines magnetischen Objektivs enthält den mit einem Federkörper kombinierten Aperturblendeneinsatz, der auch seinerseits aus dem Polschuh seitlich herausgenommen werden kann. Der Durchmesser des feinsten Kanals auf der Blendenzunge hat die Größenordnung 5 ,u. Auch für die kürzesten verwirklichten Objektivbrennweiten genügen B'lenden-,kanaldurchmesser dieser Größe, um übermikroskopische Dunkelfeldbilder von dem- obengenannten hohen Auflösungsvermögen zu liefern. Entscheidend für die Bildgüte bei Anwendung so kleiner reeller Obj.ektivaperturen ist allerdings, daß die Blende auf chemischem Wege sowie mit Hilfe eines Mikromanipulators von Fettschichten und störenden Partikeln auf das peinlichste gesäubert ist. Nicht nur beim Dunkelfeldbetrieb, sondern auch bei der Untersuchung dickerer Objektschichten hat sich die Einführung so kleiner reeller Blendenöffnungen als äußerst nützlich erwiesen. Die Blende selbst wird entweder durch eine Mehrfachkreuzspaltblende oder durch feinste Bohrungen in einem 9,1 mm starken Tantalstreifen gebildet. Ebenso wie bei dem Blendeneinsatz des Kondensorsystems kann mit Hilfe einer Skala die Lage der Blendenzunge im Polschuhsystem kontrolliert werden. Die Markierung oder Eichung dieser Skala erfolgt zweckmäßig nach Herausnahme des Polschuheinsatzes unter Benutzung einer lichtmikroskopischen Hilfseinrichtung. In der Richtung senkrecht zum Vorschub der Blendenzunge wird die Zentrierung der Blendenkanäle gegenüber der Achse des Polschuhsystems durch zwei Schrauben bewirkt.
  • Die Objektträgerblenden werden .in den herausgenommen en: Polschuheinsatz eingebracht. Die Objektpatrone, in die die Objektträgerblende eingelegt wird, 'kann spannungsfrei gegenüber dem Polschuhsystem in der Ebene zur optischen Achse senkrecht 'bewegt werden. Die Objektpatrone, in die die Objektträgerblen de eingesetzt wird, besitzt an ihrer Unterfläche eine plan geschliffene Ebene. Durch eine Abdrückfeder wird diese Fläche der Objektpatrone an eine gegenüberstehende, etwas größere Fläche im Innern des Polschuhes bzw. der Linsenelektrode gedrückt. Infolge des unmittelbaren Kontaktes zwischen Objektpatrone und der Linseneinheit ist eine völlig stabile Objektlage gegenüber dem Objektiv auch für längere Zeiträume gegeben. Gleichzeitig hat diese Bauweise den Vorzug, daß bei magnetischen Linsen der Eisenquerschnitt in der Nähe der Polschubspitze nur sehr wenig geschwächt wird. Es konnten daher bei magnetischen Objektiven Brennweiten der Größenordnung i mm erreicht werden, die nur etwa ein Drittel der bisher benutzten Objektivbrennweiten ausmachen. Die Bewegung des Objektes, die durch einen Schnurtrieb neben den Beobachtungsmikroskopen gesteuert wird, erfolgt völlig spannungsfrei dadurch, daß die Objektpatrone auf der Anlagefläche hin und her gestoßen wird. Selbst feinste Objektverschiebungen von nur 1o-5 mm lassen sich mit diesem einfachen, in Objektivnähe wenig Raum beanspruchenden Mechanismus in den jeweils gewünschten Richtungen durchführen. Die verschiedenen Teile des Objektivsystems sind fest ineinander unter Anwendung von Gummidichtungen verschraubt. Bemerkenswert ist, daß eine Eisen-Mess.ing-Lötung @bei dieser Bauweise völlig vermieden ist. Vier Hauptschrauben halten die ganze Einheit zusammen.
  • Der Objektwechsel oder auch der Übergang zu einem anderen Objektiv dauert nur etwa a bis 3 Minuten, da die beiden Absperrhähne oberhalb und unterhalb des Objektiveinsatzes die Abtrennung der übrigen Räume des Instrumentes während des Wechselvorganges gestatten. Die gesamte Strecke zwischen Objekt und Projektionslinse ist durch ein-oder mehrfache schirmende Hüllen umgeben.
  • Im 'besonderen ist auch .die kurze, aber höchst störempfindliche Strecke Objekt-Objektiv magnetisch geschirmt. Wenn auch bei magnetischen Objektiven schon die Polschuhe und der äußere Eisenmantel eine gewisse Schirmung bewirken, so ist trotzdem noch eine Außenabschirmung angebracht, die durch einen Aufzugmechanismus über das ganze Objcktivsystem gebracht werden kann. Durch die geschilderte erfindungsgemäße Ausgestaltung des Objekt-Objektiv-Systems ergibt sich die völlige Unempfindlichkeit des Mikroskops gegen mechanische Erschütterungen. Hierdurch und .durch die vollständige magnetische Sc:hirmung gelingt es mit außerordentlicher Treffsicherheit, jederzeit Bilder von höchster Auflösung zu erhalten. Die, stabile Lage des Objektes gegenüber dem Objektiv hat besondere Bedeutung im Hinblick auf die längeren Belichtungszeiten bei Dunkelfeldbetrieb sowie im Hinblick auf .die Stereobildaufnahme. Die Austauschbarkeit der Blenden unter Vakuum erlaubt, wie schon erwähnt, einen schnellen Übergang von Hellfeld- zu Dunkelfeldbetrieb. Unter Bedingungen, wo ungünstige IntensitätsverhäItnissebestehen, kann beidem Instrument die Schärfeneinstellung bei Hellfeldbetrieb oder bei Betrieb mit großer Objektivrblende visuell vorgenommen und die Aufnahme des Objektes selbst nachUmschaltung auf Dunkelfeldbetrie@b oder kleine Objektivapertur durchgeführt werden. Um das angedeutete Vorgehen zu erleichtern, wird nach einem weiteren Gegenstand der Erfindung das Instrument mit einer Hilfseinrichtung zur Schärfeneinstellüng verbunden, wie sie in der Patentschrift 718 988 beschrieben ist. Mit Hilfe dieser Zusatzeinrichtung können die -Bedingungen 'bester Schärfe über Zeiten von Stunden mit höchster Genauigkeit aufrechterhalten oder reproduziert werden. Für längste Belichtungszeiten und in solchen Fällen, wo in mehr oder weniger großen Zeitabständen bestimmte Scharfeinstellungsverhältnisse eingestellt oder wiederholt werden müssen (Blindaufnahmen, Reihenbilder), ist die erfindungsgemäße Kombination mit der Hilfseinrichtung unentbehrlich.
  • Auch das Projektionslinsensystem enthält gegenüber den bekannten Übermikroskopen einige grundsätzliche Merkmale. Durch einen Einrücktriab 'können zwei zur Zwischenbildbeobachtung und zur Projektions'bild'beobachtung vorgesehene und gleichartig ausgeführte Mikroskope um genau definierte Beträge mehr oder weniger in den Strahlengang eingerückt werden. Unmittelbar vor dem Mikroskopobjektiv befindet sich ein go°-Umlenkprisma. Dieses trägt auf seiner der Strahlung zugekehrten Fläche (3 X 3 mm) einen kleinen, sauber geschliffenen Einkristalleuchtschirm aus einem Zinksulfidphosphor. Die der Strahlung zugekehrte Fläche des Einkristalleuchtschirmes wird in etwa ioofacher linearer Vergrößerung betrachtet. Die lineare Nachvergrößerung durch ,die Projektionsstrafe liegt in der Regel bei Werten zwischen ao und 5o.
  • Die Plattenkamera. arbeitet in der üblichen Weise mit zwei unabhängig voneinander zu (betätigenden vakuumdichten Schleusentoren, um ein rasches Auswechseln der Plattenkassetten ohne Lufteinlaß auf das gesamte Instrument zu ermöglichen. Die Kassette ist zur Aufnahme von zwei hintereinanderliegenden Platten vom Format q.1/2 X 6 cm eingerichtet. Der größte Bildausschnitt beträgt 30 X 45 mm. Es kommen durchweg Schumann-Platten zur Anwendung, die heute in solcher Form hergestellt werden, daß die früher übliche Spezial- Behandlung sich erübrigt. Die Schumann-Platten ergeben für Elektronen der beim Übermikroskop bestehenden Geschwindigkeit ein Auflösungsvermögen, das mindestens sechsmal so groß ist wie das Auflösungsvermögen normaler photographischer Schichten für Elektronenstrahlung. Abgesehen von .den Vorteilen, die sich im Hinblick auf Objektbelastung und Belichtungszeit aus dieser Überlegenheit ergeben, hat das größere Auflösungsvermögen der Schumann-Schicht zur Folge, daß auf dem kleinen Bildausschnitt von 30 X 45 mm sich der gleiche Bildinhalt (Bildelementenzabl) unterbringen läßt wie auf einer normalen photographischen Platte von etwa 18 X 24 cm Format.
  • Unmittelbar oberhalb der Kamera befindet sich, mit einem Leuchtschirm versehen, der photegraphische Verschluß.
  • Um von demselben Objektausschnitt zwei stereoskopische Teilbilder gleicher Güte oder von demselben Ausschnitt Hellfeld- und Dunkelfeldbilder herstellen zu können, ist es wichtig, die Bilder möglichst kurze Zeit nacheinander aufzunehmen. Aus diesem Grunde ist die Kamera bei d.-in vorliegenden Elektronenmikroskop so ausgebildet, .daß ohne Einschleusung einer neuen Platte von außen zwei, vier oder acht Aufnahmen nacheinander durchgeführt werden können.

Claims (13)

  1. PATENTANSPRÜCHE: i. Elektronenmikroskop mit Objektschleuse, dadurch .gekennzeichnet, daß die das Objektiv bildenden Polschuhe oder Elektroden zusammen mit der Objekthalterungseinrichtung, insbesondere zum Zweck des Objektwechsels, ein- und auszuschleusen sind.
  2. 2. Vorrichtung nach Anspruch i, dadurch gekennzeichnet, daß beim Objektiv, zweckmäßig auch bei Kondensor und Projektionslinse, möglichst mit Eichs:kala ausgerüstete Blendenverstellungen sowie Blendenzentrierungen vorgesehen sind, die unter Vakuum zu bedienen und auch außerhalb des Mikroskops, insbesondere in Verbindung mit einer lichtmikroskopischen Hilfseinrichtung, einzustellen und zu eichen sind.
  3. 3. Vorrichtung nach Anspruch i oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß der Blendenwechsel unter Vakuum durch Vorschubs einer mehrere Blendenöffnungen tragenden Blendenzunge, insbesondere mit Hilfe eines Federkörpers, von außen zu bewirken ist. q..
  4. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, däß geeignete mechanische Mittel vorgesehen sind, um zu verhindern, daß nach erfolgter Einstellung des Objektausschnittes der Objektträger irgendwelche merkbaren unerwünschten Relativbewegungen gegenüber den das Objektiv bildenden Bestandteilen ausführt.
  5. 5. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, insbesondere nach Anspruch 4., dadurch gekennzeichnet, daß die Objekthalterungseinrichtung und die das Objektiv bildenden Teile sich unmittelbar berühren.
  6. 6. Vorrichtung nach einem oder mehreren dei vorhergehenden Ansprüche, insbesondere nach den Ansprüchen q. und 5, dadurch gekennzeichnet, daß die, Berührungsstelle zwischen dei Objekthalterungseinrichtung und dem Objektiv als Gleitfläche ausgebildet ist, daß zweckmäßig eine Federeinrichtung die Gleitflächen ständig gegeneinanderdrückt und daß die Einstellung des gewünschten Objektausschnittes auch im Vakuum durch kraftübertragende Mittel erfolgt, die in Richtung der Gleitflächen wirksam sind.
  7. 7. Vorrichtung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß die die Objektträgerverschiebung bewirkenden Mittel nach erfolgter Einstellung des Objektausschnittes von der Objekthalterungseinrichtung zurückzuziehen sind. B.
  8. Vorrichtung nach einem oder mehreren der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Objekt-Objektiv-Schleüse durch zwei Absperrhähne gebildet wird, die sich oberhalb und unterhalb des Objektiveinsatzes befinden, und daß die Hähne im Innern zweckmäßig durch Stege gehalterte, aneinander angrenzende Abschirmrohre enthalten. g.
  9. Vorrichtung nach einem oder mehreren der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß eine wirksame spezielle magnetische Abschirmung auch gegen Gleichfeldschwankungen nicht nur in dem Raum zwischen Objektiv und der Zone vor der Kamera vorgesehen .ist, sondern .darüber hinausgehend auch im Kondensorsystem und zweckmäßig auch für ,die !kurze, aber höchst störempfindliche Strecke Objektiv-Objekt. io.
  10. Vorrichtung nach einem oder mehreren der vo-rhergehendenAnsprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Konstanz von Objektlage und Abbildungsverhältnissen mit Hilfe von Einkristalleucbtschirmen zu kontrollieren sind, die über Lichtmikroskope zu betrachten sind und die nach Bedarf ganz oder teilweise in den Strahlengang an geeigneten Stellen einschiebbar sind.
  11. 11. Vorrichtung, insbesondere nach den vorhergehenden Ansprüchen, dadurch gekennzeichnet, daß zur photographischen Aufnahme eine zweckmäßig mit Vakuumschleuse versehene Kamera zu verwenden ist, die ohne Plattenwechsel mehrere Bilder aufzunehmen gestattet.
  12. 12. Vorrichtung, insbesondere nach den Ansprüchen i und 2, dadurch gekennzeichnet, daß mehrere Objektiveinsätze und gegebenenfalls auch Projektionslinseneinsätze der Form nach so ausgebildet sind, daß sie wahlweise ohne eine Veränderung des Mikroskops selbst benutzt werden können.
  13. 13. Vorrichtung nach Anspruch 12, dadurch gekennzeichnet, daß wahlweise magnetische oder elektrische Objektive sowie Objektive zur Herstellung stereoskopischer Teilbilder in den Strahlengang einzusetzen sind.
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