DE906709C - Richtantennensystem fuer die Maximumpeilung und Raumabtastung nach der Rueckstrahlmethode - Google Patents

Description

• Für die Maximumpeilung und Raumabtastung sind Richtantennensysteme erforderlich, die eine besonders große Bündelung haben, weil von der Bündelung bekanntlich die Peilschärfe bzw. das Seitenauflösungsvermögen der Anlage abhängt. Die Forderung nach großer Bündelungsschärfe bedingt aller im Verhältnis zur Wellenlänge große Abmessungen des Antennensystems, die insbesondere im Bereich längerer Wellen bereits die Bewegung des Antennensystems erschweren.
• Für spezielle Aufgaben kann auch im Bereich extrem kurzer elektrischer Wellen eine so außerordentlich scharfe Bündelung erwünscht sein, daß sich auch hier schon sperrige Konstruktionen ergelen würden. Das ist heispielsweise der Fall, wenn das Seitenauflösungsvermögen eines Rüdstrahlortungsgerätes zwecks Verminderung der Störanfälligkeit durch Scheinziele, die etwa bei der Luftraumüherwachung in Form von gut reflektierenden Schwebekörpen in den Meßraum gebracht werden. extrem groß gemacht werden soll.
• Die große Bündelung der rvirksamen Richtcharakteristik ron Rückstrahlgeräten für die Maximumpeilung und Raumabtastung läßt sich gemäß der Erfindung dadurch mit verhältnismäßig kleinen räumlichen Abmessungen des Antennensystems erreichen, daß die Richtsende- und die Richtempfangscharakteristik unter teilweiser gegenseitiger Überlappung divergierend orientiert werden.
• Das Wesen der Erfindung geht aus Abb. I hervor.
• Es ist hier mit SC die Sende- und EC die Empfangscharakteristik des Richtantennensystems bezeichnet. Nur in dem schmalen Winkelbereich der gegenseitigen Überlappung beider Richtcharakteristiken, in dem also auch beide Richtcharakteristiken einen von Sull verschiedenen Vergleichswert haben, wird die Strahlung sowohl ausgesendet als auch empfangen. Links von diesem Winkelbereich erfolgt nur Aussendung, rechts hingegen nur Empfang. Als wirksame Richtcharakteristik flir die Rückstrahlung ergibt sich somit das mit RC bezeichnete scharfe Strahlenbündel, dessen Winkelbreite wesentlich geringer ist als die der Sendel)zw. Empfangscharakteristik. Die Winkelbreite kami noch verkleinert werden, wenn man die Antennensysteme so ausbildet, daß die Flankensteilheit der Richtcharakteristiken an den Innenseiten besonders groß ist.
• Zur Ausführung der Erfindung kann man beispielsweise gemäß Abb. 2 einen Sendedipol SD nach der einen und einen Empfangsdipol ED nach der anderen Seite defokusiert in der Brennfläche eines Parabolreflektors P anordnen. An Stelle der Dipole können natürlich auch andere Strahler verwendet werden, ebenso wie der Hohl reflektor auch durch eine Linsenanordnung für elektrische Wellen ersetzt werden kann.
• Ein anderes Ausführungsbeispiel der Erfindung zeigt Abb. 3. Hierbei sind mehrere Dipole D über Phasenschieber P mit dem Sender S derart verbunden, daß die Ströme in den Dipolen von rechts nach links um zunehmende Phasenbeträge nacheilen, so daß die Richtcharakteristik entsprechend Abb. I nach links weist. Die gleichen Dipole sind unter teilweiser Benutzung der gleichen Phasenschieber mit dem Empfänger E in spiegelbildlicher elektrischer Symmetrie verbunden, so daß die Empfangscharakteristik nach rechts weist.
• PATEXTANSPRÜCHE I. Richtantennensystem für die Maximumpeilung und Raumabtastung nach der Rückstrahlmethode, dadurch gekennzeichnet, daß die Richtsende- und die Richtempfangscharakteristik unter teilweiser gegenseitiger Überlappung divergieren.

Claims (1)

1. 2. Richtantennensystem nach Anspruch I, gekennzeichnet durch einen Sende- und einen Empfangsstrahler (Dipol), die gegensinnig defokusiert in der Brennfläche einer gemeinsamen strahlenbündelnden Einrichtung (Hohlreflektor der Linse) angeordnet sind.

   3. Richtantennensystem nach Anspruch I, da-. durch gekennzeichnet, daß die Richtsende- und die Richtempfangscharakteristik durch phasenverschiedene Zusammenfassung der Einzelstrahler eines Mehrfachstrahlersystems erzeugt sind.