DE757167C - Anordnung zur Messung der Kapazitaet und der dielektrischen Verluste von geerdeten Prueflingen, insbesondere bei Hochspannung - Google Patents

Anordnung zur Messung der Kapazitaet und der dielektrischen Verluste von geerdeten Prueflingen, insbesondere bei Hochspannung

Info

Publication number
DE757167C
DE757167C DEK151702D DEK0151702D DE757167C DE 757167 C DE757167 C DE 757167C DE K151702 D DEK151702 D DE K151702D DE K0151702 D DEK0151702 D DE K0151702D DE 757167 C DE757167 C DE 757167C
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
voltage
mutual inductance
test
capacitor
circuit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
DEK151702D
Other languages
English (en)
Inventor
Wilhelm Dr-Ing Raske
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Koch and Sterzel AG
Original Assignee
Koch and Sterzel AG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Koch and Sterzel AG filed Critical Koch and Sterzel AG
Priority to DEK151702D priority Critical patent/DE757167C/de
Application granted granted Critical
Publication of DE757167C publication Critical patent/DE757167C/de
Expired legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R27/00Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
    • G01R27/02Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
    • G01R27/26Measuring inductance or capacitance; Measuring quality factor, e.g. by using the resonance method; Measuring loss factor; Measuring dielectric constants ; Measuring impedance or related variables
    • G01R27/2688Measuring quality factor or dielectric loss, e.g. loss angle, or power factor
    • G01R27/2694Measuring dielectric loss, e.g. loss angle, loss factor or power factor

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measuring Instrument Details And Bridges, And Automatic Balancing Devices (AREA)

Description

  • Anordnung zur Messung der Kapazität und der dielektrischen Verluste von geerdeten Prüflingen, insbesondere bei Hochspannung Zur Messung der Kapazität und der dielektrischen Verluste von geerdeten Prüflingen ist bereits eine Kompensationsschaltung bekanntgeworden, bei welcher ein an der Spannung des Prüflings (Bezugsspannung) liegender Vergleichskondens ator und eine Hochspannungsgegeninduktivität verwendet wird, deren Primärwicklung vom Strom des Prüflings durchflossen wird. Bei dieser bekannten Kompensationsschaltung wird die Abgleichung durch einen Regelwiderstand und durch eine veränderliche Niederspannungsgegeninduk tivität bewirkt, die im Stromkr,eis des Vergleichskondensators liegen. Ungünstig bei dieser Anordnung ist, daß der Verlustfaktor des Prüflings nicht unmittelbar abgelesen werden kann, sondern aus den veränderlichen Größen des Regelwiderstandes und der Niederspannungsgegeninduktivität für jeden Meßpunkt berechnet werden muß. Ein weiterer Nachteil der bekannten Anordnung bei steht darin, daß Niederspannungsgegeninduktivitäten, wie sie hier benötigt werden, sehr teuer sind, wenn sie, was mit Rücksicht auf die Meßgenauigkeit notwendig ist, fehlwinkelfrei gemacht werden; außerdem werden sie leicht durch magnetische Störfelder, mit denen man bei Messungen in Prüffeldern und in den Schalthäusern von elektrischen Anlagen immer rechnen muß, beeinflußt und fälschen dadurch die Messung.
  • Gemäß der Erfindung, die ebenfalls eine Kompensationsschaltung mit einem Vergleichskondensator und einer Hochspannungsgegeninduktivität benutzt, werden diese Nachteile dadurch vermieden, daß die Sekundärwicklung der Hochspannungsgegeninduktivität durch einen Widerstand belastet ist und daß der Spannungsabfall an einem veränderlichen Teil dieses Widerstandes über ein Nullinstrument durch zwei senkrecht aufeinander stehende Spannungen kompensiert wird, die aus dem Stromkreis des Vergleichskondensators abgeleitet werden und von denen die eine mit der Bezugs-(hoch-)sp,annung phasengleich ist oder eine definierte Phasenlänge zu ihr hat und von denen mindestens eine regulierbar ist. Die Anordnung gemäß der Erfindung ermöglicht eine solche Ausbildung, daß der Verlustfaktor und die Kapazität an je einer Skala unmittelbar abgelesen werden können. Besonders vorteilhaft ist es, wenn die an dem Sekundärkreis der Hoch spannungsgegeninduktivität abgegriffene Spannung kompensiert wird durch die Spannung eines mit dem Vergleichskondensator in Reihe geschalteten Kondensators und durch den Spannungsabfall eines (fehlwinkelfreien) Widerstandes, der von dem Strom des Vergleichskondensators durchflossen wird. Denn dann werden an Stelle der regelbaren Niederspan'-nungsgegeninduktivität der bekannten Anordnung nur Widerstände und Kondensatoren, also Schaltelemente, benutzt, die nicht in dem Maß wie Gegeninduktivitäten mit hohen Windungszahlen durch magnetische Störfelder beeinflußt werden. Da die Abgleichung der Kompensationsschaltung an Schleifwiderständen (Schleifdrähten) vorgenommen werden kann, ist es ohne Schwierigkeiten möglich, die Anordnung selbstabgleichend auszuführen.
  • Gegenüber der zur Messung der Kapazitäten und der dielektnschen Verluste von Prüflingen bekanntgewordenen Scheringbrücke, die gegebenenfalls im Stromkreis des Vergleichskondensators einen komplexen Kompensator aufweisen kann, hat die Anordnung gemäß der Erfindung den Vorteil, daß der Prüfling nicht von Erde isoliert zu sein braucht, d. h. also, daß auch einseitig geerdete Prüflinge, z. B. im Erdboden verlegte Hochspannungskabel, mit ihr geprüft werden können. Es ist zwar schon bekauntgewesen, die Scheringbrücke auch zur Messung der Kapazität und der dielektrischen Verluste von geerdeten Prüflingen verwendbar zu machen, indem sie sozusagen auf den Kopf gestellt wird, d. h. indem die Hochspannung an den Punkt gelegt wird, an dem bisher die Erde lag, und der gegenüberliegende Diagonalpunkt der Brücke, der bisher an der Hochspannung lag, geerdet wird. Diese Abwandlung der Scheringbrücke hat aber den Nachteil, daß der Vergleichskondensator für die volle Prüfspannung vom Erdboden durch Hochspannungsstützer isoliert aufgestellt werden muß und die Regelwiderstände und Regelkondensatoren in einen auf dem Potential der vollen Prüfspannung befindlichen Faraday-Käfig eingebaut werden müssen. Dann muß entweder der Beobachter in diesem auf Hoch,spannungspotential befindlichen Käfig untergebracht sein, oder es müssen sämtliche zu regelnden Organe der Meßbrücke mittels langer Isoliergriffe, die die volle Prüfspannung aushalten müssen, be tätigt werden. Bei einer anderen bekannten Abwandlung der Scheringbrücke wird der eine von den beiden Diagonalpunkten, zwiw schen denen das Brückengalvanometer liegt, geerdet. Man kann zwar auf diese Weise auch einseitig geerdete Prüfobjekte messen, ohne daß die Meßapparatur und der Beobachter auf Hochspannung gebracht werden müssen, es ergibt sich jedoch der Nachteil, daß nicht mehr die Kapazität und der Verlustwinkel des Prüflings allein gemessen werden, sondern es geht auch die Verlustkapazität der Zuleitung zwischen Prüftransformator und Prüfobj ekt sowie die verteilte Erdkapazität der Hochspannungswicklung des Prüftransformators und deren Verlustwinkel in die Messung mit ein, da bei dieser Anordnung diese Verlustkapazitäten parallel zu dem Prüfobjekt in der Brücke liegen. Dies hat zur Folge, daß zusätzliche Messungen der Verlustkapazitäten allein durchgeführt werden müssen und daß aus dern Vergleich dieser zusätzlichen Messungen mit der ersten Messung die Kapazität und der Verlustfaktor des Prüfobjektes erst durch Rechnung ermittelt werden können. Auch diese bekannte Anordnung hat also wesentliche Nachteile gegenüber der Anordnung ge mäß der Erfindung.
  • Ein Ausführungsbeispiel für eine Anordnung gemäß der Erfindung ist in der Abb. I schaltungsmäßig dargestellt. Mit K ist der Prüfl,ing (eine Kapazität) bezeichnet, die in Reihe mit der Primärwicklung 1 einer Hochspannungsgegeninduktivität M zwischen Erde E und den Hochspannung,sanschluß A geschaltet ist. Mit C2 ist der Vergleichshochspannungskondensator bezeichnet. F ist ein Feinspannungsableiter, der bei einem etwaigen Durchschlag des Hochspannungskondensators C2 die Meßanordnung gegen Be schädigung schützen soll. Mit G ist eine geerdete elektrostatische Abschirmung bezeichnet, welche Hochspannungsstreulinien von der auf N iederspannungspotential befindlichen Meßeinrichtung fernhält. Man kann in das Dielektrikum zwischen der Primärwicklung 1 und der Sekundärwicklung II der Hochspannungsgegeninduktivität M auch Kondensatoreinlagen zur Feldsteuerung einbauen. Es ist mit den heutigen Mitteln dann möglich, das Dielektrikum einer solchen Kondensatordurchführung so auszugestalten, daß der Verlustfaktor in einem weiten Spannungsbereich völlig konstant ist. Man kann daher eine Kondensatoreinlage herausführen und ihre Kapazität gegen den Hochspannungsbelag an Stelle des Vergleichskondensators C2 benutzen. Die Sekundärwicklung II der Hochspannungsgegeninduktivität M ist durch einen Widerstand R1 belastet. Dieser Widerstand besteht beispielsweise aus einem Schleifdraht, der in Reihe mit einem angezapften Widerstand geschaltet ist. In Reihe mit dem Vergleichshochspannungskondensator C2 ist zwischen die Klemme A und E ein Niederspannungskondensator C4 und ein winkelfreier Widerstand R4 gelegt. Der Widerstand R4 setzt sich aus einem Schleifdraht und einem angezapften Widerstand zusammen.
  • Die Wirkungsweise der in Abb. I darge stellten Einrichtung ist folgende: Die Hochspannung U wird in dem Punkt A an die Meßschaltung angelegt. Der vom PrüflingK aufgenommene Strom JIC durchfließt die Primärwicklung I der Hochspannungsgegeninduktivität M und erzeugt in der Sekundärwicklung II eine elektromotorische Kraft, die um go0 gegen J1C phasenverschoben ist.
  • Schließt man die Sekundärwicklung II über den Widerstand R1, so fließt durch diese ein Strom, der um den Winkel gol°'+£ gegen den Primärstrom JK verschoben ist. Die durch die Belastung der Gegeninduktivität hervorgerufene Abweichung von 8 von der erwünschten 9oo Phasenverschiebung zwischen JK und i1 kann man durch geeignete Bemessung der Schaltungsteile so klein halten, daß der Winkelfehler 8 in vielen Fällen nicht stört. Durch Einfügen eines Widerstandes R mit parallel geschaltetem Kondensator c, wie dies in der Teilzeichnung der Abb. 2 dargestellt ist, oder eines Zusatzkondensators c allein gemäß Abb. 3 der Teilskizze ist es außerdem möglich, den Fehlwinkel 8 auf o abzugleichen, so daß die Phasenverschiebung zwischen der an dem Teil s des reinen Widerstandes R1 abgegriffenen Spannung u1 und dem Primärstrom JK genau 90;6 beträgt. Die Hochspannung U treibt, wie aus demVektordiagramm der Abb. 4 ersichtlich ist, durch den verlustfreien Vergleichshochspannungskondensator C2, den Nie derspannungskondensator C4 und den winkelfreien Widerstand R4 den Strom J2 welcher bei den für Hochspannungsmessungen gebräuchlichen Werten für C2, C4 und R4 gegenüber der Bezugsspannung U um genau go° vorauseilt. Infolgedessen steht der an dem Teil r des Widerstandes R4 abgegriffene Splannungisabfall J2 r genau senkrecht zu U. Weil (R4. w. c4)2 sehr viel kleiner als 1 ist, liegt die zwischen den Punkten B und E auftretende Spannung u = J2 # . C4 genau in Phase mit der Hochspannung U.
  • Wenn man durch Regeln der Widerstandsteile s und r das Nullinstrument VG stromlos macht, so ist der gesuchte Verlustfaktor des Prüflings K gegeben durch tg#K = v . # . C4.
  • Wenn man die Kapazität C4 und die Kreisfrequenz m konstant hält, ist der Verlust--faktor tg8K dem Widerstand r proportional und kann infolgedessen unmittelbar an einer an dem Widerstand r angebrachten Skala abgelesen werden. Es kann aber auch der Niederspannungskondensator C4 regelbar gemacht und der Wert r konstant gehalten werden.
  • Man kann aber auch beide Brückenelemente regeln. Die Größe der Kapazität des Prüflings K kann auf Grund der Widerstandseinstellung s an dem Widerstand R1 aus den Konstanten der Hochspannungsgegeninduktivität und der Brüdoe-nelemente berechnet werF den, so daß man an dem Widerstand 14 eine entsprechende Skala für die Widerstandseinstellung s und damit für die Größe der Kapazität des Prüflings anbringen kann.
  • Durch Vergleich mit bekannten Kapazitäten kann jedoch die Kapazitätsteilung der Skala bei S auch empirisch ermittelt werden.
  • Da der Fehlwinkel e zwischen dem Primärstrom JK und dem Sekundärstrom i2 der Hochspannungsgegeninduktivität M von dem Widerstand ihres Sekundärkreises abhängt und da dieser Widerstand sich bei Verwendung von Kupferdraht für die Sekundärwicklung II und für die Zuleitung mit der Temperatur erheblich ändert, sieht man zweckmäßig eine Temperaturkompensation vor, indem man den Widerstand R1 beispielsweilse aus Manganindraht hiers,telllt und ihn mindestens zehnmal so groß als den Kupferwiderstand der Sekundärwicklung II und der Zuleitungen wählt.
  • Da zur Abgleichung der Schaltung lediglich Regelwiderstände entsprechend eingestellt zu werden brauchen, ist es ohne Schwierigkeiten möglich, die Kompensation,sschaltung in an sich bekannter Weise selbstabgleichend auszuführen. Auch können leicht Schreibgeräte vorgesehen werden, welche die gemessenen Werte der Kapazität und des Verlustfaktors in an sich bekannter Weise aufzeichnen. Und zwar kann die Anordnung so getroffen sein, daß die dem Verlustfaktor und der Kapazität des Prüflings proportionalen Werte der Abgleichelemente durch schreibende Geräte abhängig von der Prüfspannung oder während einer für die Prüfung vorgesehenen Zeitspanne abhängig von der Prüfdauer unter Beibehaltung der Höhe der Prüfspannung aufgezeichnet werden.

Claims (7)

  1. PATENTANSPRÜCHE: I. Anordnung zur Messung der Kapazität und der dielektrischen Verluste von geerdeten Prüflingen, insbesondere bei Hochspannung, mit Hilfe eines an der Spannung des Prüflings (der Bezugsspannung) liegenden Vergleichskondensators und mit Hilfe einer Hochspannungsgegeninduktivität, deren Primärwicklung vom Strom des Prüflings durchflossen wird, in einer Kompensationsschaltung, dadurch gekennzeichnet, daß die Sekundärwicklung der Hochspannungsgegeninduktivität durch einen Widerstand belastet ist und daß der Spannungsabfall an einem veränderlichen Teil dieses Widerstandes über ein Nullinstrument durch zwei senkrecht aufeinander stehende Spannungen kompensiert wird, die aus dem Stromkreis des Vergleichskondensators abgeleitet werden und von denen die eine mit der Bezugs- (hoch-) spannung phasengleich ist oder eine definierte Phasenlage zu ihr hat und von denen mindestens eine regulierbar ist.
  2. 2. Anordnung nach Anspruch I, dadurch gekennzeichnet, daß die an dem Sekundärkreis der Hochspannungsgegeninduktivität abgegriffene Spannung kompensiert wird durch die Spannung eines mit dem Vergleichshondensator in Reihe geschalteten Kondensators und durch den Spannungsabfall eines (fehlwinkelfreien) Widerstandes, der von dem Strom des Vergleichskondensators durchflossen wird.
  3. 3. Anordnung nach den Ansprüchen 1 und 2, dadurch gekenuzeiehnet, daß in den Kreis der Sekundärwicklung der Hochspannungsgegeninduktivität eine Kunstschaltung, insbesondere eine Kapazität, der gegebenenfalls ein Wirkwiderstand parallel geschaltet ist, eingefügt wird, um die Phasenverschie!bung zwischen dem Primärstrom der Hoehspannungsgegeninduktivität und ihrem Sekundärstrom bzw. der an einem Schleifwiderstand abgegriffenen Spannung auf einen bestimmten Wert, insbesondere auf 90C, abzugleichen.
  4. 4. Anordnung nach den Ansprüchen I bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß die im Sekundärkreis der Gegeninduktivität liegenden Widerstände (Schleifdrähte, Widerstand für die Kunstschaltung usw.) aus solchen Widerstandsstoffen hergestellt und so bemessen sind, daß die Temperaturabhängigkeit der Sekundärwicklung der Hochspannungsgegeninduktivität und ihrer Zuleitungen praktisch verschwindet bzw. kompensiert wird.
  5. 5. Anordnung nach Anspruch I oder den folgenden Ansprüchen, dadurch gekennzeichnet, daß in oder an dem Dielektrikum zwischen der Primärwicklung und der Sekundärwicklung der Hochspannungsgegeninduktivität zur Feldsteuerung Kondensatorbeläge vorgesehen sind, von denen einer oder mehrere herausgeführt und als Vergleichskondensator benutzt werden.
  6. 6. Anordnung nach Anspruch I oder den folgenden Ansprüchen, dadurch gekennzeichnet, daß die Kompensationsschaltung selbstabgleichend ausgeführt wird, indem z. B. durch Einfügung einer Verstärker-oder Resonanzschaltung in den Nullzweig eine Schwingung elektrischer Energie erzeugt wird, die in Phase und Amplitude der Schwingung des Nulistromes entspricht und welche ein Antriebsorgan steuert, das die Abgleichelemente in dem Sinn verändert, daß der Nullstrom oder der Ausschlag eines im Nullzweig angeschlossenen Nullinstrumentes kleiner wird.
  7. 7. Anordnung nach Anspruch I oder den folgenden Ansprüchen, dadurch gekennzeichnet, daß die dem Verlust faktor und der Kapazität des Prüflings proportionalen Werte der Abgleichelemente durch schreibende Geräte abhängig von der Prüfspannung oder während einer für die Prüfung vorgesehenen Zeitspanne abhängig von der Prüfdauer unter Beibehaltung der Höhe der Prüfspannung aufgezeichnet werden.
    Zur Abgrenzung des Erfindungsgegenstands vom Stand der Technik sind im Erteilunglsverfahren folgende Druckschriften in Betracht gezogen worden: Archiv für Elektrotechnik, In37, I15 bis I23; Elektrotechnische Zeitschrift. I925, S. II4.
DEK151702D 1938-08-28 1938-08-28 Anordnung zur Messung der Kapazitaet und der dielektrischen Verluste von geerdeten Prueflingen, insbesondere bei Hochspannung Expired DE757167C (de)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DEK151702D DE757167C (de) 1938-08-28 1938-08-28 Anordnung zur Messung der Kapazitaet und der dielektrischen Verluste von geerdeten Prueflingen, insbesondere bei Hochspannung

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DEK151702D DE757167C (de) 1938-08-28 1938-08-28 Anordnung zur Messung der Kapazitaet und der dielektrischen Verluste von geerdeten Prueflingen, insbesondere bei Hochspannung

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE757167C true DE757167C (de) 1953-11-30

Family

ID=7252440

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DEK151702D Expired DE757167C (de) 1938-08-28 1938-08-28 Anordnung zur Messung der Kapazitaet und der dielektrischen Verluste von geerdeten Prueflingen, insbesondere bei Hochspannung

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE757167C (de)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3387208A (en) * 1964-03-16 1968-06-04 Gen Electric Impedance compensated high precision electrical capacitance measuring bridge

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
None *

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3387208A (en) * 1964-03-16 1968-06-04 Gen Electric Impedance compensated high precision electrical capacitance measuring bridge

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE757167C (de) Anordnung zur Messung der Kapazitaet und der dielektrischen Verluste von geerdeten Prueflingen, insbesondere bei Hochspannung
DE956290C (de) Fernmesseinrichtung zur oszillographischen Aufnahme bzw. Registrierung von elektrischen oder mechanischen Vorgaengen
DE1015614B (de) Elektrische Laengenmesseinrichtung
DE411592C (de) Verfahren zur Kompensierung in Wechselstromkreisen
DE506175C (de) Verfahren zur Messung von Wirkkomponenten elektrischer Groessen sowohl bei Niederfrequenz- wie auch insbesondere bei Hochfrequenzanlagen
DE849455C (de) Messeinrichtung fuer Erdungsleiter
DE760038C (de) Anordnung zum Verringern des auf Eisenverluste zurueckzufuehrenden Frequenzfehlers bei Strommessern
DE763502C (de) Schaltungsanordnung zum Messen von Wechselspannungen oder Wechselstroemen mit Verstaerkerroehren
DE566286C (de) Anordnung zur Messung von elektrischen Spannungen, insbesondere von Hochspannungen, mit Hilfe einer Messspule, die den Lade- oder Verschiebungsstrom einer Kapazitaet umschlingt und mit einem Messinstrument verbunden ist
DE941322C (de) Messverfahren zur Dicken- bzw. Abstandsmessung unter Verwendung eines Kondensators, insbesondere eines Plattenkondensators mit beweglichen Platten
DE976469C (de) Schaltungsanordnung zur Anzeige der Unsymmetrie bei Mehrphasen-Wechselstromsystemen
DE679621C (de) Anordnung zur Messung von Widerstandsgroessen mit Hilfe einer Wechselstrommessbruecke
DE690150C (de) Einrichtung zur Verlustmessung an kondensatorartigen Objekten mit Hilfe einer Brueckenschaltung
AT389948B (de) Einrichtung zur spannungsmessung bei hochspannungsanlagen
AT289248B (de) Anordnung zur Messung der magnetischen Eigenschaften ferromagnetischer Werkstoffe
DE901315C (de) Elektrische Messeinrichtung zur Erfassung zur kurzzeitig verweilender Maximalwerte von Strom und Spannung an einem Pruefling
DE2039756A1 (de) Anordnung zur Messung der Lichtbogenleistung und/oder Verbrauchersternspannung im Strang von dreiphasigen Lichtbogenoefen
DE755226C (de) Wechselstromkompensator mit selbsttaetiger Abgleichung unter Ver-wendung elektrodynamischer Messinstrumente als Drehtransformatoren
DE920743C (de) Wechselstrom-Messbruecke
DE498675C (de) Vorrichtung zur Pruefung der durch Erdschlussspulen erzielten Kompensation des Erdschlussstromes
DE943420C (de) Schaltungsanordnung zum Messen elektrischer Wirk- und Scheinwiderstaende
DE1613879B2 (de) Meßanordnung zur Bestimmung der Wicklungstemperatur bei elektrischen Geräten
AT384111B (de) Einrichtung zur spannungsmessung bei hochspannungsanlagen und verfahren zur bestimmung der groesse des komplexen netzwerkes bei einer solchen einrichtung
DE950081C (de) Vorrichtung zur Symmetrieanzeige bei Hochfrequenzgeneratoren mit erdsymmetrischem Hochfrequenzausgang
AT154697B (de) Einrichtung zur Verlustmessung bei kondensatorartigen Objekten mit Hilfe einer Meßbrücke.