DE724040C - Einrichtung zur Erzeugung von Interferenzen - Google Patents
Einrichtung zur Erzeugung von InterferenzenInfo
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- DE724040C DE724040C DESCH119236D DESC119236D DE724040C DE 724040 C DE724040 C DE 724040C DE SCH119236 D DESCH119236 D DE SCH119236D DE SC119236 D DESC119236 D DE SC119236D DE 724040 C DE724040 C DE 724040C
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- glass plate
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B9/00—Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
- G01B9/02—Interferometers
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)
Description
- Einrichtung zur Erzeugung von Interferenzen Die Erfindung betrifft eine Einrichtung zur Erzeugung von Interferenzen des Lichtes durch zwei planparallele Platten gleicher Dicke aus Glas oder einem ähnlichen Material. Sie besteht darin, daß die Platten fest unter einem Winkel von go0 mit den einander entgegengesetzt gerichteten Beleuchtungs- und Beobachtungseinriditungen verbunden sind und daß beide Teilstrahlen nahe beieinanderliegend durch Spiegel in sich zurtickreflektiert und dann an der einen Platte zu einem austretenden Strahl vereinigt werden. Hierbei kann der Interferenzraum sowie die Breite und Lage der Interferenzstreifen durch die Spiegel beliebig verändert werden Die Reflexion der Teilstrahlen eines Interferometers an einem Spiegel ist bekannt und hat den erheblichen Vorteil, daß beispielsweise bei einer Brechungsbestimmung von Flüssigkeiten oder Gasen die Wegunterschiede der Teilstrahlen verdoppelt werden und dadurch die Meßgenauigkeit sich erhöht.
- Dadurch, daß beide parallelen Teilstrahlenbündel dicht nebeneinanderliegen, wird jede Störung durch Temperatur, Erschütterungen usw. vermindert, da beide Strahlenwege gleicherweise beeinflußt werden.
- Bei dem Instrument nach der Erfindung treten Interferenzen im weißen Licht in jeder Entfernung des zu den Teilstrahlen senkrecht stehenden Spiegels auf, da die Teilstrahlen den Gangunterschied Null haben, solange kein Untersuchungsobjelit eingeschaltet ist.
- Der einfallende Lichtstrahl trifft auf die Glasplatte 1 (s. Figur), wo ein Teilstrahl an der Vorderfläche und der andere Teilstrahl an der Rückfläche reflektiert wird. Beide Teilstrahlen treten durch die Glasplatte 2 und kehren nach Reflexion an dem SpiegelS in sich selbst zurück bis zur Glasplatte 2, WO sie an der Vorder- und Rückfläche reflektiert werden, sich wieder vereinigen und miteinander interferieren.
- Der zu interferometrischen Messungen benutzbare Raum befindet sich zwischen der Glasplatte 2 und dem in beliebigem Abstande angebrachten SpiegelS. Zur Steigerung der Lichtstärke der Teilstrahlen kann bei der Glasplatte I die Vorderfläche halbdurchlässig und die Rückfläche voll reflektierend verspiegelt werden.
- Durch diese Einrichtung werden folgende Nachteile bekannter Anordnungen vermieden: Das Michelson-Interferometer benötigt statt des einen Spiegels zwei Spiegel, es sind die senlçrecht zueinander stehenden Teilstrahlen räumlich getrennt, es ist eine I<ompensationsplatte zur Herstellung des Gangunterschiedes Null notwendig, und die gleichen Weglängen der Teilstrahlen mit der Genauigkeit von I bis 2,U. herzustellen, ist außerordentlich schwierig. Die voneinander getrennten Teilstrahlen sind den Störungen durch Erschütterungen, Temperatur usw. ausgesetzt.
- Die Interferenzeinrichtung von Summer benutzt die Interferenzerscheinung zwischen zwei planparallelen Glasplatten mit einem beliebigen Winkel, wobei die Streifenbreite vom Winkel abhängig ist. Mit einer Ävinkeländerung ist auch eine Richtungsänderung der Beleuchtungs- und ESeobachtungseinrichtungen, welche beide nach der gleichen Seite gerichtet sind, verbunden. Bei einem feststehenden Winkel der Platten von go0 ist die Streifenbreite unveränderlich, was eine Einstellung auf günstigste Streifenbreite bei interferometrischen Messungen ausschließt.
Claims (1)
- PATENTANSPRUCH: Einrichtung zur Erzeugung von Interferenzen des Lichtes durch zwei planparallele Platten gleicher Dicke aus Glas oder einem ähnlichen Material, dadurch gekennzeichnet, daß die beiden Platten unter einem feststehenden Winkel von go0 unveränderlich mit den entgegengesetzt gerichteten Beleuchtungs- und Beobachtungseinrichtungen verbunden sind und die .Teilstrahlen an je einem oder an einem gemeinsamen Spiegel in sich zurückreflektiert und dann an der einen Platte wieder zu einem austretenden Strahl vereinigt werden, wobei zur Steigerung der Lichtstärke der Teilstrahlen bei der einen Glasplatte die Vorderfläche halb durchlässig und die Rückfläche voll reflektierend verspiegelt werden kann.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DESCH119236D DE724040C (de) | 1939-09-21 | 1939-09-21 | Einrichtung zur Erzeugung von Interferenzen |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DESCH119236D DE724040C (de) | 1939-09-21 | 1939-09-21 | Einrichtung zur Erzeugung von Interferenzen |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE724040C true DE724040C (de) | 1942-08-28 |
Family
ID=7451149
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DESCH119236D Expired DE724040C (de) | 1939-09-21 | 1939-09-21 | Einrichtung zur Erzeugung von Interferenzen |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE724040C (de) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE965607C (de) * | 1949-03-30 | 1957-06-13 | Prec Mecanique | Interferenzmikroskop |
DE1030059B (de) * | 1955-07-28 | 1958-05-14 | Leitz Ernst Gmbh | Interferometer |
-
1939
- 1939-09-21 DE DESCH119236D patent/DE724040C/de not_active Expired
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE965607C (de) * | 1949-03-30 | 1957-06-13 | Prec Mecanique | Interferenzmikroskop |
DE1030059B (de) * | 1955-07-28 | 1958-05-14 | Leitz Ernst Gmbh | Interferometer |
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