DE2624295A1 - Interferenzlineal - Google Patents

Interferenzlineal

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DE2624295A1
DE2624295A1 DE19762624295 DE2624295A DE2624295A1 DE 2624295 A1 DE2624295 A1 DE 2624295A1 DE 19762624295 DE19762624295 DE 19762624295 DE 2624295 A DE2624295 A DE 2624295A DE 2624295 A1 DE2624295 A1 DE 2624295A1
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interference
ruler
ruler according
scattering structures
interferometer
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DE19762624295
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English (en)
Inventor
Joerg Dipl Ing Willhelm
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Ernst Leitz Wetzlar GmbH
Original Assignee
Ernst Leitz Wetzlar GmbH
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/30Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces
    • G01B11/303Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces using photoelectric detection means

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)

Description

  • Interferenzlineal
  • Die Erfindung hetrifft ein optisches Lineal, das unter Verwendung der bekannten Interferenzerscheinungen als Fluchtungslineal oder zur Vermessung der Ebenheit von Flachen usw. vcrwendet werden kann.
  • Derartige optische Lineale sind bereits bekannt. So ist ein optisches Lineal bekannt, hei dem die Interferenz durch ein Biprisma oder ähnliche optische Mittel erzwungen wird. Diese Anordnung hat jedoch den Nachteil, daß sie sehr geringe Helligkeit besitzt iud von Luftbewegungen, beispielsweise Luftschlieren, nicht unabhängig ist.
  • Ferner ist eine Anordnung als Ehenbeitsinterferometer bekanntgeworden, mit welcher die Formabweichung von einer Geraden bzw. von der Ebene einer Pruflingsoberfläche mittels des Prüfstrahls eines in Pruf- und Vergleichsstrahl aufgespaltenen, monochromatischen Lichtstrahls erfaßt wird.
  • Nach der Reflexion des Prtif- ind des Vergleichsstrahless an den Spiegeln dicser Anordnung interferieren die beiden Tellstrahlenbündel in einem Kösters-Prisma. Formabweichungen von der Zll prüfenden Oberfläche bewirken zwischeii den beiden Teilstrahlenbündeln optische Wegunterschiede. Diese werden als Strei fenaus lenkungen im Interferenzbild sichtbar und sind ein Maß für die Formabweichung.
  • Obwohl mit einer solchen Einrichtung eine berührungslose Messing durchgeführt werden kann, mit welcher Formabweichungen über die gesamte Prüfungslänge- und fläche erfaß- bar sind, ist der große für die Justierung der -Einrichtung erforderliche Aufwand ebenso von Nachteil wie der s chwiuguncs enipfind liche Aufbau der Anordnung.
  • Weiterhin ist bereits ein optisches Lineal beschrieben, welches die Formabweichung einer Prüflingsoberfläche, unter Verwendung eines Doppelspalt-Interferometers, erfaßt.
  • Hier werden die beiden Teilstrahleubündel durch einen vor den Referenzspiegeln angeordneten Doppelspalt gebeugt. Die nach der Beugung parallelen Teilstrahlenbündel werden vereinigt. Es entstehen Frauenhofersche Iuterferenzen, die mit tels eines Fernrohres beobachtet werden. Der Aufbau ist weitgehendst erschütterungsfrei und besitzt einen großen Meßbereich. Unvorteilhaft für ein solches Gerät ist der große technische Umfang sowie der für die Justierung erforderliche größe Aufwand.
  • Zur Messung von Geradführungen und dergleichen ist in der DT-PS 1 013 436 ein optisches Lineal beschrieben, dessen Meßprinzip auf der Beobachtung stationärer Interferenzstreifen beruht, welche mittels eines Fresnel'schen fliprismas oder mit tels eines Fresnel-Spiegels erzeugt werden. Dort wird auch vorgeschlagen, die Beobachtung der entstehenden Interferenzstreifen mit einer Fotozellenanordnung durchzuführen. Jedoch ist der für eine Meßeinrichtung dieser Art erforderliche grosse technische Aufwand von Nachteil.
  • Ferner ist in der DT-PS 1 o99 185 ein Interferenzlineal beschrieben, mit welchem Abweichungen vpn einer Geraden bzw-. von der Ebene einer Prüflingsfläche dadurch gemessen werden, daß die Änderugen der Hbhenlage eines Winkelspiegels, der mit einem auf der Prüflingsoberfläche gleitenden Meßschlitten fest verbunden ist, eine Änderung des Interfer,enzbildes in.
  • einem Kösters-Prisma bewirken und daß diese Änderungen mit Hilfe einer über eine Meßschraube verstellbaren Kompensationsplatte ausgeglichen werden. Die Ausgleichsgröße ist ein Maß fiir die Meßgroße. Diese Einrichtuyig hat den Vorteil, daß Gangunterschiede zwischen den einzelnen primären Lichtwellen nahe Null sind und daß daher ein Arbeiten mit weißem Licht möglich ist. Jedoch ist auch hier der erforderliche, technische Aufwand sehr hoch, wobei insbesondere die notwendige hohe Herstellgenauigkeit des eingesetzten Prismas nach Kösters zu erwähnen ist.
  • Daher stellt sich für die Erfindung die Aufgabe, eine Einrichtung zur Vermessung von Geraden und Flächeneben#heiten zu schaffen, welche alle Vorteile der vorbeschriebenen Meßgeräte nutzend nd ohne mit deren Nachteilen behaftet zu sein sich durch Einfachheit und Kompaktheit des Aufbaues auszeichnet. Außerdeni sollen die auftretenden Interferenzen mittels einer fotoelektrischen Anordnung auswertbar sein.
  • Erfindungsgemäß wird die Aufgabe bei einem Intenferenzlineal der eingangs genannten Art dadurch gelöst, daß dieses Interferenz lineal eine Strahlenumkehr bewirlcencle, optische Mittel umfaßt, vor denen Streustrukturen angeordnet sind, welche die von einer Beleuchtungseinrichtung ausgehenden Strahlenbündel aufspalten, umlenken und wiedervereinigen und daß eine Beobachtungseinri-chtung zur Auswertung der durch die mittels der Streustrukturen erzeugten Interferenzen entstehenden Modulationen vorgesehen ist.
  • Es erweist sich als besonders vorteilhaft, wenn die die Strahlumkehr bewirkenden optischeti Mittel und die Streus-trukturen je in getrennten Baugruppen zusammengefaßt sind, und die Beleuchtungs- und Beobachtungseinrichtung zusammen eine Baueinheit bilden.
  • Als optisches Mittel zur Strahlenitmkehr'ist ein kippungsunempfindliches Bauelement vorgesehen. Dazu Jcann ein Winkelspiegel oder -prisma eingesetzt werden. Bs ist aber auch möglich, daß zur Strahlenumkehr ein Tripel-Spigel verwendet ist oder daß ein Kollimator und ein in seinem Brennpunkt angeordneter PLanspiegel zur Strahlenumkehr eingesetzt wird oder daß ein Hohlspiegel und ein in seinem Brennpunkt angeordneter Planspiegel benutzt wird, um die Strahlenumkehr zu bewirken.
  • In weiterer Ausgestaltung des Erfindungsgegenstandes ist vorgesehen, daß die die Strahlenumkehr bewirkenden optischen Mittel in bekannter Weise mit einem Meßtaster verbunden sind Zur Aufspaltung, Umlenkung und Wiedervereinigung und damit zur Interferenzbildung der von der Beleuchtungseinrichtung ausgehenden Strahlen sind mindestens zwei Streustrukturen vorgesehen. Diese können durch Gitter, sowohl Phasen- als auch Amplitudengitter, realisiert sein. Mindestens eine von Ihnen kann dadurch ein Ultraschallfeld, wie beispielsweise in der DT-OS 2 237 564 beschrieben, gegeben sein. Außerdem können die Streustrukturen in zwei Koordinateurichtungen beugende Eigenschaften besitzen.
  • Mit dem Erfindungsgegenstand ist es auch möglich, die Richtung der Abweichung erkennbar zu machen. Zu diesem: Zweck können zusätzliche Mittel vorgesehen sein, mit welchen mindestens zwei in der Interferenzphase zueinander verschobene S-ignale erzeugt werden, aus denen dann in bekannter Weise die Richtung der Abweichung ermittelbar ist. Zum gleichen Zwecke können aber auch trägerfrequente Signale erzeugt werden. Dies geschieht beispieLsweise dadurch, daß Mittel vorgesehen sind, durch welche die Phasenlage des InterferenzsignaL9 eine periodische Änderung erfährt. Das wird beispielsweise dadurch erreicht, daß die die Strahlen aufspaltende und wiedervereinigende Streustruktur in Bewegung versetzt wird oder daß vor dem Strahl- umkehrende Mittel eine -um eine Achse hin- und herschwingende Planparallelplatte angeordnet ist. Beim Erfindungsgegenstand ist es denkbar, daß Beleuchtungs- und Deobachtungseinrichtung als Autokollimations-Fernrohr ausgebildet sind. Der anzustrebenden Kompaktheit der Meßeinrichtung wegen wird jedoch der Vorzug einer Beobachtungseinrich;tung gegeben, welche vorzugsweise mehrere fotoelektrische Empfänger mit einer nachgeschalteten Auswertestufe enthält, die zur -Mittelwertbildung geeignet ist, so daß instationäre Einflüsse durch Luftschlieren eliminiert werden.
  • Der besondere Vorteil dieses Interferenzlineals liegt darin, daß ein Arbeiten mit Weißlichtinterferenzen mogiich ist, da "Meß"- und "Referenzstrahl" gleiche Wege durchlaufen.
  • Ferner kann als Vorzug angesehen werden, daß durch die strahlumkehrenden Mittel wie z.B. Winkelspiegel oder -prisma, an der die Strahlen vereinigenden Streustruktttr eine Verdoppelung der durch die Abweichungen von der Geraden bzw. Flächenebenheit bewirkten itöhendifferenzen auftritt, wodurch eine exaktere Auswertung durch die Beobachtungseinrichtung erfolgen kann.
  • In der Zeichnung ist die Erfindung in einem Ausführungsbeispiel schematisch dargestellt und nachfolgend beschrieben: Das neue optische Lineal umfaßt eine Lichtquelle 2, die mit einem Teilerspiegel 3 und einer Kondensorlinse 4 eine Beleuchtungseinrichtung bildet und paralleles Licht ausstrahlt, das mittels eines Gitters 5 in mindestens zwei Teilstrahlen aufgespalten wird-.
  • Sin dem Gitter 5 nachfolgendes weiteres Gitter 6 lenkt die Teilstrahlen um, so daß sie als paralleles Bündel auf einen Winkelspiegel oder -prisma 7 fallen, welcher an einem Meßschlitten 8 befestigt ist. Dieser ist mit starr verbundenen Tastern 9, lo versehen und in Richtung des Doppelpfeiles 11 verschiebbar auf die zu prüfende Oberfläche 1 aufgesetzt.
  • Der Winkklspiegel 7, der z.B. auch durch einen Tripel-Spiegel oder andere eine Strahlumkehrung bewirkende Mittel ersetzt werden kann, reflektiert die Teilstrahlen zun Gitter 6, durch welches sic zum Gitter 5 umgelenkt werden. An diesem vereinigen sich die Teilstrahlen wieder.
  • Das durch die Interferenz bei der Rückmischung eutstehende modulierte Licht wird über die Kondensorlinse 4 und den Teiier 3 den Fotoempfängern 12, 13, 4 einer Beobachtungseinrichtung zugeführt, die weiterhin eine Auswertestufe 16 enthält, und die von den fotoelektrischen Enipfängern agbegebenen elektrischen Signale zum Zwecke der Anzeige verarbeitet.
  • Durch ctie Strahlumkehrung am Winkelspiegel 7 wird bewirkt, daß eine Verschiebung k z des Meßschlittens 8 in Richtung des DoppeLpfeiles 15 eine Verlagerung des Vereinigungspunktes am Gitter 5 um 2# z in Bezug auf den Aufspaltnngspunkt am Gitter 5 hervorruft.
  • Soll das optischen Lineal auch zur Erkennung der Richtung der Abweichung von einer Geraden bzw. Flächenebenheit verwendbar sein, so greift; am Gitter 5 ein gestrichelt dargestellter Autrieb 17 au, der das Gitter 5 in Richtung des Doppelpfeiles 1 in schwingende Beweglln; versetzt, wodurch in den Schwingungen des Lichtes eine Phasenverschiebung erfolgt, aus deren Vor-bzw. Nachteiletl die Abweichrichtung ermittelbar ist.

Claims (13)

  1. Ansprüche 1. Interferenzlineal zur Messung von Abweichungen von Geraden und Flächenebenheiten mit Interferenzerzeugung nach Art eines zyklischen Interferometers, dadurch gekennzeichnet, daß dieses Interferometerlineal eine Strahlenumkehr bewirkende optische Mittel (7) umfaßt vor denen Streustrukturen (5; 6) angeordnet sind, welche die von einer Beleuchtungseinrichtung @; (2; 4) ausgehenden StrahLenbündel aufspalten, umlenken und wiedervereinigen, und daß eine Beobachtungseinrichtung (12; 13; 1) zur Auswertung der durch die mitteLs der Streustrukturen (5; 6) erzeugten Interferenzen entstehenden Modulationen vorgesehen ist.
  2. 2. Interferenziineai nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die die Strahlenumkehr bewirkenden optischen Mittel (7) und die Streustrukturen (5; 6) in getrennten Baugruppen zusammengefaßt sind.
  3. 3. Interferenzlineal nach den Ansprüchen 1 und 2, dadurch gekennzeichnet, daß als optisches Mittel zur Strahlenumkehr ein kippungsunempfindliches Bauelement (7) vorgesehen ist.
  4. 4. Interferenzlineal nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß die die Strahtumkehr bewirkenden optischen Mittel (7) in an sich bekannter Weise mit einem Meßtaster t9; 10) verbunden sind.
  5. 5. Interferenzlineal nach den Ausprüchen 1 und 2, dadurch gekennzeichnet, daß minflestens zwei Streustrukturen (5; 6) vorgesehen sind.
  6. 6. Interferenzlineal nach den Ansprüchen 1, 2 oder 5, dadurch gekennzeichnet, daß die Streustrukturen (5; 6) in zwei Koordinatenrichtungen beugende- Eigenschaften besitzen.
  7. 7. Interferenzlineal nach den Ansprüchen 1, 2, 5 oder 6, dadurch gekennzeichnet, daß die Streustrukturen durch Gitter (5; 6) dargesteLlt sind.
  8. 8. Interferenzlineal nach den Ansprüchen 1, 2 oder 5, dadurch gekennzeichnet, daß mindestens eine der Streustrukturen durch ein Ultraschallfeld gegeben ist.
  9. 9. Interferenziineai nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Beleuchtungs- (2; 4) und Beobachtnngseinrichtu.ng (12; 13; 14) eine Baueinheit bilden.
  10. 10. Interferenzlineal nach Anspruch l, dadurch gekennzeichnet, daß zusätzliche Mittel vorgesehen sind, mit welchen mindestens zwei in der Interferenzphase zueinander verschobene Signale erzeitgt werden, aus denen in bekannter Weise die Richtung der Abweichung ermittelbar ist.
  11. 11. Interferenzlineal nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß zur Erzeugung trägerfrequenter Signale Mittel vorgesehen sind, durch welche die Phasenlage des Interferenzsignais eine periodische Änderung erfährt.
  12. 12. Interferenzlineal nach einem der Ansprüche 1 bis 11, da-.
    durch gechennzeichnet, daß die Beobachtungseinrichtung vorzugsweise mehrere fotoelektrische Empfänger (t2; 13; 14) mit einer nachgeschalteten Auswertestufe enthält.
  13. 13. Interferenzlineal nach Anspruch 12, dadurch gekennzeichnet, daß die Auswertestufe zur Mittelwertbildung geeignet ist.
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4227807A (en) * 1978-04-28 1980-10-14 The Boeing Company Holographic angle sensor
FR2488396A1 (fr) * 1980-08-07 1982-02-12 Onera (Off Nat Aerospatiale) Procede et dispositifs optiques pour la determination d'un parametre d'attitude d'un corps
DE3632922A1 (de) * 1986-09-27 1988-04-07 Zeiss Carl Fa Interferometer fuer geradheitsmessungen
DE3738770A1 (de) * 1986-09-27 1989-06-01 Zeiss Carl Fa Interferometer fuer geradheitsmessungen

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