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Technisches Gebiet
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Die
vorliegende Erfindung betrifft einen optischen Speicherkopf zur
Ausführung
der Reproduktion und/oder der Aufnahme hochdichter Informationen
unter Verwendung von Nahfeldlicht.
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Hintergrund der Erfindung
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Bisher
wurde ein Sondenmikroskop (SPM) vom Abtasttyp, das durch ein Tunnelmikroskop (ATM)
vom Abtasttyp oder ein Rasterkraftmikroskop (AFM) ausgebildet sein
kann, zur Beobachtung eines sehr kleinen Bereichs in der Nanometer-Größenordnung
an einer Oberfläche
einer Probe verwendet. Durch das SPM kann ein Bild mit einer von
einer Form eines vorderen Endes einer Probe abhängigen Auflösung durch Abtasten der Sonde
mit einer sich verjüngenden
Vorderkante oberhalb einer Oberfläche einer Probe mit einer Wechselwirkung
des Tunnelstroms, der Rasterkraft oder Ähnlichem, welche zwischen der
Probe und der Oberfläche
der Probe als Beobachtungsgegenstand hervorgerufen werden, bereitgestellt
werden, die wahrzunehmende auf die Probe auferlegte Beschränkung ist
jedoch vergleichsweise streng.
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Daher
richtet sich die Aufmerksamkeit aktuell auf ein optisches Nahfeldmikroskop,
das die Beobachtung eines sehr kleinen Bereichs auf einer Oberfläche einer
Probe durch Ausbilden eines Beobachtungsgegenstands durch eine zwischen
dem auf der Oberfläche
der Probe und einer Sonde ausgebildeten Wechselwirkung unter Verwendung
des sich ausbreitenden Lichts ermöglicht.
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Durch
ein optisches Nahfeld-Mikroskop wird sich ausbreitendes Licht auf
eine Oberfläche
einer Probe gestrahlt, um dadurch Nahfeldlicht zu erzeugen. Das
erzeugte Nahfeldlicht wird durch eine Sonde mit einem sich verjüngenden
Ende gestreut und das gestreute Licht wird ähnlich wie die herkömmliche
Detektion sich ausbreitenden Lichts verarbeitet, wodurch die Grenze
der Beobachtungsauflösung durch
ein herkömmliches
optisches Mikroskop überschritten
und die Beobachtung eines kleineren Bereichs ermöglicht wird. Durch Durchstimmen
der Wellenlänge
des beleuchteten Lichts auf eine Oberfläche einer Probe wird ferner
ebenfalls die Beobachtung der optischen, physikalischen Eigenschaften
der Probe in einem sehr kleinen Bereich ermöglicht.
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Im
Falle eines optischen Nahfeld-Mikroskops wird häufig eine optische Fasersonde
verwendet, die mit einer sehr kleinen Apertur an deren vorderen Ende
bereitgestellt ist und durch Verjüngen einer optischen Faser
und durch Beschichten einer Umgebung derselben mit einem Metall
hergestellt wird, und gestreutes Licht, das durch den Betrieb der
optischen Fasersonde wechselwirkend mit Nahfeldlicht erzeugt wird,
tritt durch einen Innenabschnitt der optischen Fasersonde hindurch
und wird zu einem optischen Detektor geleitet.
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Ferner
kann die Beobachtung einer Oberfläche ebenfalls durch auf eine
Probe über
eine optische Fasersonde einfallendes Licht, um dadurch Nahfeldlicht
an einer sehr kleinen Apertur der optischen Fasersonde zu erzeugen,
und durch Führen des
durch eine Wechselwirkung des Nahfeldlichts mit einer Fein-Struktur
einer Probenoberfläche
entstandenen verteilten Lichts zu einem optischen Detektor unter
Verwendung eines zusätzlichen
Fokussierungssystems durchgeführt
werden.
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Ferner
wird Nahfeldlicht nicht nur für
ein Mikroskop verwendet, sondern ist auch auf eine hochdichte optische
Speicheraufzeichnung anwendbar, in der Nahfeldlicht mit einer hohen
Energiedichte bei einer sehr kleinen Apertur einer optischen Fasersonde durch
Einfallen des Lichts mit einer vergleichsweise hohen Intensität an einer
Probe über
eine optische Fasersonde erzeugt wird und eine Struktur oder physikalische
Eigenschaften einer Oberfläche
der Probe durch das Nahfeldlicht lokal verändert werden.
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Als
in einem optischen Nahfeldmikroskop verwendete Sonde wurde beispielsweise
eine im
US-Patent Nr. 5.294.790 offenbarte
optische Sonde vom Auslegertyp vorgeschlagen, in der ein Siliziumsubstrat
mit einem Aperturabschnitt, der in das Substrat eindringt, durch
Halbleiterherstellungstechniken der Photolithographie usw. ausgebildet
ist, ein Isolierfilm an einer Seite des Siliziumsubstrats ausgebildet ist
und eine optische Wellenleiterschicht mit einer konischen Form ist
auf einem Isolierfilm auf der dem Aperturabschnitt gegenüberliegenden
Seite ausgebildet. In Übereinstimmung
mit der optischen Sonde vom Auslegertyp wird eine optische Faser
in den Aperturabschnitt eingeführt
und Licht kann durch eine sehr schmale Apertur übertragen werden, die durch
Beschichten eines Metallfilms unter Aussparung eines vorderen Endabschnitts
einer Lichtleitungsschicht, ausgebildet wird.
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Ferner
wurde die Verwendung einer planaren Sonde vorgeschlagen, die keine
verjüngte
vordere Kante wie die oben beschriebene Sonde aufweist. Durch die
planare Sonde ist eine Apertur mit einer Struktur einer umgedrehten
Pyramide in einem Siliziumsubstrat durch anisotropes Ätzen ausgebildet,
insbesondere die Spitze derselben ist mit einem Durchmesser von
einigen zehn Nanometern bereitgestellt und dringt in das Siliziumsubstrat
ein. Durch eine solche planare Sonde ist die Ausbildung einer Vielzahl derselben
auf demselben unter Verwendung von Halbleiterherstellungstechniken,
also die Anordnungsbildung, vereinfacht, insbesondere kann die planare
Sonde als optischer Speicherkopf verwendet werden, der zur Reproduktion
und zur Aufzeichnung eines Nahfeldlicht verwendenden optischen Speichers
geeignet ist.
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Die
optische Fasersonde ist jedoch mit einem geschliffenen vorderen
Ende bereitgestellt und die mechanische Stärke ist demgemäß nicht
ausreichend, was für
die Massenproduktion und die Anordnungsbildung nicht geeignet ist.
Ferner ist das gestreute Licht, das durch Nahfeldlicht bereitgestellt wird,
sehr schwach und daher ist eine Vorrichtung zur Bereitstellung einer
ausreichenden Lichtmenge an einer Detektionseinheit nötig, wenn
das gestreute Licht durch Hindurchtreten durch eine optische Faser detektiert
wird. Wenn eine ausreichende Stärke
des Nahfeldlichts durch Hindurchtreten durch eine optische Faser
erzeugt wird, wird ferner eine Vorrichtung zur Lichtfokussierung
auf einen sehr kleinen Aperturabschnitt der optischen Faser notwendig.
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In Übereinstimmung
mit der optischen Sonde vom Auslegertyp werden ferner der Empfang
von gestreutem Licht von der Lichtleitungsschicht und der Einfall
von sich ausbreitendem Licht in die Lichtleitungsschicht durch Einführen einer
optischen Faser in den Aperturabschnitt erzielt und daher kann keine ausreichende
Lichtmenge ohne Verluste zwischen der Lichtleitungsschicht und der
optischen Faser übertragen
werden.
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In Übereinstimmung
mit der optischen Sonde vom Auslegertyp, ist die Anordnungsbildung,
besonders der Anordnungsbildung einer zweidimensionalen Anordnung,
schwierig zu realisieren. Ferner ist der ursprüngliche Zweck die Verwendung
für ein
Mikroskop und demgemäß erfolgten
keinerlei Überlegungen
in Richtung Aufzeichnung und Reproduktion von Informationen eines
optischen Speichers und Hochgeschwindigkeits-Durchstimmen auf einem
Aufzeichnungsmedium ist schwierig.
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Wenn
die optische Fasersonde, die optische Sonde vom Auslegertyp und
die planare Sonde als optische Speicherköpfe verwendet werden, werden diese
Sonden entweder nur zur Informationsaufzeichnung oder zur Informationsreproduktion
als Voraussetzung verwendet. Wenn die optische Fasersonde beispielsweise
zur Informationsaufzeichnung in einem Aufzeichnungsmedium verwendet
wird, um die im Aufzeichnungsmedium aufgezeichneten Informationen
wieder zu reproduzieren, werden ein Nahfeldlicht-Erzeugungssystem
zur Erzeugung von Nahfeldlicht in einem Aufzeichnungsmedium sowie
ein Nahfeldlicht-Detektionssystem zum Verteilen des erzeugten Nahfeldlichts
und zum Leiten des verteilten Lichts zu einem optischen Detektor
benötigt.
Um die hochdichte Informationsaufzeichnung und –reproduktion unter Verwendung
einer solchen Sonde durchzuführen,
wird die Zusammensetzung der Vorrichtung komplizierter und die Kosten
steigen ebenfalls an.
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Wenn
die optische Fasersonde, die optische Sonde vom Auslegertyp und
die planare Sonde als optische Speicherköpfe zur Reproduktion aufgezeichneter
Informationen in einem Aufzeichnungsmedium verwendet werden, ist
es üblich,
dass diese Sonden entweder nur zur Nahfeldlichterzeugung, verwendet
zur Erzeugung von Nahfeldlicht in einem Aufzeichnungsmedium, oder
zur Nahfeldlichtdetektion, verwendet zur Verteilung des erzeugten
Nahfeldlichts und zum Leiten des verteilten Lichts zu einem optischen
Detektor, verwendet werden und es ist schwierig, die Informationsreproduktion
nur durch die Zusammensetzungen der Sonden durchzuführen.
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Durch
die planare Sonde wird ferner in einem Zustand, in dem die sehr
kleine Apertur nahe an einem Aufzeichnungsmedium ausgebildet wird,
kein ausreichender Raum zwischen der Umgebung der sehr kleinen Apertur
und dem Aufzeichnungsmedium bereitgestellt und daher kann Nahfeldlicht
eines Reflexionstyps zur Erzeugung von Nahfeldlicht in ähnlicher
Weise an einer Oberfläche
des Aufzeichnungsmedium durch Ausstrahlen von Licht auf eine Oberfläche des
Aufzeichnungsmediums nicht verwendet werden.
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Die
US4725727 zeigt einen Wellenleiter
für ein
optisches Nahfeldmikroskop, das Nahfeldlicht durch Hindurchtreten
von Licht durch einen optisch transparenten Körper, wie etwa eine optische
Faser, erzeugt, so dass es an einer Spitze an einem Ende vorhanden
ist. Von einem Gegenstand reflektiertes Nahfeldlicht wird über einen
Wellenleiter zu einer Photodiode geleitet.
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EP0688014 zeigt einen optischen
Kopf zur Datenaufzeichnung/-reproduktion, der gedämpftes Licht
durch Übertragung
von Licht durch eine konische Glassonde erzeugt, so dass es an dem
Spitzenabschnitt vorhanden ist und mit einem optischen Aufzeichnungsmedium
wechselwirkt.
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Offenbarung der Erfindung
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Gemäß der vorliegenden
Erfindung wird ein optischer Nahfeld-Speicherkopf nach Anspruch
1 bereitgestellt.
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Daher
können
die Bildung des Nahfeldlichts durch Ausstrahlen von Licht von dem
Seitenabschnitt des Substrats zum Aufzeichnungsmedium über den Lichtwellenleiterweg
und das Herausnehmen von sich verbreitendem Licht, das durch die
Wechselwirkung des ausgebildeten Nahfeldlichts und der sehr kleinen
Apertur erzeugt wird, auf demselben Substrat durchgeführt werden.
Demgemäß kann die
vorliegende Erfindung ermöglichen,
dass ein optischer Nahfeld-Speicherkopf,
der erzeugt werden soll, eine kompakte Zusammensetzung aufweist
und für
die Massenproduktion zur Durchführung
der Informationsaufzeichnung und – reproduktion eines optischen Speichers,
der Nahfeldlicht verwendet, geeignet ist.
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Kurzbeschreibung der Zeichnungen
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1 ist
eine Schnittansicht eines optischen Nahfeld-Speicherkopfs gemäß Ausführungsform
1 der Erfindung.
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2 ist
eine Ansicht zur Erläuterung
der Anordnungsbildung der optischen Nahfeld-Speicherköpfe gemäß Ausführungsform 1 der Erfindung.
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3 ist
eine Schnittansicht eines optischen Nahfeld-Speicherkopfs gemäß Ausführungsform 2 der
Erfindung.
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4 ist
eine Ansicht zur Erläuterung
der Anordnungsbildung der optischen Nahfeld-Speicherköpfe gemäß Ausführungsform 2 der Erfindung.
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5 ist
eine Schnittansicht eines optischen Nahfeld-Speichertopfs gemäß Ausführungsform
3 der Erfindung.
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6A und 6b veranschaulichen
Ansichten zur Beschreibung eines modifizierten Beispiels des optischen
Nahfeld-Speicherkopfs gemäß Ausführungsform
3 der Erfindung.
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7 ist
eine Schnittansicht eines optischen Nahfeld-Speichertopfs gemäß Ausführungsform
4 der Erfindung.
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8A und 8b veranschaulichen
Ansichten zur Erläuterung
einer Anordnungs-Bildung der
optischen Nahfeld-Speicherköpfe
gemäß Ausführungsform
4 der Erfindung.
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9 ist
eine Schnittansicht eines optischen Nachfeld-Speicherkopfs gemäß Ausführungsform
5 der Erfindung.
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10A und 10b veranschaulichen
Ansichten zur Beschreibung eines modifizierten Beispiels des optischen
Nahfeld-Speicherkopfs gemäß Ausführungsform
5 der Erfindung.
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11 ist
eine Schnittansicht eines optischen Nahfeld-Speicherkopfs gemäß Ausführungsform
6 der Erfindung.
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12 ist
eine Ansicht zur Darstellung eines modifizierten Beispiels des optischen
Nahfeld-Speicherkopfs gemäß Ausführungsform
6 der Erfindung.
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13 ist
eine perspektivische Ansicht eines optischen Nahfeld-Speicherkopfs
gemäß Ausführungsform
7 der Erfindung.
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14 ist
eine Schnittansicht des optischen Nahfeld-Speicherkopfs gemäß Ausführungsform
7 der Erfindung.
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15 ist
eine perspektivische Ansicht des optischen Nahfeld-Speicherkopfs
gemäß Ausführungsform
7 der Erfindung.
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16 veranschaulicht
Stufendiagramme des optischen Nahfeld-Speicherkopfs gemäß Ausführungsform
7 der Erfindung.
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17 ist
ein Diagramm zur Darstellung der Herstellungsschritte gemäß Ausführungsform
7 der Erfindung.
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Beste Ausführungsform der Erfindung
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Eine
detaillierte Erläuterung
der Ausführungsformen
eines optischen Nahfeld-Speicherkopfs gemäß der Erfindung
erfolgt unter Bezugnahme auf die Zeichnungen.
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[Ausführungsform
1]
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1 zeigt
eine Schnittansicht eines optischen Nahfeld-Speicherkopfs gemäß
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Ausführungsform
1 der Erfindung. In Übereinstimmung
mit einem optischen Nahfeld-Speicherkopf 11 von 1,
wird ein Siliziumsubstrat 2 ausgebildet, so dass ein sich
verjüngender
Aperturabschnitt 3, der in das Substrat eindringt, mit
einer sehr kleinen Aptertur 4 bereitgestellt ist. Die sehr
kleine Apertur 4 ist mit einem Durchmesser von beispielsweise
einigen zehn Nanometern bereitgestellt, so dass die sehr kleine
Apertur 4 mit dem in der Nähe der sehr kleinen Apertur 4 erzeugten
Nahfeldlicht wechselwirkt, und dass sich verbreitende Licht 10 als Ergebnis
desselben herausgenommen werden kann. In diesem Fall ist ein optischer
Wellenleiterpfad, umfassend einen Kern 5 und ein Mantel 6,
an einem Abschnitt eines Aperturrandabschnitts des sich verjüngenden
Aperturabschnitts 3 ausgebildet. In Übereinstimmung mit dem optischen
Wellenleiterpfad bildet eine Endfläche (Lichteinfallfläche) desselben
eine Endfläche
des optischen Nahfeld-Speicherkopfs 11, die andere Endfläche (Lichtemittierfläche) ist
an dem Aperturrandabschnitt der sehr kleinen Apertur 4 angeordnet
und der Einfall des Beleuchtungslichts 9 auf die Lichteinfallfläche des
Kerns 5 aufgrund einer Lichtquelle 8 wird in die
Nähe der
sehr kleinen Apertur 4 geleitet. Ferner ist eine Lichtabschirmschicht 7 zum
optischen Abschirmen des Beleuchtungslichts 9, das durch
die Innenseite des optischen Wellenleiterpfads hindurchtritt, auf
Oberflächen
des Siliziumsubstrats 2 und des sich verjüngenden
Aperturabschnitts 3 ausgebildet.
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Der
sich verjüngende
Aperturabschnitt 3, der Kern 5 und der Mantel 6 werden
durch Mikroverarbeitung unter Verwendung von Photolithographie,
anisotropem Siliziumätzen
oder Ähnlichem
etwa während eines
Halbleiterherstellungsverfahrens ausgebildet. Ferner ist die Lichtabschirmschicht 7 ein
Film aus einem Metall, etwa Au/Cr, etc., und wird durch Sputterabscheidung
oder Vakuumabscheidung bereitgestellt. Ferner kann die Lichtquelle 8 direkt
auf der Lichteinfallfläche,
wie etwa als Oberflächenemittierlaser,
angeordnet sein. Ferner kann auf die Lichtabschirmschicht 7 verzichtet
werden, wenn das Siliziumsubstrat 2 mit einer für die Wellenlänge des
Beleuchtungslichts 8 ausreichenden Lichtabschirmleistung
bereitgestellt wird.
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Als
Nächstes
folgt eine Erklärung
eines Verfahrens zur Anordnung des optischen Nahfeld-Speicherkopfs 11,
wie oben beschrieben, auf einem Aufzeichnungsmedium 1 und
zur Durchführung
der Informationsreproduktion an der sehr kleinen Apertur 4.
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In
diesem Fall liegt das Aufzeichnungsmedium 1 als ein planares
Substrat beispielsweise in Form einer kreisrunden Platte vor und
der optische Nahfeld-Speicherkopf 11 ist
an einer oberen Fläche desselben
angeordnet. Die sehr kleine Apertur 4 und das Aufzeichnungsmedium 1 haben
nahe beieinander bis zum Grad eines Durchmessers der sehr kleinen
Apertur 4 zu sein, um die sehr kleine Apertur 4 des
optischen Nahfeld-Speicherkopfs 4 in Wechselwirkung mit
dem nahe der sehr kleinen Apertur 4 erzeugten Nahfeldlicht
zu betreiben. Daher ist ein Schmierstoff zwischen den optischen
Nahfeld-Speicherkopf 11 und dem Aufzeichnungsmedium 1 eingefüllt und
der optische Nahfeld-Speicherkopf 11 ist ausreichend dünn ausgebildet,
wodurch ein Abstand zwischen dem optischen Nahfeld-Speicherkopf 11 und
dem Aufzeichnungsmedium 1 unter Verwendung der Oberflächenspannung
des Schmiermittels ausreichend klein gehalten werden kann. Ferner
kann ebenfalls das Biegen des Aufzeichnungsmediums 1 folgen.
Ferner kann die Position des optischen Nahfeld-Speicherkopfs 11 derart
kontrolliert werden, dass die sehr kleine Apertur 4 an
einer gewünschten Position
auf dem Aufzeichnungsmedium 1 durch einen Steuermechanismus
des optischen Nahfeld-Speicherkopfs (nicht abgebildet) angeordnet werden
kann.
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Ferner
kann der nahe Zustand des optischen Nahfeld-Speicherkopfs 11 und
des Aufzeichungsmediums 1 durch eine einem gleitenden Magnetkopf, der
in der Festplattentechnologie verwendet wird, ähnliche Luflagerung kontrolliert
werden, ohne dass diese von dem oben beschriebenen Schmiermittel abhängig ist
oder eine AFM-Kontrolle, die in einem optischen Nahfeld-Mikroskop
verwendet wird, durchgeführt
werden kann.
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Bei
der Informationsreproduktion von auf dem Aufzeichnungsmedium aufgezeichneten
Informationen wird zuerst die sehr kleine Apertur 4 durch die
oben beschriebene Steuerung zu einer gewünschten Informationsreproduktions-Position
auf dem Aufzeichnungsmedium 1 bewegt und das Beleuchtungslicht 9 wird
an der Lichteinfallfläche
des Kerns 5 durch die Lichtquelle 8 beleuchtet.
Das Beleuchtungslicht 9, das von der Lichtemittierfläche emittiert
wird, nachdem dieses durch den Kern 5 hindurchtrat, beleuchtet
Informationsaufzeichnungsabschnitte des Aufzeichnungsmediums 1,
die in die Nähe
der sehr kleinen Apertur 4 gebracht werden, wodurch eine
Reproduktionsposition gebildet wird und an der Informationsaufzeichnungsposition
wird Nahfeldlicht, also Nahfeldlicht von einem Reflektionstyp, erzeugt.
Durch die Wechselwirkung zwischen dem Nahfeldlicht und der sehr
kleinen Apertur 4 wird das sich ausbreitende Licht 10,
das Intensitätseigenschaften,
eine Phase, usw. als Begleiterscheinungen hat, was von einem Aufzeichnungsstatus
des Informationsaufzeichnungsabschnitts abhängt, über die sehr kleine Apertur 4 oberhalb
der sich verjüngenden Aperturabschnitt 3 ausgebildet.
Das entnommene, sich ausbreitende Licht 10 wird zu einem
Lichtdetektionselement (nicht abgebildet) geleitet und wird in ein
elektrisches Signal umgewandelt und der Aufzeichnungsstatus des
Informationsreproduktionsabschnitts wird durch eine Signalverarbeitungseinheit bestimmt,
die dementsprechend ebenfalls nicht abgebildet ist.
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Ferner
kann der optische Nahfeld-Speicherkopf 11 durch ein herkömmliches
Halbleiterherstellungsverfahren ausgebildet werden und daher kann eine
Vielzahl an optischen Nahfeld-Speicherköpfen 11 einfach auf
demselben Siliziumsubstrat angeordnet werden. In diesem Fall kann
eine Vielzahl an Laserstücken
oder Ähnlichen
als Lichtquellen verwendet werden oder es kann eine Vielzahl an
Lichtquellen verwendet werden, die, wie in einem Oberflächenemittierlaser,
auf einem einzigen Chip hergestellt werden. Als Beispiel dafür zeigt 2 eine
optische Nahfeld-Speicherkopfanordnung 12, die die optischen
Nahfeld-Speicherköpfe 11 in
einer Anordnung anordnet. Ferner wird in 2 auf die
in 1 abgebildete Lichtabschirmschicht 7 verzichtet,
so dass die Struktur der optischen Nahfeld-Speicherkopfanordnung 12 einfach
zu verstehen ist.
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In
diesem Fall ist es nicht nötig,
dass die jeweiligen Lichtquellen für die jeweiligen optischen Nahfeld-Speicherköpfe vorbereitet
werden, aber die Kerne 5 (einschließlich der Mäntel 6) können, wie beispielsweise
in 2 dargestellt, jeweils von den Aperturrandabschnitten
der sehr kleinen Aperturen 4 von dreien der optischen Nahfeld-Speicherköpfe zu einer
einzigen der Lichtquelle 8 geleitet werden. Obwohl in der
in 2 veranschaulichen Darstellung zu sehen ist, dass
das Beleuchtungslicht an die drei optischen Nahfeld-Speicherköpfe relativ
zur einzigen Lichtquelle zugeführt
werden kann, ist die Ausführungsform
ferner nicht darauf eingeschränkt,
sondern es kann eine Anzahl an verschiedenen Kombinationen ausgebildet
werden.
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Die
optische Nahfeld-Speicherkopfanordnung 12 ist nahe oberhalb
des Aufzeichnungsmediums, das über
die aufgezeichneten Informationen verfügt, die auf einer Vielzahl
an Spuren in Form von konzentrischen Kreisen ausgebildet sind, und
die optische Nahfeld-Speicherkopfanordnung ist ausgebildet, um oberhalb
der Vielzahl an Spuren des Aufzeichnungsmediums angeordnet zu sein,
wodurch das Durchfahren des Kopfes oberhalb des Aufzeichnungsmediums
minimiert werden kann und die optische Hochgeschwindigkeitsaufzeichnung,
die keine Spurregelung benötigt,
durchgeführt
werden kann.
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Wie
erläutert,
wird in Übereinstimmung
mit der Ausführungsform 1 an
dem Aufzeichnungsmedium mit den aufgezeichneten Informationen in
einer hohen Dichte, welche unter Verwendung des Nahfeldlichts reproduziert
werden können,
indem die aufgezeichneten Informationen reproduziert werden, der optische
Nahfeld-Speicherkopf 11 bereitgestellt,
der mit einem Nahfeldlicht-Bildungssystem zur Bildung des Nahfeldlichts
vom Reflektionstyp an dem Aufzeichnungsmedium und eines Nahfeldlicht-Detektionssystems
zum Leiten des sich ausbreitenden Lichts einstückig ausgebildet ist, welches
durch Wechselwirkung mit dem ausgebildeten Nahfeldlicht an einem
Lichtdetektionselement bereitgestellt wird, wobei die Zusammensetzung
einer Gesamtheit der optischen Speichervorrichtungen kompakt gemacht wird
und auf die Anpassung zwischen den jeweiligen Bestandteilen verzichtet
wird.
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Ferner
kann der optische Nahfeld-Speicherkopf gemäß der Erfindung unter Verwendung
eines Halbleiterherstellungsverfahrens ausgebildet werden und demgemäß ist der
optische Nahfeld-Speicherkopf für
die Massenproduktion geeignet und es kann die Anordnungsbildung
von optischen Nahfeld-Speicherköpfen
angewandt werden.
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In Übereinstimmung
mit Ausführungsform
1, wie oben erwähnt,
können
der Kern 5 und der Mantel 6, die an dem Aperturrandabschnitt
des sich verjüngenden
Aperturabschnitts 3 ausgebildet sind, an einer Gesamtheit
des Randabschnitts des sich verjüngenden
Aperturabschnitts 3 oder sie können teilweise ausgebildet
sein, was vom Gestaltungsstandpunkt aus zweckdienlich ausgewählt werden
kann.
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[Ausführungsform
2]
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3 zeigt
eine Schnittansicht eines optischen Nahfeld-Speicherkopfs gemäß Ausführungsform
2. Ferner sind Abschnitte gleich jenen von 1 denselben
Bezugszeichen zugeordnet.
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In Übereinstimmung
mit einem optischen Nahfeld-Speicherkopf 16 bildet die
Lichteinfallfläche des
Kerns 5 und des Mantels 6 des optischen Nahfeld-Speicherkopfs 11 gemäß Ausführungsform
1 in 3 eine obere Fläche des optischen Nahfeld-Speicherkopfs 16 und
das Beleuchtungslicht 9, das von der oberhalb des optischen
Nahfeld-Speicherkopfs 16 angeordneten Lichtquelle 8 abgestrahlt wird,
fällt auf
die Lichteintrittsfläche
ein. Ferner wird eine Reflexionsschicht 15 ausgebildet,
so dass das Beleuchtungslicht 9, das in die Lichteinfallfläche einfällt, ohne
Verluste zur Lichtemittierfläche
des Kerns 13 und des Mantels 14 geleitet wird.
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Das
Beleuchtungslicht 9, welches von der Lichtemittierfläche nach
dem Hindurchtreten durch den Kern 13 ausgestrahlt wird,
bildet das Nahfeldlicht vom Reflexionstyp an dem Informationsaufzeichnungsabschnitt,
der den Reproduktionsabschnitt ausbildet. Ähnlich wie im Fall von Ausführungsform
1 wird das sich ausbreitende Licht 10, das über die sehr
kleine Apertur 4 durch die Wechselwirkung des Nahfeldlichts
und der sehr kleinen Apertur 4 entnommen wurde, zu einem
Lichtdetektionselement (nicht abgebildet) geleitet und wird in ein
elektrisches Signal umgewandelt und auf ähnliche Weise in einer Signalverarbeitungseinheit
(nicht abgebildet) verarbeitet.
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Demgemäß kann die
Lichtquelle 8 oberhalb des optischen Nahfeld-Speicherkopfs 16 angeordnet werden
und daher kann eine noch kompaktere Zusammensetzung einer Gesamtheit
der optischen Speichervorrichtungen erzielt werden.
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In Übereinstimmung
mit Ausführungsform
2, wie oben erwähnt,
können
ein Kern 13 und ein Mantel 14, die an dem Aperturrandabschnitt
des sich verjüngenden
Abschnitts 3 ausgebildet sind, an einer Gesamtheit des
Randabschnitts des sich verjüngenden
Abschnitts 3 oder teilweise ausgebildet werden, was vom
Gestaltungsstandpunkt aus zweckdienlich ausgewählt werden kann.
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Ferner
kann der optische Nahfeld-Speicherkopf 16, wie oben erläutert, unter
Verwendung eines Halbleiterherstellungsverfahrens ausgebildet werden und
demgemäß ist der
optische Nahfeld-Speicherkopf 16 für die Massenproduktion geeignet,
kann mit Anordnungsbildungen, wie in Ausführungsform 1 erläutert, umgehen
und kann als optische Nahfeld-Speicherkopfanordnung verwendet werden.
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Beispielsweise
kann eine Zusammensetzung aufgebaut werden, welche in einer zweidimensionalen
Anordnung, wie in 4 zu sehen, ausgebildet ist.
In 4 ist der Kern 13 (einschließlich der Hülle 14)
so ausgebildet, dass das von einer einzigen der Lichtquelle 8 ausgestrahlte
Beleuchtungslicht jeweils zu den Aperturrandabschnitten der sehr
kleinen Aperturen 4 von acht der optischen Nahfeld-Speicherköpfe geleitet
wird. Das von der Lichtquelle 8 abgestrahlte Beleuchtungslicht
wird zum Einfallen auf einen Innenabschnitt des Siliziumsubstrats
gebracht, also die Lichteinfallfläche des Kerns 13,
wie in 3 abgebildet. In diesem Fall wird die Reflexionsschicht 15 (nicht
abgebildet) in einer Richtung des ausstrahlenden Lichts der Lichtquelle 8 so
ausgebildet, dass das Beleuchtungslicht ohne Verluste zu der sehr
kleinen Apertur 4 des jeweiligen optischen Nahfeld-Speicherkopfs
geleitet wird. Obwohl 4 zeigt, dass das Beleuchtungslicht
an die acht optischen Nahfeld-Speicherköpfe relativ
zur einzigen Lichtquelle zugeführt
werden kann, ist die Ausführungsform
nicht darauf eingeschränkt,
sondern eine Reihe an verschiedenen Kombinationen sind möglich. Ferner
wird in Ausführungsform
der 3 ein ähnlicher
Effekt durch die Verwendung eines gebogenen optischen Wellenleiterpfads
ohne Verwendung der Reflexionsschicht 15 erzielt, welche
den oberen Flächenabschnitt
des optischen Nahfeld-Speicherkopfs 16 durch eine Endfläche (Lichteinfallfläche) des
optischen Wellenleiterpfads und durch Anordnen der anderen Fläche (Lichtemittierfläche) an
dem Aperturrandabschnitt der sehr kleinen Apertur 4 erzielt.
Dasselbe gilt für
die Ausführungsform
von 4.
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[Ausführungsform
3]
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5 zeigt
eine Schnittansicht eines optischen Nahfeld-Speicherkopfs gemäß Ausführungsform
3. Ferner verfügen
die jenen von 1 entsprechenden Abschnitte über dieselben
Bezugszeichen.
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Ein
optischer Nahfeld-Speicherkopf 20 von 5 ist
so ausgebildet, dass ein transparentes Substrat 18, das
zur ausreichenden Lichtübertragung
geeignet ist, besonders verwendet wird und der sich verjüngende Aperturabschnitt 3,
der in dieses eindringt, ist mit der sehr kleinen Apertur 4 bereitgestellt. Die
sehr kleine Apertur 4 ist mit einem Durchmesser von einer ähnlichen
Größe wie in
Ausführungsform
1 bereitgestellt. in diesem Fall sind Beugungsgitter 19 an
dem Aperturrandabschnitt des sich verjüngenden Abschnitts 3 und
an einer oberen Fläche
des transparenten Substrats 18 ausgebildet. Die Beugungsgitter 19 leiten
das durch die Lichtquelle 8, welche oberhalb des optischen
Nahfeld-Speicherkopfs angeordnet ist, einfallende Beleuchtungslicht 9 in
die Nähe
der sehr kleinen Apertur 4. Ferner ist die Lichtabschirmschicht 7 auf
Oberflächen
des transparenten Substrats 18 und dem sich verjüngenden
Aperturabschnitt 3 ausgebildet, um das durch einen Innenabschnitt
des transparenten Substrats 18 mit Ausnahme eines Abschnitts,
in dem das Beleuchtungslicht 9 emittiert wird, hindurchtretende
Beleuchtungslicht 9 optisch abzuschirmen. Die Beugungsgitter 19 werden
durch Mikroverarbeitung unter Verwendung von Photolithographie,
anisotropem Siliziumätzen
oder Ähnlichem während beispielsweise
eines Halbleiterherstellungsverfahrens ausgebildet.
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Das
aus der Lichtemittierfläche
nach dem Hindurchtreten durch den Innenabschnitt des transparenten
Substrats 18 über
die Beugungsgitter 19 emittierte Beleuchtungslicht 9 wird ähnlich wie
im Falle der Ausführungsform
1 verarbeitet und die Reproduktion der Informationen des Aufzeichnungsmediums
wird erzielt.
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Der
optische Nahfeld-Speicherkopf 20, wie oben erwähnt, kann
ferner unter Verwendung eines Halbleiterherstellungsverfahrens ausgebildet
werden und daher ist der optische Nahfeld-Speicherkopf 20 für die Massenproduktion
geeignet, es können
Anordnungsbildungen, erläutert
in den Ausführungsformen
1 und 2, angewandt werden und sie kann als optische Nahfeld-Speicherkopfanordnung
verwendet werden.
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6A zeigt
eine optische Nahfeld-Speicherkopfanordnung 21 als Beispiel,
in der optische Nahfeld-Speicherköpfe 19 in einer Anordnung
angeordnet sind. 6B ist eine Schnittansicht entlang
einer Linie A-A' von 6A.
In 6A wird ferner auf die Lichtabschirmschicht 7 von 6B verzichtet,
so dass die Struktur der optischen Nahfeld-Speicherkopfanordnung 21 einfach
zu verstehen ist.
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In
diesem Fall sind die Beugungsgitter 19 als modifiziertes
Beispiel des optischen Nahfeld-Speicherkopfs 20, unter
Bezug auf 5 erläutert, an einer Endfläche des
transparenten Substrats 18 in horizontaler Richtung ausgebildet
und die Lichtquelle 8 ist ebenfalls an einer Position des
Ausstrahlens des Beleuchtungslichts 9 zu den Beugungsgittern
in ähnlicher
Weise in horizontaler Richtung des transparenten Substrats angeordnet.
Die Vorbereitung der jeweiligen Lichtquellen auf die entsprechenden
optischen Nahfeld-Speicherköpfe
ist nicht notwendig, aber, wie beispielsweise in 6A zu
sehen, kann das Beleuchtungslicht 9 jeweils zu den Aperturrandabschnitten
der sehr kleinen Aperturen 4 der drei optischen Nahfeld-Speicherköpfe durch
einen einzigen Satz an Beugungsgittern 19 geleitet werden.
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Obwohl 6A zeigt,
dass das Beleuchtungslicht zu den drei optischen Nahfeld-Speicherköpfen relativ
zur einzigen Lichtquelle geleitet werden kann, ist die Ausführungsform
nicht darauf eingeschränkt,
sondern eine Reihe verschiedener Kombinationen sind möglich.
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Wie
erläutert,
wird gemäß Ausführungsform 3
der optische Nahfeld-Speicherkopf 20 einstückig mit
einem Nahfeldlicht-Bildungssystem zur Bildung von Nahfeldlicht vom
Reflexionstyp an einem Aufzeichnungsmedium und einem Nahfeldlicht-Detektionssystem
zum Leiten des sich ausbreitenden Lichts, das durch die Wechselwirkung
mit dem ausgebildeten Nahfeldlicht bereitgestellt wird, an einem Lichtdetektionselement
bereitgestellt, ein kompliziertes Herstellungsverfahren ist aufgrund
einer besonders einfachen Zusammensetzung durch das transparente
Substrat und die Beugungsgitter, welche zur ausreichenden Lichtübertragung
geeignet sind, nicht nötig,
da die Zusammensetzung einer Gesamtheit der optischen Speichervorrichtungen
kompakt ist und auf die Anpassung unter den jeweiligen Bestandteilen
wird verzichtet.
-
[Ausführungsform
4]
-
7 stellt
eine Schnittansicht eines optischen Nahfeld-Speicherkopfs gemäß Ausführungsform
4 dar.
-
Ein
optischer Nahfeld-Speicherkopf 30 von 7 ist
so ausgebildet, dass im Siliziumsubstrat 2 der sich verjüngende,
in dieses eindringende Aperturabschnitt 3 mit der sehr
kleinen Apertur 4 bereitgestellt ist. Die sehr kleine Apertur 4 ist
mit einem Durchmesser von beispielsweise einigen zehn Nanometern
bereitgestellt, so dass das Nahfeldlicht durch Beleuchtungslicht 34 gebildet
wird, das durch den sich verjüngenden
Aperturabschnitt 3 einfällt.
In diesem Fall wird, wie in 7 abgebildet,
ein Lichtwellenleiterweg 32 vom Aperturrandabschnitt der
sehr kleinen Apertur 4 entlang der Verjüngung des sich verjüngenden
Aperturabschnitts 3 ausgebildet. Das sich ausbreitende
(gestreute) Licht 35, das durch die Wechselwirkung des
Nahfeldlichts entsteht, das an dem sehr kleinen Aperturabschnitt 4 und
einem Informationsaufzeichnungsabschnitt des Aufzeichnungsmediums 1 ausgebildet
wird, wird zu einem Lichtdetektionselement 33 geführt, das
an dem oberen Endabschnitt des Lichtwellenleiterwegs 32 ausgebildet ist,
also an einem Endabschnitt des Lichtwellenleiterwegs 32 auf
einer Seite desselben, gegenüber
einem Endabschnitt desselben, auf dem das sich ausbreitende Licht 35 über den
Lichtwellenleiterweg 32 einfällt. In diesem Fall wird der
Lichtwellenleiterweg 32 durch einen Kern und einen Mantel
gebildet. Ferner wird eine Lichtabschirmschicht 31 auf
den Oberflächen
des Siliziumsubstrats 2, des sich verjüngenden Aperturabschnitts 3 und
des Lichtdetektionselements 33 ausgebildet, um den Lichtwellenleiterweg 32 unter Aussparung
des Einfallabschnitts des sich ausbreitenden Lichts 35 optisch
abzuschirmen.
-
Der
sich verjüngende
Aperturabschnitt 3, der Lichtwellenleiterweg 32 und
das Lichtdetektionselement 33 sind durch Mikroverarbeitung
unter Verwendung von Photolithographie, anisotropem Siliziumätzen und Ähnlichem
beispielsweise während
eines Halbleiterherstellungsverfahrens ausgebildet. Ferner ist eine
Lichtabschirmschicht 31 ein Film aus einem Metall, beispielsweise
Au/Cr, etc., und wird durch Sputterabscheidung oder Vakuumabscheidung
bereitgestellt.
-
Als
Nächstes
folgt eine Beschreibung eines Verfahrens zur Durchführung des
Aufzeichnens und der Reproduktion von Informationen durch Nahfeldlicht,
das an der sehr kleinen Apertur 4 durch Anordnen des optischen
Nahfeld-Speicherkopfs 30, wie oben erläutert, oberhalb des Aufzeichnungsmediums 1 ausgebildet
ist.
-
In
diesem Fall ist das Aufzeichnungsmedium 1 ein planares
Substrat, beispielsweise in Form einer kreisrunden Platte, und ein
optischer Nahfeld-Speicherkopf 30 ist an einer oberen Fläche derselben
angeordnet. Damit das an der sehr kleinen Apertur 4 des
optischen Nahfeld-Speicherkopfs 30 zum Aufzeichnungsmedium 1 ausgebildete
Nahfeldlicht arbeitet, müssen
die sehr kleine Apertur 4 und das Aufzeichnungsmedium 1 bis
zu einem Teil eines Durchmessers der sehr kleinen Apertur 4 nahe
beeinander sein. Daher wird ein Schmiermittel zwischen den optischen
Nahfeld-Speicherkopf 30 und das Aufzeichnungsmedium 1 gefüllt und
der optische Nahfeld-Speicherkopf 30 ist ausreichend dünn ausgebildet,
wodurch ein Abstand zwischen dem optischen Nahfeld-Speicherkopf 30 und
dem Aufzeichnungsmedium 1 unter Verwendung der Oberflächenspannung
des Schmiermittels ausreichend klein gehalten werden kann. Sogar
das Biegen des Aufzeichnungsmediums 1 kann ferner erfolgen.
Ferner wird die Position des optischen Nahfeld-Speicherkopfs 30 so
gesteuert, dass die sehr kleine Apertur 4 an einer gewünschten
Position auf dem Aufzeichnungsmedium 1 durch einen optischen
Nahfeld-Speicherkopf-Steuermechanismus (nicht abgebildet) angeordnet
werden kann.
-
Ferner
kann der nahe Zustand des optischen Nahfeld-Speicherkopfs 30 und
des Aufzeichnungsmediums 1 durch eine Luftlagerung gesteuert
werden, die einem in der Festplattentechnologie verwendeten, gleitenden
Magnetkopf ähnlich
ist, ohne von dem oben beschriebenen Schmiermittel abhängig zu sein
oder eine AFM-Kontrolle,
die in einem optischen Nahfeld-Mikroskopverwendet wird, kann durchgeführt werden.
-
Das
Aufzeichnungsmedium 1 umfasst beispielsweise ein Material,
das zum Anlegen eines Phasenänderungs-Aufzeichnungssystems
geeignet ist, und Informationen können durch lokale Beleuchtung
des Lichts aufgezeichnet werden. Oberhalb des Aufzeichnungsmediums 1 wird
die sehr kleine Apertur 4 zu einer gewünschten Informationsaufzeichnungsposition
durch die oben beschriebene Steuerung bewegt. Daraufhin wird das
Beleuchtungslicht 34 zu der sehr kleinen Apertur 4 hin
beleuchtet und das Nahfeldlicht wird an dem sehr kleinen Aperturabschnitt 4 gebildet.
Durch das Nahfeldlicht kann die Lichtbeleuchtung zu einem sehr kleinen
Bereich zum Aufzeichnungsmedium 1 hin durchgeführt werden und
die hochdichte Informationsaufzeichnung wird erzielt. In diesem
Fall wird das Beleuchtungslicht 34 zur Bildung des Nahfeldlichts
mit einer ausreichend größeren Intensität als jene
des im Falle der Informationsreproduktion, welche später erwähnt wird,
verwendeten Beleuchtungslichts bereitgestellt.
-
Im
Falle der Informationsaufzeichnung kann ein Informationsaufzeichnungssystem
ferner separat hinzugefügt
werden, ohne vom optischen Nahfeld-Speicherkopf gemäß der Erfindung
abhängig
zu sein.
-
Im
Falle der Informationsreproduktion auf diese Weise wird zuerst die
sehr kleine Apertur 4 durch die oben beschriebene Steuerung
zu einer gewünschten
Informationsreproduktionsposition auf dem Aufzeichnungsmedium bewegt
und das Beleuchtungslicht 34 wird an der sehr kleinen Apertur 4 beleuchtet,
um dadurch ein Nahfeldlicht an dem sehr kleinen Aperturabschnitt 4 zu
bilden. Das sich ausbreitende Licht 35, das durch die Wechselwirkung des
Nahfeldlichts und des Informationsaufzeichnungsabschnitts auf dem
Aufzeichnungsmedium 1 erzeugt wird, fällt auf den Lichtwellenleiterweg 32 ein, das
von Eigenschaften einer Intensität,
einer Phase, usw. begleitet wird und von einem Aufzeichnungsstatus
des Informationsaufzeichnungsabschnitt abhängt. Das sich ausbreitende
Licht 35, das auf den Lichtwellenleiterweg 32 einfällt, wird
zu dem Lichtdetektionselement 33 geleitet und in ein elektrisches
Signal umgewandelt wird und der Aufzeichnungsstatus des Informationsaufzeichnungsabschnitts
wird durch eine Signalverarbeitungseinheit über eine Signalleitung bestimmt
(nicht abgebildet).
-
Ferner
wird der optische Nahfeld-Speicherkopf 30 durch das herkömmliche
Halbleiterherstellungsverfahren ausgebildet und demgemäß kann eine
Vielzahl an optischen Nahfeld-Speicherköpfen 30 einfach auf
demselben Siliziumsubstrat angeordnet werden. Beispielsweise 8A zeigt
eine optische Nahfeld-Speicherkopfanordnung 36,
die die optischen Nahfeld-Speicherköpfe 30 in einer zweidimensionalen
Anordnung anordnet. 8B ist eine Schnittansicht entlang
einer Linie A-A' von 8A,
in der die sehr kleinen Aperturen 4 des optischen Nahfeld-Speicherkopfs in
Abständen
unter Berücksichtigung
der Einheitsabstände
der Informationsaufzeichnung auf dem Aufzeichnungsmedium angeordnet sind.
Ferner wird in 8A auf die in 8B dargestellte
Lichtabschirmschicht 31 verzichtet, so dass die Struktur
der optischen Nahfeld-Speicherkopfanordnung 36 einfach
zu verstehen ist.
-
Die
optische Nahfeld-Speicherkopfanordnung 36 ist nahe auf
dem Aufzeichnungsmedium mit aufgezeichneten Informationen auf einer
Vielzahl an Spuren in Form konzentrischer Kreise ausgebildet und
die optische Nahfeld-Speicherkopfanordnung 36 ist
ausgebildet, um oberhalb der Vielzahl an Spuren auf dem Aufzeichnungsmedium
angeordnet zu sein, wodurch das Durchfahren des Kopfs auf dem Aufzeichnungsmedium
minimiert werden kann und die optische Hochgeschwindigkeitsaufzeichnung
oder –reproduktion,
welche keine Spurregelung benötigt, ermöglicht wird.
-
Wie
erläutert,
wird, gemäß Ausführungsform 4
im Falle des Aufzeichnungsmediums, das zur Aufzeichnung von Informationen
durch Verwenden eines Nahfeldlichts geeignet ist und Informationen
in einer hohen Dichte aufgezeichnet hat, um die aufgezeichneten
Informationen zu reproduzieren, der optische Nahfeld-Speicherkopf 30 bereitgestellt,
der einstückig
mit einem Nahfeldlicht-Bildungssystem zur Bildung von Nahfeldlicht
am Aufzeichnungsmedium und einem Nahfeldlicht-Detektionssystem zum Streuen des ausgebildeten
Nahfeldlichts und zum Leiten des verteilten (sich ausbreitenden)
Lichts zum Lichtdetektionselement 33 ausgebildet ist, die
Zusammensetzung einer Gesamtheit der optischen Speichervorrichtungen
wird kompakter und auf die Anpassung unter den jeweiligen Bestandteilen
wird verzichtet. Ferner ist der Lichtwellenleiterpfad 32 zum
Leiten des verteilten Lichts entlang einer Richtung zur Darstellung
einer hohen Intensitätsverteilung
des verteilten Lichts ausgebildet und das Lichtdetektionselement 33 ist
in der Nähe
der sehr kleinen Apertur 4 als ein Kopfabschnitt bereitgestellt
und demgemäß wird eine
hocheffiziente Detektion des verteilten Lichts mit geringem Verlust
ermöglicht.
-
Ferner
kann der optische Nahfeld-Speicherkopf gemäß der Erfindung unter Verwendung
eines Halbleiterverfahrens ausgebildet werden und demgemäß ist die
Zusammensetzung für
die Massenproduktion geeignet und es kann die Anordnungsbildung der
optischen Nahfeld-Speicherköpfen
angewandt werden.
-
In
Ausführungsform
4, wie oben erwähnt, können der
Lichtwellenleiterweg 32 und das Lichtdetektionselement 33,
die an dem Aperturrandabschnitt des sich verjüngenden Aperturabschnitts 3 ausgebildet
sind, an einer Gesamtheit des Randabschnitts des sich verjüngenden
Aperturabschnitts 3 oder teilweise ausgebildet werden,
was vom Gestaltungsstandpunkt aus zweckdienlich ausgewählt werden kann.
-
[Ausführungsform
5]
-
9 zeigt
eine Schnittansicht eines optischen Nahfeld-Speicherkopfs gemäß Ausführungsform
5 dar. Ferner sind die Abschnitte, die mit jenen von 7 übereinstimmen,
mit denselben Bezugszeichen bezeichnet.
-
In 9 verwendet
ein optischer Nahfeld-Speicherkopf 37 ein transparentes
Substrat 38, das besonders zur ausreichenden Übertragung
von Licht anstelle des Siliziumsubstrats 2 des optischen Nahfeld-Speicherkopfs 30 gemäß Ausführungsform 4
geeignet ist und mit einer Mikrolinse 39 anstelle des Lichtwellenleiterwegs 32 ausgebildet
ist. Die Mikrolinse 39 ist beispielsweise eine Brechungsindex-Abstufungslinse,
in der der Brechungsindex kontinuierlich geändert wird und die durch Ausführen eines
selektiven Ionenaustauschverfahrens an dem Aperturrandabschnitt
der sehr kleinen Apertur 4 ausgebildet ist.
-
Die
Durchführung
der Informationsaufzeichnung ist ähnlich wie in Ausführungsform
4 und demgemäß wird auf
eine Erläuterung
derselben verzichtet.
-
Als
Nächstes
folgt eine Beschreibung eines Verfahrens zur Reproduktion der auf
einem Aufzeichnungsmedium aufgezeichneten Informationen. Das an
dem sehr kleinen Aperturabschnitt 4 durch das Beleuchtungslicht 34 ausgebildete
Nahfeldlicht wird durch die Wechselwirkung mit einem Informationsaufzeichnungsabschnitt
des Aufzeichnungsmediums 1 in sich ausbreitendes Licht 35 umgewandelt
und das gestreute, sich ausbreitende Licht 35 wird durch die
am Aperturrandabschnitt der sehr kleinen Apertur 4 bereitgestellte
Mikrolinse 39 zum Lichtdetektionselement 33 hin
kondensiert. Das sich ausbreitende Licht 35, das vom Lichtdetektionselement 33 empfangen
wird, wird in ein elektrisches Signal umgewandelt, ähnlich wie
im Fall von Ausführungsform
4, und wird durch eine Signalverarbeitungseinheit (nicht abgebildet)
verarbeitet.
-
Durch
die Fokussierung der Mikrolinse 39 kann daher das sich
ausbreitende Licht 35 mit einer ausreichenden Intensität, um zur
Bestimmung eines Aufzeichnungsstatus des Informationsaufzeichnungsabschnitts
geeignet zu sein, zum Lichtdetektionselement 33 geleitet
werden und außerdem
wird gemäß Ausführungsform
4 die Informationsreproduktion mit einer höheren Zuverlässigkeit
durchgeführt. Ferner
kann eine Ausgabe des Beleuchtungslichts 34 verringert
werden und die Erwärmung
des optischen Nahfeld-Speicherkopfs durch das Beleuchtungslicht 34 sowie
der Energieverbrauch sind eingeschränkt.
-
Als
modifiziertes Beispiel des optischen Nahfeld-Speicherkopfs 37,
wie unter Bezug auf 9 erläutert, ist ferner möglich, dass,
wie in 10A zu sehen, eine Mikrolinse 40,
beispielsweise eine Brechungsindex-Abstufungslinse, wie oben erwähnt, zuvor
in dem transparenten Substrat 38 ausgebildet wird, das,
aufeinanderfolgend, zur Übertragung
von einer ausreichenden Lichtmenge geeignet ist, wie in einem optischen
Nahfeld-Speicherkopfs 41, gezeigt in 10B. Der sich verjüngende Aperturabschnitt 3 ist
derart ausgebildet, dass der Mittelpunkt der sehr kleinen Apertur 4 auf
einer optischen Achse der ausgebildeten Mikrolinse 40 angeordnet
ist und das Lichtdetektionselement 33 und die Lichtabschirmschicht 31 bereitgestellt
werden.
-
Ferner
ist die oben beschriebene Mikrolinse nicht auf die Brechungsindex-Abstufungslinse eingeschränkt, sondern
es können
andere Linsen mit einem Linseneffekt, wie etwa Beugungsgitter oder Ähnlichem,
verwendet werden.
-
Gemäß Ausführungsform
5, wie oben erwähnt,
können
ferner die Mikrolinse und das Lichtdetektionselement 33,
die an dem Aperturrandabschnitt des sich verjüngenden Aperturabschnitts 3 ausgebildet
sind, an einer Gesamtheit des Randabschnitts des sich verjüngenden
Aperturabschnitts 3 oder teilweise ausgebildet werden,
was vom Gestaltungsstandpunkt aus zweckdienlich ausgewählt werden kann.
-
[Ausführungsform
6]
-
11 zeigt
eine Schnittansicht eines optischen Nahfeld-Speicherkopfs gemäß Ausführungsform
6. Ferner sind jene mit 7 übereinstimmenden Teil mit denselben
Bezugszeichen bezeichnet.
-
Ein
optischer Nahfeld-Speicherkopfs 42 von 11 ist
so ausgebildet, dass in dem Siliziumsubstrat 2 der sich
verjüngende
Aperturabschnitt 3, der in dieses eindringt, mit der sehr
kleinen Apertur 4 bereitgestellt ist. Die sehr kleine Apertur 4 ist
mit einem Durchmesser von beispielsweise einigen zehn Nanometern
bereitgestellt, so dass das Nahfeldlicht durch das Beleuchtungslicht
ausgebildet wird, welches vom sich verjüngenden Aperturabschnitt 3 einfällt. In
diesem Fall ist, wie in 11 dargestellt,
ein Lichtdetektionselement 43 an dem Aperturrandabschnitt
der sehr kleinen Apertur 4 ausgebildet. Das sich ausbreitende
(verteilte) Licht, das durch Wechselwirkung des an dem sehr kleinen
Aperturabschnitt 4 und einem Informationsaufzeichnungsabschnitt
des Aufzeichnungsmediums 1 ausgebildeten Nahfeldlicht erzeugt
wird, wird durch das Lichtdetektionselement 43 an einem
Aperturrandabschnitt der sehr kleinen Apertur 4 empfangen.
Ferner wird die Lichtabschirmschicht 31 zum optischen Abschirmen
des Lichtdetektionselements unter Aussparung eines Einfallabschnitts
des sich ausbreitenden Lichts 35 auf Oberflächen des
Siliziumsubstrats 2 und des sich verjüngenden Abschnitts 3 ausgebildet.
-
Ähnlich wie
in Ausführungsform
4 sind der sich verjüngende
Aperturabschnitt 3 und das Lichtdetektionselement 43 durch
Mikroverarbeitung unter Verwendung von Photolithographie, anisotropem
Siliziumätzen
oder Ähnlichem
beispielsweise während eines
Halbleiterherstellungsverfahrens ausgebildet und die Lichtabschirmschicht 31 ist
als ein Film aus Metall aus beispielsweise Au/Cr, etc durch Sputter- oder
Vakuumabscheidung bereitgestellt. Wenn das Siliziumsubstrat 2 mit
einer für
die Wellenlänge
des Beleuchtungslichts 34, das die sehr kleine Apertur 4 beleuchtet,
ausreichenden Lichtabschirmleistung bereitgestellt ist, kann ferner
auf die Lichtabschirmschicht 31 verzichtet werden.
-
Die
Durchführung
der Informationsaufzeichnung ähnelt
jener von Ausführungsform
4 und demgemäß wird auf
eine Erläuterung
derselben verzichtet.
-
Als
Nächstes
wird eine Beschreibung eines Verfahrens zur Reproduktion von auf
dem Aufzeichnungsmedium aufgezeichneten Daten erfolgen. Das an dem
sehr kleinen Aperturabschnitt 4 durch Beleuchtungslicht 34 ausgebildete
Nahfeldlicht wird in das sich ausbreitende Licht 35 durch
Wechselwirkung mit dem Informationsaufzeichnungsabschnitt des Aufzeichnungsmediums 1 umgewandelt
und das gestreute, sich ausbreitende Licht 35 fällt auf
das Lichtdetektionselement 43 ein, das an dem Aperturrandabschnitt
der sehr kleinen Apertur 4 bereitgestellt ist. Ähnlich wie
im Fall von Ausführungsform
4 wird das durch das Lichtdetektionselement 43 empfangene,
sich ausbreitende Licht 35 in ein elektrisches Signal umgewandelt
und durch eine Signalverarbeitungseinheit (nicht abgebildet) verarbeitet.
-
Daher
kann das sich ausbreitenden Licht 35 mit einer zur Bestimmung
eines Aufzeichnungsstatus des Informationsaufzeichnungsabschnitts
geeigneten Eigenschaft direkt durch das Lichtdetektionselement 43 empfangen
werden und außerdem
wird gemäß Ausführungsformen
4 und 5 eine stabile Informationsreproduktion des sich ausbreitenden
Lichts 35 ohne Verluste durchgeführt.
-
Als
modifiziertes Beispiel des optischen Nahfeld-Speicherkopfs 42,
in Bezug auf 11 erläutert, kann das sich ausbreitende
Licht 35, wie in einem optischen Nahfeld-Speicherkopf 44 von 12,
unter Verwendung eines Lichtdetektionselement-Substrats 45 direkt aufgenommen
werden, in dem ein Lichtdetektionselement durch das Substrat an
sich gebildet wird, welches mit dem sich verjüngenden Aperturabschnitt 3 und
der sehr kleinen Apertur 4 ausgebildet ist.
-
Gemäß Ausführungsform
6, wie oben erwähnt,
kann das an dem Aperturrandabschnitt des sich verjüngenden
Aperturabschnitts 3 ausgebildete Lichtdetektionselement 43 ferner
an einer Gesamtheit des Randabschnitts des sich verjüngenden Aperturabschnitts 3 oder
teilweise ausgebildet sein, was vom Gestaltungsstandpunkt aus zweckdienlich ausgewählt werden
kann.
-
Beide
der oben erläuterten
optischen Nahfeld-Speicherköpfe
gemäß den Ausführungsformen
5 und 6 können
unter Verwendung eines Halbleiterherstellungsverfahrens ausgebildet
werden und demgemäß ist die
Zusammensetzung zur Massenproduktion geeignet, es können in
Ausführungsform
4 erläuterte
Anordnungsbildungen angewandt werden und sie kann als eine optische
Nahfeld-Speicherkopfanordnung verwendet werden.
-
[Ausführungsform
7]
-
13 zeigt
eine perspektivische Ansicht eines optischen Nahfeld-Speicherkopfs 60 gemäß Ausführungsform
7.
-
Nahfeldlicht-Bildungsmittel
mit einem sehr kleinen Aperturabschnitt zur Bildung des Nahfeldlichts
an einem Aufzeichnungsmedium und das Nahfeldlicht-Detektionsmittel
zur Detektion des ausgebildeten Nahfeldlichts sind an demselben
Substrat bereitgestellt und das Substrat wird als ein Nahfeldlicht-Substrat
bezeichnet. Die Zusammensetzung ist mit einer Funktionseinheit bereitgestellt,
die über
einen sehr kleinen Aperturabschnitt 54 zur Lichtdetektion
verfügt
und die Funktionseinheit wird durch ein Außenumfangs-Abschnittssubstrat
durch Träger
getragen. Der optische Nahfeld-Speicherkopf 60 ist ein aus
Silizium ausgebildetes Substrat und wird unter Verwendung von Photolithographietechniken
als Herstellungsverfahren erzeugt.
-
Die
Funktionseinheit wird durch die sehr kleine Apertur 54 und
den Lichtdetektionsabschnitt eines PIN-Photodiode zur Detektion
von Nahfeldlicht ausgebildet.
-
Ein
Siliziumsubstrat 52, das die Funktionseinheit bildet, ist
so ausgebildet, dass ein sich verjüngender, in dieses eindringender
Aperturabschnitt mit der sehr kleinen Apertur 54 bereitgestellt
ist. Die sehr kleine Apertur 54 ist mit einem Durchmesser
von beispielsweise einigen zehn Nanometern bereitgestellt, so dass
das Nahfeldlicht durch das vom sich verjüngenden Aperturabschnitt einfallende
Beleuchtungslicht ausgebildet wird. Das sich ausbreitende (verteilte)
Licht, das durch Wechselwirkung des an dem sehr kleinen Aperturabschnitt 54 ausgebildeten
Nahfeldlicht und dem Informationsaufzeichnungsabschnitt des Aufzeichnungsmediums
erzeugt wird, wird durch ein naheliegend erzeugtes Lichtdetektionselement 56 detektiert.
-
Der
sich verjüngende
Abschnitt und das Lichtdetektionselement 56 werden durch
die Mikroverarbeitung unter Verwendung von Photolithographie, anisotropem
Siliziumätzen
oder Ähnlichem
beispielsweise während
eines Halbleiterherstellungsverfahrens ausgebildet. Ferner besteht
eine Lichtabschirmschicht 55 aus einem Film aus Metall,
etwa aus Au/Cr, etc., und wird durch Sputter- oder Vakuumabscheidung
bereitgestellt.
-
Nun
folgt eine Erläuterung
eines Herstellungsverfahrens unter Bezugnahme auf 17 und 16.
Um ein Nahfeldlicht-Substrat herzustellen, wird in einem ersten
Schritt eine PIN-Photodiode zur Detektion des Nahfeldlichts durch
eine Photolithographieschritt ausgebildet. Durch die Anordnung der PIN-Photodiode,
welche das Lichtdetektionselement 56 ist, wird gemäß der Ausführungsform
die PIN- Photodiode
in Form einer Überlappung
der Umgebung des sehr kleinen Aperturabschnitts 54 angeordnet.
In dem Photolithographieschritt wird ferner eine Ebene unter Berücksichtigung
der Nichtausbildung von Vertiefungen und Vorsprüngen bereitgestellt. In Übereinstimmung
mit der Ausführungsform werden
Vertiefungen und Vorsprünge
nicht unter Verwendung von diffundierten Drähten als Drahtmaterialien ausgebildet.
Als Nächstes
wird in einem zweiten Schritt die sehr kleine Apertur 54 des
optischen Nahfeld-Speicherkopfs 60 zur Ausbildung des Nahfeldlichts
durch anisotropes Ätzen
ausgebildet. Obwohl gemäß der Ausführungsform
anisotropes Ätzen
von Silizium verwendet wird, kann der Aperturabschnitt der sehr
kleinen Apertur 54 durch eine Kombination aus anisotropem Ätzen und
fokussierten Ionenstrahlen ausgebildet werden. In einem dritten
Schritt wird das Siliziumsubstrat zur Ausbildung eines dünnen Wandabschnitts
zur Verschiebung des Siliziums geätzt. Selbstverständlich kann
dieser Vorgang durch denselben Schritt wie der zweite Schritt ausgeführt werden.
Durch Vorstehen des Nahfeldlicht-Substrats in einem vierten Schritt
und Fixieren des Nahfeldlicht-Substrats
in einem fünften
Schritt, um das Substrat mit dem Lichtdetektionselement 56 und
der sehr kleinen Apertur 54 vom Umfangssubstrat vorstehen zu
lassen, wird das Vorstehen des Substrats durch Kraft von außen bewirkt
und danach wird es befestigt, um die Verschiebung durch Harz oder Ähnliches beizubehalten.
In dem Verfestigungsvorgang kann das Leistungsverhalten durch die
Verwendung von UV-gehärtetem Harz
oder Ähnlichem
nach gefördert werden.
In einem fünften
Schritt wird die Zusammensetzung des optischen Speicherkopfes fertiggestellt.
-
Nach
der Fertigstellung des optischen Speicherkopfs wird ein Ausgangsanschluss
desselben mit einem sehr dünnen
Verdrahtungssubstrat verbunden, wodurch ein sehr kleines Signal
detektiert werden kann, wodurch der optische Nahfeld-Speicherkopf 60 gebildet
wird. 16 veranschaulicht Diagramme
zur Darstellung der Schritte unter Verwendung von Schnittansichten.
Eine Erläuterung
wird nun unter Verwendung der Stufendiagramme von 16 erfolgen.
Zuerst wird der Lichtdetektionabschnitt 56 an einem Siliziumabschnitt
eines Halbleitersubstrats durch ein herkömmliches Halbleiterverfahren
ausgebildet. Als Nächstes
wird das Ätzen
von einer hinteren Fläche
durch einen Siliziumätzvorgang durchgeführt, um
dadurch die Strahlenabschnitte und den Aperturabschnitt auszubilden.
In einem darauffolgenden Schritt wird ein Durchgangsloch an einem Aperturabschnitt
ausgebildet. Ein Schritt zum Vorstehen des Nahfeldlicht-Substrats 61 wird
nacheinander ausgeführt
und gemäß der Ausführungsform
wird die Verschiebung durch eine Kraft von außen durchgeführt und
die Verschiebung wird unter Verwendung von UV-gehärtetem Harz
fest fixiert. Durch diese Schritte wird der Nahfeldlichtkopf fertiggestellt.
-
Gemäß Ausführungsform
7, wie in 13 zu sehen, wird ein Aufbau
ausgebildet, in der das Nahfeldlicht-Substrat von vier Stäben getragen
wird. Selbstverständlich
kann der Aufbau durch zwei der Stäbe ausgebildet werden. Durch
die Ausbildung der vier Stäbe
werden die Stäbe
unter Verwendung von Siliziummikroverarbeitung ausgebildet. 14 ist eine
Schnittansicht des optischen Nahfeld-Speicherkopfs 60.
Es ist bekannt, dass das Nahfeldlicht-Substrat ausgebildet ist,
um von dem Tragesubstrat über die
Stäbe getragen
zu werden. Ferner ist bekannt, dass das Nahfeldlicht-Substrat vom
Tragesubstrat vorsteht. Gemäß der Ausführungsform
wird eine Zusammensetzung ausgebildet, in der das Nahfeldlicht-Substrat
vom Tragesubstrat um 0,1 mm vorsteht und die Verdrahtung aus dem
Ausgangsanschluss herausgeführt
werden kann.
-
Als
Nächstes
folgt eine Beschreibung eines Verfahrens zur Aufzeichnung und Reproduktion
von Informationen durch ein an der sehr kleinen Apertur 54 durch
Anordnen des optischen Nahfeld-Speicherkopfs 60 ausgebildetes
Nahfeldlicht, wie oben erläutert,
auf dem Aufzeichnungsmedium 1. 15 stellt den
optischen Nahfeld-Speicherkopf 60 und das Aufzeichnungsmedium 1 dar.
-
In
diesem Fall ist das Aufzeichnungsmedium 1 ein planares
Substrat in beispielsweise einer Form einer kreisrunden Platte und
der optische Nahfeld-Speicherkopf 60 ist
an einer oberen Fläche
desselben angeordnet. Die sehr kleine Apertur 54 und das
Aufzeichnungsmedium 1 müssen
bis zu einem Teil eines Durchmessers der sehr kleinen Apertur 54 nahe
beisammen sein, um das an der sehr kleinen Apertur 54 des
optischen Nahfeld-Speicherkopfs 60 ausgebildete Nahfeldlicht
am Aufzeichnungsmedium 1 zu betreiben. Daher wird ein Schmiermittel zwischen
den optischen Nahfeld-Speicherkopf 60 und das Aufzeichnungsmedium 1 eingefüllt und
der optische Nahfeld-Speicherkopf 60 ist ausreichend dünn ausgebildet,
wodurch ein Abstand zwischen dem optischen Nahfeld-Speicherkopf 60 und
dem Aufzeichnungsmedium 1 unter Verwendung der Oberflächenspannung
des Schmiermittels in ausreichendem Maße erhalten werden kann. Ferner
kann ebenfalls das Biegen des Aufzeichnungsmedium 1 erfolgen. Ferner
wird die Position des optischen Nahfeld-Speicherkopfs 60 so
gesteuert, dass die sehr kleine Apertur 54 an einer gewünschten
Position oberhalb des Aufzeichnungsmediums 1 durch einen
Steuermechanismus (nicht abgebildet) des optischen Nahfeld-Speicherkopfs 60 angeordnet
werden kann. Ferner können
der nahe Zustand des optischen Nahfeld-Speicherkopfs 60 und des Aufzeichnungsmediums 1 durch
eine Luftlagerung, ähnlich
einem gleitenden Magnetkopf, der in der Festplattentechnologie verwendet
wird, ohne von dem oben beschriebenen Schmiermittel abhängig zu
sein, gesteuert werden oder eine in einem optischen Nahfeldmikroskop verwendete
AFM-Kontrolle kann durchgeführt
werden.
-
Das
Aufzeichnungsmedium 1 umfasst ein Material, an dem beispielsweise
ein Phasenänderungs-Aufzeichnungssystem
anwendbar ist und die Informationsaufzeichnung durch lokale Beleuchtung des
Lichts ermöglicht.
Oberhalb des Aufzeichnungsmediums 1 wird die sehr kleine
Apertur 54 an eine gewünschte
Informationsaufzeichnungsposition durch die oben beschriebene Steuerung
bewegt. Daraufhin wird das Beleuchtungslicht an der sehr kleinen
Apertur 54 beleuchtet, um dadurch das Nahfeldlicht an der
sehr kleinen Apertur 54 auszubilden. Durch das Nahfeldlicht
kann die Lichtbeleuchtung an einem sehr kleinen Bereich zum Aufzeichnungsmedium 1 hin
erfolgen und die hochdichte Informationsaufzeichnung wird erzielt.
In diesem Fall wird das Beleuchtungslicht zur Bildung des Nahfeldlichts
mit einer ausreichend größeren Intensität als jene
des Beleuchtungslichts bereitgestellt, das im Falle der Informationsreproduktion,
wie später
erwähnt
wird, verwendet wird.
-
Ferner
kann die Informationsaufzeichnung durch separates Hinzufügen eines
Informationsaufzeichnungssystems zur Durchführung der Informationsaufzeichnung durchgeführt werden,
ohne vom optischen Nahfeld-Speicherkopf 60 gemäß der Erfindung
abhängig
zu sein.
-
In
der Reproduktion von auf diese Weise aufgezeichneten Informationen
wird die sehr kleine Apertur 54 zuerst durch die oben beschriebene
Kontrolle zu einer gewünschten
Informationsreproduktionsposition oberhalb des Aufzeichnungsmediums 1 bewegt,
das Beleuchtungslicht wird an dem sehr kleinen Aperturabschnitt 54 beleuchtet
und das Nahfeldlicht wird an dem sehr kleinen Aperturabschnitt 54 ausgebildet.
Das sich ausbreitende Licht, welches durch Wechselwirkung des Nahfeldlichts
und des lnformationsaufzeichnungsabschnitts des Aufzeichnungsmediums 1 erzeugt
wird, fällt
auf diesen ein, während
es von den Eigenschaften einer Intensität, einer Phase, usw. auf einem
Aufzeichnungsstatus des Informationsaufzeichnungsabschnitts begleitet wird.
Das einfallende, sich ausbreitende Licht wird zum Lichtdetektionsabschnitt 56 geleitet
und in ein elektrisches Signal umgewandelt und der Aufzeichnungsstatus
des lnformationsaufzeichnungsabschnitts wird durch eine Signalverarbeitungseinheit bestimmt,
die über
eine Signalleitung (nicht abgebildet) nicht in ähnlicher Weise abgebildet ist.
-
Ferner
kann der optische Nahfeld-Speicherkopf 60 durch den herkömmlichen
Halbleiterherstellungsvorgang ausgebildet werden und demgemäß kann eine
Vielzahl an optischen Nahfeld-Speicherköpfen 60 auf demselben
Siliziumsubstrat einfach angeordnet sein.
-
Die
optische Nahfeld-Speicherkopfanordnung ist nahe auf dem Aufzeichnungsmedium 1 angeordnet,
auf dem Informationen in einer Vielzahl an Spuren in Form von konzentrischen
Kreisen aufgezeichnet sind, und die optischen Nahfeld-Speicherkopfanordnung
ist angeordnet, um oberhalb der Vielzahl an Spuren des Aufzeichnungsmediums 1 eingerichtet
zu sein, wodurch das Abtasten des Kopfes oberhalb des Aufzeichnungsmediums 1 minimiert werden
kann und optische Hochgeschwindigkeitsaufzeichnung oder –reproduktion,
die keine Spurregelung benötigt,
ermöglich
wird.
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Wie
erläutert,
wird gemäß Ausführungsform 7
in dem Aufzeichnungsmedium 1, das zur Informationsreproduktion
unter Verwendung des Nahfeldlichts geeignet ist und Informationen
mit hoher Dichte aufgezeichnet hat, zur Reproduktion der aufgezeichneten
Informationen der optische Nahfeld-Speicherkopf 60, der
einstückig
mit einem Nahfeldlicht-Bildungssystem zur Bildung des Nahfeldlichts
am Aufzeichnungsmedium 1 sowie mit einem Nahfeldlicht-Detektionssystem
zum Steuern des ausgebildeten Nahfeldlichts und zum Leiten des gestreuten
(sich ausbreitenden) Lichts zum Lichtdetektionselement 56 ausgebildet
ist, wobei der Aufbau einer Gesamtheit der optischen Speichervorrichtung
kompakt ist und auf die Anpassung unter den jeweiligen Bestandteilen
verzichtet wird.
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Ferner
kann der optische Nahfeld-Speicherkopf 60 gemäß der Erfindung
unter Verwendung eines Halbleiterherstellungsverfahrens ausgebildet werden
und demgemäß ist die
Zusammensetzung für
die Massenproduktion geeignet und es kann die Anordnungsbildung
des optischen Nahfeld-Speicherkopfs 60 angewandt werden.
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[Ausführungsform
8]
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Gemäß Ausführungsform
8 wird ein Nahfeldlicht-Substrat (nicht abgebildet) durch einen
Aufbau ausgebildet, in der das Nahfeldlicht-Substrat durch eine
Tragestruktur über
dünne Wandabschnitte
getragen wird. Hier wird ein Aufbau zusammengesetzt, in der ein
Zwischenstück
zwischen dem Nahfeldlicht-Substrat und dem Tragesubstrat dünnwandig ist.
Der Aufbau wird unter Verwendung einer Silizium-Mikrobearbeitung
ausgebildet. Die Struktur wird durch ein Verfahren der Ausbildung
eines dünne Wandabschnitts
ohne Ausbildung eines Stababschnitts und lediglichen Vorragens des
Nahfeldlicht-Substratabschnitts ausgebildet. Gemäß der Ausführungsform wird die Ausführungsform
zusammengebaut, um um 0,1 mm vorzustehen und die Verdrahtung kann
aus einem Ausgangsanschluss herausgeführt werden. Ferner wird der
Vorsprung unter Verwendung eines Härtungsharzes befestigt, um
den Vorsprung ständig
aufrechtzuerhalten.
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Industrielle Anwendbarkeit
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Wie
erläutert,
sind gemäß der Erfindung nach
Anspruch 1 das Nahfeldlicht-Bildungssystem zur
Bildung des Nahfeldlichts vom Reflexionstyp auf einem Aufzeichnungsmedium
und das Nahfeldlicht-Detektionssystem zum Leiten des sich ausbreitenden
Lichts, das durch die Wechselwirkung mit dem ausgebildeten Nahfeldlicht
bereitgestellt wird, zum Lichtdetektionselement einstückig ausgebildet und
demgemäß ist der
Aufbau einer Gesamtheit der optischen Speichervorrichtung kompakt
und auf die Anpassung unter den jeweiligen Bestandselementen wird
verzichtet.
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Wie
erläutert,
sind gemäß der Erfindung nach
Anspruch 2 das Nahfeldlicht-Bildungssystem zur
Bildung des Nahfeldlichts vom Reflexionstyp auf einem Aufzeichnungsmedium
und das Nahfeldlicht-Detektionssystem zum Leiten des sich ausbreitenden
Lichts, das durch die Wechselwirkung mit dem ausgebildeten Nahfeldlicht
bereitgestellt wird, zum Lichtdetektionselement einstückig ausgebildet und
demgemäß ist der
Aufbau einer Gesamtheit der optischen Speichervorrichtung kompakt
und auf die Anpassung unter den jeweiligen Bestandselementen wird
verzichtet. Ferner kann die Anordnungsbildung einfach durchgeführt werden.
Weiters kann die Lichtquelle an einer Seite des optischen Nahfeld-Speicherkopfs
angeordnet werden und demgemäß kann ein
oberer Abschnitt des optischen Nahfeld-Speicherkopfs effektiv verwendet werden.
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Wie
erläutert,
kann gemäß der Erfindung nach
Anspruch 3 und Anspruch 4, zusätzlich
zur Durchführung
der kompakten Ausbildung des Aufbaus einer Gesamtheit der optischen
Speichervorrichtung und dem Verzicht auf die Anpassung unter den
jeweiligen Bestandselementen sowie der Anordnungsbildung des Kopfes,
die Lichtquelle an einem oberen Abschnitt des optischen Nahfeld-Speicherkopfs
angeordnet werden und demgemäß kann der Seitenabschnitt
des optischen Nahfeld-Speicherkopfs
effektiv verwendet werden.
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Wie
erläutert,
kann gemäß der Erfindung nach
Anspruch 5, neben der Durchführung
des kompakten Aufbaus einer Gesamtheit der optischen Speichervorrichtung,
dem Verzicht auf die Anpassung unter den jeweiligen Bestandselementen
sowie der Anordnungsbildung des Kopfes und der effektiven Verwendung
des Seitenabschnitts des optischen Nahfeld-Speicherkopfs, der optische
Nahfeld-Speicherkopf ausgebildet werden, ohne dass ein kompliziertes
Herstellungsverfahren notwendig ist.
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Wie
erläutert,
kann gemäß der Erfindung nach
Anspruch 6, neben der kompakten Ausbildung des Aufbaus einer Gesamtheit
der optischen Speichervorrichtung, dem Verzicht auf die Anpassung
unter den jeweiligen Bestandselementen und der effektiven Verwendung
des oberen Abschnitts des optischen Nahfeld-Speicherkopfs, der optische
Nahfeld-Speicherkopf ausgebildet werden, ohne dass ein kompliziertes
Herstellungsverfahren notwendig ist und insbesondere die Anordnungsbildung
des Kopfes einfach durchgeführt
werden kann.
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Wie
erläutert,
wird gemäß der Erfindung nach
Anspruch 7 im planaren Substrat, das durch Eindringen an zumindest
einem Loch in Form eines umgekehrten Pyramide ausgebildet wird,
so dass ein oberer Abschnitt derselben die sehr kleine Apertur ausbildet,
der Lichtwellenleiterpfad entlang der Seitenfläche des Lochs in der Tiefenrichtung
ausgebildet, so dass ein Endabschnitt an dem Aperturrandabschnitt
der sehr kleinen Apertur angeordnet ist und das Lichtdetektionsmittel
an dem anderen Endabschnitt des Lichtwellenleiterwegs ausgebildet
ist und demgemäß kann der
optische Nahfeld-Speicherkopf einstückig mit dem Nahfeldlicht-Bildungssystem zur
Bildung des Nahfeldlichts vom Reflexionstyp auf einem Aufzeichnungsmedium
und dem Nahfeldlicht-Detektionssystem zum Verteilen des ausgebildeten
Nahfeldlichts und zum Leiten des gestreuten (sich ausbreitenden)
Lichts zum Lichtdetektionselement bereitgestellt werden, wobei der
Aufbau einer Gesamtheit der optischen Speichervorrichtung kompakt
ist, auf die Anpassung unter den jeweiligen Bestandteilen verzichtet
wird und ferner die Anordnungsbildung einfach durchgeführt werden
kann.
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Ferner
ist der Lichtwellenleiterpfad zum Leiten des gestreuten Lichts entlang
einer Richtung ausgebildet, die eine hohe Intensitätsverteilung
des verteilten Lichts darstellt, das Lichtdetektionselement in der
Nähe der
sehr kleinen Apertur als ein Abschnitt des Kopfs bereitgestellt
wird und demgemäß wird die sehr
effiziente Detektion des verteilten Lichts mit geringem Verlust
ermöglicht.
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Wie
erläutert,
ist gemäß der Erfindung
nach Anspruch 8 im planaren Substrat, das durch Eindringen an zumindest
einem Loch in Form eines umgekehrten Pyramide ausgebildet wird,
so dass ein oberer Abschnitt derselben die sehr kleine Apertur ausbildet
und durch Umfassen eines Materials des übertragenen Lichts, die Linse
an dem Aperturrandabschnitt der sehr kleinen Apertur ausgebildet, das
Lichtdetektionsmittel ist auf der optischen Achse der Linse und
auf dem planaren Substrat ausgebildet und demgemäß kann der optische Nahfeld-Speicherkopf
einstückig
mit dem Nahfeldlicht-Bildungssystem zur Bildung des Nahfeldlichts
vom Reflexionstyp auf einem Aufzeichnungsmedium und dem Nahfeldlicht-Detektionssystem
zum Verteilen des ausgebildeten Nahfeldlichts und zum Leiten des
gestreuten (sich ausbreitenden) Lichts zum Lichtdetektionselement
bereitgestellt werden, wobei die Zusammensetzung einer Gesamtheit
der optischen Speichervorrichtung kompakt ist, auf die Anpassung
unter den jeweiligen Bestandteilen verzichtet wird und ferner die Anordnungsbildung
einfach durchgeführt
werden kann.
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Durch
Fokussieren von Licht durch die Linse kann ferner das sich ausbreitende
Licht, mit einer ausreichenden Intensität zur Eignung der Bestimmung
des Aufzeichnungsstatus des Informationsaufzeichnungsabschnitts
des Aufzeichnungsmediums, zum Lichtdetektionselement geleitet werden
und die über
eine höhere
Zuverlässigkeit
verfügende
Informationsreproduktion wird durchgeführt. Ferner kann eine Ausgabe
des Beleuchtungslichts zur Bildung des optischen Nahfeld-Speicherkopfs
verringert werden und die Erwärmung
des optischen Nahfeld-Speicherkopfs
durch das Beleuchtungslicht wird zusammen mit dem Energieverbrauch
eingeschränkt.
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Wie
erläutert,
ist gemäß der Erfindung
nach Anspruch 9 und 10 im planaren Substrat, das durch Eindringen
an zumindest einem Loch in Form einer umgekehrten Pyramide ausgebildet
wird, so dass ein oberer Abschnitt derselben die sehr kleine Apertur ausbildet,
das Lichtdetektionsmittel am Aperturrandabschnitt der sehr kleinen
Apertur bereitgestellt und daher kann der optische Nahfeld-Speicherkopf einstückig mit
dem Nahfeldlicht-Bildungssystem zur Bildung des Nahfeldlichts vom
Reflexionstyp auf einem Aufzeichnungsmedium und dem Nahfeldlicht-Detektionssystem
zum Verteilen des ausgebildeten Nahfeldlichts und zum Leiten des
gestreuten (sich ausbreitenden) Lichts zum Lichtdetektionselement
bereitgestellt werden, wobei der Aufbau einer Gesamtheit der optischen
Speichervorrichtung kompakt ist, auf die Anpassung unter den jeweiligen
Bestandteilen verzichtet wird und ferner die Anordnungsbildung einfach
durchgeführt
werden kann.
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Ferner
kann das sich ausbreitende Licht, das eine Eigenschaft zur Eignung
der Bestimmung des Aufzeichnungsstatus des Informationsaufzeichnungsabschnitts
des Aufzeichnungsmediums aufweist, direkt durch das Lichtdetektionselement
empfangen werden und die stabile Informationsreproduktion kann ohne
Verluste des sich ausbreitenden Lichts durchgeführt werden.
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Wie
erläutert,
wird gemäß der Erfindung nach
Anspruch 11 bis Anspruch 16 durch Zusammensetzen des Aufbaus, in
der das Nahfeldlicht-Bildungsmittel mit dem sehr kleinen Aperturabschnitt 54 zur
Bildung des Nahfeldlichts am Aufzeichnungsmedium 1 und
dem Nahfeldlicht-Detektionsmittel zum Detektieren des ausgebildeten
Nahfeldlichts auf demselben Substrat bereitgestellt sind und das
Substrat (Nahfeldlicht-Substrat) vom Substrat am Außenumfangsabschnitt
vorsteht, das sich ausbreitende Licht, das durch die Wechselwirkung
des durch das ausgestrahlte Licht an der sehr kleinen Apertur 54 gebildete
Nahfeldlicht und des Aufzeichnungsmediums 1 erzeugt wird,
durch das Lichtdetektionsmittel empfangen, wodurch dieses auf demselben
Substrat ausgebildet werden kann, der optische Nahfeld-Speicherkopf
sich einfach dem Aufzeichnungsmedium 1 annähern kann
und ein Ausgabesignal einfach aus einem Ausgangsanschluss entnommen
werden kann.
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Ferner
kann das sich ausbreitende Licht, das eine Eigenschaft zur Eignung
der Bestimmung des Aufzeichnungsstatus des Informationsaufzeichnungsabschnitts
des Aufzeichnungsmediums 1 aufweist, direkt durch das Lichtdetektionselement 56 empfangen
werden und die stabile Informationsreproduktion kann ohne Verluste
des sich ausbreitenden Lichts durchgeführt werden.
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Wie
erläutert,
kann gemäß der Erfindung nach
Anspruch 17 der optische Nahfeld-Speicherkopf
einstückig
mit dem Nahfeldlicht-Bildungsmittel und dem Nahfeldlicht-Detektionssystem
bereitgestellt werden, wobei die Zusammensetzung einer Gesamtheit
der optischen Speichervorrichtung kompakt ist und die Anordnungsbildung
einfach durchgeführt werden
kann.