DE69913107T2 - Stromgesteuerter leseverstärker - Google Patents

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Description

  • Die Erfindung betrifft eine integrierte Schaltung, wie im Oberbegriff von Anspruch 1 beschrieben, offenbart im US-Patent Nr. 5.253.137.
  • Das US-Patent Nr. 5.253.137 offenbart einen Speicher mit einem Strom-Leseverstärker. Der Strom-Leseverstärker stellt die einem Paar komplementärer Bitleitungen entzogenen Ströme ein, sodass die Potenzialdifferenz zwischen den Bitleitungen konstant null bleibt. Die Stromdifferenz wird verwendet, um ein Speicher-Ausgangssignal zu generieren. Indem die Potenzialdifferenz zwischen den Bitleitungen konstant gehalten wird, werden Verzögerungen, die zum Laden und Abgleichen der Bitleitungen benötigt werden, vermieden.
  • Der Speicher gemäß dem US-Patent Nr. 5.253.137 hat zwei Stromversorgungsanschlüsse. Eingänge der Leseverstärker sind mit dem ersten Stromversorgungsanschluss über jeweilige Bitleitungen verbunden. Der Leseverstärker enthält zwei Stromzweige. Jeder Eingang des Leseverstärkers ist über seinen eigenen Stromzweig mit dem zweiten Stromversorgungsanschluss verbunden. Jeder Stromzweig enthält den Source-Drain-Kanal eines PMOS-Eingangstransistors und eines PMOS-Lasttransistors hintereinander zwischen der Bitleitung und dem zweite Stromversorgungsanschluss. Das Gate des Eingangstransistors in jedem Zweig ist mit der Drain des Eingangstransistors in dem anderen Stromzweigkreuzgekoppelt. Die Gates des Lasttransistors sind mit den zweiten Stromversorgungsanschlüssen gekoppelt.
  • Im Betrieb gleicht der Leseverstärker den Spannungsabfall von den Eingängen des Leseverstärkers zu dem zweiten Stromversorgungsanschluss hin aus, der einen gemeinsamen Knoten für die beiden Zweige bildet. Die Gate-Source-Spannung des Eingangstransistors und des Lasttransistors in dem gleichen Stromzweig sind nahezu gleich, weil sie den gleichen Strom ziehen. Die Kreuzkopplung sorgt dafür, dass der Spannungsabfall an jedem Stromzweig die Summe der Gate-Source-Spannungsabfälle eines Transistors aus jedem Zweig ist.
  • Diese Schaltung hat den Nachteil, dass sie eine Stromversorgungsspannung mit zumindest zwei Gate/Source-Schwellenspannungen benötigt, um zu arbeiten.
  • Der Erfindung liegt als Aufgabe zugrunde, eine integrierte Schaltung mit einem Speicher und einem Strom-Leseverstärker zu verschaffen, die bis zu niedrigeren Speisespannungen hin arbeitet.
  • Die erfindungsgemäße integrierte Schaltung wird in Anspruch 1 beschrieben. In dem Leseverstärker wird der Gate-Source-Spannungsabfall der Lasttransistoren in einer der Richtung des Gate-Source-Spannungsabfalls der Eingangstransistoren entgegengesetzten Richtung eingebracht. Somit ist der Spannungsabfall von den Eingängen des Leseverstärkers zum gemeinsamen Knoten der Lasttransistoren die Differenz der Gate-Source-Spannungsabfälle eines Eingangstransistors und eines Lasttransistors statt einer Summe wie beim Stand der Technik. Wie beim Stand der Technik sorgt die Kreuzkopplung dafür, dass die Spannungsabfälle von den Eingängen des Leseverstärkers zum gemeinsamen Punkt ausgeglichen werden. Aber weil diese Spannungsabfälle zwischen den Eingängen und dem gemeinsamen Knoten jetzt alle kleiner sind als beim Stand der Technik, genügt eine kleinere Speisespannung.
  • Gewöhnlich werden komplementäre Ausgänge einer Speicherzelle mit jeweiligen der Speicher-Bitleitungen gekoppelt werden; auf diese Weise kann eine ganze Spalte von Speicherzellen mit den Bitleitungen verbunden werden, wobei Speicherselektionssignale bestimmen, welche Speicherzelle imstande sein wird, den durch die Bitleitungen fließenden Strom zu beeinflussen. Man kann jedoch auch eine Speicherzelle mit einfachen Ausgängen verwenden. In diesem Fall ist eine der Bitleitungen mit der Speicherzelle gekoppelt und die andere Bitleitung kann mit einer Bezugsstromquelle (Leerzelle) verbunden sein.
  • Bei einer Ausführungsform der erfindungsgemäßen integrierten Schaltung haben die Eingangstransistoren und die Lasttransistoren alle den gleichen Leitungstyp. So können die Gate-Source-Spannungsabfälle von Lasttransistoren und Eingangstransistoren in einfacher Weise gleich gemacht werden, indem durch diese Transistoren die gleichen Ströme durchgelassen werden.
  • Bei einer anderen Ausführungsform der erfindungsgemäßen integrierten Schaltung ist der gemeinsame Knoten über eine gemeinsame Stromquelle mit dem gleichen Stromversorgungsanschluss verbunden wie die Bitleitungen. So erzwingen Änderungen des durch den Kanal des einen Lasttransistors fließenden Stroms entgegengesetzte Änderungen des durch den anderen Lasttransistor fließenden Stroms.
  • Bei einer anderen Ausführungsform sind die Drains der Eingangstransistoren über eine erste bzw. zweite Stromquelle mit einem zweiten Stromversorgungsanschluss verbunden. So erzwingen Änderungen des durch die Drains der Eingangstransistoren fließenden Stroms entgegengesetzte Änderungen des durch die Kanäle der Lasttransistoren, mit denen diese Drains verbunden sind, fließenden Stroms. Dies wird die Spannungsabfälle zwischen den Eingängen und dem gemeinsamen Knoten einander dichter folgen lassen. Vorzugsweise sind die erste und die zweite Stromquelle schaltbar, sodass sie abgeschaltet werden können, wenn das Lesen aus dem Speicher deaktiviert ist. Noch mehr zu vorzuziehen ist, wenn die erste und die zweite Stromquelle je einen Schalter umfassen, um das Potenzial an der Drain der Eingangstransistoren auf das Potenzial der Stromversorgung, mit der die Bitleitungen verbunden sind, zu ziehen. Dies schaltet den Leseverstärker schneller aus und verhindert schwebende Knoten.
  • Diese und andere vorteilhafte Aspekte der erfindungsgemäßen integrierten Schaltung sind in der Zeichnung dargestellt und werden im Folgenden näher beschrieben.
  • 1 zeigt einen Speicher mit einem Leseverstärker.
  • 2 zeigt eine Ausführungsform eines Leseverstärkers.
  • 3 zeigt einen Ausgangszwischenspeicher.
  • 1 zeigt einen Speicher mit einem Leseverstärker. Der Speicher enthält Speicherzellen, von denen eine Speicherzelle 10 gezeigt wird. Die Speicherzellen 10 sind in Spalten organisiert und die Zellen 10 in einer Spalte sind mit einem Paar Bitleitungen 11a, b verbunden. Die Bitleitungen 11a, b sind mit einem Leseverstärker 12 verbunden.
  • 1 veranschaulicht nur diejenigen Aspekte des Leseverstärkers, die für den Betrieb der vorliegenden Erfindung funktionell sind. Der Leseverstärker 12 enthält einen ersten und zweiten PMOS-Eingangstransistor 14a, b jeder mit einer Source, die mit jeweils einer der Bitleitungen 11a, b verbunden ist. Die Drain jedes PMOS-Eingangstransistors 14a, b ist mit dem Gate des anderen PMOS-Eingangstransistors 14a, b gekoppelt. Die Drains des ersten und zweiten Eingangstransistors 14a, b sind mit einem gemeinsamen Knoten 18 über die Kanäle eines ersten bzw. zweiten PMOS-Lasttransistors 16a, b gekoppelt.
  • Im Betrieb ist die Speicherzelle 10 während des Messens leitend mit den Bitleitungen 11a, b verbunden und beginnt, diesen Bitleitungen 11a, b Strom zu entziehen, einer Bitleitung 11a, b mehr als der anderen, je nach dem Zustand der Speicherzelle 10.
  • Der Leseverstärker 12 regelt die Differenz zwischen den Potenzialen der Bitleitungen 11a, b auf null. Die Potenzialdifferenz zwischen den Bitleitungen 11a, b ist die Summe von hintereinander der Source-Gate-Spannung des ersten Eingangstransistors 14a, der Gate-Source-Spannung des zweiten Lasttransistors 16b, der Source-Gate-Spannung des ersten Lasttransistors 16a und der Gate-Source-Spannung des zweiten Eingangstransistors 14b: V(11a – 11b) = –Vgs(14a) + Vgs(16b) – Vgs(16a) + Vgs(14b)
  • Diese Potenzialdifferenz ist wegen der hohen Transkonduktanz g (Verhältnis zwischen Kanalstromänderungen und Gate-Source-Spannungsänderungen) von Transistoren bereits ziemlich konstant: Änderungen von Vgs sind um einen Faktor 1/g kleiner als die auf die Speicherzelle zurückzuführenden Änderungen des Stroms.
  • Zudem bedeutet die Kreuzkopplung zwischen den Gates und Drains der Eingangstransistoren 14a, b, dass, wenn die Speicherzelle 10 das Source-Potenzial des einen Eingangstransistors 14a, b erhöht, sodass der durch den Kanal dieses Eingangstransistors 14a, b fließende Strom zunimmt, der mit diesem Kanal verbundene Lasttransistor 16a, b das Gate-Potenzial des anderen Eingangstransistors 14a, b ansteigen lässt, sodass das Source-Potenzial des anderen Eingangstransistors auch ansteigt. So wird der Potenzialdifferenz zwischen den Bitleitungen entgegengewirkt. Weil die Kreuzkopplungen eine Schleife bilden, wird diese Gegenwirkung durch einen Rückkopplungseffekt verstärkt.
  • Wenn die von der Speicherzelle 10 verursachten Stromschwankungen zu gleichen, aber entgegengesetzten Gate-Source-Potenzialänderungen in dem Eingangstransistor 14a, b und dem Lasttransistor 16a, b führen, deren Kanäle verbunden sind: dVgs(14a) = –dVgs(16a) und dVgs(14b) = –dVgs(16b))wird Idealerweise die Potenzialdifferenz zwischen den Bitleitungen 11a, b vollständig unterdrückt.
  • Es ist wichtig, zu bemerken, dass die Richtung von Gate-Source-Spannungsabfällen im Leseverstärker 12 wechselt. Alle Knoten des Leseverstärkers 12 sind über Gate-Source-Übergänge mit anderen Knoten verbunden. Nicht zwei dieser Übergänge liegen mit einem Gate-Source-Spannungsabfall in gleicher Richtung in Reihe. Folglich ist das Potenzial keines der Knoten in dem Leseverstärker 12 weiter als eine Gate-Source-Spannung von irgendeinem anderen Knoten in dem Leseverstärker 12 entfernt.
  • Daher wird der Leseverstärker 10 bis zu einer sehr niedrigen Speisespannung hinab arbeiten. Auch werden die Substratvorspannung der Eingangstransistoren 14a, b und die der Lasttransistoren 16a, b eng aufeinander abgestimmt sein, sodass die Source-Gate-Spannungsabfälle an den Eingangstransistoren 14a, b und an den Lasttransistoren 16a, b bei gleichem Kanalstrom eng aufeinander abgestimmt sind.
  • Anstelle der PMOS-Lasttransistoren 16a, b könnte man NMOS-Lasttransistoren verwenden, deren Gates mit deren Drains gekoppelt sind, d. h. mit dem gemeinsamen Knoten 18. Dies würde jedoch eine kompliziertere Transistoranpassung erfordern, wenn man sicherstellen möchte, dass durch den Speicher verursachte Stromschwankungen die gleiche Gate-Source-Spannung, aber entgegengesetzte Schwankungen in den Lasttransistoren 16a, b und den Eingangstransistoren 14a, b bewirken.
  • 2 zeigt eine Ausführungsform eines Leseverstärkers 12. Zusätzlich zu den in 1 gezeigten Elementen zeigt 2 einen ersten und zweiten Stromversorgungsanschluss Vdd, Vss. Die Bitleitungen 11a, b sind mit dem ersten Stromversorgungsanschluss Vdd über jeweilige Lasten 26a, b verbunden.
  • Zusätzlich zu den in 1 gezeigten Elementen enthält der Leseverstärker 12 einen ersten und zweiten NMOS-Stromquellentransistor 22a, b, einen gemeinsamen Impedanz-PMOS-Transistor 20 und PMOS-Ausgangstransistoren 24a, b.
  • Die Verbindung der Drains des ersten Eingangstransistors 14a und des ersten Lasttransistors 16a ist mit dem zweiten Stromversorgungsanschluss Vss über den Kanal des ersten NMOS-Stromquellentransistors 22a verbunden. Die Verbindung der Drains des zweiten Eingangstransistors 14b und des zweiten Lasttransistors 16b ist über den Kanal des zweiten NMOS-Stromquellentransistors 22b mit dem zweiten Stromversorgungsanschluss Vss verbunden. Die Gates der NMOS-Stromquellentransistoren 22a, b sind miteinander und mit einem Selektionseingang Ysel verbunden.
  • Der gemeinsame Knoten 18 ist mit dem ersten Stromversorgungsanschluss Vdd über den Kanal des gemeinsamen Impedanz-Transistors 20 verbunden. Das Gate des gemeinsamen Impedanz-Transistors 20 ist mit dem zweiten Stromversorgungsanschluss Vss gekoppelt.
  • Das Gate und die Source des ersten PMOS-Ausgangstransistors 24a sind parallel zu dem Gate und der Source des ersten Eingangstransistors 14a geschaltet. Das Gate und die Source des zweiten PMOS-Ausgangstransistors 24b sind parallel zu dem Gate und der Source des zweiten Eingangstransistorss 14a geschaltet.
  • Im Betrieb dienen der erste und der zweite NMOS-Stromquellentransistor 22a, b dazu, sicherzustellen, dass Stromänderungen durch die Eingangstransistoren 14a, b vollständig an die Lasttransistoren 16a,b übertragen werden, sodass diese Eingangs- und Lasttransistoren, die durch ihre Drains verbunden sind, entgegengesetzte Stromänderungen haben. Dies vereinfacht es, zu gewährleisten, dass vom Speicher verursachte Stromschwankungen die gleiche Gate-Source-Spannung, aber entgegengesetzte Schwankungen in den Lasttransistoren 16a, b und den Eingangstransistoren 14a, b bewirken. Statt Stromquellen können andere Impedanzschaltungen verwendet werden, aber dann wird die Stromänderung in den Lasttransistoren geringer sein.
  • Vorzugsweise liefert jeder Stromquellentransistor 22a, b zweimal den Ruhestrom, der aus jeder Bitleitung 11a, b durch jeden Eingangstransistor 14a, b fließt. Somit wird der durch die Lasttransistoren 16a, b fließende Ruhestrom gleich dem durch die Eingangstransistoren 14a, b fließenden Strom sein, wodurch gleiches Potenzial auf den Bitleitungen 11a, b gewährleistet ist, wenn die Eingangs- und Lasttransistoren gleiche Größe haben. So werden Gate-Source-Spannungsänderungen der Lastransistoren 16a, b und der Eingangstransistoren 14a, b in Reaktion auf Stromänderungen enger aufeinander abgestimmt sein. Dies vereinfacht es, zu gewährleisten, dass vom Speicher verursachte Stromschwankungen die gleiche Gate-Source-Spannung, aber entgegengesetzte Schwankungen in den Lasttransistoren 16a, b und den Eingangstransistoren 14a, b bewirken.
  • Die Ausgangstransistoren 24a, b ziehen einen Ausgangsstrom, der proportional zu dem Strom durch die Eingangstransistoren 14a, b ist. Dieser Strom kann zum Ansteuern einer Ausgangsschaltung (nicht abgebildet) verwendet werden.
  • Der gemeinsame Impedanz-Transistor 20 verschafft vorzugsweise den gleichen Spannungsabfall wie der mittlere Spannungsabfall an den Lasten 26a, b. So werden die Gate-Source-Spannungsänderungen der Lasttransistoren 16a, b und der Eingangstransistoren 14a, b in Reaktion auf Stromänderungen enger aufeinander abgestimmt sein. Wenn die Ausgangstransistoren 24a, b n mal den Strom der Eingangstransistoren 14a, b ziehen, ist der Strom durch die Bitleitungen n + 1 mal so groß wie der Strom durch die Eingangstransistoren 14a, b. So sollte die Source-Drain-Impedanz des Impedanz-Transistors 20 ungefähr (n + 1)/2 mal so groß wie die mit den Bitleitungen verbundene Impedanz sein, um den gleichen Spannungsabfall zu verschaffen.
  • Die Stromquellentransistoren 22a, b werden vorzugsweise zum Ein- und Ausschalten des Leseverstärkers verwendet. Hierzu empfangen die Gates dieser Stromquellentransistoren 22a, b ein Selektionssignal Ysel. Wenn dieses Signal Ysel niedrig ist, wird der Leseverstärker ausgeschaltet und es wird kein Strom verbraucht. Wenn das Signal Ysel hoch ist, ist der Leseverstärker aktiv.
  • Eine kleine Signalanalyse des Leseverstärkers zeigt, dass das frequenzabhängige Verhalten des Leseverstärkers von der Gate-Source-Kapazität Cc der Eingangstransistoren 14a, b, der Drain-Vss-Kapazität Ca der Eingangstransistoren 14a, b und in geringerem Maße von der Bitleitungskapazität Cb abhängt. Weiterhin hängt das Verhalten von der Transkonduktanz der Eingangstransistoren 14a, b und dem mg der Lasttransistoren 16a, b ab. Mit einer komplexen Frequenz s (i·2·pi·f) ausgedrückt, wird die Differenz zwischen den Bitleitungsspannungen Vx, Vy eine lineare Funktion der Differenz zwischen den Strömen I1, I2 durch die Eingangstransistoren 14a, b sein: Vx – Vy = {((m – 1)g + s(Ca + Cc))/(mg + sCa)}·(I1 – I2)/g
  • Für eine kleine Frequenz s und m nahe 1 ist diese Differenz klein. So ist zu erkennen, dass der Leseverstärker den gewünschten Effekt hat, die Bitleitungspotenziale gleich zu halten. Der differentielle Ausgangsstrom Io des Leseverstärkers geteilt durch den Speicherzellenstrom Ic wird ungefähr gegeben durch Io/Ic = K/(1 + s·2B/A + s·s/(A·A))d. h. die differentielle Ausgangsstromantwort auf Eingangsstromänderungen hat eine Null-Frequenzverstärkung "K", mit K = n/(n + 1) (n ist der Faktor zwischen dem W/L-Verhältnis der Eingangstransistoren 14a, b und dem W/L-Verhältnis der Ausgangstransistoren 24a, b). Die Ausgangsstromantwort hat eine Frequenzabhängigkeit zweiter Ordnung mit einer Resonanzspitze nahe einer Frequenz A, wobei gilt A = g sqrt([n + 1]/[(Ca + Cc)·Cb])(sqrt() ist die Quadratwurzelfunktion). Der Dämpfungsfaktor "B" der Resonanz ist B = 0,5·{1/(g·Rb) + Cb(m – 1)/(Ca + Cc)}/sqrt{(n + 1)·Cb/(Ca + Cc)}(Rb ist die Impedanz der mit den Bitleitungen 10a, b verbundenen Lasten ). Es sei bemerkt, dass der Dämpfungsfaktor sicher größer null ist, wenn m größer oder gleich 1 ist. Tatsächlich wird bevorzugt, dass m > 1 ist, um Stabilität der Schaltung zu gewährleisten. Um Überschwingen zu verringern, ist es wünschenswert, dass B > 0,5. Dies kann sichergestellt werden, indem m größer als eins gewählt wird.
  • Daher wird ein Ausgleich der Bitleitungsspannung nicht vollkommen, aber noch ausreichend sein, aber der Dämpfungsfaktor B wird sowohl für niedrige Bitleitungskapazitätswerte Cb als auch hohe Bitleitungskapazitätswerte Cb zunehmen.
  • Dies ist besonders vorteilhaft für eine Verwendung des Leseverstärkers in einer Schaltungsbibliothek, die zum Einbetten von Speichern unterschiedlicher Größe in verschiedene Schaltungsentwürfe verwendet wird. In diesem Fall braucht der Leseverstärker nicht erneut entworfen zu werden, um Stabilität für Speicher unterschiedlicher Größe zu gewährleisten.
  • Bei einem Beispiel für den Leseverstärker gilt gRb = 1/3, n = 3 Cb = 1 pF und Ca + Cc = 0,2 pF. In diesem Fall stellt ein Wert von zumindest 1,29 für m sicher, dass der Dämpfungsfaktor B größer oder gleich 0,5 ist.
  • Die Verzögerung des Leseverstärkers wird gegeben durch Verzögerung = {(Ca + Cc)/(g·Rb) + Cb(m – 1)}/{(n + 1)·g}
  • Wenn m = 1 ist, ist diese Verzögerung unabhängig von der Bitleitungskapazität. Wenn beispielsweise n = 3, Ca + Cc = 0,2 pF, gRb = 1/3, m = 1 und g = 1/(7 kOhm) gilt, wird ein Verzöge rungswert von 1,1 ns gefunden. Diese Verzögerung kann für eine Speisespannung von nur 1,5 Volt realisiert werden. Wenn m > 1, wird die Verzögerung, um Stabilität zu gewährleisten, geringfügig mit der Bitleitungskapazität Cb ansteigen, aber die Abhängigkeit von der Bitleitungskapazität ist nur geringfügig, solange m nahe 1 ist.
  • Dies macht den Leseverstärker auch sehr geeignet für eine Verwendung in einer Schaltungsbibliothek, die zum Einbetten von Speichern unterschiedlicher Größe in verschiedene Schaltungsentwürfe verwendet wird.
  • Zudem nutzt der Leseverstärker nur eine kleine Halbleitersubstratfläche, da er nur neun Transistoren enthält, von denen nur zwei eine minimale Größe überschreiten. Es wird nur ein einziges Steuersignal Ysel verwendet, das hinsichtlich des Zeitverhaltens nicht kritisch ist. Es wird wenig Strom verbraucht, typischerweise nicht mehr als vier mal ein Speicherzellenstrom.
  • 3 zeigt einen Ausgangszwischenspeicher für einen Strom-Leseverstärker. Der Ausgangszwischenspeicher ist mit dem in 1 oder 2 gezeigten Leseverstärker gekoppelt. Der Deutlichkeit halber werden nur diejenigen Teile des Leseverstärkers gezeigt, die an den Ausgangszwischenspeicher anschließen.
  • 3 zeigt die Bitleitungen 11a, b, die Eingangstransistoren 14a, b, die ersten und zweiten Ausgangstransistoren 24a, b und die ersten und zweiten weiteren Ausgangstransistoren 30a, b. Die Sources des ersten Eingangstransistors 14a, des ersten Ausgangstransistors 24a und des ersten weiteren Ausgangstransistors 30a sind miteinander und mit der ersten Bitleitung 11a verbunden. Die Gates des ersten Eingangstransistors 14a, des ersten Ausgangstransistors 24a und des ersten weiteren Ausgangstransistors 30a sind auch miteinander verbunden. Ebenso sind die Sources des zweiten Eingangstransistors 14b, des zweiten Ausgangstransistors 24b und des zweiten weiteren Ausgangstransistors 30b miteinander und mit der zweiten Bitleitung 11b verbunden. Die Gates des zweiten Eingangstransistors 14b, des zweiten Ausgangstransistors 24b und des zweiten weiteren Ausgangstransistors 30b sind auch miteinander verbunden.
  • Die Drains des ersten und zweiten Ausgangstransistors 24a, b sind mit einem ersten bzw. zweiten Ausgangsknoten 35a, b verbunden. Die Drains des ersten und zweiten weiteren Ausgangstransistors 30a, b sind über einen ersten Stromspiegel 32a, 33b bzw. einen zweiten Stromspiegel 32b, 33a kreuzweise mit dem zweiten und ersten Ausgangsknoten gekoppelt.
  • Der Ausgangszwischenspeicher umfasst weiterhin Pull-Down-Transistoren 36a, b und kreuzgekoppelte Inverter 38a, b. Der erste und der zweite Ausgangsknoten 35a, b sind mit dem Gate des ersten bzw. zweiten Pull-Down-Transistors 36a, b gekoppelt. Die Sources dieser Pull-Down-Transistoren 36a, b sind mit Vss verbunden und ihre Drains sind mit dem Eingang von jeweiligen der kreuzgekoppelten Inverter 38a, b verbunden. Ein Ausgangsinverter 39 ist mit dem Eingang eines der kreuzgekoppelten Inverter 38a, b gekoppelt.
  • Im Betrieb empfangen die Ausgangstransistoren 24a, b und die weiteren Ausgangstransistoren 30a, b alle Gate-Source-Spannungen, die durch die Stromdifferenzen zwischen den Bitleitungen 11a, b bestimmt werden. Daher unterscheiden sich die aus den Drains dieser Transistoren 24a, b 30a, b fließende Ströme auch im Verhältnis zu den Differenzen zwischen den Strömen der Bitleitungen 11a, b. Die Ströme aus den Ausgangstransistoren fließen direkt zu den Ausgangsknoten 35a, b. Die aus den weiteren Ausgangstransistoren 30a, b fließenden Ströme werden kreuzweise zu den Ausgangsknoten 35a, b reflektiert. Daher ist der Strom, der von jedem Ausgangsknoten 35a, b aus fließt, proportional zu dem Strom, der in den anderen Ausgangsknoten 35a, b fließt.
  • Die Kombination aus Transistorgrößen der weiteren Ausgangstransistoren 30a, b und der Stromspiegeltransistoren 32a, b, 33a, b wird relativ zu der Transistorgröße der Ausgangstransistoren 24a, b entworfen, sodass der aus jedem Ausgangsknoten 35a, b über den betreffenden Stromspiegel 32a, b 33a, b fließende Strom um einen Faktor "F" größer ist als der in den anderen Ausgangsknoten 35a, b vom Ausgangstransistor 24a, b, der mit dem anderen Ausgangsknoten 35a, b verbunden ist, aus fließende Strom. Der Faktor F setzt sich aus dem Verhältnis "A" (W1/L1)/(W2/L2) von W/L-Verhältnissen W1/L1 der weiteren Ausgangstransistoren 30a, b und der Ausgangstransistoren 24a, b und einem Stromverstärkungsfaktor B der Stromspiegel: F = B/A zusammen.
  • Der Faktor "F" ist so entworfen, dass er größer als eins ist, aber kleiner als das Verhältnis zwischen den Strömen aus den zwei Bitleitungen 11a, b, wenn eine Speicherzelle mit den Bitleitungen 11a, b verbunden ist. Dieses Verhältnis dient dazu, zu gewährleisten, dass beide Ausgangsknoten 35a, b auf einen niedrigen Pegel gezogen werden, wenn keine Speicherzelle aktiv mit den Bitleitungen 11a, b verbunden ist, und einer der Ausgangsknoten 35a, b auf einen hohen Pegel gezogen wird, wenn eine Speicherzelle aktiv angeschlossen ist. Welcher der Ausgangsknoten 35a, b auf einen hohen Pegel gezogen wird, hängt von dem in der Speicherzelle gespeichertem Bit ab.
  • Somit werden die kreuzgekoppelten Inverter 38a, b in dem gleichen Zustand bleiben, solange keine Speicherzelle aktiv mit den Bitleitungen 11a, b verbunden ist. Daher wird vor einer aktiven Verbindung der Speicherzelle kein Rücksetzen des Ausgangszwischenspeichers benötigt. Nur einer der zwei in der Speicherzelle gespeicherten möglichen Bitwerte wird eine Leistungsaufnahme zum Umschalten des kreuzgekoppelten Paares von Invertern 38a, b bewirken.
  • Außer in einem Strom-Leseverstärker kann die Ausgangsstufe auch in Komparatoren verwendet werden, beispielsweise in A/D- oder D/A-Umsetzern.
  • Nach Abschluss der Messung können die durch die Ausgangstransistoren 24a, b und die weiteren Ausgangstransistoren 30a, b fließenden Ströme ausgeschaltet werden. In diesem Zustand entzieht der Ausgangszwischenspeicher keinen Gleichstrom, wodurch zusätzlicher Leistungsverbrauch eingespart wird.
  • Der Ausgangszwischenspeicher ist sehr schnell und arbeitet herab bis zu einer niedrigen Spannung. Bei einer Ausführungsform wurden W/L-Verhältnisse von 32 für die Ausgangstransistoren 24a, b und von 16 für die weiteren Ausgangstransistoren 30a, b verwendet und W/L-Verhältnisse von 2,8 für die Eingangstransistoren 32a, b der Stromspiegel und 6,8 für die Ausgangstransistoren 33a, b der Stromspiegel. Ein W/L-Verhältnis von 8 wurde für die Pull-Down-Transistoren 36a, b verwendet und 0,93/0,35 und 1,46/0,55 wurden für die (PMOS-W/L)/(NMOS-W/L)-Verhältnisse in den kreuzgekoppelten Invertern 38a, b verwendet (wobei der Inverter 38b, der mit dem Ausgangsinverter gekoppelt ist, die größten W/L-Werte aufweist). Dies ergab eine Leseverzögerung von nur 0,98 ns bei einer Speisespannung von 1,5 Volt. Die Schaltung blieb bis unter eine Speisespannung von 0,5 Volt betriebsfähig (mit zunehmender Verzögerung). Bei einer Speisespannung von 2,5 Volt betrug die Verzögerung 0,64 ns.
  • Natürlich können in Kombination mit dem Leseverstärker von 2 auch andere Ausgangsstufen verwendet werden. Man könnte beispielsweise nur einen Ausgangsknoten 35a und nur einen Stromspiegel 32b, 33a verwenden, wobei eine gleiche Verstärkung aus den Ausgangstransistoren 24a und der Kombination aus dem weiteren Ausgangstransistor 30b und den Stromspiegeln 32b, 33a genommen wird. So kann der eine Ausgangsknoten 35a als Logikausgang verwendet werden. Bei einem anderen Beispiel können erste und zweite NMOS-Stromspiegel mit dem ersten bzw. zweiten Ausgangstransistor 24a, b verbunden sein, wobei der Ausgang des ersten NMOS-Stromspiegels direkt mit einem Logikausgangsknoten gekoppelt ist, wobei der Ausgang des zweiten NMOS- Stromspiegels über einen PMOS-Stromspiegel mit dem Ausgangsknoten gekoppelt ist. Viele Schaltungsvarianten von Ausgangszwischenspeichern, die den Strom aus den Ausgangstransistoren 24a, b oder deren Gate-Source-Spannung nutzen, sind möglich.

Claims (8)

  1. Integrierte Schaltung, mit einem Speicher mit – Speicher-Bitleitungen (11a, 11b); – einem ersten und zweiten Eingangstransistor (14a, 14b) mit kreuzgekoppelten Gates und Drains, wobei jeder Transistor (14a, 14b) eine mit einer jeweiligen der Speicher-Bitleitungen (11a, 11b) gekoppelte Source aufweist; – einem gemeinsamen Knoten (18); – einem ersten und zweiten Lasttransistor (16a, 16b), wobei die Drains des ersten und des zweiten Eingangstransistors (14a, 14b) über Kopplungspfade, die durch die Gate und Source des ersten bzw. zweiten Lasttransistors verlaufen, mit dem gemeinsamen Knoten (18) gekoppelt sind, – Stromübertragungsverbindungen zwischen den Drains des ersten und zweiten Eingangstransistors (14a, 14b) und einem Source-Drain-Kanal des ersten bzw. zweiten Lasttransistors (16a, 16b), dadurch gekennzeichnet, dass eine Stromversorgung (VSS, VDD) der integrierten Schaltung mit dem gemeinsamen Knoten (18) und den Bitleitungen (11a, 11b) gekoppelt ist, sodass ein erster Spannungsabfall vom gemeinsamen Knoten (18) zu den Drains des ersten und zweiten Eingangstransistors (14a, b) und ein zweiter Spannungsabfall von den Bitleitungen zu den Drains des ersten und zweiten Eingangstransistors (14a, b) die gleiche Richtung haben.
  2. Integrierte Schaltung nach Anspruch 1, in der der erste und der zweite Eingangstransistor (14a, b) und der erste und der zweite Lasttransistor (16a, b) alle vom gleichen Leitungstyp sind, wobei das Gate des ersten und des zweiten Lasttransistors (16a, b) mit dem Drain des ersten bzw. zweiten Eingangstransistors (14a, b) gekoppelt ist.
  3. Integrierte Schaltung nach Anspruch 2, in der die Source des ersten und zweiten Eingangstransistors (14a, b) über die Bitleitungen (11a, b) mit einem ersten Stromversorgungsknoten (Vdd) gekoppelt ist, wobei der gemeinsame Knoten (18) über eine ge meinsame Stromquellenschaltung (20) mit dem ersten Stromversorgungsknoten (Vdd) gekoppelt ist.
  4. Integrierte Schaltung nach Anspruch 1, in der die Drains des ersten und des zweiten Eingangstransistors (14a, b) über eine erste bzw. zweite Stromquelle (22a, b) mit einem zweiten Stromversorgungsknoten (Vss) gekoppelt sind.
  5. Integrierte Schaltung nach Anspruch 4, in der die erste und zweite Stromquelle (22a, b) zwischen einem Nullstromzustand, bei dem Speicherauslesen nicht aktiviert ist und einem Stromzuführzustand, bei dem Speicherauslesen aktiviert ist, geschaltet werden kann.
  6. Integrierte Schaltung nach Anspruch 5, in der die erste und zweite Stromquelle (22a, b) eine Schaltelement umfassen, um die Drains des ersten und des zweiten Eingangstransistors (14a, b) auf ein Speisepotenzial des ersten Stromversorgungsknotens zu ziehen, um einen Nullstromzustand zu verschaffen.
  7. Integrierte Schaltung nach Anspruch 4, die einen ersten und zweiten Ausgangstransistor (24a, b) mit Source- und Gate-Anschlussklemmen umfasst, die parallel zur Source- und Gate-Anschlussklemme des ersten bzw. zweiten Eingangstransistors (14a, b) geschaltet sind, wobei der erste und der zweite Ausgangstransistor (24a, b) eine mit einem Ausgang des Speichers gekoppelte Drain aufweisen.
  8. Integrierte Schaltung nach Anspruch 7, die eine mit den Bitleitungen (11a, b) gekoppelte Speicherzelle umfasst, in der die Drain des ersten Ausgangstransistors (24a) mit einem Ausgangsknoten (35a) und die Drain des zweiten Ausgangstransistors (24b) über einen Stromspiegel (32a, 32b) mit dem Ausgangsknoten (35a) gekoppelt ist, sodass der erste und der zweite Ausgangstransistor (24a, b) eine Zufuhr bzw. Abfuhr von Strom aus dem Ausgangsknoten (35a) bestimmen, wobei eine Stromverstärkung des ersten Ausgangstransistors (24a) um einen Faktor kleiner ist als eine kombinierte Stromverstärkung des zweiten Ausgangstransistors (24b) und des Stromspiegels (32a, 32b), wobei der Faktor kleiner als eins ist, aber größer als ein Verhältnis zwischen von den Bitleitungen (11a, b) gezogenen Strömen, wenn die Speicherzelle aktiv mit den Bitleitungen (11a, b) verbunden ist.
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