DE69632106T2 - Bildbeobachtungsgerät für Ladungsträgerteilchenmikroskop unter Verwendung desselben - Google Patents

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Description

  • Die vorliegende Erfindung betrifft eine Bildbetrachtungsvorrichtung zur Betrachtung eines mikroskopischen Bildes, das sich mit einer hohen Geschwindigkeit ändert und das durch ein Ladungsteilchenmikroskop, wie zum Beispiel einem Transmissions-Elektronenmikroskop erzeugt wird, das durch Nutzung der Ladungsteilchen-Leitungsvorrichtung implementiert wird.
  • Bisher wurde bei der Messung von dynamischen Änderungen in einer atomaren Struktur oder dergleichen eines feinen Bereiches oder Mikrodomäne einer Probe im allgemeinen ein Transmissions-Elektronenmikroskop eingesetzt, wie in 16 der beigefügten Zeichnungen gezeigt. Insbesondere werden bezugnehmend auf die Figur Elektronen, die von einer Ladungsteilchenquelle oder Elektronenkanone 3 emittiert werden, mittels eines Beleuchtungs-Elektronenlinsensystems 2 zur Beleuchtung einer Probe 3 mit dem Elektronenstrahl zu einem Elektronenstrahl parallel gerichtet. Ein Bild der Probe 3, das so durch Elektronen geformt wird, die bei der Transmission durch die Probe einer Streuung unterworfen waren, wird dann durch ein Bildvergrößerungs-/Projektionslinsensystem 4 vergrößert, das auf eine Bilddarstellungsebene wie einen Leuchtschirm 5 projiziert wird, wo das Elektronenbild der Probe in ein optisches Bild umgewandelt wird, das dann mit Hilfe einer Fernsehkamera 27 und einem Videobandrecorder 28 oder ähnlichen Einrichtung aufgezeichnet wird.
  • Jedoch ist mit der herkömmlichen mikroskopischen Bildbetrachtungsvorrichtung, wie oben erwähnt, die zeitbasierte oder zeitliche Auflösung der Bewegung oder der Veränderung des Bildes, die gemessen werden kann, auf ein Niveau beschränkt, das durch eine Rahmenfrequenz einer Fernsehkamera bestimmt wird, die zur Anzeige und/oder Aufzeichnung des Bildes eingesetzt wird. Folglich ist die zeitliche Auflösung, die in praktischen Anwendungen realisiert werden kann, auf mehrere Millisekunden oder so beschränkt. Mit anderen Worten ist es mit der herkömmlichen Vorrichtung äußerst schwierig oder unmöglich, die dynamische Änderung in der atomaren, magnetischen oder elektrischen Struktur oder Domäne zu beobachten oder zu betrachten, die mit einer hohen Geschwindigkeit stattfindet.
  • Der Artikel „Velocity measuring system for interface motion in TEM", Journal of Electron Microscopy, 1988, Japan, Band 37, Nr. 3, Seiten 117 bis 124 beschreibt ein System zur Messung der Ausbreitungsgeschwindigkeit einer Grenzflächenbewegung. Es werden Elektronenstrahlintensitäten an drei Positionen bestimmt und in elektrische Signale umgesetzt, die verstärkt und auf einen dreidimensionalen Wellenspeicher aufgezeichnet werden. Die drei Signale werden auf einer Anzeige angezeigt, und können unter Verwendung eines Computers verarbeitet, zum Beispiel geglättet werden.
  • Im Lichte des oben beschriebenen Stands der Technik ist es eine Aufgabe der vorliegenden Erfindung, eine Vorrichtung bereitzustellen, die imstande ist, leicht eine Bewegungsgeschwindigkeit und/oder eine Schwingungsfrequenz einer atomaren Struktur, magnetischen Struktur, elektrischen Struktur oder ähnlichen Domäne zu messen, die sich mit einer solch hohen Geschwindigkeit ändert, daß sie es unmöglich macht, das sich ändernde Bild mit der herkömmlichen Vorrichtung zu messen oder zu betrachten.
  • Insbesondere ist es eine Aufgabe der vorliegenden Erfindung, eine Bildbetrachtungsvorrichtung nach Anspruch 1 bereitzustellen, die aus einer Ladungsteilchenquelle, einem Beleuchtungslinsensystem und einem Bildvergrößerungs-/Projektionslinsensystem besteht und die eine Einrichtung zur Extraktion eines Teils oder Anteils der Ladungsteilchen aufweist, die ein Probenbild an einer vorbestimmten Position einer Bilddarstellungsebene des Bildvergrößerungs-/Projektionslinsensystems formen, um dadurch den Nachteil der Vorrichtung des Stands der Technik zu beseitigen, der vorhergehend erwähnt wurde.
  • Eine weitere Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es, eine Betrachtungsvorrichtung für ein Ladungsteilchenmikroskop bereitzustellen, in der Ladungsteilchendetektoren zur Detektion der Ladungsteilchen vorgesehen sind, die aus der Ladungsteilchen-Leitungsvorrichtung entnommen werden, wobei eine Kreuzkorrelation zwischen Signalen, die aus den Ladungsteilchendetektoren ausgegeben werden, die an unterschiedlichen Stellen angeordnet sind, oder ein Leistungsspektrum des Detektorausgangssignals aus einem Ladungsteilchendetektor, der an einer einzelnen gegebenen Stelle angeordnet ist, rechnerisch bestimmt werden, oder wo eine Autokorrelationsverarbeitung für mehrere Ausgangssignale der Ladungsteilchendetektoren durchgeführt wird, die in einer Anordnung angeordnet sind, um es dadurch möglich zu machen, eine betreffende Struktur eines Probenbildes zu messen oder sichtbar zu machen, das sich mit einer hohen Geschwindigkeit ändert oder mit einer hohen Frequenz schwingt.
  • In einer bevorzugten Art zur Implementierung der oben beschriebenen Bildbetrachtungsvorrichtung können mehrere Ladungsteilchen-Exttaktionseinrichtungen in der Bilddarstellungsebene vorgesehen sein, wobei die Signalverarbeitungseinrichtung so gestaltet sein kann, daß sie rechnerisch eine Kreuzkorrelation zwischen Signalen bestimmt, die aus den Ladungsteilchendetektoren ausgegeben werden, die jeweils in eineindeutiger Entsprechung zu den Ladungsteilchen-Extraktionseinrichtungen vorgesehen sind.
  • Insbesondere kann die Signalverarbeitungseinrichtung so gestaltet sein, daß sie eine Bewegungsgeschwindigkeit einer betreffenden Domäne oder Struktur des Probenbildes auf der Grundlage einer Zeit, zu der sich eine Spitze in der rechnerisch bestimmten Kreuzkorrelation zwischen den Signalen zeigt, die aus den Ladungsteilchendetektoren ausgegeben werden, und einem Abstand bestimmt, der zwischen den Ladungsteilchen-Extraktionseinrichtungen liegt.
  • Alternativ kann die Signalverarbeitungseinrichtung so gestaltet sein, daß sie eine Schwingungsfrequenz eines betreffenden Abschnitts oder einer Domäne des Probenbildes durch rechnerische Bestimmung einer Kreuzkorrelation zwischen den Signalen bestimmt, die aus den Ladungsteilchendetektoren ausgegeben werden, die jeweils in Verbindung mit einem Paar Ladungsteilchen-Extraktionseinrichtungen vorgesehen sind.
  • Ferner kann die Signalverarbeitungseinrichtung außerdem so gestaltet sein, daß sie eine Schwingungsfrequenz eines betreffenden Abschnitts eines Probenbildes auf der Grundlage eines Leistungsspektrums eines Signals bestimmt, das aus einem Ladungsteilchendetektor ausgegeben wird, der in Verbindung mit einer Ladungsteilchen-Extraktionseinrichtung vorgesehen ist.
  • In der oben beschriebenen Bildbetrachtungsvorrichtung kann ferner vorgesehen sein: eine Ablenkeinrichtung zur Ablenkung des Ladungsteilchenstrahls, der das Probenbild formt, das durch das Bildvergrößerungs-/Projektionslinsensystem projiziert wird, eine Steuereinrichtung zur steuerbaren Änderung der Größe der Ablenkung des Ladungsteilchenstrahls, die durch die Ablenkeinrichtung bewirkt wird, auf einer zeitseriellen Basis, und eine Ausgabeeinrichtung zur Anzeige und/oder Aufzeichnung der zeitseriellen Steuerung der Ablenkung, die durch die Steuereinrichtung durchgeführt wird, und des Ergebnisses der Rechenoperation, die durch die Signalverarbeitungseinrichtung durchgeführt wird, in Synchronismus miteinander, so daß die zweidimensionale Verteilung der Schwingungsfrequenzen der Probe sichtbar beobachtet werden kann.
  • In einer werteren bevorzugten Art zur Implementierung der efindungsgemäßen Bildbetrachtungsvorrichtung kann die Ladungsteilchen-Extraktionseinrichtung durch eine Öffnung oder ein Durchgangsloch gebildet werden, das in einem Leuchtschirm ausgebildet ist, der an der Bitddarstellungsebene angeordnet ist, während die Ladungsteilchen-Detektionseinrichtung durch eine Lawinenphotodiode gebildet werden kann, die an der Rückseite des Leuchtschirms gegebenüber der Öffnung angeordnet ist, so daß ein Teil der Ladungsteilchen auf die Lawinenphotodiode auftreffen kann.
  • Die Bildbetrachtungsvorrichtung kann ferner aufweisen: eine Einrichtung zum äußeren Anlegen einer elektrischen, magnetischen, thermischen oder chemischen oder alternativen Anregung an die Probe, indem Teilchen, wie Photonen, Atome oder Elektronen verwendet werden, eine Einrichtung zum Leiten von Ladungsteilchen, die durch die Probe bei der Transmission durch sie hindurch gestreut werden, und eine Recheneinrichtung zur rechnerischen Bestimmung einer Kreuzkorrelation zwischen einem Signal, das durch die Anregungsanlegeeinrichtung in Synchronismus mit dem Anlegen der Anregung erzeugt wird, und einem Ausgangssignal der Ladungsteilchen-Detektionseinrichtung.
  • In einer weiteren bevorzugten Art, die Erfindung auszuführen, kann die Ladungsteilchen-Detektionseinrichtung durch mehrere Ladungsteilchendetektoren gebildet werden, die in einer linearen Anordnung oder alternativ in einer zweidimensionalen Anordnung angeordnet sind. In diesem Fall kann die Vorrichtung ferner eine Einrichtung zum Auswählen von Kombinationen der Ausgangssignale der einzelnen Ladungsteilchendetektoren zur rechnerischen Bestimmung von Korrelationen zwischen den Ausgangssignalen, und eine Einrichtung zur Anzeige der Ergebnisse der Korrelationen, die bestimmt werden, aufweisen. In diesem Fall können Korrelationen zwischen den Bildern, die durch das Ladungsteilchenmikroskop erzeugt werden, hinsichtlich einer gegebenen Position und einer Zeit bestimmt werden.
  • Mit der Bildbetrachtungsvorrichtung für das Ladungsteilchenmikroskop kann ein dynamisches Verhalfen eines Mikrobereichs oder Domäne einer untersuchten Probe wie eine Bewegung oder Verschiebung des Kontrasts des Probenbildes ebenso wie eine Schwingung der Domäne gemessen oder sichtbar gemacht werden, selbst wenn ein solches dynamisches Verhalten oder eine Änderung mit einer solch hohen Geschwindigkeit oder Rate stattfindet, daß die schon bekannte herkömmliche Vorrichtung, wie eine Ladungsspeicherungsfernsehkamera, nicht damit umgehen könnte.
  • Im allgemeinen weist ein vergrößertes Bild einer Probe einen Kontrast, d.h. eine Variation der Intensität der Ladungsteilchen in Abhängigkeit von der atomaren Struktur, elektrischen Struktur und magnetischen Struktur der Probe auf. Folglich ist es vermöge der Anordnung zur Extraktion oder Entnahme der Ladungsteilchen, die einen Teil des Probenbildes bilden, so daß diese Ladungsteilchen auf den/die Ladungsteilchendetektor(en) auftreffen, und der Verstärkung des/der Ausgangssignal(e) des/der Ladungsteilchendetektors(en) möglich, den Kontrast des Bildes in einen elektrischen Strom umzuwandeln, dessen Amplitude oder Pegel als Funktion des Kontrasts variiert. Wenn beispielsweise ein bestimmter oder gegebener Abschnitt einer Probe mechanisch, magnetisch oder elektrisch schwingt, zeigt der Strom, der in jenem Abschnitt der Probe detektiert wird, eine Schwingung. Folglich kann durch Bestimmung des Leistungsspektrums oder der Autokorrelation, wie vorher erwähnt, die Schwingungsfrequenz quantitativ ausgewertet werden. Wenn sich andererseits eine spezifische Struktur einer Probe bewegt, zeigt sich beim Vorübergehen der Struktur an den Durchgangslöchern mit einem kleinen Durchmesser, die an unterschiedlichen Positionen angeordnet sind, eine Änderung des Stroms, der aus den Ladungsteilchendetektoren ausgegeben wird, wobei diese Änderung durch den Kontrast der spezifischen Struktur bestimmt werden kann. Durch rechnerische Bestimmung der Kreuzkorrelation zwischen den Ausgangssignalen der Ladungsteilchendetektoren ist es möglich, eine Zeit zu bestimmen, die die spezifische Struktur braucht, um die beiden kleinen Durchgangslöcher zu passieren. Auf der Grundlage der obenerwähnten Zeit und dem Zwischenlochabstand kann die Bewegungsgeschwindigkeit der spezifischen Geschwindigkeit bestimmt werden.
  • Die obigen und anderen Aufgaben, Merkmale und damit verbundenen Vorteile der vorliegenden Erfindung werden leichter durch das Lesen der folgenden Beschreibung ihrer bevorzugten Ausführungsformen verstanden werden, die lediglich beispielhaft in Verbindung mit den beigefügten Zeichnungen vorgenommen wird.
  • Im Verlauf der Beschreibung, die folgt, wird auf die Zeichnungen bezug genommen. Es zeigen:
  • 1 ein schematisches Diagramm, das allgemein eine Struktur einer Betrachtungsvorrichtung für ein Ladungsteilchenmikroskop gemäß einer ersten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung zeigt;
  • 2 eine schematische Schnittansicht, die eine Struktur einer typischen Lawinenphotodiode zeigt, die als ein Ladungsteilchendetektor bei der Ausführung der Erfindung verwendet werden kann;
  • 3 ein Blockdiagramm, das beispielhaft eine Schaltungskonfiguration eines Korrelators zeigt, in dem eine variable Verzögerungsschaltung eingesetzt wird;
  • 4 ein Blockdiagramm, das eine andere exemplarische Schaltungskonfiguration des Korrelators, in dem mehrere Verzögerungsschaltungen mit unterschiedlichen Verzögerungszeiten parallel betrieben werden, gemäß einer anderen Ausführungsform der vorliegenden Erfindung zeigt;
  • 5 ein Blockdiagramm, das noch eine andere exemplarische Konfiguration des Korrelators, in dem ein Schieberegister für eine Verzögerungsoperation eingesetzt wird, gemäß noch einer werteren Ausführungsform der Erfindung zeigt;
  • 6A und 6B schematische Diagramme zur Veranschaulichung der Messung einer Bewegungsgeschwindigkeit einer magnetischen Domänenwand einer Probe durch die erfindungsgemäße Bildbetrachtungsvorrichtung;
  • 7A und 7B sind Ansichten zur graphischen Veranschaulichung von Ladungsteilchen-Detektionssignalen bzw. eines Korrelationssignals, die in der Messung erhalten werden, die in den 6A und 6B dargestellt wird;
  • 8 ein schematisches Diagramm, das allgemein eine Struktur eines Ladungsteilchenmikroskops, das mit einer Bildbetrachtungseinnchtung ausgestattet ist, gemäß einer zweiten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung zeigt;
  • 9 ein schematisches Diagramm, das ein Ladungsteilchenmikroskop, das mit einer Bildbetrachtungseinrichtung ausgestattet ist, gemäß einer dritten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung zeigt;
  • 10 ein schematisches Diagramm, das allgemein eine Struktur eines Ladungsteilchenmikroskops, das mit einer Bildbetrachtungseinrichtung ausgestattet ist, gemäß einer vierten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung zeigt;
  • 11 ein schematisches Diagramm, das allgemein eine Struktur eines Ladungsteilchenmikroskops, das mit einer Bildbetrachtungseinrichtung ausgestattet ist, gemäß einer fünften Ausführungsform der vorliegenden Erfindung zeigt;
  • 12 eine Ansicht zur graphischen Veranschaulichung der Operation der Vorrichtung gemäß der fünften Ausführungsform der Erfindung;
  • 13 ein schematisches Diagramm, das allgemein eine Struktur eines Ladungsteilchenmikroskops, das mit einer Bildbetrachtungseinrichtung ausgestattet ist, gemäß einer sechsten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung zeigt;
  • 14 ein Blockdiagramm, das eine Anordnung von Ladungsteilchendetektoren und Korrelatoren zeigt, die in der Vorrichtung gemäß der sechsten Ausführungsform der Erfindung eingesetzt werden;
  • 15 eine Ansicht zur graphischen Veranschaulichung der Operation der Vorrichtung gemäß der sechsten Ausführungsform der Erfindung; und
  • 16 ein schematisches Diagramm, das eine Anordnung eines herkömmlichen Transmissions-Elektronenmikroskops, einem typischen Ladungsteilchenmikroskop, und eines schon bekannten Bildbetrachtungssystems zeigt.
  • Die vorliegende Erfindung wird nun im Detail im Zusammenhang mit dem, was gegenwärtig als deren bevorzugte oder typische Ausführungsformen betrachtet wird, unter Bezug auf die Zeichnungen beschrieben. In der folgenden Beschreibung bezeichnen gleiche Bezugsziffern über die verschiedenen Ansichten hinweg gleiche oder entsprechende oder funktionell äquivalente Teile.
  • Ausführungsform 1
  • 1 ist ein schematisches Diagramm, das allgemein eine Struktur einer Bildbetrachtungsvorrichtung für ein Ladungsteilchenmikroskop zeigt, das als ein Transmissions-Elektronenmikroskop implementiert ist, das einer ersten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung entspricht. Bezugnehmend auf die Figur, wird ein Ladungsteilchenstrahl, wie ein Elektronenstrahl, der von einer Ladungsteilchenquelle 1 emittiert wird, wie sie durch eine Elektronenkanone verkörpert wird, mittels eines Beleuchtungs-Elektronenlinsensystems 2 zu einem Strahl fokussiert, der eine Größe aufweist, um eine Probe 3 zu deren Bestrahlung abzudecken oder abzustasten. Die Ladungsteilchen, die durch die Probe 3 durchgelassen und dadurch gestreut werden, werden auf einen Leuchtschirm 5 Projiziert, der an einer Bildformungs- oder Brennebene des Bildvergrößerungs-/Projektionslinsensystems 4; 4 angeordnet ist, wodurch die Energie der Ladungsteilchen durch den Leuchtschirm 5 in Licht umgewandelt wird. Folglich kann auf einer Oberfläche des Leuchtschirms 5 ein vergrößertes Bild der Probe 3 sichtbar erzeugt werden.
  • Ein Paar Durchgangslöcher oder Öffnungen 6 und 6', das als die Ladungsteilchen-Extraktionseinrichtung dient, ist im Leuchtschirm 5 ausgebildet. Folglich treffen die Ladungsteilchen, die auf den Leuchtschirm 5 projiziert werden, durch die Öffnungen 6 und 6' auf die Ladungsteilchendetektoren 7 und 7', die auf der Rückseite des Leuchtschirm 5 gegenüber den Öffnungen 6 bzw. 6' angeordnet sind. Beim Empfang der einfallenden Ladungsteilchen erzeugen die Ladungsteilchendetektoren 7 und 7' jeweilige impulsförmige Ausgangssignale, die dann in einen Korrelator 9 eingegeben werden, nachdem sich durch Verstärker 8 bzw. 8' verstärkt worden sind, woraufhin eine Korrelation zwischen den beiden obenerwähnten Signalen bestimmt wird.
  • Jede der Öffnungen 6 und 6' des Leuchtschirms 5 kann in der Form eines kreisförmigen Durchgangsloches mit einem kleinen Durchmesser vorgesehen werden. In diesem Zusammenhang sollte erwähnt werden, daß die Fähigkeit, Änderungen in einer Mikrostruktur der Probe unterscheidend sichtbar zu machen, stärker verbessert werden kann, wenn die Querschnittsfläche der Öffnungen 6; 6' gesenkt wird.
  • Ferner ist experimentell durch den Erfinder der vorliegenden Anmeldung festgestellt worden, daß eine Lawinenphotodiode vorteilhaft zur Verwendung als der Ladungsteilchendetektor 7; 7' geeignet ist. Herkömmlich wird die Lawinenphotodiode für gewöhnlich als ein Photodetektor oder Photosensor verwendet und zeigt ausgezeichnete Eigenschaften, wie eine Hochgeschwindigkeitsreaktion und anderes, wie in der Technik wohlbekannt ist. Entsprechend kann die Lawinenphotodiode für die Detektion der Ladungsteilchen zusätzlich zu der obenerwähnten Hochgeschwindigkeitsreaktion viele Vorteile, wie eine vernachlässigbar kurze Totzeit, einen hohen Ausgangspegel infolge der Lawinenvervielfachung, eine Implementierung in einer stark reduzierten Größe und geringes Gewicht bei niedrigen Kosten und anderes bereitstellen.
  • 2 ist eine schematische Schnittansicht, die eine Struktur einer typischen Lawinenphotodiode zeigt. Wie in der Figur gesehen werden kann, besteht die Lawinenphotodiode aus einer p-Schicht, einer p-Schicht und einer n+-Schicht, die auf einem p+-Substrat durch einen epitaxialen Züchtungsprozeß und Störstellendotierung gezüchtet werden. Im Betrieb der Lawinenphotodiode dient die p-Schicht mit einer niedrigen Störstellenkonzentration als eine Verarmungszone 10 zur Erzeugung von Elektronen-Loch-Paaren, indem sie die Energie der einfallenden Ladungsteilchen absorbiert, während ein Bereich, der in der Nähe der p-Schicht und der n+-Schicht angeordnet ist und an den ein elektrisches Feld mit hoher Stärke angelegt wird, als ein Lawinenbereich 11 dient.
  • Obwohl oben beschrieben worden ist, daß der Ladungsteilchendetektor durch die Lawinenphotodiode gebildet wird, ist es selbstverständlich, daß der Ladungsteilchendetektor durch irgendeine andere geeignete Vorrichtung gebildet werden kann, insofern Impulssignale mit einer großen Amplitude, die durch Schaltungen der nachfolgenden Stufen ohne Schwierigkeit verarbeitet werden können, infolge des Effekts der Sekundärelektronenvervielfachung oder dergleichen als das Ausgangssignal erhalten werden können. Beispielsweise kann ein Channeltron als der Ladungsteilchendetektor eingesetzt werden.
  • Andererseits ist der Korrelator 9 so gestaltet, daß er die Signale vergleicht, die aus dem Paar Ladungsteilchendetektoren 7 und 7' ausgegeben werden, während diese Signale jeweils um eine vorbestimmten Zeit verzögert werden, und die Häufigkeit einer Koinzidenz zwischen den Ausgangssignalen zählt, um dadurch rechnerisch eine zeitliche Korrelation als Funktion der Verzögerungszeit zwischen den Signalen zu bestimmen, die aus Ladungsteilchendetektoren 7 bzw. 7' ausgegeben werden. Als Einrichtung, um eine zeitliche Differenz zwischen den beiden Signalen zu verleihen, die aus den Ladungsteilchendetektoren 7 bzw. 7' ausgegeben werden, kann eine Verzögerungsschaltung in einen Signalweg für eines der Detektorausgangssignale eingefügt werden. In diesem Zusammenhang wird es jedoch bevorzugt, daß der Betrag der Verzögerung variabel ist. Zu diesem Zweck kann eine solche Einrichtung mit variabler Verzögerung wie eine variable Verzögerungsschaltung, eine Parallelschaltung aus mehreren Verzögerungsschaltungen mit Verzögerungszeiten, die sich voneinander unterscheiden, ein Schieberegister oder dergleichen verwendet werden.
  • 3 ist ein Blockdiagramm, das beispielhaft eine Schaltungskonfiguration des Korrelators zeigt, in dem eine variable Verzögerungsschaltung eingesetzt wird. Bezugnehmend auf die Figur, wird ein Signalpaar, das aus den Verstärkern 8 bzw. 8' ausgegeben wird, in Wellenformdiskriminatoren 12 bzw. 12' eingegeben. Der Wellenformdiskriminator 12; 12' dient zur Trennung der detektierten Impulssignatkomponente von Rauschkomponenten, die im jeweiligen Eingangssignal enthalten sind. Zu diesem Zweck kann der Wellenformdiskriminator 12; 12' gewöhnlich mit einer Schattungsfunkton zur Doppelbegrenzung des Eingangssignals bei einem vorbestimmten konstanten Schwellenpegel versehen sein. Die Impulsausgangssignale, die durch die Wellenformdiskriminatoren 12 und 12' erzeugt werden, werden Wellenformformern 13 bzw. 13' zugeführt, um zu einer regelmäßigen oder normierten Impulsform impulsgeformt zu werden. Von den Ausgangsimpulssignalen aus den Wellenfomformern 13 und 13' wird nur das Ausgangssignal des Wellenformformers 13 durch eine variable Verzögerungsschaltung 14 mit einer vorbestimmten Verzögerung versehen. Anschließend werden das Impulsausgangssignal des Wellenformformers 13' und das verzögerte Impulssignal, das aus der variablen Verzögerungsschaltung 14 ausgegeben wird, dem zugehörigen Zähler 16 bzw. 16' zugeführt, und gleichzeitig an die jeweiligen Eingangsanschlüsse einer logischen UND-Schaltung 15 angelegt. Folglich werden das Ausgangsimpulssignal des Ladungsteilchendetektors 7, das durch die variable Verzögerungsschaltung 14 verzögert worden ist, und das Ausgangsimpulssignal des Ladungsfeitchendetektors 7', das keine Verzögerung unterzogen worden ist, logisch UND-verknüpft oder durch die UND-Schaltung 15 miteinander verglichen. Bei der Detektion einer Koinzidenz zwischen beiden Eingangsimpulssignalen gibt die UND-Schaltung 15 ein Koinzidenz-Impulssignal aus, das dann einem Zähler 16" zugeführt wird, der zum Zählen der Anzahl der eine Koinzidenz anzeigenden Impulse vorgesehen ist. Auf diese Weise zählen die Zähler 16 und 16' die Ausgangsimpulse, die aus den Ladungsteilchendetektoren 7 bzw. 7' zugeführt werden, wobei die Zählwerte, die von den Ausgaben der Ladungsteilchendetektoren 7 und 7' abgeleitet werden, zur rechnerischen Bestimmung eines Kreuzkorrelationswertes genutzt werden, der so normiert ist, daß er zwischen Pegeln von „0" und „1" fällt, auf der Grundlage des Ausgangszählwertes des Zählers 16".
  • Der oben unter Bezug auf 3 beschriebene Korrelator ist jedoch darin nachteilig, daß die Verzögerungszeit, die durch die variable Verzögerungsschaltung 14 erteilt wird, zur wiederholten Operation der variablen Verzögerungsschaltung 14 periodisch in einem vorbestimmten Zeitintervall geändert werden muß, was mit dem Nachteil verbunden ist, daß sich die Verarbeitungszeit erhöhen kann. Um mit dem oben erwähnten Problem fertig zu werden, wird gemäß einer weitereren Ausführungsform der vorliegenden Erfindung ein Korrelator bereitgestellt, der durch mehrere Verzögerungsschaltungen aufgebaut ist, die gegenseitig unterschiedliche Verzögerungszeiten aufweisen und parallel zueinander geschaltet sind, wie in 4 gezeigt.
  • Bezugnehmend auf 4, werden die Ausgangsimpulssignale der Wellenformformer 13 und 13' den Eingängen der Signalverteilungsschaltungen 17 bzw. 17' zugeführt, wodurch jedes der Ausgangsimpulssignale der Wellenformformer 13 und 13' in n Impulssignale desselben Pegels geteilt wird. Die n Ausgangsimpulssignale, die aus der Signalverteilungsschaltung 17 ausgegeben werden, werden parallel in jeweils n variable Verzögerungsschaltungen 141, 14-2,..., 14-n eingegeben, die jeweilige Zeitverzögerungen aufweisen, die sich voneinander um Dt unterscheiden. Die Ausgangsimpulssignale der variablen Verzögerungsschaltungen 14-1, 14-2,..., 14-n und die entsprechenden Ausgangsimpulssignale, die durch die Signalverteilungsschaltung 17' unterteilt werden, werden jeweils in UND-Schaltungen 15-1, 15-2,..., 15-n eingegeben, um dadurch logisch UND-verknüpft zu werden. Wenn eine Koinzidenz zwischen diesen Eingangssignalen delektiert wird, geben die UND-Schaltungen 15-1, 15-2,..., 15-n Impulssignale aus, die für die Koinzidenz kennzeichnend sind, die dann jeweils Zählern 16"-1, 16"-2,..., 16"-n zugeführt werden, wodurch parallel zueinander Zählungsoperationen der Koinzidenzimpulse durchgeführt werden, die aus den UND-Schaltungen 15-1, 15-2,..., 15-n ausgegeben werden. So kann die zeitliche Kreuzkorrelation zwischen den Ausgangsimputssignalen der Signalverteilungsschaltungen 17 und 17' en bloc oder gleichzeitig rechnerisch bestimmt werden.
  • 5 ist ein Blockdiagramm, das einen Korrelator gemäß einer weiteren Ausführungsform der vorliegenden Erfindung zeigt, in dem jeweils Schieberegister zur parallelen Verzögerung der Ausgangsimpulssignale eingesetzt werden. Insbesondere sind anschließend an die Wellenformformer 13 und 13' Schieberegister 18 bzw. 18' vorgesehen, die jeweils mit vorbestimmten Taktfrequenzen arbeiten, wobei die Ausgaben der einzelnen Stufen der Schieberegister 18 und 18' jeweils als Eingaben den Anschlüssen der UND-Schaltungen 15-1, 15-2,..., 15-n zugeführt werden, während den anderen Eingangsanschlüssen der UND-Schaltungen 15-1, 15-2,..., 15-n die Ausgaben gegebener Stufen der Schieberegister 18 und 18' zugeführt werden, Auf diese Weise wird die zeitliche Korrelation auf einer parallelen Grundlage rechnerisch bestimmt, wie im Fall des Korrelators, der in 4 gezeigt wird. Beiläufig sollte angemerkt werden, daß der in 5 gezeigte Korrelator gegenüber dem, der in 4 gezeigt wird, darin vorteilhaft ist, daß der Hardwarezusatz verglichen mit der Korrelatoranordnung, die in 4 gezeigt wird, sehr gemäßigt oder reduziert werden kann.
  • Es sollte zusätzlich angemerkt werden, daß der Korrelator in einer solchen Anordnung implementiert werden kann, daß er zur analogen Multiplikation der Ausgangssignale aus dem Detektorenpaar dient. Übrigens ist die Kreuzkorrelation-Rechenschaltung, die wie oben beschrieben auf der Ladungsteilchen- Zähloperation beruht, vorteilhaft zur Betrachtung einer Hochgeschwindigkeitsbewegung des Objekt geeignet, da der Rauschabstand sichergestellt werden kann, selbst wenn die Signalamplitude oder der Pegel sehr niedrig sind.
  • Als nächstes wird unter Bezugnahme auf 6A eine Beschreibung einer Messung gegeben, die unter Verwendung der Vorrichtung durchgeführt wurde, die in der oben beschriebenen Struktur Implementiert ist. In dieser Messung waren die Ladungsteilchen Elektronen. In der Figur bezeichnet Bezugsziffer 19 eine Probe eines magnetischen Materials. Wie gesehen werden kann, wird durch Versetzen eines Brennpunkts des Objektivlinsensystems eine magnetische Domänenwand der Probe sichtbar auf den Leuchtschirm 20 in der Form eines Streifens projiziert, der einen Kontrast in schwarz zeigt (d.h, einen Bereich, in dem die Menge der einfallenden Elektronen klein ist). Beiläufig sollte angemerkt werden, daß in 6A das Bildvergrößerungs-/Projektionslinsensystem 4; 4', das zwischen der Probe 19 und dem Leuchtschirm 20 angeordnet ist, aus der Darstellung weggelassen wird. Wenn ein Magnetfeld von außen angelegt wird, bewegt sich die magnetische Domänenwand in einer solchen Weise, wie sie in 6B dargestellt wird, wobei das eine entsprechende Änderung der magnetischen Domänenstruktur mit sich bringt. Es wird vorausgesetzt, daß die Bewegungsgeschwindigkeit der magnetischen Domänenwand gemessen werden soll.
  • 7A veranschaulicht das Verhalten der Ausgangssignale der gepaarten Ladungsteilchendetektoren 21 bzw. 22, wenn sich die magnetische Domänenwand bewegt. Wenn sich die magnetische Domänenwand bewegt, zeigen sich Spitzen in den Ausgangssignalen der Ladungsteilchendetektoren 21 bzw. 22, die dem streifenförmigen Kontrast in schwarz entsprechen, wie in 7A gesehen werden kann. Um die zeitliche oder Zeitdifferenz zwischen den beiden Spitzen zu messen, wird die Kreuzkorrelation zwischen den beiden Signalen mit einer der vorhergehend beschriebenen Schaltungsanordnungen rechnerisch bestimmt. Im Fall des Beispiels, das in 7A gezeigt wird, zeigt sich eine Spitze im Signal, das durch die Kreuzkorrelation erhalten wird, wie in 7B dargestellt. Die Bewegungsgeschwindigkeit der magnetischen Domänenwand kann als l/t bestimmt werden (wobei t eine Verzögerungszeit ist, die zwischen einem Zeitpunkt, bei dem das Signal detektiert wird, und einem Zeitpunkt liegt, an dem sich die Spitze zeigt, und l einen Abstand repräsentiert, über den sich die magnetische Domänenwand bewegt hat), in Form der Bewegungsgeschwindigkeit auf der Probenoberfläche, indem der Abstand L auf dem Leuchtschirm 20, der zur Verzögerungszeit t äquivalent ist, durch die Vergrößerung des Bildvergrößerungs-/Projektionslinsensystems 4; 4' dividiert wird. Die Rechenoperationen, die mit der Messung der Bewegungsgeschwindigkeit des schwarzen Streifens verbunden ist, kann automatisch durch die Recheneinheit ausgeführt werde, die so implementiert ist, daß sie automatisch die Spitzenposition mißt oder bestimmt, die sich aus der Kreuzkorrelation ergibt, während sie die Vergrößerung des Ladungsteilchenmikroskops abliest.
  • 9 ist ein schematisches Diagramm, das ein Ladungsteilchenmikroskop gemäß einer dritten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung zeigt. Im Fall der nun betrachteten Vorrichtung ist ein einziges Durchgangsloch oder eine Öffnung 6 im Leuchtschirm 5 ausgebildet, um ein Paar der Ladungsteilchen zu entnehmen, ähnlich zu der Vorrichtung, die in 8 gezeigt wird. Jedoch ist ein Paar Ladungsteilchendetektoren 7 und 7' unter der Öffnung 6 vorgesehen, das ihm gegenüberliegt. Mit der in 9 gezeigten Anordnung ist es möglich, eine Schwingungsfrequenz eines betreffenden Abschnitts der Probe durch eine rechnerische Bestimmung der Kreuzkorrelation zwischen den Ausgangssignalen der beiden Ladungsteilchendetektoren 7 und 7' zu messen. In diesem Zusammenhang sollte beachtet werden, daß die in 9 gezeigte Anordnung gegenüber der, die vorhergehend unter Bezug auf 8 beschrieben wurde, darin vorteilhaft ist, daß aufgrund des geringeren Einflusses der Totzeit der Ladungsteilchendetektoren 7 und 7' eine Schwingung mit höherer Frequenz mit einer verbesserten Genauigkeit gemessen werden kann.
  • 10 ist ein schematisches Diagramm, das allgemein eine Struktur des Ladungsteilchenmikroskops zeigt, das mit der Bildbetrachtungsvorrichtung gemäß einer vierten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung ausgestattet ist. Die in 10 gezeigte Vorrichtung unterscheidet sich von der, die in 9 gezeigt wird, darin, daß zusätzlich vorgesehen sind: eine Ablenkeinheit 24 zur Ablenkung eines vergrößerten Bildes der Probe 3, eine Steuereinheit 25 zur Steuerung der Ablenkeinheit 24, ein Korrelator 9, der so gestaltet ist, daß er imstande ist, das Ergebnis der Rechenoperation in Synchronismus mit einem Timing für die Ablenkung auszugeben, und einer Anzeige-/Aufzeichnungseinheit 26 zur Anzeige und/oder Aufzeichnung des Ergebnisses der Rechenoperation, das aus dem Korrelator 9 in Synchronismus mit einem Synchronisationssignal ausgegeben wird, das durch die Steuereinheit 25 erzeugt wird. Aufgrund der Anordnung des Ladungsteilchenmikroskops ist es möglich, das Bild der Probe abzutasten, um dadurch die Schwingungsfrequenzen in unterschiedlichen Abschnitten der Probe 3 zu messen. Das Ergebnis der Messung kann als zweidimensionale Information angezeigt und/oder aufgezeichnet werden.
  • 11 ist ein schematisches Diagramm, das allgemein eine Struktur des Ladungsteilchenmikroskops zeigt, das mit einer Bildbetrachtungs- oder Visualisierungseinrichtung gemäß einer fünften Ausführungsform der vorliegenden Erfindung ausgestattet ist. Die Vorrichtung gemäß der gegenwärtigen Ausführungsform unterscheidet sieh von der zweiten Ausführungsform, die vorhergehend unter Bezug auf 8 beschrieben wurde, darin, daß zusätzlich eine Einheit 29 zum Anlegen eines elektrischen Feldes zum Anlegen eines impulsförmigen elektrischen Feldes an die Probe 3 vorgesehen ist. Wenn die Probe 3 aus einer ferroelektrischen Substanz besteht, ändert sich die Richtung der dielektrischen Polarisation beim Anlegen des elektrischen Feldes. Die Geschwindigkeit der Änderung der Richtung der dielektrischen Polarisation hängt von einem Grundmechanismus ab, der die dielektrische Polarisation erzeugt. in praktischen Anwendungen wird die Messung der Änderung der dielektrischen Polarisation zur Suche oder Bestimmung eines Materials oder einer Substanz durchgeführt, die eine Hochgeschwindigkeitsänderung der dielektrischen Polarisation zeigt, d.h. eines Materials, das eine Hochgeschwindigkeitsumschaltfähigkeit aufweist. Mit der Anordnung gemäß der gegenwärtigen Ausführungsform der Erfindung ist es möglich, die Geschwindigkeit oder Rate der Änderung der Richtung der dielektrischen Polarisation zu messen.
  • Die Einheit 29 zum Anlegen eines elektrischen Felds, die vorgesehen ist, um das elektrische Feld in einer impulsförmigen Weise an die Probe 3 anzulegen, ist so gestattet, daß sie ein Triggersignal erzeugt. Wie in 12 gesehen werden kann, zeigt sich eine Änderung des Kontrastes des Probenbildes, der verbunden mit der Änderung der Richtung der dielektrischen Polarisation stattfindet, in Synchronismus mit dem Triggersignal in der Form einer zeitlichen Änderung (d.h. zeitseriellen Änderung) der Menge der Ladungsteilchen, die auf den Ladungsteilchendetektor 7 auftreffen. Eine solche zeitliche Änderung kann durch rechnerische Bestimmung der Kreuzkorrelation zwischen dem Triggersignal, das durch die Einheit 29 zum Anlegen eines elektrischen Feldes erzeugt wird, und dem Ausgangssignal des Ladungsteilchendetektors 7 gemessen werden.
  • Als Modifikation des in 11 gezeigten Ladungsteilchenmikroskops kann die Einheit 29 zum Anlegen eines elektrischen Felds zum Anlegen einer elektrostatischen Anregung durch eine Einheit oder Vorrichtung ersetzt werden, die imstande ist, magnetisch, mechanisch, thermisch oder chemisch oder durch Teilchen, wie Photonen, Atome, Elektronen oder dergleichen eine Anregung an die Probe 3 anzulegen.
  • 13 ist ein schematisches Diagramm, das allgemein eine Struktur des Ladungsteilchenmikroskops gemäß einer sechsten Ausfühnungsform der vorliegenden Erfindung zeigt. Das Ladungsteilchenmikroskop gemäß der gegenwärtigen Ausführungsform weist auf: eine Ladungsteilchendetektoranordnung 32, die aus mehreren getrennten Ladungsteilchendetektoren 7 besteht, die auf dem Betrachtungsschirm in der Form einer zweidimensionalen Anordnung angeordnet sind, einen Korrelator 9, eine Anzeige-l Aufzeichnungseinheit 31 und einen Wahlschalter 30 zur austauschbaren Auswahl von Kombinationen zur Bestimmung von Korrelation beim Eingeben der Ausgangssignale aus den Ladungsteilchendetektoren 7 der Anordnung 32 in den Korrelator 9. Die einzelnen Ladungsteilchendetektoren 7, die in der zweidimensionalen Anordnung 32 angeordnet sind, können unter den (nicht gezeigten) Öffnungen angeordnet sein, die jeweils im Leuchtschirm 5 in einer zweidimensionalen Anordnung in eineindeutiger Entsprechung angeordnet sind. Obwohl vorausgesetzt wird, daß die zweidimensionale Anordnung der Ladungsteilchendetektoren 7 in der Vorrichtung eingesetzt wird, die in 13 dargestellt wird, ist es gleichfalls möglich, eine eindimensionale oder lineare Anordnung der Ladungsteilchendetektoren 7 einzusetzen. Außerdem kann die lineare Anordnung oder zweidimensionale Anordnung der Ladungsteilchendetektoren 7 unabhängig an einer Position eingefügt oder angeordnet werden, wo das Ladungsteilchenbild einer Probe geformt wird, d.h. direkt an der Abbildungsposition.
  • Als nächstes wird eine Beschreibung eines typischen Beispiels einer Messung vorgenommen, die auf der Korrelation der Ausgangssignale beruht, die von den Ladungsteilchendetektoren 7 geliefert werden, die an mehreren getrennten Positionen auf der Betrachtungsebene angeordnet sind. 14 ist ein schematisches Diagramm, das die gegenseitigen Verbindungen von Korrelatoren zeigt, die einer linearen Ladungsteilchendetektoranordnung 32 entsprechen.
  • Wein der Figur gesehen werden kann, wird vorausgesetzt, daß bereitgestellt sind; eine lineare Anordnung 32 von sechs Ladungsteilchendetektoren, die auf einer Bilddarstellungsebene des Ladungsteilchenmikroskops angeordnet sind, sechs Verstärker 33 zur jeweiligen Verstärkung der Ausgangssignale der Ladungsteilchendetektor-Anordnungen 32, ein Wahlschalter 34 und drei Gruppen von Korrelatoren 35, 36 und 37, jeweils zur rechnerischen Bestimmung einer Kreuzkorrelation zwischen einem Paar Ausgangssignale der Ladungsteilchendetektoren 7 in den Anordnungen 32. Es wird vorausgesetzt, daß das Probenbild, das projizieri wird, einen Kontrast aufweist, wie er durch eine oben gezeigte Wellenform der Ladungsteilchendetektoren repräsentiert wird, die an Positionen r1, r2 bzw. r3 angeordnet sind, (siehe 14), und daß bewirkt wird, daß sich der Kontrast bei einer Anregung, die von außen ausgeübt wird, wie vorher erwähnt, in die Richtung bewegt, die durch einen Pfeil A angezeigt wird. Die Bewegung des Kontrasts kann eine Schwingung oder Verschiebung in eine Richtung sein. Es wird ferner vorausgesetzt, daß sich das Kontrastbild mit einer solch hohen Geschwindigkeit bewegt, die es unmöglich macht, ihr mit einer Ladungsspeicherungsfernsehkamera zu folgen (die bisher als CCD-Kamera bekannt ist). Mit dem Ladungsteilchenmikroskop gemäß der gegenwärtigen Ausführungsform der Erfindung kann jedoch die oben vorausgesetzte Bewegung verfolgt werden, indem die rechnerische Korrelationsverarbeitung gewählt wird, die durch den folgenden Ausdruck gegeben ist: <i(r1, t)i(r1·n, t + t)> + <i(r2, t)i(r2·n, t + t)> + <j(r3, t)i(r3·n, t + t)>
  • Insbesondere werden Korrelationen zwischen den Mengen der Ladungsteilchen, die zu einem Zeitpunkt t auf die Ladungsteilchendetektoren 7 auftreffen, die sich bei r1, r2 bzw. r3 befinden, und den Mengen der Ladungsteilchen, die zu einem Zeitpunkt (t + t) auf die Ladungsteilchendetektoren 7 auftreffen, die sich bei r2, r3 bzw. r4, r3, r4 bzw. r5, und r4, r5 bzw. r6 befinden, rechnerisch bestimmt. Das Ergebnis dieser Rechenoperation wird in 15 graphisch dargestellt. Es kann erkannt werden, daß durch Anzeige dreier Kreuzkorrelationen als Funktion der Verzögerungszeit t eine Bewegung des betreffenden Objekts im wesentlichen auf einer Echtzeitbasis verfolgt werden kann.
  • Die Kombinationen der Ladungsteilchendetektoren 7 zur rechnerischen Bestimmung der Kreuzkorrelationen wird in Abhängigkeit vom betreffenden Objekt geändert werden müssen. Zu diesem Zweck ist der Wahlschalter 34 vorgesehen, um den Bediener die Kombinationen der Ladungsteilchendetektoren 7 auswählen zu lassen, die in der linearen oder zweidimensionalen Anordnung angeordnet sind. In diesem Zusammenhang ist es selbstverständlich, daß durch die Wahl einer zweidimensionalen Anordnung der Ladungsteilchendetektoren 7 eine zweidimensionale Bewegung des betreffenden Objekts verfolgt werden kann.
  • Wie aus dem Vorhergehenden erkannt werden wird, ist es gemäß den Lehren der vorliegenden Erfindung möglich, dynamische Änderungen einer atomaren Struktur, magnetischen Struktur und elektrischen Struktur oder Domäne eines Mikrobereichs einer Probe zu messen oder quantitativ auszuwerten.

Claims (8)

  1. Bildbetrachtungsvorrichtung zur Betrachtung eines Bildes, das durch ein Ladungsteilchenmikroskop erzeugt wird, das eine Ladungsteilchen-Emissionsquelle (1), ein Bestrahlungselektronenlinsensystem (2) und ein Bildvergrößerungs-/Projektionslinsensystem (4) aufweist, wobei die Bildbetrachtungsvorrichtung aufweist: mindestens eine Ladungsteilchen-Extraktionseinrichtung (6), die auf einer Bilddarstellungsebene des Bildvergrößerungs-/Projektionslinsensystems (4) zur Entnahme der Ladungsteilchen aus einem vorbestimmten Abschnitt eines Ladungsteilchenstrahl vorgesehen ist, der auf die Bilddarstellungsebene projiziert wird; mindestens zwei Ladungsteilchendetektoren (7) zur Detektion der Ladungsteilchen, die durch die Ladungsteilchen- Extraktionseinrichtung (6) entnommen werden; und, eine Signalverarbeitungseinrichtung (9) zur Verarbeitung eines Signals, das aus den Ladungsteilchendetektoren (7) ausgegeben wird, dadurch gekennzeichnet, daß die Signalverarbeitungseinrichtung (9) angepaßt ist, rechnerisch eine Kreuzkorrelation zwischen Signalen zu bestimmen, die aus den Ladungsteilchendetektoren (7) ausgegeben werden, die in Entsprechung zu der Ladungsteilchen-Extraktionseinrichtung (6) vorgesehen sind.
  2. Bildbetrachtungsvorrichtung nach Anspruch 1, in der die Signalverarbeitungseinrichtung (9) angepaßt ist, rechnerisch eine Kreuzkorrelation zwischen Signalen zu bestimmen, die aus den Ladungsteilchendetektoren (7) ausgegeben werden, die in eineindeutiger Entsprechung zur Ladungsteilchen-Extraktionseinrichtung (6) vorgesehen sind.
  3. Bildbetrachtungsvorrichtung für ein Ladungsteilchenmikroskop nach Anspruch 1, wobei die Signalverarbeitungseinrichtung (9) dazu bestimmt ist, eine Bewegungsgeschwindigkeit einer betreffenden Struktur des Probenbildes auf der Grundlage einer Zeit zu bestimmen, zu der sich eine Spitze in der rechnerisch bestimmten Kreuzkorrelation zwischen den Signalen, die aus den Ladungsteilchendetektoren (7) ausgegeben werden, die jeweils in eineindeutiger Entsprechung zu einem Paar Ladungsteilchen-Extraktionseinrichtungen (6) vorgesehen sind, und einem Abstand zwischen den Ladungsteilchen-Extraktionseinrichtungen (6) zeigt,
  4. Bildbetrachtungsvorrichtung nach Anspruch 1, in der die Signalverarbeitungseinrichtung (9) dazu bestimmt ist, eine Schwingungsfrequenz eines betreffenden Abschnitts des Probenbildes durch rechnerische Bestimmung einer Kreuzkorrelation zwischen Signalen zu bestimmen, die aus den Ladungsteilchendetektoren (7) ausgegeben werden, die in eineindeutiger Beziehung zu einem Paar Ladungsteilchen-Extraktionseinrichtungen (6) vorgesehen sind.
  5. Bildbetrachtungsvorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, die ferner aufweist: eine Ablenkeinrichtung (24) zur Ablenkung des Ladungsteilchenstrahls, der das Probenbitd formt, der durch das Bildvergrößerungs-/Projektionslinsensystem (4) projiziert wird. eine Steuereinrichtung (25) zur steuerbaren Änderung der Größe der Ablenkung der Ladungsteilchenstrahlen, die durch die Ablenkeinrichtung (24) bewirkt wird, auf einer zeitseriellen Basis, und eine Ausgabeeinrichtung (26) zur Anzeige/Aufzeichnung der zeitseriellen Steuerung der Ablenkung, die durch die Steuereinrichtung (25) durchgeführt wird und des Ergebnisses der Rechenoperation, die durch die Signalverarbeitungseinrichtung (9) ausgeführt wird, in Synchronismus miteinander, wobei der zweidimensionale Abstand der Schwingungsfrequenzen der Probe sichtbar wahrgenommen wird.
  6. Bildbetrachtungsvorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, in der die Ladungsteilchen-Extraktionseinrichtung (6) mindestens eine Öffnung aufweist, die in einem Fluoreszenzschirm (5) ausgebildet ist, der an der Bitddarstellungsebene angeordnet ist, wobei die Ladungsteilchen-Detektionseinrichtung (7) durch eine Lawinenphotodiode gebildet wird, die hinter dem Fluoreszenzschirm (5) gegenüber der Öffnung angeordnet ist.
  7. Bildbetrachtungsvorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, die ferner aufweist: eine Einrichtung (29) zum äußeren Anlegen einer Anregung an die Probe, wobei die Anregung elektrisch, magnetisch, mechanisch, thermisch oder chemisch oder alternativ erregt wird, indem Teilchen verwendet werden, die aus einem Photon, Atom oder Elektron bestehen, eine Einrichtung zum Leiten von Ladungsteilchen, die durch die Probe gestreut werden, und eine Recheneinrichtung (9) zur rechnerischen Bestimmung einer Kreuzkorrelation zwischen einem Signal, das durch die Anregungsanlegeeinrichtung in Synchronismus mit dem Anlegen der Anregung erzeugt wird, und einem Ausgangssignal der Ladungsteilchen-Detektionseinrichtung.
  8. Bildbetrachtungsvorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, in der die Ladungsteilchen-Detektionseinrichtung (7) mehrere einzelne Ladungsteilchendetektoren aufweist, die in einer linearen Anordnung oder alternativ in einer zweidimensionalen Anordnung angeordnet sind und ferner aufweisen: eine Einrichtung zum Auswählen einer Kombination von Ausgangssignalen des einzelnen Ladungsteilchendetektors (7) zur rechnerischen Bestimmung einer Korrelation zwischen dem Ausgangssignalen, und eine Einrichtung zur Anzeige (26) der Ergebnisse der Rechenoperationen zur Bestimmung der Korrelationen, wodurch Korrelationen zwischen den Bildern, die durch das Ladungsteilchenmikroskop erzeugt werden, hinsichtlich einer gegebenen Position und einer Zeit bestimmt werden.
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