DE2745212C3 - Aufnahmesystem - Google Patents
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- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 34
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 13
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 8
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 7
- 238000009826 distribution Methods 0.000 claims description 5
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 claims 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 230000010363 phase shift Effects 0.000 description 8
- 238000000034 method Methods 0.000 description 6
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 description 3
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 3
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 2
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 2
- 230000001066 destructive effect Effects 0.000 description 2
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 2
- 238000001914 filtration Methods 0.000 description 2
- 238000006386 neutralization reaction Methods 0.000 description 2
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 2
- 230000035699 permeability Effects 0.000 description 2
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 2
- 230000002123 temporal effect Effects 0.000 description 2
- 239000011358 absorbing material Substances 0.000 description 1
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 230000010287 polarization Effects 0.000 description 1
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 1
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 1
- 238000012800 visualization Methods 0.000 description 1
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- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N5/00—Details of television systems
- H04N5/30—Transforming light or analogous information into electric information
- H04N5/33—Transforming infrared radiation
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J31/00—Cathode ray tubes; Electron beam tubes
- H01J31/08—Cathode ray tubes; Electron beam tubes having a screen on or from which an image or pattern is formed, picked up, converted, or stored
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Description
Die Erfindung betrifft ein Aufnahmesystem der im Oberbegriff des Patentanspruchs 1 angegebenen Art
Bekanntlich besteht der pyroelektrische Effekt darin,
Bekanntlich besteht der pyroelektrische Effekt darin,
jo daß an gewissen Materialien und unter der Einwirkung
einer Strahlung eine räumliche Verteilung der elektrischen Polarisation an der Oberfläche des Materials
erzeugt wird, die der räumlichen Verteilung der Temperatur der Strahlung entspricht.
!5 Dieser Effekt wird ausgenutzt um, insbesondere im
Infrarotbereich, mit Hilfe von Katodenstrahlröhren, deren Speicherplatte aus einem pyroelektrischen
Material besteht, oder, allgemeiner mit Hilfe von Vorrichtungen, deren Detektorfläche aus einem eindimensionalen
oder einem zweidimensionalen Mosaik von pyroelektrischen Detektoren besteht deren Information
sequentiell in Form einer elektrischen Spannung oder eines elektrischen Stroms durch Festkörperfühler
entnommen wird, Bilder aufzunehmen.
Es ist bekannt daß die Abtastung der Verteilung der an der Oberfläche eines pyroelektrischen Detektors
indizierten Ladungen durch eines der folgenden Verfahren sequentiell ausgeführt werder kann:
— Neutralisierung der indizierten elektrischen Ladungen durch eine Zufuhr von äußeren elektrischen
Ladungen. Diese Art der Abtastung wird insbesondere bei den vorgenannten Aufnahmeröhren mit
pyroelektrischer Speicherplatte angewandt, bei denen der Elektronenstrahl selbst die äußeren
Ladungen für die Neutralisierung zuführt. Diese Art der Abtastung ist zerstörend und gestattet nur, in
jedem Punkt die Temperaturänderung in diesem Punkt zwischen zwei Abtastzeitpunkten festzustel-
bo len.
— Abtastung des induzierten Potentials durch einen Fühler, dessen Eingangsimpedanz ausreichend groß
ist, damit die elektrische Zeitkonstante groß gegenüber der Abtastdauer ist. Diese Art der
Abtastung ist nichtzerstörend, aber die in dem pyroelektrischen Detektor gespeicherte Information
wird trotzdem in einer charakteristischen Zeit abgebaut, die maximal gleich der Zeit der dielektri-
sehen Relaxation des pyroelektrischen Materials ist;
sie gestattet daher nur, in jedem Punkt die Änderung des indizierten Potentials und somit die Temperaturänderung in diesem Punkt zwischen zwei Abtastzeitpunkten festzustellen.
Es ist somit zu erkennen, daß es in dem einen und in
dem anderen Fall nur möglich ist, eine ständige Information zu erhalten, wenn in jedem Punkt der
Detektorfläche die Temperatur zeitliche Änderungen erfährt Außerdem müssen zur Erzielung einer ausreichenden räumlichen Auflösung und aufgrund der
lateralen Wärmestreuungen diese Änderungen ausreichend schnell erfolgen. Die Sichtbarmachung von
feststehenden Objekten ist daher nur durch eine zeitliche Hilfsmodulation der Temperatur in jedem
Punkt der Detektorfläche möglich. Für diesen Zweck sind verschiedene Verfahren bekannt, von denen
genannt seien:
20
— die ständige Verschiebung des Bildes des Objekts auf
der Detektorfläche, entweder durch Verschieben des gesamten Systems gegenüber dem Objekt oder
durch Verschieben allein des Bildes des Objekts durch eine optische Vorrichtung mit zeitlich
veränderlicher Ablenkung. Dieses Verfahren hat
. insbesondere den Nachteil, daß es die Ausnutzung
der Detektorfläche begrenzt und eine erhöhte Komplexität des Systems, vor allem in seiner
zweiten Version, mit sich bringt
— die periodische Unterbrechung der auf der Detektorfläche einfallenden Strahlung mit Hilfe eines
mechanischen Verschlusses. Diese Methode hat den Vorteil, daß das Bild des Objekts auf der
Detektorfläche festgehalten wird, es erfordert aber für eine korrekte Wiedergabe eine Verarbeitung des
Videosignals, denn bekanntlich ist während der Unterbrechungsperioden des einfallenden Strahlungsflusses das Nutzsignal gegenüber dem außerhalb dieser Perioden empfangenen Signal umge-
kehrt Sie erfordert außerdem eine Synchronisierung zwischen dem Verschließen und dem Abtasten der
Detektorfläche. Schließlich '<m sie wenig für Katodenstrahlröhren geeignet weil em Elektronenstrahl
kaum geeignet ist in Zeiten in der Größenordnung eines Teilbildrasters plötzlichen Potentialänderungen an der Detektorfläche zu folgen.
— die periodisch« zeitliche Änderung der Fokussierung
des Bildes an der Detektorfläche (Fokussierungs-Defokussierungsverfahren). Dieses Verfahren, da so
das einfacher durchführbar ist als das vorangehende, weist jedoch alle seine Nachteile auf und zusätzlich
den, daß es nicht mit der Abtastung synchronisiert werden kann, was zu einem Nutzsignalverlust fuhrt.
55
Aufgabe der Erfindung ist es, ein Aufnahmesystem der im Oberbegriff des Patentanspruchs 1 angegebenen
Art so auszubilden, daß die gesamte Detektorfläche ausgenutzt werden kann und die Verarbeitung des an
der Detektorfläche abgenommenen Signals vereinfacht to
wird.
Diese Aufgabe wird durch die im Kennzeichen des Anspruchs 1 angegebenen Merkmale gelöst
Bei dem Aufnahmesystem nach der Erfindung wird mit Hilfe des Gitters eine zeitliche und fortlaufende
Modulation der auf der Detektorfläche einfallenden Strahlung vorgenommen, was die Ausnutzung der
gesamten Detektorfiäche ermöglicht und die Signalverarbeitung, die in dem System durchgeführt werden muß,
wesentlich vereinfacht
In der Weiterbildung der Erfindung gemäß dem Gegenstand des Anspruchs 13 kann nicht der Nachteil
auftreten, den manche bekannte Vorrichtungen infolge zu großer Differenzen zwischen der Temperatur eines
Verschlusses und der mittleren Temperatur des Objekte aufweisen, da die Multiplikation mit dem Hilfssignal ein
Störsignal ergibt das zu der Temperaturdifferenz proportional ist und eine Glkeichstrotnkomponente
sowie eine Wechselstromkomponente enthält welche beide durch Filterung leicht eliminiert werden können.
folgenden unter Bezugnahme auf die Zeichnungen näher beschrieben. Es zeigt
F i g. 1 eine Ausführungsform des in dem System nach
der Erfindung benutzten Gitters,
Fig.2 ein Schema, das verschiedene mögliche
Positionen für das in dem System nach der Erfindung benutzte Gitter zeigt
Fig.4 und 5 Diagramme der Temperaturen des
Objekts und der auf der Detektorfläche empfangenen Strahlung in verschiedenen Fällen, und die
F i g. 6 und 7 Blockschaltbilder, welche die Verarbeitung des durch die Detektorfläche des Systems
gelieferten elektrischen Signals veranschaulichen.
F i g. 1 zeigt eine Ausführungsform des mit 1 bezeichneten Gitters, das aus einer vollständig absorbierenden, d. h. mit einem schwarzen Körper vergleichbaren Platte 2 besteht in der öffnungen 3 gebildet sind,
welche derartige Abmessungen haben, daß die Strahlungsdurchlässigkeit des Gitters Ui beträgt wobei der
Rand 4 des Gitters unberücksichtigt ist In Hern Beispiel von F i g. 1 sind die öffnungen 3 mit konstanter Teilung
a angeordnet und haben in einer zu einer Achse XX normalen Richtung die Form eines langgestreckten
Rechtecks.
Fig.2 zeigt ein Schema, welches verschiedene
mögliche Positionen für ein solches Gitter in dem System nach der Erfindung veranschaulicht
F i g. 2 zeigt ein sichtbar zu machendes Objekt 5, die von ihm ausgehende Strahlung 6, eine Linse 7 als
schematische Darstellung der Fokussiemngsoptik des Systems und eine pyroelektrische Detektorfläche 8.
Diese verschiedenen Elemente sind in einer Linie &uf einer Achse ZZ angeordnet die zu der Ebene der
Detektorfläche 8 normal ist
In dieser Anordnung kann sich das Gitter entweder zwischen dem Objekt 5 und der Fokussiemngsoptik 7,
d. h. in einer Ebene 11 in F i g. 2 befinden, oder zwischen
der Fokussierungsoptik 7 und der Detektorfläche 8, d. h.
in einer Ebene 12. In dem einen oder in dem anderen Fall ist es normal zu der Achse ZZangeordnet
Das in F i g. 1 dargestellte Gitter 1 verschiebt sich mit einer gleichförmigen Geschwindigkeit oder ist in einer
Hin- und Herbewegung auf der Achse XX und normal zu der Achse ZZ.
Außerdem kann die räumliche Frequenz dieses Gitters, bezogen auf die Höhe der Detektorfläche 8 (in
F i g. 2) und unter Berücksichtigung der Vergrößerung der Optik 7, groß sein und in der Größenordnung der
maximalen räumlichen Frequenz liegen, die auf der Höhe der Detektorfläche erreichbar ist oder statt
dessen sehr klein und kleiner als die minimale räumliche Frequenz auf der Höhe der Detektorfläche sein.
Wenn diese räumliche Frequenz groß ist wird das Gitter vorzugsweise sehr nahe bei dem Objekt 5 oder
sehr nahe bei der Fokussierungsebene angeordnet die
mit der Detektorfläche 8 zusammenfällt, wobei die maximalen Abstände von der Schärfentiefe und daher
von der numerischen Apertur des Objektivs abhängig sind, das das Bild des Objekts in der Ebene der
Detektor- oder empfindlichen Fläche 8 bildet. >
In gewissen Vorrichtungen und insbesondere in denjenigen, in denen eine Aufnahmeröhre benutzt wird,
ist es aber wegen der Dicke des Eingangsfensters nicht möglich, das Gitter sehr nahe bei der Detektorfläche
anzuordnen. Diese Schwierigkeit kann mit Hilfe des in ι ο Fig.3 schematisch dargestellten Systems beseitigt
werden, das ein Zwischenbild des Objekts in derjenigen Ebene bildet, in der es möglich ist, das Gitter
anzuordnen.
F i g. 3 zeigt daher wieder das Objekt 5 und die von dem Objekt ausgehende Strahlung 6. Das optische
System der Vorrichtung enthält zwei Objektive 71 und 72, welche gestatten,
ein Zwischenbild des Objekts 5 in einer Ebene 13, in
der das Gitter angeordnet wird, und
ein Bild des Objekts 5 auf der Detektorfläche 8
zu erzeugen.
Oben sind Gitter mit niedriger oder hoher räumlicher Frequenz beschrieben worden, bei denen der
massive Teil mit einem schwarzen Körper vergleichbar ist In diesem Fall sind diejenigen Teile der Detektorfläche, die sich gegenüber den massiven Teilen des Gitters
befinden, der effektiven Temperatur dieses Gitters ausgesetzt Es ist aber außerdem möglich, diese
massiven Teile aus einem Material herzustellen, das die einfallende Strahlung zerstreut wobei dann die zuvor
betrachteten Teile der Detektorfläche nur einer mittleren Temperatur des Objekts ausgesetzt sind. Es ist
ferner möglich, diese massiven Teile aus einem strahlungsdurchlässigen Material herzustellen, das das r>
Bild örtlich defokussiert Diese beiden letztgenannten Varianten erzeugen empfindliche Effekte nur in dem
Fall von Gittern mit niedriger räumlicher Frequenz, wie weiter unten dargelegt ist
F i g 4a zeigt ein Diagramm der Temperatur Bn des
Objekts und F i g. 4b ein Diagramm der Temperatur Bd
der auf der Detektorfläche einfallenden Strahlung in dem Fall, in welchem die räumliche Frequenz des
Gitters niedrig ist
In Fig.4a sind die mittlere Temperatur Bm des
Objekts auf einer zu der Achse XX von F i g. 1 parallelen Achse und eine der räumlichen Fourier-Komponenten der Temperatur des Objekts, d. h. eine
Sinuskurve mit der Amplitude θι um die mittlere
Temperatur Sm dargestellt
In Fig.4b ist die Temperatur der einfallenden
Strahlung dargestellt die der Komponente der Temperatur des Objekts von Fig.4a und einem Gitter mit
niedriger räumlicher Frequenz entspricht Es ergibt sich eine Rechteckfunktion, deren Periode a.\ gleich der des
Gitters ist und deren Amplitude gleich der Differenz (Sm-θ2) zwischen der mittleren Temperatur θ,η des
Objekts und der Temperatur θ2 des Gitters ist Diese
Rechteckfunktion ist in ihren Teilen, welche den Aussparungen des Gitters entsprechen, durch die
Komponente von F i g. 4a aufgrund des Objekts mit der Amplitude θι moduliert, die wesentlich kleiner als die
Differenz [ßm—Θ2) ist
Wenn das Gitter aus einem zerstreuenden oder defokussierendem Material hergestellt ist ist die
Temperatur θ2 der massiven Teile des Gitters, der die
Detektorfläche ausgesetzt ist gleich der mittleren Temperature,,, des Objekts.
Die F i g. 5a bis 5c beziehen sich auf ein Gitter mit hoher räumlicher Frequenz, die mit den höchsten
räumlichen Frequenzen des Objekts, deren Übertragung erwünscht ist, vergleichbar ist
F i g. 5a zeigt ein Diagramm der Temperatur B0 des
Objekts wieder auf einer zu der Achse XX von F i g. 1 parallelen Achse. Das Diagramm zeigt die mittlere
Temperatur Bn, dieses Objekts und eine der räumlichen
Fourier-Komponenten der Temperatur des Objekts, welches eine Sinuskurve der Amplitude Θ3 um die
mittlere Temperatur öm ist F i g. 5b zeigt ein Diagramm
der Temperatur Bd der durch die Detektorfläche
empfangenen Strahlung, welches, wie in dem Fall von F i g. 4b. eine Rechteckfunktion zeigt deren Parameter
(Periode a2 und Amplitude Βπ,-Bi) durch das Gilter
definiert sind, und die durch die Komponente der Strahlung von Fig.5a mit der Amplitude Θ3, die
wesentlich kleiner als die Differenz (Bn,-B2) ist,
moduliert ist
F i g. 5c zeigt ebenfalls ein Diagramm der Temperatur Bd der auf der Detektorfläche einfallenden Strahlung,
aber in dem Fall, in welchem das Gitter aus einem zerstreuenden oder defokussierenden Material besteht.
Es ist zu erkennen, daß die einfallende Strahlung, wie sie in Fig. 5a dargestellt ist durch das Vorhandensein des
Gitters nur wenig moduliert ist
Das Spektrum der räumlichen Frequenzen der durch den Detektor 8 von Fig.2 (oder von Fig.3)
absorbierten Strahlung kann folgendermaßen zerlegt werden: Das Gitter mit der Strahlungsdurchlässigkeit
1/2 und der räumlichen Frequenz
verschiebt sich auf der Achse XX mit einer gleichförmigen Geschwindigkeit; jede Fourier-Komponente der
einfallenden Strahlung mit der räumlichen Frequenz kc
muß daher mit einer Rechteckfunktion multipliziert werden, die abwechselnd die Werte 0 und 1 annimmt
mit einer räumlichen Periode a, um das Auffangen der einfallenden Strahlung durch das Gitter auszudrücken.
Das ergibt durch Reihenzerlegung der Rechteckfunktion:
— das Produkt der einfallenden Strahlung durch der
Mittelwert (1/2), der für ein feststehendes Objek
zeitlich unveränderlich ist und daher ein Nutzsigna Null ergibt Wenn das Objekt bewegt ist ergibt siel·
ein Signal, das halb so groß ist wie dasjenige, das be Nichtvorhandensein des Gitters beobachtet würde.
— das Produkt der einfallenden Strahlung durch die
erste Harmonische mit der Amplitude 7Jn, das da! Hauptsignal für ein feststehendes Objekt liefert
— die Produkte der einfallenden Strahlung durch di<
Harmonischen 3, 5, 7 ... mit den Amplituden 2/3a bzw. 2/53Γ bzw. 2fJn.., die in dem Fall eines Gitter
mit hoher räumlicher Frequenz in der Größenord nung der zu fibertragenden maximalen Objektfre
quenz vernachlässigbar sind. In dem Fall eine: Gitters, dessen räumliche Frequenz gegenüber dei
Objektfrequenzen niedrig ist, wobei diese dann mi denjenigen der aufeinanderfolgenden Harmoni
sehen des Gitters vergleichbar sein können, sine diese Produkte störend und es ist dann di<
Benutzung einer im wesentlichen sinusförmige! Struktur für das Gitter vorzuziehen; das kam
näherungsweise realisiert werden, indem das Gittei aus seiner theoretischen Position, d.h. aus dei
Position nahe dem Objekt oder der Ebene da
Detektorfläche derart entfernt wird, daß die Abmessung der Unscharfe beispielsweise zwischen
der räumlichen Grundjieriode und einem Drittel
dieses Wertes liegt, welches der ersten Harmonischen entspricht.
Die mittlere Komponente der von dem Objekt ausgehenden Strahlung, die der mittleren Temperatur
des Objekts entspricht, wird durch das Auffangen durch ein Gitter aus zerstreuendem oder defokussierendem
Material nicht modifiziert. Sie wird dagegen durch ein Gitter aus absorbierendem Material modifiziert: Die
Temperatur der auf der Detektorfläche einfallenden Strahlung ist dann die Temperatur Bi des Gitters,
vergrößert um einen Wert, der zu der Differenz (B1n-B2) proportional ist, und moduliert durch die oben
definierte Rechteckfunktion. Es gibt daher ein zeitlich veränderliches Glied, das zu der Temperaturdifferenz
Bm—B2 proportional ist und eliminiert werden muß,
damit eine zufriedenstellende Wiedergabe des Bildes erzielt wird.
Schließlich ist bezüglich des Signals Sd, das an dem
Detektor gewonnen werden kann, bekannt, daß es in jedem Punkt zu der Temperaturänderung zwischen
zwei aufeinanderfolgenden Abtastungen in diesem Punkt proportional ist Die Rechnung zeigt, daß dieses
Signal Komponenten enthält, die von der Summe und von der Differenz der räumlichen Frequenzen Are und Ar0
des Gitters bzw. des Objekts abhängig sind. Jeder dieser Komponenten ist ein zu der Zeit proportionales erstes
Phasenglied (der Form:
kc-vt,
wobei ν die Geschwindigkeit des Gitters ist) und ein
zeitunabhängiges zweites Phasenglied zugeordnet. Die Berechnung zeigt außerdem, daß das Signal Sd zu
proportional ist, wobei Γ das Zeitintervall zwischen zwei Abtastungen desselben Punktes ist. Das verlangt in
der Praxis
JL = -
d.h.
^ψ < kc ■ ν
< -ψ ,
20
was die optimale Geschwindigkeit ν des Gitters für eine
bestimmte Frequenz Are festlegt
Als Beispiel wird im folgenden eine Art der
Wiedergabe des Bildes des Objekts aufgrund des
Signals Sd angegeben, die durch F i g. 6 veranschaulicht ist. Sie wird bei Vorrichtungen angewandt, bei denen
die Detektorfläche sequentiell in zu der Verschiebungsrichtung XX des Gitters parallelen Zeilen abgetastet
iü wird. Sie wird insbesondere bei Aufnahmeröhren
angewandt, bei denen die pyroelektrische Speicherplatte durch einen Elektronenstrahl gemäß einer herkömmlichen Fernsehnorm abgetastet wird.
Das Signal Sdenthält Glieder folgender Form:
sin [(Zc0 i k0) ■ Vn ■ t - kc · r · l + ν - (icc ± fco)
zeitunabhängige Phasenverschiebung
Horizontalverschiebungsgeschwindigkeit der Abtastung
Dauer einer Zeile
laufende Nummern der Zeile bzw. des Teilbildes
Um einerseits die räumliche Ausgangsfrequenz ko
wiederzugeben und um andererseits die zeitliche Änderung zu eliminieren, die von der veränderlichen
Phasenverschiebung herrührt, wird das Signal Sd mit
einem Hilfssignal SM multipliziert:
50
55
wobei φ, eine einstellbare Phasenverschiebung ist, die
insbesondere in Abhängigkeit von der Tatsache festgelegt ist, daß die verschiedenen Phasenverschiebungen um so störender sind, je niedriger die
Frequenzen sind.
Das ist in Fig.6 dargestellt, in welcher eine
Multiplizierschaltung 16, die mit Hilfe eines breitbandigen (größer als 3 MHz) linearen Verstärkers realisiert
ist, ein Signal Sd an einem ersten Eingang 14 und ein
Signal Sx an einem zweiten Eingang 15 empfängt und an ihrem Ausgang 17 das Produkt P(k& 2 JtG-Ab) der
beiden Signale abgibt, das die Glieder enthält, die von
der räumlichen Frequenz kc und von der Differenz
(2kc-ko) abhängig sind. Das Signal P wird anschließend durch ein Filter 18 (Fig.6) gefiltert, um die
Frequenzen, bei welchen es sich nicht um die Frequenz Ar0 handelt, zu eliminieren. Das Filter 18 gibt daher an
seinem Ausgang 19 das Nutzsignal S(ko) ab. Es sei
angemerkt, daß die Filterung nur möglich ist, wenn das
Frequenzintervall (2kc-ko) außerhalb des Gebietes
der Frequenzen des Objekts liegt, d. h. wenn gilt (wenn
km die maximale Objektfrequenz ist, deren Übertragung
erwünscht ist):
2kc— km> km oder Atg>
km.
Diese Art der Korrektur ist nur dann möglich, wenn die räumliche Grundfrequenz des Gitters größer als die
maximale Objektfrequenz ist
Die Erzeugung des Hilfssignals S, erfordert im Prinzip eine veränderliche Phasenverschiebung
φ,-kc- Vh(I-ti+η- T)
bei jedem Teilbild und bei jeder Zeile. Dieses Erfordernis kann beseitigt werden, wenn ka Vwund fi
derart gewählt werden, daß ihr Produkt gleich einem ganzzahligen Vielfachen von 2π ist
Im übrigen kann die Einstellung der Frequenz dieses
Hilfssignals S. auf die Frequenz kc(VH-v) in der in
F i g. 7 dargestellten Weise erzielt werden:
Das Signal 5, wird durch eine Schaltung 23 erzeugt
Es wird in einer Schaltung 20 mit einem Signal 5
multipliziert. Dieses Signal wird erhalten, indem das Signal entnommen wird, das durch einen Teil der
Detektorfläche geliefert wird, der durch das Gitter hindurch durch eine Hilfsquelle unabhängig von dem
Objekt gleichmäßig beleuchtet ist Dieses Signal enthält dann nur die Frequenz ka(Vh-v). Das Signal P\,
welches das Produkt der Signale S„ und 5 ist, wird in
einem Filter 21 derart gefiltert, daß die Gleichstromkomponente
dieses Signals erhalten wird, welche durch einen Differenzverstärker 22 mit einem festen Wert V,
welcher zwischen - Vm und + Vm liegt, verglichen wird,
wobei der Maximalwert + Vm erreicht wird, wenn die beiden Signale S1 und 5 in Phase sind. Die Wahl des
Wertes V bestimmt außerdem den Wert der Phasenverschiebung φ» Das Fehlersignal ε, das der Differenzverstärker
22 abgibt, wird zu der Signalerzeugungsschaltung 23 zurückgeleitet
Oben ist unter Bezugnahme auf die F i g. 6 und 7 eine elektrische Verarbeitungsweise des durch die Detektorflache
gelieferten Signals Sd beschrieben worden. Es ist auch möglich, eine optische Verarbeitung dieses Signals
vorzunehmen, die den Vorteil hat, daß sie für jede
beliebige Art der Abtastung der Detektorfläche gültig ist.
Sie besteht darin, das zuvor auf dem Sichtbarmachungsteil erhaltene Bild mit einem zweiten Gitter
der räumlichen Frequenz kau das sich mit einer Geschwindigkeit Vi verschiebt, optisch zu multiplizieren.
Die Größen Are ι und vi werden aufgrund der räumlichen
Frequenz kc und der Geschwindigkeit ν durch Division bzw. Multiplikation mit der Vergrößerung γ zwischen
dem wiedergegebenen Bild und dem auf der Detektorfläche gebildeten Bild erhalten. Die Phasenverschiebung
φοι zwischen dem zweiten Gitter und dem ersten Gitter
ist außerdem einstellbar. Die Einstellung der Geschwindigkeit vi auf die Geschwindigkeit ν des ersten Gitters
kann in analoger Weise zu der in Fig.7 gezeigten Anordnung erhalten werden, indem die von den beiden
Gittern stammenden Signale optisch multipliziert werden und indem die Geschwindigkeit vi so geregelt
wird, daß die Gleichstromkomponente des Produkts auf einen festen Wert eingestellt ist der mit der
Phasenverschiebung <pOi zwischen den beiden Gittern
verknüpft ist.
Hierzu 4 Blatt Zeichnungen
Claims (15)
1. Aufnahmesystem mit einem Detektor für eine von einem sichtbar zu machenden Objekt kommende
Strahlung, dessen Detektorfläche aus einem pyroelektrischen Material besteht, auf welchem die
einfallende Strahlung eine räumliche Verteilung des sie darstellenden elektrischen Potentials erzeugt,
und mit Einrichtungen zum Abtasten der Potentialverteilung, gekennzeichnet durch ein teilweise
strahlungsdurchlässiges Gitter (1), das sich zwischen dem. Objekt (5) und der Detektorfläche (8)
verschiebt
2. System nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Bewegung des Gitters (1) in einer zu der
einfallenden Strahlung (6) im wesentlichen normalen Ebene (XX) mit gleichförmiger Geschwindigkeit
erfo!gt
3. System nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet daß die räumliche Frequenz des
Gitters (1), bezogen auf die Detektorfläche (8), im wesentlichen gleich der zu übertragenden maximalen
räumlichen Frequenz des Objekts (5) ist
4. System nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß die räumliche Frequenz des
Gitters (I)1 bezogen auf die Detektorfläche (8), klein
fegen die zu übertragende kleinste räumliche Frequenz des Objekts (5) ist.
5. System nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß das Gitter (1) ein
Material aufweist, das die einfallende Strahlung (6) absorbiert und in dem mehrere öffnungen (3) derart
gebildet sind, daß die Strahlungsdurchlässigkeit des Gitters gleich'/2 ist
6. System nach einem der Ansprüche 1, 2 oder 4, dadurch gekennzeichnet, daß das Gitter (1) aus
einem die einfallende Strahlung (6) zerstreuenden Material besteht
7. System nach einem der Ansprüche 1, 2 oder 4, dadurch gekennzeichnet, daß das GiKer (1) aus
einem Material besteht, das den Strahlengang der einfallenden Strahlung (6) ändert.
8. System nach einem der Ansprüche 1 bis 7, dadurch gekennzeichnet, daß das Gitter (1) in
unmittelbarer Nähe des Objekts (5) angeordnet ist.
9. System nach einem der Ansprüche 1 bis 7, dadurch gekennzeichnet, daß das Gitter (1) in
unmittelbarer Nähe der Detektorfläche (8) angeordnet ist.
10. System nach einem der Ansprüche 1 bis 7, dadurch gekennzeichnet, daß das Gitter (1) in einer
Ebene (13) angeordnet ist, in welcher optische Einrichtungen (71) ein Zwischenbild des Objekts (5)
bilden.
11. System nach einem der Ansprüche 8 bis 10, dadurch gekennzeichnet, daß zur Approximation
eines sinusförmigen Gitters das Gitter (1) von seiner theoretischen Position entfernt ist.
12. System nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Abtasteinrichtungen die Detektorfläche
(8) in zu der Bewegungsrichtung des Gitters (1) parallelen Zeilen abtasten und daß eine Schaltung
(16) zur elektrischen Verarbeitung des durch die Detektorfläche gelieferten Signals (SJ) vorgesehen
ist, die dieses Signal (Sd) mit einem sinusförmigen Hilfssignal (Sa) multipliziert, dessen Phase sich mit
jeder Zeile ändert und das einen einstellbaren Teil aufweist.
13. System nach Anspruch 12, dadurch gekennzeichnet
daß die Frequenz des Hilfssignals (Sa) derart geregelt wird, daß die Gleichstromkomponente
des Produkte (P\) aus diesem Signal und einem zweiten Hilfssignal (S), welches durch wenigstens
einen Teil der durch das Gitter (1) hindurch gleichmäßig beleuchteten Detektorfläche (8) geliefert
wird, auf einen Referenzwert (V) eingestellt ist
14. System nach Anspruch 3, gekennzeichnet durch Einrichtungen zur optischen Verarbeitung des
durch die Detektorfläche (8) gelieferten Signals (Sd), welche die optische Multiplikation der Strahlung, die
von dem auf der Detektorfläche gebildeten Bild kommt, mit einem zweiten Gitter vornehmen, das in
dem Strahlengang dieser Strahlung angeordnet ist und sich synchron mit dem ersten Gitter verschiebt.
15. System nach Anspruch 14, dadurch gekennzeichnet daß die Geschwindigkeit des zweiten
Gitters derart geregelt wird, daß die Gleichkomponente des optischen Produkte der durch die beiden
Gitter gelieferten Signale auf einen Referenzwert eingestellt ist
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
FR7630288A FR2367390A1 (fr) | 1976-10-08 | 1976-10-08 | Systeme de prise de vues perfectionne, a effet pyroelectrique |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2745212A1 DE2745212A1 (de) | 1978-04-13 |
DE2745212B2 DE2745212B2 (de) | 1978-11-23 |
DE2745212C3 true DE2745212C3 (de) | 1979-07-19 |
Family
ID=9178516
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE2745212A Expired DE2745212C3 (de) | 1976-10-08 | 1977-10-07 | Aufnahmesystem |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4158136A (de) |
DE (1) | DE2745212C3 (de) |
FR (1) | FR2367390A1 (de) |
GB (1) | GB1545126A (de) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2848323C1 (de) * | 1978-11-08 | 1992-02-27 | Siemens Ag | Einrichtung zur Darstellung eines Infrarot-oder Fernsehbildes |
US5015070A (en) * | 1989-03-14 | 1991-05-14 | Mouse Systems Corporation | Reference grid for optical scanner |
US5051591A (en) * | 1989-07-28 | 1991-09-24 | Texas Instruments Incorporated | Reflective chopper for infrared imaging systems |
US5136421A (en) * | 1990-06-29 | 1992-08-04 | Texas Instruments Incorporated | Thermal imaging system and method using scene-average radiation as a thermal reference |
US11368637B1 (en) | 2021-02-17 | 2022-06-21 | Institut National D'optique | Image acquisition method for microbolometer thermal imaging systems |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
NL300404A (de) * | 1962-11-19 | |||
FR2137164B1 (de) * | 1971-05-14 | 1973-05-11 | Thomson Csf |
-
1976
- 1976-10-08 FR FR7630288A patent/FR2367390A1/fr active Granted
-
1977
- 1977-10-05 US US05/839,635 patent/US4158136A/en not_active Expired - Lifetime
- 1977-10-05 GB GB41495/77A patent/GB1545126A/en not_active Expired
- 1977-10-07 DE DE2745212A patent/DE2745212C3/de not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE2745212B2 (de) | 1978-11-23 |
GB1545126A (en) | 1979-05-02 |
US4158136A (en) | 1979-06-12 |
DE2745212A1 (de) | 1978-04-13 |
FR2367390B1 (de) | 1982-01-08 |
FR2367390A1 (fr) | 1978-05-05 |
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