DE69116835T2 - Spindetektor - Google Patents

Spindetektor

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Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB9814775D0 (en) * 1998-07-09 1998-09-09 Council Cent Lab Res Councils Polarimeter
JP3383842B2 (ja) 2000-04-28 2003-03-10 北海道大学長 散乱ターゲット保持機構及び電子スピン分析器
JP3757263B2 (ja) 2000-05-02 2006-03-22 国立大学法人 北海道大学 電子スピン分析器
JP2008269967A (ja) * 2007-04-20 2008-11-06 Apco:Kk 電子線スピン検出器
WO2011019457A1 (en) * 2009-08-11 2011-02-17 Regents Of The University Of California Time-of-flight electron energy analyzer
EP2641101B1 (de) 2010-11-17 2015-07-08 SPECS Surface Nano Analysis GmbH Spindetektoranordnung zum messen der vektorkomponenten eines in einem teilchenstrahl vorherrschenden spinvektors
CN111175806B (zh) * 2020-01-08 2022-03-01 中国科学院近代物理研究所 一种束流散射靶装置和束流能散分析器

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2646394C2 (de) * 1976-10-14 1986-12-11 Kernforschungsanlage Jülich GmbH, 5170 Jülich Vorrichtung zur Bestimmung des Spinpolarisationsgrades eines Elektronenstrahls
JPS6017846A (ja) * 1983-07-08 1985-01-29 Hitachi Ltd 電子スピン偏極率検出器
JPS60177539A (ja) * 1984-02-24 1985-09-11 Hitachi Ltd 走査型電子顕微鏡
US4760254A (en) * 1985-06-07 1988-07-26 Pierce Daniel T Apparatus and method for electron spin polarization detection
JP2680018B2 (ja) * 1988-02-26 1997-11-19 株式会社日立製作所 スピン偏極度検出器

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