JPH04206427A - スピン検出器 - Google Patents

スピン検出器

Info

Publication number
JPH04206427A
JPH04206427A JP2337079A JP33707990A JPH04206427A JP H04206427 A JPH04206427 A JP H04206427A JP 2337079 A JP2337079 A JP 2337079A JP 33707990 A JP33707990 A JP 33707990A JP H04206427 A JPH04206427 A JP H04206427A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
target
electron beam
vector
component
polarization vector
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2337079A
Other languages
English (en)
Inventor
Kazuyuki Koike
和幸 小池
Takashi Furukawa
古川 貴司
Hideo Matsuyama
秀生 松山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP2337079A priority Critical patent/JPH04206427A/ja
Priority to EP91120275A priority patent/EP0490170B1/en
Priority to DE69116835T priority patent/DE69116835T2/de
Priority to US07/799,934 priority patent/US5166522A/en
Publication of JPH04206427A publication Critical patent/JPH04206427A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01TMEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
    • G01T1/00Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
    • G01T1/32Measuring polarisation of particles

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • High Energy & Nuclear Physics (AREA)
  • Molecular Biology (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Measuring Magnetic Variables (AREA)
  • Measurement Of Radiation (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、電子線の偏極ベクトルの測定にかがわり、特
に2次元面内での方向の検出に好適なスピン検出器に係
わる。
〔従来の技術] ターゲットによる被測定電子線の吸収もしくは散乱を用
いて偏極ベクトルの方向と大きさを検出するスピン検出
器は、″電子スピン偏極率検出器゛′(小池他、特許顆
間58−123240)に開示されている。この方法で
は、検出器の中心軸にそって入射した被測定電子線の軌
道を曲げて一度中心軸から離し、その後再び曲げて中心
軸に対しである角度を持ってターゲツト面に入射させ、
さらにこの入射角と入射位置が変わらないよう、電子軌
道を中心軸周りに回転させる。
しかし入射角と入射位置が変えずに軌道を回転させるこ
とは容易でなく、またターゲットとして金蒸着膜を用い
ているため検出感度が低い。ターゲットとして強磁性体
を用いたスピン検出器はTh。
Dod を他ユーロフィジイクスレター(Europh
ysicsLetter)6(4) 1988.375
に開示されている。この方法によると、金蒸着膜をター
ゲットとして用いた場合より一桁近く高い感度で偏極ベ
クトルの一成分を検出できるが、−回の測定では偏極ベ
クトルの大きさと方向の同時検出はできない。
〔発明が解決しようとする課題〕
本発明の目的は、電子線の角度や位置を合わせるための
高度な技術を用いることなく、偏極ベクトルの大きさと
方向を高感度で同時検出できるスピン検出器を提供する
ことにある。
〔課題が解決するための手段〕
上記目的は、ターゲットとして強磁性体を用い、電子線
の偏極ベクトル、もしくは電子線の軌道、もしくはター
ゲットの磁化ベクトルを検出器の中心軸の周りで移動さ
せ、ターゲットに吸収される電子線、もしくはターゲッ
トによって散乱される電子線の電流値の直流分の大きさ
と、交流会の大きさ、および偏極ベクトル、もしくは電
子軌道、もしくは磁化ベクトルの移動信号と交流会との
位相差を検出し、交流会の大きさを直流分で除すことに
より達成される。
[作用] 強磁性体ターゲットに吸収される電子線、もしくはター
ゲットによって散乱される電子線の直流値は、被測定電
子線の偏極ベクトルとターゲットの磁化ベクトルの内積
に依存して変化する。したがって、偏極ベクトル、もし
くは軌道、もしくは磁化ベクトルを移動させ、ターゲッ
トに吸収される電子線、もしくはターゲットによって散
乱される電子線の電流値の変化分を、偏極ベクトル、も
しくは電子軌道、もしくは磁化ベクトルの移動に関する
信号を参照信号とじて、ロックイン方式で検出し、その
大きさと位相を求めれば、その位相から偏極ベクトルの
方向が分かり、その大きさと′ 全吸収電流もしくは全
散乱電流の比から偏極ベクトルの大きさが分かる。
[実施例] 以下、図を用いて、本発明によるスピン検出器の構成及
びその動作原理を詳細に説明する。
第1図は本発明によるスピン検出器の第一〇実施例の基
本構成を示したものである。
本発明の装置は、磁場発生コイル3と静電レンズ4から
なる偏極ベクトル回転器52強磁性ターゲットである鉄
単結晶7.ターゲットの磁化6を一方向に揃える磁場発
生器8.偏極ベクトル回転器にベクトルの回転信号を与
える発振器9.ターゲットに吸収される電流を検出増幅
する電流増幅器119発振器からの信号を参照信号とし
て吸収電流の交流会と直流分を検出するロックインアン
プ10.吸収電流の直流分を検出する電流計12゜吸収
電流の交流会と直流分の比を計算する割算回路13から
構成される。ここで偏極ベクトルの回転は偏極ベクトル
回転器内部の磁S発生コイルの電流値を変えて行なうが
、このコイルは同時にレンズ作用も有するため、電子線
の収束特性も変わってしまう。そこで、偏極ベクトルの
方向には影響を与えない静電レンズを用いて、磁場強度
に応じて静電レンズ強度を変える動的収束調整をおこな
い、電子線の収束特性を一定に保っている。今検出器の
中心軸にそって被測定電子線2を入射し、第2図に示す
発振器9からの鋸波電流1sを磁場発生コイルに流して
、この電子線の偏極ベクトルを、中心軸の周りに−様な
角速度で回転させると、ターゲットによる吸収電流の交
流会iaは第2図に示すように正弦波的に変化する。こ
の交流信号の位相と振幅を、発振器からの信号を参照信
号としてロックインアンプによって検出すると、参照信
号と検出交流信号の位相差△ψは検出器に入射する電子
線の偏極ベクトル1とターゲットの磁化ベクトル6のな
す角となり、偏極ベクトルの方向が検出できる。また割
算回路13を用いて、交流信号の振幅Iaを直流電流計
が検出した電流Idで除すると、偏極ベクトル1の大き
さが求まる。
第3図は本発明のよるスピン検出器の第二の実施例の基
本構成を示したものである。
本スピン検出器は第1図の吸収電流の増幅器の代わりに
、散乱電子18を増倍検出するための、グリッド16.
マイクロチャンネルプレート15゜およびアノード14
よりなるMCPアセンブリ17、その出力電流を更に増
幅する増幅器11を備えている。第一の実施例と同様入
射電子線2の偏極ベクトル1を回転させなからターゲッ
ト7に照射し散乱電子18を検出すると、第4図に示す
ように、第一の実施例とは極性が反転した交流会1aを
有する8力電流が得られる。第一の実施例と同様、ロッ
クインアンプ10によって、この交流会の位相差△ψと
振幅Iaを検出し、電流計12で直流分Idを検出する
ことにより、偏極ベクトルの大きさと方向が検出できる
。このスピン検出器は第一の実施例のスピン検出器より
高価となるが、信号雑音比を大きくとれるため、高精度
の偏極ベクトルが検出できる。
第5図は本発明によるスピン検出器の第三の実施例の基
本構成を示したものである。
本スピン検出器は第1図の鉄結晶ターゲット7の代わり
にアモルファス鉄合金ターゲット19を有し、偏極ベク
トル回転器5の代わりに、ターゲットの磁化ベクトルを
回転させるための回転磁場発生器20を有する。全検出
器の中心軸にそって被測定電子線2を入射し、発振器9
からの信号によってターゲットの磁化ベクトル6を検出
器の中心軸の周りに−様な角速度で回転すると、ターゲ
ット19による吸収電流の交流会は第2図と同様に正弦
波的に変化する。第一の実施例と同様、コックインアン
プによって、この交流会の位相差と振幅を検出し、電流
計で直流分を検出することにより、偏極ベクトルの大き
さと方向が検出できる。
このスピン検出器は被測定電子線の動的収束調整を必要
としないため、第一、第二の実施例のスピン検出器と比
べ、取扱いが容易となる。
第6図は本発明によるスピン検出器の第四の実施例の基
本構成を示したものである。
本スピン検出器は第1図の偏積ベクトル回転器50代わ
りに、入射電子線2の軌道を検出器の中“心細から傾け
、その中心軸の周りに回転させる電子軌道回転器21、
磁化が一方向に揃った鉄単結晶ターゲット7の代わりに
、円周方向に磁化6か揃った環状アモルファス鉄合金タ
ーゲット22を有する。全検出器の中心軸にそって被測
定電子線2を入射し、その電子線照射位置が環状ターゲ
ット22上で回転する様、回転器21によって電子軌道
を回転させると、第一、第三の実施例と同様、ターゲッ
トによる吸収電流の交流会は正弦波的に変化する。第一
、第三の実施例と同様、ロックインアンプ10によって
、この交流会の位相差と振幅を検出し、電流計12で直
流分を検出することにより、偏極ベクトルの大きさと方
向が検出できる。このスピン検出器は軸対称性の高いタ
ーゲットを必要とするが、ターゲットに回転磁場を印加
する必要がないため、磁場発生器からの漏洩磁場による
、入射電子や散乱電子の不必要な軌道の曲がりをなくす
ことができる。
第7図は本発明によるスピン検出器の第五の実施例の基
本構成を示したものである。
本スピン検出器は第6図の偏極ベクトル回転器21の代
わりに電子軌道偏向器23.ターゲット22の代わりに
、4つの鉄単結晶ターゲット25゜26.27.28か
らなるターゲツト群29を有する。ここで、X+3’+
Z軸からなる直交座標系を考え、検出器の中心軸をZ軸
にとると、この時ターゲツト群29の4つの鉄単結晶タ
ーゲットM、、M、、M4が次式で表されるような配置
を持つものとする。
M、 =M (cos45°、    O、−5in4
5°)M、=M (0、−cos45°、  5jn4
5’ )M、=M (−cos45’ 、    O、
−5in45″′)M、=M (○ 、  cos45
°、  5in45’ )ここでMは磁化の大きさを表
す。
全検出器の中心軸にそって被測定電子線2を入射し、ま
ずその電子線照射位置が、ターゲット25と27との間
での−様な周期L1 で往復するように電子軌道を走査
する。次に、ターゲット26と28との間での−様な周
期L2 で往復するように電子軌道を走査する。さらに
、これらの走査を−様な周期も、で交互に行う。この電
子軌道の走査は発振器24がらの信号を走査器23に流
して行うものとする。このような走査を行う時、ターゲ
ツト群29による吸収電流は第8図に示すように周期的
に変化する。このうちターゲット25と27とによって
得られる吸収電流の交流信号の振幅1a、  と位相差
とを、発信器24からの周期t1 の信号を参照信号と
してロックインアンプ10によって検出し、電流計12
により直流分Idを検出することにより、偏極ベクトル
のX成分を検出できる。同様に、ターゲット26と28
とによって得られる吸収電流の交流信号の振幅ユa、 
 と位相差とを、発振器24からの周期し2の信号を参
照信号としてロックインアンプ10によって検出し、電
流計12により直流分1dを検出することにより、偏極
ベクトルのX成分を検出できる。さらに、ターゲット2
5と27とによって得られる吸収電流の平均値とターゲ
ット26と28とによって得られる吸収電流の平均値と
が周期的に変化するが、その交流信号の振幅1a、及び
位相差を、発振器24からの周期t、の信号を参照信号
としてロックインアンプ10によって検出し、電流計1
2により直流分Idを検出することにより、偏極ベクト
ルのX成分を検出できる。
第一、第二、第三、第四の実施例が偏極ベクトルの2成
分しか同時検出できないことに対しで、二のスピン検出
器においては偏極ベクトルの3成分の同時検出が可能で
ある。
この他、第三、第四、第五の実施例においては、第二の
実施例と同様ターゲットからの散乱電子を検出する方法
によって高精度の偏極ベクトル検出ができる。
本発明のスピン検出器ではターゲット表面が清浄である
ことが要求される。第9図はこの清浄化法の一例を示し
たものである。
イオン銃30からのイオンビーム31によってターゲッ
ト表面をスパッタすると共に、ターゲット背面に配置し
た加熱フィラメント32からの輻射熱によってターゲッ
トを加熱し、清浄表面を得る。
第10図は、さらに、本発明の他の実施例を示す。構造
的には第1図のスピン検出器と同一であるが、第1図の
スピン検出器が、電子線の偏極ベクトルを、−様な角速
度で回転させるのに対し、本実施例では偏極ベクトルを
90°すつステップ的に回転させる。この時ターゲット
7に吸収される電流iaは、第11図に示すようにステ
ップ的に変化する。この電流信号を、回転信号から得ら
れる位相が90°異なる2つの参照波信号sx。
sy(第11図)を用いてロックインアンプ10により
検波すると、偏極ベクトルの2つの成分Px、、Pyに
比例した信号、A x 、 A yが得られる。Ax、
Ayを用いて演算器33により△φ=t an−’ (
Ax/Ay)を計算すると、△φは入射電子線の偏極ベ
クトルとターゲットの磁化ベクトル゛のなす角となる。
また A x ” + A)′割算器13により、直流
電流計12が検出した電流Idで除すると、偏極ベクト
ルの大きさが求まる。
また、第三の実施例に手本法を適用し、ターゲットの磁
化ベクトルを90°ずっステップ的に回転させることに
よって、手本手法と同様に偏極ベクトルの方向と大きさ
を検出することができる。
この手法は、鉄単結晶(001)面のように、磁化容易
軸が四回対称の場合特に有効である。
[発明の効果] 以上詳述したように、本発明によれば、電子線の角度や
位置を合せるための高度な調整技術を用いることなく、
偏極ベクトルの大きさと方向を高感度で、しかも同時検
出でき、その学術的、工業的な価値は極めて高い。
【図面の簡単な説明】
第1図〜第11図は本発明によるスピン検出器の実施例
の基本構成図とその説明用曲線図である。 1・・・偏極ベクトル、2・・・被測定電子線、3・・
磁場発生コイル、4・・・静電レンズ、5・・・偏極ベ
クトル回転器、6・・・磁化ベクトル、7・・・磁性鉄
単結晶ターゲット、8・・・磁場発生器、9・・・回転
信号発信器、l○・・・ロックインアンプ、11・・・
電流増幅器、12・・・電流計、13・・・割算回路、
14・・・アノード、15・・・マイクロチャンネルプ
レート、16・・グリッド、17・・・MCPアセンブ
リ、18・・・散乱電子、19・・・アモルファス鉄合
金ターゲット、20・・・回転磁場発生器、21・・・
電子軌道回転器、22・・・環状アモルファス鉄合金タ
ーゲット、23・・・電子軌道偏向器、24・・・発振
器、25〜28・・・磁性鉄羊結晶ターケラト、29・
ターケラト群、30・イオン銃、3] ・イオンビーム
、32・・・フイラメン■ 1 図 第2図 不 3 図 ′¥; 5 図 v6図 K  ′7  図 第3図 ¥; q 図 ’Z/θ 国

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1、強磁性体ターゲットに吸収される電子線、もしくは
    該ターゲットによって散乱される電子線の電流値が、該
    ターゲットに入射する電子線のスピン状態に依存するこ
    とを利用したスピン検出器において、検出器の中心軸に
    そって入射した電子線の偏極ベクトル、もしくは電子線
    の軌道、もしくは該ターゲットの磁化ベクトルを該中心
    軸の周りで移動させる手段と、該ターゲットに吸収され
    る電子線、もしくは該ターゲットによって散乱される電
    子線の電流値の直流分の大きさと、交流分の大きさ、お
    よび該偏極ベクトル、もしくは該軌道、もしくは該磁化
    ベクトルの移動信号と該交流分との位相差を検出する手
    段と、該交流分の大きさを該直流分で除する手段とを有
    することを特徴とするスピン検出器。
JP2337079A 1990-11-30 1990-11-30 スピン検出器 Pending JPH04206427A (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2337079A JPH04206427A (ja) 1990-11-30 1990-11-30 スピン検出器
EP91120275A EP0490170B1 (en) 1990-11-30 1991-11-27 Spin detector
DE69116835T DE69116835T2 (de) 1990-11-30 1991-11-27 Spindetektor
US07/799,934 US5166522A (en) 1990-11-30 1991-11-29 Spin detector

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2337079A JPH04206427A (ja) 1990-11-30 1990-11-30 スピン検出器

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH04206427A true JPH04206427A (ja) 1992-07-28

Family

ID=18305240

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2337079A Pending JPH04206427A (ja) 1990-11-30 1990-11-30 スピン検出器

Country Status (4)

Country Link
US (1) US5166522A (ja)
EP (1) EP0490170B1 (ja)
JP (1) JPH04206427A (ja)
DE (1) DE69116835T2 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008269967A (ja) * 2007-04-20 2008-11-06 Apco:Kk 電子線スピン検出器
JP2014503797A (ja) * 2010-11-17 2014-02-13 スペックス サーフェス ナノ アナリシス ゲーエムベーハー 粒子線中において優勢なスピンベクトルのベクトル成分を測定するためのスピン検出器構成

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB9814775D0 (en) * 1998-07-09 1998-09-09 Council Cent Lab Res Councils Polarimeter
JP3383842B2 (ja) 2000-04-28 2003-03-10 北海道大学長 散乱ターゲット保持機構及び電子スピン分析器
JP3757263B2 (ja) 2000-05-02 2006-03-22 国立大学法人 北海道大学 電子スピン分析器
WO2011019457A1 (en) * 2009-08-11 2011-02-17 Regents Of The University Of California Time-of-flight electron energy analyzer
CN111175806B (zh) * 2020-01-08 2022-03-01 中国科学院近代物理研究所 一种束流散射靶装置和束流能散分析器

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2646394C2 (de) * 1976-10-14 1986-12-11 Kernforschungsanlage Jülich GmbH, 5170 Jülich Vorrichtung zur Bestimmung des Spinpolarisationsgrades eines Elektronenstrahls
JPS6017846A (ja) * 1983-07-08 1985-01-29 Hitachi Ltd 電子スピン偏極率検出器
JPS60177539A (ja) * 1984-02-24 1985-09-11 Hitachi Ltd 走査型電子顕微鏡
US4760254A (en) * 1985-06-07 1988-07-26 Pierce Daniel T Apparatus and method for electron spin polarization detection
JP2680018B2 (ja) * 1988-02-26 1997-11-19 株式会社日立製作所 スピン偏極度検出器

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008269967A (ja) * 2007-04-20 2008-11-06 Apco:Kk 電子線スピン検出器
JP2014503797A (ja) * 2010-11-17 2014-02-13 スペックス サーフェス ナノ アナリシス ゲーエムベーハー 粒子線中において優勢なスピンベクトルのベクトル成分を測定するためのスピン検出器構成
US9453893B2 (en) 2010-11-17 2016-09-27 Specs Surface Nano Analysis Gmbh Spin detector arrangement for measuring the vector component of a spin vector predominating in a particle beam

Also Published As

Publication number Publication date
EP0490170A3 (ja) 1994-02-23
US5166522A (en) 1992-11-24
EP0490170A2 (en) 1992-06-17
DE69116835T2 (de) 1996-06-20
EP0490170B1 (en) 1996-01-31
DE69116835D1 (de) 1996-03-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Leanhardt et al. Imprinting vortices in a Bose-Einstein condensate using topological phases
Durbin et al. Protein, DNA, and virus crystallography with a focused imaging proportional counter
Unwin et al. Two configurations of a channel-forming membrane protein
US6521887B1 (en) Time-of-flight ion mass spectrograph
JPH01276561A (ja) 飛行時間型/偏向二重収束型切換質量分析装置
JPH04206427A (ja) スピン検出器
US6436466B2 (en) Method for the operation of an electron beam
JPS62234859A (ja) 電子収集アッセンブリ
JPS60177539A (ja) 走査型電子顕微鏡
JPH02186227A (ja) 偏光計
CN113281688A (zh) 磁粒子成像设备和用于产生磁场的方法
US20240077549A1 (en) Optical measuring device and method for plasma magnetic field with adjustable sensitivity
RU2579186C2 (ru) Устройство детектирования спина для измерения компонент вектора спина, преобладающего в пучке частиц
Melosh Estimate of the Gravitational Radiation from NP 0532
JPS6017846A (ja) 電子スピン偏極率検出器
US5041712A (en) Method for the control of an evaporation process
JP2810077B2 (ja) 走査トンネル顕微鏡
JPH02162635A (ja) 電子管用の軌道補正装置
JPS6324536A (ja) イオン注入装置および方法
Schwink et al. Electron‐Optic Investigation of the Magnetic Stray Field above Bloch Walls in Cylindric Nickel Crystals
Crowley Magnetic field measurement techniques with heavy ion beam probes
Bai et al. Overcoming intrinsic spin resonance by using an AC dipole
Tan et al. Magnetic field mapping of the Belle solenoid
Miyazaki et al. Deflection errors due to sample potential in electron beam lithography machine
Saito et al. Sensing Aharonov--Bohm phase using a multiply-orbiting-ion interferometer