JPH02186227A - 偏光計 - Google Patents
偏光計Info
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- JPH02186227A JPH02186227A JP1230573A JP23057389A JPH02186227A JP H02186227 A JPH02186227 A JP H02186227A JP 1230573 A JP1230573 A JP 1230573A JP 23057389 A JP23057389 A JP 23057389A JP H02186227 A JPH02186227 A JP H02186227A
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- JP
- Japan
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- polarizer
- analyzer
- light beam
- detector
- polarimeter
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- Pending
Links
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- 230000033001 locomotion Effects 0.000 claims abstract description 22
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 16
- 230000010287 polarization Effects 0.000 claims description 15
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J4/00—Measuring polarisation of light
- G01J4/04—Polarimeters using electric detection means
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は備光計ないし光学活性試料の回転を測定するだ
めの手法に関するものである。
めの手法に関するものである。
一般的に、偏光分析は求められるべき物質の光学的活性
度を基にした化学分析の手法であり、すなわちその物質
の旋光度の測定が、物質の識別あるいは骨の決定のため
番で用いられるものである。備光計は、偏光が物質中を
通過する時の、平面偏光された光の偏光面の回転を決め
るために用いられる測定器である。西ドイツ特許出願公
告公報第115.9180号(これは本明細書において
参考文献として用いられている)においては、偏光子、
検光子および検光子の背t+で偏 配置された放射レジヘパ−を持つ備光計が開示でれてお
り、その中では光学的に活性な物質が偏 A光子と検光子との間に挿入され、そして偏光子はビー
ムイ伯に1関する回転撮動を生じさせる。
度を基にした化学分析の手法であり、すなわちその物質
の旋光度の測定が、物質の識別あるいは骨の決定のため
番で用いられるものである。備光計は、偏光が物質中を
通過する時の、平面偏光された光の偏光面の回転を決め
るために用いられる測定器である。西ドイツ特許出願公
告公報第115.9180号(これは本明細書において
参考文献として用いられている)においては、偏光子、
検光子および検光子の背t+で偏 配置された放射レジヘパ−を持つ備光計が開示でれてお
り、その中では光学的に活性な物質が偏 A光子と検光子との間に挿入され、そして偏光子はビー
ムイ伯に1関する回転撮動を生じさせる。
放射レシーバ−の出力信号は、偏光面が回転している時
に検光子のフォローアツプ回転をもたらす位相感応平衡
装置に供給される。従来技術による偏光計においては、
偏光子は円筒形の、直径方向に磁化された永久磁石に接
続されている。この永久磁石は、交流電圧によって励磁
される、四部を持つ円筒形の磁極表面によって囲まれて
いる。放射状のリーフスプリングが永久磁石と備光子と
を、その静止位置に留めておく。
に検光子のフォローアツプ回転をもたらす位相感応平衡
装置に供給される。従来技術による偏光計においては、
偏光子は円筒形の、直径方向に磁化された永久磁石に接
続されている。この永久磁石は、交流電圧によって励磁
される、四部を持つ円筒形の磁極表面によって囲まれて
いる。放射状のリーフスプリングが永久磁石と備光子と
を、その静止位置に留めておく。
従来技術による駆動装置においては、偏光子は、偏光子
、永久磁石、およびリーフスプリングによって形成され
る振動系の共撮点に近い主管周波数をもって正弦波的に
振動している。平衡のために、検光子は、測定される光
ビームの回転した偏光面に検光子が十文字となるよう、
検出器の信号に依存してサーボモーターによって回転さ
れる。。偏光子の振動はこれに従ってサーボモーターが
制御される撮動周波数を持つ交流信号と提供する。
、永久磁石、およびリーフスプリングによって形成され
る振動系の共撮点に近い主管周波数をもって正弦波的に
振動している。平衡のために、検光子は、測定される光
ビームの回転した偏光面に検光子が十文字となるよう、
検出器の信号に依存してサーボモーターによって回転さ
れる。。偏光子の振動はこれに従ってサーボモーターが
制御される撮動周波数を持つ交流信号と提供する。
極めて高精度(ミリ度)に、測定される光ビームの旋光
を測定することが要求されている。
を測定することが要求されている。
このため、検光子は測定される光ビームの偏光面に、大
きなステップダウン比を持って極めて高、感度に追従し
なくてはならない。他方、まったく大きな旋光、例えば
90’回転、が生じ得るものであり、この場合、比較的
妥当な時間内に、大きなステップダウン比を持つ検光子
がその平衡位置に回転してくることが求められる。
きなステップダウン比を持って極めて高、感度に追従し
なくてはならない。他方、まったく大きな旋光、例えば
90’回転、が生じ得るものであり、この場合、比較的
妥当な時間内に、大きなステップダウン比を持つ検光子
がその平衡位置に回転してくることが求められる。
こうして、短縮された11定時間内に、高精度の角度測
定を実現で糎る新しい、そして改善された偏光計を提供
することが本発明の目的である。
定を実現で糎る新しい、そして改善された偏光計を提供
することが本発明の目的である。
前述の、そしてそルに関連する目的は、測定用光ビーム
を発生する光源、測定用光ビームのビーム帽に関して回
転できるよう取り付けられ九個光子、偏光子の往復的な
回転連動のための駆!t!7機構、試料容器、試料容器
の背後の検光子、測定用光ビーム?感知する光電恢用器
、そして偏光子と検光子とを実質的に十文字VC位置さ
せるために光電検出器の信号によって制御される平i#
装置とを持つ偏光計において達せられる。
を発生する光源、測定用光ビームのビーム帽に関して回
転できるよう取り付けられ九個光子、偏光子の往復的な
回転連動のための駆!t!7機構、試料容器、試料容器
の背後の検光子、測定用光ビーム?感知する光電恢用器
、そして偏光子と検光子とを実質的に十文字VC位置さ
せるために光電検出器の信号によって制御される平i#
装置とを持つ偏光計において達せられる。
この平衡装置は、往復的を回転運動に重ね合わせられた
調節運動を有する偏光子を回転させるためのステッパー
モーターを有している。調節運動によって、検光子のゼ
ロ位置に関してのS定用光ビームの偏光子面の迅速な、
粗い平衡が達せられる。精密測定装置が、検光子のゼロ
位置における偏光面と粗く平衡した測定用光ビームのc
!ii光面との間の角度の精密測定のために設けられて
いる。
調節運動を有する偏光子を回転させるためのステッパー
モーターを有している。調節運動によって、検光子のゼ
ロ位置に関してのS定用光ビームの偏光子面の迅速な、
粗い平衡が達せられる。精密測定装置が、検光子のゼロ
位置における偏光面と粗く平衡した測定用光ビームのc
!ii光面との間の角度の精密測定のために設けられて
いる。
こうして、偏光子は偏光面の往復的回転運動を生じさせ
るのみならず、試料における旋光の測定が検光子におい
て有効となる、測定用光ビ偏光面に十文字となって配置
される立MtKまで、はとんど接近するような、粗い平
衡運動のためにも用いられる。これにより、偏光子は安
定した調節、、i!動と、この調節運動に爪ねられた往
復回転運動運r助との合成された運動を行う。そのよう
な組子#は比較的迅速に4成でき、そして角度の精密測
定は分離した精密測定装置eこよって実行される。
るのみならず、試料における旋光の測定が検光子におい
て有効となる、測定用光ビ偏光面に十文字となって配置
される立MtKまで、はとんど接近するような、粗い平
衡運動のためにも用いられる。これにより、偏光子は安
定した調節、、i!動と、この調節運動に爪ねられた往
復回転運動運r助との合成された運動を行う。そのよう
な組子#は比較的迅速に4成でき、そして角度の精密測
定は分離した精密測定装置eこよって実行される。
この精密測定装置は、組子衡漫に、右方向へのおよび左
方向への回転によって生じる交互信号を補間法で処理し
て正確な角度を測定することができる。さらに、この精
密測定)ま検光子が回転される晴密平衡によっても実施
できる。組子衡の後には、検光子は単に小さな角度を回
転すればよいので、この回転は望゛まれるステップダウ
ン比&Cもかかわらず、迅速に行うことができる。
方向への回転によって生じる交互信号を補間法で処理し
て正確な角度を測定することができる。さらに、この精
密測定)ま検光子が回転される晴密平衡によっても実施
できる。組子衡の後には、検光子は単に小さな角度を回
転すればよいので、この回転は望゛まれるステップダウ
ン比&Cもかかわらず、迅速に行うことができる。
本発明の特定の形態がl゛凶而描かnるよう選択された
り、また以下の説明が本発明のそれら形態を説明する目
的で特定の条件について行なわれるとしても、説明は特
許請求の範囲で規定される本発明の範囲を限定すること
を:火図し免4、0でitない。
り、また以下の説明が本発明のそれら形態を説明する目
的で特定の条件について行なわれるとしても、説明は特
許請求の範囲で規定される本発明の範囲を限定すること
を:火図し免4、0でitない。
第1図を参照すると、光源10から生じ、フィルター1
4、偏光子16、試料容器1Bおよび検光子20を通過
して、そして検出器22上1で投射される測定用光ビー
ム12が示されている。検出器22は光検出器の形状を
している。
4、偏光子16、試料容器1Bおよび検光子20を通過
して、そして検出器22上1で投射される測定用光ビー
ム12が示されている。検出器22は光検出器の形状を
している。
容器1dは光学回転を測定するための試料を収めている
。
。
偏光子16はステッパーモーター24によりして198
8年9月7日付で同一の出願人から出願された「イツ特
許第p58 30 698.1号の中で説明されている
型式と同様に説計されることが可能である。
8年9月7日付で同一の出願人から出願された「イツ特
許第p58 30 698.1号の中で説明されている
型式と同様に説計されることが可能である。
検出器22の信号はアナログーデイジメルコンバーター
26に供給される。このアナログ−ディジタルコンバー
ター26はコンピューター28または適当にプログラム
されたマイクログロセッサーに供給されるディジタル信
号を提供する。アナログ−ディジタルコンバータ〜は、
線30によって示されているように偏光子16の往復運
l助(後に説明される)と同期している。
26に供給される。このアナログ−ディジタルコンバー
ター26はコンピューター28または適当にプログラム
されたマイクログロセッサーに供給されるディジタル信
号を提供する。アナログ−ディジタルコンバータ〜は、
線30によって示されているように偏光子16の往復運
l助(後に説明される)と同期している。
表示装置32は試料を通過する測定用光ビームの偏光面
の旋光度に関するディジタル角度表示全提供する。
の旋光度に関するディジタル角度表示全提供する。
ステッパーモーター24は、偏光子16と検光子20と
を、実質的に十文字状動作方向に位置決めするために、
1部粗平衡装置として動作するコンピューター28によ
って制御されている。このステッパーモーター24は、
往復回転運動に重ねられた調節運動を持つよう偏光子を
回転させる。調節運動は、検光子のゼロ位置に関して測
定用光ビームの偏光面の、迅速な、組子衡を提供する。
を、実質的に十文字状動作方向に位置決めするために、
1部粗平衡装置として動作するコンピューター28によ
って制御されている。このステッパーモーター24は、
往復回転運動に重ねられた調節運動を持つよう偏光子を
回転させる。調節運動は、検光子のゼロ位置に関して測
定用光ビームの偏光面の、迅速な、組子衡を提供する。
次に4′I!密測定装置(後に説明される)が、そのゼ
ロ位置VCおける検光子の偏光面と粗く平衡された測定
用光ビームの偏光面との間の角度の梢密測定を実行する
。
ロ位置VCおける検光子の偏光面と粗く平衡された測定
用光ビームの偏光面との間の角度の梢密測定を実行する
。
さらに特定化すると、偏光計は以下のように動作する。
ステッパーモーター24は偏光子に、はとんど台形の波
形に従う、往復的な回転運動を与える。これは結果とし
て検出器22の信号を、第6図の第1の7顧で描かれて
いるグラフ34に近似の形状とさせる。この信号から、
自動増(扁、ft1J御のだめの直流゛這圧が得られる
。加えて、偏光子16が左へ、そして右へと回転する時
に、検出器22におけるビーム強度に従った、2橿の信
号が得られる。前述のアナログ−ディジタルコンバータ
ーの同期から得られたこれら2つの1g号から、平衡信
号がとり出される。この平衡1g号をてよって、ステッ
パーモーター24は付加的に、コンピュータ−28全通
して、これが偏光子16を平衡状轢に置くよう、制御さ
れる。これによって、偏光子は、偏光子16によって測
定される測定用光ビーム12の偏光面が試料の旋光に関
して回転され、実質的に検光子20の偏光面に垂直に配
置される位置にAWJされる。この結果は第6図の第2
の嶽で示されているように、検出器における信号36で
示されている。
形に従う、往復的な回転運動を与える。これは結果とし
て検出器22の信号を、第6図の第1の7顧で描かれて
いるグラフ34に近似の形状とさせる。この信号から、
自動増(扁、ft1J御のだめの直流゛這圧が得られる
。加えて、偏光子16が左へ、そして右へと回転する時
に、検出器22におけるビーム強度に従った、2橿の信
号が得られる。前述のアナログ−ディジタルコンバータ
ーの同期から得られたこれら2つの1g号から、平衡信
号がとり出される。この平衡1g号をてよって、ステッ
パーモーター24は付加的に、コンピュータ−28全通
して、これが偏光子16を平衡状轢に置くよう、制御さ
れる。これによって、偏光子は、偏光子16によって測
定される測定用光ビーム12の偏光面が試料の旋光に関
して回転され、実質的に検光子20の偏光面に垂直に配
置される位置にAWJされる。この結果は第6図の第2
の嶽で示されているように、検出器における信号36で
示されている。
第2図においては、「相平衡」が概略的に描かれている
。偏光子16は、検光子20に対する偏光子16の回転
の角度が実質的に試料の旋光をちょうど補償するように
調節される。偏光子16は4IJ3Bで示されているよ
うに、この位置に関して振動する。
。偏光子16は、検光子20に対する偏光子16の回転
の角度が実質的に試料の旋光をちょうど補償するように
調節される。偏光子16は4IJ3Bで示されているよ
うに、この位置に関して振動する。
精密測定装置はコンぎニーター28による電気的補間を
有しており、これによって主体角度の清音測定が、偏光
子16の右側への、および左側への回転が重ねられる時
に、検出器22において得られる信号の差から、行なわ
れる。平衡位置に近い位置において得られる信号36か
ら、検光子が十文字に配置される位置からの、偏光子1
6の変位に関して測定された@lIgUが得られ、角度
の精密測定が実行される。
有しており、これによって主体角度の清音測定が、偏光
子16の右側への、および左側への回転が重ねられる時
に、検出器22において得られる信号の差から、行なわ
れる。平衡位置に近い位置において得られる信号36か
ら、検光子が十文字に配置される位置からの、偏光子1
6の変位に関して測定された@lIgUが得られ、角度
の精密測定が実行される。
逆の構成が第1図ておいて破線で示されている。すなわ
ち、検光子20は付加的に、大きなステップダウン比を
持つステッパーモーター4りによって調節され、こうし
て検光子は極めて高程度の感度を有するように調節され
得る。
ち、検光子20は付加的に、大きなステップダウン比を
持つステッパーモーター4りによって調節され、こうし
て検光子は極めて高程度の感度を有するように調節され
得る。
偏光子16の相平衡の後、検光子20による精滑平【鮭
が実行される。こうして、信号36が用いられる。相平
衡の後には、検光子20における測定用光ビームの偏光
面間の角度は既に極めて小さなものとなっているので、
大きなステップダウン比にもかかわらず、精密平衡は極
めて迅速に実行できる。
が実行される。こうして、信号36が用いられる。相平
衡の後には、検光子20における測定用光ビームの偏光
面間の角度は既に極めて小さなものとなっているので、
大きなステップダウン比にもかかわらず、精密平衡は極
めて迅速に実行できる。
こうして、本発明の偏光計および方法は測定時間を削減
しながらも高精度の角度測定を可能としている。
しながらも高精度の角度測定を可能としている。
当業技術者にとっては明らかであるように、説明された
以上の種々の変形や改作による構令は、特許請求の範囲
に規定された本発明の精神や範囲から逸脱することなく
容易に可能である。
以上の種々の変形や改作による構令は、特許請求の範囲
に規定された本発明の精神や範囲から逸脱することなく
容易に可能である。
本発明により測定時間を短縮した高精度の偏光計が提供
できる。
できる。
第1図は偏光子による相平衡、その調節運動は往復運動
に重ねられたものである、を持つ本発明の偏光計の概略
図であり、 第2図は試料の旋光度の関数としての重ね、られた振動
運動を待つように偏光子が調節された角度を茂わす図で
あり、 第6図は偏光子が機能している時に現われる、検出器の
信号を表わす図である。 10・・・光源、12・・・光束、14・・・フィルタ
ー16・・・偏光子、18・・・容器、20・・・検光
子、22・・・検出器、24・・・モーター 26・・
・AD’&換!、2B・・・コンピューター 30・・
・線、32・・・表示器。 手 続 補 正 書 (方式) 事件の表示 平成 1 発明の名称 年 特許願 第 号 偏 光 計 補正をする者 平成 年 12月 26日(発送臼) 6゜ 補正の対象 月 c−一一一一一′
に重ねられたものである、を持つ本発明の偏光計の概略
図であり、 第2図は試料の旋光度の関数としての重ね、られた振動
運動を待つように偏光子が調節された角度を茂わす図で
あり、 第6図は偏光子が機能している時に現われる、検出器の
信号を表わす図である。 10・・・光源、12・・・光束、14・・・フィルタ
ー16・・・偏光子、18・・・容器、20・・・検光
子、22・・・検出器、24・・・モーター 26・・
・AD’&換!、2B・・・コンピューター 30・・
・線、32・・・表示器。 手 続 補 正 書 (方式) 事件の表示 平成 1 発明の名称 年 特許願 第 号 偏 光 計 補正をする者 平成 年 12月 26日(発送臼) 6゜ 補正の対象 月 c−一一一一一′
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、光学活性試料の回転を測定するため (a)測定用光ビーム(12)を生じる光源(10)と
、 (b)測定用光ビーム(12)の光束路に配置され、測
定用光ビーム(12)のビーム軸 に関して回転可能に取り付けられている偏 光子(16)と、 (c)偏光子(16)の往復的な回転運動を生じさせる
ことのできる駆動機構(24、28)と、 (d)その旋光が測定されるべき試料の収容のため、偏
光子(16)の背後で、測定用光 ビーム(12)の光束路に設けられた試料 容器(18)と、 (e)試料容器(18)の背後で、測定用光ビーム(1
2)の光束路に設けられた検光子 (20)と、 (f)検光路(20)の背後で、測定用光ビーム(12
)が供給される光電子検出器(22)と、そして (g)光電子検出器(22)の信号によつて制御され、
これによつて偏光子(16)と検 光子(20)が実質的に十文字ないし交差 状に配置される位置関係が達成される平衡 装置(24)とを含む備光計において、 (h)平衡装置が、往復的な回転運動(38)によつて
重畳された調節運動により偏光子 (16)を回転させるためのサーボモータ ー(24)を有し、当該調節運動によつて 検光子(20)のゼロ位置に関する、測定 用光ビーム(12)の備光面の急速な粗平 衡調節が行なわれるものであり、 (i)精密測定装置が、そのゼロ位置における検光子(
20)の偏光面と粗く平衡のとら れた測定用光ビーム(12)の偏光面との 間の角度の精密測定のために設けられてい る、 ことを特徴とする備光計。 2、サーボモーター(24)が、調節運動および重畳さ
れた回転運動とを生じさせるために、コンピューター(
28)により制御されるステップ−モーターであるよう
な、請求項 1記載の偏光計。 6、(a)検光子(20)が測定用光ビーム(12)に
関して固定された角度位置に配置され、そして(b)精
密測定装置が電気的補間装置を有しており、それによつ
て角度の精密測定が、偏光子(16)の右方向および左
方向回転の際に検出器(22)で得られる信号の差から
、実行されるような、請求項1ま たは2記載の偏光計。 4、精密測定装置がサーボモーター(40)を有し、そ
れによつて粗平衡調整の後に、そして検出器信号に従つ
て、検光子(20)が平衡位置に回転することができる
ような、 請求項1または2記載の備光計。 5、備光子(16)が、そのサーボモーター(24)に
よつて調節されるよりも、さらに小さなステップを有す
るステップモーターとして設計されたサーボモーター(
40)によつて検光子(20)が調節されるような、 請求項4記載の偏光計。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE3830310.8 | 1988-09-07 | ||
DE3830310A DE3830310A1 (de) | 1988-09-07 | 1988-09-07 | Polarimeter |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02186227A true JPH02186227A (ja) | 1990-07-20 |
Family
ID=6362400
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1230573A Pending JPH02186227A (ja) | 1988-09-07 | 1989-09-07 | 偏光計 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5005977A (ja) |
EP (1) | EP0358102A3 (ja) |
JP (1) | JPH02186227A (ja) |
AU (1) | AU619041B2 (ja) |
DE (1) | DE3830310A1 (ja) |
Families Citing this family (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FI89412C (fi) * | 1991-01-25 | 1993-09-27 | Korppi Tommola Jouko | Foerfarande och polarimeter foer maetning av vidning av polarisationsplanet i socker- eller annan loesning |
DE4219691A1 (de) * | 1992-06-16 | 1993-12-23 | Siemens Ag | Meßvorrichtung zur Bestimmung der Richtung der Polarisationsebene von linear polarisiertem Licht |
US5357342A (en) * | 1992-12-30 | 1994-10-18 | The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy | Process and apparatus for measuring degree of polarization and angle of major axis of polarized beam of light |
JPH0749303A (ja) * | 1993-04-01 | 1995-02-21 | High Yield Technol Inc | 粒子センサ及び粒子検出方法 |
DE19515267B4 (de) * | 1993-11-05 | 2006-11-30 | Lios Technology Gmbh | Verfahren und Anordnung für die Auswertung der Drehung der Polarisationsebene eines Meßwandlers |
US5519493A (en) * | 1994-03-30 | 1996-05-21 | Reiley; Daniel J. | Remote sample polarimeter |
US5627645A (en) * | 1994-09-30 | 1997-05-06 | New Oji Paper Co., Ltd. | Method of and apparatus for measuring retardation of composite layer |
DE19545018A1 (de) * | 1995-12-02 | 1997-06-05 | Marcel Kastler | Computergesteuertes Polarimeter zur Drehwinkelbeobachtung von Reaktionen unter konstanten Versuchsbedingungen |
DE19815932C2 (de) * | 1998-04-09 | 2000-06-21 | Glukomeditech Ag | Verfahren zur Miniaturisierung eines Polarimeters zur Analyse niedrig konzentrierter Komponenten im flüssigen Meßgut auf optischer Basis sowie Vorrichtung zu seiner Durchführung |
KR100336696B1 (ko) * | 1999-12-08 | 2002-05-13 | 고연완 | 편광 분석장치 및 편광 분석방법 |
US6717706B2 (en) * | 2000-08-31 | 2004-04-06 | Cambridge Research And Instrumentation, Inc. | State of polarization detector |
US6373614B1 (en) | 2000-08-31 | 2002-04-16 | Cambridge Research Instrumentation Inc. | High performance polarization controller and polarization sensor |
US6906800B2 (en) * | 2003-03-14 | 2005-06-14 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Air Force | Polarimeter using quantum well stacks separated by gratings |
DE102005020911A1 (de) * | 2005-05-04 | 2006-11-16 | Carl Zeiss Meditec Ag | Verfahren zur Messung der Änderung des Polarisationszustands von polarisierter optischer Strahlung durch eine optisch aktive Schicht eines Körpers und/oder einer Konzentration eines optisch aktiven Stoffs in der Schicht und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens |
US7557918B1 (en) | 2006-04-05 | 2009-07-07 | Itt Manufacturing Enterprises, Inc. | Spectral polarimetric image detection and analysis methods and apparatus |
CN100510700C (zh) * | 2006-12-30 | 2009-07-08 | 清华大学深圳研究生院 | 线偏振光成像方法及装置 |
TW201521306A (zh) * | 2013-11-28 | 2015-06-01 | U & U Engineering Inc | 雷射輸出能量控制裝置與其方法 |
CN108181095A (zh) * | 2017-12-29 | 2018-06-19 | 惠州市华星光电技术有限公司 | 偏光片光学参数的测量方法及测量装置 |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3113171A (en) * | 1957-04-24 | 1963-12-03 | Daystrom Inc | Method for polarimetric analysis |
US3041921A (en) * | 1958-11-17 | 1962-07-03 | Beckman Instruments Inc | Polarimeter apparatus |
DE1159180B (de) * | 1961-06-13 | 1963-12-12 | Bodenseewerk Perkin Elmer Co | Polarimeter |
DE6604638U (de) * | 1966-09-03 | 1970-02-05 | Bodenseewerk Perkin Elmer Co | Polarimeter |
JPS51129279A (en) * | 1975-05-02 | 1976-11-10 | Nippon Kogaku Kk <Nikon> | Polarizing analyzer |
GB1570067A (en) * | 1975-12-11 | 1980-06-25 | Optical Activity Ltd | Polarimeter |
DE2624717A1 (de) * | 1976-06-02 | 1977-12-15 | Nippon Kogaku Kk | Automatische polarisationsanalysier-vorrichtung |
EP0080540A1 (en) * | 1981-11-30 | 1983-06-08 | Leo Tumerman | Method and apparatus for measuring quantities which characterize the optical properties of substances |
US4467204A (en) * | 1982-02-25 | 1984-08-21 | American Crystal Sugar Company | Apparatus and method for measuring optically active materials |
-
1988
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