DE69031062T2 - Verfahren und Vorrichtung zur massenspektrometrischen Analyse - Google Patents

Verfahren und Vorrichtung zur massenspektrometrischen Analyse

Info

Publication number
DE69031062T2
DE69031062T2 DE69031062T DE69031062T DE69031062T2 DE 69031062 T2 DE69031062 T2 DE 69031062T2 DE 69031062 T DE69031062 T DE 69031062T DE 69031062 T DE69031062 T DE 69031062T DE 69031062 T2 DE69031062 T2 DE 69031062T2
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
mass spectrometric
spectrometric analysis
analysis
mass
spectrometric
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
DE69031062T
Other languages
English (en)
Other versions
DE69031062D1 (de
Inventor
Takehiko Kitamori
Masataka Koga
Tsuyoshi Nishitarumizu
Tetsuya Matsui
Kenji Yokose
Masaharu Sakagami
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Publication of DE69031062D1 publication Critical patent/DE69031062D1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE69031062T2 publication Critical patent/DE69031062T2/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/02Details
    • H01J49/10Ion sources; Ion guns
    • H01J49/16Ion sources; Ion guns using surface ionisation, e.g. field-, thermionic- or photo-emission
    • H01J49/161Ion sources; Ion guns using surface ionisation, e.g. field-, thermionic- or photo-emission using photoionisation, e.g. by laser
    • H01J49/164Laser desorption/ionisation, e.g. matrix-assisted laser desorption/ionisation [MALDI]

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Plasma & Fusion (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
  • Electron Tubes For Measurement (AREA)
DE69031062T 1989-09-20 1990-09-17 Verfahren und Vorrichtung zur massenspektrometrischen Analyse Expired - Fee Related DE69031062T2 (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1242195A JP2564404B2 (ja) 1989-09-20 1989-09-20 質量分析方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE69031062D1 DE69031062D1 (de) 1997-08-21
DE69031062T2 true DE69031062T2 (de) 1998-02-19

Family

ID=17085698

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE69031062T Expired - Fee Related DE69031062T2 (de) 1989-09-20 1990-09-17 Verfahren und Vorrichtung zur massenspektrometrischen Analyse

Country Status (5)

Country Link
US (1) US5164592A (de)
EP (1) EP0418785B1 (de)
JP (1) JP2564404B2 (de)
CA (1) CA2025991A1 (de)
DE (1) DE69031062T2 (de)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102016113771A1 (de) * 2016-07-26 2018-02-01 Bundesrepublik Deutschland, Vertreten Durch Den Bundesminister Für Wirtschaft Und Energie, Dieser Vertreten Durch Den Präsidenten Der Bundesanstalt Für Materialforschung Und -Prüfung (Bam) Analysevorrichtung für gasförmige Proben und Verfahren zum Nachweis von Analyten in einem Gas
DE102013203803B4 (de) 2012-03-08 2022-09-29 Kabushiki Kaisha Toshiba Ionenquelle, Schwerpartikelstrahl-Betrahlungsvorrichtung, Ionenstrahl-Antriebsverfahren und Schwerpartikelstrahlen-Bestrahlungsverfahren

Families Citing this family (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5650616A (en) * 1992-04-14 1997-07-22 Olympus Optical Co., Ltd. Apparatus and method for analyzing surface
US5631462A (en) * 1995-01-17 1997-05-20 Lucent Technologies Inc. Laser-assisted particle analysis
JP2953344B2 (ja) * 1995-04-28 1999-09-27 株式会社島津製作所 液体クロマトグラフ質量分析装置
US6849847B1 (en) 1998-06-12 2005-02-01 Agilent Technologies, Inc. Ambient pressure matrix-assisted laser desorption ionization (MALDI) apparatus and method of analysis
US6037586A (en) * 1998-06-18 2000-03-14 Universite Laval Apparatus and method for separating pulsed ions by mass as said pulsed ions are guided along a course
DE10002970B4 (de) * 2000-01-25 2004-09-16 Gkss-Forschungszentrum Geesthacht Gmbh Vorrichtung zur Analyse von in tröpfchenförmigen Flüssigkeitsproben enthaltenen Elementen
US7465920B2 (en) 2004-03-30 2008-12-16 University Of Yamanashi Ionization method and apparatus for mass analysis
JP2007303840A (ja) * 2006-05-08 2007-11-22 Tokyo Metropolitan Univ 液滴イオン化法、質量分析法及びそれらの装置
JP2009128070A (ja) * 2007-11-20 2009-06-11 Tokyo Metropolitan Univ 微小液滴生成方法及び微小液滴生成装置
JP2015138667A (ja) * 2014-01-22 2015-07-30 アルバック・ファイ株式会社 イオン源、イオン銃、分析装置
US9506871B1 (en) 2014-05-25 2016-11-29 Kla-Tencor Corporation Pulsed laser induced plasma light source
CN111199862B (zh) * 2018-11-20 2021-04-27 中国科学院大连化学物理研究所 一种毛细管微区电离源
US10652441B1 (en) * 2019-05-10 2020-05-12 The Boeing Company Systems and methods for protecting imaging devices against high-radiant-flux light
US11981977B2 (en) * 2020-01-06 2024-05-14 Institut National De La Recherche Scientifique Optical system and method for metallurgical extraction and refining
CN116990287B (zh) * 2023-08-14 2024-05-03 元素聚焦(青岛)科技有限公司 一种固体样品光谱-质谱成像系统及方法

Family Cites Families (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR1580234A (de) * 1968-05-15 1969-09-05
US3673405A (en) * 1971-01-14 1972-06-27 Bendix Corp Gas inlet system for a mass spectrometer
US3727047A (en) * 1971-07-22 1973-04-10 Avco Corp Time of flight mass spectrometer comprising a reflecting means which equalizes time of flight of ions having same mass to charge ratio
US3914655A (en) * 1973-06-28 1975-10-21 Ibm High brightness ion source
US3953732A (en) * 1973-09-28 1976-04-27 The University Of Rochester Dynamic mass spectrometer
JPS59942B2 (ja) * 1974-01-11 1984-01-09 株式会社日立製作所 ホウデンガタイオンゲンヨウデンゲン
DE2837715A1 (de) * 1978-08-30 1980-03-13 Leybold Heraeus Gmbh & Co Kg Verfahren zur analyse organischer substanzen
DE2942386C2 (de) * 1979-10-19 1984-01-12 Ulrich Dr. 8000 München Boesl Ionenquelle
JPS5717855A (en) * 1980-07-02 1982-01-29 Leybold Heraeus Gmbh & Co Kg Organic material analyzing method and apparatus
JPS5753653A (en) * 1980-09-17 1982-03-30 Jeol Ltd Liquid chromatography mass spectrometer
US4383171A (en) * 1980-11-17 1983-05-10 The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration Particle analyzing method and apparatus
JPS58157043A (ja) * 1982-03-15 1983-09-19 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> イオンビ−ム発生装置
US4634864A (en) * 1983-10-27 1987-01-06 Atom Sciences, Inc. Ultrasensitive method for measuring isotope abundance ratios
US4733073A (en) * 1983-12-23 1988-03-22 Sri International Method and apparatus for surface diagnostics
JPS6226757A (ja) * 1985-07-25 1987-02-04 Shimadzu Corp 誘導結合プラズマ質量分析装置
US4849628A (en) * 1987-05-29 1989-07-18 Martin Marietta Energy Systems, Inc. Atmospheric sampling glow discharge ionization source
GB2211020A (en) * 1987-10-10 1989-06-21 Wallach Eric Robert Microprobe mass analyser
US4818862A (en) * 1987-10-21 1989-04-04 Iowa State University Research Foundation, Inc. Characterization of compounds by time-of-flight measurement utilizing random fast ions
US4920264A (en) * 1989-01-17 1990-04-24 Sri International Method for preparing samples for mass analysis by desorption from a frozen solution
DE3904308A1 (de) * 1989-02-14 1990-08-16 Strahlen Umweltforsch Gmbh Verfahren zur einzelteilchen-zaehlung bei der flugzeit-massenspektrometrie

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102013203803B4 (de) 2012-03-08 2022-09-29 Kabushiki Kaisha Toshiba Ionenquelle, Schwerpartikelstrahl-Betrahlungsvorrichtung, Ionenstrahl-Antriebsverfahren und Schwerpartikelstrahlen-Bestrahlungsverfahren
DE102013203803B8 (de) 2012-03-08 2022-12-01 Kabushiki Kaisha Toshiba Ionenquelle, schwerpartikelstrahl-bestrahlungsvorrichtung, ionenstrahl-antriebsverfahren und schwerpartikelstrahlen-bestrahlungsverfahren
DE102016113771A1 (de) * 2016-07-26 2018-02-01 Bundesrepublik Deutschland, Vertreten Durch Den Bundesminister Für Wirtschaft Und Energie, Dieser Vertreten Durch Den Präsidenten Der Bundesanstalt Für Materialforschung Und -Prüfung (Bam) Analysevorrichtung für gasförmige Proben und Verfahren zum Nachweis von Analyten in einem Gas
DE102016113771B4 (de) * 2016-07-26 2019-11-07 Bundesrepublik Deutschland, Vertreten Durch Den Bundesminister Für Wirtschaft Und Energie, Dieser Vertreten Durch Den Präsidenten Der Bundesanstalt Für Materialforschung Und -Prüfung (Bam) Analysevorrichtung für gasförmige Proben und Verfahren zum Nachweis von Analyten in einem Gas
US10804092B2 (en) 2016-07-26 2020-10-13 Bundesrepublik Deutschland, Vertreten Durch Den Bundesminister Für Wirtschaft Und Energie Analysis device for gaseous samples and method for verification of analytes in a gas

Also Published As

Publication number Publication date
DE69031062D1 (de) 1997-08-21
JP2564404B2 (ja) 1996-12-18
US5164592A (en) 1992-11-17
EP0418785A3 (en) 1992-04-22
EP0418785B1 (de) 1997-07-16
EP0418785A2 (de) 1991-03-27
JPH03105841A (ja) 1991-05-02
CA2025991A1 (en) 1991-03-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE3382384D1 (de) Verfahren und vorrichtung zur quantitativen analyse.
DE69805756T2 (de) Verfahren und vorrichtung zur analyse
DE3855018D1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur automatischen Analyse von Proben
DE69732041D1 (de) Verfahren und vorrichtung zur analyse von bitströmen
DE69840330D1 (de) Verfahren und vorrichtung zur automatischen analyse
DE69719399D1 (de) Vorrichtung und Verfahren zur Analyse einer Probe
DE69115493D1 (de) Vorrichtung zur analyse
DE69018838T2 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Oberflächenanalyse.
DE69528950D1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Netzwerkanalyse
DE69023107T2 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Teilchenanalyse.
DE69622308D1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Massenspektrometrie mittels Ioneneinfang
DE69426642T2 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Analyse der Immunität mit Ramanspektrometrie
DE69711338D1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur automatischen Analyse von Probenlösungen
DE69637323D1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Analyse von Verbindungen in einer Lösung mittels Massenspektrometrie
DE69327615T2 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Partikelanalyse
DE69117411T2 (de) Vorrichtung zur Analyse von Proben
DE69527125D1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur DNS Analyse
DE69031062T2 (de) Verfahren und Vorrichtung zur massenspektrometrischen Analyse
DE69215735T2 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Analyse von Teilchen
DE3686067D1 (de) Verfahren und vorrichtung zur automatischen mikrobiologischen analyse.
DE69017029D1 (de) Verfahren und vorrichtung zur nichtzerstörenden prüfung.
DE69026541T2 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Analyse fester Proben
DE3882926D1 (de) Verfahren und vorrichtung zur emissions-spektralanalyse.
DE58909849D1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Quecksilberanalyse
DE69204872D1 (de) Verfahren und Einrichtung zur spektroskopischen Analyse.

Legal Events

Date Code Title Description
8364 No opposition during term of opposition
8339 Ceased/non-payment of the annual fee