DE69031062T2 - Verfahren und Vorrichtung zur massenspektrometrischen Analyse - Google Patents
Verfahren und Vorrichtung zur massenspektrometrischen AnalyseInfo
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Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1242195A JP2564404B2 (ja) | 1989-09-20 | 1989-09-20 | 質量分析方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE69031062D1 DE69031062D1 (de) | 1997-08-21 |
DE69031062T2 true DE69031062T2 (de) | 1998-02-19 |
Family
ID=17085698
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE69031062T Expired - Fee Related DE69031062T2 (de) | 1989-09-20 | 1990-09-17 | Verfahren und Vorrichtung zur massenspektrometrischen Analyse |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5164592A (de) |
EP (1) | EP0418785B1 (de) |
JP (1) | JP2564404B2 (de) |
CA (1) | CA2025991A1 (de) |
DE (1) | DE69031062T2 (de) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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DE102013203803B4 (de) | 2012-03-08 | 2022-09-29 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Ionenquelle, Schwerpartikelstrahl-Betrahlungsvorrichtung, Ionenstrahl-Antriebsverfahren und Schwerpartikelstrahlen-Bestrahlungsverfahren |
Families Citing this family (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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US5650616A (en) * | 1992-04-14 | 1997-07-22 | Olympus Optical Co., Ltd. | Apparatus and method for analyzing surface |
US5631462A (en) * | 1995-01-17 | 1997-05-20 | Lucent Technologies Inc. | Laser-assisted particle analysis |
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US6849847B1 (en) | 1998-06-12 | 2005-02-01 | Agilent Technologies, Inc. | Ambient pressure matrix-assisted laser desorption ionization (MALDI) apparatus and method of analysis |
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JP2009128070A (ja) * | 2007-11-20 | 2009-06-11 | Tokyo Metropolitan Univ | 微小液滴生成方法及び微小液滴生成装置 |
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US9506871B1 (en) | 2014-05-25 | 2016-11-29 | Kla-Tencor Corporation | Pulsed laser induced plasma light source |
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CN116990287B (zh) * | 2023-08-14 | 2024-05-03 | 元素聚焦(青岛)科技有限公司 | 一种固体样品光谱-质谱成像系统及方法 |
Family Cites Families (20)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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1990
- 1990-09-13 US US07/581,908 patent/US5164592A/en not_active Expired - Lifetime
- 1990-09-17 EP EP90117867A patent/EP0418785B1/de not_active Expired - Lifetime
- 1990-09-17 DE DE69031062T patent/DE69031062T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1990-09-20 CA CA002025991A patent/CA2025991A1/en not_active Abandoned
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US10804092B2 (en) | 2016-07-26 | 2020-10-13 | Bundesrepublik Deutschland, Vertreten Durch Den Bundesminister Für Wirtschaft Und Energie | Analysis device for gaseous samples and method for verification of analytes in a gas |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE69031062D1 (de) | 1997-08-21 |
JP2564404B2 (ja) | 1996-12-18 |
US5164592A (en) | 1992-11-17 |
EP0418785A3 (en) | 1992-04-22 |
EP0418785B1 (de) | 1997-07-16 |
EP0418785A2 (de) | 1991-03-27 |
JPH03105841A (ja) | 1991-05-02 |
CA2025991A1 (en) | 1991-03-21 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |