DE3882926D1 - Verfahren und vorrichtung zur emissions-spektralanalyse. - Google Patents

Verfahren und vorrichtung zur emissions-spektralanalyse.

Info

Publication number
DE3882926D1
DE3882926D1 DE8888119816T DE3882926T DE3882926D1 DE 3882926 D1 DE3882926 D1 DE 3882926D1 DE 8888119816 T DE8888119816 T DE 8888119816T DE 3882926 T DE3882926 T DE 3882926T DE 3882926 D1 DE3882926 D1 DE 3882926D1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
spectral analysis
emission spectral
emission
analysis
spectral
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
DE8888119816T
Other languages
English (en)
Other versions
DE3882926T2 (de
Inventor
Isao Fukui
Shuzo Hayashi
Takao Miyama
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shimadzu Corp
Original Assignee
Shimadzu Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shimadzu Corp filed Critical Shimadzu Corp
Publication of DE3882926D1 publication Critical patent/DE3882926D1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE3882926T2 publication Critical patent/DE3882926T2/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/62Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
    • G01N21/66Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light electrically excited, e.g. electroluminescence
    • G01N21/67Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light electrically excited, e.g. electroluminescence using electric arcs or discharges

Landscapes

  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
DE88119816T 1987-11-30 1988-11-28 Verfahren und Vorrichtung zur Emissions-Spektralanalyse. Expired - Fee Related DE3882926T2 (de)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP30398887 1987-11-30
JP63103167A JP2603998B2 (ja) 1987-11-30 1988-04-26 発光分光分析装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE3882926D1 true DE3882926D1 (de) 1993-09-09
DE3882926T2 DE3882926T2 (de) 1993-12-09

Family

ID=26443821

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE88119816T Expired - Fee Related DE3882926T2 (de) 1987-11-30 1988-11-28 Verfahren und Vorrichtung zur Emissions-Spektralanalyse.

Country Status (5)

Country Link
US (1) US4898466A (de)
EP (1) EP0318900B1 (de)
JP (1) JP2603998B2 (de)
CN (1) CN1014455B (de)
DE (1) DE3882926T2 (de)

Families Citing this family (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE69014398T2 (de) * 1989-04-29 1995-04-20 Fisons Plc Verfahren und Vorrichtung zur optischen Emissionsspektroskopie.
JPH0676967B2 (ja) * 1989-06-08 1994-09-28 株式会社島津製作所 発光分析装置
JP2522216B2 (ja) * 1991-02-28 1996-08-07 株式会社島津製作所 発光分光分析方法
DE19747088B4 (de) * 1997-10-25 2004-03-11 Agr Abfallentsorgungs-Gesellschaft Ruhrgebiet Mbh Verfahren zur Analyse von kompakten, elektrisch nichtleitenden Materialien
DE10208072B4 (de) * 2002-02-25 2004-11-18 FARU TEC Gesellschaft für Umwelttechnik mbH Verfahren und Vorrichtung zur qualitativen und quantitativen Analyse von in wässrigen Lösungen gelösten chemischen Elementen
CN100343656C (zh) * 2003-02-25 2007-10-17 鞍钢股份有限公司 在线检测钢中夹杂物个数和含量的光谱分析方法
CN100343657C (zh) * 2003-02-25 2007-10-17 鞍钢股份有限公司 在线检测钢中夹杂物粒径分布的光谱分析方法
CN100447556C (zh) * 2004-12-24 2008-12-31 北京有色金属研究总院 发射光谱分析稀有金属中碳、硫、磷的方法及新光源设备
JP4453599B2 (ja) * 2005-04-19 2010-04-21 株式会社島津製作所 発光分析装置
GB2466198B (en) * 2008-12-10 2011-03-30 Thermo Fisher Scient Apparatus and methods for optical emission spectroscopy
RU2487342C1 (ru) * 2012-01-12 2013-07-10 Открытое Акционерное Общество "Научно-Производственное Предприятие "Буревестник" Способ эмиссионного анализа элементного состава жидких сред
JP6647622B2 (ja) 2015-08-31 2020-02-14 株式会社Subaru 爆発性スパーク評価システム及び爆発性スパーク評価方法
CN109580413B (zh) * 2017-09-28 2021-04-23 宁海德宝立新材料有限公司 一种二元混合物的红外光谱分析方法及其应用
CN108709881A (zh) * 2018-08-14 2018-10-26 武汉钢铁有限公司 基于火花放电原子发射光谱分析硅钢中碳元素含量的方法
JP2023155629A (ja) * 2022-04-11 2023-10-23 Jfeスチール株式会社 金属材料中Sbの発光分光分析法、精錬中溶鋼のSb濃度測定方法および鋼素材の製造方法

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR1337846A (fr) * 1962-08-06 1963-09-20 Siderurgie Fse Inst Rech Procédé et dispositif d'émission et d'analyse spectrales
GB1066431A (en) * 1962-09-27 1967-04-26 Hilger & Watts Ltd Improvements in or relating to methods of and means for spectrochemical analysis
US3680959A (en) * 1963-02-25 1972-08-01 Fisher Scientific Co Spectrochemical analysis
JPS59182344A (ja) * 1983-03-31 1984-10-17 Shimadzu Corp 発光分光分析装置
JPS6047944A (ja) * 1983-08-26 1985-03-15 Shimadzu Corp 発光分析装置
US4641968A (en) * 1984-12-17 1987-02-10 Baird Corporation Mobile spectrometric apparatus
JPS61181947A (ja) * 1985-02-07 1986-08-14 Osaka Oxygen Ind Ltd 溶融金属のレ−ザ直接発光分光分析装置

Also Published As

Publication number Publication date
JPH01229942A (ja) 1989-09-13
EP0318900A3 (en) 1990-05-02
US4898466A (en) 1990-02-06
EP0318900A2 (de) 1989-06-07
CN1014455B (zh) 1991-10-23
JP2603998B2 (ja) 1997-04-23
EP0318900B1 (de) 1993-08-04
CN1033418A (zh) 1989-06-14
DE3882926T2 (de) 1993-12-09

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE3886745T2 (de) Verfahren und vorrichtung zur intrauterinen befruchtung.
DE3887644T2 (de) Vorrichtung und Verfahren zur Identifizierung von Gerüchen.
DE3382384D1 (de) Verfahren und vorrichtung zur quantitativen analyse.
DE3877415D1 (de) Verfahren und vorrichtung zur farbidentifizierung.
DE3781654D1 (de) Verfahren und vorrichtung zur ketonmessung.
DE3883592D1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Induktionsmessung.
DE3683958D1 (de) Verfahren und vorrichtung zur guetepruefung von masken.
DE3851286D1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Rekonstruktion von fehlenden Farbabtastwerten.
DE68918971D1 (de) Vorrichtung und Verfahren zur persönlichen Identifizierung.
DE3877773D1 (de) Vorrichtung und verfahren zur impfung von fischen.
DE69018838D1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Oberflächenanalyse.
DE69023107T2 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Teilchenanalyse.
DE68924563D1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Oberflächenanalyse.
DE69009109D1 (de) Vorrichtung und Verfahren zur Lichtmessung.
DE3861354D1 (de) Vorrichtung und verfahren zur trennung von gasen.
DE3863895D1 (de) Verfahren und vorrichtung zur erzielung von seismischen messwerten.
DE58904662D1 (de) Verfahren und vorrichtung zur glanzmessung.
DE3882926D1 (de) Verfahren und vorrichtung zur emissions-spektralanalyse.
DE3686067T2 (de) Verfahren und vorrichtung zur automatischen mikrobiologischen analyse.
DE3869325D1 (de) Verfahren und vorrichtung zur pruefung von lichtwellenleiter-knotenpunkten.
DE300900T1 (de) Verfahren und vorrichtung zur gaerung und verwendung.
DE69030785D1 (de) Vorrichtung zur spektrochemischen Emissionsanalyse
DE58909849D1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Quecksilberanalyse
DE69021546D1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Photodetektion.
DE69021544D1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Photodetektion.

Legal Events

Date Code Title Description
8364 No opposition during term of opposition
8339 Ceased/non-payment of the annual fee