DE68923980T2 - Substrat zum Herstellen einer Dickschichtschaltung. - Google Patents

Substrat zum Herstellen einer Dickschichtschaltung.

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Description

  • Die Erfindung betrifft ein Substrat und insbesondere ein Substrat, das für die Herstellung van Dickschicht-Schaltungen mit hoher Integrationsdichte geeignet ist.
  • Bei der Herstellung von Dickschichtschaltungen, wie zum Beispiel integrierter Hybridschaltungen, wird eine Vielzahl von isolierenden Substraten verwendet, wobei für die Herstellung der isolierenden Substrate verschiedene Materialien zur Verfügung stehen. Bin typisches Beispiel eines solchen Materials ist Aluminiumoxid, das etwa 4 Gewichts-% von verschiedenen anderen Substanzen enthält, wobei diese anderen Substanzen Siliziumoxid, Magnesiumoxid und Kalziumoxid sind. Das Aluminiumoxidsubstrat ist bezüglich der dielektrischen, thermischen und mechanischen Eigenschaften einem Substrat aus Kunstharz überlegen, und aus diesem Grund werden Aluminiumsubstrate in verschiedenster Form gestaltet und in breitem Umfang von den Schaltkreisherstellern verwendet.
  • Hinsichtlich der Wärmeabstrahlfähigkeit birgt das Substrat aus Aluminiumoxid nach dem Stand der Technologie jedoch ein Problem. Es handelt sich hierbei um die Tatsache, daß Aluminiumoxid keine sehr große Wärmeleitfähigkeit besitzt. Darüberhinaus steigt bei der Realisierung immer komplexerer Schaltungsfunktionen die Integrationsdichte der Dickschichtschaltung. Je gr6ßer die Integrationsdichte der Schaltung ist, um so mehr Wärme wird erzeugt. Das Problem wird dadurch immer gravierender.
  • Es ist deshalb eine wichtige Aufgabe der vorliegenden Erfindung, ein Substrat für eine Dickschichtschaltung zu schaffen, welches eine bessere Wärmeabstrahlfähigkeit aufweist.
  • Es ist weiterhin eine wichtige Aufgabe der vorliegenden Erfindung, ein Substrat für eine Dickschichtschaltung zu schaffen, welches die Verwendung des Siebdruckverfahrens gestattet ohne Beeinträchtigung der Wärmeabstrahlfähigkeit.
  • Um diese Aufgaben zu erfüllen, schlägt die vorliegende Erfindung vor, eine Unterlage aus Aluminiumnitrid mit einer Siliziumatome enthaltenden Oberflächenschicht zu überziehen.
  • Entsprechend der vorliegenden Erf indung wird ein Substrat bereitgestellt, welches sich dafür eignet, darauf eine Dickschichtschaltung mit einem Dickschichtmuster herzustellen, einschließlich eines Leiterstreifens aus einer Paste, welche Fritte enthält, wobei das Substrat aufweist:
  • a) eine Unterlage aus Aluminiumnitrid mit einer Hauptfläche; und
  • b) eine Schicht aus Aluminiumoxid, die sich auf der Hauptfläche der Unterlage befindet, gekennzeichnet durch
  • c) eine auf der Schicht gebildete Oberflächenschicht aus Siliziumoxid mit einer Dicke im Bereich von 0,01 um bis 5,0 um, wobei die Schicht aus Aluminiumoxid eine Zwischenschicht zwischen der Unterlage und der Oberflächenschicht darstellt, und wobei die Oberflächenschicht dafür geeignet ist, darauf eine Dickschichtschaltung herzustellen.
  • Bei einer anderen Ausführung ist zwischen der Unterlage und der Oberflächenschicht eine Zwischenschicht zur Vebesserung der Haftfestigkeit eingebettet, wobei das Material der Zwischenschicht eine geringere Reaktionsfähigkeit mit den Fritten aufweist als das Aluminiumnitrid.
  • Das EP-A-0 153 737 beschreibt ein Substrat mit einer Zweiebenenstruktur, bestehend aus einer Aluminiumnitridschicht mit einer Oxidschicht auf ihrer Oberfläche. Weiterhin wird auf der Schicht aus Aluminiumoxid eine Glasschicht erzeugt, wobei die Glasschicht aus PbO-SiO&sub2;-B&sub2;O&sub3;&sub1; BaO-SiO&sub2;-B&sub2;O&sub3; oder einem ähnlichen Glassystem besteht. Beim Einsatz als mehrschichtiges Substrat wird auf dieser Glasschicht eine Dickschichtschaltung erzeugt. Diese Konfiguration verbessert die Wärmeabstrahlfähigkeit.
  • Die Merkmale und Vorteile eines Substrates entsprechend der vorliegenden Erfindung soll die folgende Beschreibung verdeutlichen, die an Hand der beiliegenden Zeichnungen erfolgt, von denen:
  • Fig. 1 die Schnittansicht der Struktur eines Substrates zeigt, bei dem die vorliegende Erfindung ansetzt;
  • Fig. 2 eine perspektivische Ansicht darstellt, die das Verfahren zum Messen der Ablösefestigkeit zeigt; und
  • Fig. 3 die Schnittansicht der Struktur eines weiteren Substrates zeigt, das die vorliegende Erfindung verkörpert.
  • Erstes Ausführungsbeispiel
  • Zunächst wird in Fig. 1 der Zeichnungen der Aufbau eines Substrates in einer Mehrebenenstruktur gezeigt. Das in Fig. 1 dargestellte Substrat entält eine Unterlage 1 aus Aluminiumnitrid, das durch die chemische Formel AlN gegeben ist, und eine Oberflächenschicht 2 aus Siliziumoxid, das durch die Strukturformel SiO&sub2; gegeben ist.
  • Aluminiumoxid mit der chemischen Formel Al&sub2;O&sub3; besitzt eine Wärmeleitfähigkeit von etwa 0,218 J/sec cm Grad (0,052 cal/sec cm Grad), und die Wärmeleitfähigkeit von Aluminiumnitrid beträgt etwa 2,6 J/sec cm Grad (0,62 cal/sec cm Grad). Das Substrat wird also durch die Verwendung von Aluminiumnitrid hinsichtlich der Wärmeabstrahlfähigkeit verbessert. Durch das Aluminiumnitrid entstehen jedoch im Ergebnis der Reaktion mit einigen Substanzen, die in der bei der Siebdrucktechnologie verwendeten Paste enthalten sind, schäumende Gase, und aus diesem Grund läßt sich ein nur aus Aluminiumnitrid bestehendes Substrat kaum für die Herstellung einer Dickschichtschaltung verwenden. Genauer gesagt, die meisten Pasten enhalten Fritten wie zum Beispiel Bleioxid oder Wismutoxid, und diese Fritten reagieren mit dem Aluminiumnitrid. Als Folge davon können schäumende Gase entstehen, die bewirken, daß sich in der Grenzschicht zwischen dem Aluminiumnitrid und dem gesinterten Produkt nach dem Absaugen der schäumenden Gase Hohlräume bilden. Durch die schäumenden Gase wird die Kontaktfläche zwischen den Schichten verringert, so daß sich das durch Sintern der aufgedruckten Schicht erzeugte Dickschichtmuster von dem Aluminiumsubstrat ablösen kann. Zur Verbesserung der Ablösefestigkeit wird das Substrat entsprechend diesem Ausführungsbeispiel mit einer Oberflächenschicht 2 aus Siliziumoxid versehen, welche die Unterlage 1 bedeckt. Die Oberflächenschicht 2 wird mit Hilfe einer physikalischen oder chemischen Abscheidetechnologie in einer Dicke im Bereich von etwa 0,1 Mikron bis etwa 20 Mikron aufgebracht. Zum Aufbringen der Oberflächenschicht eignet sich beispielsweise eine Sputtertechnologie, es kann aber auch ein Sol-Gel-Verfahren oder eine photogestützte chemische Abscheidung aus der Dampfphase (CVD) verwendet werden. Das Siliziumoxid reagiert mit den Fritten ohne Bildung von schäumenden Gasen und überträgt folglich Siliziumatome in die Paste. Diese Siliziumatome fördern die Haftfestigkeit zwischen dem Aluminiumnitrid und der Paste. Einer der Gründe, warum die Haftfestigkeit verbessert wird, ist in der Erhöhung der Viskosität der Fritten zu vermuten.
  • Nachfolgend werden verschiedene Herstellungsverfahren für ein Substrat entsprechend der vorliegenden Erfindung beschrieben.
  • Das erste Verfahren beginnt mit der Vorbereitung eines Aluminiumnitridpulvers, dessen Partikel einen mittleren Durchmesser von etwa 1 Mikron besitzen. Das Aluminiumnitridpulver wird mit einem organischen Binder gemischt, um eine Paste herzustellen, und die Paste wird zu einem flachen Rohling geformt. Der flache Rohling wird in eine Stickstoffumgebung unter atmosphärischem Druck gebracht. Zum Sintern wird der flache Roming auf etwa 1800 Grad Celsius erwärmt und 120 Minuten lang in der Stickstoffatmosphäre bei der hohen Temperatur gehalten. Die auf diese Weise durch Sintern hergestellte Keramikscheibe mißt etwa 25,4 mm x 25,4 mm, ist etwa 2 mm dick und dient als Unterlage 1 des Substrates. Die Keramikscheibe wird dann in einem HF-Diodensputtersystem angeordnet, bei dem ein Quarztarget mit einer Reinheit von 99,9% verwendet wird. Das Target besitzt einen Durchmesser von etwa 100 mm und eine Dicke von etwa 10 mm. Die Keramikscheibe wird mit einer Drehzahl von etwa 10 U/min angetrieben und das Sputtern erfolgt bei einer Leistung von etwa 100 Watt. Unter Verwendung der Sputtertechnologie werden einige Proben hergestellt, und durch geeignete Wahl der Sputterzeit wird die Dicke der Oberflächenschicht 2 bei den Proben verändert. Zu Vergleichszwecken wird eine der Keramikscheiben nicht mit einer Oberflächenschicht versehen.
  • An jeder Probe werden die Wärmeleitfähigkeit und die Ablösefestigkeit gemessen, wie in Tabelle 1 gezeigt wird. Die Wärmeleitfähigkeit wird mit Hilfe eines Laserblitzverfahrens bestimmt. Zur Abschätzung der Haftfestigkeit wird die Ablösefestigkeit gemessen. Zum Messen der Ablösefestigkeit wird mittels Siebdruck auf jede der Proben, einschließlich der Keramikscheibe ohne Oberflächenschicht, eine leitende Paste aus eine Silber-Palladium-Legierung aufgetragen, wobei die aufgedruckte Pastenleitbahn Fritten enthält, wie zum Beispiel Bleioxid (PbO) und Wismutoxid (Bi&sub2;O&sub3;).
  • Nach einer Trocknungstufe wird die Probe mit der aufgedruckten Pastenleitbahn etwa 10 Minuten lang zum Sintern in eine Umgebung mit hoher Temperatur von etwa 850 Grad Celsius gebracht, und dann wird auf der Probe ein leitender Streifen 3 hergestellt. Der leitende Streifen 3 hat die Form eines Quadrates von etwa 2 mm x 2 mm. Ein nichtoxidierter Kupferdraht 4 wird vorbereitet und bei etwa 215 Grad Celsius auf den leitenden Streifen gelötet. Der Kupferdraht 4 hat einen Durchmesser von etwa 0,9 mm, und zum Löten wird eine eutektische Legierung 5 aus Zinn und Blei verwendet. Der auf diese Weise angelötete Kupferdraht 4 wird in der durch den Pfeil T bezeichneten Richtung einer Zugkraft unterworfen. Die Zugkraf t wird solange erhöht, bis der leitende Streifen 3 gerade beginnt, sich abzulösen, und die Ablösefestigkeit ergibt sich dann aus der Division der maximalen Ablösekraft durch die Einheitsfläche von 4 mm².
  • Das zweite Herstellungsverfahren gleicht bezüglich der Herstellung der Keramikscheibe dem ersten Herstellungsverfahren, die Oberflächenschicht wird jedoch mittels Sol-Gel- Technologie aufgebracht. Nach der Herstellung der Keramikscheibe werden also etwa 347 Gramm Ethylsilikat, etwa 500 Gramm Ethylalkohol und etwa 190,2 Gramm 0,3%-ige Salzsäure zur Herstellung einer Lösung miteinander gemischt, und die Lösung wird bei etwa 500 U/min auf die Keramikscheibe aufgeschleudert. Die Keramikscheibe mit der benetzten Oberfläche wird etwa 10 Minuten lang in eine Umgebung hoher Temperatur von etwa 900 Grad Celsius gebracht, so daß die Lösung kalziniert. Auf der Keramikscheibe bildet sich dadurch eine dünne Siliziumoxidschicht, und durch eine bestimmte Anzahl von Wiederholungen der Schleuderbeschichtung und Kalzinierung wird die Dicke der Oberflächenschicht 2 eingestellt. Auf diese Weise werden einige Proben, die sich hinsichtlich der Dicke der Oberflächenschicht voneinander unterscheiden, hergestellt. An diesen Proben wird ebenfalls die Wärmeleitfähigkeit und die Ablösefestigkeit gemessen, wie in Tabelle 1 gezeigt wird.
  • Das dritte Herstellungsverfahren ist durch die Anwendung der photogestützten chemischen Abscheidung aus der Dampfphase gekennzeichnet. Nach der Herstellung der Keramikscheibe in gleicher Weise wie beim ersten Herstellungsverfahren wird die Keramikscheibe in eine Reaktionskammer gebracht. In der Reaktionskammer wird eine Umgebung mit niedrigem Druck von etwa 27 Pa (0,2 Torr) erzeugt, und zur Photobelichtung wird eine Quecksilberlampe verwendet. Die Keramikscheibe wird auf etwa 150 Grad Celsius erwärmt, und zum Abscheiden von Siliziumoxid wird ein Gasgemisch aus Si- lan und Sauerstoff in die Reaktionskammer eingeleitet. Im vorliegenden Fall beträgt das Mol-Verhältnis von Silan zu Sauerstoff etwa 0,015. In Übereinstimmumng mit dem dritten Verfahren werden einige Proben hergestellt, die sich durch Steuerung der Zeit in der Reaktionskammer hinsichtlich der Dicke der Oberflächenschicht unterscheiden. Auch an diesen Proben werden die Wärmeleitfähigkeit und die Ablösefestigkeit gemessen, wie in Tabelle 1 gezeigt wird.
  • Zu Vergleichszwecken wird mit dem folgenden Verfahren ein Substrat aus Aluminiumoxid nach dem Stand der Technik hergestellt. Zuerst wird ein Aluminiumoxidpulver aufbereitet. Das Aluminiumoxidpulver besitzt eine Reinheit von 96 % und einen mittleren Durchmesser von etwa 2 Mikron. Das Aluminiumoxidpulver wird mit einem organischen Binder gemischt, um eine Paste herzustellen. Die Paste wird zu einer Scheibe geformt und dann etwa 120 Minuten lang in atmosphärischer Umgebung bei etwa 1600 Grad Celsius gesintert. Bezüglich der Abmessungen gleicht die Probe nach dem Stand der Technik den mit dem oben genannten Verfahren hergestellten Proben. Tabelle 1 Probe Oberflächenschicht Verfahren Dicke (um) Wärmeleitfähigkeit (cal/sec cm Grad) Ablösefestigkeit (kg/4mm²) Photo-CVD SOL/GEL Sputtern Keramikscheibe AlN Probe nach dem Stand der Technik
  • Wie aus Tabelle 2 erkennbar ist, übertrifft das Substrat entsprechend den Proben hinsichtlich der Wärmeleitfähigkeit das Substrat nach dem Stand der Technik, ohne dabei auf die Ablösefestigkeit zu verzichten. Wenn die Oberflächenschicht 2 dünner als ca. 0,1 Mikron ist, hält die Dickschicht infolge der geringen Ablösefestigkeit nicht zuverlässig. Die Verringerung der Ablösefestigkeit wird durch Eindringen von geschmolzenen Fritten in das Aluminiumnitrid und die an der Grenzschicht zwischen dem Aluminiumnitrid und der leitenden Bahn erzeugten schäumenden Gase verursacht. Wird die Oberflächenschicht 2 andererseits in einer Dicke von mehr als 20 Mikron aufgetragen, dann wird die Wärmeleitfähigeit zu gering, um damit eine Dickschichtschaltung mit einer hohen Integrationsdichte herzustellen. Das liegt daran, daß das Siliziumoxid eine Wärmeleitfähigkeit von etwa 0,0155 J/sec cm Grad (0,0037 cal/sec cm Grad) besitzt.
  • Zweites Ausführungsbeispiel
  • Das zweite Ausführungsbeispiel des Substrates besitzt wie das in Fig. 1 gezeigte Substrat eine Zweiebenenstruktur, d.h. eine Unterlage, die mit einer Oberflächenschicht bedeckt ist. Die Unterlage besteht ebenfalls aus Aluminiumnitrid, die Oberflächenschicht besteht jedoch aus einer Sauerstoffverbindung, die Aluminiumatome und Siliziumatome enthält. Ein typisches Beispiel einer derartigen Sauerstoffverbindung wird durch die Strukturformel 3al&sub2;O&sub3; 2SiO&sub2; dargestellt.
  • Im Folgenden werden verschiedene Herstellungsverfahren für das Substrat beschrieben.
  • Das erste Herstellungsverfahren beginnt mit der Aufbereitung von Aluminiumnitridpulver, dessen Partikel einen mittleren Durchmesser von etwa 1 Mikron besitzen. Das Aluminiumnitridpulver wird mit einem organischen Binder gemischt, um eine Paste herzustellen, und die Paste wird zu einem flachen Rohling geformt. Der flache Rohling wird in Stickstoff unter atmosphärischem Druck angeordnet. Der flache Rohling wird zum Sintern auf etwa 1800 Grad Celsius erwärmt und verbleibt etwa 120 Minuten bei der hohen Temperatur im Stickstoff. Die auf diese Weise durch Sintern erzeugte Keramikscheibe hat die Form eines Quadrates von etwa 25,4 mm × 25,4 mm und besitzt eine Dicke von etwa 3 mm. Die Keramikscheibe wird dann in ein HF-Diodensputtersystem eingebracht, das mit einem Target arbeitet, dessen stoffliche Zusammensetzung durch die Strukturformel 3Al&sub2;O&sub3;-2SiO&sub2; gegeben ist. Das Target besitzt einen Durchmesser von etwa 100 mm und eine Dicke von etwa 10 mm. Die Keramikscheibe wird mit etwa 10 U/min angetrieben, und das Sputtern erfolgt mit einer Leistung von etwa 100 Watt. Auf diese Weise werden mit Hilfe der Sputtertechnologie einige Proben hergestellt, wobei die Oberflächenschichten der Proben durch geeignete Wahl der Sputterzeit unterschiedliche Dicken aufweisen. Zu Vergleichszwecken erhält eine der Keramikscheiben keine Oberflächenschicht. An jeder Probe werden die Wärmeleitfähigkeit und die Ablösefestigkeit gemessen, wie in Tabelle 2 gezeigt wird.
  • Das zweite Herstellungsverfahren gleicht hinsichtlich der Herstellung der Keramikscheibe dem ersten Herstellungsverfahren, die Oberflächenschicht wird jedoch mit Hilfe der SOL/GEL-Technologie aufgebracht. Nach der Herstellung der Keramikscheibe werden dazu etwa 347 Gramm Ethylsilikat, etwa 560 Gramm Aluminiumethyl-Azetazetat-Diisopropylat, etwa 500 Gramm Ethylalkohol und etwa 190 Gramm einer 0,3 %igen Salzsäure gemischt, um eine Lösung zu bereiten, die mit etwa 500 U/min auf die Keramikscheibe aufgeschleudert wird. Die Keramikscheibe mit der benetzten Oberfläche wird etwa 10 Minuten lang bei einer hohen Umgebungstemperatur von etwa 850 Grad Celsius kalziniert. Dadurch bildet sich auf der Keramikscheibe eine dünne Schicht aus der Sauerstoffverbindung, wobei Schleuderbeschichtung und Kalzinieren mehrmals wiederholt werden, um die Dicke der Oberflächenschicht einzustellen. So werden einige Proben mit unterschiedlicher Dicke der Oberflächenschicht hergestellt. An diesen Proben werden ebenfalls die Wärmeleitfähigkeit und die Ablösefestigkeit gemessen, wie in Tabelle 2 gezeigt wird. Tabelle 2 Probe Oberflächenschicht fähigkeit Verfahren festigkeit Dicke (um) Wärmeleit (cal/sic cm Grad) Ablöse (kg/4mm²) Sputtern Keramikscheibe AlN Probe nach dem Stand der Technik Al&sub2;O&sub3;
  • Wie aus Tabelle 2 deutlich wird, übertrifft das Substrat entsprechend den Proben das Substrat nach dem Stand der Technnik hinsichtlich der Wärmeleitfähigkeit, ohne daß auf die Ablösefestigkeit verzichtet wird. Von diesen Proben hat das Substrat mit der Oberflächenschicht von weniger als 0,1 Mikron eine geringe Schichtdicke, um darauf zu vertrauen. Andererseits ist bei einer Dicke der Oberflächenschicht von mehr als 20 Mikron die Wärmeleitfähigeit nicht so verbessert, daß man damit eine Dickschichtschaltung mit einer hohen Integrationsdichte herstellen kann. Die weitere Verbesserung des Substrates des zweiten Ausführungsbeispiels hinsichtlich der Wärmeleitfähigkeit beruht darauf, daß die Oberflächenschicht aus einer Sauerstoffverbindung besteht, die weniger Siliziumoxid enthält als die des ersten Ausführungsbeispiels.
  • Drittes Ausführungsbeispiel (Erfindung)
  • Wenden wir uns Fig. 3 der Zeichnungen zu, in der die Dreiebenenstruktur eines Substrates entsprechend der Erfindung dargestellt ist. Die Dreiebenenstruktur besteht aus einer Unterlage 6 aus Aluminiumnitrid, einer Zwischenschicht 7 aus Aluminiumoxid mit der Strukturformel Al&sub2;O&sub3;, und einer Oberflächenschicht 8 aus Siliziumoxid, das durch die Strukturformel SiO&sub2; gegeben ist. Die Zwischenschicht 7 hat den Zweck, Reaktionen der Unterlage mit den Fritten, die in der bei der Siebdrucktechnologie verwendeten Paste enthalten sind, zu verhindern. Es handelt sich hierbei um den Umstand, daß Aluminiumoxid mit den Fritten, wie zum Beispiel Bleioxid und Wismutoxid, weniger reagiert als das Aluminiumnitrid.
  • Die Dicke der Zwischenschicht 7 liegt zwischen etwa 0,09 Mikron und etwa 19,3 Mikron, und die Dicke der Oberflächenschicht liegt zwischen etwa 0.01 Mikron und etwa 5,0 Mikron. Ist die Zwischenschicht 7 dünner als 0,09 Mikron, werden die Vorsprünge aus geschmolzenen Fritten kaum unterbrochen. Wenn hingegen die Dicke der Zwischenschicht beim Sintern über etwa 10 Minuten bei etwa 850 Grad Celsius gleich oder größer als etwa 0,09 Mikron wird, bleiben die Fritten bei Vorhandensein von Siliziumatomen in der Paste, die für die Herstellung des Dickschichtmusters verwendet wird, wodurch sich die Haftfestigkeit erhöhen kann. Die Wärmeleitfähigkeit des Substrates wird im Vergleich zum ersten Ausführungsbeispiel weiter verbessert, ohne auf die Ablösefestigkeit zu verzichten, sofern die Gesamtdicke der Zwischenschicht 7 und der Oberflächenschicht 8 unter etwa 20 Mikron bleibt.
  • Die Zwischenschicht 7 läßt sich mit Hilfe der Sputtertechnologie, durch eine Oxidationstechnik bei Anwesenheit von Sauerstoff, und durch chemische Abscheidung aus der Dampfphase erzeugen. Zur Herstellung der Zwischenschicht aus Aluminiumoxid ist jedoch eine Oxidationstechnik geboten. Die Oxidation erfolgt beispielsweise unter Anwesenheit von Sauerstoff in einem Bereich von etwa 1 10&sup5; Pa (1 atm) bis etwa 1 10³ Pa (10&supmin;² atm) bei etwa 1100 Grad bis etwa 1500 Grad Celsius. Das Siliziumoxid wird dagegen unter Benutzung eines physikalischen Abscheideverfahrens, wie zum Beispiel einer Sputtertechnologie, einer Sol-Gel-Technologie, oder durch chemische Abscheidung aus der Dampfphase aufgebracht.
  • Das Herstellungsverfahren wird nachfolgend im einzelnen beschrieben. Das Verfahren beginnt mit der Aufbereitung des Aluminiumnitridpulvers, dessen Partikel einen mittleren Durchmesser von etwa 1 Mikron besitzen. Das Aluminiumnitridpulver wird mit einem organischen Binder gemischt, um eine Paste herzustellen. Die Paste wird zu einem flachen Rohling geformt, der etwa 120 Minuten lang unter Stickstoff mit atmosphärischem Druck bei etwa 1800 Grad Celsius angeordnet, so daß der flache Rohling gesintert wird. In der Sinterstufe wird auf diese Weise eine Vielzahl von Keramikscheiben erzeugt, wobei jede der Keramikscheiben die Form eines Quadrates von 25,4 mm × 25,4 mm besitzt und eine Dicke von etwa 2 mm hat. Die Keramikscheiben dienen als Unterlagen.
  • Danach werden auf den Keramikscheiben die entsprechenden Zwischenschichten hergestellt. Dafür wird die Sputtertechnologie, die Oxidationstechnologie und die chemische Abscheidung aus der Dampfphase verwendet. Die Keramikscheibe wird also zusammen mit einem Target aus Aluminiumoxid (Al&sub2;O&sub3;) mit einer Reinheit von etwa 99,5 % in ein HF-Diodensputtersystem eingesetzt. Das Target hat einen Durchmesser von etwa 100 mm und eine Dicke von etwa 10 mm. Die Keramikscheibe wird mit einer Drehzahl von etwa 10 U/min angetrieben, und das Sputtern erfolgt mit einer Leistung von etwa 100 Watt. Auf einige Keramikscheiben werden Zwischenschichten 7 aufgebracht, deren Dicke sich durch die Änderung der Sputterzeit voneinander unterscheiden. Bei der Oxidationstechnologie erfolgt die Oxidation bei Anwesenheit von Sauerstoff mit etwa 1 10&sup4; Pa (10&supmin;¹ Torr), wobei die Keramikscheibe auf etwa 1300 Grad Celsius erwärmt wird. Die Oberfläche der Keramikscheibe wird oxidiert, um Aluminiumoxid zu bilden, und die Dicke der Aluminiumoxidschicht wird durch Steuerung der Reaktionsdauer eingestellt. Auf diese Weise werden auf den Keramikscheiben einige Zwischenschichten 7 erzeugt. Wenn die Zwischenschicht 7 mit Hilfe chemischer Abscheidung aus der Dampfphase hergestellt werden soll, wird die Keramikscheibe in eine Reaktionskammer eingebracht, und der Reaktionskammer wird ein Gasgemisch zugeführt. Das Gasgemisch enthält Wasserstoff, Aluminiumchlorid und Kohlendioxid, und die Durchflußrate beträgt etwa 5 Liter pro Minute für Wasserstoff, etwa 100 Kubikzentimeter pro Minute für Aluminiumchlorid und etwa 150 Kubikzentimeter pro Minute für Kohlendioxid. Die chemische Abscheidung aus der Dampfphase erfolgt bei etwa 1020 Grad Celsius und einem Druck etwa 5300 Pa (40 Torr) und die Reaktionsdauer wird variiert, um die Zwischenschichten 7 mit unterschiedlichen Dicken zu gewinnen.
  • Zum Schluß wird auf jeder der Zwischenschichten 7 die Oberflächenschicht 8 abgeschieden, indem auf die in der vorangegangenen Stufe gewonnenen Struktur die Sputtertechnologie, die Sol-Gel-Technologie oder die photogestützte chemische Abscheidung aus der Dampfphase angewendet wird. Bei der Sputtertechnologie wird ein Quarztarget mit einer Reinheit von 99,9 % in das HF-Diodensputtersystem eingesetzt, die übrigen Sputterbedingungen gleichen jedoch denen bei der Abscheidung des Aluminiumoxids. Die Sol-Gel-Technologie beginnt mit der Aufbereitung einer Lösung, indem etwa 347 Gramm Ethylsilikat, etwa 500 Gramm Ethylalkohol und etwa 190,2 Gramm einer 0,3 %-igen Salzsäure miteinander gemischt werden. Die Lösung wird bei etwa 500 U/min auf die Keramikscheibe aufgeschleudert. Die Keramikscheibe mit der benetzten Oberfläche wird etwa 10 Minuten lang bei einer hohen Temperatur von etwa 900 Grad Celsius kalziniert. Auf diese Weise bildet sich auf der Keramikscheibe eine dünne Schicht aus Siliziumoxid, und zur Einstellung der Dickeder Oberflächenschicht 8 wird das Schleuderbeschichten und das Kalzinieren mehrere Male wiederholt. Auf diese Weise werden einige Proben mit unterschiedlicher Dickeder Oberflächenschicht hergestellt. Soll dagegen das Siliziumoxid durch photogestützte chemische Abscheidung aus der Dampfphase abgeschieden werden, wird die Keramikscheibe in eine Reaktionskammer eingebracht. In der Reaktionskammer wird ein niedriger Druck von etwa 27 Pa (0,2 Torr) hergestellt, und zur Bestrahlung wird eine Quecksilberdampflampe verwendet. Die Keramikscheibe wird auf etwa 150 Grad Celsius erwärmt, und zum Abscheiden des Siliziumoxids wird der Reaktionskammer ein Gasgemisch aus Silan und Sauerstoff zugeführt. Im vorliegenden Beispiel beträgt das Molverhältnis von Silan zu Sauerstoff etwa 0,015. Die Dicke der Siliziumoxidschichten ist durch Steuerung der Reaktionszeit unterschiedlich. Tabelle 3 zeigt die unter Anwendung der obigen Verfahren erzeugten Proben.
  • Mit dem folgenden Verfahren wird zu Vergleichszwecken ein Substrat aus Aluminiumoxid nach dem Stand der Technik erzeugt. Zunächst wird das Aluminiumoxidpulver aufbereitet. Das Aluminiumoxid besitzt eine Reinheit von etwa 96 % und einen mittleren Durchmesser von 2 Mikron. Das Aluminiumoxidpulver wird mit einem organischen Binder gemischt, um eine Paste herzustellen. Die Paste wird zu einem flacher Rohling geformt und dann etwa 120 Minuten lang unter atmosphärischen Bedingungen bei etwa 1600 Grad Celsius ges intert. Die Probe nach dem Stand der Technik hat die gleichen Abmaße wie die mit den oben beschriebenen Verfahren hergestellten Proben.
  • Sowohl an diesen Proben als auch an dem Substrat nach dem Stand der Technik wurden die Wärmeleitfähigkeit und die Ablösefestigkeit gemessen. Tabelle 3 Probe Zwischenschicht Oberflächenschicht Verfahren Dicke(um) Sputtern Oxidation Photo-CVD Sol/Gel Tabelle 4 Probe Wärmeleitfähigkeit (J(cal)/sec cm Grad) Ablösefestigkeit (kg/4mm²) Probe nach dem Stand der Technik Grad 4,5 (0,052) 0,218 J/sec cm
  • Wie aus Tabelle 4 deutlich wird, bleibt die Ablösefestigkeit erhalten, selbst wenn die Dicke der Oberflächenschicht auf weniger als etwa 0,1 Mikron verringert wird. Dieser Vorteil wird durch die Zwischenschicht verursacht, welche bewirkt, daß die Vorsprünge der geschmolzenen Fritten begrenzt werden. Das Substrat entsprechend dem dritten Ausführungsbeispiel ist hinsichtlich der Wärmeleitfähigkeit noch weiter verbessert, da das Siliziumoxid mit seiner geringeren Wärmeleitfähigkeit eine verringerte Dicke aufweist. Wenn die Dicke der Oberflächenschicht bzw. der Mehrschichtstruktur aus Zwischenschicht und Oberflächenschicht vergrößert wird, werden die Vorsprünge der geschmolzenen Fritten vollständig begrenzt, auch wenn während des Herstellungsverfahrens der Dickschicht schaltung wiederholt Wärmebehandlungen erfolgen.

Claims (1)

1. Substrat für die Herstellung einer Dickschichtschaltung mit einem Dickschichtmuster, das einen Leiterstreifen aus einer Fritte enthaltenden Paste umfaßt, wobei das Substrat aufweist:
a) eine Grundlage (6) aus Aluminiumnitrid mit einer Hauptfläche; und
b) einen Film (7) aus Aluminiumoxid, der auf der Hauptfläche der Grundlage gebildet ist, gekennzeichnet durch
c) einen auf dem Film (7) gebildeten Oberflächenfilm (8) aus Siliziumoxid mit einer Dicke im Bereich von 0,01 um bis 5,0 um, wobei der Film (7) aus Aluminiumoxid eine Zwischenschicht zwischen der Grundlage (6) und dem Oberflächenfilm (8) ist und der Oberflächenfilm geeignet ist, um darauf die Dickschichtschaltung herzustellen.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0381242B1 (de) * 1989-02-03 1992-05-27 Mitsubishi Materials Corporation Substrat zur Herstellung eines Dickschichtschaltkreises
EP0399265B1 (de) * 1989-05-22 1995-01-18 Mitsubishi Materials Corporation Substrat, verwendbar bei der Herstellung einer Dickschichtschaltung
WO2008047572A1 (fr) * 2006-09-28 2008-04-24 Pioneer Corporation Matériau à base d'oxyde, substrat à motifs, procédé de formation de motifs, procédé de fabrication d'une matrice de transfert pour impression, procédé de fabrication d'un support d'enregistrement, matrice de transfert pour impression et support d'enregistrement

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5811390A (ja) * 1981-07-13 1983-01-22 Teizaburo Miyata 湯沸器内の通水吸熱方法とその装置
JPS58101442A (ja) * 1981-12-11 1983-06-16 Hitachi Ltd 電気的装置用基板
EP0153737B1 (de) * 1984-02-27 1993-07-28 Kabushiki Kaisha Toshiba Schaltungssubstrat mit hoher Wärmeleitfähigkeit
JPH0679993B2 (ja) * 1985-11-22 1994-10-12 住友電気工業株式会社 金属化面を持つ窒化アルミニウム焼結体の製造方法
JPS62207789A (ja) * 1986-03-08 1987-09-12 日本特殊陶業株式会社 窒化アルミニウム製基材の表面構造及びその製造法
JPH0676264B2 (ja) * 1986-03-18 1994-09-28 住友電気工業株式会社 ガラス層を有する窒化アルミニウム焼結体並びにその製造方法
US4835039A (en) * 1986-11-26 1989-05-30 Ceramics Process Systems Corporation Tungsten paste for co-sintering with pure alumina and method for producing same

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