DE633159C - Verfahren zur Scharfeinstellung des Spaltbildes bei Lichttonapparaturen - Google Patents

Verfahren zur Scharfeinstellung des Spaltbildes bei Lichttonapparaturen

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DE633159C
DE633159C DEZ22276D DEZ0022276D DE633159C DE 633159 C DE633159 C DE 633159C DE Z22276 D DEZ22276 D DE Z22276D DE Z0022276 D DEZ0022276 D DE Z0022276D DE 633159 C DE633159 C DE 633159C
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    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/08Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
    • G11B7/085Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam into, or out of, its operative position or across tracks, otherwise than during the transducing operation, e.g. for adjustment or preliminary positioning or track change or selection

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Description

Vorliegende Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zur Fokussierung des Spaltbildes bei Lichttonaufnahme-, Lichttonwiedergabegeräten, bei Mikrophotometern zum Ausmessen von Lichttonaufzeichnungen, Abhörapparaten für Lichttonfilme u.a. Apparaturen.
Es ist bekannt, daß die Wiedergabe der höheren Frequenzen verschlechtert wird, wenn die Abbildung des Lichtspaltes nicht in der ίο Schichtebene des Films liegt. Eine unscharfe Abbildung des Liclitspaltes wirkt wie eine Verbreiterung der Spaltöffnung, bedingt also einen schlechten Frequenzgang. Bei Meßapparaturen kann durch eine schlechte Abbildung ein schlechtes Auflösungsvermögen vorgetäuscht werden.
Bisher wurde die Scharfeinstellung des Spaltes mit einem Mikroskop vorgenommen, dieses erfordert eine kostspielige und umso fangreiche Anordnung. Auch ist es erforderlich, vor jeder Einstellung das Mikroskop in die Schichtebene des Films zu fokussieren, was nicht nur Zeit verbraucht, sondern auch leicht zu Fehlern Anlaß geben kann.
Die neue Methode erfordert keine zusätzliche Optik zur Beobachtung, sondern es wird von der Aufzeichnung einer hohen Frequenz lediglich ein Schattenbild, z. B. auf einer Mattscheibe, entworfen. Ein gutes Schattenbild kommt nur dann zustande, wenn die Abbildung des Spaltes in einer gewissen Entfernung vor oder hinter der Tonaufzeichnung liegt. Ist das Spaltbild in die Schichtebene des Films exakt fokussiert, so kann, wenn die Breite des Spaltbildes klein gegenüber der Frequenzaufzeichnung ist, kein Schattenbild der Frequenz entstehen.
Zur exakten Fokussierung des Spaltbildes wird die Tonaufzeichnung von Hand oder mittels des Meßtisches beim Mikrophotometer langsam am Spaltbild vorbeigeführt. Liegt das Spaltbild, welches die Lichtquelle für die Schattenprojektion darstellt, lampenseitig vom Film, so wird man eine mitläufige Bewegung der Schattenprojektion wahrnehmen; liegt es jedoch auf der anderen Seite des Films, so wird die Bewegung der Schattenprojektion gegenläufig sein. Liegt das Spaltbild genau am Orte der Tonaufzeichnung, so ist in der Schattenprojektion keine Riehtungsbewegung mehr erkennbar, es muß sich vielmehr entsprechend der vorbeigeführten Frequenzaufzeichnung die Gesamthelligkeit des durchfallenden Lichtes vollständig homogen ändern.
Da der Punkt, bei dem die Bewegung des Schattenbildes verschwindet, außerordentlich scharf ausgeprägt ist, läßt sich auf diese Weise leicht eine ungemein genaue Einstellung erreichen. Zur Ausübung des Verfahrens kann man zweckmäßig die Aufzeichnung einer hohen Frequenz z. B. von etwa 7000 Hz benutzen. Es ist aber nicht nötig, dazu einen Frequenzfilm zu benutzen, d. h. einen Film, welcher nur die betreffende Frequenz enthält; man kann das Verfahren auch mit der üblichen
Aufzeichnung eines Musikstückes oder einer Sprachfolge ausüben, auf der man eine ge eignete Stelle mit hohen Frequenzen, z. B. die . Aufzeichnung eines Zischlautes, aussucht Vor' der Fokussierung des Spaltbildes wird mi zweckmäßig das Spaltbild in die richtig^ Neigung zur Längsrichtung der Tonaufzeich nung bzw. zu dem Raster bringen, was am besten nach dem Verfahren des Patents ίο 620 788 geschieht.
Die Vorteile des neuen Verfahrens gegenüber den bisher gebräuchlichen Verfahren bestehen vor allen Dingen darin, daß es keine Mikroskop optik verwendet, welche ihrerseits vor der Messung schärf auf dem Film abgebildet werden muß. Auch ist das Kriterium des Stillstandes einer Richtungsbewegung, wie es gemäß der Erfindung geschieht, viel leichter zu beobachten als eine Beurteilung, ob das Spaltbild scharf oder unscharf im Mikroskop erscheint.
Zur Ausübung des Verfahrens kann man folgendermaßen vorgehen:
Bei einem Mikrophotometer wird im allgemeinen der Spalt mit Hilfe einer Optik in der zu messenden Filmschicht abgebildet. Das durchfaEende Licht fällt dann auf die Meßzelle. Durch .eine einfache Vorrichtung kann man die Meßzelle verschiebbar anordnen, um z. B. mit Hilfe eines Revolvers eine Mattscheibe an Stelle der Photozelle zu bringen. Auch kann' man in dem Strahlengang zwischen Spalt und Photozelle eine einschiebbare Spiegelanordnung vorsehen, durch ,die das vom Spalt kommende Licht, statt wie gewöhnlich auf die Meßzelle, auf eine Mattscheibe geleitet werden kann. Die Mattscheibe kann gleichzeitig auch zur Xagenjustierung des Lichtspaltes gemäß dem Patent 620 788 verwendet werden. Dieselbe Einrichtung, wie sie vorstehend für das Mikrophotometer beschrieben worden ist, kann selbstverständlich in sinngemäßer Abwandlung auch bei den anderen Apparaturen verwendet werden. Bei dem Tonprojektor wird man zweckmäßig dafür Sorge tragen, daß die Mattscheibe vom Vorführer bequem beobachtet werden kann.
Wenn im vorliegenden von einem Lichtspalt gesprochen wird, so ist dieser Ausdruck ganz allgemein zu verstehen. Der Lichtspalt im Sinne vorliegender Erfindung kann durch eine Lichtlinie, durch eine mechanische Blende, durch den Faden einer Lichtquelle usw. gebildet sein. Das Verfahren beschränkt sich nicht nur auf alle entsprechenden Arbeitsgänge bei Lichttonfilmen, sondern'es kann auch für andere Zwecke, z. B. für die Fokussierung des Lichtspaltes von Mikrophotometerrt, bei der Abtastung von Spektralaufnahmen, angewendet werden, d. h\ überall dort, wo die Einstellung eines Spaltes, Punktes o. dgl. auf einem durchsichtigen oder spiegelnden Ge-■ genstand vorgenommen werden soll.
Durch die Abb. 1 bis 4 soll die Erfindung '-näher erläutert werden. Eine besondere Zeichnung für die verschiedenen Anwendungsarten erübrigt sich, da die Anwendung sowohl beim Lichttongerät wie im Mikrophotometer sehr ähnlich ist. Bei einem Mikrophotometer zur Ausmessung von Tonaufzeichnungen und zur Abtastung von Spektralaufnahmen wird man wohl zweckmäßig überhaupt dieselbe Anordnung wählen. In Abb. 1 bis 3 ist der Erfindungsgedanke schematisch dargestellt, während in Abb. 4 eine mehr spezielle Ausführung bei einem Mikrophotometer enthalten ist. In Abb. ι bis 3 wird eine spaltförmig gedachte Lichtquelle mittels einer Optik 2 in dem Punkt 4 abgebildet. 5 ist eine zum Auffangen des Lichtes bestimmte Mattscheibe, während 3 der zu messende Raster (Tonaufzeichnung) bezeichnet, welches bei richtiger Fokussierung in dem Punkt 4 liegen müßte. Liegt der Raster 3 jedoch lampenseitig von Punkt 4, so wird er durch Schattenprojektion auf der Mattscheibe 5 abgebildet werden (Abb. 1). Dasselbe tritt ein, wenn es auf der entgegengesetzten Seite, von Punkt 4 liegt (Abb.. 2). Wird der Raster bewegt, so wird sich auch das Schattenbild des Rasters bewegen, und zwar" bei lampenseitiger Lage des Rasters im gegenläufigen, bei entgegengesetzter Lage im gleichläufigen Sinne zur Bewegung des Rasters. Ist jedoch vollständige Fokussierung erreicht (Abb. 3), so wird kein Schattenbild des Rasters auf der Mattscheibe zu sehen sein und bei Bewegung des Rasters auch keine Bewegung auf dem Schirm beobachtet werden können, sondern der Schirm wird gleichmäßig ,hell oder dunkel beleuchtet werden, je nachdem helle cfder dunkle Teile des Rasters an Punkt 4 vorbeigeführt werden. Dasselbe wird eintreten, wenn statt des. Rasters eine Linie (Spektrallinie) oder eine scharfe Kante ausgemessen werden soll.
Abb. 4 stellt die Anwendung der Erfindung bei einem Mikrophotometer dar. Die Lichtquelle ι wird durch den Kondensor 2 auf den Spalt 3 abgebildet, welcher seinerseits durch »o justierbar eingerichtetes Objektiv 7 auf den Film 8 abgebildet werden soll. Die zur Ausmessung dienende Photozelle 6 kann durch einen Revolvervorrichter o. dgl. gegen die Kammer mit der Mattscheibe 5 ausgetauscht werden. Vor Beginn der Messung wird, nachdem der Film 8 mit der auszumessenden Tonaufzeichnung vorgelegt ist, zunächst die Kammer mit der Mattscheibe vorgeschoben und durch Verschiebung des Objektivs 7 so lange ustiert, bis man bei Bewegen des Films 8 keine Vorzugsrichtung mehr auf der Matt-
scheibe erkennen kann. Damit ist die Gewähr gegeben, daß die Abbildung des Spaltes 3 genau in der Filmebene liegt.

Claims (1)

  1. Patentanspruch:
    Verfahren zur Scharfeinstellung des Bildes eines Spaltes, Punktes o. dgl. bei Lichttonapparaturen, Mikrophotometern u. dgl., dadurch gekennzeichnet, daß in die Ebene, in der das Spaltbild liegen soll, ein feiner Raster, z.B. in Gestalt der Aufzeichnung einer hohen Tonfrequenz, gelegt wird und die Einstellungsvorrichtung für das Spaltbild in derjenigen Lage festgelegt wird, in der auf einer hinter dem Raster befindlichen Mattscheibe o. dgl. sowohl das Schattenbild der durchleuchteten Rasterstelle als auch die fortschreitende Bewegung desselben bei Bewegung des Rasters dem Auge entschwindet.
    Hierzu 1 Blatt Zeichnungen
DEZ22276D 1935-02-16 1935-02-16 Verfahren zur Scharfeinstellung des Spaltbildes bei Lichttonapparaturen Expired DE633159C (de)

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