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HINTERGRUND DER ERFINDUNG
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1. Gebiet der Erfindung
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Die
vorliegende Erfindung bezieht sich auf eine ophtalmische Vorrichtung,
die eine Untersuchung eines zu untersuchenden Auges (inklusive der Messung
von Augeneigenschaften, des Fotografierens eines Augenabschnitts
und ähnlicher
Vorgänge) durchführt.
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2. Beschreibung des Stands
der Technik
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In
einer ophtalmischen Vorrichtung wie einer Vorrichtung zur Messung
der Brechkraft des Auges, einer Vorrichtung zur Messung der Form
der Cornea bzw. Netzhaut, einem nicht kontaktierenden Tonometer
bzw. Instrument zur Messung des Augeninnendrucks oder einer Funduskamera
erhält
man keine Untersuchungsergebnisse (einen Fehler) oder wenn man sie
erhält,
ist ihre Verlässlichkeit
verringert, wenn Schmutz und Ähnliches
an optischen Bauteilen wie einem Untersuchungsfenster und einer
Objektivlinse anhaften. Herkömmlich
gibt eine Bedienungsanleitung eine Anweisung, dass eine Schutzkappe gegen
Schmutz auf dem Untersuchungsfenster angebracht wird, oder dass
periodisch eine Schmutzüberprüfung durchgeführt wird,
um solche Situationen zu vermeiden. Zudem wird eine Technik zum
Erfassen des Schmutzes auf den optischen Teilen der Vorrichtung
vorgeschlagen, bei welcher eine Linsenabdeckung, die einen Spiegel
aufweist, die Vorderseite des Untersuchungsfensters abdeckt (
ungeprüfte japanische Patentanmeldung
mit der Veröffentlichungsnummer
Sho61-185247 ), und Ausrichtungslicht verwendet wird, das
von einem zu untersuchenden Auge reflektiert wird (
ungeprüfte
japanische Patentanmeldung mit der Veröffentlichungsnummer Hei-7-39516 ).
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Zudem
werden die Untersuchungsergebnisse auch in einem Fall beeinflusst,
in dem Störlicht
wie Sonnenlicht und Innenbeleuchtungslicht in ein Fotoaufnahmesystem
innerhalb der Vorrichtung eintritt. Daher gibt das Bedienungshandbuch
auch eine Anweisung bezüglich
eines Aufstellungsorts der Vorrichtung.
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Das
Anbringen der Schutzkappe und die Überprüfung auf Schmutz sind jedoch
aufwändig
und werden oft vergessen. In ähnlicher
Weise ist auch das Verfahren zum Erfassen des Schmutzes, indem die
Linsenkappe mit dem Spiegel auf der Vorderseite des Untersuchungsfensters
angebracht wird, aufwändig
und wird oft vergessen. Zudem kann das Verfahren des Erkennens des
Schmutzes durch Verwenden des Ausrichtungslichts, das vom Auge reflektiert wird,
nicht in einem Zustand durchgeführt
werden, in dem das Auge nicht an der Untersuchungseinheit angeordnet
ist.
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Zudem
bemerkt ein Benutzer oft den Einfluss des Störlichts nicht und interpretiert
eine Abnormität in
den Untersuchungsergebnissen und eine Fehlfunktion fälschlich
als ein Versagen, ohne das Störlicht
als dessen Ursache zu spezifizieren.
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Die
US 5,469,233 offenbart ein
ophtalmisches Instrument nach dem Oberbegriff des Anspruchs 1.
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KURZE ERLÄUTERUNG DER ERFINDUNG
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Es
ist eine Aufgabe der Erfindung, die vorstehend beschriebenen Probleme
zu überwinden
und eine ophtalmische Vorrichtung zu schaffen, die dazu fähig ist,
vor der Untersuchung das Vorhandensein einer Abnormität wie eines
Schmutzes auf optischen Bauteilen zu prüfen und vor der Untersuchung
zu prüfen,
ob die Vorrichtung in einem Zustand ist, in dem sie durch Störlicht beeinflusst
ist.
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Um
die Aufgaben zu lösen
und in Übereinstimmung
mit dem Zweck der vorliegenden Erfindung weist eine ophtalmische
Vorrichtung ein optisches Fotoaufnahmesystem auf, das in einer Innenseite
der Vorrichtung angeordnet ist und optische Bauteile aufweist, um
Untersuchungslicht photographisch aufzunehmen, das von dem Auge
reflektiert wird, welches in einer Untersuchungsposition außerhalb
der Vorrichtung ist, ein optisches Projektionssystem, das auf der
Innenseite der Vorrichtung angeordnet ist und eine Lichtquelle aufweist,
um Erfassungslicht auf das optische Bauteil zu projizieren, das
der Außenseite der
Vorrichtung am Nächsten
ist, einen Fotodetektor, um fotographisch das reflektierte Erfassungslicht
aufzunehmen, wenn die Beleuchtungsquelle in einem Zustand beleuchtet
wird, in welchem das Auge nicht in der Untersuchungsposition angeordnet
ist, und eine Abnormitätserfassungseinheit,
die eine Ab normität
der optischen Bauteile auf der Grundlage eines Abgabesignals von
dem Fotodetektor erfasst.
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In
einer anderen Ausführungsform
der vorliegenden Erfindung umfasst eine ophtalmische Vorrichtung
ein optisches Fotoaufnahmesystem, das an einer Innenseite der Vorrichtung
angeordnet ist, um Untersuchungslicht fotographisch aufzunehmen,
das von dem Auge reflektiert wird, das in einer Untersuchungsposition
an einer Außenseite
der Vorrichtung ist, einen Fotodetektor, der an einer Position angeordnet
ist, an der er dazu fähig
ist, Licht fotographisch aufzunehmen, das in die Innenseite der
Vorrichtung eintritt, und eine Störlichterfassungseinheit, die
auf der Grundlage eines Abgabesignals von dem Fotodetektor in einem
Zustand, in dem das Auge nicht in der Untersuchungsposition platziert
ist, Störlicht
erfasst, das in die Innenseite der Vorrichtung eintritt.
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Weitere
Aufgaben und Vorteile der Erfindung werden in der nachstehenden
Beschreibung erläutert,
sind aus der Beschreibung offensichtlich oder können während der Ausübung der
Erfindung gelernt werden. Die Aufgaben und Vorteile der Erfindung können durch
die ophtalmische Vorrichtung nach den Ansprüchen realisiert und erreicht
werden.
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KURZE ERLÄUTERUNG DER FIGUREN
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Die
beigefügten
Zeichnungen, die einen Teil dieser Spezifikation bilden und darin
enthalten sind, veranschaulichen Ausführungsformen der vorliegenden
Erfindung und dienen zusammen mit der Beschreibung dazu, die Aufgaben,
Vorteile und Prinzipien der Erfindung zu erläutern. In den Zeichnungen
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ist 1 eine
Ansicht, die einen schematischen Aufbau eines optischen Systems
in einer Vorrichtung zur Messung einer Augenbrechkraft zeigt;
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ist 2 eine
Ansicht, die einen schematischen Aufbau eines Steuersystems in der
vorliegenden Vorrichtung zeigt;
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ist 3 eine
Ansicht, die ein Beispiel einer Signalverarbeitungsschaltung zum
Unterscheiden von Störlicht
wie Sonnenlicht und fluoreszierendem Licht für die Signalerfassung bei der
Schmutzerfassung zeigt; und
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ist 4 eine
Ansicht, die ein Beispiel eines Abgabesignals zeigt, das die Intensität von fotographisch
aufgenommenem Licht auf einer CCD-Kamera wiedergibt, wenn eine Lichtquelle
beleuchtet ist und wenn sie nicht beleuchtet ist.
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GENAUE ERLÄUTERUNG DER BEVORZUGTEN AUSFÜHRUNGSFORMEN
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Eine
genaue Erläuterung
einer bevorzugten Ausführungsform
einer ophtalmischen Vorrichtung, die durch die vorliegende Erfindung
ausgeführt
wird, wird nachstehend mit Bezug auf die beigefügten Zeichnungen dargelegt. 1 ist
eine Ansicht, die einen schematischen Aufbau eines optischen Systems in
einer Vorrichtung zur Messung der Brechkraft des Auges zeigt.
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Zwei
Lichtquellen 11 zur Messung (Untersuchung) strahlen nahinfrarotes
Licht (Untersuchungslicht) aus und sind um eine optische Achse L
drehbar angeordnet. Das Bezugszeichen 12 zeigt eine Kondensorlinse.
Eine Zielplatte 13 zur Messung (Untersuchung) weist ein
Ziel zur Messung (Untersuchung) auf (eine Punktblende) und ist auf
der optischen Achse L so beweglich, dass sie an einer Position angeordnet
werden kann, die zu einem Fundus EF eines zu untersuchenden Auges
E konjugiert ist. Das Bezugszeichen 14 zeigt eine Projektionslinse,
und 15a und 15b zeigen halbdurchlässige Spiegel.
Das Bezugszeichen 17 zeigt eine Objektivlinse, 31 zeigt
einen halbdurchlässigen
Spiegel, 16 zeigt einen Spiegel und 18 und 19 zeigen
Relaislinsen bzw. Feldlinsen. Eine Maske 20 zur Eliminierung
einer Netzhautreflexion in einer Schlitzform ist in einer Position
konjugiert zu einer Netzhaut Ec des Auges E angeordnet. Eine bewegliche
Linse 21 ist auf der optischen Achse L in Verbindung mit
der Zielplatte 13 beweglich. Das Bezugszeichen 22 zeigt
ein bildgebendes Objektiv an. Ein Fotodetektor 23 für die Messung (Untersuchung)
ist so angeordnet, dass er um die optische Achse L synchron mit
der Lichtquelle 11 und der Maske 20 drehbar ist.
In dieser Vorrichtung ist eine Oberfläche des Halbspiegels 15b auf
der Seite des Auges E ein Fenster 10 für die Messung (Untersuchung).
Zur Information sei angemerkt, dass das hier beschriebene Messfenster
ein transparentes Teil ist, welches die Innenseite und die Außen seite
der Vorrichtung trennt, und beispielsweise kann eine Glasplatte
zum Schutz oder etwas Ähnliches
als das Messfenster des halbdurchlässigen Spiegels 15b auf der
Seite des Auges E vorgesehen sein.
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Das
Bezugszeichen 30 bezeichnet ein optisches System zum Wiedergeben
eines Fixierungsziels. Eine erste Feld- bzw. Relaislinse 32 ist
auf der optischen Achse L beweglich. Das Bezugszeichen 33 bezeichnet
eine zweite Relaislinse. Ein Fixierungsziel 34 ist an einem
Fokuspunkt der Linse 33 angeordnet. Das Bezugszeichen 35 bezeichnet
eine Kondensorlinse. Eine Lichtquelle 36 zur Zielbeleuchtung
strahlt sichtbares Licht ab. Die Linse 32 bewegt sich auf
der optischen Achse L, um eine Zeigeposition (einen Abstand) des
Fixierziels 34 optisch zu ändern, und führt eine
Vernebelung bzw. Defokussierung durch, um eine Anpassung des Auges
E zur Zeit der Messung der Augenbrechkraft zu unterdrücken.
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Ein
optisches System 40 zur Projektion eines Ausrichtungsindexes
projiziert einen Index zur Ausrichtung aus einer Richtung einer
visuellen Achse des Auges E. Eine Punktlichtquelle 41 sendet
infrarotes Licht durch den Ausrichtungsindex. Das von der Lichtquelle 41 ausgesandte
Licht wird durch einen dichroitischen Spiegel 42 reflektiert,
der eine Eigenschaft des Durchlassens von sichtbarem Licht und der
Reflexion von Infrarotlicht aufweist. Dann geht das Licht durch
den halbdurchlässigen
Spiegel 31 und wird von der Linse 17 in ein paralleles
Lichtbündel
umgeformt. Und dann geht das Licht durch die halbdurchlässigen Spiegel 15a und 15b,
um den Ausrichtungsindex von der Vorderseite des Auges E entlang
der optischen Achse L zu projizieren.
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Das
Bezugszeichen 45 bezeichnet ein optisches Beobachtungssystem.
Ein Bild eines vorderen Segments (ein Reflexionslicht von dem vorderen Segment)
des Auges E, das von einer nicht veranschaulichten Infrarotlichtquelle
zur Beleuchtung des vorderen Segments beleuchtet wird, und ein Bild
des Ausrichtungsindex (ein Netzhautreflexionsbild der Lichtquelle 41)
gehen durch den halbdurchlässigen Spiegel 15b,
eine Objektivlinse 46 und einen Spiegel 47, um
von einer CCD-Kamera 48 als einem Bildaufnahmeelement empfangen
(fotographisch aufgenommen) zu werden.
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2 ist
eine Ansicht, die einen schematischen Aufbau eines Steuersystems
in der vorliegenden Vorrichtung zeigt. Eine Syntheseschaltung 52 kombiniert
ein Bildsig nal von der Kamera 48 mit einem Buchstabensignal
und einem graphischen Signal, die in einer Anzeigeschaltung 51 erzeugt
werden, um auf einem TV-Bildschirm (einer Anzeige) 7 angezeigt
zu werden. Das Bezugszeichen 50 bezeichnet eine Steuereinheit.
Ein Abgabesignal von dem Fotodetektor 23 wird durch eine
Signalverarbeitungsschaltung 54 verarbeitet und an die
Steuereinheit 50 eingegeben. Die Steuereinheit 50 ist
mit einer Schalteinheit 8, den Lichtquellen 11,
einem Motor 56 zum Drehen der Lichtquellen 11,
der Maske 20 und des Fotodetektors 23, einem Motor 57 zur
Bewegung der Zielplatte 13 und der Linse 21, einen
Motor 58 zur Bewegung der Linse 32, einen Potentiometer 60 zum Erfassen
einer Wegposition der Zielplatte 13 (oder der Linse 21),
einem Speicher 62, einem Stromschalter 63 und ähnlichen
Teilen verbunden.
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Die
Messung der Augenbrechkraft, die durch die Vorrichtung mit einem
wie vorstehend beschriebenen Aufbau durchgeführt wird, wird nun beschrieben.
Das Messlicht, das von der Lichtquelle 11 ausgesendet wird,
geht durch die Linse 12, die Zielplatte 13, die
Linse 14 und die halbdurchlässigen Spiegel 15a und 15b (das
Fenster 10), und wird in der Nähe der Netzhaut Ec gesammelt
und erreicht dann den Fundus Ef. In einem Fall, in dem das Auge
E normalsichtig ist, geht Licht eines Messzielbilds, das von dem
Fundus Ef reflektiert wird, durch die halbdurchlässigen Spiegel 15b und 15a,
die Linse 17, den halbdurchlässigen Spiegel 31,
den Spiegel 16, die Linsen 18 und 19 und
die Linse 22, um ein Bild auf dem Fotodetektor 23 zu
bilden. In einem Fall, in welchem das Auge E fehlsichtig ist, wird
der Motor 57 auf der Grundlage des Abgabesignals vom Fotodetektor 23 angetrieben,
um die Zielplatte 13 und die Linse 21 so zu bewegen,
dass sie an den Positionen positioniert sind, die zu dem Fundus
Ef konjugiert sind.
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Der
Motor 58 wird angetrieben, um die Linse 32 so
zu bewegen, dass das Fixierziel 34 an einer Position konjugiert
zum Fundus Ef platziert ist, und dann wird die Linse 32 weiter
bewegt, so dass das Vernebeln mit einer geeigneten Dioptrienzahl
durchgeführt
wird. Dann werden in einem Zustand, in dem das Auge E vernebelt
ist, die Lichtquellen 11, die Maske 20 und der
Fotodetektor 23 um 180 Grad um die optische Achse L gedreht.
Während
der Drehung werden die Zielplatte 13 und die Linse 21 auf
der Grundlage der Abgabesignale von dem Fotodetektor 23 bewegt,
und das Potentiometer 60 erfasst eine Wegstrecke, um einen
Wert der Brechkraft in jeder Meridianrichtung zu erhalten. Die Steuereinheit 50 stellt
die Brechkraft mit einem vorab bestimmten Verarbeitung bereit, um
objektive Werte von S (einer sphärischen
Brechkraft), C (einer astigmatischen Brechkraft) und A (einem astigmatischen
Achsenwinkel) zu erhalten.
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Als
Nächstes
werden die Schmutzerfassung und die Störlichterfassung in dem optischen
System beschrieben. Wenn der Stromschalter 63 für die Vorrichtung
in einem Zustand eingeschaltet wird, in dem ein Reflexionsobjekt
wie das Auge E oder ein Modellauge nicht vor dem Fenster 10 angeordnet
sind, wird eine Initialisierung implementiert, und dann wird ein Schmutzerfassungsmodus
aktiviert. Wenn der Schmutzerfassungsmodus aktiviert ist, wird eine Nachricht „Überprüfe auf Schmutz" auf dem Monitor 7 angezeigt.
Die Steuereinheit 50 treibt den Motor 57 an, um
die Linse 21 und die Zielplatte 13 an vorab bestimmte
Positionen wie Positionen für
Normalsichtigkeit (Positionen für
0 D) zu bewegen, um die Lichtquellen 11 zu beleuchten.
Zu dieser Zeit blinkt die Lichtquelle 11 mit einer vorab
bestimmten Frequenz. Das von der Lichtquelle 11 ausgesandte
Messlicht geht durch die Linse 12, die Zielplatte 13 und
die Linse 14, um auf die halbdurchlässigen Spiegel 15a und 15b zu
fallen. Das Reflexionslicht von dem Fenster 10 geht wie
in dem Fall des Reflexionslichts zur Zeit der Messung der Augenbrechkraft
von dem Fundus Ef durch den halbdurchlässigen Spiegel 15b zu
der Linse 22, und wird auf dem Fotodetektor 23 fotographisch
aufgenommen. Die Steuereinheit 50 vergleicht einen Abgabesignalpegel
des Fotodetektors 23, der durch die Signalverarbeitungsschaltung 54 eingegeben
wird, mit einem vorab bestimmten Referenzpegel (einem Abgabesignalpegel
in einem Zustand, in dem das Auge nicht am Platz ist) und überprüft das Vorhandensein
eines abnormen Abgabesignals unterhalb des Referenzpegels. In einem
Fall, in dem das Fenster 10 verschmutzt ist, wird eine Lichtintensität des Reflexionslichts
an dem verschmutzten Abschnitt erhöht, und dieses Licht dringt in
den Fotodetektor 23 ein, um als das abnorme Abgabesignal
erfasst zu werden.
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Nebenbei
dreht die Steuereinheit 50 auch in dem Fall der Schmutzerfassung
die Lichtquellen 11, die Maske 20 und den Fotodetektor 23 um
180 Grad wie in dem Fall der Messung um die optische Achse. Daher
kann das Erfassungslicht über
einen weiten Bereich des Fensters 10 geworfen werden, um
den Schmutz und Ähnliches
zu überprüfen. Zusätzlich kann
die Maske 20 auch das Vorhandensein des abnormen Ausgangssignal überprüfen, um
den Schmutz und Ähnliches
fein zu erfassen, wenn die Maske 20 ebenfalls mit einem
Fotodetektor versehen ist.
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Wenn
das abnorme Abgabesignal erfasst wird, zeigt die Steuereinheit 50 eine
Warnnachricht wie „Bitte
Messfenster reinigen" auf
dem Monitor 7 an. Zur gleichen Zeit informiert ein Tongenerator,
der nicht gezeigt ist, einen Benutzer mittels eines Alarms, einer
Sprachführung
oder auf ähnliche
Weise über diese
Nachricht. Dann reinigt der Benutzer das Fenster 10 und
führt den
Schmutzerfassungsvorgang erneut unter Verwendung eines Schalters
in der Schalteinheit 8 in einem Zustand durch, in dem das
Reflexionsobjekt nicht vor dem Fenster 10 angeordnet ist. Wenn
das abnorme Abgabesignal nicht erfasst wird, wird eine Nachricht „OK" angezeigt, um den
Schmutzerfassungsmodus abzuschließen.
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Nebenbei
bemerkt kann der Referenzpegel, der vorstehend beschrieben ist,
durch Experimente und auf ähnliche
Weise bestimmt werden, oder ein Betrieb ähnlich dem in dem Schmutzerfassungsmodus
kann als Anpassung zur Zeit der Herstellung der Vorrichtung durchgeführt werden,
und ein Abgabesignalpegel zu dieser Zeit kann gespeichert werden. Außerdem können vorab
Positionen, in welchen die Lichtintensität des Reflexionslichts aufgrund
von Schmutz auf dem Fenster 10 einfach erkannt werden kann,
vorab durch Experiment erhalten werden, um die Positionen festzulegen,
zu denen die Zielplatte 13 und die Linse 21 bewegt
werden. Durch Bewegen der Linse 21 kann ein Abschnitt,
der mit dem Fotodetektor konjugiert ist, verändert werden, und ein Abschnitt zum
Erfassen des Schmutzes oder der abnormen Reflexion kann geändert werden.
Nebenbei bemerkt kann an Stelle der Bewegung der Linse 21 der
Fotodetektor 23 auf der optischen Achse L bewegt werden.
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Zudem
werden die Zielplatte 13 und die Linse 21 über einen
gesamten Bewegungs-(Verfahr)bereich verschoben, und das Abgabesignal
von dem Fotodetektor 23 wird ebenfalls geprüft, so dass
das Vorhandensein der abnormen Reflexion aufgrund des Schmutzes
und ähnlicher
Teile auf anderen optischen Bauteilen in einem optischen Fotoaufnahmesystem,
welches das Fenster 10 aufweist, erfasst werden können. In
einem Fall, in dem ein Abschnitt vorab festgelegt ist, der auf Schmutz
und Ähnliches zu überprüfen ist,
ist es effizient, dass die Linse 21 zur Überprüfung hin
zu einer zuge hörigen
Position bewegt wird. Das Überprüfen kann
zu einer Zeit im Schmutzerfassungsmodus durchgeführt werden, oder kann separat
in einer anderen Festlegung durchgeführt werden. Zudem wird ein
Grad einer Abnormität
des Schmutzes und ähnlicher
Teile auf einer Skala von 1 bis 5 oder auf ähnliche Weise abhängig von
dem Signalpegel der abnormen Ausgabe des Fotodetektors 23 angegeben,
so dass der Benutzer einfach einen Zeitpunkt einer Routineprüfung bestimmen
kann.
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Wenn
der Schmutzerfassungsmodus beendet ist, folgt anschließend ein
Störlichterfassungsmodus,
um zu prüfen,
ob das Störlicht
wie Sonnenlicht und Innenbeleuchtungslicht in ein Fotoaufnahmesystem
eindringt. Der Abgabesignalpegel des Fotodetektors 23 wird
geprüft,
während
die Lichtquellen 11, die Maske 20 und der Fotodetektor 23 wie
vorstehend erläutert
gedreht werden, ohne das die Lichtquellen 11 beleuchtet
sind. Bevorzugt wird die Überprüfung durchgeführt, während die
Linse 21 über
ihren gesamten Bewegungsbereich bewegt wird. In einem Fall, in dem
ein abnorm starkes Abgabesignal vom Fotodetektor 23 oder
dem Fotodetektor erhalten wird, der in der Maske 20 angeordnet
ist (in einem Fall, in dem das Abgabesignal mit einem Referenzpegel
für Störlichterfassung
verglichen wird, der getrennt von dem Referenzpegel die Schmutzerfassung
bestimmt wird, und ein Abgabesignalpegel unterhalb des Referenzpegel
erhalten wird), obwohl die Lichtquellen 11 nicht beleuchtet
sind, wird es beurteilt, dass das Störlicht eintritt, und eine Nachricht
wie „Störlicht tritt
ein. Bitte Richtung des Messfensters ändern" wird auf dem Bildschirm 7 angezeigt.
Zudem wird vom Tongenerator ein Alarm ausgegeben, der die Nachricht
anzeigt, um den Benutzer zu informieren.
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Der
Benutzer beseitigt einen Faktor, der das Störlicht verursacht, und führt dann
den Störlichterfassungsvorgang
unter Verwendung des Schalters in der Schalteinheit 8 erneut
durch. Wenn keine Abnormität
auftritt, wird eine Nachricht „OK" angezeigt, und die
Störlichterfassung
wird beendet und in einen Standbymodus geschaltet, in dem die Messung
gestartet werden kann. In einem Fall, in dem der abnorme Abgabesignalpegel
des Fotodetektors 23 (und des anderen Fotodetektors) in
einem Zustand erfasst wird, in dem das Störlicht nicht tatsächlich eintritt,
ist ein Versagen in einer elektrischen Schaltung und ähnlichen
Teilen vorstellbar. Daher kann diese Tatsache angezeigt werden.
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Bezüglich der
Signalerfassung in der vorstehend erwähnten Schmutzerfassung kann
das Reflexionslicht vom Fenster 10 erfasst werden, während das
Sonnenlicht oder das fluoreszierende Licht in gewissen Umfang durch
die Signalverarbeitungsschaltung 54 unterdrückt wird. 3 ist
eine Ansicht, die ein Beispiel der Signalverarbeitungsschaltung 54 mit einem
Verstärker 70 und
einer Filterschaltung 71 zeigt. Die Lichtquelle 11 blinkt
mit einer hohen Frequenz von 1 KHz. Das Abgabesignal des Fotodetektors 23 wird
durch den Verstärker 70 verstärkt und
an die Filterschaltung 71 gesendet. Dann überträgt die Filterschaltung 71 ein
Signal mit einer Frequenzkomponente nicht, die niedriger als 1 KHz
ist oder mit einer Gleichstromkomponente und überträgt nur eines Signals mit einer
hohen Frequenzkomponente von der Lichtquelle 11. Das Sonnenlicht
hat hauptsächlich
die DC-Komponente und das Innenbeleuchtungslicht, das von der Fluoreszenzlampe
ausgesendet wird, ist ein Signal mit einer niedrigen Frequenzkomponente
im Bereich von 60 Hz, so dass dieses Licht abgeschnitten werden
kann. Es ist weiter zu bevorzugen, dass die Filterschaltung 71 ein
Bandpassfilter ist, und dass Licht mit einer Frequenzkomponente über 1 KHz,
beispielsweise Licht mit einer hohen Frequenzkomponente von 10 KHz
und Ähnliches
ausgeblendet wird, das von einer Fluoreszenzlampe vom Invertertyp
ausgesendet wird. Die Steuereinheit 50 vergleicht einen
Abgabesignalpegel durch die Filterschaltung 71 mit dem
Referenzpegel und erfasst jedes Abgabesignal oberhalb des Referenzpegels
als Abnormität.
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Nebenbei
bemerkt können
für die
Lichtquelle und den Fotodetektor, der für die Schmutzerfassung und
die Störlichterfassung
verwendet werden, spezielle Teile benutzt werden. Wenn jedoch die
Lichtquelle zur Messung und der Fotodetektor zur Messung wie vorstehend
erläutert
mehrfach genutzt werden, wird der Aufbau nicht kompliziert und wird ökonomisch
vorteilhaft.
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Zudem
können
mit Ausnahme der Lichtquelle für
die Messung und des Fotodetektors für die Messung andere Lichtquellen
und andere Fotodetektoren (Sensoren), die innerhalb der Vorrichtung
vorgesehen sind, mehrfach genutzt werden. Beispielsweise kann die
vorliegende Vorrichtung die Lichtquelle 41 zur Ausrichtung
und die Kamera 48 zur Beobachtung (zur fotographischen
Aufnahme des Ausrichtungslichts) verwenden. Das Ausrichtungslicht, das
von der Lichtquelle 41 ausgesandt wird, wird auch von dem
Fenster 10 reflektiert, wenn das Fenster 10 verschmutzt
ist. Das Reflexionslicht geht durch den Halbspiegel 15b,
die Linse 46 und den Spiegel 47, um an der Kamera 48 fotographisch
aufgenommen zu werden. In dem Fall des Schmutzerfassungsmodus steuert
die Steuereinheit 50 die Beleuchtung der Lichtquelle 41 und
prüft einen
Abgabesignalpegel der Lichtintensität, die an der Kamera 48 fotographisch
aufgenommen wird, wenn die Lichtquelle 41 beleuchtet und
wenn sie nicht beleuchtet ist.
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4 ist
eine Ansicht, die ein Beispiel des Abgabesignals zeigt, das die
Intensität
von Licht wiedergibt, das von der Kamera 48 fotographisch
aufgenommen wird, wenn die Lichtquelle 41 beleuchtet und
wenn sie nicht beleuchtet ist. Das Bezugszeichen I1 ist ein Abgabesignalpegel,
wenn die Lichtquelle 41 nicht beleuchtet ist, und in diesem
Fall gibt es kein Reflexionslicht von dem Fenster 10, und
I1 wird der Signalpegel des Störlichts,
dass durch das Fenster 10 eintritt. Das Bezugszeichen I2
zeigt einen Abgabesignalpegel, wenn die Lichtquelle 41 beleuchtet
ist, wobei das Reflexionslicht von dem Fenster 10 und das
Störlicht,
das durch das Fenster 10 eintritt, aufsummiert werden.
Folglich wird ein Unterschied ΔI
zwischen I1 und I2 der Signalpegel des Reflexionslichts von dem
Fenster 10, und wenn das Fenster 10 verschmutzt
ist, erhöht
sich der Signalpegel von ΔI.
Die Steuereinheit 50 vergleicht ΔI mit einem vorab bestimmten
Bezugspegel Is und erfasst eine Abnormität, wenn ΔI größer als Is ist. In dem Fall eines
zweidimensionalen Fotodetektors (Sensors) wird eine durchschnittliche
Lichtintensität
für die
Beurteilung in Betracht gezogen, oder eine Beurteilung kann für jeden
zweidimensionalen Ort durchgeführt werden.
Natürlich
kann dieses Erfassungsverfahren auch in dem Fall angewendet werden,
in dem die Lichtquellen 11 und der Fotodetektor 23 genutzt
werden, und nur die Abnormität
der optischen Bauteile wie die Verschmutzung können leicht erfasst werden, während das
Störlicht
unterdrückt
wird. Der Referenzsignalpegel Is kann durch Experiment bestimmt werden,
oder ein Vorgang ähnlich
dem Schmutzerfassungsvorgang kann als eine Anpassung zur Zeit der
Herstellung der Vorrichtung durchgeführt werden, und ein Abgabesignalpegel
zu dieser Zeit kann gespeichert werden. In dem Modus zur Erfassung
des Störlichts
kann der Abgabesignalpegel der Kamera 48 überwacht
werden, wenn die Lichtquelle 48 nicht beleuchtet ist. Nebenbei
bemerkt kann in einem Fall, in dem ein Bildaufnahmeelement wie die
Kamera 48 als der Fotodetektor verwendet wird, ein abnormes Reflexionslicht
durch Bildanalyse erfasst werden.
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Der
Vorgang in dem Schmutzerfassungsmodus und dem Störlichterfassungsmodus, die
vorstehend erwähnt
sind, kann jedes Mal durchgeführt
werden, wenn ein Signal durch einen Schalter fürs Ausdrucken erzeugt wird,
der in der Schalteinheit 8 angeordnet ist, oder jedes Mal,
wenn eine neue Messung für
einen neuen zu Untersuchenden bzw. Patienten stattfindet, oder in ähnlicher
Weise. Wenn die Erfassung viel Zeit benötigt, wird die Anzahl von Messungen
pro zu Untersuchenden gezählt,
und der Vorgang kann bei einer bestimmten Anzahl (beispielsweise
jede zehnte Messung) durchgeführt
werden. Zudem kann eine Uhrfunktion 64, die an der Vorrichtung
vorgesehen ist, verwendet werden, um den Vorgang zu einer vorab
bestimmten Zeit oder in vorab bestimmten Intervallen (zu einer Zeit
in der Nähe
der vorab bestimmten Zeit, wenn die Vorrichtung zum ersten Mal an
einem Tag eingeschaltet wird, oder zu anderen Zeiten) durchzuführen. Zudem
ist es abgesehen davon praktisch, wenn ein Modusschalter zur Implementierung
dieser Erfassungsmodi vorgesehen ist, weil der Benutzer optional
den Vorgang in einem Zustand durchführen kann, wenn der Schmutz
und Ähnliches
störend
werden.
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Zudem
wird in dem Schmutzerfassungsmodus und dem Störlichterfassungsmodus, in dem
der Vorgang durch den Stromschalter 63 für die Vorrichtung
implementiert wird, oder automatisch zur Zeit einer vorab bestimmten
Bedingung implementiert wird, nur das Messfenster oder ein Abschnitt
erfasst, in dem es für
das Störlicht
leicht ist, einzufallen, so dass der Vorgang in kurzer Zeit abgeschlossen
ist. Zudem ist es zu bevorzugen, dass ein Modus zur Durchführung einer
genaueren Überprüfung durch
einen Schaltvorgang ausgewählt
werden kann.
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Eine
Anforderung eines Nutzers kann erfüllt sein, wenn eine Vielzahl
von Einstellungen, welche das Erfassungsverfahren in dem Schmutzerfassungsmodus
und dem Störlichterfassungsmodus umfassen
(implementieren oder nicht, in welchem Grad implementieren, Zeitpunkt
der Implementierung und ähnliche
Punkte) und des Informationsverfahren (Information durch die Anzeige
und den Ton) durch den Schaltvorgang festgelegt werden können.
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Ein
Beispiel, bei dem die vorliegende Erfindung auf die Vorrichtung
zur Messung der Augenbrechkraft angewendet wird, ist vorstehend
erläutert. Die
vorliegende Erfin dung kann jedoch auf eine Vielzahl von ophtalmischen
Vorrichtungen wie eine Vorrichtung zur Messung einer Netzhautform,
ein nicht berührendes
Tonometer und eine Funduskamera angewendet werden. Zudem kann die
vorliegende Erfindung auf eine Linsenmessvorrichtung angewendet werden.
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Wie
vorstehend beschrieben kann der Zustand der Vorrichtung nach der
vorliegenden Erfindung bezüglich
dessen überprüft werden,
ob die Abnormität
wie der Schmutz auf den optischen Bauteilen vorhanden ist, oder
ob die Vorrichtung in dem Zustand ist, in dem sie durch Störlicht beeinträchtigt ist.
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Die
vorstehende Beschreibung der bevorzugten Ausführungsformen der Erfindung
wurde zum Zweck der Veranschaulichung und Beschreibung dargelegt.
Es ist nicht beabsichtigt, dass sie vollständig ist, oder die Erfindung
auf die genaue offenbarte Form begrenzt, und Modifikationen und
Variationen sind im Licht der vorstehend erläuterten Lehren möglich oder
können
beim Ausüben
der Erfindung gefunden werden. Die Ausführungsformen wurden ausgewählt und
beschrieben, um die Prinzipien der Erfindung und ihre praktische
Anwendung zu erläutern, um
einem Fachmann zu ermöglichen,
die Erfindungen in verschiedenen Ausführungsformen mit verschiedenen
Modifikationen, die für
die beabsichtige spezielle Nutzung geeignet sind, zu verwenden.
Es ist beabsichtigt, dass der Gegenstand der Erfindung durch die
beigefügten
Ansprüche
definiert ist.