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Die
vorliegende Erfindung betrifft ein Halbleitermodul und einen damit
versehenen Umrichter.
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Manche
Arten von Umrichtern enthalten ein Halbleitermodul, in dem Halbleiterbauteile
in Chipform in einem IC-Gehäuse
angeordnet sind. Der Großteil
der Umrichter enthält
jedoch ein Halbleitermodul, in dem die Halbleiterbauelemente so
wie sie sind angeordnet sind. Dadurch soll die Kühlung des Halbleitermoduls
durch direktes Abführen
der von den Halbleiterbauelementen abgegebenen Wärme verbessert werden.
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Beispiele
für Halbleitermodule
dieser bekannten Art sind in der
japanischen
Patent-Offenlegungsschrift
Nr. Hei 10-56131 beschrieben. In der
japanischen Patent-Offenlegungsschrift Nr.
Hei 10-56131 sind verschiedene Produkte beschrieben, die
so konstruiert sind, daß die
von den einzelnen Halbleiterchips erzeugte Wärme über die beiden Hauptflächen des
jeweiligen Halbleiterchips abgeführt
wird.
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Diese
Produkte umfassen zum Beispiel ein Halbleitermodul, bei dem die
einzelnen Halbleiterchips zwischen isolierenden Substraten liegen,
die ihrerseits zwischen Kupferplatten liegen, so daß die von
den Halbleiterchips erzeugte Wärme
an deren beiden Hauptflächen
abgeführt
wird.
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Die
US-A-6072240 beschreibt
ein Halbleiterbauelement mit mehreren IGBT-Chips, die zwischen zwei
thermisch gut leitenden isolierenden Substraten liegen. Mit einem
dieser Substrate sind die Chips über
ein elektrisch isolierendes Element verbunden, und das andere liegt
rittlings über
dem Bauelement und dem anderen Substrat.
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Die
DE-A-19932953 beschreibt
ebenfalls eine Anordnung, bei der Halbleiterchips zwischen zwei
Blöcken
angeordnet sind, die einen Weg für
den Wärmefluß zum Kühlen der
Chips bilden.
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Bei
Umrichtern, die in einer Umgebung mit ausgeprägten Wärmezyklen betrieben werden,
etwa bei den in einem Kraftfahrzeug verwendeten Umrichtern, steigt
mit der Verschärfung
der Standards für
die Stromversorgung die Größe des durch
die Halbleiterbauelemente fließenden
Stroms an und damit die von den Halbleiterbauelementen erzeugte
Wärme,
so daß die
Wärmezyklen
noch stärker
in Erscheinung treten. Es ist daher erforderlich, daß das Kühlvermögen der
Halbleitermodule, die den Umrichter bilden, gegenüber dem
Kühlvermögen der
herkömmlichen Halbleitermodule
verbessert wird.
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Mit
der vorliegenden Erfindung soll ein Halbleitermodul mit verbessertem
Kühlvermögen geschaffen
werden. Die vorliegende Erfindung soll auch einen sehr zuverlässigen,
kompakten und preisgünstigen
Umrichter umfassen, mit dem auch in einer Umgebung mit ausgeprägten Wärmezyklen
der Normalbetrieb aufrecht erhalten werden kann.
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Um
dies zu erreichen, umfaßt
die vorliegende Erfindung das Halbleitermodul nach Patentanspruch
1.
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In
den Zeichnungen ist
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1 eine
Aufsicht auf den Aufbau eines erfindungsgemäßen Wechselrichters;
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2 eine
Schnittansicht durch den Abschnitt II-II', gesehen in der Richtung des Pfeiles
in der 1;
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3 eine
Schnittansicht durch den Abschnitt III-III', gesehen in der Richtung des Pfeiles
in der 1;
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4 eine
Schnittansicht, die vergrößert die Ausgestaltung
einer Phase in der 2 zeigt;
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5 eine
Schnittansicht, die vergrößert die Ausgestaltung
des Halbleiterchips der 4 zeigt;
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6 eine
Schnittansicht, die die Materialzusammensetzung des elektrisch leitenden
Klebemittels zeigt, das zum Verbinden von zwei Komponenten des Wechselrichters
der 1 verwendet wird;
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7 eine
Schnittansicht, die als Vergleichsbeispiel zur 6 die
Materialzusammensetzung eines elektrisch leitenden Klebemittels
zeigt;
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8 eine
Schaltungsdarstellung des Schaltungsaufbaus des Wechselrichters
der 1;
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9 eine
Schnittansicht des Halbleiterchips, die eine andere Anordnung der
Leitungsverbindung zwischen der Gate-Elektrode des Halbleiterchips
und dem Verdrahtungselement zeigt;
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10 eine
Aufsicht auf den Halbleiterchip, die eine andere Anordnung der Leitungsverbindung zwischen
der Gate-Elektrode des Halbleiterchips und dem Verdrahtungselement
zeigt;
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11 eine
Schnittansicht durch den Abschnitt XI-XI', gesehen in der Richtung des Pfeiles
in der 10;
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12 eine
Aufsicht auf den Halbleiterchip, die eine andere Anordnung der Leitungsverbindung zwischen
der Gate-Elektrode des Helbleiterchips und dem Verdrahtungselement
zeigt; und
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13 eine
Schnittansicht durch den Abschnitt XIII-XIII', gesehen in der Richtung des Pfeiles in
der 12.
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Anhand
der 1 bis 8 wird nun eine erste Ausführungsform
der vorliegenden Erfindung beschrieben. Die 8 zeigt
in der vorliegenden Ausführungsform
die Schaltung für
einen Umrichter. Der Umrichter der vorliegenden Ausführungsform
ist dafür
vorgesehen, im Motoransteuersystem eines Kraftfahrzeugs verwendet
zu werden (zum Beispiel im Motoransteuersystem für ein Elektroauto oder ein Hybridfahrzeug
oder im Motoransteuersystem für
die Lasten von Kraftfahrzeugmotoren wie Klimaanlagen und Bremsen).
Der im folgenden beispielhaft beschriebene Umrichter ist ein Wechselrichter 100,
in dem der Gleichstrom von einer Batterie 200 (die zum Beispiel
mit einer Ladespannung von 42 V betrieben wird) in einen dreiphasigen
Wechselstrom umgewandelt und dann einem Wechselstrommotor 300 (zum Beispiel
einem Synchronmotor, einem Induktionsmotor und dergleichen) zugeführt wird.
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Der
Wechselrichter 100 ist so aufgebaut, daß der Gleichstrom von der Batterie 200,
der über
eine positiv gepolte Gleichstromschiene 110 und eine negativ
gepolte Gleichstromschiene 120 zugeführt wird, durch die Schaltvorgänge der
MOS-FETs 171, 172 und 181 bis 183,
die vom Gatesteuersignal 151 eines Schaltungssteuerblocks 150 gesteuert
werden, für jede
Phase in einen Wechselstrom umgewandelt wird, der dann entsprechend
den einzelnen Phasen über
die Wechselstrom-Ausgangsschienen 161 bis 163 zu
dem Wechselstrommotor 300 geführt wird. Dabei werden die
Wandlerschaltungen 131 bis 133 von den MOS-FETs 171 bis 173,
die einen oberen Zweig 141 bilden, und den MOS-FETs 181 bis 183, die
einen unteren Zweig bilden, gebildet.
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Die
Wandlerschaltung 131 der u-Phase besteht aus dem MOS-FET 171 des
oberen Zweigs 141 und dem MOS-FET 181 des unteren
Zweigs 142. Die Drain-Seite des MOS-FETs 171 ist mit der positiv
gepolten Gleichstromschiene 110 verbunden und die Source-Seite mit der Wechselstrom-Ausgangsschiene 161.
Die Source-Seite des MOS-FETs 181 ist mit der negativ gepolten
Gleichstromschiene 120 verbunden und die Drain-Seite mit
der Wechselstrom-Ausgangsschiene 161.
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Die
Wandlerschaltung 132 der v-Phase besteht aus dem MOS-FET 172 des
oberen Zweigs 141 und dem MOS-FET 182 des unteren
Zweigs 142. Die Drain-Seite des MOS-FETs 172 ist mit der positiv
gepolten Gleichstromschiene 110 verbunden und die Source-Seite mit der Wechselstrom-Ausgangsschiene 162.
Die Source-Seite des MOS-FETs 182 ist mit der negativ gepolten
Gleichstromschiene 120 verbunden und die Drain-Seite mit
der Wechselstrom-Ausgangsschiene 162.
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Die
Wandlerschaltung 133 der w-Phase besteht aus dem MOS-FET 173 des
oberen Zweigs 141 und dem MOS-FET 183 des unteren
Zweigs 142. Die Drain-Seite des MOS-FETs 173 ist mit der positiv
gepolten Gleichstromschiene 110 verbunden und die Source-Seite mit der Wechselstrom-Ausgangsschiene 163.
Die Source-Seite des MOS-FETs 183 ist mit der negativ gepolten
Gleichstromschiene 120 verbunden und die Drain-Seite mit
der Wechselstrom-Ausgangsschiene 163.
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Bei
der vorliegenden Ausführungsform
werden für
die Halbleiterbauelemente der Wandlerschaltungen MOS-FETs verwendet.
Die Wandlerschaltungen können
jedoch auch aus anderen Schaltelementen wie IGBTs oder bipolaren
Transistoren bestehen.
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Die 1 bis 5 zeigen
die tatsächliche Ausgestaltung
des Wechselrichters 100 mit dem Schaltungsaufbau der 8.
Der Wechselrichter 100 umfaßt ein Halbleitermodul 10 auf
der Seite des positiven Pols, das den oberen Zweig 141 bildet;
ein Halbleitermodul 20 auf der Seite des negativen Pols, das
den unteren Zweig 142 bildet; eine Schienenanordnung 30,
die die positiv gepolte Gleichstromschiene 110, die negativ
gepolte Gleichstromschiene 120 und die Wechselstrom-Ausgangsschienen 161 bis 163 bildet;
ein isolierendes Element 50 und ein Wärmeabführelement 60. Der
Wechselrichter 100 weist darüberhinaus noch den Schaltungssteuerblock 150 auf,
der in Verbindung mit der 8 erwähnt wurde, dieser
Schaltungssteuerblock ist in den 1 bis 5 nicht
dargestellt.
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Das
Halbleitermodul 10 auf der Seite des positiven Pols und
das Halbleitermodul 20 auf der Seite des negativen Pols
sind auf dem isolierenden Element 50 linear nebeneinander
angeordnet. Das isolierende Element 50 ist ein keramisches,
flaches, platten- oder bogenartiges Element aus einem Material mit
hoher thermischer Leitfähigkeit,
etwa aus Aluminiumnitrid. Das Wärmeabführelement 60 ist
mit dem Boden des isolierenden Elements 50 verbunden. Das
Wärmeabführelement 60 ist
ein mit Rippen versehenes Wärmeleitelement
aus einem Metall wie Aluminium.
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Das
Halbleitermodul 10 auf der Seite des positiven Pols besteht
aus drei Halbleiterchips 11, die die MOS-FETs 171 bis 173 bilden,
die in Verbindung mit der 8 erwähnt wurden.
Das Halbleitermodul 20 auf der Seite des negativen Pols
besteht aus drei Halbleiterchips 21, die die MOS-FETs 181 bis 183 bilden,
die in Verbindung mit der 8 erwähnt wurden.
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Die
Halbleiterchips 11 und 21 im Halbleitermodul 10 auf
der Seite des positiven Pols und im Halbleitermodul 20 auf
der Seite des negativen Pols sind in der bezüglich der Orientierungsrichtung
des Positiv-Pol-Halbleitermoduls 10 und des Negativ-Pol-Halbleitermoduls 20 vertikalen
Richtung linear nebeneinander angeordnet (im folgenden wird die Orientierungsrichtung
der beiden Elemente als "erste Richtung" bezeichnet, und
die Richtung, in der die Halbleiterchips angeordnet sind, wird als "zweite Richtung" bezeichnet). Im
Positiv-Pol-Halbleitermodul 10 und im Negativ-Pol-Halbleitermodul 20 liegen die
Halbleiterchips 11 und 21, die die Wandlerschaltung
für eine
der Phasen bilden, bezüglich
der ersten Richtung gegenüber.
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Der
Halbleiterchip 11 hat einen flachen, plattenartigen Aufbau
mit einer Oberseite, einer Unterseite und vier Seitenflächen, er
besteht aus einem Siliziumchip 11 mit einer Source-Elektrode 2,
einer Gate-Elektrode 6 (Steuerelektrode) und einem Schutzring 7 auf
der Oberseite sowie einer Drain-Elektrode 5 auf der Unterseite;
und aus einem Source-Elektroden-Verbindungselement 4,
das mittels Lot 3 mit der Source-Elektrode 2 verbunden
ist.
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Der
Halbleiterchip 21 hat den gleichen Aufbau wie der Halbleiterchip 11,
die Oberseite und die Unterseite des Halbleiterchips 21 zeigen
jedoch in die entgegengesetzte Richtung wie beim Halbleiterchip 11 (das
heißt,
daß der
Halbleiterchip 21 bezüglich
der vertikalen Richtung der 5 um 180
Grad gedreht ist). Auf der Oberseite des Halbleiterchips 21 befindet
sich eine Drain-Elektrode und auf der Unterseite eine Source-Elektrode,
eine Gate-Elektrode und ein Schutzring. Das Source-Elektroden-Verbindungselement 4 des
Halbleiterchips 21 ist ein flaches, plattenartiges, elektrisch
leitendes Element aus einem Metall wie Kupfer. Der Schutzring 7 ist
im oberen oder unteren Randbereich des Siliziumchips 1 vorgesehen
und bildet die Grenze zwischen den Potentialflächen auf der Oberseite und
der Unterseite des Siliziumchips 1.
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Der
Halbleiterchip 11 (21) ist an den Seitenflächen angeordnet
und damit verbunden, die zur Oberseite und Unterseite des Halbleiterchips 11 zeigen
(das heißt
der Oberseite und Unterseite des Siliziumchips 1) und liegt
mit den Seiten, die zur Oberseite und Un terseite des Halbleiterchips 11 zeigen, zwischen
den elektrisch leitenden Elementen 12 und 13 (22 und 23).
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Die
Seite des elektrisch leitenden Elements 12, die zur Oberseite
des Halbleiterchips 11 zeigt (genauer zur Oberseite des
Siliziumchips 1), mit anderen Worten die Verbindungsfläche bezüglich des Halbleiterchips 11,
ist mittels eines elektrisch leitenden Klebers 14 derart
mit der Oberseite (dem Source-Elektroden-Verbindungselement 4)
des Halbleiterchips verbunden, daß sie mit dem Source-Elektroden-Verbindungselement 4 elektrisch
verbunden ist.
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Die
Seite des elektrisch leitenden Elements 22, die zur Oberseite
des Halbleiterchips 21 zeigt (genauer zur Oberseite des
Siliziumchips 1), ist mittels eines elektrisch leitenden
Klebers 24 derart mit der Oberseite des Halbleiterchips
(das heißt
der Oberseite des Siliziumchips 1) verbunden, daß sie mit
der Drain-Elektrode 5 elektrisch verbunden ist. Die elektrisch
leitenden Elemente 12 und 22 sind wärmeleitende
Blockelemente aus einem Metall, zum Beispiel Kupfer.
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Die
Seite des elektrisch leitenden Elements 13, die zur Unterseite
des Halbleiterchips 11 zeigt (genauer zur Unterseite des
Siliziumchips 1), mit anderen Worten die Verbindungsfläche des
Halbleiterchips 11, ist über einen elektrisch leitenden
Kleber 15 derart mit der Unterseite des Halbleiterchips
(das heißt
der Unterseite des Siliziumchips 1) verbunden, daß sie mit
der Drain-Elektrode 5 verbunden ist. Die Seite des elektrisch
leitenden Elements 23, die zur Unterseite des Halbleiterchips 21 zeigt
(genauer zur Unterseite des Siliziumchips 1), mit anderen
Worten die Verbindungsfläche
des Halbleiterchips 21, ist über einen elektrisch leitenden
Kleber 25 derart mit der Unterseite des Halbleiterchips
(das heißt
dem Source-Elektroden-Verbindungselement 4) verbunden,
daß sie
mit dem Source-Elektroden-Verbindungselement 4 elektrisch
verbunden ist. Die elektrisch leitenden Elemente 13 und 23 sind
wärmeleitende
Blockelemente aus einem Metall, zum Beispiel Kupfer.
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Auf
diese Weise wird bei der vorliegenden Ausführungsform dadurch, daß der Halbleiterchip 11 (21)
mit der Oberseite und der Unterseite zwischen die elektrisch leitenden
Elemente 12 und 13 (22 und 23)
gelegt wird, eine doppelseitig verdrahtete Struktur geschaffen.
Die Anzahl der Komponenten im Positiv-Pol-Halbleitermodul 10 und
im Negativ-Pol-Halbleitermodul 20 ist dadurch minimal,
und die Verbindungen werden mit wenig Aufwand drahtlos hergestellt.
Bei der vorliegenden Ausführungsform
wird durch den beschriebenen Aufbau die Anzahl der Drahtverbindungen
zwischen den Komponenten für
die Stromwege sowohl im Positiv-Pol-Halbleitermodul 10 als
auch im Negativ-Pol-Halbleitermodul 20 minimal,
so daß die
Risiken, die durch Bruch und dergleichen entstehen, gering sind.
Bei der vorliegenden Ausführungsform
ist damit die Zuverlässigkeit
des Wechselrichters 100 erhöht.
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Im
elektrisch leitenden Element 12 (22) sind parallel
in der ersten Richtung drei Durchgangsöffnungen ausgebildet. Der Halbleiterchip 11 (21)
ist in der ersten Richtung mit dem Mittelabschnitt der jeweiligen
Durchgangsöffnung
verbunden. Das heißt, daß das elektrisch
leitende Element 12 (22) als einfach brückenartiges
oder bogenartiges Element ausgebildet ist, wobei an der Oberseite
des elektrisch leitenden Elements in der zweiten Richtung an beiden Enden
der Oberseite Seitenwände
vorgesehen sind sowie zwei Stützwände, durch
die der Raum zwischen den Seitenwänden in der zweiten Richtung
in drei gleiche Räume
aufgeteilt wird, so daß das
elektrisch leitende Element rittlings auf der Laminatstruktur aus
dem Halbleiterchip 11 (21) und dem elektrisch leitenden
Element 13 (23) sitzt.
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Die
Seitenwände
und die Stützwände des elektrisch
leitenden Elements 12 (22) sind jeweils auf der
Installationsfläche
des elektrisch leitenden Elements 13 (23) in elektrisch
isolierender Art mit dem elektrisch leitenden Element 12 (23)
verbunden, das heißt
jede der Wände
ist mit der Oberseite des isolierenden Elements 50 verbunden.
In den drei gleichmäßig aufgeteilten
Räumen
des elektrisch leitenden Elements 12 (22) ist
die Laminatstruktur aus dem Halbleiterchip 11 (21)
und dem elektrisch leitenden Element 13 (23) so
angeordnet, daß sie
auf beiden Seiten der Laminatstruktur in der Laminatrichtung zwischen
den elektrisch leitenden Elementen 12 und 13 (22 und 23)
liegt. Die Dicke der Platte des elektrisch leitenden Elements 12 (23)
ist größer als
die Dicke des Halbleiterchips 11 (21).
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Die
elektrisch leitenden Kleber 14, 15, 24 und 25 sind
jeweils eine Mischung aus metallischen Teilchen (metallischem Füllmaterial)
oder Metallpartikeln und Kunstharz. Die 6 zeigt
einen Querschnitt durch den aufgebrachten und ausgehärteten elektrisch
leitenden Kleber 14, 15, 24 und 25 bei
der vorliegenden Ausführungsform.
Bei der vorliegenden Ausführungsform
wird eine Mischung aus einem Epoxydharz 400 und Silberteilchen 500 mit
nadelartigen Vorsprüngen
als elektrisch leitender Kleber 14, 15, 24 und 25 verwendet.
Wie aus der Darstellung hervorgeht, sind bei dem elektrisch leitenden
Kleber 14, 15, 24 und 25 der
vorliegenden Ausführungsform
benachbarte Silberteilchen 500 im Epoxydharz 400 eng vermischt,
während
gleichzeitig die Innenseite der Vorsprünge der Silberteilchen 500 mit
dem Epoxydharz 400 gefüllt
ist, so daß keine
freien Zwischenräume
entstehen.
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Verglichen
mit einem elektrisch leitenden Kleber, der sich durch Mischen eines
globalen metallischen Füllmittels 700 mit
Kunstharz 600 ergibt, wird bei den elektrisch leitenden
Klebern 14, 15, 24 und 25 der
vorliegenden Ausführungsform
schon beim Hinzufügen
einer kleinen Menge von metallischen Teilchen oder Metallpartikeln
eine hohe elektrische Leitfähigkeit
erhalten, wobei gleichzeitig auch eine hohe mechanische Festigkeit
erhalten wird. Das heißt,
daß zum
Erreichen einer elektrischen Leitfähigkeit wie bei der vorliegenden
Ausführungsform
ein elektrisch leitender Kleber aus einem globalen metallischen
Füllmittel
und Kunstharz (vgl. 7) so mit dem metallischen Füllmittel
gefüllt
werden muß,
daß sich
keine Zwischenräume
mehr ergeben.
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Da
dadurch jedoch auch die Menge an Kunstharz abnimmt, nimmt die mechanische
Festigkeit ab. Um eine hohe elektrische Leitfähigkeit mit einer kleinen Menge
von metallischen Teilchen oder Metallpartikeln zu erreichen und
auch eine hohe mechanische Festig keit zu erhalten, wird daher vorzugsweise
ein elektrisch leitender Kleber 14, 15, 24 und 25 verwendet,
wie er bei der vorliegenden Ausführungsform
verwendet wird.
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Beispiele
für elektrisch
leitende Kleber, die ein metallisches Füllmittel mit nadelartigen Vorsprüngen enthalten,
sind in der Ausgabe vom Juli 2001 von "Electronic Materials" enthalten, die auf den Seiten 89 bis
96 elektrisch leitende Kleber zeigt.
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Da
sowohl die Impedanz als auch der thermische Widerstand klein sind,
ist das Lot, das gewöhnlich
zum Verbinden von zwei Elementen einer Laminatstruktur verwendet
wird, in der elektrischen Leitfähigkeit
und der thermischen Leitfähigkeit
ausgezeichnet. Für
einen Wechselrichter, der auf beiden Seiten jedes Halbleiterchips
Wärme abgibt,
kann die auf die Oberfläche
des Lots wirkende thermische Ermüdung durch
Verteilen der thermischen Spannungen verringert werden.
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Wenn
wie bei der vorliegenden Ausführungsform
im Falle der Verbindung von zwei Elementen des Wechselrichters mit
den Ansteigen des Standards für
die Stromversorgung die Größe des durch die
Halbleiterbauteile fließenden
Stroms bei der Verwendung in Kraftfahrzeugen in einer Umgebung mit ausgeprägten Wärmezyklen
zunimmt, besteht die Befürchtung,
daß insbesondere
bei der Verbindung eines keramischen isolierenden Substrats mit
einem Kupfer-Blockelement der Unterschied im linearen Ausdehnungskoeffizienten
dazwischen an der Oberfläche
der Lotverbindung eine thermische Ermüdung hervorruft, die zu einem
von dieser Oberfläche
ausgehenden Bruch führt.
Aus diesem Grund ist alternativ zum Lot ein Verbindungsmittel erforderlich,
das hinsichtlich der Impedanz und des thermischen Widerstands wie
Lot kleine Werte aufweist und das hinsichtlich der mechanischen
Festigkeit bessere Eigenschaften wie Lot hat.
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Bei
der vorliegenden Ausführungsform
wird daher für
die Verbindung der beiden Elemente der beschriebene elektrisch leitende
Kleber verwendet. Bei der vorliegenden Ausführungsform ist daher in der
Verbindung von zwei Elementen des Wechselrichters auch bei einem
Ansteigen des Standards für die
Stromversorgung und einer Zunahme des durch die Halbleiterbauteile
fließenden
Stroms bei der Verwendung in Kraftfahrzeugen in einer Umgebung mit ausgeprägten Wärmezyklen
sowie einem großen Unterschied
des linearen Ausdehnungskoeffizienten der beiden Elemente die auf
die Oberfläche
der Verbindung einwirkende thermische Ermüdung verringert, so daß der Wechselrichter
in einer Umgebung mit ausgeprägten
Wärmezyklen
stabil betrieben werden kann. Bei der vorliegenden Ausführungsform
ist daher die Zuverlässigkeit
des Wechselrichters erhöht.
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Bei
der vorliegenden Ausführungsform
ist es auch möglich,
die thermische Ermüdung
an der Oberfläche
der Verbindung weiter zu verringern und die Zuverlässigkeit
des Wechselrichters weiter zu erhöhen, da der Wechselrichter
so aufgebaut ist, daß die
Wärme von
beiden Seiten jedes Halbleiterchips abgeführt wird.
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Bei
der vorliegenden Ausführungsform
wird der elektrisch leitende Kleber 14 und 15 (24 und 25) für die Verbindung
zwischen dem Halbleiterchip 11 (21) und den elektrisch
leitenden Elementen 12 und 13 (22 und 23)
verwendet. Der elektrisch leitende Kleber kann darüberhinaus
auch für
die Verbindung zwischen der Source-Elektrode 2 und dem
Source- Elektroden-Verbindungselement 4 des
Siliziumchips 1 und die Verbindung zwischen den elektrisch leitenden
Elementen 12, 13, 22 und 23 und
dem isolierenden Element 50 verwendet werden. Die Zuverlässigkeit
des Wechselrichters wird dadurch weiter erhöht.
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Die
Gleichstromschiene 30 entspricht der Eingangsverdrahtung
und besteht aus einer positiv gepolten Gleichstromschiene 31 und
einer negativ gepolten Gleichstromschiene 32. Die positiv
gepolte Gleichstromschiene 31 wird durch Integration damit vom
elektrisch leitenden Element 12 gebildet, wobei der flache,
plattenförmige äußere Verbindungsanschlußabschnitt 31a dieser
Schiene so geformt ist, daß der
seitliche Endabschnitt der negativ gepolten Gleichstromschiene 32 an
dem Ende des oberen Wandabschnitts in der zweiten Richtung, das
das elektrisch leitende Element 12 bildet, nach außen vorsteht.
Die negativ gepolte Gleichstromschiene 32 wird durch Integration
damit vom elektrisch leitenden Element 22 gebildet, wobei
der flache, plattenförmige äußere Verbindungsanschlußabschnitt 32a dieser Schiene
so geformt ist, daß der
seitliche Endabschnitt der positiv gepolten Gleichstromschiene 31 an
dem Ende des oberen Wandabschnitts in der zweiten Richtung, das
das elektrisch leitende Element 22 bildet, nach außen vorsteht.
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Die
Wechselstromschienen 40 umfassen eine u-Phasen-Wechselstromschiene 41,
eine v-Phasen-Wechselstromschiene 42 und eine w-Phasen-Wechselstromschiene 43.
Die u-Phasen-Wechselstromschiene 41, die v-Phasen-Wechselstromschiene 42 und
die w-Phasen-Wechselstromschiene 43 werden
durch Integration des elektrisch leitenden Elements 12 des
Halbleitermoduls 10 auf der Seite des positiven Pols und
des elektrisch leitenden Elements 22 des Halbleitermoduls 20 auf
der Seite des negativen Pols für
jede der Phasen gebildet, wobei jede der Wechselstromschienen ein
flaches, plattenartiges Element ist, das sich in der ersten Richtung vom
Halbleitermodul 20 auf der Seite des negativen Pols zum
Halbleitermodul 10 auf der Seite des positiven Pols erstreckt
und an der dem Halbleitermodul 20 auf der Seite des negativen
Pols gegenüberliegenden
Seite vom Halbleitermodul 10 auf der Seite des positiven
Pols vorsteht.
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An
dem Abschnitt, der vom Halbleitermodul 10 auf der Seite
des positiven Pols der u-Phasen-Wechselstromschiene 41 zu
der dem Halbleitermodul 20 auf der Seite des negativen
Pols gegenüberliegenden
Seite vorsteht, ist ein äußerer Verbindungsanschlußabschnitt 41a ausgebildet.
An dem Abschnitt, der vom Halbleitermodul 10 auf der Seite des
positiven Pols der v-Phasen-Wechselstromschiene 42 zu der
dem Halbleitermodul 20 auf der Seite des negativen Pols
gegenüberliegenden
Seite vorsteht, ist ein äußerer Verbindungsanschlußabschnitt 42a ausgebildet.
An dem Abschnitt, der vom Halbleitermodul 10 auf der Seite
des positiven Pols der w-Phasen-Wechselstromschiene 43 zu
der dem Halbleitermodul 20 auf der Seite des negativen
Pols gegenüberliegenden
Seite vorsteht, ist ein äußerer Verbindungsanschlußabschnitt 43a ausgebildet.
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Bei
der vorliegenden Ausführungsform
können
die Anzahl der Komponenten für
den Wechselrichter 100 verringert und der Aufbau des Wechselrichters 100 vereinfacht
werden, da als Gleichstromschienen 30 das elektrisch leitende
Element 12 des Halbleitermoduls 10 auf der Seite
des positiven Pols und das elektrisch leitende Element 22 des Halbleitermoduls 20 auf
der Seite des negativen Pols verwendet werden und da als Wechselstromschienen 40 das
elektrisch leitende Element 13 des Halbleitermoduls 10 auf
der Seite des positiven Pols und das elektrisch leitende Element 23 des
Halbleitermoduls 20 auf der Seite des negativen Pols verwendet
werden. Es ergibt sich damit ein kompakter und wenig aufwendiger
Wechselrichter 100.
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An
den durchlöcherten
Abschnitten der elektrisch leitenden Elemente 12 und 22 in
der ersten Richtung ist ein Verdrahtungselement 70, das
von den zu der dem Halbleitermodul 10 auf der Seite des positiven
Pols und dem Halbleitermodul 20 auf der Seite des negativen
Pols zeigenden Seite der elektrisch leitenden Elemente 12 und 22 gegenüberliegenden
Seite durchlöcherten
Abschnitten in die Halbleitermodule eingeführt wird, über eine Metallkugel 71 mit
der Gate-Elektrode 6 des Halbleiterchips 11 (21)
verbunden.
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Das
Verdrahtungselement 70 ist dadurch elektrisch mit der Gate-Elektrode 6 verbunden.
Das Verdrahtungselement 70 ist ein dünnes, plattenartiges oder bogenartiges
Element zur Signalübertragung,
mit dem Gate-Steuersignale 151 (Schaltsteuersignale zum
Einschalten und Abschalten der MOS-FETs 171 bis 173 und 181 bis 183)
vom Schaltungssteuerblock 150 zu den Gates der MOS-FETs geführt werden.
Das heißt,
daß das
Verdrahtungselement 70 entweder ein elektrisch leitendes
Element ist, das mit einer Kunstharzschicht abgedeckt ist, oder
ein elektrisch leitendes Element, das an einer Seite einer Kunstharzschicht
angebracht ist. Die Kunstharzschicht ist eine flexible Schicht aus
einem isolierenden Kunstharz. Die Metallkugel 71 ist ein globales,
elektrisch leitendes und klebendes Element aus Lot.
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Bei
der vorliegenden Ausführungsform
wird diese Verdrahtungsverbindung zum Verbinden der Gate-Elektrode 6 mit
dem Verdrahtungselement 70 verwendet. Der Grund dafür ist, daß die Gate-Elektrode 6 in
dem Bereich, der vom Schutzring 7 umgeben ist, auf der
Oberseite oder der Unterseite des Siliziumchips 1 weiter
außen
liegt als die Source-Elektrode 2 und
es daher erforderlich ist, beim Anschluß für die Gate-Elektrode 6 einen
Abstand sicherzustellen, bei dem die Verteilung des elektrischen
Feldes für
den Schutzring 7 nicht beeinträchtigt wird. Bei der vorliegenden
Ausführungsform
wird diese Verdrahtungsverbindung und die elektrische Verbindung
zwischen der Source-Elektrode 2 und den elektrisch leitenden
Elementen 12 und 23 wie folgt erhalten:
Die
Source-Elektrode 2 und die elektrisch leitenden Elementen 12 und 23 werden über das
Source-Elektroden-Verbindungselement 4 elektrisch verbunden. Die
Größe der Verbindungsfläche des
Source-Elektroden-Verbindungselements 4 ist dabei auf die
Größe der Elektrodenfläche der
Source-Elektrode 2 beschränkt, so daß zwischen dem Verdrahtungselement 70 und
der Gate-Elektrode 6 ein Verdrahtungsverbindungsraum erhalten
wird.
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Das
Source-Elektroden-Verbindungselement 4 weist eine Plattendicke
auf, die den erforderlichen Isolationsabstand zwischen dem Schutzring 7 und
dem Verdrahtungselement 70 sicherstellt. Dadurch wird der
erforderliche Platz für
die Verdrahtungsverbindung zwischen dem Siliziumchip 1 und den
elektrisch leitenden Elementen 12 und 23 erhalten.
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Bei
der beschriebenen vorliegenden Ausführungsform entsteht, weil der
Halbleiterchip 11 (21) zwischen den elektrisch
leitenden Elementen 12 und 13 (22 und 23)
liegt, sowohl an der Oberseite als auch der Unterseite des Halbleiterchips 11 (21)
ein Wärmeabführkanal,
und da die Querschnittfläche des
Wärmeabführabschnitts
des Wärmeabführkanals
durch Verbinden des elektrisch leitenden Elements 12 (22)
mit der Installationsfläche
des elektrisch leitenden Elements 12 (22), mit
anderen Worten der Oberfläche
des isolierenden Elements 50 derart, daß die vom Halbleiterchip 11 (21)
und dem elektrisch leitenden Element 13 (23) gebildete
Laminatstruktur überspannt
wird, größer wird,
wird der an der Oberseite des Halbleiterchips 11 (21)
abgegebene und in Laminatrichtung der Laminatstruktur zur Oberseite
fließende
Wärmestrom 80 verteilt
und ein Wärmestrom 81 erzeugt,
der hinsichtlich der vertikalen Seite der Laminatrichtung der Laminatstruktur
in verschiedene Richtungen strömt
(in der Zeichnung ist nur der Wärmefluß in der
hinsichtlich der Laminatrichtung der Laminatstruktur senkrechten
und horizontalen Richtung gezeigt).
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Danach
wird der Wärmestrom 81 zusammen mit
dem Wärmestrom 82,
der von der Unterseite des Halbleiterchips 11 (21)
abgegeben wird und in der Laminatrichtung der Laminatstruktur nach
unten strömt, über das
isolierende Element 50 von einer Wärmeabführanordnung 60 nach
außen
abgegeben.
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Bei
der vorliegenden Ausführungsform
ist der thermische Widerstand sowohl des Halbleitermoduls 10 auf
der Seite des positiven Pols als auch des Halbleitermoduls 20 auf
der Seite des negativen Pols erheblich verringert, so daß ein Temperaturanstieg der
beiden Module vermieden wird. Die Erfinder haben empirisch verifiziert,
daß der
thermische Widerstand sowohl des Halbleitermoduls 10 auf
der Seite des positiven Pols als auch des Halbleitermoduls 20 auf
der Seite des negativen Pols auf etwa 1/3 des herkömmlichen
Werts verringert werden kann und daß auch der Temperaturanstieg
der beiden Module auf etwa 1/3 des herkömmlichen Werts verringert werden
kann (das heißt,
daß das
Kühlvermögen gegenüber dem
eines herkömmlichen
Produkts auf das etwa 1,5-fache erhöht ist).
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Durch
die Übernahme
der kompakten Halbleiterchips 11 und 21 können bei
der vorliegenden Ausführungsform
die Abmessungen des Halbleitermoduls 10 auf der Seite des
positiven Pols und des Halbleitermoduls 20 auf der Seite
des negativen Pols verringert werden, wobei die Temperatur der beiden Module
innerhalb des für
die Halbleiterchips 11 und 21 erlaubten Temperaturbereichs
bleibt, auch wenn durch Anheben der Standards für die Batterie 200 als der
in einem Kraftfahrzeug angebrachten Stromquelle der in die Halbleiterchips 11 und 21 fließende Strom
größer wird.
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Entsprechend
ist es mit der vorliegenden Ausführungsform
möglich,
einen sehr zuverlässigen, kompakten
und billigen Wechselrichter 100 zu schaffen, der auch in
einer Umgebung mit ausgeprägten Wärmezyklen
normal betrieben werden kann.
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Da
bei der vorliegenden Ausführungsform das
elektrisch leitende Element 12 (22) eine Brückenform
oder Bogenform hat, liegt die Querschnittfläche des Wärmeabführabschnitts des Wärmeabführkanals
in dem Bereich, der mit den Abmessungen zum Anbringen des Wechselrichters 100 in
einem Kraftfahrzeug in Einklang steht, wobei die Größe des elektrisch
leitenden Elements 12 (22) in der Laminatrichtung
oder vertikalen Richtung der vom Halbleiterchip 11 (21)
und dem elektrisch leitenden Element 12 (23) gebildeten
Laminatstruktur nicht mehr als erforderlich zunimmt.
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Mit
der vorliegenden Ausführungsform
wurde ein Beispiel beschrieben, bei dem die Wärmeabführanordnung 60 mit
der Unterseite des isolierenden Elements 50 verbunden ist.
Der thermische Widerstand sowohl des Halbleitermoduls 10 auf
der Seite des positiven Pols als auch des Halbleitermoduls 20 auf
der Seite des negativen Pols kann dadurch weiter auf etwa 1/2 des
herkömmlichen
Werts verringert werden, daß auch
mit den Oberseiten der elektrisch leitenden Elemente 12 und 22 eine ähnliche
Wärmeabführanordnung
verbunden wird.
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Mit
der vorliegenden Ausführungsform
wurde ein Beispiel beschrieben, bei dem die Verdrahtungsverbindung
zwischen der Gate-Elektrode 6 und dem Verdrahtungselement 70 durch
die Metallkugel 71 erfolgt. Die Verbindung zwischen der
Gate-Elektrode 6 und dem Verdrahtungselement 70 kann
jedoch gleichermaßen
durch das Anschließen
des einen Endes eines herausführenden
Kabels 72 (eines elektrisch leitenden Verdrahtungsmaterials)
mit der Gate-Elektrode 6 und dann, nach dem Herausziehen des
anderen Endes des Kabels 72 aus dem Halbleiterchip 11 oder 21 unter
Beibehaltung des erforderlichen Abstands zum Schutzring 7,
Anschließen
des anderes Endes an das Verdrahtungselement 70 erfolgen.
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Wie
in den 10 bis 13 gezeigt,
kann die Gate-Elektrode 6 in dem vom Schutzring 7 umgebenen
Gebiet auch weiter innen liegen als die Source-Elektrode 2.
In einem solchen Fall kann das eine Ende des herausführenden
Kabels 72, dessen anderes Ende mit der Gate-Elektrode 6 verbunden
ist, dadurch mit dem Verdrahtungselement 70 verbunden werden,
daß es
mittels entweder eines in einer Kerbe 74 im Source-Elektroden-Verbindungselement
liegenden herausführenden
Abschnitts 73, eines aus einer Kombination einer Nut 74 mit
einer Öffnung 75 gebildeten
herausführenden
Abschnitts 73 oder eines durch Durchlöchern gebildeten herausführenden Abschnitts
herausgeführt
wird. Wenn die elektrisch leitenden Elemente 12 und 23 ohne
Verwendung des Source-Elektroden-Verbindungselements 4 verbunden
werden sollen, kann durch Versehen der elektrisch leitenden Elemente 12 und 23 mit
einem ähnlichen
herausführenden
Abschnitt eine ähnliche
Anschlußverbindung
hergestellt werden.
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In
der Beschreibung bezeichnen die Bezugszeichen die folgenden Teile:
10 ...
Halbleitermodul auf der Seite des positiven Pols, 11, 21 ...
Halbleiterchips, 12, 13, 22, 23 ...
elektrisch leitende Elemente, 14, 15, 24, 25 ...
elektrisch leitender Kleber, 20 ... Halbleitermodul auf
der Seite des negativen Pols, 30 ... Schienenanordnung, 40 Wechselstromschienen, 50 ...
isolierendes Element, 60 ... Wärmeabführelement.
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Mit
der beschriebenen Ausführungsform
läßt sich
ein Halbleitermodul schaffen, dessen Kühlvermögen erhöht ist. Mit der vorliegenden
Ausführungsform
ist es auch möglich,
einen sehr zuverlässigen, kompakten
und billigen Umrichter zu schaffen, der auch in einer Umgebung mit
ausgeprägten
Wärmezyklen
normal betrieben werden kann.