DE602004002012T2

DE602004002012T2 - Träger für optische Datenspeicherung

Info

Publication number: DE602004002012T2
Application number: DE602004002012T
Authority: DE
Inventors: Osama Akutsu; Masaru Hatakeyama; Satoru Yamashita
Original assignee: Victor Company of Japan Ltd
Current assignee: Victor Company of Japan Ltd
Priority date: 2003-03-27
Filing date: 2004-02-12
Publication date: 2006-12-14
Anticipated expiration: 2024-02-13
Also published as: CN1571044A; EP1463046A2; EP1463046A3; CN1287371C; EP1463046B1; JP2004306583A; DE602004002012D1; US20040194122A1; US7096479B2

Description

Hintergrund der Erfindung
GEBIET DER ERFINDUNG
Die vorliegende Erfindung betrifft ein optisches Datenaufzeichnungsmedium, insbesondere betrifft sie eine optische Platte, bei welcher das Aufzeichnen oder Löschen von Informationen durch Änderung der Konfiguration von Atomen, aus welchen eine Aufzeichnungsschicht des optischen Datenaufzeichnungsmediums besteht, durch Einstrahlung von Licht erfolgt.
BESCHREIBUNG DES STANDES DER TECHNIK
Ein so genanntes optisches Phasenänderungs-Datenaufzeichnungsmedium ist allgemein als eines der optischen Speichermedien bekannt, welche es ermöglichen, Informationen durch Einstrahlung eines Laserstrahls aufzuzeichnen, wiederzugeben oder zu löschen. Ein solches optisches Phasenänderungs-Datenaufzeichnungsmedium nutzt den Übergang zwischen kristallin und amorph oder den Übergang zwischen zwei kristallinen Phasen eines Kristalls 1 und eines Kristalls 2.
Eine dünne Schicht aus einer Chalkogen-Systemlegierung wird üblicherweise als ein Material für eine Aufzeichnungsschicht eines optischen Phasenänderungs-Informationsaufzeichnungsmediums verwendet. Eine dünne Schicht aus einer GeSbTe-Systemlegierung oder einer AgInSbTe-Systemlegierung unter den Chalkogen-Systemlegierungen wird bereits in der Praxis für ein optisches Informationsaufzeichnungsmedium wie etwa eine wiederbeschreibbare optische Platte verwendet.
Ein Aufzeichnungsprinzip für eine solche wiederbeschreibbare optische Platte besteht in Folgendem: Eine Aufzeichnungsschicht liegt unmittelbar nach der Abscheidung in einem amorphen Zustand vor und besitzt ein geringes Reflexionsvermögen. Daher wird die Aufzeichnungsschicht der optischen Platte durch Einstrahlung eines Laserstrahls zunächst aufgeheizt, und danach wird der gesamte Bereich der Aufzeichnungsschicht in einen kristallinen Zustand überführt, der ein hohes Reflexionsvermögen aufweist. Anders ausgedrückt wird die optische Platte initialisiert. Allgemein erfolgt diese Initialisierung durch Einstrahlung eines konvergierten Laserstrahls mit einem Durchmesser von einigen μm bis 100 μm auf die optische Platte, welche sich dreht.
Durch Einstrahlung eines Laserstrahls auf die initialisierte optische Platte wird ein Teil der Aufzeichnungsschicht lokal aufgeschmolzen. Danach wird die optische Platte schnell heruntergekühlt. Dies hat zur Folge, dass sich die Phase des Teils der Aufzeichnungsschicht in einen amorphen Zustand ändert. Dementsprechend ändern sich optische Eigenschaften wie etwa das Reflexionsvermögen, das Transmissionsvermögen und der Doppelbrechungsindex der Aufzeichnungsschicht entsprechend der Phasenänderung, und dies hat eine Aufzeichnung von Informationen zum Ergebnis.
Die Wiedergabe erfolgt durch Erkennen des Reflexionsunterschieds zwischen kristallin und amorph oder der Phasendifferenz zwischen diesen durch Einstrahlung eines schwächeren Laserstrahls als dem für die Aufzeichnung.
Ferner erfolgt das Wiederbeschreiben durch Überschreiben einer zuvor aufgezeichneten Aufzeichnungsmarke ohne einen Löschprozess zu durchlaufen, und zwar durch Einspeisen einer Aufzeichnungsspitzenleistung, die einer niederenergetischen Löschleistung überlagert wird, durch welche eine Kristallisation bewirkt wird, in die Aufzeichnungsschicht.
Für die Initialisierung ist eine Laservorrichtung mit einer relativ hohen Ausgangsleistung wesentlich. Bei einer solchen Laservorrichtung mit einer hohen Ausgangsleistung wird der Strahldurchmesser verringert, sodass sich die Strahldichte auch bei einer schwächeren Laserleistung erhöht. Bis jetzt ist jedoch extrem viel Zeit erforderlich, um eine optische Platte durch Abtasten mit einem Laserstrahl mit einem Strahldurchmesser von einigen μm bis 100 μm zu initialisieren.
Dementsprechend ist ein GeSbTe-Systemmaterial entwickelt worden, welches durch eine geringere Laserleistung initialisiert werden kann und welches hergestellt wird, indem GeTe und Ge₂Sb3 kombiniert werden, die kein eutektisches System darstellen. Nach der Entwicklung des GeSbTe-Systemmaterials wurde ein AgInSbTe-Systemmaterial entwickelt. Für die Initialisierung des AgInSbTe-Systemmaterials ist eine stärkere Laserleistung als die Laserleistung zum Initialisieren von GeSbTe-Systemmaterialien erforderlich.
Ein Laserstrahl wurde dahingehend weiterentwickelt, dass er eine kürzere Wellenlänge und eine höhere Ausgangsleistung aufweist. Folglich wurde ein Initialisierungsgerät mit einer eingebauten Laservorrichtung mit hoher Leistung eingeführt, seitdem die zuvor erwähnten Materialien des GeSbTe-Systems und AgInSbTe-Systems entwickelt wurden. In diesem Zusammenhang wurde bisher ein GeSbTe-Systemmaterial mit einem eutektischen System entwickelt, welches in der Vergangenheit kaum zu initialisieren war.
Was die GeSbTe-Systemmaterialien betrifft, so ist, außer was die Materialien angeht, die praktisch angewandt werden, allgemein bekannt, dass eine eutektische Zusammensetzung aus Sb und Te aus dem kristallinen Zustand in den amorphen Zustand und umgekehrt übergeht.
Die offengelegten japanischen Patentanmeldungen 1-115685/1989, 1-251342/1989 und 1-303643/1989 offenbaren den Zusammensetzungsbereich bei Hinzufügen eines dritten Elements, insbesondere bei Hinzufügen von Ge zu einer eutektischen Zusammensetzung aus Sb und Te, die zu 70 Atomprozent aus Sb und zu 30 Atomprozent aus Te besteht.
Ferner offenbart die offengelegte japanische Patentanmeldung 2000-313170, dass In (Indium) zu einer eutektischen Zusammensetzung hinzugefügt wird, um deren Eigenschaften zu verbessern.
Was ein Aufzeichnungsverfahren für eine optische Platte betrifft, die aus einem Phasenänderungsmaterial besteht, so erfolgt die Aufzeichnung unter Verwendung eines roten Laserstrahls mit einer Wellenlänge von etwa 650 nm, der zur Aufzeichnung von DVD-ROM-Platten genutzt wird, oder unter Verwendung eines Laserstrahls mit einer Wellenlänge von mehr als 650 nm. Kürzlich wurde jedoch ein Licht emittierendes Halbleiter-Laserelement mit einer Wellenlänge von etwa 400 nm auf dem Markt eingeführt.
Ferner wurde eine numerische Apertur, oder Blende, (im Nachfolgenden als NA bezeichnet) einer Objektivlinse erhöht, infolgedessen ein Lichtstrahl noch stärker konvergiert werden kann.
Durch die kombinierte Nutzung eines Laserstrahls mit einer kürzeren Wellenlänge und einer Objektivlinse mit einer höheren NA wird der Fleckdurchmesser eines Laserstrahls kleiner, und folglich kann die Aufzeichnungsdichte einer optischen Platte weiter erhöht werden. Demzufolge wurde ein optisches Plattensystem untersucht, das einen blauen Laserstrahl nutzt.
Kürzlich wurden Spezifikationen für eine optische Platte, eine so genannte Blu-ray Disc, formuliert, auf welcher aufgezeichnet oder welche wiedergegeben wird, indem ein blauvioletter Laserstrahl mit einer Wellenlänge von 405 nm und eine Objektivlinse mit einer NA von 0,85 genutzt werden. Eine solche Blu-ray Disc zieht, als nächste Generation optischer Platten, die öffentliche Aufmerksamkeit auf sich.
In diesem Zusammenhang wird für eine optische Platte, welche die Realisierung einer hohen Aufzeichnungsdichte unter Nutzung eines blauen Laserstrahls ermöglicht, wobei eine durch einen blauen Laserstrahl realisierte Aufzeichnungsdichte höher ist als eine durch einen herkömmlichen roten Laserstrahl realisierte Aufzeichnungsdichte, nicht nur gefordert, dass die optische Platte mit einem blauen Laserstrahl mit einer kürzeren Wellenlänge verwendet werden kann, sondern auch, dass auf dieser hinreichend aufgezeichnet werden kann, selbst mit einer geringen Impulsbreite, und ferner, dass diese wiederbeschreibbar ist.
Was die Materialien des GeSbTe-Systems in der Nähe einer aus herkömmlichen Materialien bestehenden eutektischen Zusammensetzung betrifft, so ist experimentell bestätig worden, dass die GeSbTe-Systemmaterialien in gewissem Umfang eine Aufzeichnung und Wiedergabe unter Verwendung eines optischen Plattensystems, das mit einem blauen Laserstrahl ausgestattet ist, möglich machen.
Ferner ist, um die Aufzeichnungs- und Wiedergabeeigenschaften zu verbessern, außerdem experimentell bestätig worden, dass durch Regulierung der Kristallisationsgeschwindigkeit durch Anpassung des jeweiligen Mengenanteils von Sb und Te der Elemente, aus denen die GeSbTe-Systemmaterialien zusammengesetzt sind, eine Lineargeschwindigkeit, die der Aufzeichnung entspricht, geändert werden kann.
Ferner beeinträchtigt die Menge an Ge stark die Stabilität der Aufzeichnungsmaterialien. Wenn die Menge an Ge innerhalb eines moderaten Bereichs liegt, kann die Wiedergabebeständigkeit gegenüber einem blauen Laserstrahl, der einen kleinen Strahldurchmesser und eine hohe Energiedichte aufweist, verbessert werden.
Um jedoch eine Aufzeichnung mit höherer Dichte auszuführen, ist es wesentlich, die Aufzeichnungs- und Wiedergabeeigenschaften noch weiter zu verbessern. Anders ausgedrückt ist für eine Aufzeichnung mit höherer Dichte sowohl eine Erhöhung der Wiedergabeleistung als auch die Reduzierung des Zitterns, fachsprachlich Jitter, wesentlich. Dem steht entgegen, dass es im Falle einer optischen Platte, bei der das Aufzeichnungsmaterial aus GeSbTe-Systemmaterialien hergestellt ist, eine charakteristische Grenze gibt, was die Erhöhung der Wiedergabeleistung und die Reduzierung von Jitter betrifft.
Mit den bestandteilmäßigen Zusammensetzungen, die in den vorstehend erwähnten, offengelegten japanischen Patentanmeldungen offenbart sind, ist es unmöglich, ein solches optisches Datenaufzeichnungsmedium zu erhalten, wie es durch die vorliegende Erfindung realisiert werden soll, welches hinreichende Aufzeichnungs- und Wiedergabeeigenschaften sowie einen hinreichenden Kontrast und ferner eine höhere Beständigkeit gegenüber Wiedergabelicht aufweist.
Zusammenfassung der Erfindung
Angesichts der vorstehend erwähnten Probleme des Standes der Technik besteht demgemäß eine Aufgabe der vorliegenden Erfindung darin, ein optisches Informationsaufzeichnungsmedium zur Verfügung zu stellen, welches ausgezeichnete Eigenschaften bezüglich Aufzeichnung und Wiedergabe, die mittels eines optischen Plattensystem mit einem integrierten blauen Laserstrahl erfolgen, eine höhere Beständigkeit gegenüber Wiedergabelicht, einen höheren Kontrast und eine geringere Qualitätsminderung durch Wiederbeschreiben zeigt.
Um die vorstehende Aufgabe zu lösen, wird gemäß einem Aspekt der vorliegenden Erfindung ein optisches Datenaufzeichnungsmedium zur Aufzeichnung von Informationen zur Verfügung gestellt, welches ein Substrat sowie eine optische Phasenänderungs-Aufzeichnungsschicht umfasst, die als eine von mehreren auf dem Substrat ausgebildeten Schichten vorgesehen ist, wobei die optische Phasenänderungs-Aufzeichnungsschicht ferner zumindest Ti, In, Ge, Sb und Te enthält, wobei, wenn die jeweils enthaltene Menge an Ti, In, Ge, Sb und Te als v, w, x, y und z, jeweils in Atomprozent, definiert wird, die jeweils enthaltene Menge v, w, x, y und z in Atomprozent den folgenden Beziehungen genügt: 0,3 ≤ v ≤ 4; 0,3 ≤ w ≤ 3; 3,4 ≤ x ≤ 14,5; 2,1 ≤ y/z ≤ 4,0 und v + w + x + y + z ≤ 100.
Andere Aufgaben und weitere Merkmale der vorliegenden Erfindung werden anhand der folgenden detaillierten Beschreibung deutlich werden, wenn diese in Verbindung mit den beigefügten Zeichnungen gelesen wird.
Kurze Beschreibung der Zeichnungen
1 stellt eine Querschnittsansicht dar, welche einen grundlegenden Aufbau eines optischen Informationsaufzeichnungsmediums (einer optischen Platte) gemäß einer Ausführungsform der vorliegenden Erfindung zeigt.
2 zeigt ein Muster der Aufzeichnungsstrategie gemäß der vorliegenden Erfindung.
3 stellt eine Querschnittsansicht dar, die einen grundlegenden Aufbau einer weiteren optischen Platte gemäß einer weiteren Ausführungsform der vorliegenden Erfindung zeigt.
4 stellt eine zusammenfassende Tabelle dar, welche eine Wiedergabeverschlechterung sowie den Jitter in Bezug auf 18 Proben optischer Platten entsprechend der vorliegenden Erfindung zeigt.
5 stellt eine Tabelle dar, welche als Aufzeichnungsbedingungen die Aufzeichnungsleistung und -strategie gemäß einer jeweiligen Ausführungsform der vorliegenden Erfindung zeigt.
6 stellt eine Vergleichstabelle dar, welche einen C/N-Wert jeweils "unmittelbar nach" sowie "5 Minuten nach" Beginn einer Standmoduswiedergabe in Bezug auf eine jeweilige Probe entsprechend der jeweiligen Ausführungsform der vorliegenden Erfindung zeigt.
7 stellt eine Tabelle dar, welche die bestandteilmäßige Zusammensetzung, die Beständigkeit gegenüber Wiedergabelicht sowie den mittleren Anfangsjitter in Bezug auf eine jeweilige optische Platte der Proben Nr. "2" und "2 – v1" bis "2 – v7" entsprechend einer Ausführungsform eins der vorliegenden Erfindung zeigt.
8 stellt eine Vergleichstabelle dar, welche die bestandteilmäßige Zusammensetzung, den Jitter sowie die Beständigkeit gegenüber Wiedergabelicht in Bezug auf die jeweilige Probe entsprechend der Ausführungsform eins der vorliegenden Erfindung zeigt.
9 stellt eine Vergleichstabelle für die Proben Nr. "2", "2 – v1" und "2 – v11" entsprechend der Ausführungsform eins dar, welche die bestandteilmäßige Zusammensetzung, den mittleren Anfangsjitter, den Jitter nach einer zweiten Aufzeichnung sowie die aushaltbare Wiedergabeleistung zeigt.
10 stellt eine Tabelle dar, welche die bestandteilmäßige Zusammensetzung, die Beständigkeit gegenüber Wiedergabelicht sowie den mittleren Anfangsjitter in Bezug auf eine jeweilige optische Platte der Proben Nr. "4" und "4 – v1" bis "4 – v7" entsprechend einer Ausführungsform zwei der vorliegenden Erfindung zeigt.
11 stellt eine Tabelle dar, welche die bestandteilmäßige Zusammensetzung, den Jitter sowie die Beständigkeit gegenüber Wiedergabelicht in Bezug auf die jeweilige Probe entsprechend der Ausführungsform zwei der vorliegenden Erfindung zeigt.
12 stellt eine Tabelle dar, welche die bestandteilmäßige Zusammensetzung, die Beständigkeit gegenüber Wiedergabelicht sowie den mittleren Anfangsjitter in Bezug auf eine jeweilige optische Platte der Proben Nr. 7 und "7 – v1" bis "7 – v7" entsprechend einer Ausführungsform drei der vorliegenden Erfindung zeigt.
13 stellt eine Tabelle dar, welche die bestandteilmäßige Zusammensetzung, den Jitter sowie die Beständigkeit gegenüber Wiedergabelicht in Bezug auf die jeweilige Probe entsprechend der Ausführungsform drei der vorliegenden Erfindung zeigt.
14 stellt eine Tabelle dar, welche die bestandteilmäßige Zusammensetzung, die Beständigkeit gegenüber Wiedergabelicht sowie den mittleren Anfangsjitter in Bezug auf eine jeweilige optische Platte der Proben Nr. 17 und "17 – v1" bis "17 – v7" entsprechend einer Ausführungsform vier der vorliegenden Erfindung zeigt.
15 stellt eine Tabelle dar, welche die bestandteilmäßige Zusammensetzung, den Jitter sowie die Beständigkeit gegenüber Wiedergabelicht in Bezug auf die jeweilige Probe entsprechend der Ausführungsform vier der vorliegenden Erfindung zeigt.
16 stellt eine Tabelle dar, welche die bestandteilmäßige Zusammensetzung, den Jitter sowie die Beständigkeit gegenüber Wiedergabelicht in Bezug auf eine jeweilige optische Platte der Proben Nr. "2 – v20" bis "2 – v26" entsprechend einer Ausführungsform fünf der vorliegenden Erfindung zeigt.
17 stellt eine Tabelle dar, welche die bestandteilmäßige Zusammensetzung, den Jitter sowie die Beständigkeit gegenüber Wiedergabelicht in Bezug auf eine jeweilige optische Platte der Proben Nr. "4 – v20" bis "4 – v26" entsprechend einer Ausführungsform sechs der vorliegenden Erfindung zeigt.
18 stellt eine Tabelle dar, welche die bestandteilmäßige Zusammensetzung, den Jitter sowie die Beständigkeit gegenüber Wiedergabelicht in Bezug auf eine jeweilige optische Platte der Proben Nr. "7 – v20" bis "7 – v26" entsprechend einer Ausführungsform sieben der vorliegenden Erfindung zeigt.
19 stellt eine Tabelle dar, welche die bestandteilmäßige Zusammensetzung, den Jitter sowie die Beständigkeit gegenüber Wiedergabelicht in Bezug auf eine jeweilige optische Platte der Proben Nr. "17 – v20" bis "17 – v26" entsprechend einer Ausführungsform acht der vorliegenden Erfindung zeigt.
20 stellt eine Tabelle dar, welche die bestandteilmäßige Zusammensetzung, den Jitter sowie die Beständigkeit gegenüber Wiedergabelicht bei Zusetzung von 1 eines Zusatzelements in Bezug auf die Probe Nr. "2 – v11" der Ausführungsform eins der vorliegenden Erfindung zeigt.
21 stellt eine Tabelle dar, welche die bestandteilmäßige Zusammensetzung, den Jitter sowie die Beständigkeit gegenüber Wiedergabelicht bei Zusetzung von 1,1 % eines Zusatzelements in Bezug auf die Probe Nr. "2 – v11" der Ausführungsform eins der vorliegenden Erfindung zeigt.
22 stellt eine Tabelle dar, welche die bestandteilmäßige Zusammensetzung, den Jitter sowie die Beständigkeit gegenüber Wiedergabelicht bei Zusetzung von 1,2 % eines Zusatzelements in Bezug auf die Probe Nr. "2 – v11" der Ausführungsform eins der vorliegenden Erfindung zeigt.
Detaillierte Beschreibung der bevorzugten Ausführungsformen
Mit der vorliegenden Erfindung kann ein optisches Informationsaufzeichnungsmedium zur Verfügung gestellt werden, das in seinen Eigenschaften bezüglich Aufzeichnung und Wiedergabe mittels eines optischen Plattensystems mit einem integrierten blauen Laserstrahl verbessert ist, das in der Lage ist, einem Wiedergabelicht mit einer höheren Ausgangsleistung standzuhalten, das einen höheren Kontrast zeigen kann, auf welchem mit einem geringeren Jitter aufgezeichnet werden kann und bei dem eine Erhöhung des Jitters unterdrückt werden kann, selbst wenn es einige wenige Male wiederbeschrieben wird, wobei diese Merkmale mit den herkömmlichen Aufzeichnungsmaterialien des GeSbTe-Systems niemals erreicht worden sind.
Mit Bezugnahme auf die beigefügten Zeichnungen wird als nächstes eine bevorzugte Ausführungsform eines optischen Datenaufzeichnungsmediums gemäß der vorliegenden Erfindung beschrieben. Zuerst werden allgemeine Beschreibungen erklärt, die allen Ausführungsformen gemein sind. Eine nachstehend erwähnte Ausführungsform stellt ein bevorzugtes Beispiel der vorliegenden Erfindung dar. Daher sollte verstanden werden, dass der Schutzumfang der vorliegenden Erfindung nicht auf die nachstehend erwähnte Ausführungsform beschränkt ist, soweit dies in der Beschreibung nicht anderweitig spezifiziert wird, obgleich verschiedene Grenzen, die technisch zu bevorzugen sind, angegeben sind.
1 stellt eine Querschnittsansicht dar, welche einen grundlegenden Aufbau eines optischen Informationsaufzeichnungsmediums gemäß einer Ausführungsform der vorliegenden Erfindung zeigt.
2 zeigt ein Muster der Aufzeichnungsstrategie gemäß der vorliegenden Erfindung.
3 stellt eine Querschnittsansicht dar, die einen grundlegenden Aufbau eines weiteren optischen Informationsaufzeichnungsmediums gemäß einer weiteren Ausführungsform der vorliegenden Erfindung zeigt.
In 1 besteht ein optisches Informationsaufzeichnungsmedium (im Nachfolgenden als optische Platte bezeichnet) 10 gemäß einer Ausführungsform der vorliegenden Erfindung aus einem Substrat 1, einer auf dem Substrat 1 ausgebildeten Reflexionsschicht 2, einer auf der Reflexionsschicht 2 ausgebildeten ersten Schutzschicht 3, einer auf der ersten Schutzschicht 3 ausgebildeten Aufzeichnungsschicht 4, einer auf der Aufzeichnungsschicht 4 ausgebildeten zweiten Schutzschicht 5, einer auf der zweiten Schutzschicht 5 ausgebildeten Haftschicht 6 sowie einer Abdeckschicht 7. Diese werden nacheinander in Lagen aufgebracht. Die optische Platte 10 entsprechend der Ausführungsform der vorliegenden Erfindung weist die Aufzeichnungsschicht 4 oberhalb des Substrats 1 auf. Die Aufzeichnung von Informationen auf der optischen Platte 10 oder das Löschen von Informationen von dieser erfolgt durch Einstrahlen eines Laserstrahls L auf die Aufzeichnungsschicht 4 durch die entgegengesetzt dem Substrat 1 vorgesehene Abdeckschicht 7 hindurch, um so die Konfiguration von Atomen, aus welchen die Aufzeichnungsschicht 4 besteht, zu ändern.
Der Laserstrahl L tritt in die optische Platte 10 durch die auf dieser vorgesehene Abdeckschicht 7 hindurch ein. Der Laserstrahl L kann jedoch auch durch die Seite des Substrats 1 hindurch eingestrahlt werden, ohne dass die Abdeckschicht 7 vorgesehen wird. Für den Fall, dass das Reflexionsvermögen ausreichend hoch ist, kann ein Aufbau ohne die Reflexionsschicht 2 anwendbar sein.
3 stellt eine Querschnittsansicht einer weiteren optischen Platte gemäß einer weiteren Ausführungsform der vorliegenden Erfindung dar, bei welcher ein Laserstrahl auf der entgegengesetzten Seite im Vergleich zu der in 1 gezeigten optischen Platte 10 eingestrahlt wird. In 3 besteht eine optische Platte 20 aus einem Substrat 1, einer auf dem Substrat 1 ausgebildeten zweiten Schutzschicht 5, einer auf der zweiten Schutzschicht 5 ausgebildeten Aufzeichnungsschicht 4, einer auf der Aufzeichnungsschicht 4 ausgebildeten ersten Schutzschicht 3, einer auf der ersten Schutzschicht 3 ausgebildeten Reflexionsschicht 2 und einer schützenden Deckschicht 8. Diese werden nacheinander in Lagen aufgebracht.
Was das Material für das Substrat 1 der optischen Platten 10 und 20 betrifft, so kann entweder Glas, Kunststoff oder Glas mit einem darauf vorgesehenen, mittels Licht aushärtbaren Kunststoff verwendet werden. Im Hinblick auf die Produktivität, einschließlich der Kosten, wird als Substrat jedoch ein Kunststoff bevorzugt, insbesondere wird am stärksten Polycarbonat-Kunststoff bevorzugt.
Was ein Material für die Reflexionsschicht 2 betrifft, so gibt es dafür ein Metall mit einem Reflexionsvermögen gegenüber Licht wie etwa Al, Au und Ag, eine Legierung, die aus einem der Metalle als Hauptbestandteil besteht und ein zusätzliches Element wie etwa Ti, Cr, Pd und Cu enthält, sowie eine Mischung aus einem solchen Metall wie Al, Au und Ag mit einer Metallverbindung wie etwa einem Nitrid, Oxid und Chalkogenid eines solchen Metalls wie Al und Si. Ein solches Metall wie Al, Au und Ag sowie eine Legierung, die das Metall als Hauptbestandteil enthält, weist ein hohes Reflexionsvermögen für Licht auf und macht es möglich, die Wärmeleitfähigkeit zu erhöhen, sodass das Metall oder die Legierung für die Reflexionsschicht 2 bevorzugt wird. Die Dicke der Reflexionsschicht 2 beträgt mehr als 5 nm und weniger als etwa 300 nm.
Durch Anordnung der Aufzeichnungsschicht 4 in Zwischenlage zwischen der ersten und der zweiten Schutzschicht 3 und 5 als eine dielektrische Schicht kann eine thermische Verformung des Substrats 1 und der Aufzeichnungsschicht 4, die durch Einstrahlungswärme aufgrund eines Laserstrahls bei der Aufzeichnung bewirkt wird und zu einer Verschlechterung der Aufzeichnungseigenschaften führt, verhindert werden.
Durch Vorsehen der ersten und zweiten Schutzschicht 3 und 5 wie zuvor erwähnt, werden das Substrat 1 sowie die Aufzeichnungsschicht 4 effektiv vor Hitze geschützt, und aufgrund optischer Interferenzeffekte wird der Signalkontrast bei der Wiedergabe effektiv verbessert.
Ferner sind die erste und die zweite Schutzschicht 3 und 5 effektiv im Hinblick auf die Aktivierung der Kristallisation der Aufzeichnungsschicht 4 und führen zu einer Verbesserung eines Löschverhältnisses.
Als erste und zweite Schutzschicht 3 und 5 kann eine dünne anorganische Schicht aus ZnS-SiO₂, Si₃N₄ oder Al₂O₃ zur Anwendung kommen.
Insbesondere ist als erste und zweite Schutzschicht 3 und 5 eine dünne Schicht aus einem Metall oder einem Oxid eines Halbleiters wie etwa Si, Ge, Al, Ti, Zr und Ta, eine dünne Schicht aus einem Metall oder einem Nitrid eines Halbleiters wie etwa Si, Ge und Al, eine dünne Schicht aus einem Metall oder einem Karbid eines Halbleiters wie etwa Ti, Zr, Hf und Si, eine dünne Schicht aus einem Metall oder einem Sulfid eines Halbleiters wie etwa ZnS, In₂S₃, TaS₄ und GeS₂ sowie eine dünne Schicht aus einer Mischung aus mehr als zwei der vorstehend aufgeführten Verbindungen wünschenswert, da diese eine hohe Wärmebeständigkeit aufweist und chemisch stabil ist.
Ferner ist für die erste und zweite Schutzschicht 3 und 5 ein Material vorzuziehen, welches eine Atomdiffusion ausschließt. Die zuvor erwähnten Metalle oder Oxide, Sulfide, Nitride oder Carbide der Halbleiter brauchen nicht notwendigerweise eine stöchiometrische Zusammensetzung aufzuweisen. Diese sind jedoch effektiv zu nutzen, indem ihre Zusammensetzungen derart reguliert werden oder sie derart gemischt werden, dass ein Brechungsindex reguliert wird.
Ferner wird eine solche erste und zweite Schutzschicht 3 und 5 bevorzugt, die aus den zuvor erwähnten Metallen oder Oxiden, Sulfiden, Nitriden oder Carbiden der zuvor erwähnten Halbleiter besteht, welche mit einem Fluorid wie etwa MgF₃ gemischt sind, da die Restspannung einer solchen Schicht oder Lage klein ist. Insbesondere ist weitergehend eine gemischte Schicht aus ZnS und SiO₂ zu bevorzugen, und zwar weil sich bei dieser die Aufzeichnungsempfindlichkeit, ein C/N-Wert (Träger-zu-Rausch-Verhältnis) und ein Löschverhältnis selbst durch mehrfach wiederholtes Aufzeichnen und Löschen kaum verschlechtern. Die Dicke der ersten und der zweiten Schutzschicht 3 und 5 beträgt etwa 5 nm bis 200 nm.
Darüber hinaus ist für die erste Schutzschicht 3 eine Dicke von 5 nm bis 30 nm wünschenswert, da sich damit Aufzeichnungseigenschaften wie etwa der C/N-Wert und das Löschverhältnis kaum verschlechtern und eine mehrfache stabile Wiederbeschreibung möglich ist.
Andererseits ist für die zweite Schutzschicht 5 eine Dicke von 30 nm bis 200 nm wünschenswert, da die zweite Schutzschicht 5 schwer von der Aufzeichnungsschicht 4 oder der Haftschicht 6 zu entfernen sein soll und ferner kaum solche Defekte wie Klappern erzeugen soll. Es ist außerdem akzeptabel, dass die erste und die zweite Schutzschicht 3 und 5 aus zueinander unterschiedlichen Verbindungen und nicht aus identischen Verbindungen bestehen.
Eine Dicke der Aufzeichnungsschicht 4 ist nicht spezifisch definiert. Die Dicke beträgt jedoch im Allgemeinen 3 nm bis 100 nm. Insbesondere ist ein Bereich zwischen mehr als 3 nm und weniger als 30 nm wünschenswerter, da eine solche Aufzeichnungsschicht eine hohe Aufzeichnungs- und Löschempfindlichkeit aufweist und eine mehrfache Aufzeichnung und Löschung ermöglicht.
Was eine Lichtquelle für die optischen Platten 10 und 20 gemäß der vorliegenden Erfindung betrifft, so wird vorzugsweise ein Laserstrahl genutzt, wobei eine Wellenlänge des Laserstrahls im Bereich zwischen 830 nm im Bereich des nahen Infrarot und 300 nm im ultravioletten Bereich liegt. Ein Laserstrahl, bei welchem die Wellenlänge des Primärlichts verkürzt wird, indem ein sekundäre Harmonische erzeugendes Element (SHG-Element) genutzt wird, kann ebenfalls als Lichtquelle verwendet werden.
Bezug nehmend auf 2 wird als nächstes eine Aufzeichnungsstrategie erklärt. Die Aufzeichnung auf einer optischen Platte 10 gemäß der vorliegenden Erfindung wird ausgeführt, indem eine amorphe Aufzeichnungsmarke in einer Aufzeichnungsschicht 4 ausgebildet wird, nachdem die Aufzeichnungsschicht 4 durch Einstrahlung eines Laserstrahlimpulses oder dergleichen auf die in einem kristallinen Zustand vorliegende Aufzeichnungsschicht 4 aufgeheizt wird und schnell abgekühlt wird.
Praktisch wird durch Einspeisen einer Aufzeichnungsspitzenleistung P1 in die Aufzeichnungsschicht 4, die einer Löschleistung P2 mit geringerer Energie überlagert wird, welche eine Kristallisation in der Aufzeichnungsschicht 4 induziert, eine zuvor aufgezeichnete Aufzeichnungsmarke überschrieben, ohne dass ein Löschprozess erfolgt. An dieser Stelle wird der Aufzeichnungslaserimpuls in eine Mehrzahl von Impulsen aufgeteilt, deren Länge kürzer als die einer Aufzeichnungsmarke ist.
Bei der vorliegenden Ausführungsform der vorliegenden Erfindung wird mittels Einstrahl-Überschreibverfahren auf einer optischen Platte 10 aufgezeichnet, wobei der optische Plattenlaufwerktester, Modell LM330A, hergestellt von der Shibasoku Co., Ltd., verwendet wird, der mit einer Laserdiode ausgestattet ist, die einen Laserstrahl mit einer Wellenlänge von 405 nm emittiert, sowie mit einer optischen Linse oder Objektivlinse mit einer numerischen Apertur (NA) von 0,85. Als Initialisierungsvorrichtung wird der Initialisierer Modell LK201A, hergestellt von der Shibasoku Co., Ltd., verwendet.
Es ist experimentell bestätigt, dass ein GeSbTe-Systemmaterial in der Nähe einer eutektischen Zusammensetzung bis zu einem gewissen Umfang unter Verwendung eines mit einem blauen Laserstrahl ausgestatteten optischen Plattensystems zur Aufzeichnung und Wiedergabe genutzt werden kann.
Ferner ist außerdem experimentell bestätigt, dass eine Kristallisationsgeschwindigkeit reguliert werden kann und eine entsprechende Lineargeschwindigkeit bei der Aufzeichnung geändert werden kann, indem der jeweilige Mengenanteil von Sb und Te unter den Elementen, aus welchen ein GeSbTe-Systemmaterial besteht, derart angepasst wird, dass die Aufzeichnungs- und Wiedergabeeigenschaften verbessert werden.
Ferner ist außerdem experimentell bestätigt, dass die Stabilität eines Aufzeichnungsmaterials durch die Menge an Ge stark beeinflusst und die Wiedergabebeständigkeit gegenüber einem blauen Laserstrahl, der einen kleinen Strahldurchmesser und eine hohe Energiedichte aufweist, erhöht werden kann, wenn die Menge an Ge in einem moderaten Bereich liegt.
Folglich wurden 18 Proben von optischen Platten hergestellt und experimentell untersucht, wobei jede Aufzeichnungsschicht 4 der 18 Proben aus dem GeSbTe-Systemmaterial hergestellt war. Danach wurden von den 18 Proben 12 Proben ausgewählt, wobei die 12 Proben die Bedingungen erfüllten, dass eine Wiedergabeverschlechterung weniger als 0,2 dB ausmacht und ein Anfangsjitter weniger als 9 % beträgt. Bei diesen 12 Proben scheint es, dass sie für einen blauen Laserstrahl geeignet sind und dass auf diesen hinreichend aufgezeichnet werden kann, selbst mit einer kurzen Impulsbreite, und dass sie wiederbeschreibbar sind, solange ihre mengenmäßige Zusammensetzung in Atomprozent an GeSbTe und das Verhältnis Sb/Te in dem moderaten Bereich liegt.
Die Ergebnisse der experimentellen Untersuchung an den 18 Proben sind in 4 zusammengefasst.
4 stellt eine Tabelle dar, welche eine Wiedergabeverschlechterung sowie den Jitter in Bezug auf die 18 Proben zeigt. In 4 bedeutet ein Eintrag "ja" in den Spalten "Wiedergabeverschlechterung" und "Jitter", dass eine Probe entweder eine oder beide der zuvor erwähnten Bedingungen erfüllt: die Wiedergabeverschlechterung macht weniger als 0,2 dB aus und der Anfangsjitter beträgt weniger als 9 %.
Wie in 4 gezeigt ist, erfüllen diese 12 Proben (Proben Nr. 2, 4, 5, 7-11, 14-17) sowohl die Bedingung hinsichtlich der Wiedergabeverschlechterung als auch des Anfangsjitters. Diese 12 Proben sind jedoch nicht zufriedenstellend, was die Verbesserung der standhaltbaren Wiedergabeleistung oder die Reduzierung von Jitter betrifft, um eine Aufzeichnung mit höherer Dichte unter Nutzung eines blauen Laserstrahls auszuführen. Anders ausgedrückt weist eine optische Platte, bei welcher die optische Phasenänderungs-Aufzeichnungsschicht aus einem GeSbTe-Systemmaterial besteht, einen geringeren Kontrast auf, da die dauerhaft aushaltbare Wiedergabeausgangsleistung für selbige höchstens in der Größenordnung von 0,36 mW liegt. Daher kann kein ausreichender Kontrast erzielt werden. Folglich ist ein C/N-Wert verschlechtert und der Jitter wird nicht reduziert.
Ferner besteht die Neigung, dass sich der Jitter bei der Wiederbeschreibung verschlimmert, insbesondere wenn eine zweite Aufzeichnung erfolgt. Dies wird dadurch verursacht, dass eine Aufzeichnungsmarke, die bei einer ersten Aufzeichnung aufgezeichnet wurde, nicht hinreichend gelöscht wird, weil ein Zusammensetzungsverhältnis des Materials derart bestimmt ist, dass eine Beständigkeit gegenüber Wiedergabelicht sichergestellt wird.
Was die Beständigkeit gegenüber Wiedergabelicht betrifft, so ist in den "Blu-ray Disc Standard Specifications" (Normspezifikationen für die Blu-ray Disc) spezifiziert, dass eine Platte von Wiedergabelicht mir einer Leistung von 0,30 mW nicht geschädigt werden sollte, wenn die Wiedergabe im Standmodus erfolgt, wobei das Wiedergabelicht mit dem HF-Modulationsverfahren moduliert wird.
Ferner ist in den "Blu-ray Disc Standard Specifications" im Hinblick auf die Frequenz, eine Impulsbreite und ein Verhältnis der Spitzenleistung zur Durchschnittsleistung als Parameter zur Modulation des Wiedergabelichts die Wiedergabeleistung für die Messung einer optischen Platte auf 0,35 mW genormt. Anders ausgedrückt soll im Wesentlichen eine optische Platte bei der Wiedergabe mit einer Leistung von 0,35 mW nicht wesentlich qualitätsgemindert werden.
Ferner ist, wenn von einem konkreten Plattenlaufwerk ausgegangen wird, anzunehmen, dass die Laserleistung je nach Anwendungsumständen schwankt. Daher ist es wesentlich, zu berücksichtigen, dass sich die Laserleistung in einem Bereich von 5 % über den spezifizierten Wert erhöht. Anders ausgedrückt muss eine Blu-ray Disc einem Wiedergabelicht von 0,3675 mW oder mehr standhalten, welches um 5 % stärker ist als 0,35 mW. Tatsächlich muss eine Blu-ray Disc ein Wiedergabelicht von 0,37 mW oder mehr aushalten, da die Laserleistung in Schritten von 0,01 mW bestimmt wird. Dementsprechend ist es wesentlich, dass ein Aufzeichnungsmaterial, welches aus einem GeSbTe-Systemmaterial aufgebaut ist, in seinen Aufzeichnungs- und Wiedergabeeigenschaften weiter verbessert wird.
Um das zuvor erwähnte Problem entsprechend der vorliegenden Erfindung zu lösen, wird der Mengenanteil von Sb und Te in einem vorbestimmten Bereich festgelegt, und eine Menge an Ge wird mit Bezug auf eine optische Phasenänderungs-Aufzeichnungsschicht aus GeSbTe-Systemmaterial spezifiziert.
Ferner wird durch Zusetzen einer richtigen Menge an Titan (Ti) und Indium (In) zu dem GeSbTe-Systemmaterial eine optische Platte erhalten, die exzellente Aufzeichnungs- und Wiedergabeeigenschaften bei Nutzung eines mit einem blauen Laserstrahl ausgestatteten optischen Plattensystems sowie eine hohe Beständigkeit gegenüber dem Wiedergabelicht und eine geringere Schädigung bei einer geringen Anzahl von Wiederbeschreibungen im Vergleich zu einem nur aus GeSbTe aufgebauten herkömmlichen Aufzeichnungsmaterial zeigt. Weitere Einzelheiten folgen.
Die folgenden Ausführungsformen basieren auf den zuvor erwähnten 12 Proben, welche für einen blauen Laserstrahl der nächsten Generation geeignet sind und wie zuvor erwähnt eine Aufzeichnung mit einer kürzeren Impulsbreite hinreichend ermöglichen sowie wiederbeschreibbar sind. Weiter wurden vier Proben aus den 12 Proben ausgewählt, wobei die vier Proben die Proben Nr. 2, 4, 7 und 17 aus 5 darstellen. Durch Zusetzen von Ti und In zu den ausgewählten vier Proben wird ein spezifischer Effekt erzielt, der mit der herkömmlichen Zusammensetzung niemals erzielt worden ist und der als nächstes im Einzelnen erläutert wird.
5 stellt eine Tabelle dar, welche als Aufzeichnungsbedingungen die Aufzeichnungsleistung und -strategie gemäß einer jeweiligen Ausführungsform der vorliegenden Erfindung zeigt. In 5 entsprechen die jeweiligen Bezugszeichen P1 bis P4 und T1 bis T4 denjenigen aus der in 2 gezeigten Aufzeichnungsstrategie.
Es sollte verstanden werden, dass die Proben Nr. 2, 4, 7 und 17, die in 5 gezeigt sind, den in 4 gezeigten Probennummern entsprechen und außerdem einer jeweiligen Ausführungsform der vorliegenden Erfindung entsprechen.
6 stellt eine Vergleichstabelle dar, welche einen C/N-Wert jeweils "unmittelbar nach" sowie "5 Minuten nach" Beginn einer Standmoduswiedergabe in Bezug auf eine jeweilige Probe entsprechend einer jeweiligen Ausführungsform zeigt. Die Tabelle zeigt ferner einen C/N-Wert jeweils bei einer Wiedergabeleistung von 0,3 mW und 0,38 mW.
[Ausführungsform eins]
7 stellt eine Tabelle dar, welche die bestandteilmäßige Zusammensetzung, die Beständigkeit gegenüber Wiedergabelicht sowie den mittleren Anfangsjitter in Bezug auf eine jeweilige optische Platte der Proben Nr. "2" und "2 – v1" bis "2 – v7" entsprechend einer Ausführungsform eins der vorliegenden Erfindung zeigt.
8 stellt eine Tabelle dar, welche die bestandteilmäßige Zusammensetzung, den Jitter sowie die Beständigkeit gegenüber Wiedergabelicht in Bezug auf die jeweilige Probe entsprechend der Ausführungsform eins der vorliegenden Erfindung zeigt. In 8 bedeutet ein Eintrag "ja" in der Zeile "Bewertung", dass eine entsprechende Probe die "Blu-ray Disc Standard Specifications" in Bezug auf Anfangsjitter, Jitter nach einer zweiten Aufzeichnung und Beständigkeit gegenüber Wiedergabelicht erfüllt. Im Gegensatz dazu bedeutet ein Eintrag "nein", dass eine entsprechende Probe die "Blu-ray Disc Standard Specifications" nicht erfüllt.
9 stellt eine Vergleichstabelle für die Proben Nr. "2", "2 – v1" und "2 – v11" dar, welche die bestandteilmäßige Zusammensetzung, den mittleren Anfangsjitter, den Jitter nach einer zweiten Aufzeichnung sowie die standhaltbare Wiedergabeleistung zeigt.
Mit Hilfe eines Sputter-Verfahrens werden nacheinander auf einem Polycarbonat-Substrat 1 mit einem Durchmesser von 120 mm eine Ag-Legierung als eine Reflexionsschicht 2, ZnS-SiO₂ als eine erste Schutzschicht 3, TiInGeSbTe als eine Aufzeichnungsschicht 4 und ZnS-SiO₂ als eine zweite Schutzschicht 5 ausgebildet. Danach wird unter Verwendung eines mit Ultraviolett aushärtbaren Kunststoffs als Haftschicht 6 auf diesen eine Abdeckschicht 7 aufgeklebt. Folglich wird eine optische Platte der Probe Nr. 2 hergestellt. In diesem Zustand beträgt die jeweilige Schichtdicke der Reflexionsschicht 2, der ersten Schutzschicht 3, der Aufzeichnungsschicht 4 und der zweiten Schutzschicht 5 200 nm, 8 nm, 14 nm bzw. 36 nm.
Ferner wird die Zusammensetzung der Aufzeichnungsschicht 4 in Atomprozent auf 0,5 % Ti, 0,5 % In, 3,4 % Ge, 72,3 % Sb und 23,3 % Te eingestellt. Die Abdeckschicht 7 wird mit ultravioletter Strahlung bestrahlt, um so die Haftschicht 6 ausreichend auszuhärten, nachdem auf dieser die Abdeckschicht 7 aufgeklebt worden ist. Danach wird die Probe Nr. 2 unter Verwendung des Initialisierers initialisiert, in welchen ein Laserstrahl mit einem Fleckdurchmesser von 120 μm integriert ist, wobei die Initialisierungsbedingungen derart vorgesehen sind, dass eine Lineargeschwindigkeit und ein Vorschubabstand auf 4 m/s bzw. 40 μm festgelegt sind und eine Laser-Ausgangsleistung 570 mW beträgt.
Nach der Initialisierung wird ein Informationssignal, das in der 1-7 Modulation moduliert ist, mit einer Lineargeschwindigkeit von 5,28 m/s aufgezeichnet, und zwar mit der in 2 gezeigten Aufzeichnungsstrategie, und wird danach wiedergegeben. Die in 2 gezeigte Aufzeichnungsstrategie und Aufzeichnungsleistung lautet folgendermaßen: P1 = 5,2 mW, P2 = 2,7 mW, P3 = 0,1 mW, P4 = 0,1 mW, T1 = 0,4T, T2 = 0,4T, T3 = 0,7T und T4 = 0,7T, wobei 1T als 15,1 ns definiert ist. Danach wird das aufgezeichnete Signal wiedergegeben und der Takt-zu-Daten-Jitter wird gemessen, indem das wiedergegebene Signal entlang einer Amplitudenmitte aufgespalten wird. Die vorstehend erwähnte Aufzeichnungsstrategie und -leistung sind in der Zeile "Probe Nr. 2" in 5 aufgelistet.
Der Jitter wird mit Hilfe des Zeitintervallanalysators, Modell TA520, hergestellt von der Yokogawa Electric Corp., gemessen. Der Anfangsjitter nach der ersten Aufzeichnung beträgt 6,91 %, was ein Durchschnittswert für den Jitter an einem vorderen Ende und an einem hinteren Ende der Aufzeichnungsmarke ist. Der Jitter nach einer zweiten Aufzeichnung beträgt 7,11 %, und das Ergebnis ist eine exzellente Aufzeichnung. Die optische Platte entsprechend der Ausführungsform eins ist in 8 als Probe Nr. "2 – v11" gezeigt. Der Wert für den Anfangsjitter stellt hierbei den Jitter einer optischen Platte selbst dar. Gemäß der "Blu-ray Disc Standard Specifications" ist ein Jitterwert, der eine Hardware-Seite einschließt, als 10 % oder weniger definiert, und ist ferner bei einer geringen Anzahl von Wiederbeschreibungen von bis zu 10 mal als 11 % oder weniger definiert. Folglich ist es wünschenswert, dass ein Anfangsjitterwert für eine optische Platte allein zumindest 8 % oder weniger beträgt. Im Fall einer geringen Anzahl von Aufzeichnungen ist es wünschenswert, dass der Jitterwert nach einer zweiten Aufzeichnung, bei welcher der Jitter maximal ansteigt, auf 8 % oder weniger heruntergedrückt wird.
Weiter wird auf der optischen Platte der Probe Nr. "2 – v11" ein einzelnes Signal mit einer Länge 2T gemäß der zuvor erwähnten Aufzeichnungsstrategie aufgezeichnet. Ein C/N-Wert wird gemessen, während eine Spur, auf der das einzige Signal aufgezeichnet ist, im Standwiedergabemodus wiedergegeben wird. An dieser Stelle wird jeweils der C/N-Wert unmittelbar nach Ausführung der Standmoduswiedergabe und 5 Minuten danach gemessen, während die Wiedergabeleistung jeweils um 0,01 mW von 0,30 mW auf 0,40 mW geändert wird. Ein Maximalwert für die Wiedergabeleistung, für welchen die Differenz zwischen den C/N-Werten unmittelbar nach dem Beginn der Standmoduswiedergabe und 5 Minuten danach in einem Bereich von 0,2 dB oder weniger liegt, wird als standhaltbare Wiedergabeleistung definiert. Im Allgemeinen führt die Messapparatur, wie etwa ein Spektralanalysator, zu einem Fehler in der Größenordung von 0,2 dB in Bezug auf einen C/N-Wert.
Für den Fall, dass die Wiedergabe durch das Wiedergabelicht verschlechtert wird, kann eine Verschlechterung des C/N-Wertes durch Ausführung der Standmoduswiedergabe während eines Zeitraums in der Größenordnung von einer Minute nahezu bestätigt werden. In diesem Fall übersteigt nach Ablauf von 5 Minuten ein verschlechterter Betrag des C/N-Wertes definitiv 0,2 dB, und dass sich dieser verschlechtert hat, kann sicher bestätigt werden. Folglich ist eine Norm für eine Schädigung durch Wiedergabelicht als 0,2 dB in Bezug auf die C/N-Differenz definiert.
Entsprechend der vorstehend erwähnten Messung beträgt, was die optische Platte der Ausführungsform eins betrifft, der jeweilige C/N-Wert unmittelbar nach dem Beginn der Standmoduswiedergabe und 5 Minuten danach 50,2 dB bzw. 50,2 dB. Ein C/N-Wert wird von einem Spektralanalysator gemessen und stellt einen Mittelwert von 16 Daten dar.
Bei der optischen Platte der Ausführungsform eins besteht, wie in 6 dargestellt ist, kein Unterschied zwischen dem C/N-Wert "unmittelbar danach" und dem C/N-Wert "5 Minuten danach". Anders ausgedrückt ist klar, dass die optische Platte der Probe Nr. "2 – v11" ein stabiles Leistungsverhalten bietet, ohne dass sich die Wiedergabe verschlechtert.
Es wird nun eine Erklärung in Bezug auf das Wiedergabelicht gegeben. Eine Aufzeichnungsmarke, die von allen aufzuzeichnenden Aufzeichnungsmarken den schlimmsten Jitter aufweist, ist eine 2T-Aufzeichnungsmarke als die kürzeste Aufzeichnungsmarke, die schwer aufzuzeichnen ist. Der Grund dafür, dass die kürzeste Marke schwer aufzuzeichnen ist, besteht darin, dass eine Einstrahlzeit eines Laserstrahls bei der Aufzeichnung, das heißt, eine Ausbildungszeit für die Aufzeichnungsmarken am kürzesten ist. Daher ist mehr Zeit erforderlich, um eine Aufzeichnungsmarke auszubilden. Anders ausgedrückt kann, wenn der Jitter der 2T-Aufzeichnungsmarke auf weniger als 9 % reduziert wird, der Jitter aller Aufzeichnungsmarken sicher auf weniger als 9 % reduziert werden, und dies führt dazu, dass der synthetisierte Jitter extrem reduziert wird. Es ist experimentell bekannt, dass ein C/N-Wert, der zur Reduzierung des Jitters der 2T-Aufzeichnungsmarke allein auf 9 % notwendig ist, 51,0 dB oder mehr beträgt.
Für den Fall, dass eine optische Phasenänderungs-Aufzeichnungsschicht aus GeSbTe hergestellt ist, ohne dass sie hierbei Ti aufweist, ergibt sich ein C/N-Wert von 50,0 dB, wenn mit einer Leistung von 0,3 mW wiedergegeben wird, wobei die Leistung auf den "Blu-ray Disc Standard Specifications" basiert. Es ist experimentell bestätigt, dass ein C/N-Wert auf 50,0 dB beschränkt ist und nicht 51,0 dB erreichen wird, wenngleich das Wiedergabelicht bis auf 0,36 mW erhöht wird, was der Höhe der maximal aushaltbaren Leistung entspricht.
Was andererseits den Fall der optischen Platte der Probe Nr. "2 – v11" gemäß der Ausführungsform eins der vorliegenden Erfindung betrifft, bei welcher die optische Phasenänderungs-Aufzeichnungsschicht aus GeSbTe hergestellt ist und Ti enthält, so beträgt eine standhaltbare Wiedergabeleistung 0,38 mW bis 0,40 mW. Die relativ höhere aushaltbare Wiedergabeleistung wird dadurch bewirkt, dass Ti ein Element mit einem höheren Schmelzpunkt ist und thermisch extrem stabil ist und nicht gegenüber Ge, Sb, Te reagieren wird, aus welchen eine optische Phasenänderungs-Aufzeichnungsschicht besteht, und ferner, dass Ti eine stabile Substanz darstellt, die nicht gegenüber Materialien reagieren wird, aus denen eine angrenzende Schutzschicht besteht. Bei Zusatz einer geeigneten Menge an Ti fungiert das zugesetzte Ti als Anker in der Aufzeichnungsschicht und macht bei der Ausbildung einer Aufzeichnungsmarke die Markenkante schärfer, und dies führt zur Reduzierung von Jitter.
Ferner ist Ti, wie zuvor erwähnt, eine solche Substanz, die einen höheren Schmelzpunkt aufweist, sodass Ti eine exzellente Wärmebeständigkeit aufweist. Folglich ist anzunehmen, dass die aus GeSbTe bestehende optische Phasenänderungs-Aufzeichnungsschicht, die Ti enthält, einer stärkeren Leistung, was das Wiedergabelicht betrifft, standhalten kann.
Ferner beträgt für den Fall, dass die optische Platte der Probe Nr. "2 – v11" mit der Leistung von 0,30 mW wiedergegeben wird, welche auf den "Blu-ray Disc Standard Specifications" basiert, ein C/N-Wert maximal 50,2 dB. Für den Fall jedoch, dass die Wiedergabeleistung auf bis zu 0,38 mW erhöht wird, beträgt ein C/N-Wert unmittelbar nach dem Beginn einer Standmoduswiedergabe 51,1 dB, und ein C/N-Wert 5 Minuten nach dem Beginn der Standmoduswiedergabe beträgt ebenfalls 51,1 dB. Folglich ergibt sich, dass der C/N-Wert 51,1 dB erreicht. Anders ausgedrückt erfüllt der C/N-Wert hinreichend die zuvor erwähnte C/N-Bedingung, die notwendig ist, damit der Jitter der 2T-Aufzeichnungsmarke allein auf 9 % heruntergedrückt wird, selbst wenn die 2T-Aufzeichnungsmarke als eine kürzeste Marke, die schwer aufzuzeichnen ist, ausgebildet wird. Diese C/N-Werte sind in einer Zeile für die Probe Nr. "2 – v11 bis 2 – v14 und 2 – v51 bis 2 – v54" in 6 gezeigt.
Kommen wir zurück auf 8, so ist der Jitterwert der Probe Nr. "2 – v11" entsprechend der Ausführungsform eins fast der gleiche wie derjenige der Probe Nr. "2 – v1", in deren Aufzeichnungsschicht kein In enthalten ist. Der Jitter nach einer zweiten Aufzeichnung ist für die Probe Nr. "2 – v11" jedoch geringer als derjenige der Probe Nr. "2 – v1". Es ist zu verstehen, dass ein Anstieg des Jitters durch Zusetzen von Indium (In) geringfügig unterdrückt wird.
In diesem Zusammenhang sind in 9 die Werte für Anfangsjitter und Jitter nach einer zweiten Aufzeichnung sowie standhaltbare Wiedergabeleistung in Bezug auf die Probe Nr. 2 gezeigt, deren Aufzeichnungsschicht kein In aufweist. Entsprechend der 9 zeigt die Zugabe von Ti zu GeSbTe Auswirkungen auf die Reduzierung des Anfangsjitters und die Erhöhung der Beständigkeit gegenüber Wiedergabelicht. Es ist jedoch bekannt, dass zwischen den Proben Nr. "2" und "2 – v1" fast kein Unterschied bezüglich des Anstiegs des Jitters, der durch eine zweite Aufzeichnung bewirkt wird, besteht. Im Gegensatz dazu ist im Fall der Probe Nr. "2 – v11", bei welcher sowohl In als auch Ti zugesetzt sind, wie in den 8 und 9 gezeigt ist, der Anstieg des Jitters besser als bei den Proben Nr. "2" oder "2 – v1". Folglich ist zu verstehen, dass der Effekt der Unterdrückung des durch eine zweite Aufzeichnung bewirkten Jitteranstiegs, welche in den 8 und 9 gezeigt ist, ein Ergebnis der Zugabe von In ist. In diesem Zusammenhang scheint, da In ein Material mit einer niedrigeren Schmelztemperatur ist, es so zu sein, dass dadurch das Aufschmelzen einer Aufzeichnungsschicht während der Einstrahlung von Aufzeichnungslicht gleichmäßig verläuft, und es als Ergebnis ermöglicht wird, mit geringsten Rückständen der Löschung wiederzubeschreiben.
Die optischen Platten der Proben Nr. "2 – v12" bis "2 – v15" und "2 – v51" bis "2 – v55" wurden hergestellt und experimentell untersucht, wobei die Menge an Ge und der Wert für Sb/Te genau so wie für die Ausführungsform eins, das heißt, die Probe Nr. "2 – v11", eingestellt wurden und ferner jeweils die Menge an Sb und Te leicht gegenüber derjenigen der Probe Nr. "2 – v11" geändert wurde. Im Fall der Proben Nr. "2 – v12" bis "2 – v15" wurde, wie in 8 gezeigt ist, eine Menge an Ti bei 0,5 % festgehalten, und eine Menge an In wurde im Bereich von 1,0 % bis 4,0 % verändert. Im Fall der Proben Nr. "2 – v51" bis "2 – v55" wurde, wie in 8 gezeigt ist, eine Menge an Ti bei 4,0 % festgehalten, und eine Menge an In wurde im Bereich von 0,5 % bis 4,0 verändert. Die Ergebnisse des Experiments sind in 8 gezeigt.
Entsprechend dem Experiment, wie es in 8 gezeigt ist, wird bestätigt, dass unabhängig davon, ob die Menge an Ti auf 0,5 % oder 4,0 % eingestellt ist, ein Jitteranstieg unterdrückt wird, solange eine Menge an In auf 0,5 % oder mehr erhöht wird. Wie in den Spalten "2 – v15" und "2 – v55" in 8 gezeigt ist, sinkt jedoch die standhaltbare Wiedergabeleistung auf 0,33 mW, wenn die Menge an In auf 4,0 % eingestellt wird, im Vergleich zu 0,38 mW, wenn die Menge an In auf 3,0 % oder weniger eingestellt wird. Indium (In), welches eine niedrige Schmelztemperatur aufweist, wird durch das Wiedergabelicht extrem beeinträchtigt, wenn eine zugegebene Menge an In zu hoch ist. Folglich ist anzunehmen, dass eine Aufzeichnungsmarke rekristallisiert und verschwindet.
Für den Fall, dass eine Menge an Ti 0,5 % bis 4,0 % beträgt und eine Menge an In 0,5 % bis 3,0 % beträgt, wird der mittlere Anfangsjitter geringer als 8 % und der Jitter nach einer zweiten Aufzeichnung wird geringer als 8 % und die standhaltbare Wiedergabeleistung wird 0,38 mW. Folglich ist zu verstehen, dass jede optische Platte der Proben Nr. "2 – v12" bis "2 – v14" und "2 – v51" bis "2 – v54" die "Blu-ray Disc Standard Specifications" hinreichend erfüllt.
Was die Menge an Ti betrifft, so wurden die zuvor genannten Proben Nr. 2, 4, 7 und 17 unter der Bedingung untersucht, dass kein In zugesetzt wurde, und danach wurde ein am besten geeigneter Bereich für eine Menge an Ti herausgefunden. Die Ergebnisse der Untersuchung sind in den 7, 10, 12 und 14 (werden später detailliert beschrieben) gezeigt. Bei allen optischen Platten der Proben Nr. 2, 4, 7 und 17 wurde bestätigt, dass die Beständigkeit gegenüber Wiedergabelicht ansteigt und der Jitter sinkt, solange die Menge an Ti in einem Bereich von 0,5 % bis 4,0 % liegt.
Darüber hinaus wurden die Aufzeichnungsbedingungen der Probe Nr. 2, welche in 5 gezeigt sind, auf die Proben Nr. "2 – v1" bis "2 – v7" in 7 und die Proben Nr. "2 – v11" bis "2 – v15" sowie "2 – v51" bis "2 – v55" in 8 angewandt.
[Ausführungsform zwei]
10 stellt eine Tabelle dar, welche die bestandteilmäßige Zusammensetzung, die Beständigkeit gegenüber Wiedergabelicht sowie den mittleren Anfangsjitter in Bezug auf eine jeweilige optische Platte der Proben Nr. "4 – v1" bis "4 – v7" entsprechend einer Ausführungsform zwei der vorliegenden Erfindung zeigt.
11 stellt eine Tabelle dar, welche die bestandteilmäßige Zusammensetzung, den Jitter sowie die Beständigkeit gegenüber Wiedergabelicht in Bezug auf die jeweilige Probe entsprechend der Ausführungsform zwei der vorliegenden Erfindung zeigt. In 11 bedeutet ein Eintrag "ja" in der Zeile "Bewertung", dass eine entsprechende Probe die "Blu-ray Disc Standard Specifications" in Bezug auf Anfangsjitter, Jitter nach einer zweiten Aufzeichnung und Beständigkeit gegenüber Wiedergabelicht erfüllt. Im Gegensatz dazu bedeutet ein Eintrag "nein", dass eine entsprechende Probe die "Blu-ray Disc Standard Specifications" nicht erfüllt.
Die Aufzeichnungsbedingungen für eine Probe Nr. 4, welche in 5 gezeigt sind, wurden auf die Proben Nr. "4 – v1" bis "4 – v7" in 10 und die Proben Nr. "4 – v11" bis "4 – v15" sowie "4 – v51" bis "4 – v55" in 11 angewandt.
Die optischen Platten der Proben Nr. "4 – v11" bis "4 – v15" und "4 – v51" bis "4 – v55" wurden hergestellt und experimentell untersucht, wobei eine Menge an Ge auf 4,3 eingestellt wurde und der Wert für Sb/Te auf 2,1 eingestellt wurde, und das Experiment erfolgte, indem jeweils die Menge an Sb und Te verändert wurde. Im Fall der Proben Nr. "4 – v11" bis "4 – v15" wurde eine Menge an Ti bei 0,5 festgehalten, und eine Menge an In wurde im Bereich von 0,5 bis 4,0 % verändert. Im Fall der Proben Nr. "4 – v51" bis "4 – v55" wurde eine Menge an Ti bei 4,0 % festgehalten und eine Menge an In wurde im Bereich von 0,5 % bis 4,0 verändert.
Weiter wurde auf den optischen Platten der Proben Nr. "4 – v11" bis "4 – v15" und "4 – v51" bis "4 – v55" unter den gleichen Aufzeichnungsbedingungen aufgezeichnet, wie bei der Ausführungsform eins, wie in 5 gezeigt ist, und danach wurde wiedergegeben und experimentell untersucht. Die Ergebnisse des Experiments sind in 11 gezeigt.
Entsprechend dem Experiment, wie in 11 gezeigt, wird der mittlere Anfangsjitter geringer als 8 % und der Jitter nach einer zweiten Aufzeichnung wird geringer als 8 % und die standhaltbare Wiedergabeleistung wird 0,38 mW, solange die Menge an Ti 0,5 % bis 4,0 % beträgt und die Menge an In 0,5 bis 3,0 % beträgt. Folglich ist zu verstehen, dass jede optische Platte der Proben Nr. "4 – v11" bis "4 – v14" und "4 – v51" bis "4 – v54" die "Blu-ray Disc Standard Specifications" hinreichend erfüllt.
[Ausführungsform drei]
12 stellt eine Tabelle dar, welche die bestandteilmäßige Zusammensetzung, die Beständigkeit gegenüber Wiedergabelicht sowie den mittleren Anfangsjitter in Bezug auf eine jeweilige optische Platte der Proben Nr. "7" und "7 – v1" bis "7 – v7" entsprechend einer Ausführungsform drei der vorliegenden Erfindung zeigt.
13 stellt eine Tabelle dar, welche die bestandteilmäßige Zusammensetzung, den Jitter sowie die Beständigkeit gegenüber Wiedergabelicht in Bezug auf die jeweilige Probe entsprechend der Ausführungsform drei der vorliegenden Erfindung zeigt. In 13 bedeutet ein Eintrag "ja" in der Zeile "Bewertung", dass eine entsprechende Probe die "Blu-ray Disc Standard Specifications" in Bezug auf Anfangsjitter, Jitter nach einer zweiten Aufzeichnung und Beständigkeit gegenüber Wiedergabelicht erfüllt. Im Gegensatz dazu bedeutet ein Eintrag "nein", dass eine entsprechende Probe die "Blu-ray Disc Standard Specifications" nicht erfüllt.
Die Aufzeichnungsbedingungen für eine Probe Nr. 7, welche in 5 gezeigt sind, wurden auf die Proben Nr. "7 – v1" bis "7 – v7" in 12 und die Proben Nr. "7 – v11" bis "7 – v15" sowie "7 – v51" bis "7 – v55" in 13 angewandt.
Die optischen Platten der Proben Nr. "7 – v11" bis "7 – v15" und "7 – v51" bis "7 – v55" wurden hergestellt und experimentell untersucht, wobei die Menge an Ge auf 4,6 eingestellt wurde und der Wert für Sb/Te auf 4 eingestellt wurde, und das Experiment erfolgte, indem jeweils die Menge an Sb und Te verändert wurde. Im Fall der Proben Nr. "7 – v11" bis "7 – v15" wurde eine Menge an Ti bei 0,5 festgehalten und eine Menge an In wurde im Bereich von 0,5 bis 4,0 % verändert. Im Fall der Proben Nr. "7 – v51" bis "7 – v55" wurde eine Menge an Ti bei 4,0 % festgehalten und eine Menge an In wurde im Bereich von 0,5 % bis 4,0 verändert.
Weiter wurde auf den optischen Platten der Proben Nr. "7 – v11" bis "7 – v15" und "7 – v51" bis "7 – v55" unter analogen Aufzeichnungsbedingungen aufgezeichnet, wie bei der Ausführungsform eins, mit Ausnahme von P2 und der Strategie T, wie in 5 gezeigt ist, und danach wurde wiedergegeben und experimentell untersucht. Die Ergebnisse des Experiments sind in 13 gezeigt. Entsprechend dem Experiment, wie in 13 gezeigt, wird der mittlere Anfangsjitter geringer als 8 % und der Jitter nach einer zweiten Aufzeichnung wird geringer als 8 % und die standhaltbare Wiedergabeleistung wird 0,38 mW, solange die Menge an Ti 0,5 % bis 4,0 % beträgt und die Menge an In 0,5 % bis 3,0 % beträgt. Folglich ist zu verstehen, dass jede optische Platte der Proben Nr. "7 – v11" bis "7 – v14" und "7 – v51" bis "7 – v54" die "Blu-ray Disc Standard Specifications" hinreichend erfüllt.
[Ausführungsform vier]
14 stellt eine Tabelle dar, welche die bestandteilmäßige Zusammensetzung, die Beständigkeit gegenüber Wiedergabelicht sowie den mittleren Anfangsjitter in Bezug auf eine jeweilige optische Platte der Proben Nr. "17" und "17 – v1" bis "17 – v7" entsprechend einer Ausführungsform vier der vorliegenden Erfindung zeigt.
15 stellt eine Tabelle dar, welche die bestandteilmäßige Zusammensetzung, den Jitter sowie die Beständigkeit gegenüber Wiedergabelicht in Bezug auf die jeweilige Probe entsprechend der Ausführungsform vier der vorliegenden Erfindung zeigt. In 15 bedeutet ein Eintrag "ja" in der Zeile "Bewertung", dass eine entsprechende Probe die "Blu-ray Disc Standard Specifications" in Bezug auf Anfangsjitter, Jitter nach einer zweiten Aufzeichnung und Beständigkeit gegenüber Wiedergabelicht erfüllt. Im Gegensatz dazu bedeutet ein Eintrag "nein", dass eine entsprechende Probe die "Blu-ray Disc Standard Specifications" nicht erfüllt.
Die Aufzeichnungsbedingungen für eine Probe Nr. 17, welche in 5 gezeigt sind, wurden auf die Proben Nr. "17 – v1" bis "17 – v7" in 14 und die Proben Nr. "17 – v11" bis "17 – v15" sowie "17 – v51" bis "17 – v55" in 15 angewandt.
Die optischen Platten der Proben Nr. "17 – v11" bis "17 – v15" und "17 – v51" bis "17 – v55" wurden hergestellt und experimentell untersucht, wobei die Menge an Ge auf 14,5 % eingestellt wurde und der. Wert für Sb/Te auf 3,2 eingestellt wurde, und das Experiment erfolgte, indem jeweils die Menge an Sb und Te verändert wurde. Im Fall der Proben Nr. "17 – v11" bis "17 – v15" wurde eine Menge an Ti bei 0,5 % festgehalten und eine Menge an In wurde im Bereich von 0,5 % bis 4,0 % verändert. Im Fall der Proben Nr. "17 – v51" bis "17 – v55" wurde eine Menge an Ti bei 4,0 % festgehalten und eine Menge an In wurde im Bereich von 0,5 % bis 4,0 verändert.
Weiter wurde auf den optischen Platten der Proben Nr. "17 – v11" bis "17 – v15" und "17 – v51" bis "17 – v55" unter den gleichen Aufzeichnungsbedingungen aufgezeichnet, wie bei der Ausführungsform eins, wie in 5 gezeigt ist, und danach wurde wiedergegeben und experimentell untersucht. Die Ergebnisse des Experiments sind in 15 gezeigt. Entsprechend dem Experiment, wie in 15 gezeigt, wird der mittlere Anfangsjitter geringer als 8 % und der Jitter nach einer zweiten Aufzeichnung wird geringer als 8 % und die standhaltbare Wiedergabeleistung wird 0,40 mW, solange die Menge an Ti 0,5 % bis 4,0 % beträgt und die Menge an In 0,5 bis 3,0 % beträgt. Folglich ist zu verstehen, dass jede optische Platte der Proben Nr. "17 – v11" bis "17 – v14" sowie "17 – v51" bis "17 – v54" die "Blu-ray Disc Standard Specifications" hinreichend erfüllt.
[Ausführungsform fünf]
16 stellt eine Tabelle dar, welche die bestandteilmäßige Zusammensetzung, den Jitter sowie die Beständigkeit gegenüber Wiedergabelicht in Bezug auf eine jeweilige optische Platte der Proben Nr. "2 – v20" bis "2 – v26" entsprechend einer Ausführungsform fünf der vorliegenden Erfindung zeigt. In 16 bedeutet ein Eintrag "ja" in der Zeile "Bewertung", dass eine entsprechende Probe die "Blu-ray Disc Standard Specifications" in Bezug auf Anfangsjitter, Jitter nach einer zweiten Aufzeichnung und Beständigkeit gegenüber Wiedergabelicht erfüllt. Im Gegensatz dazu bedeutet ein Eintrag "nein", dass eine entsprechende Probe die "Blu-ray Disc Standard Specifications" nicht erfüllt.
Die optischen Platten der Proben Nr. "2 – v20" bis "2 – v26" wurden hergestellt und experimentell untersucht, wobei eine Menge an Ge und ein Wert für Sb/Te auf 3,4 % bzw. 3,1 eingestellt wurden, was die gleiche Konfiguration wie die der Ausführungsform eins darstellt, und dabei wurde das Experiment ausgeführt, indem jeweils die Menge an Sb und Te verändert wurde. Bei diesen optischen Platten der Proben Nr. "2 – v20" bis "2 – v26" wurde eine Menge an Ti bei 0,3 festgehalten und eine Menge an In wurde auf 0 % bis 4,0 eingestellt.
Weiter wurde auf den optischen Platten der Proben Nr. "2 – v20" bis "2 – v26" unter den gleichen Aufzeichnungsbedingungen wie denjenigen der Probe Nr. 2 aufgezeichnet, wie sie in 5 gezeigt sind, und danach wurde wiedergegeben und experimentell untersucht. Die Ergebnisse des Experiments sind in 16 gezeigt.
Entsprechend dem Experiment wird, was die Proben Nr. "2 – v21" bis "2 – v25" betrifft, der mittlere Anfangsjitter geringer als 8 % und der Jitter nach einer zweiten Aufzeichnung wird geringer als 8 % und die standhaltbare Wiedergabeleistung wird 0,38 mW, wie in 16 gezeigt ist, solange die Menge an In 0,3 % bis 3,0 % beträgt. Folglich ist zu verstehen, dass jede optische Platte der Proben Nr. "2 – v21" bis "2 – v25" die "Blu-ray Disc Standard Specifications" hinreichend erfüllt.
[Ausführungsform sechs]
17 stellt eine Tabelle dar, welche die bestandteilmäßige Zusammensetzung, den Jitter sowie die Beständigkeit gegenüber Wiedergabelicht in Bezug auf eine jeweilige optische Platte der Proben Nr. "4 – v20" bis "4 – v26" entsprechend einer Ausführungsform sechs der vorliegenden Erfindung zeigt. In 17 bedeutet ein Eintrag "ja" in der Zeile "Bewertung", dass eine entsprechende Probe die "Blu-ray Disc Standard Specifications" in Bezug auf Anfangsjitter, Jitter nach einer zweiten Aufzeichnung und Beständigkeit gegenüber Wiedergabelicht erfüllt. Im Gegensatz dazu bedeutet ein Eintrag "nein", dass eine entsprechende Probe die "Blu-ray Disc Standard Specifications" nicht erfüllt.
Die optischen Platten der Proben Nr. "4 – v20" bis "4 – v26" wurden hergestellt und experimentell untersucht, wobei eine Menge an Ge und einr Wert für Sb/Te auf 4,3 % bzw. 2,1 eingestellt wurden, was die gleiche Konfiguration wie die der Ausführungsform zwei darstellt, und dabei wurde das Experiment ausgeführt, indem jeweils die Menge an Sb und Te verändert wurde. Bei diesen optischen Platten der Proben Nr. "4 – v20" bis "4 – v26" wurde eine Menge an Ti bei 0,3 festgehalten und eine Menge an In wurde auf 0 % bis 4,0 eingestellt.
Weiter wurde auf den optischen Platten der Proben Nr. "4 – v20" bis "4 – v26" unter den gleichen Aufzeichnungsbedingungen wie denjenigen der Probe Nr. 4 aufgezeichnet, wie sie in 5 gezeigt sind, und danach wurde wiedergegeben und experimentell untersucht. Die Ergebnisse des Experiments sind in 17 gezeigt.
Entsprechend dem Experiment wird, was die Proben Nr. "4 – v21" bis "4 – v25" betrifft, der mittlere Anfangsjitter geringer als 8 % und der Jitter nach einer zweiten Aufzeichnung wird geringer als 8 % und die standhaltbare Wiedergabeleistung wird 0,38 mW, wie in 17 gezeigt ist, solange die Menge an In 0,3 % bis 3,0 % beträgt. Folglich ist zu verstehen, dass jede optische Platte der Proben Nr. "4 – v21" bis "4 – v25" die "Blu-ray Disc Standard Specifications" hinreichend erfüllt.
[Ausführungsform sieben]
18 stellt eine Tabelle dar, welche die bestandteilmäßige Zusammensetzung, den Jitter sowie die Beständigkeit gegenüber Wiedergabelicht in Bezug auf eine jeweilige optische Platte der Proben Nr. "7 – v20" bis "7 – v26" entsprechend einer Ausführungsform sieben der vorliegenden Erfindung zeigt. In 18 bedeutet ein Eintrag "ja" in der Zeile "Bewertung", dass eine entsprechende Probe die "Blu-ray Disc Standard Specifications" in Bezug auf Anfangsjitter, Jitter nach einer zweiten Aufzeichnung und Beständigkeit gegenüber Wiedergabelicht erfüllt. Im Gegensatz dazu bedeutet ein Eintrag "nein", dass eine entsprechende Probe die "Blu-ray Disc Standard Specifications" nicht erfüllt.
Die optischen Platten der Proben Nr. "7 – v20" bis "7 – v26" wurden hergestellt und experimentell untersucht, wobei eine Menge an Ge und ein Wert für Sb/Te auf 4,6 % bzw. 4 eingestellt wurden, was die gleiche Konfiguration wie die der Ausführungsform drei darstellt, und dabei wurde das Experiment ausgeführt, indem jeweils die Menge an Sb und Te verändert wurde. Bei diesen optischen Platten der Proben Nr. "7 – v20" bis "7 – v26" wurde eine Menge an Ti bei 0,3 festgehalten und eine Menge an In wurde auf 0 % bis 4,0 eingestellt.
Weiter wurde auf den optischen Platten der Proben Nr. "7 – v20" bis "7 – v26" unter den gleichen Aufzeichnungsbedingungen wie denjenigen der Probe Nr. 7 aufgezeichnet, wie sie in 5 gezeigt sind, und danach wurde wiedergegeben und experimentell untersucht. Die Ergebnisse des Experiments sind in 18 gezeigt.
Entsprechend dem Experiment wird, was die Proben Nr. "7 – v21" bis "7 – v25" betrifft, der mittlere Anfangsjitter geringer als 8 % und der Jitter nach einer zweiten Aufzeichnung wird geringer als 8 % und die standhaltbare Wiedergabeleistung wird 0,38 mW, wie in 18 gezeigt ist, solange die Menge an In 0,3 % bis 3,0 % beträgt. Folglich ist zu verstehen, dass jede optische Platte der Proben Nr. "7 – v21" bis "7 – v25" die "Blu-ray Disc Standard Specifications" hinreichend erfüllt.
[Ausführungsform acht]
19 stellt eine Tabelle dar, welche die bestandteilmäßige Zusammensetzung, den Jitter sowie die Beständigkeit gegenüber Wiedergabelicht in Bezug auf eine jeweilige optische Platte der Proben Nr. "17 – v20" bis "17 – v26" entsprechend einer Ausführungsform acht der vorliegenden Erfindung zeigt. In 19 bedeutet ein Eintrag "ja" in der Zeile "Bewertung", dass eine entsprechende Probe die "Blu-ray Disc Standard Specifications" in Bezug auf Anfangsjitter, Jitter nach einer zweiten Aufzeichnung und Beständigkeit gegenüber Wiedergabelicht erfüllt. Im Gegensatz dazu bedeutet ein Eintrag "nein", dass eine entsprechende Probe die "Blu-ray Disc Standard Specifications" nicht erfüllt.
Die optischen Platten der Proben Nr. "17 – v20" bis "17 – v26" wurden hergestellt und experimentell untersucht, wobei eine Menge an Ge und ein Wert für Sb/Te auf 14,5 % bzw. 3,2 eingestellt wurden, was die gleiche Konfiguration wie die der Ausführungsform vier darstellt, und dabei wurde das Experiment ausgeführt, indem jeweils die Menge an Sb und Te verändert wurde. Bei diesen optischen Platten der Proben Nr. "17 – v20" bis "17 – v26" wurde eine Menge an Ti bei 0,3 festgehalten und eine Menge an In wurde auf 0 % bis 4,0 eingestellt.
Weiter wurde auf den optischen Platten der Proben Nr. "17 – v20" bis "17 – v26" unter den gleichen Aufzeichnungsbedingungen wie bei der Probe Nr. 17 aufgezeichnet, wie sie in 5 gezeigt sind, und danach wurde wiedergegeben und experimentell untersucht. Die Ergebnisse des Experiments sind in 19 gezeigt.
Entsprechend dem Experiment wird, was die Proben Nr. "17 – v21" bis "17 – v25" betrifft, der mittlere Anfangsjitter geringer als 8 % und der Jitter nach einer zweiten Aufzeichnung wird geringer als 8 % und die standhaltbare Wiedergabeleistung wird 0,40 mW, wie in 19 gezeigt ist, solange die Menge an In 0,3 % bis 3,0 % beträgt. Folglich ist zu verstehen, dass jede optische Platte der Proben Nr. "17 – v21" bis "17 – v25" die "Blu-ray Disc Standard Specifications" hinreichend erfüllt.
Entsprechend den zuvor erwähnten Ausführungsformen fünf bis acht ist zu verstehen, dass eine optische Platte die "Blu-ray Disc Standard Specifications" erfüllen kann, solange eine Aufzeichnungsschicht 4 0,3 % oder mehr an Ti und In enthält.
[Vergleichsbeispiel]
Eine optische Platte entsprechend einem Vergleichsbeispiel wird wie folgt hergestellt.
Mit Hilfe eines Sputter-Verfahrens werden nacheinander auf einem Polycarbonat-Substrat 1 mit einem Durchmesser von 120 mm eine Ag-Legierung als eine Reflexionsschicht 2, ZnS-SiO₂ als eine erste Schutzschicht 3, GeSbTe als eine Aufzeichnungsschicht 4 und ZnS-SiO₂ als eine zweite Schutzschicht 5 ausgebildet. Danach wird unter Verwendung eines mit Ultraviolett aushärtbaren Kunststoffes als Haftschicht 6 auf diesen eine Abdeckschicht 7 aufgeklebt. In diesem Zustand beträgt die jeweilige Schichtdicke der Reflexionsschicht 2, der ersten Schutzschicht 3, der Aufzeichnungsschicht 4 und der zweiten Schutzschicht 5 200 nm, 8 nm, 14 nm bzw. 36 nm.
Ferner wird die Zusammensetzung der Aufzeichnungsschicht 4 in Atomprozent auf 8,7 % Ge, 69,7 % Sb und 21,6 % Te eingestellt. Die Abdeckschicht 7 wird mit ultravioletter Strahlung bestrahlt, um so die Haftschicht 6 ausreichend auszuhärten, nachdem die Abdeckschicht 7 aufgeklebt worden ist. Danach wird die optische Platte des Vergleichsbeispiels unter Verwendung des Initialisierers initialisiert, in welchen ein Laserstrahl mit einem Fleckdurchmesser von 120 μm integriert ist, wobei die Initialisierungsbedingungen derart vorgesehen sind, dass eine Lineargeschwindigkeit und ein Vorschubabstand auf 4 m/s bzw. 40 μm festgelegt sind und eine Laser-Ausgangsleistung 570 mW beträgt.
Nach der Initialisierung wird ein Informationssignal, das in der 1-7 Modulation moduliert ist, in einer Rille einer dem Vergleichsbeispiel entsprechenden optischen Platte mit einer Lineargeschwindigkeit von 5,28 m/s unter Aufzeichnungsbedingungen aufgezeichnet, für welche die in 2 gezeigte Aufzeichnungsstrategie und Aufzeichnungsleistung folgendermaßen lautet: P1 = 5,2 mW, P2 = 2,7 mW, P3 = 0,1 mW, P4 = 0,1 mW, T1 = 0,4T, T2 = 0,4T, T3 = 0,7T und T4 = 0,7T, wobei 1T als 15,1 ns definiert ist. Danach wird das aufgezeichnete Signal wiedergegeben und der Takt-zu-Daten-Jitter wird gemessen, indem das wiedergegebene Signal entlang einer Amplitudenmitte aufgespalten wird.
Der Jitter wurde mit Hilfe des Zeitintervallanalysators, Modell TA520, hergestellt von der Yokogawa Electric Corp., gemessen. Der Jitter nach der ersten Aufzeichnung betrug 7,8 %, was ein Durchschnittswert für den Jitter an einem vorderen Ende und einem hinteren Ende der Aufzeichnungsmarke ist, und dies führt dazu, dass eine normale Aufzeichnung möglich ist. Der Jitter nach einer zweiten Aufzeichnung betrug 8,9 %.
Weiter wurde auf der optischen Platte des Vergleichsbeispiels ein einzelnes Signal mit einer Länge 2T gemäß der zuvor erwähnten Aufzeichnungsstrategie aufgezeichnet. Ein C/N-Wert wurde gemessen, während eine Spur, auf der das einzige Signal aufgezeichnet ist, im Standwiedergabemodus wiedergegeben wurde. An dieser Stelle war eine Wiedergabeleistung auf 0,30 mW eingestellt, wobei für diese angenommen wird, dass sie die optische Platte nicht schädigt. Ein C/N-Wert unmittelbar nach Beginn der Standwiedergabe betrug 50,0 dB und ein C/N-Wert 5 Minuten nach Beginn der Standwiedergabe betrug ebenfalls 50,0 dB.
Bei der Messung des C/N-Wertes bleibt der C/N-Wert bei 50,0 dB und erreicht niemals 51,0 dB, was notwendig wäre, damit der Jitter des Signals mit einer Länge 2T allein 9 beträgt, obgleich eine Wiedergabeleistung auf bis zu 0,36 mW, d.h. die maximal aushaltbare Leistung, erhöht wird.
Was eine Messung des C/N-Wertes betrifft, wobei ein Spektralanalysator genutzt wird, wird ein C/N-Wert 16 mal gemessen, und ein Mittelwert der 16 Daten wird als gemessener C/N-Wert definiert. Da hierbei als Messfehler möglicherweise ein Fehler in der Größenordnung von 0,2 dB auftritt, wird es als exzellent angesehen, wenn eine Änderung der C/N-Werte zwischen den Zeitpunkten vor und nach der Untersuchung der Wiedergabeverschlechterung 0,2 dB oder weniger beträgt. Die zuvor erwähnte Messmethode, die Messbedingungen und die Messapparatur sind die gleichen, wie die für die Ausführungsformen eins bis acht genutzten.
Es wurden auch andere Zusammensetzungen als die in dem zuvor erwähnten Vergleichsbeispiel detailliert angegebenen Zusammensetzungen, aus welchen die Aufzeichnungsschicht 4 besteht, untersucht. Die untersuchten Zusammensetzungen sind in 4 gezeigt.
Wie anhand von 4 deutlich wird, zeigt eine optische Platte 10, bei welcher eine optische Phasenänderungs-Aufzeichnungsschicht aus einem GeSbTe-Systemmaterial besteht und die eine starke Beständigkeit gegenüber Wiedergabelicht bietet und auch mit einem optischen Plattensystem verwendet werden kann, welches einen blauen Laserstrahl nutzt, dass die Verschlechterung des C/N-Wertes durch eine Wiedergabeleistung von 0,30 mW während der Standmoduswiedergabe innerhalb von 0,2 dB liegt und der Anfangsjitter weniger als 9 % beträgt, solange der jeweilige bevorzugte Zusammensetzungsbereich von Ge, Sb und Te derart vorgesehen ist, dass Ge zu mehr als 3,4 % und weniger als 14,5 %, und zwar Atomprozent, vorliegt und Sb/Te mehr als 2,1 und weniger als 4 beträgt.
Der vorstehend erwähnte Bereich für eine bevorzugte Zusammensetzung stellt einen solchen Bereich dar, bei dem sich die Wiedergabe nie verschlechtert.
In diesem Zusammenhang werden als nächstes weitere Details erklärt. Zuerst wird der Bereich für Ge erklärt.
Eine Erhöhung der Menge an Ge verbessert den Kontrast und führt zu einer erhöhten Beständigkeit gegenüber Umweltbelastungen. Eine minimale Menge für Ge ist als 3,4 (Atomprozent) definiert. Angesichts des Messfehlers kann sie jedoch geringfügig abweichen. Für den Fall, dass die Menge an Ge klein ist, wird insbesondere experimentell offensichtlich, dass Jitter kaum vermindert wird. Eine größere Menge an Ge ist jedoch nicht immer besser.
Wenn die Menge an Ge erhöht wird, nimmt relativ dazu die Menge an Sb ab, was zu einer Abnahme der Kristallisationsgeschwindigkeit führt. Anders ausgedrückt verhindert eine geringere Kristallisationsgeschwindigkeit eine Aufzeichnung oder Wiederbeschreibung mit höherer Lineargeschwindigkeit.
Ferner ist es experimentell erwiesen, dass eine geringere Menge an Sb die Kristallisationsgeschwindigkeit verlangsamt, selbst bei einem gleichen Sb/Te-Verhältnis. In diesem Fall ergibt sich durch diese langsamere Kristallisationsgeschwindigkeit beim Wiederbeschreiben möglicherweise eine unzureichende Löschung.
Andererseits wird durch Erhöhen der Menge an Ge die Kristallisationsgeschwindigkeit erhöht. Eine Aufzeichnungsschicht, die bei einer höheren Temperatur kristallisiert, bietet eine höhere Beständigkeit, sodass, wenn aufgezeichnet wird, die Wiedergabe in extrem geringem Maße verschlechtert wird. Wenn eine Kristallisationstemperatur jedoch zu stark erhöht wird, ist die Initialisierung einer Aufzeichnungsschicht tendenziell schwieriger. Eine obere Grenze für die Ge-Menge beträgt 14,5 % (Atomprozent), soweit diese untersucht werden kann.
Als nächstes wird ein Verhältnis Sb/Te erklärt. Wie zuvor erwähnt, beeinflusst das Verhältnis von Sb/Te die Kristallisationsgeschwindigkeit. Für den Fall, dass das Verhältnis Sb/Te größer ist, erhöht sich die Kristallisationsgeschwindigkeit und dies führt dazu, dass eine Aufzeichnung und Wiederbeschreibung mit einer schnelleren Lineargeschwindigkeit möglich wird. Im Gegensatz dazu nimmt für den Fall, dass das Verhältnis klein ist, die Kristallisationsgeschwindigkeit ab. Bei den Ausführungsformen eins bis acht der vorliegenden Erfindung ist die untere Grenze für das Verhältnis auf 2,1 festgelegt, da die Kristallisation während des Initialisierungsprozesses im Bereich von 2,1 schwieriger wird.
Ferner wird für den Fall, dass das Verhältnis weniger als 2,1 beträgt, ein Kristallisationszustand instabil und es besteht die Möglichkeit, dass solche Defekte auftreten, dass sich der Kontrast verschlechtert und ein Überschreiben unmöglich gemacht wird.
Andererseits ist die obere Grenze für das Verhältnis Sb/Te auf 4 festgelegt. Für den Fall jedoch, dass das Verhältnis erhöht wird, wird keine hinreichende amorphe Aufzeichnungsmarke ausgebildet, da die Aufzeichnungsschicht leicht kristallisiert. Wenn es vorkommt, dass eine amorphe Aufzeichnungsmarke ausgebildet wird, kann es passieren, dass eine aufgezeichnete Aufzeichnungsmarke verschwindet, wenn der aufgezeichnete Teil im Standwiedergabemodus wiedergegeben wird, weil die aufgezeichnete amorphe Aufzeichnungsmarke eine schwache Beständigkeit gegenüber Wiedergabelicht aufweist.
Die Zusammensetzung der Probe Nr. 15, die in 4 gezeigt ist, welche als das Vergleichsbeispiel untersucht wurde, zeigt selbst exzellente Eigenschaften und vermag einer Wiedergabeleistung von bis zu 0,35 mW standzuhalten. Wie zuvor erwähnt, kann jedoch bei der Probe Nr. 15 kaum realisiert werden, dass der Jitter eines Signals mit einer Länge 2T weniger als 9 % beträgt, da eine aushaltbare Wiedergabeleistung für die Probe Nr. 15 höchstens 50,0 dB beträgt. Anders ausgedrückt entspricht eine optische Platte der Probe Nr. 15 nicht einem optischen Datenaufzeichnungsmedium entsprechend der vorliegenden Erfindung, welches einem Wiedergabelicht mit höherer Ausgangsleistung standhalten kann und eine Aufzeichnung mit geringerem Jitter ermöglicht und somit den "Blu-ray Disc Standard Specifications" genügt.
Die Zusammensetzung der Aufzeichnungsschicht 4 wird mit einem Fremdstoff wie etwa Fe, Al und Si vermischt, obgleich der Fremdstoff einen extrem geringen Mengenanteil ausmacht. Ein solcher Fremdstoff kann auf insgesamt weniger als 1 heruntergedrückt werden, wenn die gesamte Menge der Elemente, aus denen sich die Aufzeichnungsschicht 4 zusammensetzt, als 100 %, und zwar Atomprozent, definiert ist. Durch Zusetzen des jeweiligen Elements der vorstehend genannten Fremdstoffe zu der bestandteilmäßigen Zusammensetzung der Aufzeichnungsschicht 4 der Probe Nr. "2 – v11" gemäß der Ausführungsform eins der vorliegenden Erfindung wurde der Einfluss des Fremdstoffs untersucht. Die Ergebnisse der Untersuchung sind in den 20-22 gezeigt.
20 stellt eine Tabelle dar, welche die bestandteilmäßige Zusammensetzung, den Jitter sowie die Beständigkeit gegenüber Wiedergabelicht bei Zusetzung von 1 % eines Zusatzelements in Bezug auf die Probe Nr. "2 – v11" der Ausführungsform eins der vorliegenden Erfindung zeigt.
21 stellt eine Tabelle dar, welche die bestandteilmäßige Zusammensetzung, den Jitter sowie die Beständigkeit gegenüber Wiedergabelicht bei Zusetzung von 1,1 % eines Zusatzelements in Bezug auf die Probe Nr. "2 – v11" der Ausführungsform eins der vorliegenden Erfindung zeigt.
22 stellt eine Tabelle dar, welche die bestandteilmäßige Zusammensetzung, den Jitter sowie die Beständigkeit gegenüber Wiedergabelicht bei Zusetzung von 1,2 % eines Zusatzelements in Bezug auf die Probe Nr. "2 – v11" der Ausführungsform eins der vorliegenden Erfindung zeigt. In den 20-22 bedeutet ein Eintrag "ja", dass eine entsprechende Probe die "Blu-ray Disc Standard Specifications" in Bezug auf Anfangsjitter, Jitter nach einer zweiten Aufzeichnung und Beständigkeit gegenüber Wiedergabelicht erfüllt. Im Gegensatz dazu bedeutet ein Eintrag "nein", dass eine entsprechende Probe die "Blu-ray Disc Standard Specifications" nicht erfüllt.
Der jeweilige Fremdstoff Fe, Al und Si wird in einem Bereich von 1,0 bis 1,2 % (Atomprozent) als zusätzliches Element zugesetzt. Wenn eine zugesetzte Menge eines Fremdstoffs 1,0 beträgt, wie in 20 gezeigt ist, betragen der mittlere Anfangsjitter, der Jitter nach einer zweiten Aufzeichnung und die aushaltbare Wiedergabeleistung weniger als 8 %, weniger als 8 %, bzw. 0,38 mW. Es ist zu verstehen, dass alle in 20 gezeigten optischen Platten mit einem Zusatz des Fremdstoffes von 1,0 % die "Blu-ray Disc Standard Specifications" hinreichend erfüllen.
Wenn eine zugesetzte Menge eines Fremdstoffs 1,1 % beträgt, wie in 21 gezeigt ist, betragen der mittlere Anfangsjitter, der Jitter nach einer zweiten Aufzeichnung und die aushaltbare Wiedergabeleistung weniger als 8 %, weniger als 8 %, bzw. 0,38 mW. Dementsprechend ist zu verstehen, dass alle in 21 gezeigten optischen Platten mit einem Zusatz des Fremdstoffs von 1,1 % die "Blu-ray Disc Standard Specifications" hinreichend erfüllen.
Wenn andererseits eine zugesetzte Menge eines Fremdstoffs 1,2 % beträgt, wie in 22 gezeigt ist, übersteigen der mittlere Anfangsjitter und der Jitter nach einer zweiten Aufzeichnung 8 %. Folglich ist zu verstehen, dass alle in 22 gezeigten optischen Platten mit einem Zusatz des Fremdstoffs von 1,2 % die "Blu-ray Disc Standard Specifications" nicht hinreichend erfüllen.
Wie zuvor erwähnt, kann, wenn die Gesamtmenge der Elemente der Zusammensetzung (Ti, In, Ge, Sb und Te) 98,8 % oder mehr beträgt, ein optisches Informationsaufzeichnungsmedium erhalten werden, welches einen geringen Anfangsjitter und Jitter nach einer zweiten Aufzeichnung aufweist und einer Wiedergabeleistung mit einer höheren Ausgangsleistung standhält.
Ferner ist, wenn 1,1 % eines Fremdstoffs enthalten sind, ein Anstiegsverhältnis des Jitters relativ hoch. Folglich ist es eher wünschenswert, dass eine zugesetzte Menge eines Fremdstoffs 1,0 % oder weniger beträgt. Anders ausgedrückt, ist es eher wünschenswert, dass die Gesamtmenge der bestandteilmäßigen Zusammensetzung der Aufzeichnungsschicht 4 99,0 % oder mehr beträgt.
Wie anhand der vorstehend ausgeführten detaillierten Erklärung deutlich wird, besteht ein optisches Informationsaufzeichnungsmedium gemäß der vorliegenden Erfindung aus einem Substrat und einer optischen Phasenänderungs-Aufzeichnungsschicht, welche eine von mehreren auf dem Substrat ausgebildeten Schichten darstellt. Die optische Phasenänderungs-Aufzeichnungsschicht enthält zumindest Ti, In, Ge, Sb und Te. Wenn der jeweilige Gehalt, in Atomprozent, an Ti, In, Ge, Sb und Te als "v", "w", "x", "y" und "z" definiert wird, genügt der jeweilige Gehalt "v", "w", "x", "y" und "z" den folgenden Beziehungen: 0,3 ≤ v ≤ 4, 0,3 ≤ w ≤ 3, 3,4 ≤ x ≤ 14,5 und 2,1 ≤ y/z ≤ 4.
In den Ausführungsformen der vorliegenden Erfindung ist definiert, dass "v + w + x + y + z = 100" Atomprozent ausmacht. Es ist jedoch akzeptabel, dass eine geringe Menge an anderen Materialien enthalten ist, das heißt, "v + w + x + y + z ≤ 100" Atomprozent gilt. Es ist jedoch wesentlich, dass "v + w + x + y + z ≥ 98,8" Atomprozent gilt.
Weiter ist es wünschenswert, dass "v + w + x + y + z ≥ 99,0" Atomprozent gilt.
Entsprechend dem Aufbau eines jeweiligen optischen Informationsaufzeichnungsmediums gemäß der Ausführungsformen eins bis acht der vorliegenden Erfindung, welche durch die zuvor erwähnten Beziehungen charakterisiert sind, ist zu verstehen, dass vorteilhafte Ergebnisse in Bezug auf die Eigenschaften erreicht werden können, die nie mit einem Aufzeichnungsmaterial erzielt werden, das nur aus GeSbTe besteht.

Claims

Optisches Datenaufzeichnungsmedium zur Aufzeichnung von Informationen, umfassend: ein Substrat; und eine optische Phasenänderungs-Aufzeichnungsschicht, die als eine von mehreren auf dem Substrat ausgebildeten Schichten vorgesehen ist, wobei die optische Phasenänderungs-Aufzeichnungsschicht ferner zumindest Ti, In, Ge, Sb und Te enthält, wobei, wenn die jeweils enthaltene Menge an Ti, In, Ge, Sb und Te als v, w, x, y und z, jeweils in Atomprozent, definiert wird, die jeweils enthaltene Menge v, w, x, y und z in Atomprozent den folgenden Beziehungen genügt: 0,3 ≤ v ≤ 4; 0,3 ≤ w ≤ 3; 3,4 ≤ x ≤ 14,5; 2,1 ≤ y/z ≤ 4,0; und v + w + x + y + z ≤ 100.
Optisches Datenaufzeichnungsmedium nach Anspruch 1, wobei die jeweils enthaltenen Mengen v, w, x, y und z, in Atomprozent, der Beziehung v + w + x + y + z ≥ 98,8 genügen.