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Die
vorliegende Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zur Behandlung
einer Oberfläche,
in welchem
- – Ionen erzeugt werden, die
jeweils mindestens drei positive Ladungen aufweisen, und
- – ein
Bündel
dieser Ionen zur Oberfläche
gesendet wird.
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Die
Erfindung bezieht sich auch auf eine entsprechende Diamantoberfläche und
auf Anwendungen eines solchen Verfahrens oder einer solchen Oberfläche.
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Ein
Verfahren des oben erwähnten
Typs ist in den internationalen Patentanmeldungen WO-98/29901 und
WO-98/54747 beschrieben.
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Insbesondere
bezieht sich das Dokument WO-98/29901 auf eine Strukturmodifizierung
ohne Kontakt von Ionen mit einer Oberfläche eines Halbleiters, um auf
dieser Oberfläche
isolierende Zonen zu bilden.
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Das
Dokument WO-98/54747 beschreibt seinerseits eine Ätztechnik
durch Ionen. In einer bestimmten Ausführungsform, die in diesem Dokument offenbart
wird (siehe Anspruch 8), sendet man das Bündel zu einem Halbleiter oder
einem Isolator und modifiziert lokal die elektrische oder chemische
Eigenschaft oder die Topographie der Oberfläche durch dieses Bündel, ohne
dass das Bündel
mit der Oberfläche
in Kontakt gebracht wird.
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Der
Artikel von Watanabe et al., der unter dem Titel "Effect of ion implantation
of ion-plated diamond-like carbon films" in Diamond and Related Materials 3
(1994) 1117–1119
erschienen ist, beinhaltet die Steuerung der Struktur eines dem Diamant gleichwertigen
(D.L.C.) Kohlenstofffilms, der eine harte Beschichtung für Werkzeugstähle darstellt, durch
Implantation geladener Ionen.
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Die
vorliegende Erfindung zielt gemäß Anspruch
1 auf eine Technik ab, die die Bildung leitfähiger Zonen auf einer isolierenden
Oberfläche
ermöglicht,
bei der überraschenderweise
nur das alleinige Senden eines Ionenbündels notwendig ist. Die Erfindung
zielt auf eine Technik ab, die die Bildung derartiger kleiner und
steuerbarer Zonen ermöglicht.
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Die
Erfindung bezieht sich somit auf ein Verfahren zur Behandlung einer
isolierenden Oberfläche,
das es ermöglicht,
wenigstens eine Zone dieser Oberfläche leitfähig zu machen, wobei wider
Erwarten das Senden eines Ionenbündels
zur Oberfläche verwirklicht
wird.
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Die
Erfindung betrifft auch eine isolierende Oberfläche, die kleine leitende Inseln
abgrenzt, die einen Durchmesser von weniger als 10 nm haben und
durch das Behandlungsverfahren der Erfindung erhalten werden können.
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Die
Erfindung zielt auch auf Anwendungen der vorliegenden Technik auf
die Mikroelektronik ab, um Speicher für ein Elektron zu verwirklichen,
und auf die Herstellung von Kaltkathoden, insbesondere für Flachbildschirme.
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Demgemäß besteht
ein Ziel der Erfindung in einem Verfahren zur Behandlung einer Oberfläche, in welchem
- – man
Ionen erzeugt, die jeweils mindestens drei positive Ladungen aufweisen,
und
- – man
ein Bündel
der mehrfach positiv geladenen Ionen so in Richtung der Diamantoberfläche sendet,
dass auf mindestens einer Zone dieser Oberfläche eine lokale Strukturmodifizierung
verursacht wird, die ein Leitfähigmachen
dieser Zone ermöglicht,
- – jedes
Ion eine solche Ladung, eine solche kinetische Energie und einen
solchen Einfallswinkel hat, dass die erzeugte Strukturmodifizierung
sich über
eine Fläche
erstreckt, die größer als
das Vierfache und vorzugsweise das Zehnfache der Oberfläche eines
Atoms des Diamanten und kleiner als 22 500 nm2 ist.
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Unter "Diamant" versteht man nicht
nur einen natürlichen
oder künstlichen
Diamanten (der z.B. durch ein CVD-Verfahren – chemische Bedampfung – oder HPHT-Verfahren – Hochdruck-Hochtemperatur-Verfahren – hergestellt
wird) und der polykristallin oder monokristallin ist, sondern auch
einen "amorphen
sp3-Kohlenstoff" (diamantartiger
Kohlenstoff), der eine sp3-Bindung wie der
Diamant, aber eine andere kristallographische Struktur aufweist.
Die Oberfläche
des Diamanten wird vorzugsweise in Form einer dünnen Schicht auf einem Substrat
hergestellt, das vorzugsweise aus Silicium besteht.
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Es
ist insbesondere überraschend,
dass das Senden eines Ionenbündels
auf eine derartige isolierende Oberfläche, die aus Diamant besteht
(d.h. reinem kristallisierten Kohlenstoff in einer Diamantstruktur),
lokal zur stabilen Bildung von leitfähigen Zonen führen kann.
Dieser Effekt beruht auf einem bisher unerforschten physikalischen
Phänomen,
gemäß dem die
Struktur des Diamanten auf einer dünnen Oberfläche durch ein oder mehrere
einzelne Ionen zu einer allotropen leitfähigen Abart modifiziert werden kann.
Tatsächlich
weist der Kohlenstoff mehrere allotrope kristalline Formen auf,
die insbesondere den Diamanten (isolierende Form) und den Graphit
(leitfähige
Form) umfassen; und ein Ion, das wenigstens drei positive Ladungen
aufweist, ist befähigt,
in der Oberfläche
des Diamanten eine große
Fehlstelle, bezogen auf atomare Größen, makroskopisch aber von geringer
Größe, hervorzurufen.
Ein solches Ion bewirkt inmitten der Oberfläche des Diamanten ein massives
Abwandern von Elektronen, die es ermöglichen, einen derartigen Effekt
zu erhalten.
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Demgegenüber beruht
z.B. die Technik, die im Dokument WO-98/54747 beschrieben ist, auf
dem Ausstoßen
von Atomen, die in den Molekülen
der betreffenden Oberfläche
vorliegen (siehe insbesondere Seite 8, Zeile 7–19), und demgemäß ist sie
in ihrem Ziel und ihrer Anwendung von dem Verfahren der vorliegenden
Erfindung sehr verschieden.
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Die
Arbeitsweisen mit dem Ionenbündel
werden vorzugsweise im Vakuum durchgeführt. Dieses Vakuum kann einem
relativ hohen Druck entsprechen, z.B. in der Größenordnung von 10–9 Pa.
Es kann auch ein Ultravakuum sein.
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Die
Ionen, die jeweils wenigstens drei positive Ladungen aufweisen,
werden als mehrfach geladene positive Ionen bezeichnet. Z.B können die
einfach geladenen Ionen keinesfalls den angegebenen Effekt erzeugen,
der aus der lokalen Erzeugung stabiler leitfähiger Zonen auf der Oberfläche des
Diamanten besteht. Hochenergetische einfach geladene Ionen könnten bei
ihrem Durchgang durch das gesamte Material a priori kristallographische
oder chemische Bindungen lokal spalten. Sie würden jedoch nur punktuelle
Fehlstellen auf der Oberfläche
in atomaren Größenordnungen
erzeugen. Derartige Fehlstellen von punktueller Tiefe in der Oberfläche erlauben
nicht die Verwendung von erzeugten leitfähigen Zonen. Die so erzeugten
Fehlstellen haben insbesondere die Neigung, durch thermische Effekte
auf natürliche
Weise repariert zu werden, so dass eine abschließende chemische Behandlung
notwendig wäre,
um eine stabile leitfähige
Zone zu erhalten.
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Die
gebildeten leitfähigen
Zonen haben leitfähige
Eigenschaften, die denen des Graphits ähnlich sind, was sich durch
die strukturelle Modifizierung des Diamanten erklärt, indem
man ihn in eine andere allotrope, Nichtdiamant-Abart überführt, was sich
insbesondere durch einen Verlust der kristallinen Eigenschaft des
Diamanten äußert.
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Das
obige Verfahren ist zur Bildung von sehr kleinen lokalisierten leitfähigen Zonen,
wie kleine leitende Inseln, die einen Durchmesser von weniger als 150
nm und vorzugsweise von weniger als 10 nm haben, zur Bildung von
leitenden Linien oder Teilen von leitfähigen Oberflächen oder
zur strukturellen Modifizierung der gesamten Oberfläche des
Diamanten verwendbar.
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Die
leitfähige
Zone, die durch den Aufprall eines der Ionen des Bündels erzeugt
wird, hat eine bestimmte Oberfläche
und eine bestimmte Tiefe auf einer Oberfläche des Diamanten, die durch
die Ladung, die kinetische Energie und gegebenenfalls den Einfallswinkel
des Ions gegeben sind.
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Demgegenüber können die
einfach geladenen Ionen individuell nur Fehlstellen erzeugen, die eine
Fläche
haben, welche kleiner als das Zehnfache der Oberfläche eines
Atoms ist, und das massive Senden eines Ionenbündels kann nur zu leitfähigen Oberflächen führen, die
sehr viel größer als
22.500 nm2 sind.
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Nachstehend
versteht man unter "lokaler struktureller
Modifizierung" eine
Modifizierung auf einer Fläche
in dem oben angegebenen Bereich.
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In
einer ersten bevorzugten Ausführungsform
mit einer lokalen strukturellen Modifizierung sendet man das Bündel auf
derartige Weise, dass mindestens eine kleine leitende Insel eines
Durchmessers von weniger als 150 nm gebildet wird.
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Die
leitenden kleinen Inseln haben vorteilhaft einen Durchmesser von
weniger als 10 nm und vorzugsweise zwischen 2 und 6 nm. Das Behandlungsverfahren
der Erfindung ermöglicht
eine derartige Präzision
der lokalen strukturellen Modifizierung, wobei jedes der Ionen eine
kleine Insel bilden kann.
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Man
verwendet nun vorzugsweise die kleinen leitenden Inseln als Speicher
für ein
Elektron (Punkte). Diese letzteren sind besonders für mikroelektronische
Anwendungen brauchbar.
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In
einer anderen Form der ersten Ausführungsform verwendet man die
kleinen leitenden Inseln als Speicher zur Nachspeisung von Kaltkathoden.
Die Größe der kleinen
leitenden Inseln ist nun vorteilhaft größer als 10 nm und besonders
bevorzugt größer als
100 nm.
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Gemäß einer
zweiten bevorzugten Ausführungsform
sendet man das Bündel
auf derartige Weise, dass leitende Linien gebildet werden, die isolierende
Muster abgrenzen.
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Gemäß einer
dritten bevorzugten Ausführungsform
sendet man das Bündel
dergestalt, dass wenigstens ein Teil der Diamantoberfläche leitend wird.
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Um
dies zu erreichen, verwendet man vorzugsweise eine lokale strukturelle
Modifizierung dieser Oberflächenteile
durch Abtasten mit einem Bündel.
Dies ermöglicht
eine Präzision,
die der Größe des Bündels und
ihrer Führung
entspricht, d.h. klassisch gesprochen kleiner als 1 μm.
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In
einer besonderen Form der dritten Ausführungsform wird die gesamte
Oberfläche
des Diamanten leitend gemacht.
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Gemäß einer
bevorzugten Form der lokalen strukturellen Modifizierung wird diese
zufällig
bewirkt. Somit besteht insbesondere die erste Art der Ausführungsform
nun darin, kleine leitende Inseln zu bilden, die auf zufällige Weise
auf der Oberfläche
des Diamanten verteilt sind, wobei die Anzahl der kleinen leitenden
Inseln pro Oberflächeneinheit
durch die Anzahl der Ionen definiert ist, die diese Oberfläche erreichen.
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In
einem anderen Modus der lokalen strukturellen Modifizierung wird
diese gemäß einem
vorbestimmten Schema verwirklicht.
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Insbesondere
werden auf vorteilhafte Weise die Zonen der Oberfläche selektiv
behandelt, indem man das Bündel
zu Führungsvorrichtungen
schickt, wobei das Bündel
mit den Führungsvorrichtungen zur
Oberfläche
geleitet wird, und indem auf wiederholte Weise die folgenden Arbeitsgänge durchgeführt werden:
- – es
erfolgt ein räumlich-zeitlicher
Nachweis von Wechselwirkungen von Ionen des Bündels mit der Oberfläche,
- – das
Bündel
wird unterbrochen,
- – es
erfolgt eine relative Verschiebung der Oberfläche in Bezug auf die Position
des Bündels
und
- – das
Bündel
wird wiederhergestellt.
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Das
relative Verschieben der Oberfläche
in Bezug auf die Position des Bündels
kann ein Verschieben der Oberfläche
oder ein Verschieben des Bündels
implizieren, und zwar durch Abänderung
ihrer Position oder Orientierung. Man bewirkt so die lokale strukturelle
Modifizierung auf sukzessive Weise, Zone nach Zone. In einer Abänderung
der Ausführungsform
leitet man gleichzeitig mehrere Bündel zur Oberfläche.
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Der
räumlich-zeitliche
Nachweis besteht in der gleichzeitigen Identifizierung der Positionen
und der Momente der Wechselwirkungen.
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Indem
man auf diese Weise verfährt,
beherrscht man die Zeiten der Einwirkung auf die Oberfläche des
Diamanten und die relativen Verschiebungen dieser Oberfläche in Bezug
auf das Ionenbündel. Diese
Beherrschung erzeugt eine sehr große Zuverlässigkeit. Tatsächlich bringt
die lokale strukturelle Modifizierung durch Ionen ein zufälliges Eintreffen von
Ionen auf der Auftreffplatte Ziel mit sich, sowohl vom räumlichen
als auch zeitlichen Gesichtspunkt aus gesehen. Das Verfahren der
gesteuerten lokalen strukturellen Modifizierung, wie oben angegeben
ist, ermöglicht
ein Anpassen der Behandlung an diese zufälligen Phänomene.
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Eine
ausführliche
Beschreibung mehrerer Ausführungsformen
eines derartigen Verfahrens findet man in der internationalen Patentanmeldung WO-98/54747.
Alle diese Ausführungsformen
sind auf die vorliegende Erfindung anwendbar, wobei die Steuerung
der lokalen strukturellen Modifizierung dieses Standes der Technik
mit der Auswahl einer Diamantoberfläche und der Verwendung von
Ionen, die jeweils wenigstens drei positive Ladungen aufweisen,
kombiniert wird.
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Insbesondere
werden die folgenden Eigenschaften getrennt oder gemäß allen
ihren technisch möglichen
Kombinationen vorteilhaft angewendet:
- – das Ionenbündel wird
zwischen der Ionenquelle und der zu behandelnden Oberfläche räumlich lokalisiert,
vorzugsweise mittels eines oder mehrerer Kollimatoren des Bündels,
- – die
Position des Bündels
wird gesteuert und es wird abgekühlt,
- – es
erfolgt eine monokinetische Auswahl von Ionen zwischen der Ionenquelle
und der zu behandelnden Oberfläche,
- – das
Ionenbündel
wird durch Anlegungsvorrichtungen eines elektrischen Feldes in etwa
parallel zur zu behandelnden Oberfläche unterbrochen, vorteilhafter
Weise in Kombination mit der Verwendung eines Kollimators,
- – die
Führungsvorichtungen
umfassen Anlegungsvorrichtungen eines Magnetfeldes, das das Ionenbündel in
einem bestimmten Winkel ablenkt, wobei das Magnetfeld vorzugsweise
gleichförmig ist
und der Ablenkungswinkel vorzugsweise 90° beträgt,
- – die
Führungsvorrichtungen
umfassen Anlegungsvorrichtungen eines elektrischen Feldes, das eine
elektrische Ablenkung erzeugt,
- – die
Führungsvorrichtungen
bewirken zugleich ein kombiniertes magnetisches und ein elektrisches
Feld, z.B. in einem Wien-Filter,
- – es
erfolgt eine relative Verschiebung der Oberfläche in Bezug auf die Position
des Bündels durch
wenigstens ein Element, das aus einem piezoelektrischen Quarz und
einem keramischen Material ausgewählt ist, wobei die Oberfläche des Diamanten
in Bezug auf das auf diese Oberfläche einfallende Ionenbündel verschoben
wird,
- – man
bewirkt eine lokale topographische Steuerung und/oder der elektrischen
Leitfähigkeit
der behandelten Oberfläche,
vorzugsweise durch ein Tunnelmikroskop und/oder ein Atomkraftmikroskop,
- – es
wird eine Wechselwirkung von Ionen mit der zu behandelnden Oberfläche ohne
Kontakt zwischen dem Bündel
und der Oberfläche
erzeugt; der räumlich-zeitliche
Nachweis umfasst nun eine Nachweistechnik, die aus Folgenden ausgewählt ist:
- – das
Messen von Photonen, die bei Durchgängen von extrahierten Elektronen
von einer elektronischen Schicht zu einer anderen von hohlen Atomen
des Ionenbündels
emittiert werden (vorzugsweise Messung von emittierten Röntgenstrahlen)
- – der
Nachweis von Elektronen, die durch den Auger-Effekt durch hohle
Atome emittiert werden,
- – der
Nachweis von Ionen oder hohlen Atomen selbst (vorzugsweise Position,
Geschwindigkeit und Ladung von zurückgestreuten hohlen Atomen),
- – der
Nachweis von ionisierten Fragmenten von Molekülen der Behandlungsoberfläche, die
unter dem Effekt von Wechselwirkungen ausgestoßen werden (abgetrennte Atome),
- – der
Nachweis einer Elektronengarbe, die unter dem Effekt von Wechselwirkungen
emittiert wird,
- – das
Messen von Photonen, die von Atomen der Diamantoberfläche emittiert
werden, und
- – die
Kombination von mehreren dieser Techniken.
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Das
Behandlungsverfahren kann eine Wechselwirkung auf Distanz, eine
Wechselwirkung durch einen potentialen Effekt und/oder eine Wechselwirkung
unter In-Kontakt-Treten des Ionenbündels und der Diamantoberfläche einschließen, wobei
ein Eindringen von Ionen unter die Oberfläche (kinetischer Effekt) eingeschlossen
sein kann.
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Somit
sendet man in einer ersten bevorzugten Form der Wechselwirkung das
Ionenbündel
dergestalt, dass es mit der Oberfläche in Kontakt tritt und in
dieselbe ein. Dann werden vorteilhaft Ionen produziert, die eine
anfängliche
kinetische Energie zwischen 5 eV/q und 500 keV/q haben.
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In
einer zweiten Form der Wechselwirkung legt man an das Bündel eine
Verzögerungsspannung in
der Nähe
der Oberfläche
an, um so den Ionen des Bündels
eine mittlere gesteuerte Geschwindigkeit zu verleihen, wobei die
Ionen, aus den Diamantatomen Elektronen extrahieren ohne mit der
Oberfläche
in Kontakt zu treten und somit die Bindungen zwischen diesen Atomen
modifiziert werden.
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Man
verlangsamt nun vorteilhaft die Ionen auf derartige Weise, dass
sie in der Nähe
der Oberfläche
eine kinetische Energie zwischen 5 × 10–2 eV/q und
5 eV/q haben.
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Diese
Wechselwirkungstechnik ohne Kontakt wird in der internationalen
Patentanmeldung WO-98/54747 im Falle einer Steuerung des Ätzens und
in der internationalen Patentanmeldung WO-98/29901 zur Bildung von
isolierenden Zonen auf einer halbleitenden Oberfläche ausführlich beschrieben.
Auf die Gesamtheit der Techniken, die in den beiden Fällen des
Standes der Technik aufgezeigt und entwickelt wurden, wird in der
vorliegenden Erfindung mit den folgenden Anpassungen Bezug genommen:
bei der Anmeldung WO-98/54747 muss das Verfahren für ein Bündel von
mehrfach geladenen Ionen und eine Diamantoberfläche spezifiziert werden.
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Im Übrigen ist
das vorliegende Verfahren nicht auf die in dieser Vorveröffentlichung
beschriebene Technik der Steuerung der lokalen strukturellen Modifizierung
beschränkt
und gilt insbesondere für ein
zufälliges Ätzen. Beim
Dokument WO-98/29901 wird das Behandlungsverfahren auf eine Diamantoberfläche angewendet,
und es werden so leitfähige Zonen
auf einer isolierenden Oberfläche
und keine isolierenden Zonen auf einer halbleitenden Oberfläche erzeugt.
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Gemäß einer
dritten Form der Wechselwirkung berühren die Ionen die Oberfläche, jedoch
ohne ein heftiges Aufprallen, so dass sie nicht in die Oberfläche eindringen
können
und nur in dem obersten Teil der Oberfläche in Wechselwirkung treten.
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In
der dritten Art von Wechselwirkung werden die Ionen vorteilhaft
abgebremst, bis sie eine Energie erreichen, die weniger als 5 eV/q
bzw. weniger als 25 eV/q beträgt.
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In
einer vorteilhaften ersten Ausführungsform
der Oberfläche
des Diamanten ist diese eine Oberfläche eines monokristallinen,
künstlichen
oder natürlichen
Diamanten.
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In
einer zweiten vorteilhaften Form ist sie eine Oberfläche eines
polykristallinen Diamanten, die vorzugsweise durch eine Technik
der chemischen Bedampfung (Chemical Vapor Deposition oder CVD) oder
eine Hochdruck-Hochtemperatur (HPHT)-Technik erhalten wird. Die
Oberfläche
des Diamanten ist dann vorteilhaft eine Schicht, die auf einem Substrat, z.B.
Silicium, abgeschieden wird.
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Die
Verwendung einer Oberfäche
eines polykristallinen Diamanten, der Monokristalle verschiedener
Größen aufweist,
vorzugsweise CVD oder HPHT, verursacht auf vorteilhafte Weise ein
Anwachsen der Anzahl von verfügbaren
Elektronen. Tatsächlich
ermöglicht
eine derartige Ausführung
eine Modifizierung des Teils der kristallinen Oberfläche in Bezug auf
Korn-Verbindungsstellen, die Leiter sind, wobei die Letzteren somit
vorteilhaft ihren isolierenden Nachbarn Elektronen liefern können.
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Die
Bestrahlungstechnik einer derartigen Oberfläche ermöglicht auch a posteriori und
auf eine industriell einfache Weise die Beziehung zwischen leitfähiger Oberfläche und
isolierender Oberfläche
zu steuern.
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Diese
Durchführungen
mit Monokristallen verschiedener Größen sind für die Herstellung von Kaltkathoden
besonders interessant, denn sie gewährleisten eine Nachspeisung
von Elektronen.
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In
einer dritten vorteilhaften Form ist diese Oberfläche eine
Oberfläche
aus amorphem sp3-Kohlenstoff.
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Vorteilhaft
ist die Oberfläche
des Diamanten durch eine atomare Monoschicht, vorzugsweise aus Wasserstoff
oder Sauerstoff, passiviert. Diese Monoschicht kann leitfähig (z.B.
Wasserstoff oder isolierend (z.B. Sauerstoff) sein. In einer anderen
Ausführungsform
ist die Diamantoberfläche
eine natürliche Oberfläche.
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Die
Erfindung betrifft auch eine Diamantoberfläche, die kleine leitende Inseln
eines Durchmessers von größer als
2 und vorzugsweise 3 Atomabständen
und kleiner als 10 nm und vorzugsweise zwischen 2 und 6 nm eingrenzt.
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Die
kleinen Inseln haben vorteilhaft leitfähige Eigenschaften, die denjenigen
von Graphit ähnlich sind.
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Eine
derartige Oberfläche
kann insbesondere durch das Behandlungsverfahren gemäß der Erfindung
erhalten werden.
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Die
Erfindung betrifft auch die Anwendung einer solchen Oberfläche auf
die Mikroelektronik, bei der kleine leitende Inseln als Speicher
eines Elektrons verwendet werden.
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Die
Erfindung bezieht sich auch auf die Anwendung des Behandlungsverfahrens
zur Herstellung von Kaltkathoden, insbesondere für Flachbildschirme.
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Die
Erfindung wird mit Hilfe von Ausführungsbeispielen der Erfindung
erläutert
und besser verstanden, die nachstehend unter Bezugnahme auf beigefügte Zeichnungen
angegeben sind, in denen:
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1 ein
mit einer Diamantschicht bedecktes Siliciumplättchen zeigt;
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2A das
Plättchen
der 1 nach der Anwendung des erfindungsgemäßen Verfahrens
gemäß einer
ersten Ausführungsform
zeigt;
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2B das
Plättchen
der 1 nach der Anwendung des erfindungsgemäßen Verfahrens
gemäß einer
zweiten Ausführungsform
zeigt;
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2C das
Plättchen
der 1 nach der Anwendung des erfindungsgemäßen Verfahrens
gemäß einer
dritten Ausführungsform
zeigt;
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3 ein
Blockdiagramm der unterschiedlichen Schritte eines erfindungsgemäßen Verfahrens unter
Steuerung der lokalen strukturellen Modifizierung ist, wodurch es
ermöglicht
wird, ein Plättchen wie
jenes der 2A oder der 2B zu
erhalten;
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4 eine
Ausführungsform
einer Vorrichtung der strukturellen Iodifizierung darstellt, die
es insbesondere ermöglicht,
das Verfahren unter Steuerung der lokalen strukturellen Modifizierung
anzuwenden, wobei die Hauptschritte desselben in der 3 schematisch
aufgeführt
sind, und
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5 die
Wechselwirkung eines positiven mehrfach geladenen Ions mit der Oberfläche des Plättchens
der 1 bei der Anwendung des erfindungsgemäßen Verfahrens
darstellt.
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Ein
Plättchen 1 (1)
umfasst ein Substrat 2 aus Silicium, das mit einer Diamantschicht 3 bedeckt
ist, die auf dem Substrat 2 abgeschieden ist. Die Schicht 3,
welche z.B. eine Dicke zwischen 1 und 500 μm aufweist, ist durch eine Monoschicht 4 aus Wasserstoff
oder Sauerstoff passiviert. Die Schicht 3 definiert somit
eine Oberfläche 5,
die den Oberflächenanteil
des Plättchens 1 darstellt,
der von der Diamantschicht 3 eingenommen wird. Da der Diamant ein
sehr guter elektrischer Isolator ist, ist die Schicht 3 stark
isolierend unter der Monoschicht 4.
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Das
nachstehend beschriebene Behandlungsverfahren ermöglicht die
Umwandlung des Plättchens 1 auf
drei mögliche
Arten:
- – in
ein Plättchen 2A,
in dem die Oberfläche 5A eine
Diamantschicht 10A umfasst, die mit kleinen leitenden Inseln 6 sehr
geringer Größen von weniger
als 150 nm, vorteilhafter Weise von weniger als 10 nm und vorzugsweise
zwischen 2 und 6 nm versehen ist (2A);
- – in
ein Plättchen 2B mit
einer Oberfläche 5B,
die eine Diamantschicht 10B umfasst, in der leitende Linien 7 ausgebildet
sind, die isolierende Muster 8 abgrenzen (2B);
- – in
ein Plättchen 2C mit
einer Oberfläche 5C,
die eine Diamantschicht 10C umfasst, in der Teile der leitfähigen Oberfläche 9 ausgebildet
sind (2C).
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Die
zwei ersten Ausführungsformen
(Plättchen 2A und 2B)
entsprechen einer selektiven lokalen Behandlung der Oberfläche, wobei
die dritte Ausführungsform
(Plättchen 2C)
ebenfalls durch eine lokale strukturelle Modifizierung erhalten
werden kann. Ein spezieller Fall der dritten Ausführungsform
ist derjenige, bei dem die Oberfläche vollständig behandelt ist. Eine der äußerst interessanten
Besonderheiten der Plättchen 2A und 2B und 2C (außerhalb
der Behandlung der gesamten Oberfläche 5) besteht darin,
dass die sehr leitfähigen
Zonen, deren Größen perfekt
beherrscht werden können,
den stark isolierenden Zonen benachbart sind. Exakter ausgedrückt: die
kleinen leitenden Inseln 6 oder die leitenden Linien 7 sowie
die Anteile der Oberfläche 9 haben
elektrische Eigenschaften, die denen des Graphits ähnlich sind.
Gemäß Behandlungsverfahren,
die zu den Plättchen 2A, 2B und
gegebenenfalls 2C führen,
ergibt eine erste Form der zufälligen
lokalen strukturellen Modifizierung den Vorteil der Schnelligkeit
und eine zweite Form der räumlich
gesteuerten lokalen strukturellen Modifizierung ergibt den Vorteil
der Präzision.
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Das
Erhalten von Plättchen
des Typs 2A ist im Bereich der Mikroelektronik besonders
interessant, denn die kleinen leitenden Inseln 6, deren Durchmesser
genügend
beherrscht werden kann, können
als Speicher für
ein Elektron dienen. Informationen können auch in dem Plättchen 1 gemäß dem Vorliegen
oder Fehlen eines Elektrons in jedem dieser Speicher gespeichert
werden.
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Die
Plättchen
des Typs 2A sind ebenfalls für die Herstellung von Kaltkathoden
brauchbar. In diesem Fall dienen die kleinen leitenden Inseln 6 als Speicher
zur Nachspeisung solcher Kaltkathoden.
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Das
Behandlungsverfahren der Oberfläche 5 wird
nun in einer bestimmten Ausführungsform
ausführlich
beschrieben, die auf der Verwendung einer speziellen Vorrichtung
zur lokalen strukturellen Modifizierung beruht, welche in der 4 dargestellt
ist. Diese Vorrichtung ermöglicht
es, irgendeines der Plättchen 2A, 2B oder 2C zu
erhalten, sie erlaubt eine zufällige
oder räumlich
gesteuerte Behandlung und ermöglicht
eine Wechselwirkung zwischen dem Ionenbündel und der Oberfläche 5 mit
oder ohne Kontakt.
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Die
Vorrichtung zur lokalen strukturellen Modifizierung umfasst eine
Ionenquelle 20, die positive mehrfach geladene Ionen erzeugt.
Die Ionenquelle 20 kann die Herstellung von Ionen im Inneren
eines sehr heißen
Plasmas verwenden, das in magnetischen Strukturen eingeschlossen
ist, wie eine ECR (Electron Cyclotron Resonance)-Quelle. Sie kann auch
auf dem Funktionsprinzip der Kompression von Elektronenbündeln in
einer Zylinderspule beruhen, wobei in das Elektronenbündel injizierte
Atome gleichzeitig ionisiert und durch Raumladung eingefangen werden.
Die Ionenquelle 20 kann auch vom Typ EBIS (Electron Beam
Ion Source) sein.
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Die
von der Ionenquelle 20 emittierten Ionen können z.B.
Argon, geladenes Ar17+ oder Ar18+,
Sauerstoff oder Uran sein. Sie können
auch aus leichteren Ionen bestehen, wie Bor und Kohlenstoff. Die
Anzahl der positiven Ladungen kann von einigen Einheiten bis zu
92 für
Uran variieren.
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Die
Ionenquelle 20 erzeugt auch ein Ionenbündel 41 gemäß einer
ersten Richtung 51. Die emittierten Ionen haben eine anfängliche
kinetische Energie in der Größenordnung
von mehreren keV/q, z.B. zwischen 5 und 20 keV/q, wobei q die Anzahl
der positiven Ladungen jedes dieser Ionen bezeichnet.
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Das
Bündel 41 wird
zu Auswahlvorrichtungen einer ausgewählten Ionenart, z.B. Ar17+, geleitet. Die Auswahlvorrichtungen bestehen
vorteilhaft aus ersten Anlegungsvorrichtungen 21 eines
Magnetfeldes 33, das zwei gegenüberliegende Spulen 31 und 32 oder
Permanentmagnete umfasst. Das Magnetfeld 33 ist vorzugsweise
gleichförmig.
Es kann auch ungleichförmig
sein, so dass es fokussierend ist. Das Magnetfeld 33 steht
vorzugsweise senkrecht zur Richtung 51 des einfallenden
Bündels 41.
Die Auswahlvorrichtungen erzeugen so ein Bündel von Ionen 42,
die in einer Richtung 52 ausgewählt sind. Beim gesteuerten Ätzen werden
die Ionen des Bündels 42 vorzugsweise
nacheinander geschickt. Beim zufälligen Ätzen werden
sie zu unterschiedlichen Stellen geschickt, wobei jedes der Ionen
eine Vertiefung auf der Oberfläche 5 für die Bildung
einer kleinen leitenden Insel 6 erzeugen kann.
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In
einer anderen Ausführungsform
sind die Auswahlvorrichtungen Anlegungsvorrichtungen eines elektrischen
Feldes.
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Die
Vorrichtung zur lokalen strukturellen Modifizierung umfasst vorzugsweise
ein System der direkten Steuerung der Position des Bündels 42 mit
der Bezugszahl 22.
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Die
Vorrichtung zur lokalen strukturellen Modifizierung umfasst dann
Unterbrechungsvorrichtungen des Bündels 42, die vorzugsweise
eine Blende 24 des Bündels
mit elektronischer Steuerung darstellen. Diese Blende 24 soll
das Bündel 42 unterbrechen,
wenn eine lokale strukturelle Modifizierung auf der Oberfläche 5 nachgewiesen
wird.
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In
einer Abänderung
der Ausführungsform
ist die Blende 24 durch Anlegungsvorrichtungen eines elektrischen
Feldes senkrecht zur Richtung 52 des Bündels 42 ersetzt,
wobei das Anlegen und Unterdrücken
dieses elektrischen Feldes die Rolle des Schließens bzw. des Öffnens der
Blende 24 spielen.
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Das
Bündel 42 wird
zu Führungsvorrichtungen
geleitet, die das Bündel 42 zur
zu behandelnden Oberfläche 5 führen. Diese
Führungsvorrichtungen bestehen vorteilhaft
aus zweiten Anlegungsvorrichtungen 23 eines gleichförmigen Magnetfeldes 36, das
zwei gegenüberliegende
Spulen 34 und 35 oder Permanentmagnete umfasst.
Das Magnetfeld 36 steht vorzugsweise senkrecht zur Ausbreitungsrichtung 52 des
Bündels 42,
führt so
das Bündel 42 in
einer Richtung 53 vorzugsweise in einem senkrechten Einfallswinkel
zur Oberfläche 5.
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In
einer abgeänderten
Ausführungsform
bestehen die Führungsvorrichtungen
aus Anlegungsvorrichtungen eines statischen oder gepulsten elektrischen
Feldes.
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Vorzugsweise
liegen die Unterbrechungsvorrichtungen des Bündels auch nach den Spulen 34 und 35 vor.
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Die
Vorrichtung zur lokalen strukturellen Modifizierung umfasst auch
vorteilhaft ein System der räumlichen
Lokalisierung des Bündels 42,
das z.B. aus einem oder mehreren Kollimatoren 25, 26 besteht.
Für eine
Behandlung hoher Präzision
handelt es sich bei den Kollimatoren um nanometrische Kollimatoren.
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Das
Plättchen 1,
das die Stelle der Auftreffplatte einnimmt, ist auf einem Übertrager 27 montiert, der
die Bewegungen gemäß zwei zueinander
senkrecht stehenden Richtungen 37 und 38 und senkrecht
zur Richtung 53 des Bündels 42 ermöglicht.
Der Übertrager 27 umfasst
z.B. zwei piezoelektrische Quarze oder zwei keramische Teile.
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Bei
der Durchführung
mit Wechselwirkung ohne Kontakt wird ein elektrisches Feld zum Abbremsen
des Ionenbündels 42 in
der Nähe
der Auftreffplatte durch Polarisation derselben angelegt. Dieses elektrische
Feld verlangsamt in ausreichendem Maße die Ionen des Bündels 42,
damit dieselben Elektronen aus der Oberfläche 5 extrahieren,
ohne dass ein Kontakt mit dieser Oberfläche erfolgt, und sie in Form
von hohlen Atomen zurückgestreut
werden.
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Das
elektrische Abbremsfeld verleiht den Ionen auf kontrollierte Weise
eine Energie, die so niedrig wie 0,025 eV/q sein kann. Das Anlegen
des elektrischen Feldes kann mittels eines ebenen Kondensators mit
Potentiometer durchgeführt
werden.
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In
einer abgeänderten
Ausführungsform
wird das Abbremsen nicht auf der Auftreffplatte, sondern an irgendeiner
Stelle der Leitung des Bündels
durch Polarisation der Leitung durchgeführt.
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Die
von der Oberfläche 5 zurückgestreuten hohlen
Atome bilden ein Bündel 43,
das in einer Richtung 54 parallel zur Richtung 53 und
in entgegengesetzter Richtung zum Bündel 42 zurückgeführt wird. Das
Bündel 43 von
hohlen Atomen durchquert somit die Kollimatoren 25 und 26,
die Blende 24 und die Anlegungsvorrichtungen 23 des
Magnetfeldes 36 in dem erläuterten Beispiel. Das Magnetfeld 36 lenkt das
Bündel 43 in
einer Richtung 55 zur Nachweisoberfläche 28 hin ab.
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Die
Nachweisoberfläche 28 gibt
die Position und vorteilhaft die Geschwindigkeit und die Ladung der
hohlen Atome des einfallenden Bündels 43 an. Diese
Nachweisoberfläche 28 kann
z.B. ein Netz von Chaneltrons sein Die Vorrichtung zur lokalen strukturellen
Modifizierung umfasst auch eine Messapparatur 49 von Photonen,
insbesondere von Röntgenstrahlen,
die bei Durchgängen
von Elektronen von einer elektronischen Schicht zu einer anderen
von hohlen Atomen des Bündels 43 und/oder
von in der Oberfläche 5 gebildeten
hohlen Atomen emittiert werden.
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Vorteilhaft
umfasst die Vorrichtung zur lokalen strukturellen Modifizierung
auch ein Nachweissystem 45, das Folgendes nachweist: Elektronen,
die durch den Auger-Effekt
durch die hohlen Atome emittiert werden, abgebrannte Wasserstoffkerne
oder Atome der Auftreffplatte, die von der Oberfläche 5 ausgestoßen werden,
eine Garbe von emittierten Elektronen, Photonen, die durch Atome
der Ätzungsoberfläche emittiert
werden und/oder eine elektrische Ladung, die auf der Auftreffplatte
erscheint.
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In
einer Ausführungsform
mit Kontakt aber ohne Eindringen in die Oberfläche 5 liegen die Abbremsvorrichtungen
auch und in aktivierter Form in der Ätzungsvorrichtung vor. In einer
anderen Ausführungsform
mit Kontakt und Eindringen sind die Abbremsvorrichtungen unterdrückt oder
deaktiviert oder belassen dem Ionenbündel 42 eine Energie,
die ausreichend ist, um in die Oberfläche 5 einzudringen.
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Die
Bündel 41, 42 und
gegebenenfalls 43 und die Oberfläche 5 des Plättchens 1 sind
vor Umgebungsluft durch eine Vakuumummantelung geschützt. Die
Vorrichtung zur lokalen strukturellen Modifizierung umfasst auch
eine Behandlungseinheit 29, die mit der Linse 24,
dem Übertrager 27,
der Nachweisoberfläche 28,
dem Nachweissystem 45 und der Messapparatur 49 verbunden
ist. Diese Behandlungseinheit 29 empfängt Signale, die von der Nachweisoberfläche 28,
von Nachweissystem 45 und der Messapparatur 49 herkommen,
und ist in der Lage das Öffnen
und Schließen
der Blende 24 sowie die Verschiebungen des Übertragers 27 zu
steuern.
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Die
Vorrichtung zur lokalen strukturellen Modifizierung wird vorzugsweise
durch ein Tunnelmikroskop und/oder ein Atomkraftmikroskop vervollständigt, die
lokale Steuerungen der topographischen und/oder elektrischen Leitfähigkeit
der behandelten Oberfläche 5 bewirken.
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Natürlich ist
es möglich,
nur bestimmte Nachweisvorrichtungen gemäß angestrebten Techniken und
der Art und Präzision
der erwünschten
Ergebnisse beizubehalten.
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Beim
Betrieb durch eine Wechselwirkung ohne Eindringen in die Oberfläche 5 führt man
bei einem Schritt der lokalen strukturellen Modifizierung 18 (3)
nacheinander die folgenden Arbeitsgänge durch. Es wird das Bündel 41 von
positiven mehrfach geladenen Ionen mittels der Ionenquelle 20 erzeugt, eine
ionische Spezies dieses Bündels 41 wird
durch Anlegen 21 des Magnetfeldes 33 ausgewählt, das
erhaltene Bündel 42 wird
durch Anlegungsvorrichtungen 23 des Magnetfeldes 36 zur
Oberfläche 5 geleitet,
wobei eine direkte Steuerung der Position durch das System 22 und
eine räumliche
Lokalisierung durch die Kollimatoren 25 und 26 durchgeführt wird, und
das Bündel 42 wird
abgebremst.
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Wenn
die Ionen des Bündels 42 in
ausreichender Nähe
zur Oberfläche 5 vorliegen,
beginnen sie untereinander in Wechselwirkung zu treten. Die Ionen
können
Elektronen des Plättchens 1 einfangen,
sobald sie in eine Einfangzone gelangen, die sich bis zu einem Abstand
d oberhalb der Oberfläche 5 erstreckt.
Sobald nun ein Ion 40 in die Einfangzone eindringt, tritt
es in Wechselwirkung mit einem Teil 46 dieser Oberfläche 5,
der in etwa durch eine Scheibe eines Durchmessers D definiert ist
und Begrenzungslinien in einem Abstand d vom Ion 40 hat,
wie in der 5 dargestellt ist.
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Das
Ion 40 zieht während
seiner Annäherung an
die Einfangszone Oberflächenelektronen
des Teils 46 an und extrahiert sie. Diese Annäherung wird durch
Einstellen der kinetischen Energie des Ions 40 durch das
elektrische Abbremsfeld gesteuert. Das Ion 40 fängt Elektronen
ein, die es in ein hohles Atom überführen. Dieses
hohle Atom wird dann ohne Kontakt durch den Trampolineffekt zurückgestreut,
wenn die experimentellen Bedingungen es gestatten, und zur Nachweisoberfläche 28 geführt.
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Die
Extraktion von Elektronen aus der Oberfläche 5 ruft ein lokales
Reißen
der kristallinen Struktur des Diamanten hervor, die für seinen
großen
elektrischen Widerstand verantwortlich ist. Dieses physikalische
Phänomen
bringt eine lokale Änderung
der elektrischen Eigenschaften mit sich, die zur Bildung einer leitfähigen Schicht
inmitten der Schicht 3 des sehr stark isolierenden Diamanten
führt.
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Die
lokale strukturelle Modifizierung beruht auf der Aufeinanderfolge
und Wiederholung von vier Arbeitsgängen 13–16 (3),
die durch die Behandlungseinheit 29 gesteuert werden.
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In
einem ersten Arbeitsgang 13 weist man mittels einer Messapparatur 49 und/oder
eines oder mehrerer Signale, die durch das Nachweissystem 45 erzeugt
werden, Folgendes nach: das Eintreffen von von der Oberfläche 5 abgegebenen
Teilchen auf der Nachweisoberfläche 28,
die Emission – in
der Nähe der
Oberfläche
von Photonen – vorzugsweise
eines Spektrums von Röntgenstrahlen
oder Elektronen. Die Behandlungseinheit 29 empfängt somit
ein oder mehrere Signale, die diesen Nachweisen entsprechen. In
einem zweiten Arbeitsgang 14 unterbricht man nun das Eintreffen
des Bündels 42 auf
der Auftreffplatte, indem man das Schließen der Linse 24 steuert.
In einem dritten Arbeitsgang 15 löst man nun das gesteuerte Inbetriebsetzen
des Übertragers 27 aus,
und zwar in einem Abstand, der vorteilhaft in der Größenordnung
von nm liegt. In einem vierten Arbeitsgang 16 steuert man
die Öffnung
der Linse 24 dergestalt, dass das Bündel 42 erneut zur
Oberfläche 5 gelangen
kann.
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Durch
die Wiederholung der Arbeitsgänge 13 bis 16 wird
eine lokale strukturelle Modifizierung in den Zonen erzeugt, die
den vorbestimmten leitfähigen
Teilen entsprechen. So lässt
sich das Plättchen 1A mit
kleinen leitenden Inseln 6 oder das Plättchen 1B mit leitfähigen Linien 7 durch
eine Aufeinanderfolge von lokalen Wechselwirkungen an wohl definierten
Stellen erhalten.
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Vorzugsweise
führt man
nun in einem letzten Schritt 17 mittels eines Tunnelmikroskops
und/oder eines Atomkraftmikroskops eine lokale Steuerung der elektrischen
Leitfähigkeit
der Oberfläche 5 durch.
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Zur
Durchführung
des Verfahrens mit einem Eindringen von Ionen des Bündels 42 in
die Oberfläche 5 kann
man die Abbremsvorrichtungen deaktivieren. Die Wechselwirkung zwischen
jedem Ion 40 und der Oberfläche 5 ist nun in einer
ersten Zeit potentiell (Wechselwirkung auf Distanz), dann in einer
zweiten Zeit kinetisch (Eindringen in die Oberfläche 5). Die verwendeten
Informationen stammen von dem Nachweissystem 45 und der
Messapparatur 49, sowie gegebenenfalls von der Nachweisoberfläche 28 von Atomen
oder Ionen, die nach dem Ausstoßen
aus der Oberfläche 5 gewonnen
werden.
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Die
Vorrichtung zur lokalen strukturellen Modifizierung, die oben ausführlich erklärt wurde,
kann auch für
eine zufällige
Behandlung verwendet werden, wobei die Behandlungseinheit 29 nun
einfach Bewegungen des Übertragers 27 steuert,
ohne dass Nachweisergebnisse berücksichtigt
werden. Die Linse 24 ist in diesem Fall deaktiviert. Eine
solche Durchführung
ist aufgrund der Schnelligkeit vorteilhaft, selbst wenn sie eine
Beherrschung der Stelle von leitfähigen Zonen auf der Oberfläche 5 nicht
ermöglicht.
Vorzugsweise werden nun die Ionen des Bündels 42 gleichzeitig
(anstatt nacheinander) zu unterschiedlichen Stellen auf der Oberfläche 5 geschickt.
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Zudem
kann die Vorrichtung zur lokalen strukturellen Modifizierung die
Behandlung von Teilen 9 der Oberfläche 5 ermöglichen,
so dass ein Plättchen
vom Typ 2C erhalten wird.