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TECHNISCHER
BEREICH DER ERFINDUNG
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Die
vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren zum Planen oder Polieren
eines Substrates, insbesondere einer Speicher- oder Festplatte.
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HINTERGRUND
DER ERFINDUNG
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Die
Nachfrage nach erhöhter
Speicherkapazität
in Speicher- oder Festplatten und der Trend zur Miniaturisierung
von Speicher- oder Festplatten (auf Grund der Wünsche der Computerhersteller
nach kleineren Festplatten) unterstreicht weiterhin die Bedeutung
des Herstellungsverfahrens der Speicher- oder Festplatten, welches
das Planen oder Polieren dieser Platten zur Sicherstellung maximaler
Leistung beinhaltet. Während mehrere
chemisch-mechanische Polierzusammensetzungen (CMP) und Verfahren
zur Verwendung in Verbindung mit der Halbleiterbauelementherstellung
vorhanden sind, sind nur wenige herkömmliche chemisch-mechanische
Polierverfahren oder im Handel erhältliche chemisch-mechanische Zusammensetzungen
gut für das
Planen oder Polieren von Speicher- oder Festplatten geeignet.
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Solche
Polierzusammensetzungen und/oder -verfahren können insbesondere weniger als
wünschenswerte
Polierraten und viele Oberflächenfehler
zum Ergebnis haben, wenn sie auf Speicher- oder Festplatten aufgetragen
werden. Die Leistung einer Fest- oder Speicherplatte steht direkt
mit ihrer Oberflächenqualität in Zusammenhang.
Daher ist es entscheidend, dass die Polierzusammensetzungen und
-verfahren die Polier- oder Abtragungsrate maximieren, jedoch die
Oberflächenfehler
der Speicher- oder Festplatte nach dem Planen oder Polieren minimieren.
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Es
wurden viele Versuche zur Verbesserung der Abtragungsrate von Speicher-
oder Festplatten während
des Polierens bei gleichzeitiger Minimierung der Fehler der polierten
Oberfläche
während
des Planens oder Polierens unternommen. So ist in dem U.S.-Patent
4,769,046 ein Verfahren zum Polieren einer vernickelten Schicht
auf einer Festplatte unter Verwendung einer Zusammensetzung offenbart,
die Aluminiumoxid und einen Polierbeschleuniger wie zum Beispiel
Nickelnitrat, Aluminiumnitrat oder Mischungen derselben aufweist. In
der
JP 4108887 A und
der
GB 2338490 A sind
Verfahren zum Polieren der Oberfläche einer Speicherfestplatte
beschrieben, die das Abschleifen der Oberfläche einer Glyzin und Wasser
und ein Schleifmittel enthaltenden Polierzusammensetzung umfassen.
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Es
bleibt jedoch ein Bedürfnis
nach verbesserten Verfahren zum Planen oder Polieren von Speicher- oder Festplatten
mit einer hohen Abtragungsrate bei gleichzeitiger Minimierung der
Oberflächenfehler
bestehen. Mit der vorliegenden Erfindung wird versucht, ein solches
Verfahren bereitzustellen. Diese und weitere Vorteile des vorliegenden
erfindungsgemäßen Verfahrens
sind an Hand der in diesem Dokument bereitgestellten Beschreibung
der Erfindung ersichtlich.
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KURZE ZUSAMMENFASSUNG
DER ERFINDUNG
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Die
vorliegende Erfindung stellt ein Verfahren zum Planen oder Polieren
der Oberfläche
einer Speicher- oder
Festplatte bereit, welches das Abschleifen mindestens eines Teils
der Oberfläche
mit (i) einer Polierzusammensetzung umfasst, die ein aus der aus
Persulfaten und Peroxiden, einer Aminosäure und Wasser bestehenden
Gruppe ausgewähltes
Oxidationsmittel, und (ii) ein Schleifmittel aufweist.
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BESCHREIBUNG
DER BEVORZUGTEN AUSFÜHRUNGSFORMEN
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Die
vorliegende Erfindung stellt ein Verfahren zum Planen oder Polieren
der Oberfläche
einer Speicher- oder
Festplatte bereit. Das Verfahren umfasst das Inkontaktbringen der
Oberfläche
einer Speicher- oder Festplatte mit (i) einer Polierzusammensetzung,
die ein aus der aus Persulfaten und Peroxiden, einer Aminosäure und
Wasser bestehenden Gruppe ausgewähltes
Oxidationsmittel, und (ii) ein Schleifmittel aufweist, und die Abtragung
mindestens eines Teils der Oberfläche der Speicher- oder Festplatte
durch Bewegung der Polierzusammensetzung im Verhältnis zu der Speicher- oder Festplatte.
Dieses Inkontaktbringen und Abtragen kann durch jede geeignete Technik
erfolgen. So kann die Polierzusammensetzung zum Beispiel auf die
Oberfläche
der Speicher- oder Festplatte aufgetragen und zur Abtragung mindestens
eines Teils der Oberfläche
der Speicher- oder Festplatte durch Verwendung eines Polierkissens
verwendet werden.
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Der
Begriff „Speicher-
oder Festplatte" bezieht
sich auf jede Magnetplatte, Festplatte oder Speicherplatte zum Halten
von Informationen in elektromagnetischer Form. Die Speicher- oder
Festplatte weist typischerweise eine Oberfläche auf, die phosphorhaltiges
Nickel enthält,
wobei die Oberfläche
der Speicher- oder Festplatte jeden anderen geeigneten Werkstoff
umfassen kann.
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Bei
dem Schleifmittel kann es sich um jedes geeignete Schleifmittel
handeln. Wünschenswerterweise ist
das Schleifmittel ein Metalloxidschleifmittel. Metalloxidschleifmittel
umfassen zum Beispiel Aluminiumoxid, Kieselerde, Titanoxid, Zer(IV)-oxid,
Zirkonoxid, Germanium, Magnesium und Kombinationen derselben. Vorzugsweise
handelt es sich bei dem Schleifmittel der vorliegenden Erfindung
um ein kondensationspolymerisiertes Metalloxid, zum Beispiel kondensationspolymerisierte
Kieselerde. Kondensationspolymerisierte Kieselerde wird typischerweise
durch die Kondensation von Si(OH)4 so zubereitet,
dass sie Kolloidpartikel ausbildet. Ein solches Schleifmittel kann
in Übereinstim mung
mit dem U.S.-Patent 5,230,833 zubereitet werden, oder ist wie jedes
beliebige der verschiedenen im Handel erhältlichen Produkte erhältlich,
wie zum Beispiel das Akzo-Nobel Bindzil 50/80-Produkt und die Nalco
1050-, 2327- und 2329-Produkte sowie weitere, von DuPont, Bayer,
Applied Research, Nissan Chemical und Clariant erhältliche
Produkte.
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Das
Schleifmittel ist wünschenswerterweise
so beschaffen, dass 90% oder mehr der Schleifpartikel (nach Anzahl)
eine Partikelgröße von nicht
mehr als 100 nm aufweisen. Vorzugsweise sind die Schleifpartikel so
beschaffen, dass mindestens 95%, 98% oder sogar im Wesentlichen
alle (oder tatsächlich
alle) Schleifpartikel (nach Anzahl) innerhalb des Schleifmittels
eine Partikelgröße von nicht
mehr als 100 nm aufweisen. Diese Partikelgrößenpräferenzen für die Schleifpartikel (das
heißt
wobei mindestens 90%, 95%, 98%, im Wesentlichen alle, und alle Schleifpartikel
(nach Anzahl) innerhalb des Schleifmittels nicht größer als
eine spezifische Größe des Schleifpartikels
sind) können
auch andere Partikelgrößen wie
zum Beispiel 95 nm, 90 nm, 85 nm, 80 nm, 75 nm, 70 nm und 65 nm
betreffen.
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Auf ähnliche
Art und Weise kann das Schleifmittel so beschaffen sein, dass mindestens
90%, 95%, 98% oder sogar im Wesentlichen alle (oder tatsächlich alle)
Partikel des Schleifmittels (nach Anzahl) innerhalb des Schleifmittels
eine Partikelgröße von nicht
weniger als 5 nm aufweisen. Diese Partikelgrößenpräferenzen für die Schleifpartikel (das
heißt
wobei mindes tens 90%, 95%, 98%, im Wesentlichen alle, und alle Schleifpartikel
(nach Anzahl) innerhalb des Schleifmittels nicht kleiner als eine
spezifische Größe des Schleifpartikels sind)
können
auch andere Partikelgrößen wie
zum Beispiel 7 nm, 10 nm, 15 nm, 25 nm und 30 nm betreffen.
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Die
in diesem Dokument zur Beschreibung der Art des Schleifmittels in
Bezug auf die Partikelgröße verwendeten
Prozentwerte sind Prozentwerte „nach Anzahl", und keine Gewichts-%,
soweit nichts Anderes angegeben ist. Die Partikelgröße der Schleifpartikel
innerhalb des Schleifmittels bezieht sich auf den Partikeldurchmesser.
Die Partikelgröße kann
mittels jeder beliebigen Technik gemessen werden. Die in diesem
Dokument aufgeführten
Partikelgrößenwerte
basieren auf einer Sichtprüfung,
die spezifisch mittels der Transmissions-Elektronenmikrografie (TEM)
eines statisch bedeutenden Musters der Schleifpartikel, vorzugsweise
von mindestens 200 Partikeln, erfolgt.
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Die
Partikelgrößenverteilung
der Schleifpartikel innerhalb des Schleifmittels kann durch geometrische Standardabweichung
nach Anzahl gekennzeichnet sein, die als Sigma-g (σg)
bezeichnet wird. Die σg-Werte können
durch Teilen (a) des Durchmessers erhalten werden, bei dem 84% der
Schleifpartikel (nach Anzahl) innerhalb des Schleifmittels kleiner
sind, als (b) durch den Durchmesser, bei dem 16% der Schleifpartikel
(nach Anzahl) kleiner (das heißt σg =
d84/d16) sind. Monidisperse
Schleifpartikel weisen einen σg-Wert von etwa 1 auf. Wenn die Schleifpartikel
polydispers werden (das heißt
Partikel mit zunehmend unterschiedlicherer Größe umfassen), erhöht sich
der σg-Wert der Schleifpartikel auf über 1. Die
Schleifpartikel weisen typischerweise einen σg-Wert
von 2,5 oder weniger (zum Beispiel 2,3 oder weniger) auf. Die Schleifpartikel
weisen wünschenswerterweise
einen σg-Wert von mindestens 1,1 (zum Beispiel 1,1–2,3 (zum
Beispiel 1,1–1,3),
vorzugsweise einen σg-Wert von mindestens 1,3 (zum Beispiel 1,5–2,3 oder
sogar etwa 1,8–2,3)
auf.
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Es
kann jede geeignete Menge des Schleifmittels in der Polierzusammensetzung
vorhanden sein. Vorzugsweise ist das Schleifmittel in einer Konzentration
von 0,1–30
Gewichts-% der Zusammensetzung, zum Beispiel 1–28 Gewichts-% der Zusammensetzung
vorhanden. Noch vorteilhafter ist das Schleifmittel in einer Konzentration
von 3–25
Gewichts-% der Zusammensetzung, zum Beispiel 5–20 Gewichts-% der Zusammensetzung,
oder sogar 6–15
Gewichts-% der Zusammensetzung vorhanden. Alternativ kann das Schleifmittel ganz
oder teilweise auf oder in dem Polierkissen befestigt (zum Beispiel
eingebettet) sein.
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Das
Oxidationsmittel ist aus der aus Persulfaten und Peroxiden bestehenden
Gruppe ausgewählt.
Vorzugsweise ist das Oxidationsmittel aus der aus Ammoniumpersulfat,
Kaliumpersulfat, Natriumpersulfat und Wasserstoffperoxid bestehenden
Gruppe ausgewählt.
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Es
kann jede geeignete Menge des Oxidationsmittels in der Polierzusammensetzung
vorhanden sein. Das Oxidationsmittel ist wünschenswerterweise in einer
Menge von 0,01–10
Gewichts-% der Zusammensetzung, zum Beispiel 0,1–10 Gewichts-% vorhanden. Noch
vorteilhafter ist das Oxidationsmittel in einer Menge von 0,5–8 Gewichts-%
der Zusammensetzung, zum Beispiel 1–6 oder sogar 2–6 Gewichts-%
vorhanden.
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Die
Aminosäure
kann jede geeignete Aminosäure
sein. Geeignete Aminosäuren
umfassen zum Beispiel Aminosäuren,
die 1–8
Kohlenstoffatome enthalten, zum Beispiel Aminosäuren, die 1–7 Kohlenstoffatome enthalten,
oder sogar Aminosäuren,
die 1–6
Kohlenstoffatome enthalten. Vorzugsweise handelt es sich bei der Aminosäure der
Zusammensetzung des vorliegenden erfindungsgemäßen Verfahrens um Glyzin, Iminodiessigsäure (IDA),
Alanin, Valin, Leucin, Isoleucin, Serin und Threonin. Noch vorteilhafter
handelt es sich bei der Aminosäure
um Glyzin oder Alanin.
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Es
kann jede geeignete Menge der Aminosäure in der Polierzusammensetzung
vorhanden sein. Die Aminosäure
ist wünschenswerterweise
in einer Menge von 0,01–10
Gewichts-% der Zusammensetzung, zum Beispiel 0,1–10 Gewichts-% vorhanden. Noch
vorteilhafter ist die Aminosäure
in einer Menge von 0,5–8
Gewichts-% der Zusammensetzung, zum Beispiel 0,75–8 Gewichts-%
vorhanden. Am vorteilhaftesten ist die Aminosäure in einer Menge von 1–7 Gewichts-%
der Zusammensetzung, zum Beispiel 2–6 Gewichts-% oder sogar 3–5 Gewichts-%
vorhanden.
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Der
pH-Wert der Polierzusammensetzung kann jeder geeignete pH-Wert sein.
Vorzugsweise beträgt der
pH-Wert der Zusammensetzung 1–7,
zum Beispiel 1–6.
Noch vorteilhafter beträgt
der pH-Wert der Zusammensetzung 2–5, zum Beispiel 2–4 oder
sogar 3–4.
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Der
pH-Wert der Polierzusammensetzung kann wenn notwendig auf jede geeignete
Art und Weise, zum Beispiel durch die Beimischung eines pH-Anpassers
zu der Zusammensetzung angepasst werden. Geeignete pH-Anpasser umfassen
zum Beispiel Basen wie Kaliumhydroxid, Ammoniumhydroxid, Natriumkarbonat
und Mischungen derselben, sowie Säuren wie zum Beispiel mineralische
Säuren
(zum Beispiel Salpetersäure
und Schwefelsäure)
und organische Säuren
(zum Beispiel Essigsäure,
Zitronensäure,
Malonsäure, Bernsteinsäure, Weinsäure und
Oxalsäure).
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Die
Polierzusammensetzung kann optional weiterhin einen oder mehrere
andere Zusätze
aufweisen. Diese Zusätze
umfassen grenzflächenaktive
Stoffe (zum Beispiel kationische grenzflächenaktive Stoffe, anionische
grenzflächenaktive
Stoffe, nichtionogene grenzflächenaktive
Stoffe, amphotere grenzflächenaktive Stoffe,
fluorierte grenzflächenaktive
Stoffe und Mischungen derselben), Polymerstabilisatoren oder andere oberflächenaktive
Dispersionsmittel (zum Beispiel Phosphorsäure, organische Säuren, Zinndioxide
und Phosphonatverbindungen), und zusätzliche Polierbeschleuniger
wie zum Beispiel Katalysatoren und Chelat- oder Komplexbildner (zum
Beispiel Metall, insbesondere Eisen, Sul fate, Verbindungen mit Karboxylat-,
Hydroxyl-, Sulfon-, und/oder Phosphongruppen, Di-, Tri-, Multi- und Polykarbonsäuren und
Salze (wie zum Beispiel Weinsäuren
und Tartrate, Apfelsäure
und Malate, Malonsäure
und Malonate, Glukonsäure
und Glukonate, Zitronensäure
und Zitrate, Phthalsäure
und Phthalate, Pyrocachetol, Pyrogallol, Gallussäure und Gallate, Gerbsäure und
Tannate), aminhaltige Verbindungen (wie zum Beispiel primäre, sekundäre, tertiäre und quaternäre Amine und
Aminosäuren)
und Mischungen derselben.
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BEISPIELE
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Die
folgenden Beispiele veranschaulichen die vorliegende Erfindung weiter,
sollten jedoch in keinster Weise so ausgelegt werden, dass sie dieselbe
in ihrem Umfang begrenzen.
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Die
in allen der folgenden Beispiele erwähnten Speicher- oder Festplatten
sind im Handel erhältliche Speicher-
oder Festplatten von Seagate Technology. Bei den Speicher- oder
Festplatten handelte es sich um nickel-phosphorüberzogene (plattierte) Platten
mit Aluminiumsubstraten. Die Speicher- oder Festplatten hatten einen
Vorpoliervorgang durchlaufen, bevor sie in den folgenden Beispielen
verwendet wurden, und jede Speicher- oder Festplatte wies eine Oberflächenrauheit
von 10–50 Å auf.
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Die
bei jedem der folgenden Beispiele verwendeten Polierkissen waren
von Rodel hergestellte Polytex-Hi- Kissen mit 25,4 cm Durchmesser. Die
Speicher- oder Festplatten in den Beispielen 1–3 wurden unter Verwendung
einer von Streuers (West Lake, Ohio) hergestellten Tischpoliermaschine
bei einer Plattengeschwindigkeit von 150 U/min., einer Polierträgergeschwindigkeit
von 150 U/min., einem Schlammdurchsatz von 100 ml/min. und einer
Polieranpresskraft von 50 N poliert. Die Speicher- oder Festplatten
in Beispiel 4 wurden unter Verwendung einer Strausbaugh 6EE Poliermaschine
(San Luis Obispo, Kalifornien) mit einer Polierkissengeschwindigkeit
von 55–65
U/min. und einer Polieranpresskraft von 10–12,5 N poliert.
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Die
Nickel-Phosphor-Polierraten wurden durch Wiegen der sauberen trockenen
Speicher- oder Festplatte vor dem Polieren und nach dem Polieren
berechnet. Der Gewichtsverlust wurde unter Verwendung einer Nickel-Phosphor-Dichte von
8,05 g/cm3 in einen Dickenverlust einer
Speicher- oder Festplatte konvertiert. Um präzisere Vergleiche zwischen
Polierzusammensetzungen innerhalb jedes der folgenden Beispiele
trotz Unterschieden bei nominell identischen Polierbedingungen insbesondere
im Verhältnis
zu dem Polierkissenverschleiß während des
Testverlaufes) zu ermöglichen,
wurde eine Kontrollzusammensetzung mit 4 Gewichts-% Kieselerde (insbesondere
Akzo-Nobel Bindzil 50/80-Produkt) und 0,25 Gewichts-% Hydroxylaminnitrat
(HAN) in regelmäßigen Intervallen
verwendet, wobei die Kontrollzusammensetzung einen pH-Wert von 3,5
aufwies. Die tatsächliche
Polierrate einer jeden Testzusammensetzung wurde dann durch Teilen
der Polierrate der Testzusammensetzung durch die Polierrate der
zuletzt ausgewerteten Kontrollzusammensetzung in eine relative Polierrate
konvertiert. Dementsprechend sind die relativen Polierraten der
Testzusammensetzungen durch alle Beispiele hindurch vergleichbar.
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BEISPIEL 1
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In
diesem Beispiel wird veranschaulicht, dass die durch das vorliegende
erfindungsgemäße Verfahren erreichbare
Polierrate einer Speicher- oder Festplatte von der Identität der Aminosäure in der
Polierzusammensetzung abhängig
ist.
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Nickel-phosphorplattierte
Speicher- oder Festplatten wurden separat mit sechs verschiedenen
Polierzusammensetzungen mit 4 Gewichts-% Kieselerde (insbesondere
Akzo-Nobel Bindzil 50/80-Produkt), 2 Gewichts-% H2O2 und 1–3
Gewichts-% Aminosäure
(insbesondere Glyzin, DL-Alanin, Iminodiessigsäure oder DL-Serin) poliert,
wobei jede der Polierzusammensetzungen einen pH-Wert von 2,5 aufwies.
Zu Vergleichszwecken wurden nickel-phosphorplattierte Speicher- oder Festplatten
auch wie oben beschrieben mit einer Kontrollpolierzusammensetzung
und mit drei „Vergleichs"-Polierzusammensetzungen
mit 4 Gewichts-% Kieselerde (insbesondere Akzo-Nobel Bindzil 50/80-Produkt)
alleine und mit entweder 2 Gewichts-% H2O2 oder 1 Gewichts-% Aminosäure (insbesondere
Glyzin) poliert, wobei alle Vergleichszusammensetzungen einen pH-Wert
von 2,5 aufwiesen. Nach der Verwendung der Polierzusammensetzungen
wurde die relative Polierrate jeder Zusammensetzung bestimmt, wobei
die Ergebnisdaten in Tabelle 1 aufgeführt sind.
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Wie
aus den in der Tabelle 1 aufgeführten
Daten ersichtlich ist, waren die relativen Polierraten, die von H2O2 und Aminosäuren enthaltenden
Polierzusammensetzungen (Zusammensetzungen 1A–1F) an den Tag gelegt wurden,
größer als
die relativen Polierraten der Kontrollpolierzusammensetzung und
der Vergleichszusammensetzungen, die nicht H2O2 und eine Aminosäure enthielten. Darüber hinaus
waren die relativen Polierraten, die von den Polierzusammensetzungen
mit H2O2 und entweder
1 Gewichts-% Glyzin, 1 Gewichts-% DL-Alanin oder 2 Gewichts-% Iminodiessigsäure (Zusammensetzungen
1A, 1C und 1E) an den Tag gelegt wurden, größer als die relativen Polierraten
für die
Polierzusammensetzungen mit H2O2 und
entweder 3 Gewichts-% Glyzin, 3 Gewichts-% DL-Alanin oder 2 Gewichts-% DL-Serin
(Zusammensetzungen 1B, 1D und 1F). Diese Ergebnisse zeigen die Bedeutung
der Kombination eines Oxidationsmittels und einer Aminosäure im Zusammenhang
mit dem vorliegenden erfindungsgemäßen Verfahren sowie die Wirkung
der bestimmten Aminosäure
auf die mit dem vorliegenden erfindungsgemäßen Verfahren erreichbare Polierrate.
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BEISPIEL 2
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In
diesem Beispiel wird veranschaulicht, dass die durch das vorliegende
erfindungsgemäße Verfahren erreichbare
Polierrate einer Speicher- oder Festplatte von der Identität des Oxidationsmittels
in der Polierzusammensetzung sowie von der Aminosäurekonzentration
und dem pH-Wert der Polierzusammensetzung abhängig ist.
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Nickel-phosphorplattierte
Speicher- oder Festplatten wurden separat mit acht verschiedenen
Polierzusammensetzungen mit 4 Gewichts-% Kieselerde (insbesondere
Akzo-Nobel Bindzil 50/80-Produkt), 1–3 Gewichts-% Glyzin und 2
Gewichts-% Oxidationsmittel (insbesondere H2O2- oder Ammoniumpersulfat (APS)) poliert,
wobei jede der Polierzusammensetzungen einen pH-Wert von 2,5–3,5 aufwies.
Nach der Verwendung der Polierzusammensetzungen wurde die relative
Polierrate jeder Zusammensetzung bestimmt, wobei die Ergebnisdaten
in Tabelle 2 aufgeführt
sind. Zu Vergleichszwecken sind in Tabelle 2 auch die relativen
Polierraten für die
Kon trollpolierzusammensetzung wie oben beschrieben, und für die drei
in Beispiel 1 beschriebenen „Vergleichs"-Polierzusammensetzungen (Vergleichszusammensetzungen
1–3) aufgeführt.
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Wie
aus den in der Tabelle 2 aufgeführten
Daten ersichtlich ist, waren die relativen Polierraten, die von den
Polierzusammensetzungen mit 1 Gewichts-% Gly zin und einem Oxidationsmittel
(Zusammensetzungen 2A, 2C, 2E und 2G) an den Tag gelegt wurden,
größer als
die relativen Polierraten für
Polierzusammensetzungen mit 3 Gewichts-% Glyzin und einem Oxidationsmittel
(Zusammensetzungen 2B, 2D, 2F und 2H), wenn alle anderen Bedingungen
dieselben waren. Darüber
hinaus waren die relativen Polierraten, die von den Zusammensetzungen
an den Tag gelegt wurden, die Glyzin und ein Oxidationsmittel mit
einem pH-Wert von 2,5 enthielten (Zusammensetzungen 2A, 2B, 2E und
2F) dieselben, oder größer als
die relativen Polierraten für
Zusammensetzungen, die Glyzin und ein Oxidationsmittel mit einem
pH-Wert von 3,5 enthielten (Zusammensetzungen 2C, 2D, 2G und 2H),
wenn alle anderen Bedingungen dieselben waren. Diese Ergebnisse
zeigen die Bedeutung des bestimmten Oxidationsmittels, der Konzentration
der Aminosäure
und des pH-Wertes für
die mit dem vorliegenden erfindungsgemäßen Verfahren erreichbare Polierrate.
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BEISPIEL 3
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In
diesem Beispiel wird veranschaulicht, dass die durch das vorliegende
erfindungsgemäße Verfahren erreichte
Polierrate einer Speicher- oder Festplatte von der Identität des Oxidationsmittels
in der Polierzusammensetzung sowie von der Aminosäurekonzentration
und dem pH-Wert der Polierzusammensetzung abhängig ist.
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Nickel-phosphorplattierte
Speicher- oder Festplatten wurden separat mit acht verschiedenen
Polierzusammen setzungen mit 4 Gewichts-% Kieselerde (insbesondere
Akzo-Nobel Bindzil 50/80-Produkt), 1–3 Gewichts-% DL-Alanin und 2 Gewichts-%
Oxidationsmittel (insbesondere H2O2- oder Kaliumpersulfat (KPS)) poliert, wobei
jede der Polierzusammensetzungen einen pH-Wert von 2,5–3,5 aufwies.
Nach der Verwendung der Polierzusammensetzungen wurde die Polierrate
jeder Zusammensetzung bestimmt, wobei die Ergebnisdaten in Tabelle
3 aufgeführt
sind. Zu Vergleichszwecken sind in Tabelle 3 auch die relativen
Polierraten für
die Kontrollpolierzusammensetzung wie oben beschrieben, und für zwei in
Beispiel 1 beschriebene „Vergleichs"-Polierzusammensetzungen (Vergleichszusammensetzungen
1 und 2) aufgeführt.
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Wie
aus den in der Tabelle 3 aufgeführten
Daten ersichtlich ist, waren die relativen Polierraten, die von den
Zusammensetzungen mit 1 Gewichts-% DL-Alanin und einem Oxidationsmittel
(Zusammensetzungen 3A, 3C, 3E und 3G) an den Tag gelegt wurden,
größer als
die relativen Polierraten für
Zusammensetzungen mit 3 Gewichts-% DL-Alanin und einem Oxidationsmittel
(Zusammensetzungen 3B, 3D, 3F und 3H), wenn alle anderen Bedingungen
dieselben waren. Darüber
hinaus waren die relativen Polierraten, die von den Zusammensetzungen
an den Tag gelegt wurden, die DL-Alanin und ein Oxidationsmittel
mit einem pH-Wert von 2,5 enthielten (Zusammensetzungen 3A, 3B,
3E und 3F) dieselben oder größer als
die relativen Polierraten für
Zusammensetzungen, die DL-Alanin und ein Oxidationsmittel mit einem
pH-Wert von 3,5 enthielten (Zusammensetzungen 3C, 3D, 3G und 3H),
wenn alle anderen Bedingungen dieselben waren. Diese Ergebnisse
zeigen die Bedeutung des bestimmten Oxidationsmittels, der Konzentration
der Aminosäure
und des pH-Wertes für die
mit dem vorliegenden erfindungsgemäßen Verfahren erreichbare Polierrate.
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BEISPIEL 4
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In
diesem Beispiel wird die Bedeutung der Konzentration der Aminosäure in der
Polierzusammensetzung für
die durch das vorliegende erfindungsgemäße Verfahren erreichbare Polierrate
einer Speicher- oder Festplatte veranschaulicht.
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Nickel-phosphorplattierte
Speicher- oder Festplatten wurden separat mit sechs verschiedenen
Polierzusammensetzungen mit 4 Gewichts-% Kieselerde (insbesondere
Akzo-Nobel Bindzil 50/80-Produkt), 1,5 Gewichts-% H2O2 und 0,1–1,3 Gewichts-% Glyzin poliert,
wobei jede der Polierzusammensetzungen einen pH-Wert von 2,5 aufwies.
Nach der Verwendung der Polierzusammensetzungen wurde die Polierrate
jeder Zusammensetzung bestimmt, wobei die Ergebnisdaten in Tabelle
4 aufgeführt
sind. Zu Vergleichzwecken ist in Tabelle 4 auch die relative Polierrate
für die
Kontrollpolierzusammensetzung aufgeführt, wie oben beschrieben.
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Wie
aus den in der Tabelle 4 aufgeführten
Daten ersichtlich ist, waren die relativen Polierraten, die von H2O2 und 0,7–1,3 Gewichts-%
Glyzin enthaltenden Polierzusammensetzungen (Zusammensetzungen 4D–4F) an
den Tag gelegt wurden, größer als
die relativen Polierraten der Kontrollpolierzusammensetzungen, die
von H2O2 und 0,1–0,5 Gewichts-%
Glyzin enthaltenden Polierzusammensetzungen (Zusammensetzungen 4A–4C) an
den Tag gelegt wurden. Darüber
hinaus sind die relativen Polierraten, die von der Polierzusammensetzung mit
H2O2 und 1 Gewichts-%
Glyzin (Zusammensetzung 4E) an den Tag gelegt wurde, größer als
die relativen Polierraten von Polierzusammensetzungen mit H2O2 und Glyzinkonzentrationen
von weniger als 1 Gewichts-% (Zusammensetzungen 4A–D) und
die relative Polierrate der Po lierzusammensetzung mit H2O2 und einer Glyzinkonzentration von mehr
als 1 Gewichts-% (Zusammensetzung 4F). Diese Ergebnisse zeigen die
Bedeutung der Konzentration der Aminosäure für die mit dem vorliegenden
erfindungsgemäßen Verfahren
erreichbare Polierrate.