DE60023050T2 - Optische Platte mit Merkmalen zur Radialneigungserfassung, und Vorrichtung zum Messen einer Radialneigung - Google Patents

Optische Platte mit Merkmalen zur Radialneigungserfassung, und Vorrichtung zum Messen einer Radialneigung Download PDF

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Description

  • Gebiet der Erfindung
  • Diese Erfindung bezieht sich allgemein auf optische Platten und insbesondere auf eine optische Platte, die physische Merkmale umfasst, die geeignet zur Verwendung beim Erfassen einer Radialneigung der Platte relativ zu einer idealen Ebene sind.
  • Hintergrund der Erfindung
  • Optische Platten, wie z. B. Kompaktplatten (CDs), erfordern ein präzises Fokussieren eines optischen Strahls auf eine Datenoberfläche. Einer oder mehrere Lichtstrahlen (üblicherweise von einer Laserdiode) beleuchten einen oder mehrere Punkte auf der Platte und werden zurück in einen Optikkopf reflektiert. Zusätzlich zu Informationen über aufgezeichnete Daten könnten die reflektierten Lichtstrahlen allgemein auch Informationen über einen Spureinstellungsfehler (wie gut ein Strahl mittig auf einer Datenspur ist) und einen Fokusfehler (wie gut ein Strahl auf die Datenoberfläche fokussiert ist) tragen. Üblicherweise wird die Datenoberfläche einer optischen Platte durch ein transparentes Substrat auf der Seite, die durch den Laser beleuchtet wird, geschützt. Im Allgemeinen verschlechtert eine Plattenneigung, jedes Mal, wenn ein Beleuchtungsstrahl durch das Substrat laufen muss, um die Datenoberfläche zu erreichen, die Fokusqualität des Beleuchtungsstrahls. Üblicherweise werden für die Datenintensitäten, die in CD-Medien beinhaltet sind, keine Neigungserfassung und -kompensation benötigt. Für höhere Datendichten jedoch, wie z. B. für digitale vielseitige Platten (DVDs), könnten eine Radialneigungserfassung und -kompensation nötig sein. Es wird angemerkt, dass eine Neigung eine radiale Komponente und eine tangentiale Komponente aufweisen könnte, die radiale Komponente jedoch ist üblicherweise viel größer (und deshalb ein größeres Problem) als die Tangentialkomponente.
  • Einige Optische-Platte-Laufwerke verwenden einen separaten Lichtstrahl zur Radialneigungsmessung. Siehe z. B. U.S.-Patente Nr. 5,657,303 und 5,699,340. Um den Optikkopf zu vereinfachen, besteht ein Bedarf nach einem Radialneigungsmesssystem, das den gleichen Lichtstrahl verwendet, der zum Lesen der Daten verwendet wird. Die Neigungsinformationen jedoch sollten das resultierende Datensignal nicht stören. Ein Ansatz für eine Bereitstellung von Radialneigungsinformationen in dem Datenlesestrahl wird durch das fortgeschrittene Speicherungs-Magnetooptik- (ASMO-) Format verwendet. ASMO-Medien sind mit permanenten (geprägten) Anfangsblöcken vorformatiert. Jeder Anfangsblock beginnt mit Neigungsmessmarkierungen, die in den Wänden einer Rille, die eine Spur definiert, gebildet sind. Die Neigungsmessinformationen stören die Daten nicht, da Daten und Anfangsblöcke nicht gemeinsam an dem gleichen Ort auf der Platte vorliegen. Überschreibbare DVD-Medien jedoch verwenden keine permanenten Anfangsblöcke. Es besteht ein Bedarf nach Radialneigungserfassungseigenschaften in optischen Medien, die keine permanenten Anfangsblöcke verwenden, die das optische Datensignal nicht stören. Ein weiterer Ansatz besteht darin, mehrere Spureinstellungsfehlersignale bereitzustellen. Siehe z. B. U.S.-Patent Nr. 5,808,985. Es besteht Bedarf nach einer Radialneigungserfassung, ohne dass eine Modifizierung an herkömmlichen Optikköpfen notwendig ist.
  • Zusammenfassung der Erfindung
  • Ein Optische-Platte-Medium gemäß der Erfindung weist eine Dünnfilmaufzeichnungsstruktur (Datenoberfläche) mit Rillen und Stegen hinter einem transparenten Substrat auf. Periodisch sind entlang Radiallinien Radialneigungsmessmerkmale in der Datenoberfläche vorgesehen, wobei die Höhe der Rillen und Stege, vorzugsweise über eine kurze Umfangslänge, verändert wird. Entlang der Radiallinien z. B. könnte die Höhe einer Rille (über eine kurze Länge) gegenüber der Höhe eines Stegs erhöht sein und die Höhe eines Stegs (über eine kurze Länge) könnte gegenüber der Höhe einer Rille reduziert sein. Das Optische-Platte-Medium ist in Verbindung mit dem optischen System des Laufwerks entworfen, so dass, wenn der fokussierte Laserpunkt mittig auf einer Rille ist, ein Spureinstellungsfehlersignal (z. B. ein Radial-Gegentakt- bzw. -Push-Pull-Signal) selbst dann null, wenn die Platte radial geneigt ist. Wenn der fokussierte Laserpunkt mittig auf einer Fläche ist, die einen Höhe aufweist, die sich von der Höhe einer Rille unterscheidet, z. B. einem Steg, variiert das Spureinstellungsfehlersignal, wenn die Platte radial geneigt ist. Als ein Ergebnis liefert, wenn der fokussierte Laserpunkt über ein Neigungsmessmerkmal läuft, eine abrupte Stufe in dem Spureinstellungsfehlersignal ein Maß der Größe und Richtung einer Radialneigung. Die abrupten Stufen werden durch existierendes Tiefpassfiltern aus dem Spureinstellungsfehlersignal entfernt. Die Neigungsmessmerkmale weisen eine vernachlässigbare Wirkung auf das Datensignal und eine vernachlässigbare Wirkung auf gefilterte Spureinstellungsfehler- und Fokusfehlersignale auf. Keine Veränderungen sind für das optische Laufwerksystem nötig. Die einzige erforderliche Laufwerksveränderung ist eine zusätzliche Signalverarbeitung des Spureinstellungsfehlersignals, um abrupte Stufen zu erfassen.
  • Einige vorgeschlagene Formate (z. B. DVD-RAM) verwenden ein Format, das Einzelspiral-Rillen- und -Steg-Aufzeichnung genannt wird, bei dem jede spiralförmige Rille eine Umdrehung der Platte vollzieht und dann an dem Anfang eines spiralförmigen Stegs endet. Jeder spiralförmige Steg vollzieht eine Umdrehung der Platte und endet dann an dem Anfang einer spiralförmigen Rille. Daten werden auf den Rillen und auf den Stegen aufgezeichnet. Das Verfahren zum Verwenden einer Veränderung der Rillenhöhe zum Messe einer Radialneigung ist ebenso auf eine Einzelspiral-Rillen- und -Steg-Aufzeichnung anwendbar.
  • Kurze Beschreibung der Zeichnungen
  • 1A ist eine Blockdiagramm-Seitenansicht eines exemplarischen Optikkopfs und einer Platte innerhalb eines Optische-Platte-Mechanismus.
  • 1B ist eine vergrößerte Ansicht eines Teils der Platte aus 1A.
  • 1C ist eine vergrößerte Draufsicht eines in 1A dargestellten Detektors.
  • 2 ist ein Graph einer Radial-Gegentakt-Signal-Größe als eine Funktion eines Radialversatzes.
  • 3A ist eine Draufsicht einer optischen Platte gemäß der Erfindung, die zur Neigungserfassung verwendete Merkmale darstellt.
  • 3B ist eine vergrößerte Ansicht eines Teils der optischen Platte aus 3A.
  • 4 ist ein Graph eines Spureinstellungsfehlersignals als eine Funktion der Zeit, wenn eine optische Platte gemäß der Erfindung verwendet wird.
  • 5A ist eine Draufsicht einer optischen Platte, die eine alternative Spurkonfiguration aufweist.
  • 5B ist eine vergrößerte Ansicht eines Teils der optischen Platte aus 5A.
  • Detaillierte Beschreibung des bevorzugten Ausführungsbeispiels der Erfindung
  • 1A stellt ein Optische-Platte-System dar. Das System in 1A stellt repräsentative Komponenten in einer Weise dar, die geeignet zur Darstellung der Erfindung innerhalb des Kontexts eines Laufwerks ist, das System aus 1A jedoch könnte auch ein tatsächliches Optische-Platte-System nicht genau darstellen und es könnte viele Variationen und viele unterschiedliche Konfigurationen geben. In 1A emittiert eine Laserdiode 100 kohärentes, jedoch nicht kollimiertes Licht. Das Licht läuft durch eine Kollimationslinse 102, wird von einem teilweise reflektierenden Spiegel 104 reflektiert, läuft durch eine Apertur 106, durch eine Fokussierungslinse 108 und wird auf eine Datenoberfläche innerhalb einer optischen Platte 110 fokussiert. Licht, das von der Datenoberfläche in der Platte 110 reflektiert wird, läuft durch den teilweise reflektierenden Spiegel 104, durch eine Fokussierungslinse 112 und wird durch ein Detektorarray 114 erfasst. Einige oder alle optischen Komponenten (100, 102, 104, 106, 108, 112 und 114) könnten in einer Anordnung angebracht sein, die als ein Optikkopf bezeichnet wird (Bezugszeichen 116). Ein elektronisches Signalverarbeitungssystem 117 empfängt Signale von dem Detektorarray 114 und leitet verschiedene Signale, wie z. B. ein Datensignal, ein Spureinstellungsfehlersignal und ein Fokusfehlersignal, ab.
  • In 1A stellt eine gestrichelte Linie 118 die optische Achse oder Mittellinie des optischen Systems dar. In 1A ist ein Winkel α der Winkel zwischen der optischen Achse und der Ebene des beleuchteten Bereichs der Platte. Idealerweise ist die Ebene des Bereichs auf der Platte 110, der durch den fokussierten Laserpunkt beleuchtet wird, orthogonal zu der optischen Achse 118. Dies bedeutet, dass der Winkel α neunzig Grad betragen sollte. Die Platte ist jedoch nicht perfekt flach und unterliegt dynamischen Kräften, so dass der Winkel α während eines Betriebs leicht von neunzig Grad variiert. Dieses Patentdokument betrifft hauptsächlich eine Messung einer Radialplattenneigung des beleuchteten Bereichs der Platte relativ zu der optischen Achse eine Optikkopfs. Insbesondere umfasst die Platte 110 physische Merkmale, die eine Messung einer Plattenneigung ermöglichen, ohne dass ein separater Lichtstrahl benötigt wird, mit einer vernachlässigbaren Wirkung auf das Datensignal und ohne Veränderungen an dem Entwurf des Optikkopf erforderlich zu machen.
  • 1B stellt eine vergrößerte Querschnittsansicht der optischen Platte 110 dar. In 1B umfasst die Platte 110 ein Substrat 120. Rillen sind auf einer Oberfläche des Substrats 120 gebildet. Die gerillte Oberfläche ist mit einer Dünnfilmaufzeichnungsstruktur beschichtet, um eine Datenoberfläche zu bilden, und durch eine Schutzschicht 122 bedeckt. Binärdaten sind als Markierungen mit kontrastierendem Reflexionsvermögen codiert oder durch Vertiefungen und Stege, die ein Reflexionsvermögen beeinflussen, indem die Phase des reflektierten Lichts verändert wird. Die lichtreflektierende Datenoberfläche weist Rillen 124 und Stege 126 auf. In 1B ist die Definition einer „Rille" so, wie auf der Oberfläche des Substrats sichtbar, auf der die Dünnfilmaufzeichnungsstruktur gebildet ist. Dies bedeutet, dass, wie durch den Optikkopf sichtbar, eine „Rille" näher an dem Optikkopf ist als ein Steg. In der folgenden Erläuterung wird eine Rille als eine Tiefe aufweisend bezeichnet, in dem Sinn, dass eine Rille physisch in eine Oberfläche eines Substrats gebildet ist, und ein Steg stellt die ursprüngliche Oberfläche des Substrats dar. Der fokussierte Laserpunkt auf einer optischen Platte weist üblicherweise einen Mittelbereich mit relativ hoher Intensität und mehrere Nebenflügelringe mit viel niedriger Intensität auf. Der Mittelbereich mit hoher Intensität weist einen Gesamtdurchmesser auf, der ausreichend groß ist, derart, dass, wenn die Mitte des Punkts mittig auf einer Rille ist, etwas Licht auf jeden benachbarten Steg fällt. Entsprechend ist in 1B ein Lichtstrahl 128 als auf der optischen Achse eines fokussierten Strahls befindlich dargestellt, der auf die Mitte einer Rille gerichtet ist, und Lichtstrahlen 130 an den äußeren Rändern des fokussierten Punkts sind als auf die Mitten der Stege gerichtet dargestellt. In der folgenden Erläuterung wird angenommen, dass sich Daten auf der Oberfläche von Rillen befinden, allgemein jedoch könnten sich Daten auf Stegen oder auf sowohl Stegen als auch Rillen befinden. 1B stellt ein einseitiges Medium dar. Die Erfindung ist gleichermaßen auf doppelseitige Medien anwendbar, bei denen effektiv zwei Substrate an den Datenoberflächen verbunden sind.
  • 1C stellt eine Draufsicht (orthogonal zu der in 1A dargestellten Ausrichtung) des Detektorarrays 114 dar. Das an der Oberfläche des Detektorarrays empfangene Licht ist nicht einheitlich, sondern weist stattdessen Interferenzmuster auf, was zu einer Intensitätsverteilung führt. Idealerweise ist, wenn der fokussierte Laserpunkt mittig auf einer Spur (Rille oder Steg) ist, das Interferenzmuster auf dem Detektorarray 114 symmetrisch. In 1C ist das Array 114 in vier Quadranten unterteilt. Üblicherweise wird ein Datensignal als die Summe der Signale von jedem der vier Detektorquadranten (A + B + C + D) erhalten. Wenn der fokussierte Laserpunkt nicht mittig auf einer Rille ist, könnte mehr des reflektierten Lichts von einem benachbarten Steg kommen. Als ein Ergebnis könnte die Intensitätsverteilung auf dem Detektorarray asymmetrisch werden, so dass eine Hälfte des Sensorarrays (z. B. Quadranten A und B) eine unterschiedliche Lichtintensitätsverteilung empfangen könnte als die andere Hälfte. Ein Differenzsignal, wie z. B. (A + B) – (C + D) wird verwendet, um den Grad zu messen, zu dem der fokussierte Laserpunkt radial von der Mitte einer Spur (Rille oder Steg) versetzt ist. Dieses Spureinstellungsfehlersignal wird üblicherweise als das Radial-Gegentakt- (RPP-) Signal bezeichnet. Bei Systemen, die die vorliegende Erfindung beinhalten, wird ein Radial-Gegentakt-Spureinstellungsfehlersignal verwen det, um zusätzlich eine Messung einer Radialneigung bereitzustellen.
  • 2 stellt die Größe von RPP als eine Funktion eines Radialversatzes der Mitte des Laserpunkts von der Mitte einer Rille für ein bestimmtes System dar. Eine Linie S1 stellt die Größe von RPP ohne Plattenneigung dar. Eine Linie S2 stellt die Größe von RPP mit einer Radialneigung von +12 Milliradian (α = π/2 + 0,012 Radian) dar. Eine Linie S3 stellt die Größe von RPP mit einer Radialneigung von –12 Milliradian (α = π/2 – 0,012 Radian) dar. Das System, das das in 2 dargestellte RPP-Signal erzeugt, weist eine Spurbeabstandung von 0,76 Mikrometern auf, so dass, wenn der fokussierte Laserpunkt um 0,38 Mikrometer versetzt ist, der Punkt mittig auf einem Steg ist (Referenz 202). RPP als eine Funktion des Radialversatzes in 2 weist Charakteristika auf, die eindeutig für die vorliegende Erfindung sind. Insbesondere wurde das System, das das in 2 dargestellte RPP-Signal erzeugt, so entworfen, dass RPP unempfindlich gegenüber einer Radialneigung ist, wenn der fokussierte Laserpunkt mittig auf einer Rille ist (Referenz 200). Dies bedeutet, dass, wenn der fokussierte Laserpunkt mittig auf einer Rille ist, RPP selbst dann null ist, wenn die optische Platte geneigt ist. Wie jedoch in 2 dargestellt ist, variiert, wenn der fokussierte Laserpunkt mittig auf einem Steg ist (Referenz 202), RPP mit der Neigung. Bei einem System gemäß der Erfindung wird die Höhe von Rillen gelegentlich verändert, wodurch eine messbare Stufe bei RPP bereitgestellt wird, wenn die Platte geneigt ist, selbst dann, wenn der Punkt mittig ist, ohne das Datensignal zu beeinflussen.
  • Wenn der fokussierte Laserpunkt mittig in einer Rille ist und wenn die Platte nicht geneigt ist, ist der Punkt auf der Dünnfilmaufzeichnungsstruktur symmetrisch auf der Rille, das reflektierte Licht ist mittig in der Apertur (1A, 106) und das reflektierte Licht ist mittig auf dem Detektorarray (1A, 114). Wenn die Platte geneigt ist, bewirkt das Plattensubstrat 120, dass der fokussierte Laserpunkt aufgrund einer Aberration, die Koma genannt wird, asymmetrisch auf der Rille wird. Die Asymmetrie des fokussierten Punkts auf der Datenoberfläche führt eine Asymmetrie der Lichtverteilung innerhalb der Apertur und eine Asymmetrie der Lichtverteilung auf dem Detektorarray ein.
  • Zusätzlich bewirkt selbst ohne Koma eine Radialplattenneigung, dass das gesamte reflektierte Lichtmuster innerhalb der Apertur verschoben wird, was bewirkt, dass eine Seite des reflektierten Strahls durch die Apertur vignettiert wird. Ein Koma und eine Vignettierung verändern jeweils die Intensitätsverteilung auf dem Detektorarray und die Veränderungen können sich addieren oder aufheben. Die vorliegende Erfindung nutzt die Tatsache, dass die Vignettierungswirkungen und Komawirkungen sich gegenseitig kompensieren oder einander in dem RPP-Signal vergrößern können. Wie unten beschrieben ist, könnten die Nettowirkungen von Koma und Vignettierung auf RPP durchgeführt werden, um sich, wenn der fokussierte Punkt mittig auf einer Rille ist, durch eine geeignete Auswahl von Rillenparametern aufzuheben.
  • Viele der Variablen, die eine Asymmetrie von Licht auf dem Detektorarray aufgrund von Koma beeinflussen, sowie eine Asymmetrie einer Lichtverteilung innerhalb der Apertur werden hauptsächlich durch Systemanforderungen und Industriestandards gesteuert. In dem System z. B., das die in 2 dargestellte Versatzantwort erzeugt, werden die Laserwellenlänge (650 Nanometer), das Reflexionsvermögen (0,2), die Spurbeabstandung (0,76 Mikrometer) und die Rillenbreite (0,38 Mikrometer) alle ausgewählt, um verschiedene Systemanforderungen oder -standards zu erfüllen. Für das System, das die in 2 dargestellte Versatzantwort erzeugt, ist die Apertur rund und stumpft den die Platte beleuchtenden Strahl (der eine Gaußsche Verteilung aufweist), der außerhalb einer Grenze fällt, die eine Intensität von 50 % der Spitzenintensität in der Mitte des Strahls darstellt, ab.
  • Einer der wichtigsten Parameter jedoch, der eine Lichtverteilung des reflektierten Strahls innerhalb der Apertur und auf dem Detektorarray beeinflusst, ist die Tiefe einer Rille relativ zu der Oberfläche eines Stegs. Es wird in Erinnerung gerufen, dass der fokussierte Punkt über die Breite einer Rille und auf den benachbarten Stegen verteilt ist. Ein Einstellen der Rillentiefe bewirkt, dass sich die Interferenzmuster auf dem Detektorarray verändern. Für das System, das die in 2 dargestellte Versatzantwort erzeugt, wurde die Tiefe einer Rille (relativ zu der Oberfläche eines Stegs) in einem optischen Modellierungsprogramm empirisch auf eine Tiefe von 52 Nanometern eingestellt, so dass die Nettowirkung des Koma auf RPP durch die Nettowirkung der Vignettierung durch die Apertur auf RPP aufgehoben wurde, wenn der fokussierte Punkt mittig auf einer Rille ist. Als ein Ergebnis ist RPP unempfindlich gegenüber einer Radialneigung, wenn der fokussierte Laserpunkt mittig auf einer Rille ist (2, Referenz 200) und weist eine erhöhte Empfindlichkeit gegenüber einer Radialneigung auf, wenn der fokussierte Punkt mittig auf einen Steg (2, Referenz 202) ist. Es wird angemerkt, dass für eine Datenaufzeichnung auf einen Steg anstelle einer Rille es möglich ist, die Plattenrillentiefe so auszuwählen, dass das RPP-Signal unempfindlich gegenüber einer Radialneigung ist, wenn der fokussierte Punkt mittig auf einem Steg ist, und eine erhöhte Empfindlichkeit gegenüber einer Radialneigung aufweist, wenn der fokussierte Punkt mittig auf einer Rille ist. Alternativ könnte es, wie weiter unten erläutert ist, für Einzelspiral-Rille- und -Steg-Systeme vorzuziehen sein, eine Rillentiefe so auszuwählen, dass das RPP-Signal unempfindlich gegenüber einer Radialneigung ist, wenn der fokussierte Punkt mittig zwischen der Mitte einer Rille und der Mitte eines Stegs ist.
  • 3A stellt eine optische Platte 110 gemäß der Erfindung dar. Die optische Platte 110 umfasst ein inneres Loch 300 zur Befestigung. Ein Datenbereich erstreckt sich von einem Innenradius 302 zu einem Außenradius 304. Der Datenbereich könnte eine spiralförmige Rille (durch Stege getrennt), mehrere konzentrische kreisförmige Rillen, die durch Stege getrennt sind, oder andere Anordnungen von Rillen, die durch Stege getrennt sind, aufweisen. Radialneigungsmessmerkmale sind entlang mehrerer Radiallinien 306 innerhalb des Datenbereichs vorgesehen, wobei die Höhe von Rillen und Stegen verändert ist. Bei einem Radius z. B., bei dem normal eine Rille vorliegt, könnte die Dünnfilmaufzeichnungsstruktur hergestellt sein, um die Höhe eines Stegs aufzuweisen, und bei einem Radius, bei dem normal ein Steg ist, könnte die Dünnfilmaufzeichnungsstruktur hergestellt sein, um die Höhe einer Rille aufzuweisen. 3A stellt drei Radiallinien (306) dar, die Zahl 3 ist jedoch nicht erforderlich. Für einige Systeme könnte die Tatsache, dass die Rillenhöhe weniger als drei Mal pro Umdrehung der Platte nach oben und unten stuft, ausreichend sein, und für andere Systeme könnten mehr als drei Stufen nach oben unten pro Umdrehung vorzuziehen sein. Ein Abstufen der Rillenhöhe auf die Höhe eines Stegs und ein Abstufen der Steghöhe auf die Höhe einer Rille ist geeignet zur Herstellbarkeit, aus 2 ist jedoch ersichtlich, dass andere Stufen bei Rillenhöhe und Steghöhe akzeptabel sind. Die einzige Anforderung ist die, dass die Höhenveränderungen zu einer erfassbaren Stufe in dem RPP-Signal führen.
  • 3B stellt eine vergrößerte Ansicht des Bereichs entlang einer Radiallinie 306 dar, wo die Rillen und Stege Höhenstufen aufweisen. In 3B stellen schraffierte Bereiche Oberflächen auf der Dünnfilmaufzeichnungsstruktur dar, die die Höhe aufweisen, die als ein Steg definiert ist, und nicht schraffierte Bereiche stellen Oberflächen auf der Dünnfilmaufzeichnungsstruktur dar, die eine Höhe aufweisen, die als eine Rille definiert ist. Entsprechend bezeichnet das Bezugszeichen 308 Rillen und das Bezugszeichen 310 bezeichnet Stege. Innerhalb einer Rille 308 ist entlang einer Radiallinie 306 die Höhe auf die Höhe eines Stegs verändert, wie durch das Bezugszeichen 312 bezeichnet ist. Innerhalb eines Stegs ist entlang der Radiallinie 306 die Höhe auf die Höhe einer Rille verändert, wie durch das Bezugszeichen 314 bezeichnet ist.
  • Vorzugsweise ist die Umfangslänge des Mittelteils des Bereichs 312 kleiner als die kürzeste Länge, die durch das optische System aufgelöst werden kann, um eine Wirkung auf das Datensignal durch das Neigungserfassungsmerkmal zu minimieren. Ein Schreiben und Lesen von Daten sind mit einem Taktsignal synchronisiert. Eine Kanalbitbreite ist als eine Entfernung auf der Datenoberfläche definiert, die durch eine Datentaktperiode mal der Umfangsgeschwindigkeit der Platte bestimmt ist. Für eine Platte, die eine „8/16"-Modulation verwendet, ist die kürzeste Markierung, die durch das optische System aufgelöst werden kann, etwa drei Mal die Kanalbitbreite. Für ein 4,7-Gigabyte-DVD-Medium, das eine „8/16"-Modulation verwendet, beträgt eine Kanalbitbreite 133 Nanometer. Für diesen Fall könnte die Umfangslänge des Mittelteils des Bereichs 312 etwa zwei Kanalbitbreiten oder etwa 266 Nanometer betragen.
  • Es wird in Erinnerung gerufen, dass das Datensignal eine Summe ist (1C, A + B + C + D) , und es wird in Erinnerung gerufen, dass ein fokussierter Laserpunkt, der mittig auf einer Rille ist, auf die benachbarten Stege überlappt. Die Umfangslänge der Stegsegmente (Bereich 314) benachbart zu den Neigungserfassungsmerkmalen in der Rille und mit einer veränderten Steghöhe ist ausgewählt, um eine Wirkung auf das Datensignal durch die Neigungserfassungsmerkmale weiter zu reduzieren. Da die Intensität des Laserpunkts wesentlich über den Stegen niedriger relativ zu der Mitte des Punkts ist, muss die Umfangslänge jedes Bereichs 314 größer sein als die Umfangslänge jedes Bereichs 312, derart, dass das von zwei kombinierten Bereichen 314 auf benachbarten Stegen reflektierte Licht eine Störung, die in das Summendatensignal durch den Bereich 312 auf der Rille eingeführt wird, ausgleichen kann. Bei dem in 3 dargestellten System beträgt die Umfangslänge des Mittelteils jedes Bereichs 314 etwa 5,5 Kanalbitbreiten.
  • 4 stellt ein Radial-Gegentakt-Signal (RPP) 400 als eine Funktion der Zeit dar, wenn eine optische Platte verwendet wird, wie in den 3A und 3B dargestellt ist. Wenn ein fokussierter Laserpunkt über einen Bereich 312 (3) innerhalb einer Rille läuft, zeigt ein Puls (402, 404) bei RPP an, dass die Platte radial geneigt ist. Die Größe und Richtung des Pulses bei RPP liefern ein Maß der Größe und Richtung einer Radialneigung. Nach einer Erfassung der Neigungssignale (402, 404) könnte das RPP-Signal 400 einem Tiefpassfiltern unterzogen werden, um zu verhindern, dass die Pulse eine Spureinstellungsversatzsteuerung stören.
  • Optische-Platte-Systeme leiten herkömmlicherweise außerdem ein Fokusfehlersignal aus Signalen von dem Detektorarray her (1A, 114). Das Fokussignal, ähnlich wie für eine Spureinstellungsversatzsteuerung, weist jedoch eine viel niedrigere Frequenz auf als die Dateninformationen, so dass ein Tiefpassfiltern für die Fokussteuerung auch Hochfrequenzstufen entfernt, die aus den Radialneigungsmessmerkmalen resultieren (3B, Bereiche 312 und 314).
  • Die Radialneigungsmessmerkmale beeinflussen ein Datenschreiben nicht. Dies bedeutet, dass, wenn Daten geschrieben werden, die Neigungsmessmerkmale ignoriert werden könnten und Daten über die Neigungsmessmerkmale geschrieben werden könnten.
  • Bei vorgeschlagenen Einzelspiral-Rille- und -Steg-Formaten, z. B. DVD-RAM und ASMO, weisen spiralförmige Spuren einen „Umschaltpunkt" auf, an dem die spiralförmige Spur sich von einer Rille in einen Steg oder umgekehrt verändert. 5A stellt eine Einzelspiral-Rille- und -Steg-Platte 500 mit einer spiralförmigen Spur 200 dar. Der Umschaltpunkt ist entlang einer Radiallinie 504. 5B liefert zusätzliche Details des Umschaltpunkts. In 5B verändert sich die Rille 506 entlang der Radiallinie 504 zu einem Steg 508 und ein Steg 510 verändert sich zu einer Rille 512. Eine Platte, wie in den 5A und 5B dargestellt ist, könnte so entworfen sein, dass ein Spureinstellungsfehlersignal unempfindlich gegenüber einer Neigung ist, wenn der fokussierte Laserpunkt mittig auf einer Rille (oder einem Steg) ist. Bezug nehmend auf 2 führt, wenn die Platte nicht geneigt ist, ein Umschalten von der Position 200 auf die Position 202 nicht zu einer Stufe bei dem Spureinstellungsversatzsignal. Wenn jedoch die Platte geneigt ist, liefert der Umschaltpunkt einmal pro Umdrehung eine einzelne abrupte Stufe in dem Spureinstellungsfehlersignal. Das Spureinstellungssignal könnte z. B. eine positive Stufe zeigen, wenn von einer Rille zu einem Steg umgeschaltet wird, und dann könnte eine Umdrehung später das Spureinstellungssignal eine negative Stufe zeigen, wenn von einem Steg zu einer Rille umgeschaltet wird, wenn die Platte radial geneigt ist. Alternativ könnte es vorzuziehen sein, die Platte so zu entwerfen, dass, wenn der fokussierte Punkt mittig auf einer Rille ist, die Spureinstellungsfehlersignalveränderung für eine Radialneigung die gleiche Größe aufweist wie die Größenveränderung, wenn der fokussierte Punkt mittig auf einem Steg ist, jedoch in entgegengesetzter Richtung. Dies bedeutet, dass in 2 die Kurven S2 und S3 horizontal verschoben sein könnten, so dass z. B. an der Position 200 die Kurve S2 über der Kurve S1 und die Kurve S3 unter der Kurve S1 ist, und an der Position 202 die Kurve S2 unter der Kurve S1 und die Kurve S3 über der Kurve S1 ist, wenn die Größen der Differenzen gleich sind. Dann tritt eine abrupte Stufe in dem Spureinstellungsfehlersignal auf, wenn der fokussierte Punkt von einer Rille zu einem Steg übergeht und umgekehrt und die Stufen sind, wenn keine Radialneigung vorliegt, von gleicher Größe, jedoch entgegengesetzter Richtung. Wenn jedoch die Platte radial geneigt ist, weisen die Stufen eine ungleiche Größe auf.
  • Die vorangegangene Beschreibung der vorliegenden Erfindung wurde zu Zwecken einer Darstellung und Beschreibung vorgelegt. Sie soll nicht ausschließlich sein oder die Erfindung auf die genaue offenbarte Form einschränken und andere Modifizierungen und Variationen sind angesichts der obigen Leeren eventuell möglich. Das Ausführungsbeispiel wurde ausgewählt und beschrieben, um die Prinzipien der Erfindung und ihre praktische Anwendung am Besten zu erklären, um es anderen Fachleuten auf diesem Gebiet zu ermöglichen, die Erfindung bestmöglich in verschiedenen Ausführungsbeispielen und verschiedenen Modifizierungen anzuwenden, wie sie für die bestimmte in Frage kommende Verwendung geeignet sind. Es ist beabsichtigt, dass die beigefügten Ansprüche aufgefasst werden sollen, um andere alternative Ausführungsbeispiele der Erfindung zu umfassen, mit Ausnahme davon, wie dies durch den Stand der Technik eingeschränkt ist.

Claims (7)

  1. Ein Optische-Platte-Medium (110) mit folgenden Merkmalen: einer Datenoberfläche, wobei die Datenoberfläche zumindest eine Rille (124, 308), wobei sich jede Rille in einer Rillenhöhe befindet, und Stege (126, 310) benachbart zu jeder Rille (124, 308), wobei sich jeder Steg (126, 310) in einer Steghöhe befindet, aufweist; gekennzeichnet durch: eine Mehrzahl erster Bereiche (312) entlang einer Radiallinie auf der Platte; wobei sich jeder erste Bereich (312) in einer Rille (124, 308) befindet, eine Höhe aufweist, die sich von der Rillenhöhe unterscheidet, und eine Umfangslänge aufweist, die kleiner ist als ein Umfang der Platte in der Radialentfernung des ersten Bereichs (312); und eine Mehrzahl zweiter Bereiche (314) entlang der Radiallinie, wobei sich ein zweiter Bereich (314) auf jedem Steg (126, 310) benachbart zu jedem ersten Bereich (312) befindet, wobei jeder zweite Bereich (314) eine Höhe aufweist, die sich von der Steghöhe unterscheidet.
  2. Die optische Platte (110) gemäß Anspruch 1, bei der die Höhe jedes ersten Bereichs (312) die Steghöhe ist und die Höhe jedes zweiten Bereichs (314) die Rillenhöhe ist.
  3. Die optische Platte (110) gemäß Anspruch 1, bei der die Datenoberfläche angepasst ist, um Datenmarkierungen aufzunehmen, wobei die Datenmarkierungen eine spe zifizierte kürzeste Datenmarkierungslänge aufweisen, und bei der jeder erste Bereich (312) eine Umfangslänge aufweist, die kleiner ist als die spezifizierte kürzeste Datenmarkierungslänge.
  4. Ein Plattensystem mit folgenden Merkmalen: einer optischen Platte (110) mit folgendem Merkmal: einer Datenoberfläche, wobei die Datenoberfläche zumindest eine Rille (124, 308), wobei sich jede Rille in einer Rillenhöhe befindet, und Stege (126, 310) benachbart zu jeder Rille (124, 308), wobei sich jeder Steg (126, 310) in einer Steghöhe befindet, aufweist; einem optischen System (116), das eine Lichtquelle (100) und ein optisches Detektorarray (114) umfasst, wobei Licht von der Lichtquelle auf die Datenoberfläche der optischen Platte fokussiert wird und von der Datenoberfläche reflektiertes Licht auf das optische Detektorarray gerichtet wird, und wobei eine Mehrzahl von Signalen durch das Detektorarray erzeugt wird; gekennzeichnet durch: die optische Platte (110), die ferner einen Radialneigungsmessbereich (312, 314) aufweist, der eine Mehrzahl erster Bereiche (312) entlang einer Radiallinie auf der Platte, wobei sich jeder erste Bereich (312) in einer Rille (124, 308) befindet und eine Höhe aufweist, die sich von der Rillenhöhe unterscheidet; und eine Mehrzahl zweiter Bereiche (314) entlang der Radiallinie, wobei sich ein zweiter Bereich (314) auf jedem Steg (126, 310) benachbart zu jedem ersten Bereich (312) befindet, wobei jeder zweite Bereich (314) eine Höhe aufweist, die sich von der Steghöhe unterscheidet, aufweist; wobei das Plattensystem ferner folgendes Merkmal aufweist: ein Elektroniksystem (117), das ein Verfolgungsfehlersignal (2, S1; 4, 400) aus der Mehrzahl von Signalen aus dem Detektorarray herleitet; wobei, wenn Licht von dem Radialneigungsmessbereich (312, 314) auf die Datenoberfläche auf dem Detektorarray reflektiert wird und wenn die Platte lokal radial geneigt ist, eine erfassbare Betragsänderung in dem Verfolgungsfehlersignal (2, S2, S3; 4, 402, 404) auftritt; und das Elektroniksystem eine Radialneigung aus der erfassbaren Betragsänderung in dem Verfolgungsfehlersignal misst.
  5. Das Plattensystem gemäß Anspruch 4, das ferner folgendes Merkmal aufweist: eine optische Apertur (106), wobei von der Datenoberfläche reflektiertes Licht durch die optische Apertur läuft, bevor es auf das Detektorarray gerichtet wird.
  6. Das Plattensystem gemäß Anspruch 5, bei dem die Höhe jedes ersten Bereichs (312) die Steghöhe ist und die Höhe jedes zweiten Bereichs (314) die Rillenhöhe ist.
  7. Ein Verfahren zum Messen einer Radialneigung einer optischen Platte (110) gemäß einem der Ansprüche 1 bis 6, wobei das Verfahren die folgenden Schritte aufweist: Erfassen von von der optischen Platte reflektiertem Licht; Herleiten eines Verfolgungsfehlersignals (2, S1; 4, 400) aus dem erfassten reflektierten Licht; und Erfassen einer abrupten Stufe bei dem Betrag des Verfolgungsfehlersignals (2, S2, S3; 4, 402, 404), wobei der Betrag der abrupten Stufe einen Betrag einer Radialneigung anzeigt.
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