DE495467C - Einrichtung zur Verstaerkung des Effektes bei der Analyse von in einer Ionisationskammer untergebrachten Stoffen, deren charakteristische Sekundaerstrahlung gemessen wird - Google Patents

Einrichtung zur Verstaerkung des Effektes bei der Analyse von in einer Ionisationskammer untergebrachten Stoffen, deren charakteristische Sekundaerstrahlung gemessen wird

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DE495467C
DE495467C DED57274D DED0057274D DE495467C DE 495467 C DE495467 C DE 495467C DE D57274 D DED57274 D DE D57274D DE D0057274 D DED0057274 D DE D0057274D DE 495467 C DE495467 C DE 495467C
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Description

  • Einrichtung zur Verstärkung des Effektes bei der Analyse von in einer lonisationskammer untergebrachten Stoffen, deren charakteristische Sekundärstrahlung gemessen wird Einrichtung zur Verstärkung des Effektes bei der Analyse von in einer Ionisationskammer untergebrachten Stoffen, deren charakteristische Sekundärstellung gemessen wird.
  • Es ist bekannt, durch selektive Absorption von Röntgenstrahlen oder Kathodenstrahlen bzw. durch die damit verbundene erhöhte Emission von Elektronen quantitative Stoffanalysen zu machen. Bei diesen Analyseverfahren werden die Strahlen in ein Gefäß (Ionisationskammer) geleitet, in welchem sich der zu untersuchende Körper befindet. Die Ionisation in diesem Raum wird gemessen.
  • Gegenstand der Erfindung ist ein Verfahren, um bei dieser Analyse von Stoffen den Effekt dadurch zu verstärken, daß die Ionisationskammer des Analysators selektiv absorbierende Stoffe enthält, um die abzumessende Abweichung von der normalen Ionisation möglichst stark zu machen. Die Ionenkammer wird z. B. mit einem Gas gefüllt, welches die von dem aufzusuchenden Bestandteil des Prüfkörpers ausgehende charakteristische Elektronenstrahlung selektiv absorbiert. Mit diesem Verfahren können ungeheuer kleine Spuren in einem Prüfkörper nachgewiesen werden. Derselbe Zweck, wenn auch nicht ebenso vollkommen, wird erreicht, wenn man in die Ionisierungskammer zum empfindlichen Nachweis feste Körper einbringt, welche die vom aufzusuchenden Bestandteil ausgesandten charakteristischen Elektronen und Röntgenstrahlen selektiv absorbieren. Die Erfindung hat also im ganzen eine Verstärkung des Effektes zum Gegenstand, der in der Aussendung charakteristischer Strahlen (Elektronen- und Röntgenstrahlen) seitens der aufzusuchenden Bestandteile des Prüfkörpers besteht. Diese Effektsteigerung wird erreicht durch Einbringung selektiv absorbierender und unter Einfluß der selektiven Absorption stärker emittierender gasförmiger oder fester Stoffe in die Ionenkammer. Es wird also in diesem Verfahren nicht etwa eine allgemeine Verstärkung der kleinen Ionisat.ionsströme erzielt, sondern eine Verstärkung der selektiven (gewünschten) Strahlenwirkung auf eine gleichzeitige relative (in bezug auf die selektive Wirkung) Verkleinerung der allgemeinen Wirkung (Grundionisation - ungewünschte Wirkung).

Claims (1)

  1. PATENTANSPRUCH: Einrichtung zur Verstärkung des Effektes bei der Analyse von in einer Ionisationskammer untergebrachten Stoffen, deren charakteristische Sekundärstrahlung gemessen wird, dadurch gekennzeichnet, daß in der Kammer feste oder gasförmige selektiv absorbierende Stoffe derart angeordnet sind, daß sie von den erregten Sekundärstrahlen getroffen werden und daß als selektiv absorbierende Stoffe solche Stoffe gewählt sind, welche gerade in den entsprechenden Bereichen der sekundären Strahlung selektiv absorbieren.
DED57274D 1925-06-05 1925-06-05 Einrichtung zur Verstaerkung des Effektes bei der Analyse von in einer Ionisationskammer untergebrachten Stoffen, deren charakteristische Sekundaerstrahlung gemessen wird Expired DE495467C (de)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1136851B (de) * 1954-08-02 1962-09-20 Philips Nv Verfahren und Vorrichtung zum Analysieren von Stoffen durch Bestrahlung mit Roentgenstrahlen

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