DE4433863A1 - Spektralselektive Kollektorbeschichtung und Verfahren zu ihrer Herstellung - Google Patents
Spektralselektive Kollektorbeschichtung und Verfahren zu ihrer HerstellungInfo
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Description
Die vorliegende Erfindung betrifft eine Vorrichtung zum Erwärmen eines
Transportmediums mittels Sonnenstrahlung, insbesondere einen Sonnenkollektor, mit
einem spektralselektiven Schichtsystem, dessen Schichten auf einem wärmeleitenden
Substrat, das mit dem zu erwärmenden Transportmedium in wärmeleitendem Kontakt
steht, angeordnet sind.
Sonnenkollektoren dienen der Erwärmung eines Transportmediums, wie z. B. einer
Flüssigkeit oder einem Gas, mit Hilfe der Sonnenstrahlung. Um eine effiziente
Umwandlung der Sonnenstrahlung in Wärme zu gewährleisten, wird auf ein gut
wärmeleitendes Substrat ein hochabsorbierendes Schichtsystem aufgebracht.
Wärmeverluste nach den sonnenabgewandten Seiten des Sonnenkollektors werden durch
opake Isolierung vermindert, wohingegen Verluste auf der sonnenzugewandten Seite
durch eine Wärmedämmung vermieden werden, die für Sonnenstrahlung transparent ist.
Als Substrate werden aus Wärmeleitungsgründen und aus Kostengründen Kupfer,
Aluminium, Stahl oder Edelstahl verwendet. Es existieren eine Reihe verschiedener
Kollektorformen, wie z. B. Flachkollektoren, Vakuum- und Röhrenkollektoren, usw.
Man unterscheidet dabei Niedertemperatur-Kollektoren, die bei einer
Betriebstemperatur von bis zu 100°C arbeiten und Hochtemperatur-Kollektoren, deren
Arbeitstemperatur bis zu 300°C beträgt. Diese Kollektoren zeigen sehr unterschiedliche
Konstruktionen und Anforderungsprofile an ihre jeweiligen Bestandteile.
Um einen möglichst hohen Kollektorwirkungsgrad zu erreichen, werden selektiv
beschichtete Absorber verwendet. Das Ziel dabei ist, möglichst die gesamte
Strahlenleistung der Sonne zu absorbieren, d. h. ein spektrales Absorptions
vermögen α (λ) in Abhängigkeit von der Wellenlänge λ der Sonnenstrahlung von
100% anzustreben. Um gleichzeitig die Wärmeverluste kleinzuhalten, muß das
Emissionsvermögen ε (λ) im Strahlungsbereich des schwarzen Körpers bei der
entsprechenden Kollektor- bzw. Arbeitstemperatur minimal sein. Eine spektralselektive
Kollektorbeschichtung zeichnet sich also durch ein hohes spektrales
Absorptionsvermögen α im Bereich der Sonnenstrahlung und durch ein niedriges
Emissionsvermögen ε im Strahlungsbereich des schwarzen Körpers der jeweiligen
Arbeitstemperatur aus.
Da die zumeist verwendeten Metallsubstrate im solaren Bereich keine Transmission
besitzen, wird, um ein hohes Absorptionsvermögen zu gewährleisten, eine
verschwindende Reflexion R (λ) angestrebt.
Der ideale Absorber hat demnach unterhalb einer Wellenlänge von λ = 2500 nm ein
Reflexionsvermögen R (λ) = 0 und oberhalb von 2500 nm von R (λ) = 1. Um ein
solches Prinzip zu verwirklichen, werden verschiedene Absorberkonzepte benutzt, z. B.
intrinsisch selektive Materialien, Gradientenschichten, Cermetschichten und
Entspiegelungsschichten. Meist werden mehrere dieser Konzepte gleichzeitig benutzt.
Für die industrielle Nutzung haben sich bisher galvano-technisch hergestellte Systeme
auf Chrom-Chromoxid-Cermet-Basis, sowie Schichten unter Verwendung von Metall-
Aluminiumoxid-Mischschichten durchgesetzt.
Die erreichbaren Selektivitätseigenschaften sind abhängig von der Zusammensetzung
des verwendeten Elektrolyten, den Arbeitsbedingungen und dem Material des
Substrates. Als solches finden Kupfer, Aluminium, Edelstahl sowie verzinkter oder
nicht verzinkter Stahl Verwendung. Oft wird auf die Substrate eine Zwischenschicht aus
Nickel aufgebracht. Sie dient dem Korrosionsschutz.
Chrom-Chromoxid-Cermet-Systeme gehören zu den selektiven
Schwarzchrombeschichtungen, die sich auf verschiedenen Wegen herstellen lassen.
Neben Galvanikverfahren mit unterschiedlichen Badzusammensetzungen werden auch
Vakuumprozesse angewendet. So hat der Begriff "Schwarzchrom" eine übergeordnete
Bedeutung und ist nicht auf ein bestimmtes Produkt beschränkt.
Schwarzchrom gilt im Arbeitsbereich der Niedertemperatur-Kollektoren als stabil, und
ist gegenüber Feuchtigkeit resistenter. Der generelle Nachteil vieler galvanisch
hergestellter selektiver Schichten besteht darin, daß sich ihre Eigenschaften durch
Alterung verschlechtern sowie in der umweltgefährdenden Verwendung giftiger
Salzlösungen bei der Herstellung.
Das Herstellungsverfahren von Nickelstruktur-Schichten auf Aluminiumsubstraten ist
mit dem aus der Anodisiertechnik bekannten Zweistufenverfahren vergleichbar. Die zu
beschichtenden Aluminiumabsorber werden entfettet, gebeizt und dekapiert.
Anschließend erfolgt die Erzeugung einer Eloxalschicht mit einem definierten
Porenraster und die Abscheidung des Nickels in die Poren.
Bei Hochtemperatur-Vakuum-Absorberschichten für fokussierende Systeme, z. B.
Vakuumröhrenkollektoren für Sonnenkraftwerke, werden selektive Schichten auf der
Basis hochfrequentgesputterten Aluminiumoxids mit eingelagerten Metallpartikeln, z. B.
Molybdän, verwendet. Diese Schichten weisen zwar eine gute Temperaturbeständigkeit,
aber eine ungenügende Korrosionsbeständigkeit gegenüber Feuchtigkeit auf.
Der vorliegenden Erfindung liegt damit die Aufgabe zugrunde, eine spektralselektive
Beschichtung für einen Sonnenkollektor und ein Verfahren zur Herstellung einer
solchen zu liefern, die eine hohe thermische Beständigkeit bis zur Stillstandstemperatur,
d. h. wenn der Kollektor ohne Transportmedium betrieben wird, und eine hohe
chemische Beständigkeit gegenüber Umwelteinflüssen wie z. B. Gasen, Staub,
Wasserdampf, etc. gewährleisten. Als weitere erstrebenswerte Eigenschaften sind hohe
Beständigkeit bei Temperaturwechseln, hohe Beständigkeit gegen UV-Strahlung, hohe
Lebensdauer, großtechnische Herstellbarkeit und niedrige Herstellungskosten zu
nennen.
Die Aufgabe wird durch eine Vorrichtung gemäß dem Oberbegriff des Anspruches 1
gelöst, die dadurch gekennzeichnet ist, daß die Schichten des spektralselektiven
Schichtsystems dielektrische und absorbierende Materialien enthalten, die durch
Sputtern auf das Substrat aufbringbar sind.
Weiterhin wird die oben genannte Aufgabe gemäß Anspruch 8 durch ein Verfahren zum
Herstellen eines spektralselektiven Schichtsystems auf einem wärmeleitenden Substrat
gelöst, das dadurch gekennzeichnet ist, daß die Schichten des spektralselektiven
Schichtsystems nacheinander durch Sputtern auf das wärmeleitende Substrat aufgebracht
werden.
Um zu optimalen Schichteigenschaften zu gelangen, müssen sowohl das
Absorbersubstrat als auch die Beschichtungskomponenten in ihren Einzeleigenschaften
und in ihren Wechselwirkungen betrachtet werden.
Als Materialien für das wärmeleitende Substrat können Metalle, Metallfolien,
Kunststoffe (PTFE, EPDM), Glas, Gummi und dgl. verwendet werden. Wegen der
Wärmeleitungseigenschaften beschränkt man sich in der Regel auf Metalle wie Kupfer,
Edelstahl oder Aluminium, wobei die Verwendung von Kupfer und Aluminium, bzw.
Nickel, wegen ihres von Natur aus geringen Emissionsvermögens im
Wärmestrahlungsbereich vorteilhaft ist.
Für das Beständigkeitsverhalten der Absorber ist die Oberflächenbeschaffenheit
(Rauhigkeitscharakteristik) der verwendeten Substratsbleche von großer Bedeutung. Als
günstig haben sich möglichst glatte Oberflächen mit geringen Rauhtiefen, ohne tiefe
Rillenbildung, also sanft gewellte Oberflächen erwiesen.
Eine weitere Möglichkeit zur Verbesserung der Korrosionseigenschaften besteht in der
Verwendung verzinnter bzw. vernickelter Bleche, wobei die Schichtdicke der Zinn- bzw.
Nickelschicht größer oder gleich 1 µm ist.
Die Vorbehandlung der Substratbleche erfolgt entweder durch Entfetten in
entsprechenden Reinigungsbädern oder vorzugsweise durch eine Flammenbehandlung,
wobei dem Verbrennungsgas eine siliziumhaltige Verbindung, vorzugsweise
Tetraethoxylan-TEOS, zugesetzt wird, was zum Aufbau einer sehr dünnen SiOx-Schicht
auf dem Substratblech mit Korrosionsschutzwirkung führt.
Um ein niedriges Emissionsvermögen des Substrates zu garantieren, gibt es zwei
Möglichkeiten. Die erste Möglichkeit besteht in der Verwendung von Substraten mit
einem niedrigen Emissionsvermögen, wie z. B. Kupfer, Aluminium, Nickel o. ä. Die
andere Möglichkeit besteht darin, auf das Substrat eine geeignete Schicht mit einem
niedrigen Emissionsvermögen aufzubringen. Als Materialien für diese Schichten können
Zinn, Nickel, Molybdän, Gold, Platinmetalle oder niedrig emittierende Verbindungen
wie Nitride, insbesondere der Nitride der Nebengruppenelemente wie Titannitrid oder
Zirkonnitrid Verwendung finden. Die Schichtdicke kann dabei zwischen 10 nm und
einigen µm liegen.
Auf die niedrig emittierende Oberfläche wird danach das spektralselektive
Schichtsystem, das Schichten aus dielektrischen und absorbierenden Materialien enthält,
aufgebracht. Es hat sich erwiesen, daß Materialien, die durch Sputter-Verfahren, wie z. B.
das DC-Magnetron- bzw. HF-Sputter-Verfahren auf das wärmeleitende Substrat
aufbringbar sind, sich durch eine hohe thermische und chemische Beständigkeit sowie
eine hohe Temperaturwechselbeständigkeit auszeichnen. Weiterhin sind die
Beständigkeit gegenüber UV-Strahlung, sowie die hohe Lebensdauer der durch Sputtern
aufbringbaren Materialien hervorzuheben. Weitere Vorteile bestehen in der
hervorragenden Schichtgleichmäßigkeit, der verfahrenstechnisch gut beherrschbaren
Prozeßführung und der Möglichkeit zur Großflächenbeschichtung von
Substrathalbzeugen und fertigkonfektionierten Absorbern. Insbesondere durch das DC-
Magnetron-Sputter-Verfahren läßt sich der Herstellungsprozeß besonders wirtschaftlich
gestalten. Das Verfahren ist vorteilhafterweise für die Bandbeschichtung, die
Beschichtung im Inline-Verfahren, sowie für die Batch-Beschichtung geeignet.
Für den Aufbau der Schichten des spektralselektiven Schichtensystems haben sich zwei
verschiedene Varianten als besonders günstig erwiesen.
Bei der ersten Variante werden die dielektrischen und die absorbierenden Schichten in
einem sandwichähnlichem Aufbau übereinander abgeschieden. Es enthält also
mindestens eine Schicht ein dielektrisches Material und mindestens eine weitere Schicht
ein absorbierendes Material, wobei je eine absorbierendes und eine dielektrisches
Material enthaltende Schicht abwechseln angeordnet sind. Die Einzelschichtdicken
liegen dabei zwischen 1 nm und 100 nm. Sie werden durch die Brechungsindex und das
Absorptionsvermögen der Schichten so bestimmt, daß eine hohe Absorption für
Solarstrahlung bei gleichzeitig geringem Emissionsvermögen des Gesamtschichtsystems
erreicht wird.
Als dielektrische Materialien finden Carbide, vorzugsweise Siliziumcarbid, oder Oxide
der 4. Hauptgruppe bzw. Nebengruppenelemente, vorzugsweise Nioboxid, Zirkonoxid
und Tantaloxid Verwendung. Weiterhin eignen sich Nitride bzw. Oxynitride des
Siliziums, Bors oder der Nebengruppenelemente.
Als absorbierende Materialien werden absorbierende Reaktivschichten, und dabei
insbesondere Nitride, vorzugsweise Chromnitrid bzw. Nitride der Chromlegierungen
wie z. B. Ni/Cr benutzt. Auch Molybdän sowie elementarer Kohlenstoff haben sich als
günstig erwiesen.
Durch Clusterbildung der absorbierenden Materialien wird dabei ein Cermetaufbau
erreicht.
Als besonders günstig hat es sich erwiesen, ein Gradientenschichtsystem zu erzeugen,
bei dem die Konzentration des absorbierenden Materiales von der Lichteinfallsseite zum
Substrat hin zunimmt.
Die zweite Variante für den Aufbau des spektralselektiven Schichtsystems besteht darin,
daß die Schichten ein Materialgemisch aus absorbierenden und dielektrischen
Materialanteilen enthalten, wobei die Stöchiometrie sich von Schicht zu Schicht so
ändert, daß der absorbierende Materialanteil des Materialgemisches zum Substrat hin
zunimmt.
Dabei ist es möglich, das Schichtsystem so herzustellen, daß es nur von einem
Grundmaterial ausgehend erzeugt wird. Ein Beispiel stellt das System CrOx dar. Durch
eine geeignete Wahl der Reaktionsbedingungen, wie weiter unten beschrieben, läßt sich
x so variieren, daß Werte 0 < x < 1,5 erreicht werden, wobei x vom Substrat zur
Lichteinfallsseite zunimmt.
Als Materialien kommen prinzipiell alle Nebengruppenelemente, deren Legierungen,
und insbesondere Ni/Cr-Legierungen, in Frage.
Es kann aber auch ein zusätzliches absorbierendes Material in die Schichten eingebaut
sein. Als Materialien dafür können wiederum alle Nebengruppenelemente, deren
Legierungen, insbesondere Ni/Cr-Legierungen, aber auch Molybdän oder Kohlenstoff
verwendet werden.
Zusätzlich zur oder anstelle der Stöchiometrieänderung durch Zunahme des
absorbierenden Materialanteiles des Materialgemisches zum Substrat hin kann auch die
Konzentration des zusätzlichen absorbierenden Materiales zum Substrat hin zunehmen.
Weiterhin kann bei beiden Varianten des Schichtsystemaufbaus auf der Lichteinfallsseite
des Schichtsystems eine Entspiegelungsschicht mit niedrigem Brechungsindex
angeordnet sein.
Außerdem kann zwischen dem wärmeleitenden Substrat und dem spektralselektiven
Schichtsystem eine Schicht mit niedrigem Emissionsvermögen angeordnet sein. Diese
Schicht kann gleichzeitig die Funktion eines Korrosionsschutzes haben.
Wie oben bereits ausgeführt, sind Sputter-Verfahren zur Herstellung spektralselektiver
Schichtsysteme besonders geeignet. Bei der sandwichartigen Variante des
Schichtsystemaufbaus werden die Nitridschichten durch Sputtern vom Metalltarget, z. B.
Chromtarget, hergestellt. Siliziumcarbid kann Sputtern vom Siliziumtarget in
kohlenstoffhaltiger Atmosphäre oder vorzugsweise durch Sputtern vom Siliziumcarbid-
Target hergestellt werden. Die Kohlenstoffschichten werden durch Sputtern vom
Graphit-Target hergestellt. Oxidschichten werden durch reaktives Sputtern in
Sauerstoffatmosphäre erzeugt.
In allen Fällen wird bei einem Arbeitsdruck von etwa 5 × 10³ mbar gearbeitet, wobei
die Sputterleistungsdichten zwischen 1 bis 10 W/cm² Targetoberfläche betragen.
Bei der Herstellung von Spektralsystemen gemäß der zweiten Variante, bei der sich der
absorbierende Materialanteil kontinuierlich ändert, liegt die Schwierigkeit darin, stabile
Arbeitspunkte für den Beschichtungsprozeß während des Sputterns zu finden.
Insbesondere ist es schwierig, Zustände im Übergangsbereich zwischen dem "metallic"
und dem "compound" Modus zu stabilisieren.
Gemäß der vorliegenden Erfindung wird dieses Problem dadurch gelöst, daß die
Stöchiometrie des Materialgemisches von Schicht zu Schicht durch eine zeitmodulierte
Änderung des Reaktivgasgehaltes im Sputtergas schrittweise oder kontinuierlich
verändert wird.
Die andere Möglichkeit besteht darin, die Stöchiometrie des Materialgemisches von
Schicht zu Schicht durch eine zeitmodulierte Änderung der Sputter-Leistung
schrittweise oder kontinuierlich zu verändern.
Dabei wird jeweils ein kurzzeitiger Übergang zwischen dem "metallic" und dem
"compound" Modus durchgeführt. Durch eine gezielte Einstellung der Verweilzeiten t1
und t2 in dem jeweiligen Zustand läßt sich eine Mischschicht erzeugen und dadurch die
Schichtzusammensetzung in weiten Grenzen variieren. Die entsprechenden Frequenzen
können zwischen 10-1 Hz und 10³ Hz liegen, als besonders günstig hat sich eine
Zustandswechselfrequenz von 1-10 Hz erwiesen.
Die erforderlichen Parameteränderungen erfolgen am Flowcontroller oder den
Sollwertvorgabeeinheiten der Stromversorgungen der Sputteranlage.
Die erfindungsgemäßen Schichtsysteme und die erfindungsgemäß hergestellten
Schichtsysteme zeichnen sich durch ein hohes solares Absorptionsvermögen von
α = 90% bis 96%, und ein niedriges Emissionsvermögen ε = 3% bis 10% aus.
Insbesondere die Siliziumcarbidschichten zeigen eine sehr gute mechanische
Beständigkeit und sind wischfest und handhabungssicher, wobei Eigenschaften wie die
Kratzfestigkeit auch durch das Substratmaterial beeinflußt werden.
Weiterhin zeigen die oben genannten Schichten, insbesondere die Siliziumcarbid-
Systeme eine sehr gute Stabilität im Klimawechseltest bei Temperaturen bis 90°C und
in gesättigtem Wasserdampf. Die Ursache dafür kann darin gesehen werden, daß durch
die Abscheidung nichtmetallischer Schichten, die auch kaum Metallverunreinigungen
enthalten, elektrochemische Korrosionsprozesse wirkungsvoll verhindert werden.
Außerdem sind die Schichten hydrophob, werden also durch Wasser schlecht benetzt.
Schließlich sind die oben genannten Schichten, insbesondere die SiC/CrNx-Systeme im
Vakuum bis zu Temperaturen von 400°C und darüber hinaus stabil und damit auch für
den Einsatz in Vakuumkollektoren geeignet.
Es ist weiterhin vorstellbar, die erfindungsgemäßen Schichtsysteme nicht nur für
Kollektorbeschichtungen, sondern auch als Sonnenschutz- oder als
Wärmeschutzbeschichtungen auf Glas-Substraten zu verwenden.
Im folgenden wird die vorliegende Erfindung durch bevorzugte Ausführungsbeispiele
unter Bezug auf die beigefügten Zeichnungen näher beschrieben. Es zeigen:
Fig. 1 schematisch die sandwichartige Variante des Schichtaufbaus eines
spektralselektiven Schichtsystems,
Fig. 2 schematisch die Variante des Schichtaufbaus mit Stöchiometrieänderungen,
Fig. 3 die Abhängigkeit der Sputter-Spannung vom Reaktivgasfluß,
Fig. 4 eine zeitmodulierte Änderung der Sputter-Leistung,
Fig. 5 eine zeitmodulierte Änderung des Reaktivgasgehaltes im Sputtergas.
Fig. 1 zeigt eine erste Variante ein erfindungsgemäßes spektralselektives Schichtsystem,
in dem die durch Sputtern auf das Substrat 1 aufbringbaren dielektrischen und
absorbierenden Materialien einen sandwichartigen Aufbau aufweisen. Mindestens eine
Schicht 3 enthält ein dielektrisches Material und mindestens eine weitere Schicht 4 ein
absorbierendes Material. Die Schichten 3 mit dielektrischem Material und die Schichten
4 mit absorbierendem Material sind jeweils abwechselnd angeordnet.
Für das Substrat werden Materialien mit einer hohen Wärmeleitfähigkeit verwendet,
insbesondere Metalle wie Kupfer, Edelstahl, Aluminium bzw. Nickel.
Zwischen dem wärmeleitenden Substrat und dem spektralselektivem Schichtsystem kann
eine Schicht 2 mit einem niedrigen Emissionsvermögen angeordnet sein. Als Material
für die Schicht 2 können Zinn, Nickel, Molybdän, Gold, Platinmetalle oder niedrig
emittierende Verbindungen wie Nitride, insbesondere Nitride der
Nebengruppenelemente wie Titannitrid oder Zirkonnitrid Verwendung finden. Die
Schichtdicke der Schicht 2 beträgt zwischen 10 nm und einigen µm.
Auf der Lichteinfallsseite des spektralselektiven Schichtsystems kann weiterhin eine
Entspiegelungsschicht 5 mit niedrigem Brechungsindex angeordnet sein. Diese
Entspiegelungsschicht 5 dient zur Erniedrigung der Reflexion im sichtbaren Bereich des
Lichtes.
Die Konzentration des absorbierenden Materiales in den absorbierenden Schichten 4
nimmt von der Lichteinfallsseite zum Substrat hin nach einer bestimmten Funktion zu.
Fig. 2 zeigt den Aufbau eines spektralselektiven Schichtsystems, dessen Schichten 6
dielektrische und absorbierende Materialien enthalten, die durch Sputtern auf das
Substrat 1 aufbringbar sind. Die Schichten 6a, 6b, 6c, 6d enthalten ein Materialgemisch
aus absorbierenden und dielektrischen Materialanteilen, wobei die Stöchiometrie sich
von Schicht zu Schicht so ändert, daß der absorbierende Materialanteil des
Materialgemisches zum Substrat 1 hin zunimmt.
Ein Beispiel für ein solches System ist das System CrOx. Die Schicht 6a besteht dabei
z. B. aus CrOx1, die Schicht 6b aus CrOx2, die Schicht 6c aus CrOx3 und die Schicht
6d aus CrOx4. Es gilt 0 x1 x2 x3 x4 1,5, so daß sich die
Stöchiometrie von Schicht zu Schicht so ändert, daß der absorbierende Materialanteil
des Materialgemisches CrOx zum Substrat hin zunimmt.
Als Materialien eignen sich anstelle von Cr alle Nebengruppenelemente und deren
Legierungen, insbesondere Ni/Cr-Legierungen.
Weiterhin kann zusätzlich absorbierendes Material in die Schichten eingebaut sein. Als
Material dafür eignen sich ebenfalls alle Nebengruppenelemente und deren
Legierungen, insbesondere Ni/Cr-Legierungen, aber auch elementarer Kohlenstoff oder
Molybdän. Auch die Konzentration dieses zusätzlichen absorbierenden Materiales kann
zum Substrat hin zunehmen.
Bei dieser zweiten Variante des Schichtaufbaus kann ebenfalls zur Erniedrigung der
Reflexion im sichtbaren Bereich der Sonnenstrahlung eine Entspiegelungsschicht 5 mit
einem niedrigen Brechungsindex auf die Lichteinfallsseite aufgebracht werden.
Weiterhin kann auch hier zwischen dem Substrat 1 und dem spektralselektivem
Schichtsystem eine Schicht mit niedrigem Emissionsvermögen angeordnet sein.
Bei der Herstellung von spektralselektiven Schichtsystemen auf einem wärmeleitenden
Substrat sind die weiter oben beschriebenen gewünschten Eigenschaften dann zu
erreichen, wenn die Schichten nacheinander durch Sputtern auf das wärmeleitende
Substrat aufgebracht werden. Dabei wird insbesondere das DC-Magnetron-
Sputterverfahren bevorzugt. Zur Herstellung von Schichten, die ein Materialgemisch
aus absorbierenden und dielektrischen Materialanteilen enthalten, wobei sich die
Stöchiometrie von Schicht zu Schicht so ändert, daß der absorbierende Materialanteil
des Materialgemisches zum Substrat hin zunimmt, kann entweder der Reaktivgasgehalt
im Sputtergas, oder die Sputter-Leistung zeitmoduliert geändert werden. Fig. 3
verdeutlicht diese Verfahren. Das gezeigte Diagramm zeigt die Sputterspannung in
Abhängigkeit vom Reaktivgasfluß, wobei die beiden Kurven P1 und P2 zwei
verschiedene Sputter-Leistungen zeigen. Zur Erzeugung eines Mischzustandes wird
jeweils ein kurzzeitiger Übergang zwischen verschiedenen Arbeitspunkten A1, A2 und
A3 durchgeführt. Die Pfeile zwischen den Arbeitspunkten A1 und A3 kennzeichnen die
Veränderung der Sputterleistung, während der der Reaktivgasfluß konstant bleibt.
Fig. 4 zeigt in einem Diagramm die zeitmodulierte Änderung der Sputter-Leistung.
Dabei wird der eine Arbeits- bzw. Betriebspunkt während einer Zeitspanne t1 und der
andere Arbeits- bzw. Betriebspunkt während einer Zeitspanne t2 gehalten, so daß die
zeitmodulierte Änderung der Sputterleistung einer Stufenfunktion gleicht.
Der in Fig. 3 durch Pfeile verdeutlichte Übergang zwischen den Arbeitspunkten A1 und
A2 kennzeichnet die Änderung des Reaktivgasflusses bei konstanter Sputterleistung.
Fig. 5 zeigt ein Diagramm mit der zeitmodulierten Änderung des Reaktivgasgehaltes.
Der eine Betriebspunkt wird wiederum während einer Zeit t1 und der andere während
einer Zeit t2 gehalten, so daß sich die zeitmodulierte Änderung des Reaktivgasgehaltes
ebenfalls wie eine Stufenfunktion darstellt.
Bei beiden Verfahren können die Wechselfrequenzen zwischen den jeweiligen Arbeits- bzw.
Betriebspunkten zwischen 10-1 und 10³ Hz liegen. Als besonders günstig hat es
sich erwiesen, wenn die Frequenzen zwischen 1-10 Hz liegen. Der Funktionstyp der
zeitmodulierten Änderung ist nicht auf eine Stufenfunktion festgelegt, sondern kann
auch eine andere für den speziellen Anwendungsfall optimierte Form haben. Es ist
insbesondere vorstellbar, die beiden oben beschriebenen Verfahren der zeitmodulierten
Änderung, der Sputter-Leistung und der zeitmodulierten Änderung des
Reaktivgasgehaltes zu kombinieren.
Claims (12)
1. Vorrichtung zum Erwärmen eines Transportmediums mittels Sonnenstrahlung, mit
einem spektralselektiven Schichtsystem, dessen Schichten auf einem wärmeleitenden
Substrat, das mit dem zu erwärmenden Transportmedium in wärmeleitendem Kontakt
steht, angeordnet sind,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Schichten (3, 4, 6a, 6b, 6c, 6d) dielektrische und absorbierende Materialien
enthalten, die durch Sputtern auf das Substrat (1) aufbringbar sind.
2. Vorrichtung gemäß Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet,
daß mindestens eine Schicht (3) ein dielektrisches Material und mindestens eine weitere
Schicht (4) ein absorbierendes Material enthält, wobei je eine absorbierendes und eine
dielektrisches Material enthaltende Schicht abwechselnd angeordnet sind.
3. Vorrichtung gemäß Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Schichten (6a, 6b, 6c, 6d,) ein Materialgemisch aus absorbierenden und
dielektrischen Materialanteilen enthalten, wobei die Stöchiometrie sich von Schicht zu
Schicht so ändert, daß der absorbierende Materialanteil des Materialgemisches zum
Substrat (1) hin zunimmt.
4. Vorrichtung gemaß Anspruch 3,
dadurch gekennzeichnet,
daß ein zusätzliches absorbierendes Material in die Schichten (3, 4, 6a, 6b, 6c, 6d)
eingebaut ist.
5. Vorrichtung gemäß Anspruch 2 oder 4,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Konzentration des absorbierenden Materiales zum Substrat (1) hin zunimmt.
6. Vorrichtung gemäß einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet,
daß zwischen dem wärmeleitenden Substrat (1) und dem spektralselektiven
Schichtsystem eine Schicht (2) mit niedrigem Emissionsvermögen angeordnet ist.
7. Vorrichtung gemäß einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet,
daß auf der Lichteinfallsseite des spektralselektiven Schichtsystems eine
Entspiegelungsschicht (5) mit niedrigem Brechungsindex angeordnet ist.
8. Verfahren zum Herstellen eines spektralselektiven Schichtsystems auf einem
wärmeleitenden Substrat,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Schichten (3, 4, 6a, 6b, 6c, 6d) des spektralselektiven Schichtsystems
nacheinander durch Sputtern auf das wärmeleitende Substrat (1) aufgebracht werden.
9. Verfahren gemäß Anspruch 8,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Schichten (3, 4, 6a, 6b, 6c, 6d) ein Materialgemisch aus absorbierenden und
dielektrischen Materialanteilen enthalten, wobei die Stöchiometrie des
Materialgemisches von Schicht zu Schicht durch eine zeitmodulierte Änderung des
Reaktivgasgehaltes im Sputtergas schrittweise oder kontinuierlich verändert wird.
10. Verfahren gemäß Anspruch 8,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Schichten (6a, 6b, 6c, 6d) ein Materialgemisch aus absorbierenden und
dielektrischen Materialanteilen enthalten, wobei die Stöchiometrie des
Materialgemisches von Schicht zu Schicht durch eine zeitmodulierte Änderung der
Sputter-Leistung schrittweise oder kontinuierlich verändert wird.
11. Verfahren gemäß Anspruch 9 oder 10,
dadurch gekennzeichnet,
daß die zeitmodulierte Änderung zwischen zwei Betriebspunkten erfolgt, wobei der eine
Betriebspunkt während einer Zeit t1, und der andere Betriebspunkt während einer Zeit
t2 gehalten wird.
12. Verfahren gemäß Anspruch 11,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Wechselfrequenz zwischen den beiden Betriebspunkten 1-10 Hz beträgt.
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE4433863A DE4433863A1 (de) | 1994-09-22 | 1994-09-22 | Spektralselektive Kollektorbeschichtung und Verfahren zu ihrer Herstellung |
PCT/EP1995/003764 WO1996009502A1 (de) | 1994-09-22 | 1995-09-22 | Spektralselektive kollektorbeschichtung und verfahren zu ihrer herstellung |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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DE4433863A DE4433863A1 (de) | 1994-09-22 | 1994-09-22 | Spektralselektive Kollektorbeschichtung und Verfahren zu ihrer Herstellung |
Publications (1)
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DE4433863A1 true DE4433863A1 (de) | 1996-03-28 |
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Family Applications (1)
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DE4433863A Ceased DE4433863A1 (de) | 1994-09-22 | 1994-09-22 | Spektralselektive Kollektorbeschichtung und Verfahren zu ihrer Herstellung |
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