DE4239121A1 - - Google Patents
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- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/401—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
- G11C11/4063—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
- G11C11/407—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
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- G11C7/12—Bit line control circuits, e.g. drivers, boosters, pull-up circuits, pull-down circuits, precharging circuits, equalising circuits, for bit lines
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Description
Die vorliegende Erfindung betrifft Halbleiter-Speichervor
richtungen, und insbesondere eine Bitleitungs-Steuerschaltung
zur Durchführung eines Meßvorgangs von Speicherzellendaten.
In einer hochintegrierten Halbleiter-Speichervorrichtung ist
ein Hochgeschwindigkeitsbetrieb einer integrierten Schaltung
erforderlich. Allerdings wird der Hochgeschwindigkeitsbetrieb
durch die Verzögerung eines Wortleitungsvorgangs behindert,
bei welchem eine Adresse von Speicherzellendaten zugeordnet
und deren Ausgang freigeschaltet wird, sowie durch einen Bit
leitungsvorgang, bei welchem die Speicherzellendaten gelesen
werden. Um eine Hochgeschwindigkeitsentwicklung der Bitleitung
während eines Lesevorgangs der Speicherzellendaten zu errei
chen, sind Steuerschaltungen erforderlich, die eine Bitlei
tungs-Vorladungsschaltung zum Vorladen eines Paares von Bit
leitungen auf einen vorgegebenen Pegel umfassen sowie eine
Angleichungsschaltung zum Angleichen des Bitleitungspaares
während der Vorladung der Bitleitungen. Durch die Verwendung
einer derartigen Bitleitungs-Steuerschaltung werden daher in
einer vorgegebenen Speicherzelle gespeicherte Daten mit hoher
Geschwindigkeit gelesen und eingeschrieben.
In Fig. 3 ist eine konventionelle Bitleitungs-Steuerschaltung
dargestellt. Vorladungstransistoren P1 und P2 weisen Kanäle
auf, die zwischen die Versorgungsspannung Vcc geschaltet sind,
und Bitleitungen BL und werden jeweils durch ein erstes
Angleichungssignal gesteuert. Ein Angleichungstransistor
P5, der durch das erste Angleichungssignal gesteuert
wird, gleicht den Spannungspegel der Bitleitungen BL und
an. NMOS-Transistoren N1 und N2, die jeweils eine an die Ver
sorgungsspannung Vcc angeschlossene Steuerklemme aufweisen,
und PMOS-Transistoren P3 und P4, die durch ein zweites Anglei
chungssignal gesteuert werden, beschleunigen einen Meß-
oder Abtastvorgang der Bitleitung durch Steuern eines Pegels
"low" ("niedrig") der Bitleitung während eines Lesevorgangs
von Daten in einer Speicherzelle 1. Die in Fig. 3 dargestell
te Konstruktion zeigt eine Spalte in einem Speicherfeld eines
statischen RAM, und obwohl dies nicht in der Figur gezeigt
ist, gibt es mehrere Speicherzellen sowohl in der Spalten-
als auch Zeilenrichtung von Fig. 3.
Wenn die in Fig. 3 gezeigte Bitleitungs-Steuerschaltung einen
Lesevorgang durchführt, so weist das zweite Angleichungssig
nal einen Pegel "low" der Massespannung Vss auf, wie in
Fig. 4 gezeigt ist. Die Bitleitungen BL und BL werden durch
die PMOS-Transistoren P1, P2 und P5 vorgeladen und angegli
chen, die durch das erste Angleichungssignal gesteuert
werden. Darüber hinaus wird durch die Transistoren P3, P4, N1
und N2 verhindert, daß die Bitleitungen BL und auf einen
festgelegten Pegel absinken. Die PMOS-Transistoren P3 und P4
sind so ausgelegt, daß sie eine geringe Größe aufweisen, um
so eine schnelle Entwicklung der Bitleitungen BL und wäh
rend des Lesevorgangs zu erzielen.
Wenn eine Wortleitung WL während des Lesevorgangs freigeschal
tet ist, weisen die Bitleitungen BL und eine schnelle Ent
wicklung auf, da sich die NMOS-Transistoren N1 und N2 in aus
geschalteten Zuständen befinden, bis der Spannungspegel der
Bitleitungen BL und BL auf Vcc-Vth abgesenkt wird (wobei Vth
eine Schwellenspannung eines NMOS-Transistors ist), gegenüber
der Versorgungsspannung Vcc. Darüber hinaus tritt, wenn die
NMOS-Transistoren N1 und N2 bei einem Spannungspegel (Vcc-Vth
-α) (wobei α eine willkürliche Konstante ist) eingeschaltet
werden, kein Spannungsabfall der Bitleitung auf, und die An
gleichungszeit kann in dem nachfolgenden Lesevorgang verrin
gert werden. Wenn nach Beendigung des Lesevorgangs der Pegel
der eingeschriebenen Daten "high" ("hoch") ist, wenn ein
Schreibvorgang freigeschaltet wird, bildet allerdings ein
Pegel "low" zwischen den Pegeln der Bitleitungen BL und
einen direkten Strompfad durch den NMOS-Transistor N1 (oder
N2) und die Bitleitung BL (oder ) in einen (nicht darge
stellten) Schreibtreiber.
Da während des Herstellungsvorgangs für komplementäre MOS die
NMOS- und PMOS-Transistoren auf den Bitleitungen BL und
gleichzeitig hergestellt werden, nimmt darüber hinaus die in
tegrierte Schaltung eine große Fläche ein, und dies ist bei
einer hochintegrierten Halbleiter-Speichervorrichtung uner
wünscht.
Ein Vorteil der vorliegenden Erfindung liegt daher in der
Bereitstellung einer Bitleitung-Steuerschaltung zur Durchfüh
rung eines Hochgeschwindigkeitsbetriebs durch Verbesserung
der Entwicklung einer Bitleitung während eines Lesevorgangs.
Ein weiterer Vorteil der vorliegenden Erfindung besteht in
der Bereitstellung einer Bitleitungs-Steuerschaltung zur Un
terdrückung der Erzeugung eines Gleichstroms während eines
Schreibvorgangs.
Ein weiterer Vorteil der vorliegenden Erfindung liegt in der
Bereitstellung einer Bitleitungs-Steuerschaltung, die eine
verringerte, von Transistoren eingenommene Fläche einer inte
grierten Schaltung aufweist.
Gemäß einer Zielrichtung der vorliegenden Erfindung weist
eine Bitleitungs-Steuerschaltung eine Vorladungsschaltung auf,
um einen Spannungspegel einer Bitleitung vorzuladen, die an
eine Speicherzelle einer Halbleiter-Speichervorrichtung ange
schlossen ist, durch ein erstes Steuersignal, weist eine An
gleichungsschaltung auf, um einen Spannungspegel der Bitlei
tung anzugleichen, und weist eine Abtast-Beschleunigungsschal
tung zur Beschleunigung der Entwicklung eines Abtastspannungs
pegels der Bitleitung durch ein zweites Steuersignal während
eines Lesevorgangs auf. Die Vorladungsschaltung, die Anglei
chungsschaltung und die Abtast-Beschleunigungsschaltung be
stehen aus demselben Typ eines MOS-Transistors. Ein Ladungs
teilungsvorgang der Abtast-Beschleunigungsschaltung wird durch
die Steuerung des zweiten Steuersignals während des Lesevor
gangs gesperrt. Darüber hinaus sind das erste bzw. zweite
Steuersignal Bitleitungs-Vorladungs- bzw. -Angleichungssigna
le, die komplementäre Logikpegel aufweisen.
Die Erfindung wird nachstehend anhand zeichnerisch dargestell
ter Ausführungsbeispiele näher erläutert, aus welchen weitere
Vorteile und Merkmale hervorgehen. Es zeigt:
Fig. 3 ein Schaltbild einer konventionellen Bitleitungs-
Steuerschaltung;
Fig. 4 ein Zeitablaufdiagramm zur Erläuterung eines Bei
spiels des Lesevorgangs der in Fig. 3 gezeigten
Schaltung;
Fig. 1 ein Schaltbild einer Bitleitungs-Steuerschaltung
gemäß der vorliegenden Erfindung; und
Fig. 2 ein Zeitablaufdiagramm zur Erläuterung eines Bei
spiels des Lesevorgangs der in Fig. 1 gezeigten
Schaltung.
Zwar besteht die Bitleitungs-Steuerschaltung bei der nachfol
genden Ausführungsform aus PMOS-Transistoren, jedoch können
für denselben Zweck auch NMOS-Transistoren auf analoge Weise
eingesetzt werden. Dieselbe Ausführungsform läßt sich dadurch
ausführen, daß ein Versorgungsspannungspegel für jedes in
Fig. 2 gezeigte Steuersignal umgekehrt wird.
In Fig. 1 sind die in Fig. 3 gezeigten NMOS-Transistoren N1
und N2 weggefallen. Weiterhin ist der Logikbetrieb eines er
sten und zweiten Steuersignals und einander ent
gegengesetzt, wie in Fig. 2 gezeigt ist. Dies bedeutet, daß
während eines Lesevorgangs von Speicherzellendaten das erste
Steuersignal zugeordnet wird, während das zweite Steuer
signal negiert wird. Daher werden die Abtast-Beschleuni
gungstransistoren M3 und M3 abgeschaltet.
Ein Beispiel für einen Lesevorgang bei der in Fig. 1 darge
stellten Schaltung wird nunmehr unter Bezug auf Fig. 2 be
schrieben. Da die Schaltung von Fig. 1 unter Verwendung des
selben Transistortyps aufgebaut ist, also mit PMOS-Transisto
ren, wird die von den Transistoren eingenommene Fläche ent
sprechend verringert, und dies führt dazu, daß sich eine
integrierte Schaltung einfach entwerfen läßt. Um die schnelle
Entwicklung einer Bitleitung durch Ausschalten der Abtast-
Beschleunigungstransistoren M3 und M4 während einer festge
legten Impulsperiode zu erreichen, wird um ein Intervall t1
unmittelbar bevor eine Wortleitung WL freigeschaltet wird,
ein Ladungsteilungsvorgang zwischen den Bitleitungen BL und
und den Daten einer Speicherzelle 10 mit hoher Geschwin
digkeit durchgeführt.
Nach dem Lesevorgang wird ein Pegel "low" zwischen den Span
nungspegeln der Bitleitungen BL und dadurch oberhalb einer
konstanten Spannung (Vcc-α) gehalten, daß der Betrieb der Ab
tast-Beschleunigungstransistoren M3 und M4 freigeschaltet
wird. Darüber hinaus ist es möglich, einen Transistor großer
Abmessungen vorzusehen, um die schnelle Entwicklung der Bit
leitungen BL und zu erreichen, da die Abtast-Beschleuni
gungstransistoren M3 und M4 ausgeschaltet werden, bis die Da
ten der Speicherzelle 10 ausreichend gelesen wurden. Daher
dienen die Abtast-Beschleunigungstransistoren M3 und M4 als
die in Fig. 3 gezeigten NMOS-Transistoren N1 und N2. Darüber
hinaus können Nachteile bei der konventionellen Bitleitungs-
Steuerschaltung ausgeschaltet werden, wenn die Wortleitung
WL freigeschaltet ist, die Abtast-Beschleunigungstransisto
ren M3 und M4 ausgeschaltet sind, und jede Freischaltzeit des
ersten und zweiten Steuersignals und eingestellt
wird.
Bei der voranstehend beschriebenen Bitleitungs-Steuerschal
tung gemäß der vorliegenden Erfindung wird ein Hochgeschwin
digkeitsbetrieb erreicht, wenn ein Schreibvorgang nach einem
Lesevorgang freigeschaltet wird. Darüber hinaus wird während
eines Ladungsteilungsvorgangs zwischen Bitleitungen und Spei
cherzellendaten die Erzeugung eines Gleichstroms unterdrückt.
Schließlich wird die von den Transistoren eingenommene Fläche
verringert, was zu dem wünschenswerten Ergebnis führt, daß
eine hochintegrierte Halbleiter-Speichervorrichtung erhalten
wird.
Zwar wurden im einzelnen bevorzugte Ausführungsformen der
vorliegenden Erfindung gezeigt und beschrieben, jedoch ist
es für Fachleute auf diesem Gebiet offensichtlich, daß die
voranstehenden sowie weitere Änderungen der Form und der Ein
zelheiten vorgenommen werden können, ohne vom Wesen und vom
Umfang der vorliegenden Erfindung abzuweichen.
Claims (3)
1. Bitleitungs-Steuerschaltung, gekennzeichnet durch eine
Vorladungsschaltung zum Vorladen eines Spannungspegels
einer Bitleitung, die mit einer Speicherzelle einer Halb
leiter-Speichervorrichtung verbunden ist, durch ein er
stes Steuersignal, eine Angleichungsschaltung zum Anglei
chen eines Spannungspegels der Bitleitung, und eine Ab
tast-Beschleunigungsschaltung zur Beschleunigung der Ent
wicklung eines Abtast-Spannungspegels der Bitleitung
durch ein zweites Steuersignal während eines Lesevorgangs,
wobei die Vorladungsschaltung, die Angleichungsschaltung
und die Abtast-Beschleunigungsschaltung denselben Typ ei
nes MOS-Transistors aufweisen, und ein Ladungsteilungs
vorgang der Abtast-Beschleunigungsschaltung durch die
Steuerung des zweiten Steuersignals während des Lesevor
gangs gesperrt wird.
2. Bitleitungs-Steuerschaltung nach Anspruch 1, dadurch ge
kennzeichnet, daß das erste bzw. zweite Steuersignal ein
Bitleitungs-Vorladungssignal bzw. ein Angleichungssignal
ist, und daß die beiden Signale einen komplementären Logik
pegel aufweisen.
3. Bitleitungs-Steuerschaltung nach Anspruch 1, dadurch ge
kennzeichnet, daß der MOS-Transistor ein PMOS-Transistor
ist.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019920004121A KR930020442A (ko) | 1992-03-13 | 1992-03-13 | 데이타의 고속 액세스가 이루어지는 비트라인 제어회로 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE4239121A1 true DE4239121A1 (de) | 1993-09-16 |
Family
ID=19330333
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE4239121A Withdrawn DE4239121A1 (de) | 1992-03-13 | 1992-11-20 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH05282866A (de) |
KR (1) | KR930020442A (de) |
DE (1) | DE4239121A1 (de) |
GB (1) | GB2265034A (de) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR0147712B1 (ko) * | 1995-06-30 | 1998-11-02 | 김주용 | 에스램의 저전압 동작용 비트 라인 회로 |
US6496437B2 (en) | 1999-01-20 | 2002-12-17 | Monolithic Systems Technology, Inc. | Method and apparatus for forcing idle cycles to enable refresh operations in a semiconductor memory |
CN115691587B (zh) * | 2022-10-31 | 2024-05-17 | 长鑫存储技术有限公司 | 灵敏放大器及控制方法 |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0750554B2 (ja) * | 1985-09-06 | 1995-05-31 | 株式会社東芝 | スタテイツク型メモリ |
US4730279A (en) * | 1985-03-30 | 1988-03-08 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Static semiconductor memory device |
KR900006293B1 (ko) * | 1987-06-20 | 1990-08-27 | 삼성전자 주식회사 | 씨모오스 디램의 데이터 전송회로 |
-
1992
- 1992-03-13 KR KR1019920004121A patent/KR930020442A/ko not_active IP Right Cessation
- 1992-11-20 DE DE4239121A patent/DE4239121A1/de not_active Withdrawn
- 1992-12-23 GB GB9226863A patent/GB2265034A/en not_active Withdrawn
- 1992-12-25 JP JP4346563A patent/JPH05282866A/ja active Pending
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR930020442A (ko) | 1993-10-19 |
GB9226863D0 (en) | 1993-02-17 |
JPH05282866A (ja) | 1993-10-29 |
GB2265034A (en) | 1993-09-15 |
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Legal Events
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