DE4208187C2 - Vorrichtung und Verfahren zum Messen der Spiegeloberfläche einer Antenne - Google Patents
Vorrichtung und Verfahren zum Messen der Spiegeloberfläche einer AntenneInfo
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Description
Die Erfindung bezieht sich auf eine Vorrichtung nach
dem Oberbegriff des Anspruches 1 oder des Anspruches
2 sowie auf ein Verfahren nach dem Oberbegriff des
Anspruches 8.
Fig. 1 zeigt eine bekannte Vorrichtung dieser Art.
Die Anordnung nach Fig. 1 ist offenbart im "Antenna
Engineering Handbook", herausgegeben vom Japanese
Institute of Electronics, Information and Communication
Engineers, Seite 458, 20. Juni 1988, veröffentlicht
von OHM Co. Ltd. Fig. 1 zeigt eine Antenne 1,
einen Theodoliten 2 zur Messung der Spiegeloberfläche
der Antenne nach der Dreieckmethode und ein Steuergerät
3 zur Messung der Spiegeloberfläche mit dem Theo
doliten 2.
Die Arbeitsweise der Vorrichtung nach Fig. 1 ist wie
folgt:
Die Antenne 1 wird in einer horizontalen Position befestigt, so daß die Spiegeloberfläche der Antenne von den Theodoliten 2 aus sichtbar ist. Eine Mehrzahl von Theodoliten 2 steht der Spiegeloberfläche in unter schiedlichen Positionen gegenüber und mißt die Gestalt der Spiegeloberfläche im dreidimensionalen Koordinatensystem. Das Steuergerät 3 steuert die Theodoliten 2 derart, daß diese automatisch von den Theodoliten angepeilte Punkte messen und die Meß ergebnisse aufzeichnen. Daher kann die Gestalt der Spiegeloberfläche im dreidimensionalen Koordinatensystem gemessen werden.
Die Antenne 1 wird in einer horizontalen Position befestigt, so daß die Spiegeloberfläche der Antenne von den Theodoliten 2 aus sichtbar ist. Eine Mehrzahl von Theodoliten 2 steht der Spiegeloberfläche in unter schiedlichen Positionen gegenüber und mißt die Gestalt der Spiegeloberfläche im dreidimensionalen Koordinatensystem. Das Steuergerät 3 steuert die Theodoliten 2 derart, daß diese automatisch von den Theodoliten angepeilte Punkte messen und die Meß ergebnisse aufzeichnen. Daher kann die Gestalt der Spiegeloberfläche im dreidimensionalen Koordinatensystem gemessen werden.
Eine andere bekannte Vorrichtung dieser Art ist in
Fig. 2 gezeigt. Diese ist ebenfalls im "Antenna
Engineering Handbook", Seite 449, offenbart. Hierin
sind eine Sonde 4 zum Messen der elektrischen Feld
verteilung in der Nähe einer Antenne 1, eine Ab
tasteinrichtung 5 für eine Ebenenabtastung der Sonde
4 und ein Sende-Empfangs-Gerät 6 gezeigt. Die Keulen
achse der Antenne 1 ist als z-Achse definiert, und
dadurch sind die mit der Antenne assoziierten Koor
dinaten als x-y-z-Rechteckkoordinatensystem und die
mit der Abtastvorrichtung assoziierten Koordinaten
als X-Y-Z-Rechteckkoordinatensystem definiert. Dar
über hinaus ist die Antenne 1 so plaziert, daß die
x-y-Ebene und die X-Y-Ebene einander parallel sind.
Mit der Vorrichtung wird die elektrische Feldvertei
lung in der Nähe der Antenne gemessen, und die Abwei
chung von der Phasenverteilung der idealen Spiegel
oberfläche wird aus der gemessenen Phasenverteilung
erhalten, wodurch ein Fehler der Spiegeloberfläche
erkannt werden kann.
Da die bekannten Vorrichtungen zum Messen von Anten
nenspiegeloberflächen wie vorbeschrieben ausgebildet
sind, erfolgte die Messung unter der Bedingung, daß
die Antenne durch den Einfluß der Schwerkraft ver
formt wird. Demgemäß ergibt sich das Problem, daß die
eigentliche Verformung der Spiegeloberfläche unter
einer solchen Bedingung, daß ein Satellit auf eine
Umlaufbahn gesetzt ist, nämlich unter Schwerelosig
keit, nicht getrennt werden kann von der Verformung
aufgrund der Schwerkraft.
In J. Schneemann, T. Beez, M. Guttenberger: Antennen,
ITG-Fachbericht 111, Berlin, Offenbach; vde-verlag,
1990, S. 229-232, ISBN 3-8007-1693-3, wird über die
elektrische Messung einer entfaltbaren Mehrstrahl-
Satellitenantenne mit dem sphärischen Nahfeldverfahren
berichtet, wobei offensichtlich die Messung des
Nahfeldes mit einer theoretischen Berechnung verglichen
werden soll. Die Antenne ist auf einem 3-Achsen-
Drehstand montiert, der die Antenne dreht und bei
vorbestimmten Drehwinkeln anhält. Das elektrische
Feld der unter der Schwerkraft verformten Antenne
wird nach Betrag und Phase gemessen.
Offensichtlich wird bei der Berechnung des Nahfeldes
die Reflektorverformung durch die Schwerkraft berück
sichtigt, indem ein Interpolationsprogramm verwendet
wird, das aus den Strombelägen auf der Antenne für
drei gemessene Reflektorstellungen den Strombelag für
beliebige Elevationswinkel berechnet. Bei guter Über
einstimmung zwischen Rechnung und Messung im verformten
Zustand wird angenommen, daß das Rechnerprogramm
auch den unverformten Zustand mit entsprechender Ge
nauigkeit berechnet, so daß Aussagen über das Verhalten
der Antenne in der Umlaufbahn getroffen werden
können.
Es ist die Aufgabe der vorliegenden Erfindung, eine
Vorrichtung zum Messen von Antennenspiegeloberflächen
zu schaffen und ein Meßverfahren vorzusehen, mit denen
eine getrennte Messung der eigentlichen Verformung
der Spiegeloberfläche unter Schwerelosigkeits
bedingungen und der Verformung der Spiegeloberfläche
infolge der Schwerkraft für eine auf einem Satelliten
befestigte Antenne möglich ist.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß gelöst für die
Vorrichtung durch die Merkmale im kennzeichnenden
Teil jeweils eines der Ansprüche 1 oder 2, und für
das Verfahren durch die Merkmale im kennzeichnenden
Teil des Anspruches 8.
Gemäß dem ersten Aspekt der Erfindung ist eine Vor
richtung zum Messen der Gestalt der Spiegeloberfläche
einer reflektierenden Spiegelantenne unter Verwendung
einer Abstands- und Winkelmeßeinrichtung, gekenn
zeichnet durch eine zu messende Antenne tragende Po
sitioniereinrichtung, die die Antenne um eine Hauptkeule
als Drehachse dreht und bei einem vorbestimmten
Drehwinkel anhält, um die Gestalt der Spiegeloberfläche
der Antenne an jedem einer Mehrzahl von Drehwinkeln
zu messen, und einen Rechner, der aus den gemessenen
Werten die Spiegeloberflächenfehler bestimmt
und diese unter Verwendung von Fourier-Reihen für die
Winkelkomponente der um ihre Hauptkeule rotierenden
Antenne entwickelt und die von den Drehwinkeln unab
hängige Gestalt der Spiegeloberfläche und die von den
Drehwinkeln abhängige Verformung der Spiegeloberfläche
bestimmt.
Gemäß einem zweiten Aspekt der Erfindung ist eine
Vorrichtung zum Messen der Gestalt der Spiegeloberfläche
einer Antenne, bei der die elektrische Feldverteilung
in der Nähe der reflektierenden Spiegelantenne
mit einer eine Sonde zum Messen der elektrischen
Feldverteilung aufweisenden Abtasteinrichtung
und einem Sende-Empfangs-Gerät zum Senden und Empfangen
von Signalen zwischen der zu messenden Antenne
und der Sonde bestimmt wird, gekennzeichnet durch
eine die zu messende Antenne tragende Positionierein
richtung, die die Antenne um eine Hauptkeule als
Drehachse dreht und bei einem vorbestimmten Drehwinkel
anhält, um die Gestalt der Spiegeloberfläche der
Antenne an jedem einer Mehrzahl von Drehwinkeln zu
messen, und einen Rechner, der aus den gemessenen
Werten die Spiegeloberflächenfehler bestimmt und diese
unter Verwendung von Fourier-Reihen für die Winkel
komponente der um ihre Hauptkeule rotierenden Antenne
entwickelt und die von den Drehwinkeln unabhängige
Gestalt der Spiegeloberfläche und die von den
Drehwinkeln abhängige Verformung der Spiegeloberfläche
bestimmt.
Gemäß einem dritten Aspekt der Erfindung ist ein Ver
fahren zum Messen der Gestalt der Spiegeloberfläche
einer reflektierenden Spiegelantenne gekennzeichnet
durch die folgenden Schritte: Drehen der Antenne um
eine Hauptkeule als Drehachse, Anhalten der Antenne
bei einer Vielzahl von unterschiedlichen Drehwinkeln,
Messen der Spiegelkoordinaten oder der elektrischen
Feldverteilung bei jedem der Vielzahl von unter
schiedlichen Drehwinkeln und Bestimmen des Spiegel
oberflächenfehlers, Entwickeln des Spiegeloberflächen
fehlers unter Verwendung einer Fourier-Reihe der Win
kelkomponente der um die Hauptkeule rotierenden Antenne,
und Bestimmen der Verformung der Spiegeloberfläche
aufgrund der Schwerkraft und der eigenen Verformung
der Spiegeloberfläche im schwerkraftlosen
Zustand aus den gemessenen Werten.
Die Erfindung wird im folgenden anhand von in den
Figuren dargestellten Ausführungsbeispielen näher
erläutert. Es zeigt:
Fig. 1 eine schematische Illustration der
Struktur einer bekannten Vorrichtung
zur Messung der Spiegeloberfläche einer
Antenne unter Verwendung eines
Theodoliten,
Fig. 2 eine schematische Illustration einer
anderen bekannten Vorrichtung zur Mes
sung der Spiegeloberfläche einer An
tenne durch Messung des elektrischen
Feldes in der Nähe der Antenne,
Fig. 3 eine schematische Illustration einer
Vorrichtung nach einem ersten Ausfüh
rungsbeispiel der Erfindung,
Fig. 4 ein Diagramm zur Erläuterung einer
Verformung aufgrund der Schwerkraft
beim ersten Ausführungsbeispiel der
Erfindung,
Fig. 5 eine schematische Illustration einer
Vorrichtung nach einem zweiten Ausfüh
rungsbeispiel der Erfindung,
Fig. 6 eine schematische Illustration einer
Vorrichtung nach einem dritten Ausfüh
rungsbeispiel der Erfindung,
Fig. 7 ein Diagramm zur Erläuterung des beim
dritten Ausführungsbeispiel der Erfin
dung verwendeten Koordinatensystems,
Fig. 8 eine schematische Illustration einer
Vorrichtung nach einem vierten Ausfüh
rungsbeispiel der Erfindung,
Fig. 9 ein Diagramm zur Erläuterung des vier
ten Ausführungsbeispiels der Erfin
dung,
Fig. 10 eine schematische Illustration einer
Vorrichtung nach einem fünften Ausfüh
rungsbeispiel der Erfindung,
Fig. 11 eine schematische Illustration einer
Vorrichtung nach einem sechsten Aus
führungsbeispiel der Erfindung, und
Fig. 12 eine schematische Darstellung einer
Vorrichtung nach einem siebenten Aus
führungsbeispiel der Erfindung.
In Fig. 3 dienen die Bezugszeichen 1 bis 3 zur Kenn
zeichnung der gleichen Elemente wie bei der bekannten
Vorrichtung nach Fig. 1. Eine Positioniereinrichtung
7 trägt eine Antenne 1 und dreht diese um die eine
Achse. Ein Basisgestell 8 trägt die Antenne 1 und die
Positioniereinrichtung 7 in einer bestimmten Höhe.
Ein Rechner 9 führt eine arithmetische Berechnung
durch für Koordinaten der bei unterschiedlichen Dreh
winkeln der Antenne 1 gemessenen Spiegeloberfläche.
Im Betrieb werden die mit der Antenne 1 assoziierten
Koordinatensysteme als x-y-z-Orthogonalkoordinatensy
stem und r-ϑ-Polarkoordinatensystem definiert und die
mit dem Meßsystem assoziierten Koordinatensysteme als
X-Y-Z-Orthogonalkoordinatensystem und r-ϕ-Polarkoor
dinatensystem definiert. Ein Drehwinkel Φ (ϕ = ϑ+Φ)
ist ein Wert entsprechend dem Polarkoordinatensystem
des Meßsystems. Die Positioniereinrichtung 7 dreht
die Antenne 1 um einen vorbestimmten Drehwinkel und
fixiert sie bei diesem Winkel. Der Theodolit 2 mißt
die Spiegeloberfläche der Antenne 1 in drei Dimensio
nen, d. h. die Rauhigkeit der Oberfläche an der durch
das Steuergerät 3 ausgerichteten Drehstellung. Als
nächstes wird die Positioniereinrichtung 7 gedreht,
um die Spiegeloberfläche bei einem unterschiedlichen
Winkel in drei Dimensionen zu messen. Somit können
die dreidimensionalen Koordinaten der Spiegeloberflä
che, wenn der Drehwinkel Φ ist, erhalten werden, in
dem solche Messungen wiederholt werden. Eine Abwei
chung in der Normalrichtung von der idealen Spiegelo
berfläche, nämlich ein Spiegeloberflächenfehler fi
(r, ϑ) für jeden Punkt wird von solchen gemessenen
Werten erhalten. Die eigentliche Verformungskomponen
te der Spiegeloberfläche unter Schwerelosigkeitsbe
dingungen wird getrennt von der Verformungskomponente
der Spiegeloberfläche infolge der Schwerkraft durch
Gewinnung der Reihenentwicklung des gemessenen Spie
geloberflächenfehlers. Zuerst kann im Falle der Mes
sung der Spiegeloberfläche durch kontinuierliche Än
derung der Drehwinkel ein gemessener Wert f (r, ϑ, ϕ)
des Spiegeloberflächenfehlers wie folgt entwickelt
werden durch Verwendung der Fourier-Reihen für die
Winkelkomponente ϕ:
Die Fourier-Koeffizienten ao(r, ϑ), an (r, ϑ), bn
(r, ϑ) werden an jedem Punkt (r, ϑ) bestimmt. In dem
Fall, daß die Anzahl der Messungen N (≧2), die bei
unterschiedlichen Drehwinkeln durchgeführt werden,
nicht ausreichend groß ist, muß die Anzahl der Erwei
terungsglieder auf eine endliche Zahl reduziert wer
den. Wenn die Drehwinkel so ausgewählt werden, daß
sie gleiche Winkelintervalle ergeben, kann die fol
gende Beziehung erhalten werden:
Φi = 2 π i / N, (i = 1, 2, . . ., N) (2)
Daher kann auch die folgende Fourier-Reihe erhalten
werden:
Darüber hinaus können durch andere Faktoren bewirkte
Meßfehler leichter analysiert werden durch Erweite
rung der jeweiligen Koeffizienten ao (r, ϑ), an (r, ϑ),
bn (r, ϑ) unter Verwendung der Fourier-Reihen für die
mit der Spiegeloberfläche assoziierte Winkelkomponente
ϑ wie folgt:
Fig. 4 zeigt ein Diagramm zur Erläuterung einer durch
Schwerkraft bewirkten Verformung, der die Spiegelo
berfläche unterworfen ist. Eine eigentliche Gestalt
der Spiegeloberfläche unter Schwerelosigkeitsbedin
gungen ist durch eine ausgezogene Linie 1a angezeigt,
während eine Verformung aufgrund der Schwerkraft, der
die Spiegeloberfläche unterworfen sein würde, durch
eine unterbrochene Linie 1b dargestellt ist. Für den
Fall, daß die Verformung der Spiegeloberfläche durch
die Schwerkraft sehr klein und linear ist, wird ein
Versetzungsvektor δ in der Normalrichtung der Schwer
kraft wie folgt ausgedrückt:
δ (r, ϑ, ϕ) = [C (r, ϑ) G · n] n (5)
Der Vektor n ist ein Normaleinheitsvektor der Spiege
loberfläche, der Vektor G ist ein Schwerkraftvektor
und C (r, ϑ) ist ein unbekannter skalarer Koeffi
zient, der von der Verformung jedes Punktes auf der
Spiegeloberfläche abhängt. Die Komponente δn in der
Normalrichtung des Vektors δ kann wie folgt zusammen
gefaßt werden:
δn (r, ϑ, ϕ) = Ao (r, ϑ, C) + A₁ (r, ϑ, C) cos ϕ + B₁ (r, ϑ, C) sin ϕ (6)
Somit wird, wenn die eigentliche Verformung der Spie
geloberfläche unter Schwerelosigkeitsbedingungen als
q (r, ϑ) definiert ist, ein Spiegeloberflächenfehler
f (r, ϑ, ϕ) gegeben durch
f (r, ϑ, ϕ) = q (r, ϑ) + δn (r, ϑ, ϕ) (7)
Die eigentliche Verformung q (r, ϑ) der Spiegelober
fläche unter Schwerelosigkeitsbedingungen und die
Verformung infolge der Schwerkraft δn (r, ϑ, ϕ) kön
nen für jeden Punkt erhalten werden durch Vergleich
der Koeffizienten der Gleichungen (1) bis (3) und der
Gleichung (7) und durch Lösen dieser Simultanglei
chungen.
Somit können die eigentliche Verformung der Spiegelo
berfläche unter Schwerelosigkeitsbedingungen und die
Verformung der Spiegeloberfläche infolge der Schwer
kraft getrennt gemessen werden durch Entwicklung der
Gestalt an einem bestimmten Punkt auf der Spiegelo
berfläche in Reihen unter Verwendung der mit dem Meß
system assoziierten Polarkoordinaten.
In diesem Ausführungsbeispiel wird ein Theodolit ver
wendet, jedoch können auch ähnlich vorteilhafte Wir
kungen wie bei diesem Ausführungsbeispiel erhalten
werden, wenn andere mechanische Meßvorrichtungen wie
eine fotografische Meßvorrichtung, Laser-Holographie
oder dergleichen eingesetzt werden. Darüber hinaus
kann die zu messende Antenne von jedem Typ sein wie
eine parabolische Antenne, eine Antenne vom Verset
zungstyp, eine doppelt reflektierende Spiegelantenne
oder dergleichen in der Weise, daß ähnliche vorteil
hafte Wirkungen erzielt werden.
Fig. 5 enthält eine schematische Darstellung einer
Vorrichtung nach dem zweiten Ausführungsbeispiel der
Erfindung. Die Elemente 1 und 4 bis 6 in Fig. 5 ent
sprechen denen bei der bekannten Vorrichtung nach
Fig. 2. Die Elemente 7 bis 9 entsprechen denen beim
ersten Ausführungsbeispiel der Erfindung gemäß Fig. 3.
Die Keulenachse der Antenne ist als z-Achse defi
niert; das mit der Antenne assoziierte Koordinatensy
stem ist durch das x-y-z-Orthogonalkoordinantensystem
definiert, während das mit der Abtastvorrichtung 5
assoziierte Koordinatensystem durch das X-Y-Z-Ortho
gonalkoordinatensystem definiert ist, wobei die Ach
sen z und Z zueinander ausgerichtet sind. Die Antenne
1 ist so angeordnet, daß die x-y-Ebene und die X-Y-
Ebene parallel zueinander liegen. Die Positionierein
richtung 7 dreht die Antenne 1 bis zu einem gewählten
Drehwinkel Φ (ϕ = ϑ+Φ) und fixiert sie in diesem
Zustand. Eine Sonde 4 wird von der Abtasteinrichtung
5 angetrieben, um die zweidimensionale elektrische
Feldverteilung der fixierten Antenne 1 abtastend zu
messen. Als nächstes wird die Positioniereinrichtung
7 gedreht und bei einem unterschiedlichen Drehwinkel
fixiert, um die zweidimensionale elektrische Feldver
teilung zu messen. Die zweidimensionale elektrische
Feldverteilung, wenn der Drehwinkel Φi ist, kann er
halten werden durch Wiederholung dieser Messung. Eine
Abweichung von der Phasenverteilung einer idealen
Spiegeloberfläche, nämlich ein Phasenfehler Fi (r, ϑ)
für jeden Punkt kann erhalten werden durch die Pha
senverteilung der gemessenen Werte. Die so gewonnenen
Phasenfehlerwerte werden in Reihen entwickelt unter
Verwendung der Gleichungen (1) bis (4). Darüber hin
aus wird die Verformung infolge der Schwerkraft durch
δ der Gleichung (5) angezeigt. Wenn die Komponente
von δ in Richtung z als δz definiert wird, kann ein
Phasenfehler δp [rad] wie folgt ausgedrückt werden:
δp (r, ϑ, ϕ) = δz (r, ϑ, ϕ) (1-cos ϑ) (2π/λ) (8)
Hierdurch kann δp in bezug auf ϕ zusammengefaßt wer
den entsprechend Gleichung (6). Wenn ein durch die
eigentliche Verformung der Spiegeloberfläche unter
Schwerelosigkeitsbedingungen erzeugter Phasenfehler
als p (r, ϑ) definiert wird, kann ein Phasenfehler
F (r, ϑ, ϕ) wie folgt ausgedrückt werden:
F (r, ϑ, ϕ) = p (r, ϑ) + δp (r, ϑ, ϕ) (9)
Somit können die eigentliche Verformung p (r, ϑ) der
Spiegeloberfläche unter Schwerelosigkeitsbedingungen
und die Verformung δ (r, ϑ, ϕ) aufgrund der Schwer
kraft erhalten werden. Zusätzlich können, da die ei
gentliche Verformung der Spiegeloberfläche unter
Schwerelosigkeitsbedingungen und die elektrische
Feldverteilung der zu messenden Antenne gemessen wer
den können, eine elektrische Eigenschaft unter Schwe
relosigkeitsbedingungen erhalten und die Leistungs
fähigkeit der Antenne gleichzeitig ausgewertet werden.
Demgemäß können die eigentliche Verformung der Spie
geloberfläche unter Schwerelosigkeitsbedingungen und
die Verformung infolge der Schwerkraft getrennt ge
messen werden durch Entwicklung bzw. Erweiterung der
Phasenverteilung des vorbestimmten Punktes auf der
Spiegeloberfläche in Reihen unter Verwendung des mit
dem Meßsystem assoziierten Polarkoordinatensystems.
Es ist festzustellen, daß, selbst wenn ein Sender und
ein Empfänger als ein Sende-Empfangs-Gerät integriert
oder diese getrennt angeordnet sind, die gleichen
Vorteile erhalten werden können.
Fig. 6 ist eine schematische Illustration einer Vor
richtung nach dem dritten Ausführungsbeispiel der
Erfindung. Hierin entsprechen die Elemente mit den
Bezugszeichen 4 bis 6 denen der bekannten Vorrichtung
in Fig. 2. Die Bezugszeichen 7 bis 9 kennzeichnen
Elemente, die denen in der Vorrichtung nach dem er
sten Ausführungsbeispiel der Erfindung gemäß Fig. 3
entsprechen. In Fig. 6 ist eine Antenne 10 eine
Cassegrain-Antenne; ein Hauptreflexions-Spiegel 10a
besteht aus einer axial symmetrischen Parabel mit
einer Brennweite F1; ein Hilfreflexions-Spiegel 10b
besteht aus einem Umdrehungshyperboloid mit den
Brennweiten F1 und F2; und ein Primärhorn 10c hat das
Phasenzentrum im Punkt F2. Die Messung der elektri
schen Feldverteilung durch Anordnung einer Sonde 4
näher an den Hauptreflexions-Spiegel 10a als an den
Hilfsreflexions-Spiegel 10b ergibt sich als offen
sichtlich unmöglich aus der Figur. Daher muß die elektrische
Feldverteilung in einer Position wie in der Ebene I-I
gemessen werden. In der Ebene I-I wird eine vom Pri
märhorn 10c ausgestrahlte elektromagnetische Welle
teilweise durch den Hilfsreflexions-Spiegel 10b re
flektiert und läuft zum Hauptreflexions-Spiegel 10a
und wird dann durch diesen wieder reflektiert, um
sich auszubreiten, nachdem sie in eine ebene Welle
umgewandelt ist. Andererseits geht ein Teil der vom
Primärhorn 10c abgestrahlten elektromagnetischen Wel
le vom Hilfsreflexions-Spiegel 10b aus und der Über
lauf breitet sich als Kugelwelle aus. In Fig. 6 sind
solche ebenen Wellen und Kugelwellen durch unterbro
chene Linien mit größeren und kleineren Strichlängen
dargestellt. Daher werden durch die Interferenz die
ser Wellen Interferenzstreifen gebildet. Es ist fest
zustellen, daß die gemessene Phasenverteilung nicht
genau die tatsächliche Spiegeloberfläche wiedergibt.
Um den Einfluß eines derartigen Überlaufs zu elimi
nieren, wird die in der Ebene I-I gemessene elektri
sche Feldverteilung in eine solche von Wellen umge
wandelt, die in der Ebene II-II auftreten würden.
Hier wird eine derartige Positionsumwandlung der
elektrischen Feldverteilung durch Verwendung eines
Expansionsverfahrens für die ebene Welle durchgeführt.
Wenn z = z₁ in der Ebene I-I ist, kann der
Feldverteilungsvektor E(r) wie folgt erweitert werden:
E (r) = 1/(2 π) ∫ [b (1, K) K₁ + b (2, K) K₂] e -jyz1 e-jK·R dK (10)
Hierin bedeuten der Vektor b (1, K) das Spektrum der
ebenen Welle der elektrischen Feldkomponente der TM-
Welle in bezug auf die Achse z, der Vektor b (2, K)
das Spektrum der ebenen Welle der elektrischen Feld
komponente der TE-Welle in bezug auf die z-Achse, γ
eine Ausbreitungskonstante, k die Anzahl von Frei
raumwellen, ω die Winkelfrequenz, μ die Permeabilität
und ε die Dielektrizitätskonstante. Darüber hinaus
bedeuten im Koordinatensystem der Fig. 7 der Vektor r
die Positionsvektoren (x, y, z1), (r, ϑ, Θ) und der
Vektor R die zur Achse z senkrechte Komponente des
Positionsvektors r. Die Vektoren ex, ey, ez sind Ein
heitsvektoren des x, y, z-Koordinatensystems und b
(m,K) wird wie folgt ausgedrückt durch die inverse
Fourier-Transformation:
b (m, K) = e-jyz₁ / (2 π) Km · ∫ Et (R, z₁) e-jK·R dR, (m = 1, 2) (12)
Hierin ist Et die Komponente der elektrischen Feld
verteilung senkrecht zur Achse z. Daher kann, wenn
z = z0 in der Ebene II-II ist, die elektrische Feld
verteilung in der Ebene II-II erhalten werden unter
der Bedingung z = z0, indem das Spektrum der ebenen
Welle b (m,K) aus der Gleichung (12) in die Gleichung
(10) eingesetzt wird. Somit kann eine Phasenvertei
lung erhalten werden, die genau die Spiegeloberfläche
wiedergibt, und die Abweichung von der Phasenvertei
lung für eine ideale Spiegeloberfläche, nämlich der
Phasenfehler Fi (r, ϑ) kann für jeden Punkt gewonnen
werden. Zusätzlich können aus den Gleichungen (8)
und (9) die eigentliche Verformung der Spiegelober
fläche unter Schwerelosigkeitsbedingungen und die
Verformung der Spiegeloberfläche infolge der Schwer
kraft getrennt erhalten werden in gleicher Weise wie
beim zweiten Ausführungsbeispiel der Erfindung.
Somit kann der Einfluß der Primärhorns oder des
Hilfsreflexions-Spiegels, d. h. der anderen als des
Hauptreflexions-Spiegels, eliminiert werden, indem
die gemessene zweidimensionale elektrische Feldver
teilung in die elektrische Feldverteilung der näher
an der Spiegeloberfläche liegenden Position umgewan
delt wird. Weiterhin können die eigentliche Verfor
mung der Spiegeloberfläche unter Schwerelosigkeits
bedingungen und die Verformung der Spiegeloberfläche
aufgrund der Schwerkraft getrennt gemessen werden.
Fig. 8 illustriert schematisch die Vorrichtung nach
dem vierten Ausführungsbeispiel der Erfindung. Die
Bezugszeichen 4 bis 6 kennzeichnen Elemente, die de
nen in der bekannten Vorrichtung nach Fig. 2 entspre
chen. Die Bezugszeichen 7 bis 9 kennzeichnen Elemen
te, die denen in der Vorrichtung nach dem ersten Aus
führungsbeispiel der Erfindung in Fig. 3 entsprechen.
Die Antenne 11 weist einen großen Durchmesser auf.
Fig. 9 zeigt die Aperturebene der Antenne 11, die in
die Abtastfläche der Abtasteinrichtung 5 projiziert
ist, und den Bereich der Abtastung für den Fall, daß
die Drehwinkel in Intervallen von 90° gegeben sind.
In dieser Figur ist der Abtastbereich bei einem Dreh
winkel von 0° durch ausgezogene Linien und ausgezoge
ne Schräglinien angezeigt; der Abtastbereich bei ei
nem Drehwinkel von 180° ist durch unterbrochene Li
nien und unterbrochene Schräglinien dargestellt; der
Abtastbereich bei einem Drehwinkel von 90° ist durch
eine Strich-Punkt-Linie und der Abtastbereich bei
einem Drehwinkel von 270° durch eine Strich-Zwei
punkt-Linie wiedergegeben. Hier tastet die Abtastein
richtung 5 nicht die gesamte Aperturebene ab. Wenn
der Drehwinkel gleich Φi ist, wird der Abtastbereich
gleich Si und der gemessene Wert der Phasenverteilung
gleich Fi (r, ϑ) gesetzt und der Fourier-Koeffizient
der Gleichung (1) wird erhalten durch die Methode der
kleinsten Quadrate. Zuerst wird der Kleinstquadrat-
Fehler ε (r, ϑ) wie folgt definiert:
ε (r, ϑ) = Σ Ωi²
Aus dieser Gleichung wird ε (r, ϑ) für jeden Punkt
(r, ϑ) minimiert. Die Fourier-Koeffizienten ao (r, ϑ),
an (r, ϑ), bn (r, ϑ) können durch Lösung der folgenden
Gleichung erhalten werden:
Daher können die Fourier-Koeffizienten in einer dem
zweiten Ausführungsbeispiel der Erfindung entspre
chenden Weise gelöst werden, indem sie mit dem Koef
fizienten der Gleichung (9) verglichen werden.
Da der Bereich zum Messen der Feldverteilung einer
Antenne durch Verfahren der Sonde mit der Abtastein
richtung enger ist als die Aperturebene der Antenne,
können somit die eigentliche Verformung der Spiegelo
berfläche unter Schwerelosigkeitsbedingungen und die
Verformung der Spiegeloberfläche infolge Schwerkraft
selbst für eine Antenne mit großem Durchmesser ge
trennt gemessen werden.
In diesem Ausführungsbeispiel wird die elektrische
Feldverteilung einer zu messenden Antenne gemessen,
aber eine gleichartige Wirkung kann auch erzielt wer
den durch eine mechanische Messung der Gestalt der
Spiegeloberfläche mit einem Theodoliten wie im Fall
des ersten Ausführungsbeispiels.
Fig. 10 illustriert schematisch eine Vorrichtung nach
dem fünften Ausführungsbeispiel der Erfindung. Die
Bezugszeichen 4 bis 6 kennzeichnen Elemente, die den
jenigen bei der bekannten Vorrichtung nach Fig. 2
entsprechen. Die Bezugszeichen 7 bis 9 kennzeichnen
Elemente, die denjenigen in der Vorrichtung nach dem
ersten Ausführungsbeispiel der Erfindung gemäß Fig. 3
entsprechen. Eine Positioniereinrichtung dreht sich
um eine Achse, die senkrecht zum Richtungsvektor der
Gravitationskraft liegt, und bewirkt, daß die Aper
turebene und die Abtastfläche der Abtasteinrichtung
parallel zueinander liegen. Wenn der vom Meßsystem
abhängige orthogonale Einheitsvektor (i, j, k) defi
niert wird, wird der Vektor G der Schwerkraft wie
folgt definiert.
G = -gi (15)
Darüber hinaus wird, wenn die Spiegeloberfläche rota
tionssymmetrisch ist, der Normaleinheitsvektor n der
Spiegeloberfläche wie folgt ausgedrückt von den Einheits
vektoren (eρ, eΘ, eϑ) des Kugelkoordinatensystems:
n = Aeρ + BeΘ (16)
Die Verformung δp (r, ϑ, ϕ) kann wie folgt ausge
drückt werden durch Einsetzen der Gleichungen (5),
(8) in die Gleichungen (15) und (16):
δp (r, ϑ, ϕ) = A₁ (r, ϑ, ϕ) cos ϕ (17)
Wenn die Koeffizienten mit denen der Gleichung (1)
verglichen werden, nachdem die Gleichung (17) in die
Gleichung (9) eingesetzt wurde, entspricht der Fou
rier-Koeffizient ao (r, ϑ) der eigentlichen Verfor
mung p (r, ϑ) der Spiegeloberfläche und a1 (r, ϑ)
cos ϕ entspricht der Verformung δp (r, ϑ, ϕ) infolge
der Schwerkraft.
Da die Positioniereinrichtung sich um die zum Rich
tungsvektor der Schwerkraft senkrechter Achse dreht,
können demgemäß die eigentliche Verformung der Spie
geloberfläche unter Schwerelosigkeitsbedingungen und
die Verformung der Spiegeloberfläche aufgrund der
Schwerkraft getrennt gemessen werden.
In diesem Ausführungsbeispiel wird eine elektrische
Feldverteilung einer zu messenden Antenne gemessen,
aber es ist festzustellen, daß ein gleichartiger Ef
fekt auch erzielt werden kann, wenn eine mechanische
Messung der Gestalt einer Spiegeloberfläche mittels
eines Theodoliten erfolgt.
Fig. 11 zeigt schematisch eine Vorrichtung nach dem
sechsten Ausführungsbeispiel der Erfindung. Die Be
zugszeichen 4 bis 6 kennzeichnen Elemente, die denen
in der bekannten Vorrichtung nach Fig. 2 entsprechen.
Die Bezugszeichen 7 bis 9 kennzeichnen Elemente, die
denen in der Vorrichtung nach dem ersten Ausführungs
beispiel der Erfindung gemäß Fig. 3 entsprechen. Eine
Gitterantenne 12 besteht aus einem Metallgitter 12a
und einem Mast 12b. Eine Stützeinrichtung 13 zur Be
festigung des Mastes 12b ist aus einem Material mit
großer Starrheit gebildet, um die Verformung infolge
der Schwerkraft bei der Drehung der Antenne auf ein
geringes Maß herabzusetzen. Wenn die Antenne von der
Positioniereinrichtung 7 gedreht wird, wird, wenn die
Spiegeloberfläche eine nicht lineare Verformung er
zeugt, die Komponente des Fourier-Koeffizienten hoher
Ordnung in der Gleichung (1) groß, und die Fourier-
Reihenentwicklung wird schwierig für den Fall, daß
die Anzahl der Messungen gering ist. Die Lösung kann
in gleicher Weise wie beim zweiten Ausführungsbei
spiel der Erfindung erhalten werden, indem eine Ver
formung des Mastes durch Verwendung der Stützeinrich
tung 13 so gesteuert wird, daß sie linear ist.
Da die Stützeinrichtung aus einem Material mit großer
Starrheit den ein Metallgitter aufweisenden Mast hält
und diesen dreht, können die eigentliche Verformung
der Spiegeloberfläche unter Schwerelosigkeitsbedin
gungen und die Verformung der Spiegeloberfläche in
folge der Schwerkraft getrennt gemessen werden,
selbst wenn die Spiegeloberfläche eine extrem große
Verformung aufgrund der Schwerkraft bildet.
Bei diesem Ausführungsbeispiel wird die elektrische
Feldverteilung der zu messenden Antenne gemessen,
jedoch kann eine gleichartige Wirkung auch erhalten
werden, wenn eine mechanische Messung der Gestalt
einer Spiegeloberfläche mittels eines Theodoliten wie
beim Ausführungsbeispiel durchgeführt wird.
Unter Bezugnahme auf Fig. 12 wird eine Vorrichtung
nach dem siebenten Ausführungsbeispiel der Erfindung
beschrieben. Die Bezugszeichen 1, 6, 7 und 9 kenn
zeichnen Elemente, die denen beim ersten Ausführungs
beispiel der Erfindung gemäß Fig. 3 entsprechen. Wei
terhin sind eine Sendeantenne 14, eine Bezugsantenne
15 und eine rotierende Basis 16 für eine kugelförmige
Abtastung gezeigt. Eine Positioniereinrichtung 7
dreht sich um die Keulenachse der Antenne, hält bei
einem vorbestimmten Drehwinkel an, mißt die zweidi
mensionale elektrische Feldverteilung der Antenne
durch die kugelförmige Abtastung bei unterschiedli
chen Drehwinkeln und wandelt mit einem Rechner die
gemessenen Werte der zweidimensionalen Feldverteilung
in die Feldverteilung an einer der Spiegeloberfläche
näher liegenden Stelle um, um die Phasenverteilung
entsprechend einer vorbestimmten Position auf der
Spiegeloberfläche zu erhalten. Eine derartige posi
tionsmäßige Umwandlung der elektrischen Feldvertei
lung kann aus den Gleichungen (10) bis (12) erhalten
werden. Darüber hinaus können der Überlauf durch das
Primärhorn und die Beugungswelle durch den Hilfsre
flexions-Spiegel einen Einfluß auf eine Weitwinkel
ebene haben; dieser Einfluß kann reduziert werden
durch Messung der elektrischen Feldverteilung in ei
nem ausreichend entfernten Bereich. Wenn die zweidi
mensionale elektrische Feldverteilung an der fernen
Position als Ei (ϑ′, ϕ′) für den Drehwinkel Φi, defi
niert wird und die positionsmäßige Umwandlung bei der
Aperturoberfläche von z = 0 durchgeführt wird, dann
wird hier die elektrische Feldverteilung Ei (ap) (x, y)
an der Aperturoberfläche wie folgt ausgedrückt:
Ei(ap) (x, y) = ∬ Ei (ϑ′, ϕ′) c-j(x ϑ ′+y ϕ ′) dϑ′ dϕ′ (18)
Somit kann die Phasenverteilung Fi (r, ϑ) erhalten
werden und die Lösung kann in gleicher Weise wie beim
zweiten Ausführungsbeispiel der Erfindung erhalten
werden.
Demgemäß können die eigentliche Verformung der Spie
geloberfläche unter Schwerelosigkeitsbedingungen und
die Verformung der Spiegeloberfläche infolge der
Schwerkraft getrennt gemessen werden, indem die Werte
bei einem entfernten Feld gemessen werden.
Bei diesem Ausführungsbeispiel befindet sich eine zu
messende Antenne im Empfangsbetrieb. Jedoch wird auch
für den Fall, daß die Antenne sich im Sendebetrieb
befindet, eine gleichartige Wirkung erhalten. Zusätz
lich sind in den Ausführungsbeispielen 2 bis 6 die
Sende- und Empfangsoperationen austauschbar und
gleichartige Vorteile können bei jeder Betriebsart
erzielt werden. In den vorhergehenden Ausführungsbei
spielen wird die elektrische Feldverteilung im ent
fernten Feld der zu messenden Antenne gemessen, je
doch werden gleichartige Vorteile auch erreicht, wenn
die elektrische Feldverteilung in der Nähe der Anten
ne gemessen wird. In den vorhergehenden Ausführungs
beispielen ist die rotierende Basis in der Lage, sich
für die kugelförmige Abtastung um zwei oder mehr Ach
sen zu drehen, jedoch werden gleichartige Vorteile
auch erhalten, wenn sich die rotierende Basis nur um
eine Achse dreht und die Abtasteinrichtung die Anten
ne oder Sonde nur in einer Richtung für eine zylin
drische Abtastung abtastet. Weiterhin können gleich
artige Vorteile auch erhalten werden, selbst wenn die
elektrische Feldverteilung in eine solche an einer
unterschiedlichen Stellung umgewandelt wird wie im
Fall des dritten Ausführungsbeispiels. Zusätzlich
können gleichartige Vorteile erzielt werden, selbst
wenn die Drehachse der Positioniereinrichtung in die
horizontale Ebene gelegt wird wie beim fünften Aus
führungsbeispiel. Schließlich können gleichartige
Vorteile auch erreicht werden, selbst wenn die Stütz
einrichtung hinter der Antenne vorgesehen ist wie im
Fall des sechsten Ausführungsbeispiels.
Wie dargestellt wurde, hat die Vorrichtung zur Mes
sung der Spiegeloberfläche eine Antenne gemäß dem
ersten Aspekt der Erfindung den Vorzug, daß die ei
gentliche Verformung der Spiegeloberfläche unter
Schwerelosigkeitsbedingungen und die Verformung der
Spiegeloberfläche infolge der Schwerkraft getrennt
gemessen werden können, weil die Positioniereinrich
tung die zu messende Antenne bei einem vorbestimmten
Drehwinkel anhält, die Abstands- und Winkelmeßein
richtung und ein Steuergerät die Gestalt der Spiege
loberfläche der Antenne bei unterschiedlichen Dreh
winkeln messen und der Rechner die Gestalt an einem
vorbestimmten Punkt der Spiegeloberfläche in Reihen
entwickelt auf dem mit dem Meßsystem gekoppelten Po
larkoordinatensystem.
Die Vorrichtung zur Messung der Spiegeloberfläche
einer Antenne gemäß dem zweiten Aspekt der Erfindung
besitzt den Vorzug, daß die elektrischen Eigenschaf
ten unter Schwerelosigkeitsbedingungen gemessen wer
den können und daß die eigentliche Verformung der
Spiegeloberfläche unter Schwerelosigkeitsbedingungen
und die Verformung der Spiegeloberfläche infolge der
Schwerkraft separat gemessen werden können, weil die
Positioniereinrichtung die zu messende Antenne an dem
vorbestimmten Drehwinkel anhält, die Sonde, die Ab
tasteinrichtung und das Sende-Empfangs-Gerät die
zweidimensionale elektrische Feldverteilung der An
tenne bei unterschiedlichen Drehwinkeln messen, und
der Rechner die Phasenverteilung für einen vorbe
stimmten Punkt der Spiegeloberfläche in Reihen ent
wickelt auf dem mit dem Meßsystem gekoppelten Polar
koordinatensystem.
Die Vorrichtung zur Messung der Spiegeloberfläche
einer Antenne gemäß dem dritten Aspekt der Erfindung
besitzt den Vorzug, daß, da eine Abtasteinrichtung
nicht erforderlich ist, eine Außenmessung gleich
durchgeführt werden kann und die Messung daher für
eine Antenne mit großem Durchmesser geeignet ist, und
daß die eigentliche Verformung der Spiegeloberfläche
unter Schwerelosigkeitsbedingungen und die Verformung
der Spiegeloberfläche aufgrund der Schwerkraft ge
trennt gemessen werden können, weil die Positionier
einrichtung die Antenne an dem vorbestimmten Drehwin
kel anhält und eine kugelförmige oder zylinderförmige
Abtastung durchführt, da die rotierende Basis zwei
oder mehr Drehachsen aufweist, die Sonde und das Sen
de-Empfangs-Gerät die elektrische Feldverteilung bei
unterschiedlichen Drehwinkeln der Antenne messen und
der Rechner die elektrische Feldverteilung in der
Nähe der Antenne aus den gemessenen Werten erhält und
die Phasenverteilung des vorbestimmten Punktes der
Spiegeloberfläche in Reihen entwickelt auf dem mit
dem Meßsystem gekoppelten Polarkoordinatensystem.
Das Verfahren zur Messung der Spiegeloberfläche einer
Antenne gemäß dem vierten Aspekt der Erfindung weist
den Vorzug auf, daß der Einfluß des Primärhorns oder
des Hilfsreflexions-Spiegels, d. h. der anderen als
des Hauptreflexions-Spiegels, eliminiert werden kann
und die eigentliche Verformung der Spiegeloberfläche
unter Schwerelosigkeitsbedingungen und die Verformung
der Spiegeloberfläche infolge der Schwerkraft ge
trennt gemessen werden können, weil die gemessenen
Werte der zweidimensionalen elektrischen Feldvertei
lung der reflektierenden Spiegelantenne umgewandelt
werden können, so daß sie gegenüber der Meßposition
unterschiedlichen Positionen entsprechen.
Schließlich hat das Verfahren zur Messung der Spiege
loberfläche der Antenne gemäß dem fünften Aspekt der
Erfindung den Vorzug, daß die Gestalt der Spiegelo
berfläche einer Antenne mit größerem Durchmesser mit
der Sonde abgetastet wird, die von der Abtasteinrich
tung über einen Bereich angetrieben wird, der enger
ist als der Antennendurchmesser, und daß die eigent
liche Verformung der Spiegeloberfläche unter Schwere
losigkeitsbedingungen und die Verformung der Spiege
loberfläche durch die Schwerkraft getrennt gemessen
werden können, weil der Bereich für die Messung der
elektrischen Feldverteilung der Antenne enger gemacht
werden kann als die Aperturebene.
Claims (9)
1. Vorrichtung zum Messen der Gestalt der Spiegel
oberfläche einer reflektierenden Spiegelantenne
unter Verwendung einer Abstands- und Winkelmeßein
richtung,
gekennzeichnet durch
eine die zu messende Antenne (1) tragende Positio niereinrichtung (7), die die Antenne um eine Hauptkeule als Drehachse dreht und bei einem vor bestimmten Drehwinkel anhält, um die Gestalt der Spiegeloberfläche der Antenne an jedem einer Mehrzahl von Drehwinkeln zu messen, und
einen Rechner (9), der aus den gemessenen Werten die Spiegeloberflächenfehler bestimmt und diese unter Verwendung von Fourier-Reihen für die Winkel komponente der um ihre Hauptkeule rotierenden Antenne entwickelt und die von den Drehwinkeln unabhängige Gestalt der Spiegeloberfläche und die von den Drehwinkeln abhängige Verformung der Spie geloberfläche bestimmt.
eine die zu messende Antenne (1) tragende Positio niereinrichtung (7), die die Antenne um eine Hauptkeule als Drehachse dreht und bei einem vor bestimmten Drehwinkel anhält, um die Gestalt der Spiegeloberfläche der Antenne an jedem einer Mehrzahl von Drehwinkeln zu messen, und
einen Rechner (9), der aus den gemessenen Werten die Spiegeloberflächenfehler bestimmt und diese unter Verwendung von Fourier-Reihen für die Winkel komponente der um ihre Hauptkeule rotierenden Antenne entwickelt und die von den Drehwinkeln unabhängige Gestalt der Spiegeloberfläche und die von den Drehwinkeln abhängige Verformung der Spie geloberfläche bestimmt.
2. Vorrichtung zum Messen der Gestalt der Spiegeloberfläche einer
Antenne, bei der die elektrische Feldverteilung in
der Nähe der reflektierenden Spiegelantenne mit
einer eine Sonde zum Messen der elektrischen Feld
verteilung aufweisenden Abtasteinrichtung und einem
Sende-Empfangs-Gerät zum Senden und Empfangen
von Signalen zwischen der zu messenden Antenne und
der Sonde bestimmt wird,
gekennzeichnet durch
eine die zu messende Antenne (1) tragende Positio niereinrichtung (7), die die Antenne um eine Hauptkeule als Drehachse dreht und bei einem vor bestimmten Drehwinkel anhält, um die Gestalt der Spiegeloberfläche der Antenne an jedem einer Mehrzahl von Drehwinkeln zu messen, und
einen Rechner (9), der aus den gemessenen Werten die Spiegeloberflächenfehler bestimmt und diese unter Verwendung von Fourier-Reihen für die Winkel komponente der um ihre Hauptkeule rotierenden Antenne entwickelt und die von den Drehwinkeln unabhängige Gestalt der Spiegeloberfläche und die von den Drehwinkeln abhängige Verformung der Spiegel oberfläche bestimmt.
eine die zu messende Antenne (1) tragende Positio niereinrichtung (7), die die Antenne um eine Hauptkeule als Drehachse dreht und bei einem vor bestimmten Drehwinkel anhält, um die Gestalt der Spiegeloberfläche der Antenne an jedem einer Mehrzahl von Drehwinkeln zu messen, und
einen Rechner (9), der aus den gemessenen Werten die Spiegeloberflächenfehler bestimmt und diese unter Verwendung von Fourier-Reihen für die Winkel komponente der um ihre Hauptkeule rotierenden Antenne entwickelt und die von den Drehwinkeln unabhängige Gestalt der Spiegeloberfläche und die von den Drehwinkeln abhängige Verformung der Spiegel oberfläche bestimmt.
3. Vorrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet,
daß die Positioniereinrichtung eine rotierende
Basis (16) mit zwei oder mehr Drehachsen umfaßt.
4. Vorrichtung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet,
daß der Rechner aus den gemessenen Werten, basierend auf
einer Ausbreitung ebener Wellen oder von Kugelwellen
die elektrische Feldverteilung an einer Hornaperturebene
bestimmt und die Gestalt der Spiegeloberfläche
aus dem Phasenglied der elektrischen Feldverteilung
an einer Hornaperturebene erhalten wird.
5. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 4, da
durch gekennzeichnet, daß die Positioniereinrichtung
die Antenne so unterstützt, daß die Drehachse
orthogonal zu der Richtung der Schwerkraft ist.
6. Vorrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet,
daß die Antenne eine Cassegrain-Antenne ist.
7. Vorrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet,
daß die Antenne ein Metallgitter einschließt.
8. Verfahren zum Messen der Gestalt der Spiegelober
fläche einer reflektierenden Spiegelanenne,
gekennzeichnet durch
die folgenden Schritte:
Drehen der Antenne um eine Hauptkeule als Drehachse,
Anhalten der Antenne bei einer Vielzahl von unter schiedlichen Drehwinkeln,
Messen der Spiegelkoordinaten oder der elektrischen Feldverteilung bei jedem der Vielzahl von unterschiedlichen Drehwinkeln und Bestimmen des Spiegeloberflächenfehlers,
Entwickeln des Spiegeloberflächenfehlers unter Verwendung einer Fourier-Reihe der Winkelkomponente der um die Hauptkeule rotierenden Antenne, und
Bestimmen der Verformung der Spiegeloberfläche aufgrund der Schwerkraft und der eigenen Verformung der Spiegeloberfläche im schwerkraftlosen Zustand aus den gemessenen Werten.
Drehen der Antenne um eine Hauptkeule als Drehachse,
Anhalten der Antenne bei einer Vielzahl von unter schiedlichen Drehwinkeln,
Messen der Spiegelkoordinaten oder der elektrischen Feldverteilung bei jedem der Vielzahl von unterschiedlichen Drehwinkeln und Bestimmen des Spiegeloberflächenfehlers,
Entwickeln des Spiegeloberflächenfehlers unter Verwendung einer Fourier-Reihe der Winkelkomponente der um die Hauptkeule rotierenden Antenne, und
Bestimmen der Verformung der Spiegeloberfläche aufgrund der Schwerkraft und der eigenen Verformung der Spiegeloberfläche im schwerkraftlosen Zustand aus den gemessenen Werten.
9. Verfahren nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet,
daß eine zweidimensionale elektrische Feldverteilung in der Nähe der reflektierenden Spiegelantenne gemessen wird,
daß die gemessenen Werte in die elektrische Feld verteilung an einer Hornaperturebene durch eine arithmetische Operation unter Verwendung einer Ausbreitung ebener Wellen umgewandelt werden, und daß die Gestalt der Spiegeloberfläche aus dem Phasen glied der umgewandelten elektrischen Feldverteilung gewonnen wird.
daß eine zweidimensionale elektrische Feldverteilung in der Nähe der reflektierenden Spiegelantenne gemessen wird,
daß die gemessenen Werte in die elektrische Feld verteilung an einer Hornaperturebene durch eine arithmetische Operation unter Verwendung einer Ausbreitung ebener Wellen umgewandelt werden, und daß die Gestalt der Spiegeloberfläche aus dem Phasen glied der umgewandelten elektrischen Feldverteilung gewonnen wird.
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