DE4110343A1 - Plasmaanalysator fuer die spurenelementanalyse - Google Patents
Plasmaanalysator fuer die spurenelementanalyseInfo
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Description
Die Erfindung bezieht sich auf einen Spurenelementanalysator,
der ein Plasma verwendet, wie z. B. ein Plasmaemissionsspektro
meter oder einen Plasmamassenanalysator, und insbesondere auf
einen verbesserten Plasmaanalysator für die Spurenelement
analyse, der sich zur wirksamen Änderung eines einem Plasma
zugeführten Gases und zur wirksamen Vermischung des Gases im
Plasma eignet.
Ein maßgebendes Beispiel eines bekannten, ein Plasma verwen
denden Plasmaanalysators ist beispielsweise in der JP-OS
64-6 351 offenbart. In der den Stand der Technik darstellenden
Fig. 4 gibt es eine Argon(Ar)-Gasquelle 1a, eine Stick
stoff(N2) -Gasquelle 1b, einen ersten, zweiten und dritten
Durchflußmesser 2a, 2b und 2c, deren jeder mit einem Ventil
versehen ist, einen vierten, fünften und sechsten Durchfluß
messer 3a, 3b und 3c, deren jeder mit einem Ventil versehen
ist, einen Dreifachrohr-Plasmabrenner 4 mit einer äußeren Kam
mer 4a, einer mittleren Kammer 4b und einer inneren Kammer 4c,
eine Spule 5, ein Plasma 6, ein Probengefäß 7, einen Zerstäu
ber 8, eine Hochfrequenzenergiequelle 9, einen Probenahmekegel
10, einen Abstreifer 11, Vakuumpumpen 12a, 12b und 12c, einen
Massenfilter 13, einen Detektor 14 und eine Signalverarbei
tungseinheit 15.
Der grundsätzliche Betrieb dieses bekannten Plasmaanalysators
wird im folgenden beschrieben. In einem Anfangszustand sind
die Ventile des ersten bis dritten Durchflußmessers 2a bis 2c
in Durchlaßstellungen geöffnet, die einen Durchstrom entspre
chender Gase mit gegebenen Strömungsdurchsätzen ermöglichen,
und die Ventile des vierten bis sechsten Durchflußmessers 3a
bis 3c sind geschlossen. In diesem Zustand wird Ar-Gas in die
äußere Kammer 4a und die mittlere Kammer 4b des Plasmabrenners
4 durch die Durchflußmesser 2a bzw. 2b eingeführt. Eine durch
den Zerstäuber 8 zerstäubte Probe wird von Ar-Gas, das als
Trägergas durch den Durchflußmesser 2c geleitet wird, in die
innere Kammer 4c des Plasmabrenners 4 eingetragen. Die jewei
ligen Strömungsdurchsätze des in die äußere Kammer 4a bzw. die
mittlere Kammer 4b bzw. die innere Kammer 4c eingeführten Ar-
Gases werden durch die Ventile der Durchflußmesser 2a bzw. 2b
bzw. 2c reguliert. Dann wird die Spule 5 durch von der
Hochfrequenzenergiequelle 9 zugeführte Hochfrequenzenergie
gespeist, um das Plasma 6 durch die Einwirkung eines durch die
Spule 5 geschaffenen Hochfrequenzmagnetfeldes zu erzeugen. Im
Plasma erzeugte Ionen werden durch den Probenahmekegel 10 und
den Abstreifer 11 in eine Vakuumkammer gezogen, in der die
Ionen durch den Massenfilter 13 analysiert und durch den
Detektor 14 erfaßt werden. Ein vom Detektor 14 geliefertes
Erfassungssignal wird der Signalverarbeitungseinheit 15
zugeführt und von dieser verarbeitet, um Massenanalysendaten
zu erhalten. Die Massenanalysendaten werden zur Aufzeichnung
eines Massenspektrums durch ein Registriergerät verwendet.
Nach solcher Erzeugung des Plasmas unter Verwendung von
Ar-Gas werden die Ventile des vierten bis sechsten Durchfluß
messers 3a bis 3c allmählich geöffnet, um N2-Gas mit gegebenen
Strömungsdurchsätzen durch den vierten bis sechsten Durchfluß
messer 3a bis 3c in die äußere Kammer 4a, die mittlere Kammer
4b und die innere Kammer 4c des Plasmabrenners 4 einzuführen,
so daß Ar-N2-Gasgemische verschiedener Mischungsverhältnisse
jeweils in die äußere Kammer 4a und die mittlere Kammer 4b des
Plasmabrenners 4 eingeführt werden und ein als Trägergas die
nendes Ar-N2-Gasgemisch zusammen mit der durch den Zerstäuber
8 zerstäubten Probe in die innere Kammer 4c des Plasmabrenners
4 eingeführt wird.
Dann werden die Ventile der Durchflußmesser 2a bis 2c regu
liert, um die Strömungsdurchsätze des Ar-Gases allmählich
herabzusetzen, wobei das Massenspektrum so überwacht wird, daß
der Gipfel von Ar und der Gipfel des zu untersuchenden Ele
ments nicht übereinstimmen. Wenn die zugehörigen Gipfel von Ar
und des zu untersuchenden Elements übereinstimmen, werden die
Ventile der Durchflußmesser 3a bis 3c so reguliert, um die
Strömungsdurchsätze des N2-Gases so zu steigern, daß die zuge
hörigen Gipfel von Ar und des zu untersuchenden Elements von
einander getrennt werden. Nach der Trennung der zugehörigen
Gipfel von Ar und des zu untersuchenden Elements werden die
jeweiligen Gaszusammensetzungen in der äußeren Kammer 4a, der
mittleren Kammer 4b und der inneren Kammer 4c beibehalten.
So wird der Ar-Gasgehalt im Plasma mittels Austauschs durch
N2-Gas verändert, um die Messung des zu analysierenden Ele
ments ohne Störung durch Argonmolekülionen zu ermöglichen.
Es ist indessen möglich, daß das Plasma verschwindet, wenn das
Ar-Gas plötzlich durch N2-Gas beim Ändern der Gasmischung im
Plasma ausgetauscht wird. Deshalb muß das Ar-Gas allmählich
durch N2-Gas ausgetauscht werden, um das Plasma aufrechtzuer
halten. Der bekannte Plasmaanalysator ist jedoch keineswegs
mit ausreichenden Mitteln versehen, um den Gasaustauschvorgang
zu erleichtern, und erfordert einen komplizierten Betrieb zur
Justierung der Ventile einer Mehrzahl von Durchflußmessern in
Kombination mit einer Überwachung des Massenspektrums, was
viel Zeit und Mühe erfordert. Daher weist der bekannte Plasma
analysator Probleme bezüglich der Messungswirksamkeit und der
Zugänglichkeit auf.
Die Erfindung bezweckt die Lösung dieser Probleme beim bekann
ten Plasmaanalysator, und es liegt ihr die Aufgabe zugrunde,
einen verbesserten Plasmaanalysator für die Spurenelement
analyse zu entwickeln, der sich zur Durchführung eines einfa
chen, wirksamen Betriebs zur Änderung der Gasmischung im
Plasma und zur Justierung der Zusammensetzung des Gases eig
net.
Gegenstand der Erfindung, womit diese Aufgabe gelöst wird, ist
der Plasmaanalysator gemäß dem Patentanspruch 1.
Vorteilhafte Ausgestaltungen der Erfindung sind in den Unter
ansprüchen gekennzeichnet.
Obwohl die, vorzugsweise elektromagnetischen, Ventile in einem
Ein-Aus-Betrieb arbeiten, um die jeweiligen Strömungsdurch
sätze der entsprechenden Gase plötzlich zu ändern, unter
drücken die Puffertanks die abrupte Änderung der Gasströme, so
daß die jeweiligen Strömungsdurchsätze der Gase allmählich
geändert werden können. Demgemäß ändert sich die Zusammen
setzung des in das Plasma eingeführten Gases allmählich, auch
wenn sich die Strömung der Gasbestandteile aufgrund des ein
fachen Ein-Aus-Betriebs der Ventile abrupt ändert, so daß das
Erlöschen und die Fluktuation des Plasmas aufgrund der ab
rupten Änderung der Zusammensetzung des in das Plasma einge
führten Gases wirksam verhindert werden können. Da ein müh
samer Strömungsdurchsatzjustiervorgang einschließlich der
komplizierten Justierung der Ventile einer Mehrzahl von Durch
flußmessern nicht erforderlich ist, ist der Plasmaanalysator
gemäß der Erfindung einfach zugänglich und zur wirksamen
Durchführung des Betriebs für die Spurenelementanalyse geeig
net.
Die Erfindung wird anhand der in der Zeichnung veranschau
lichten Ausführungsbeispiele näher erläutert; darin zeigt
Fig. 1 ein Blockdiagramm eines in einen Mikrowellen
induktions-Plasmaanalysator für die Spuren
elementanalyse eingefügten Gaszufuhrsystems
in einem bevorzugten Ausführungsbeispiel der
Erfindung;
Fig. 2 ein Zeitablaufsdiagramm zur Ergänzung der Er
läuterung der grundsätzlichen Wirkungen des
Gaszufuhrsystems nach Fig. 1;
Fig. 3 ein Blockdiagramm des Mikrowelleninduktions-
Plasmaanalysators mit dem Gaszufuhrsystem nach
Fig. 1; und
Fig. 4 das schon erläuterte Blockdiagramm eines be
kannten Plasmaanalysators für die Spurenele
mentanalyse.
In Fig. 1 erkennt man ein elektromagnetisches Ventil 16a und
einen Puffertank 17a (oder ein Rohr mit einem gleichwertigen
Volumen) in einer Leitung, die einen ersten Strömungsregulier-
Durchflußmesser 18a mit einer ersten Gasquelle 1a, z. B. einem
Ar-Gaszylinder, verbindet, und ein elektromagnetisches Ventil
16b sowie einen Puffertank 17b (oder ein Rohr mit einem
gleichwertigen Volumen) in einer Leitung, die einen zweiten
Strömungsregulier-Durchflußmesser 18b mit einer zweiten Gas
quelle 1b, z. B. einem N2-Zylinder, verbindet. Die elektro
magnetischen Ventile 16a und 16b werden durch einen Computer
20 gesteuert. Außerdem zeigt Fig. 1 einen Plasmabrenner 19.
Die Puffertanks 17a und 17b puffern plötzliche Änderungen in
der Zusammensetzung und im Druck eines dem Plasmabrenner 19
zugeführten Gases infolge des Betriebs der elektromagnetischen
Ventile 16a und 16b im Ein-Aus-Betrieb. Auch wenn das elektro
magnetische Ventil 16a plötzlich geschlossen wird, läßt der
Puffertank 17a den Strömungsdurchsatz des dem Plasmabrenner 19
zugeführten Ar-Gases allmählich abnehmen, statt daß er plötz
lich auf Null abfällt. Andererseits läßt, auch wenn das
elektromagnetische Ventil 16b plötzlich geöffnet wird, der
Puffertank 17b den Strömungsdurchsatz des N2-Gases allmählich
wachsen, statt daß er abrupt auf ein Maximum ansteigt. So
ändert sich die Zusammensetzung des dem Plasmabrenner 19 zuge
führten Gases allmählich, so daß das Plasma nicht fluktuiert
oder nicht erlischt, wenn man die Änderung der Gaszusammen
setzung vom Ar-Gas zum N2-Gas vornimmt. In gleicher Weise wird
die plötzliche Änderung der Zusammensetzung des Gases vermie
den, wenn man die Änderung der Gaszusammensetzung vom N2-Gas
zum Ar-Gas vornimmt. Die für die Änderung der Zusammensetzung
des Gases erforderliche Zeit kann wahlweise bestimmt werden,
indem man wahlweise die jeweiligen Volumina der Puffertanks
17a und 17b bestimmt.
Dieser Gaszusammensetzungs-Änderungsbetrieb wird anhand des in
Fig. 2 gezeigten Zeitablaufdiagramms erläutert. Im Anfangs
zustand ist das elektromagnetische Ventil 16a eingeschaltet,
und das elektromagnetische Ventil 16b ist ausgeschaltet, wie
die Fig. 2(a) und 2(b) zeigen, um dem Plasmabrenner 19 nur
Ar-Gas mit einem vorbestimmten Strömungsdurchsatz QA (1 bis
20 l/min) zuzuführen, der durch den Strömungsregulier-Durchfluß
messer 18a reguliert wird, wie Fig. 2(c) zeigt, und es wird
ein Ar-Plasma durch den Plasmabrenner 19 erzeugt. Zur Zeit t1
wird das elektromagnetische Ventil 16b eingeschaltet, um dem
Plasmabrenner 19 N2-Gas mit einem vorbestimmten Strömungs
durchsatz QN (1 bis 20 l/min) zuzuführen, der durch den Strö
mungsregulier-Durchflußmesser 18b reguliert wird. Der Puffer
tank 17b unterdrückt den plötzlichen Anstieg des Strömungs
durchsatzes des N2-Gases von Null bis QN zur Zeit t1, so daß
der Strömungsdurchsatz des N2-Gases allmählich wächst. Nachdem
der Strömungsdurchsatz des N2-Gases einen vorbestimmten Strö
mungsdurchsatz QN erreicht hat, wird das elektromagnetische
Ventil 16a zur Zeit t2 ausgeschaltet, um die Zufuhr von Ar-Gas
zu unterbrechen, und dann senkt der Puffertank 17a den Strö
mungsdurchsatz des Ar-Gases allmählich. Infolgedessen ändert
sich die Zusammensetzung des dem Plasmabrenner 19 zugeführten
Gases allmählich von einer Ar-reichen Zusammensetzung zu einer
N2-reichen Zusammensetzung. Zur Zeit t3 erreicht der Strö
mungsdurchsatz des Ar-Gases Null, und es wird nur N2-Gas dem
Plasmabrenner 19 zugeführt. So beginnt die N2-Konzentration
des dem Plasmabrenner 19 zugeführten Gases ihren Anstieg von
Null zur Zeit t1, wächst allmählich zwischen der Zeit t1 und
der Zeit t2, erreicht 100% zur Zeit t3, und nach der Zeit t3
wird nur N2-Gas zugeführt. So ändert sich das Plasma allmäh
lich zwischen der Zeit t1 und der Zeit t3 vom Ar-Gasplasma zu
einem N2-Gasplasma.
Das N2-Gasplasma wird durch das Ar-Gasplasma in der folgenden
Weise ausgetauscht. Vor der Zeit t4 ist das elektromagnetische
Ventil 16a ausgeschaltet, und das elektromagnetische Ventil
16b ist eingeschaltet, um dem Plasmabrenner 19 nur N2-Gas zu
zuführen. Zur Zeit t4 wird das elektromagnetische Ventil 16a
eingeschaltet, um die Zufuhr von Ar-Gas zu beginnen, und dann
wächst der Strömungsdurchsatz des Ar-Gases allmählich. Bei An
kunft des Strömungsdurchsatzes des Ar-Gases am vorbestimmten
Strömungsdurchsatzwert QA, der durch den Strömungsregulier-
Durchflußmesser 18a reguliert wird, wird das elektromagneti
sche Ventil 16b zur Zeit t5 ausgeschaltet, und infolgedessen
sinkt der Strömungsdurchsatz des N2-Gases allmählich auf Null
zur Zeit t6, so daß sich das Plasma vom N2-Gasplasma zu einem
Ar-Gasplasma ändert.
Der Strömungsdurchsatz QA des Ar-Gases beim Zuführen von nur
Ar-Gas zum Plasmabrenner 19 und der Strömungsdurchsatz QN des
N2-Gases beim Zuführen von nur N2-Gas zum Plasmabrenner 19
können wahlweise durch die Strömungsregulier-Durchflußmesser
18a und 18b je nach den Plasmaerzeugungsbedingungen ein
schließlich der Hochfrequenzenergie, der Mikrowellenenergie
und der Ausgestaltung des Plasmabrenners 19 bestimmt werden.
Allgemein ist es beim Abändern des Plasmas zwischen einem
Ar-Gasplasma und einem N2-Gas(oder Luft)-Plasma zweckmäßig,
daß der Strömungsdurchsatz QA des Ar-Gases im Bereich von 1
bis 3 l/min ist, der Strömungsdurchsatz QN des N2-Gases im
Bereich von 8 bis 10 l/min ist und QA < QN ist, wenn bei
spielsweise die Mikrowellenenergie W=1 kW ist und der Plas
mabrenner 19 ein inneres Rohr mit einem Innendurchmesser d=
10 mm hat.
Eine Zeitdauer T1 und eine Zeitdauer T2, die für eine voll
kommene Änderung des Plasmas von einem Ar-Gasplasma zu einem
N2-Gasplasma bzw. von einem N2-Gasplasma zu einem Ar-Gasplasma
erforderlich ist, können nach Wunsch bestimmt werden, indem
man die jeweiligen Volumina der Puffertanks 17a und 17b ju
stiert, wenn die anderen Bedingungen festgelegt sind. Übli
cherweise werden die Zeitdauern T1 und T2 selektiv im Bereich
von 1 bis 30 s bestimmt, so daß das Plasma nicht fluktuieren
oder nicht erlöschen kann.
Die Folgesteuerung der elektromagnetischen Ventile 16a und 16b
durch den Computer 20 erleichtert die Änderung der Zusammen
setzung des dem Plasmabrenner 19 zugeführten Gases.
In Fig. 3, die einen Plasmaanalysator für die Spurenelement
analyse in einer bevorzugten Ausführungsart gemäß der Erfin
dung zeigt, sind eine Ar-Gasquelle 1a, eine N2-Gasquelle 1b,
ein Plasmabrenner 4, elektromagnetische Ventile 16a, 16b, 16c
und 16d, Puffertanks 17a, 17b, 17c und 17d (oder Rohre mit
gleichwertigen Volumina), Strömungsregulier-Durchflußmesser
18a, 18b, 18c und 18d, ein Mikrowellenoszillator 21 zur Er
zeugung von Mikrowellenenergie, ein Mikrowellenhohlraum 22
eines Oberflächenwellentyps oder eines Kreispolarisations-
Wellentyps, durch den Mikrowellenenergie dem Plasmabrenner 4
zugeführt wird, und ein Mikrocomputer 20 zur Steuerung der
elektromagnetischen Ventile 16a bis 16d, des Mikrowellen
oszillators 21 und eines Signalverarbeiters 15 dargestellt.
Der Plasmabrenner 4 ist vom Doppelrohraufbau mit einem inneren
Rohr 41 und einem äußeren Rohr 42. Ein Trägergas und eine
Probe werden in das innere Rohr 41 eingeführt, und ein Plasma
wird in den Ringraum zwischen dem inneren Rohr 41 und dem
äußeren Rohr 42 eingeführt.
Der Plasmaanalysator arbeitet in der folgenden Weise. Sämt
liche elektromagnetischen Ventile 16a bis 16d sind ausgeschal
tet, bevor der Plasmaanalystor gestartet wird. Beim Starten
des Plasmaanalysators wird das elektromagnetische Ventil 16a
eingeschaltet, um ein Plasmagas (Ar-Gas) durch den Puffertank
17a und den Strömungsregulier-Durchflußmesser 18a in den Ring
raum zwischen dem inneren Rohr 41 und dem äußeren Rohr 41 des
Plasmabrenners 4 einzuführen, und das elektromagnetische Ven
til 16c wird eingeschaltet, um ein Trägergas (Ar-Gas) durch
den Puffertank 17c und den Strömungsregulier-Durchflußmesser
18c einem Zerstäuber 8 zuzuführen. Eine von einem Probengefäß
7 dem Zerstäuber 8 zugeführte Probe wird durch den Zerstäuber
8 zerstäubt und zusammen mit dem Trägergas in das innere Rohr
41 des Plasmabrenners 4 eingeführt. Anschließend wird der
Mikrowellenoszillator 21 gestartet, um Mikrowellenenergie
durch den Mikrowellenhohlraum 22 dem Plasmabrenner 4 zur
Erzeugung eines Plasmas 6 zuzuführen. Im Plasma 6 erzeugte
Ionen der Probe werden durch einen Probenahmekegel 10 und
einen Abstreifer 11 in eine Vakuumkammer gezogen, durch ein
Linsensystem 23 kondensiert, durch einen Massenfilter 13
filtriert und durch einen Detektor 14 erfaßt. Der Detektor 14
liefert ein Erfassungssignal an den Signalverarbeiter 15, der
das Erfassungssignal verarbeitet, um Daten zur Aufzeichnung
eines Massenspektrums zu liefern.
Nach der Erzeugung des Ar-Gasplasmas wird das elektromagne
tische Ventil 16b eingeschaltet, um N2-Gas, das durch den
Puffertank 17b und den Strömungsregulier-Durchflußmesser 18b
zugeführt wird, dem Plasmagas (Ar-Gas) im Raum zwischen dem
inneren Rohr 41 und dem äußeren Rohr 42 des Plasmabrenners 4
zuzumischen, und das elektromagnetische Ventil 16d wird ein
geschaltet, um N2-Gas, das durch den Puffertank 17d und den
Strömungsregulier-Durchflußmesser 18d zugeführt wird, dem
Trägergas (Ar-Gas) im Zerstäuber 8 zuzumischen. Obwohl die
elektromagnetischen Ventile 16b und 16d plötzlich eingeschal
tet werden, unterdrücken die Puffertanks 17b und 17d den
schroffen Anstieg des Strömungsdurchsatzes des N2-Gases, so
daß dieser allmählich ansteigt.
Nach dem Anstieg des Strömungsdurchsatzes des dem Plasmabren
ner 4 zugeführten N2-Gases und desjenigen des dem Zerstäuber 8
zugeführten N2-Gases auf vorbestimmte Strömungsdurchsätze, die
durch die Strömungsregulier-Durchflußmesser 18b bzw. 18d regu
liert werden, werden die elektromagnetischen Ventile 16a und
16c ausgeschaltet, um die Ar-Gaszufuhr zu unterbrechen, wobei
die Puffertanks 17a und 17c den schroffen Abfall der Strö
mungsdurchsätze von Ar-Gas derart unterdrücken, daß die Strö
mungsdurchsätze allmählich abnehmen. Eventuell wird nur N2-Gas
als das Plasmagas und das Trägergas zugeführt.
Da das Plasmagas und das Trägergas allmählich von Ar-Gas zu
N2-Gas geändert werden, erreicht man, daß das Plasma während
des Austausches von Ar-Gas durch N2-Gas weder fluktuiert noch
erlischt und die Messung der zu analysierenden Elemente stabil
und genau ohne Störung durch argonbezogene Molekularionen
erreicht wird.
Beim Ändern des Plasmagases und des Trägergases von N2-Gas zu
Ar-Gas werden die elektromagnetischen Ventile 16b und 16d eine
kurze Zeit nach dem Einschalten der elektromagnetischen Ven
tile 16a und 16c ausgeschaltet.
Sämtliche vorstehenden Vorgänge werden gemäß einem Folgesteue
rungsprogramm durch den Mikrocomputer 20 gesteuert. Das Trä
gergas (Ar-Gas) kann dem Plasmabrenner 4 nach Erzeugung eines
Ar-Plasmas im Plasmabrenner 4 zugeführt werden, oder das Plas
magas (Ar-Gas) und das Trägergas (Ar-Gas) können dem Plasma
brenner 4 gleichzeitig zugeführt werden. Beim Ändern der dem
Plasmabrenner 4 zugeführten Gase müssen die Zeitpunktein
stellung des Betriebs des elektromagnetischen Ventils 16a des
Plasmagaszufuhrsystems und diejenige des Betriebs des elek
tromagnetischen Ventils 16c des Trägergaszufuhrsystems nicht
notwendig miteinander übereinstimmen; es kann auch eine Zeit
verzögerung zwischen dem Betrieb des elektromagnetischen Ven
tils 16a und dem des elektromagnetischen Ventils 16c vorlie
gen. Die gleiche Zeiteinstellungshandhabung gilt auch für die
Zeitpunkteinstellung des Betriebs des elektromagnetischen Ven
tils 16b und diejenige des Betriebs des elektromagnetischen
Ventils 16d. Obwohl die Zeitpunkteinstellung des Ausschaltens
des elektromagnetischen Ventils 16a bezüglich der Zeitpunkt
einstellung des Einschaltens des elektromagnetischen Ventils
16b beim Austausch des Ar-Gases durch N2-Gas verzögert wird
und die Zeitpunkteinstellung des Ausschaltens des elektro
magnetischen Ventils 16b bezüglich der Zeitpunkteinstellung
des Einschaltens des elektromagnetischen Ventils 16a beim Aus
tausch von N2-Gas durch Ar-Gas in der beispielsweisen Be
triebsart des Plasmaanalysators entsprechend obiger Beschrei
bung anhand der Fig. 2 verzögert wird, können die elektro
magnetischen Ventile 16a und 16b auch gleichzeitig betrieben
werden.
Obwohl die Art der Änderung des Plasmagases und des Träger
gases zwischen Ar-Gas und N2-Gas beschrieben wurde, sind die
im Rahmen der Erfindung zu verwendenden Gase nicht auf Ar-Gas
und N2-Gas beschränkt. Wenn ein Gas, mit dem ein Plasma
schwieriger als mit Ar-Gas zu erzeugen ist, wie z. B. Heliumgas
(He-Gas), Sauerstoffgas (O2-Gas) oder Luft, verwendet wird,
wird zunächst Ar-Gas zur Erzeugung eines Ar-Plasmas zugeführt,
und dann kann Ar-Gas durch He-Gas, O2-Gas oder Luft ausge
tauscht werden. Das dem Plasmabrenner 4 zugeführte Gas muß
nicht notwendigerweise von reinem Ar-Gas durch eine Ar-N2-Gas
mischung zu reinem N2-Gas geändert werden; das Gas kann bei
spielsweise ein Gas aus 5% Ar und 95% N2 sein.
Die Einrichtung zur Erzeugung des Plasmas ist nicht nur auf
Mikrowellenenergie beschränkt; auch Hochfrequenzenergie oder
Gleichstrom kann zur Erzeugung des Plasmas verwendet werden.
Wie sich aus der vorstehenden Beschreibung ergibt, kann erfin
dungsgemäß die Zusammensetzung des in das Plasma eingeführten
Gases wirksam geändert werden, und der Plasmaanalysator für
die Spurenelementanalyse ist zugänglich. Da sich der erfin
dungsgemäße Plasmaanalysator zur leichten Erzeugung eines
Plasmas aus einem Gas, mit dem unter Atmosphärendruck ein
Plasma schwierig zu erzeugen ist, wie z. B. N2-Gas, He-Gas oder
Luft, eignet, kann unaufwendiges N2-Gas oder Luft anstelle
teuren Ar-Gases verwendet werden. Weiter können die in der
Probe enthaltenen Spurenelemente genau analysiert werden, weil
die hochgradig genaue Trennung und Erfassung gestörter Ionen,
d. h. Ionen der gleichen Masse, die durch das Gas des Plasmas
gestört werden, möglich sind.
Claims (10)
1. Plasmaanalysator für die Spurenelementanalyse mit:
einer Plasmaerzeugungseinrichtung (4) zur Erzeugung eines Plasmas (6) in einem Plasmaerzeugungsraum;
einer Plasmagaszuführeinrichtung zum Zuführen eines Plasmagases in den Plasmaerzeugungsraum;
einer Probenzuführeinrichtung zum Einführen einer Ana lysenprobe in den Plasmaerzeugungsraum; und
einem Detektor (14) zum Erfassen der in dem im Plasma erzeugungsraum erzeugten Plasma (6) angeregten Bestand teilselemente der Analysenprobe,
wobei die Plasmagaszuführeinrichtung aufweist:
eine erste Gasquelle (1a) zum Zuführen eines ersten Gases;
eine zweite Gasquelle (1b) zum Zuführen eines zweiten Gases;
ein erstes Ventil (16a) zum Einlaß des ersten Gases von der ersten Gasquelle (1a) zum Plasmaerzeugungsraum und zum Unterbrechen des Stroms des ersten Gases zum Plasmaerzeugungsraum;
ein zweites Ventil (16b) zum Einlaß des zweiten Gases von der zweiten Gasquelle (1b) zum Plasmaerzeugungsraum und zum Unterbrechen des Stroms des zweiten Gases zum Plasmaerzeugungsraum;
einen ersten Puffertank (17a), der nach dem ersten Ventil (16a) in einer die erste Gasquelle (1a) mit dem Plasmaerzeugungsraum verbindenden Leitung vorgesehen ist;
einen zweiten Puffertank (17b), der nach dem zweiten Ventil (16b) in einer die zweite Gasquelle (1b) mit dem Plasmaerzeugungsraum verbindenden Leitung vorgesehen ist;
einen ersten Strömungsregulier-Durchflußmesser (18a), der nach dem ersten Puffertank (17a) in der die erste Gasquelle (1a) mit dem Plasmaerzeugungsraum verbindenden Leitung vorgesehen ist;
einen zweiten Strömungsregulier-Durchflußmesser (18b), der nach dem zweiten Puffertank (17b) in der die zweite Gasquelle (1b) mit dem Plasmäerzeugungsraum ver bindenden Leitung vorgesehen ist; und
ein Rohrsystem zum Zuführen des ersten und des zwei ten Gases von der ersten (1a) bzw. der zweiten Gasquelle (1b) durch den ersten (18a) bzw. den zweiten Durchfluß messer (18b) in den Plasmaerzeugungsraum.
einer Plasmaerzeugungseinrichtung (4) zur Erzeugung eines Plasmas (6) in einem Plasmaerzeugungsraum;
einer Plasmagaszuführeinrichtung zum Zuführen eines Plasmagases in den Plasmaerzeugungsraum;
einer Probenzuführeinrichtung zum Einführen einer Ana lysenprobe in den Plasmaerzeugungsraum; und
einem Detektor (14) zum Erfassen der in dem im Plasma erzeugungsraum erzeugten Plasma (6) angeregten Bestand teilselemente der Analysenprobe,
wobei die Plasmagaszuführeinrichtung aufweist:
eine erste Gasquelle (1a) zum Zuführen eines ersten Gases;
eine zweite Gasquelle (1b) zum Zuführen eines zweiten Gases;
ein erstes Ventil (16a) zum Einlaß des ersten Gases von der ersten Gasquelle (1a) zum Plasmaerzeugungsraum und zum Unterbrechen des Stroms des ersten Gases zum Plasmaerzeugungsraum;
ein zweites Ventil (16b) zum Einlaß des zweiten Gases von der zweiten Gasquelle (1b) zum Plasmaerzeugungsraum und zum Unterbrechen des Stroms des zweiten Gases zum Plasmaerzeugungsraum;
einen ersten Puffertank (17a), der nach dem ersten Ventil (16a) in einer die erste Gasquelle (1a) mit dem Plasmaerzeugungsraum verbindenden Leitung vorgesehen ist;
einen zweiten Puffertank (17b), der nach dem zweiten Ventil (16b) in einer die zweite Gasquelle (1b) mit dem Plasmaerzeugungsraum verbindenden Leitung vorgesehen ist;
einen ersten Strömungsregulier-Durchflußmesser (18a), der nach dem ersten Puffertank (17a) in der die erste Gasquelle (1a) mit dem Plasmaerzeugungsraum verbindenden Leitung vorgesehen ist;
einen zweiten Strömungsregulier-Durchflußmesser (18b), der nach dem zweiten Puffertank (17b) in der die zweite Gasquelle (1b) mit dem Plasmäerzeugungsraum ver bindenden Leitung vorgesehen ist; und
ein Rohrsystem zum Zuführen des ersten und des zwei ten Gases von der ersten (1a) bzw. der zweiten Gasquelle (1b) durch den ersten (18a) bzw. den zweiten Durchfluß messer (18b) in den Plasmaerzeugungsraum.
2. Plasmaanalysator nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet,
daß das erste (16a) und das zweite Ventil (16b) elektro
magnetische Ventile sind.
3. Plasmaanalysator nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet,
daß das erste (16a) und das zweite Ventil (16b) durch
Steuerorgane gemäß einem Folgesteuerungsprogramm gesteuert
werden.
4. Plasmaanalysator nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet,
daß das erste Gas Argongas ist und das zweite Gas Stick
stoffgas ist.
5. Plasmaanalysator nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet,
daß das erste Gas Argongas ist und das zweite Gas eine Mi
schung von Argongas und Stickstoffgas ist.
6. Plasmaanalysator nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet,
daß das erste Gas Argongas ist und das zweite Gas Helium
gas ist.
7. Plasmaanalysator nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet,
daß das erste Gas Argongas ist und das zweite Gas Sauer
stoffgas ist.
8. Plasmaanalysator nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet,
daß das erste Gas Argongas ist und das zweite Gas Luft
ist.
9. Plasmaanalysator nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Plasmaerzeugungseinrichtung (4) Mikrowellenenergie
zur Erzeugung eines Plasmas verwendet.
10. Plasmaanalysator nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet,
daß der Detektor (14) die im Plasma erzeugten Ionen der
Bestandteile der Probe durch Trennen der Ionen entspre
chend ihren Massen erfaßt.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2080943A JPH03282252A (ja) | 1990-03-30 | 1990-03-30 | プラズマ極微量元素分析装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE4110343A1 true DE4110343A1 (de) | 1991-10-02 |
DE4110343C2 DE4110343C2 (de) | 1994-09-08 |
Family
ID=13732574
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE4110343A Expired - Fee Related DE4110343C2 (de) | 1990-03-30 | 1991-03-28 | Plasmaanalysator für die Spurenelementanalyse |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5130537A (de) |
JP (1) | JPH03282252A (de) |
DE (1) | DE4110343C2 (de) |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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8364 | No opposition during term of opposition | ||
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