DE4040726A1 - Verfahren zum untersuchen von teilchenmustern - Google Patents

Description

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Untersuchen von Teil­ chenmustern, bei dem eine Probe und ein Reagenz in einem Reak­ tionsgefäß gemischt werden, um eine immunologische Agglutina­ tionsreaktion (im Gefäß) zu bewirken, wobei sich am Boden des Reaktionsgefäßes ein Teilchenmuster ausbildet, welches mit optischen Mitteln vermessen wird, um automatisch zu bestimmen, ob das Teilchenmuster einer Agglutination entspricht oder nicht und wobei auch andere Eigenschaften des Musters für medizinische Zwecke untersucht werden können.

In der japanischen Patent-Offenlegungschrift 58-1 05 065 wird ein Verfahren zum Beurteilen von Teilchenmustern beschrieben, bei dem ein sich am Boden eines Reaktionsgefäßes durch eine Aggluti­ nationsreaktion bildendes Teilchenmuster optisch vermessen wird und bei dem ein Verhältnis der Helligkeiten eines zentralen Ab­ schnittes des Reaktionsgefäßes und eines Umfangsabschnittes ge­ bildet wird, um zu ermitteln, ob dem Teilchenmuster eine Agglu­ tination zugrundeliegt oder nicht. Eine solche Technik zum Untersuchen von Teilchenmustern ist auch in der US-PS 47 27 033 beschrieben, bei der Lichtintensitäten von zentralen und peri­ pheren Abschnitten des geneigten Bodens des Reaktionsgefäßes ge­ trennt voneinander gemessen werden unter Verwendung von zwei lichtempfangenden Elementen und bei dem die Beurteilung hin­ sichtlich der Bildung eines Teilchenmusters auf dem Boden dahin­ gehend, ob eine Agglutination vorliegt oder nicht, aufgrund des Verhältnisses zwischen den Ausgangssignalen der lichtempfangen­ den Elemente getroffen wird. Daß heißt, wenn das Teilchenmuster agglutiniert ist, sind die Teilchen gleichförmig auf der Boden­ fläche des Reaktionsgefäßes abgelagert, so daß die Differenz der Lichtintensitäten der genannten lichtempfangenden Elemente ge­ ring ist, während im Gegensatz hierzu dann, wenn die Teilchen nicht agglutiniert sind, dieselben auf den geneigten Boden nach unten rutschen und sich im mittleren Abschnitt des Gefäßes sam­ meln, so daß die Differenz zwischen den Lichtintensitäten relativ groß ist. Bei einem solchen herkömmlichen Verfahren zum Untersuchen von Teilchenmustern wird das so erhaltene Verhältnis verglichen mit vorgegebenen oberen und unteren Grenzwerten. Ist das Verhältnis größer als der obere Grenzwert, wird das Teil­ chenmuster als agglutiniert erkannt, während dann, wenn das Ver­ hältnis kleiner ist als der untere Grenzwert, das Teilchenmuster als nicht-agglutiniert beurteilt wird. Ist das Verhältnis zwi­ schen dem oberen und dem unteren Grenzwert, so wird das Teil­ chenmuster als nicht eindeutig identifizierbar beurteilt und es ist deshalb unmöglich, dieses Muster automatisch zu untersuchen.

In den japanischen Patentveröffentlichungen 61-2 15 948, 62-1 05 031, 63-58 237 und 63-2 56 839 werden andere Verfahren zum Untersuchen von Teilchenmustern beschrieben, bei denen Aggluti­ nationsreaktionen durchgeführt werden in einer Anzahl von Ver­ tiefungen, die in einer Mikroplatte ausgebildet sind und bei denen ein optisches Bild der Vertiefungen mittels einer TV-Kame­ ra aufgenommen wird. Die Bilddaten jeder Vertiefung werden mit­ tels eines Rechners verarbeitet, um eine Fläche zu ermitteln, wo die Teilchen jeder Vertiefung auf der Bodenfläche abgelagert sind und die Teilchenstruktur wird hinsichtlich der Frage, ob eine Agglutination vorliegt oder nicht, auf der Grundlage der so gewonnen Fläche ermittelt.

Nach einem aus der japanischen Patentveröffentlichung 63-58 237 bekannten Verfahren wird ein Bild der Bodenfläche jeder Vertie­ fung in der Mikroplatte mittels einer TV-Kamera aufgenommen, um entsprechende Bildsignale zu gewinnen, die Daten eines Mittel­ punktes der Vertiefung werden gewonnen durch Verarbeitung der erhaltenen Bildsignale, eine Kontur des in der Vertiefung ge­ bildeten Teilchenmusters wird gewonnen durch Ermittlung des Unterschiedes der Helligkeiten der Bildsignale innerhalb eines Kreises, der um den Mittelpunkt gelegt ist und der Bildsignale außerhalb dieses Kreises, die Fläche innerhalb der so gewonnenen Kontur wird ermittelt und sodann wird die so gewonnene Fläche mit einem vorgegebenen Standardwert verglichen. Ist die Fläche größer als der Standardwert, so wird das Teilchenmuster als agglutiniert eingestuft und dann, wenn die Fläche geringer ist als der Standardwert, wird das Teilchenmuster als nicht-agglu­ tiniert bewertet. Daß heißt, bei diesem herkömmlichen Verfahren wird das Teilchenmuster vermessen mittels einer Vielzahl von Bildpunkten, die den im zentralen Bereich der Vertiefung gesam­ melten Teilchen entsprechen.

In der japanischen Patentveröffentlichung 63-2 56 839 wird ein anderes Verfahren beschrieben, bei dem der Mittelpunkt der Ver­ tiefung in ähnlicher Weise wie oben gewonnen wird, während die Beurteilung derart erfolgt, daß eine Relativbeziehung zwischen der Abmessung des mittleren Abschnittes, wo die Teilchen auf der Bodenfläche des Reaktionsgefäßes abgelagert sind, und einer Standard-Abweichung des Differentialkoeffizienten der Teilchen­ struktur verwendet wird.

Bei den vorstehend erwähnten herkömmlichen Verfahren besteht aber der Nachteil, daß es nicht möglichst ist, mit hinreichender Genauigkeit zu beurteilen, ob dem Teilchenmuster eine Agglutina­ tion zugrundeliegt oder nicht. Falls die Agglutinationskräfte der zu untersuchenden Teilchen so schwach sind, daß eine große Wahrscheinlichkeit besteht, daß eine Agglutinationstruktur (Muster) fast die gleiche Form hat als eine nicht-agglutinierte Struktur auf der Bodenfläche des Reaktionsgefäßes ist es sehr schwierig, automatisch festzustellen, welchen Charakter das Teilchenmuster hat. Deshalb ist bei den herkömmlichen Verfahren die Zuverlässigkeit der Beurteilung so gering, daß eine Bedie­ nungsperson die Muster visuell zu untersuchen und das mit einer automatischen Vorrichtung gewonnene Ergebnis zu korrigieren hat. Dies erfordert beträchtliche zusätzliche Arbeit. Bei den in der JP 58-1 05 065 und der US-PS 42 72 033 beschriebenen Verfahren be­ steht das Problem, daß die Anzahl der Proben, welche nur als zweifelhaft vermeßbar sind, sehr groß wird, weil die Agglutina­ tionsreaktion im allgemeinen sehr empfindlich ist, so daß in einer Vielzahl von Fällen zweifelhafte Teilchenmuster gebildet werden. Deshalb ist die Effektivität bei der Vermessung derarti­ ger Proben sehr gering und auch menschliche Fehler auf seiten der Bedienungsperson treten häufig auf. Die Meßgenauigkeit und auch die Zuverlässigkeit der Messung leidet.

Bei einem Verfahren gemäß der japanischen Patentveröffentlichung 63-50 237 ist es möglich, den Mittelpunkt der Teilchenstruktur exakt zu bestimmen, jedoch hängt die Abmessung des Abschnittes, in dem sich die Teilchen auf der Bodenfläche des Gefäßes abla­ gern, nicht nur davon ab, ob die Teilchen agglutiniert sind oder nicht sondern auch davon, wie groß die Menge der Probe oder des Reagenzes ist. Auch hier ist es sehr schwer, genaue Messungen durchzuführen.

Bei dem aus der japanischen Patentveröffentlichung 63-2 56 839 be­ kannten Verfahren ist das Meßergebnis durch Bläschen beeinfluß­ bar, die in der Testflüssigkeit enthalten sind und auch durch den Umstand, daß das Muster außer Form gerät oder sogar verzerrt wird, was ebenfalls die genaue Messung beeinträchtigt.

Die vorliegende Erfindung hat deshalb zum Ziel, die vorstehend erwähnten Nachteile des Standes der Technik zu überwinden und ein Verfahren zum Vermessen von Teilchenmustern anzugeben, mit dem es möglich ist, auch dann exakt zu beurteilen, ob ein Teil­ chenmuster agglutiniet ist oder nicht, wenn die Agglutinations­ kräfte der Teilchen sehr schwach sind, und bei dem es weiterhin möglich ist, eine genaue Messung ohne Beeinflussung durch Bläs­ chen durchzuführen und bei dem auch eine Verfälschung der Struktur durch Verzerrung des Musters ausgeschlossen ist. Wei­ terhin soll bei dem erfindungsgemäßen Verfahren die Anzahl der Proben, bei denen eine Nachprüfung durch eine Bedienungsperson mit visuellen Mitteln erforderlich ist, stark reduziert werden, so daß die Messung mit hohem Wirkungsgrad und hoher Genauigkeit durchführbar ist.

Das erfindungsgemäße Verfahren zum Vermessen von Teilchenmustern weist die folgenden Schritte auf:
Messen des Teilchenmusters, das auf der Bodenfläche eines Reak­ tionsgefäßes durch eine immunologische Agglutinationsreaktion entstanden ist, mit optischen Mitteln, um erste Meßdaten des Teilchenmusters zu gewinnen,
Gewinnen von zweiten Meßdaten bezüglich einer Grenze des Teil­ chenmusters aus den ersten Meßdaten des Teilchenmusters, um ein Veränderungsverhältnis der zweiten Meßdaten der Grenze zu ge­ winnen, und
Entscheiden, ob das im Reaktionsgefäß gebildete Teilchenmuster agglutiniert ist oder nicht auf der Basis des so gewonnenen Ver­ änderungsverhältnisses der zweiten Meßdaten der Grenze des Teil­ chenmusters.

Wenn eine Testflüssigkeit mit zu untersuchenden Teilchen in ein Reaktionsgefäß eingegeben wird, das eine konische Bodenfläche aufweist, zeigen sich bisweilen nicht-agglutinierte Teilchen­ muster, die fast die gleiche Form haben wie ein agglutiniertes Teilchenmuster, weil die Agglutinationskräfte der Testflüssig­ keit sehr schwach sind. Fig. 1A zeigt ein Beispiel für ein der­ artiges, nicht-agglutinierte Teilchenmuster und Fig. 1B zeigt ein agglutiniertes Teilchenmuster. Es hat sich aber gezeigt, daß dabei die Grenze der agglutinierten Struktur gemäß Fig. 1B im Vergleich mit der Grenze der nicht-agglutinierten Struktur gemäß Fig. 1A weniger eindeutig (scharf) ist. Nach dem erfindungsge­ mäßen Verfahren ist es möglich, solche nicht-agglutinierten Teilchenmuster, die fast die gleiche Form haben wie ein agglu­ tiniertes Teilchenmuster, dadurch zu unterscheiden, daß die vor­ stehend erwähnte Grenz-Eigenschaft untersucht wird.

Die Fig. 2A und 2B zeigen die Variation der durch das Reaktions­ gefäß und die darin enthaltene Testflüssigkeit durchgelassenen Lichtmenge auf geraden Linien A und B, welche durch die Mittel­ punkte der Reaktionsgefäße 1 gemäß den Fig. 1A und 1B gehen. Werden die Grenzen der Teilchenmuster näher betrachtet, was in den Figuren durch den Pfeil "D" angedeutet ist, dann ergibt sich, daß das Veränderungsverhältnis bezüglich der an der Grenze des Teilchenmusters durchgelassenen Lichtmenge in Fig. 2B klei­ ner ist als bei dem nicht-agglutinierten Teilchenmuster gemäß Fig. 2A. Deshalb ist es möglich durch Gewinnung von Meßdaten bezüglich der Extinktion an den Grenzen bei Messung der Licht­ mengen auf geraden Linien A und B und durch Bestimmung des Ver­ änderungsverhältnisses der Meßdaten an der Grenze agglutinierte Teilchenmuster und nicht-agglutinierte Teilchenmuster zu unter­ scheiden, auch wenn die Agglutinationskräfte schwach sind.

Es ist möglich, das Veränderungsverhältnis der Lichtmenge auf der Grenze dadurch zu gewinnen, daß Bilddaten an der Grenze auf einer geraden Linie gewonnen werden, die den Mittelpunkt der auf der Bodenfläche gebildeten Teilchenstruktur schneidet und zwar des Teilchenmusters als ganzes, oder durch Extraktion von Bild­ daten eines Teils oder der ganzen Grenze aus den Bilddaten der Bodenfläche und anschließende Verarbeitung der extrahierten Bilddaten in einem Rechner. Weiterhin kann die Grenze des Teil­ chenmusters auch dadurch ermittelt werden, daß eine mittlere Helligkeit gezählt wird auf Basis der Helligkeit des Mittelab­ schnittes der Bodenfläche des Gefäßes und eines Umfangsabschnit­ tes derselben sowie eines Abschnittes, der eine solche mittlere Helligkeit aufweist und damit als Grenze ermittelbar ist. In diesem Falle kann durch Vermessung des Variationsverhältnisses derjenigen Daten, welche den Abschnitt mit mittlerer Helligkeit betreffen, festgestellt werden, ob ein agglutiniertes Teilchen­ muster vorliegt oder ein nicht-agglutiniertes.

Gemäß einer bevorzugten Ausgestaltung des erfindungsgemäßen Ver­ fahrens sind folgende Schritte vorgesehen: Aufnehmen eines zweidimensionalen Bildes eines Teilchenmusters, das auf der Bodenfläche eines Reaktionsgefäßes mittels einer immunologischen Agglutinationsreaktion ausgebildet ist, um eine Bild-Information dieses Teilchenmusters zu gewinnen, Differenzieren der genannten Bild-Information, um differenzierte Werte der Bild-Information zu erhalten, und Ermitteln, ob das Teilchenmuster agglutiniert ist oder nicht mittels der Verteilung der differenzierten Werte der Bild-In­ formation.

Mit dem erfindunsgemäßen Verfahren können Teilchenmuster auch dann exakt vermessen werden, wenn Bläschen im Teilchenmuster enthalten sind oder wenn das Muster außer Form gerät oder ver­ zerrt ist. Wenn nämlich Bläschen im Muster enthalten sind, dann ist die Bilddichte des Kontur-Abschnittes der Bläschen relativ hoch und dann, wenn die Bilddichte eines gestörten Abschnittes oder eines verzerrten Abschnittes des Musters groß wird, ist die Bilddichte des unteren Abschnittes des gestörten Abschnittes oder des verzerrten Abschnittes gering. Deshalb ist es möglich, auch solche ungewöhnlichen Muster zu vermessen mittels der Verteilung der differenzierten Werte des zweidimensionalen Bildsignales des Musters. Mit dem erfindungsgemäßen Verfahren ist es deshalb möglich, das Teilchenmuster exakt zu vermessen, ohne daß Meßfehler aufgrund von Bläschen oder aufgrund von Ver­ zerrungen des Musters auftreten können. Auch kann die Anzahl der Proben, welche visuell nachgeprüft werden müssen, verringert werden, so daß der Analysen-Durchsatz erhöht werden kann. Im Vergleich mit herkömmlichen Meßverfahren kann der Meßfehler, welcher dadurch verursacht ist, daß unterschiedliche Mengen von Proben oder Reagenz abgegeben werden, verringert werden, weil beim erfindunsgemäßen Verfahren die Beurteilung darüber, ob das Muster agglutiniert ist oder nicht nur abhängt von einer Infor­ mation derjenigen Fläche des Abschnittes, wo die Teilchen abge­ lagert sind.

Nachfolgend wird die Erfindung anhand der Zeichnung näher erläu­ tert. Es zeigt, bzw. zeigen:

Fig. 1A und 1B schematische Ansichten von Teilchenmustern, die in einem Reaktionsgefäß gebildet sind;

Fig. 2A und 2B schematische Ansichten von Lichtmengen, die auf geraden Linien A und B gemessen werden, welche die Mittelpunkte der Reaktionsgefäße gemäß den Fig. 1A und 1B schneiden, wobei die­ se Figuren die Erfindung illustrieren;

Fig. 3 ein Blockdiagramm eines Ausführungsbeispieles einer Vorrichtung zum automatischen Vermessen von Teilchenmustern, mit dem ein erstes Aus­ führungsbeispiel eines erfindungsgemäßen Ver­ fahrens ausführbar ist;

Fig. 4 eine schematische Darstellung einer Mikroplat­ te, welche zusammen mit einer Vorrichtung gemäß Fig. 3 verwendet wird;

Fig. 5 eine schematische Darstellung einer einzigen aus einer Vielzahl von in der Mikroplatte aus­ geformten Vertiefungen, wobei vorab Flächen angezeigt sind zum Gewinnen eines Mittelwertes des Veränderungsverhältnisses der Lichtmenge;

Fig. 6 ein Blockdiagramm eines anderen Ausführungs­ beispieles einer Vorrichtung zum automatischen Vermessen von Teilchenmustern, wobei mit dieser Vorrichtung ein zweites erfindungsge­ mäßes Verfahren durchführbar ist;

Fig. 7A und 7B schematische Darstellungen eines Teilchen­ musters, das in einer Vertiefung in einer Mikroplatte gebildet wird sowie einer Verände­ rung der auf einer geraden Linie C durchgelas­ senen Lichtmenge, wobei diese Figuren das zweite Ausführungsbeispiel gemäß Fig. 6 illu­ strieren;

Fig. 8 ein Blockdiagramm einer weiteren Vorrichtung zum automatischen Vermessen von Teilchen­ mustern, wobei mit dieser Vorrichtung ein drittes erfindungsgemäßes Verfahren durchführ­ bar ist;

Fig. 9 und 19 schematische Ansichten eines Differenzierungs­ operators zum Ermitteln von Veränderungen der Lichtintensitäten in horizontalen und vertika­ len Richtungen des Teilchenmusters;

Fig. 11 eine schematische Ansicht einer Bildpunkt-Kom­ position zum Differenzieren der Bildsignale und

Fig. 12 ein Flußdiagramm zur Illustration des dritten erfindungsgemäßen Meßverfahrens.

Fig. 3 ist ein Blockdiagramm einer Vorrichtung zum automatischen Vermessen von Teilchenmustern, mit der ein erstes Ausführungs­ beispiel eines erfindungsgemäßen Verfahrens durchführbar ist. Bei diesem Ausführungsbeispiel wird eine Mikroplatte 11, in der eine Vielzahl von Vertiefungen 11a matrixförmig ausgebildet sind (Fig. 4), verwendet, wobei die Vertiefungen als Reaktionsgefäße dienen. Die Mikroplatte 11 besteht aus transparentem Material, wie einem Acryl-Kunstharz. Wie Fig. 3 zu entnehmen ist, wird die Mikroplatte 11 durch eine Fluoreszenz-Lampe 13 auf der Untersei­ te beleuchtet. Die Fluoreszenz-Lampe 13 ist mit einer Fluores­ zenz-Stromversorgung 12 verbunden. Jede Vertiefung 11a der Mikroplatte 11 hat eine konische Bodenfläche. Testflüssigkeit einschließlich zu untersuchender Teilchen ist in den Vertiefun­ gen 11a enthalten. Nachdem eine Probe und ein Reagenz jeweils in den Vertiefungen 11a gemischt sind, bildet sich ein Teilchen­ muster auf der Bodenfläche der Vertiefung 11a, wobei die Mikro­ platte ortsfest gehalten ist. Mittels einer Videokamera 15 wird von jeder Vertiefung 11a ein Bild der Bodenfläche aufgenommen, wobei die Vertiefungen mittels der Fluoreszenz-Lampe 13 beleuch­ tet sind. Die Kamera ist oberhalb der Mikroplatte 11 angeordnet und die Bilder werden sukzessive gewonnen. Die derart gewonnenen Daten werden einem Bild-Verarbeitungsschaltkreis 16 zugeführt. Im Bild-Verarbeitungsschaltkreis 16 wird ein Mittelwert des Ver­ änderungsverhältnisses der Lichtintensität an der Grenze der Teilchenmuster auf Basis der Bilddaten der Vertiefung 11a ge­ wonnen, d.h. einer Grenze zwischen einem Abschnitt, wo die Teil­ chen abgelagert sind, und einem Abschnitt, wo die Teilchen nicht abgelagert sind. Die Bilddaten bezüglich der Bodenfläche einer Vertiefung 11a werden sukzessive aufgenommen mittels der Video­ kamera 15, indem die Mikroplatte 11 und die Videokamera 15 rela­ tiv zueinander zweidimensional bewegt werden.

Nachfolgend wird die Datenverarbeitung im Bild-Verarbeitungs­ kreis 16 näher erläutert.

In dem Bild-Verarbeitungskreis 16 werden zunächst die Bilddaten der Bodenfläche der Vertiefung 11a in Digitaldaten umgewandelt.

Diese Umwandlung wird derart ausgeführt, daß ein heller Bildwert in eine große digitale Zahl und ein dunkler Bildwert in eine kleine digitale Zahl umgewandelt wird. Sodann werden eine gege­ bene Menge von digitalen Daten entsprechend einem vorgegebenen zentralen Abschnitt 17 der Bodenfläche der Vertiefung 11a und eine gegebene Menge der digitalen Daten entsprechend einem Um­ fangsabschnitt 18 herausgegriffen. Fig. 5 zeigt den vorgegebenen zentralen Abschnitt und den vorgegebenen Umfangsabschnitt der Bodenfläche der Vertiefung 11a. Dann wird ein Mittelwert C der digitalen Daten des zentralen Abschnittes 17 und ein Mittelwert P der digitalen Daten eines peripheren Abschnittes 18 gewonnen. Danach wird ein vorgegebener positiver Wert zum Mittelwert C ad­ diert, um einen Wert c zu gewinnen, und ein vorgegebener positi­ ver Wert wird vom Mittelwert P abgezogen, um einen Wert p zu ge­ winnen. Weiterhin werden Daten x von den digitalen Daten des Mittelabschnittes 17 der Vertiefung 11a extrahiert, die der Be­ dingung p < x < c genügen, um Daten bezüglich der Grenze des Teilchenmuster zu erhalten. Diese Daten bezüglich der Grenze des Teilchenmusters sind in den Fig. 2A und 2B durch das Bezugszei­ chen D markiert. Weiterhin werden die extrahierten Daten zwei­ oder eindimensional differenziert, um ein Veränderungsverhältnis der transmittierten Lichtmenge an der Grenze zu gewinnen und es wird ein Mittelwert X davon gebildet.

Der so erhaltene Mittelwert X des Veränderungsverhältnisses der transmittierten Lichtmenge an der Grenze wird in einen Daten- Prozessor 19 eingegeben. Im Daten-Prozessor 19 wird der Mittel­ wert X verglichen mit einem gegebenen Standardwert, um festzu­ stellen, ob das in der Vertiefung 11a gebildete Teilchenmuster agglutiniert ist oder nicht. Das Ergebnis dieser Ermittlung wird in einer Anzeigeeinrichtung 21 gemäß Befehlen angezeigt, die über eine Eingabeeinrichtung 20, wie eine Tastatur, eingegeben werden.

Auf diese Weise werden Bilddaten an der Grenze des Teilchen­ musters extrahiert aus den Bilddaten der Bodenfläche der Vertie­ fung 11a, um das Veränderungsverhältnis der Bilddaten zu erhal­ ten. Das Teilchenmuster wird vermessen und beurteilt entspre­ chend dem Veränderungsverhältnis. Wird deshalb das Teilchen­ muster agglutiniert durch eine schwache Agglutinationskraft, ist es trotzdem möglich, das Muster automatisch und mit großer Si­ cherheit als agglutiniert zu erkennen. Eine zusätzliche Nachprü­ fung durch eine Bedienungsperson ist nicht erforderlich.

Bei dem ersten Ausführungsbeispiel werden zur Gewinnung von Bilddaten der Bodenfläche jeder Vertiefung 11a die Mikroplatte 11 und die Videokamera 15 relativ in zweidimensionaler Weise zu­ einander verschoben. Es ist auch möglich, die Anordnung so durchzuführen, daß zunächst Bilddaten der Mikroplatte 11 als ganzes gewonnen werden und daß sodann Bilddaten jeder einzelnen Vertiefung 11a aus den gesamten Bilddaten der Mikroplatte 11 extrahiert werden, um anschließend die Bilddaten des Musters in der oben genannten Weise zu verarbeiten.

Fig. 6 ist ein Blockdiagramm einer anderen Anordnung zum automa­ tischen Vermessen von Teilchenmustern gemäß einem zweiten Aus­ führungsbeispiel des erfindungsgemäßen Verfahrens. Bei diesem Ausführungsbeispiel wird die Mikroplatte 11 von ihrer Unterseite her durch einen Lichtpunkt (Fleck) beleuchtet, und zwar mittels einer Lichtquelle 32 und einer Linsengruppe 33. Der durch die Mikroplatte 11 und die darin enthaltene Testflüssigkeit durchge­ lassene Lichtfleck wird in einer Licht-Empfangseinrichtung 34 empfangen. Ein Ausgangssignal des Licht-Empfangselementes 34 wird in einer Datenverarbeitungseinrichtung 35 in ein digitales Signal umgewandelt und das digitale Signal wird in einen Daten- Prozessor 36 eingegeben. Die Mikroplatte 11 ist so angeordnet, daß sie in einer horizontalen Ebene mittels einer Mikroplatten- Bewegungseinrichtung 37 unter Steuerung durch den Datenprozessor 36 bewegbar ist. Durch diese Bewegung der Mikroplatte 11 wird eine Vertiefung 11a in Richtung des Durchmessers d gemäß Fig. 7A abgetastet. Fig. 7B zeigt die transmittierte Lichtmenge entlang des Durchmessers d. Die Analog/Digital-Umwandlung in der Daten­ verarbeitungseinrichtung 35 wird so durchgeführt, daß die hellen Daten in eine große digitale Einheit und die dunklen Daten in eine kleine digitale Einheit umgewandelt werden.

Beim zweiten Ausführungsbeispiel werden auf diese Weise die in Fig. 7B gezeigten Lichtmengen-Daten gewonnen und ein Mittelwert des Veränderungsverhältnisses an der Grenze des Teilchenmusters zwischen einem zentralen Abschnitt, wo die Teilchen abgelagert sind, und einem Umfangsabschnitt, wo die Teilchen nicht abgela­ gert sind, wird im Daten-Prozessor 36 entsprechend den Licht- Transmissionsdaten gewonnen.

Nachfolgend wird die Datenverarbeitung im Prozessor 36 näher er­ läutert. Im Daten-Prozessor 36 wird zunächst der Mittelwert C des vorgegebenen zentralen Abschnittes auf dem Durchmesser d be­ züglich jeder Vertiefung 11a der Mikroplatte 11 gewonnen und es wird überdies ein Mittelwert P des vorgegebenen Umfangsabschnit­ tes auf dem Durchmesser D der Vertiefung 11a gewonnen. Sodann wird der Mittelwert C mit einem vorgegebenen positiven Wert mul­ tipliziert, wobei der vorgegebene Wert größer als 1 ist, um einen Wert c zu gewinnen, und der Mittelwert P wird mit einem vorgegebenen Wert multipliziert, der kleiner ist als 1, um einen Wert p zu erhalten, wobei die gegebenen Werte c und p der Bedin­ gung p < c genügen. Sodann werden die Daten, welche der Bedingung p < x < c genügen, aus den Daten des Durchmessers D bezüglich der betroffenen Vertiefung 11a extrahiert, um Daten bezüglich der Grenze zwischen dem zentralen Abschnitt und dem Umfangsabschnitt auf den Durchmesser D zu gewinnen. Durch Differenzierung der extrahierten Daten wird das Veränderungsverhältnis der durchge­ lassenen Lichtmengen auf der Grenze gewonnen und es wird ein Mittelwert X des Veränderungsverhältnisses erhalten.

Danach wird der Mittelwert X mit einem gegebenen Standardwert verglichen, um zu ermitteln, ob das Muster in der betroffenen Vertiefung 11a agglutiniert ist oder nicht.

Nachdem das Teilchenmuster auf diese Weise im Daten-Prozessor 36 untersucht ist, wird das Untersuchungsergebnis auf einer Anzei­ geeinrichtung 39 entsprechend Befehlen angezeigt, die über eine Eingabeeinrichtung 38, wie eine Tastatur, eingegeben sind.

Da, wie oben festgestellt, das Veränderungsverhältnis der an der Grenze des Teilchenmusters auf dem Durchmesser D durchgelassenen Lichtmenge aus den Daten gewonnen wird, welche die auf dem Durchmesser D der Vertiefung 11a durchgelassenen Lichtmengenver­ teilung repräsentieren, ist es möglich, zu beurteilen, ob das Teilchenmuster agglutiniert ist oder nicht aufgrund des Verände­ rungsverhältnisses der durchgelassenen Lichtmenge.

Fig. 8 zeigt eine Vorrichtung zum automatischen Vermessen von Teilchenmustern gemäß einem dritten Ausführungsbeispiel des er­ findungsgemäßen Verfahrens. Bei diesem dritten Ausführungsbei­ spiel wird die Mikroplatte 11 auf einem angetriebenen Tisch (nicht gezeigt) positioniert und der angetriebene Tisch ist so ausgelegt, daß er in bezug auf eine optische Achse der Bild-Auf­ nahmeeinrichtung 43 bewegbar ist. Unter der Mikroplatte 11 ist eine Lichtquelle 42 angeordnet und oberhalb der Mikroplatte 11 ist eine Bild-Aufnahmeeinrichtung 43 vorgesehen, um ein zweidi­ mensionales Bild des Teilchenmusters aufzunehmen, das auf der Bodenfläche jeder Vertiefung 11a der Mikroplatte 11 ausgebildet ist. Bei dem dritten Ausführungsbeispiel wird eine CCD-TV-Kamera als Bild-Aufnahmeeinrichtung 43 verwendet. Eine zweidimensionale Bildinformation des Teilchenmusters, welche mittels der Bild- Aufnahmeeinrichtung 43 erzeugt wird, wird in eine Signal-Verar­ beitungsschaltung 44 eingegeben, um verstärkt und in ein digita­ les Signal umgewandelt zu werden. Das digitale Signal wird in einen Speicher 45 eingegeben, um dort abgespeichert zu werden. Die im Speicher 45 abgespeicherte Bildinformation wird ausge­ lesen und in einen Monitor 46 eingegeben, um die auf der Boden­ fläche der Vertiefung 11a der Mikroplatte 11 gebildete Teilchen­ struktur auf dem Bildschirm des Monitors 46 anzuzeigen. Bei dem dritten Ausführungsbeispiel wird die aus dem Speicher 45 ausge­ lesene zweidimensionale Bildinformation in einen Differenzier­ kreis 47 eingegeben, um einen differenzierten Wert der Bildin­ formation zu erhalten. Die Differenzierung wird mittels Diffe­ renzierungsoperatoren durchgefügt, die in den Fig. 9 und 10 erläutert sind. Ein erster Operator gemäß Fig. 9 ist vorgesehen, um eine Veränderung der Lichtintensität des Bildes in horizon­ taler Richtung zu ermitteln und ein zweiter Operator gemäß Fig. 10 ist vorgesehen, um eine Veränderung der Lichtintensität des Bildes in vertikaler Richtung zu ermitteln. Gemäß Fig. 11 sind neun Bildelemente, die in bezug zueinander ausgerichtet sind und die jeweils eine Bildpunkt-Fläche bilden, aus den Bildinforma­ tionen des Teilchenmusters nacheinander extrahiert. Der Licht- Intensitätswert jedes Bildelementes (Pixel), das aus der Pixel- Fläche besteht, wird multipliziert durch entsprechende Koeffi­ zienten des ersten und zweiten Differenzier-Operators und die so gewonnenen multiplizierten Werte der Lichtintensität werden zu­ einander addiert, um die Summen Y1 und Y2 entsprechend den nach­ folgenden Formeln zu erhalten. Weiterhin wird ein Mittelwert dieser Summen Y1 und Y2 ermittelt, um einen differenzierten Wert Y der Bildpunkt-Fläche zu gewinnen.

Y1 = (-1 × A) + (0 × B) + (1 × C)
   + (-2 × D) + (0 × E) + (2 × F)
   + (-1 × G) + (0 × H) + (1 × I)
Y2 = (-1 × A) + (-2 × B) + (-1 × C)
   + (0 × D) + (0 × E) + (0 × F)
   + (1 × G) + (2 × H) + (1 × I)
Y  = (|Y1| + |Y2|)/2

Nacheinander werden die Bildpunkt-Flächen bezüglich aller Bild­ informationen des Musters durchgerechnet entsprechend den vor­ stehenden Formeln, um differenzierte Werte der Bildpunkt-Flächen zu erhalten, welche das gesamte Bild einer Vertiefung 11a ab­ decken. Die so gewonnenen differenzierten Werte des zweidimen­ sionalen Bildes des Teilchenmusters werden in einen Beurtei­ lungsschaltkreis 48 eingegeben und nacheinander in einem Spei­ cher abgespeichert, der im Kreis 48 vorgesehen ist. Bei diesem dritten Ausführungsbeispiel wird das in der Vertiefung 11a ge­ bildete Teilchenmuster im Beurteilungskreis 48 auf Basis der Verteilung der so gewonnenen differenzierten Werte des zwei­ dimensionalen Bildes des Musters durchgeführt. Ein Beispiel dieser Beurteilung soll nachfolgend mit Hilfe des Flußdiagramms gemäß Fig. 12 erläutert werden. Dieses Beispiel dient dazu, differenzierte Werte bezüglich des Teilchenmusters zu gewinnen, das auf der Bodenfläche einer Vertiefung ausgeformt ist, um zu ermitteln, ob das Teilchenmuster agglutiniert ist oder nicht, wobei die Beurteilung erfolgt aufgrund einer Verteilung der so gewonnenen differenzierten Werte des Musters.

(1) Gestörtes Teilchenmuster

Werden mehr als zweitausendfünfhundert Bildpunkte (Pixel) gefun­ den mit differenzierten Werten von mehr als 20 aber weniger als 40, so wird festgelegt, daß dieses Teilchenmuster außer Form geraten ist. Das heißt, wenn ein Teilchenmuster in diesem Sinne als "außer Form geraten" anzusehen ist, dann erscheint im Teil­ chenmuster eine große Anzahl von Zwischenwerten der Veränderung der Konzentration. Mit anderen Worten, wenn die Anzahl der Bild­ flächen mit differenzierten Werten zwischen 20 und 40 gezählt wird und wenn diese Anzahl den Wert 2500 überschreitet, dann kann dieses Teilchenmuster als "außer Form geraten" angesehen werden.

Da eine solche Verzerrung des Musters nur in einem agglutinierten Teilchenmuster auftritt, wird das Muster als agglutiniert er­ kannt.

(2) Bläschen

Werden zehn oder mehr Bildpunkte mit differenzierten Werten größer als 200 gefunden, so wird dies dahingehend verwertet, daß festgelegt wird, daß das Teilchenmuster Bläschen enthält. Das heißt, falls das Teilchenmuster Bläschen enthält, dann wird die Differenz zwischen Licht und Schatten des Musters sehr groß, so daß sehr viele große differenzierte Werte erhalten werden. Daraus kann man auf die Existenz von Bläschen im Teilchenmuster schließen und der entsprechende Schluß erfolgt mittels der An­ zahl von Bildelementen, die große differenzierte Werte aufwei­ sen.

(3) Agglutiniertes Teilchenmuster (positiv)

Wenn ein Verhältnis, das gewonnen wird durch Division der Anzahl von Bildpunkten A, deren differenzierte Werte größer sind als 20 aber kleiner als 50, durch eine Anzahl von Bildpunkten B, deren differenzierte Werte größer sind als 100 aber kleiner als 200, kleiner ist als 22, dann wird daraus geschlossen, daß das Teil­ chenmuster agglutiniert ist.

(4) Nicht-agglutiniertes Teilchenmuster (negativ)

Beträgt das vorstehend definierte Verhältnis mehr als 40, dann wird daraus geschlossen, daß das Teilchenmuster nicht-aggluti­ niert ist.

(5) Unmöglichkeit der Beurteilung

Eine Probe, deren Verhältnis größer ist als 22 aber kleiner als 40, wird als nicht-beurteilbar eingestuft. Solche Proben müssen von der Bedienungsperson visuell untersucht werden.

Wenn ein Teilchenmuster dahingehend beurteilt wird, daß es Bläschen enthält, wird ein Verhältnis G, welches erhalten wird als G = E/F verglichen mit dem oben definierten Verhältnis R, wobei der Wert E erhalten wird durch Multiplikation der Anzahl von Bildpunkten mit differenzierten Werten größer als 20 aber kleiner als 50 mit dem Faktor 1, 2 und wobei der Wert F erhalten wird durch Multiplikation der Anzahl von Bildpunkten mit diffe­ renzierten Werten oberhalb von 100 aber unterhalb von 200 mit 0,5. Durch Multiplikation der Anzahl von Bildpunkten mit diffe­ renzierten Werten größer als 20 aber kleiner als 50 mit 1,2 und Multiplikation der Anzahl von Bildpunkten mit differenzierten Werten größer als 100 aber kleiner als 200 mit 0,5, wird eine kleine Verändernug von Licht und Schatten des Musters stark gewichtet, während eine starke Veränderung dieser Größen gerin­ ger gewichtet wird, so daß es möglich ist, das Teilchenmuster zu vermessen ohne durch darin eingeschlossene Bläschen beeinflußt zu sein.

Das so gewonnene Meßergebnis wird in eine Anzeigeeinrichtung 49 eingegeben, um auf einen Bildschirm dargestellt zu werden.

In den nachfolgenden Tabellen sind Verteilungen von differen­ zierten Werten von Bildsignalen enthalten, die gewonnen sind durch Aufnehmen von zweidimensionalen Bildern von Teilchen­ mustern bei unterschiedlichen Arten von Proben.

In diesen Tabellen sind nicht nur die Anzahlen der Bildpunkte, die den einzelnen differenzierten Werten gemäß den oben stehen­ den Beurteilungsgrundsätzen zuzuordnen sind, sondern auch die Anzahlen der Bildpunkte angegeben, deren differenzierte Werte größer sind als 200, größer als 100 aber kleiner als 200, größer als 20 aber kleiner als 40, größer als 20 aber kleiner als 50, sowie das Verhältnis R, das kleiner ist als 225, Werte von E und F, das korrigierte Verhältnis G und das Meßergebnis.

Die Proben 1, 6, 7 und 8 sind typische negative Muster. Die Pro­ ben 13 bis 18 sind typische positive Muster und die Proben 9 bis 12 sind nicht zu beurteilen.

Die Proben 3 und 4 werden beurteilt als Bläschen enthaltend, wo­ bei die Probe 3 negativ und die Probe 4 positiv beurteilt werden mittels des korrigierten Verhältnisses G. Die Probe 5 wird zu­ nächst dahingehend beurteilt, daß das Muster außer Form ist, je­ doch schließlich als positiv eingeordnet. Wie sich aus der Ta­ belle und den obigen Erläuterungen ergibt, ist es gemäß dem dritten erfindungsgemäßen Verfahren auch dann möglich, eine genaue Beurteilung dahingehend, ob das Muster agglutiniert ist oder nicht, abzugeben, wenn Bläschen in der Probe enthalten sind oder wenn das Muster gestört ist. Deshalb ist es möglich, die Anzahl von Proben, die visuell nachgeprüft werden müssen, stark einzuschränken. Insbesondere dann, wenn Bläschen im Teilchen­ muster enthalten sind, kann das Muster durch Verwendung der kor­ rigierten differenzierten Werte beurteilt werden. Die Anzahl derjenigen Proben, die als nicht-beurteilbar eingestuft werden, kann erheblich gesenkt werden.

Claims (17)

1. Verfahren zum Untersuchen von Teilchenmustern mit folgenden Schritten:

• - optisches Vermessen des Teilchenmusters, das mittels einer immunologischen Agglutinationsreaktion auf der Bodenfläche eines Reaktionsgefäßes ausgebildet ist, um erste Meßdaten bezüglich des Teilchenmusters zu gewinnen;
• - Entnehmen von zweiten Meßdaten, die sich auf die Grenze des Teilchenmusters beziehen, aus den ersten Meßdaten des Teilchen­ musters, um ein Veränderungsverhältnis der zweiten Meßdaten an der Grenze zu gewinnen; und
• - Beurteilen, ob das in dem Reaktionsgefäß gebildete Teilchen­ muster agglutiniert ist oder nicht aufgrund des so ermittelten Variationsverhältnisses der zweiten Meßdaten an der Grenze des Teilchenmusters.

2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß bei der Messung ein Bild der Bodenfläche des Reaktionsgefäßes als ganzer aufge­ nommen wird, um die ersten Meßdaten des Teilchenmusters zu ge­ winnen, und daß die Entnahme bezüglich eines Teils der Grenze des Teilchenmusters erfolgt.

3. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß bei der Messung ein Bild der Bodenfläche des Reaktionsgefäßes als ganzer aufge­ nommen wird, um die ersten Meßdaten bezüglich des Teilchen­ musters zu gewinnen, und daß bei der Entnahme die zweiten Meß­ daten bezüglich der Grenze auf einem Durchmesser des Reaktions­ gefäßes aus den ersten Meßdaten des Teilchenmusters entnommen werden.

4. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß bei der Entnahme eine Lichtmengenverteilung in einem vorgegebenen mittleren Ab­ schnitt der Bodenfläche des Reaktionsgefäßes sowie ein diesbe­ züglicher Mittelwert sowie eine Lichtmengenverteilung in einem vorgegebenen Umfangsabschnitt der Bodenfläche des Reaktionsge­ fäßes und ein diesbezüglicher Mittelwert gewonnen werden, und daß bei der Beurteilung die so gewonnenen Mittelwerte mit je­ weiligen Standardwerten verglichen werden, um zu ermitteln, ob das Teilchenmuster agglutiniert ist oder nicht.

5. Verfahren nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß bei der Entnahme eine Lichtmengenverteilung in einem vorgegebenen mittleren Ab­ schnitt eines Durchmessers des Reaktionsgefäßes sowie ein dies­ bezüglicher Mittelwert, sowie eine Lichtmengenverteilung in einem vorgegebenen Umfangsabschnitt des Durchmessers des Reak­ tionsgefäßes und ein diesbezüglicher Mittelwert gewonnen werden, und daß bei der Beurteilung die so gewonnenen Mittelwerte mit jeweiligen Standardwerten verglichen werden, um zu ermitteln, ob das Teilchenmuster agglutiniert ist oder nicht.

6. Verfahren zum Untersuchen von Teilchenmustern mit folgenden Schritten:

• - Aufnehmen eines zweidimensionalen Bildes eines Teilchen­ musters, das auf der Bodenfläche eines Reaktionsgefäßes durch eine immunologische Agglutinationsreaktion gebildet ist, um eine Bildinformation bezüglich des Teilchenmusters zu erhalten;
• - Differenzieren der genannten Bildinformation, um differenzier­ te Werte derselben zu gewinnen; und
• - Beurteilen, ob das Teilchenmuster agglutiniert ist oder nicht auf Basis der Verteilung der differenzierten Werte der Bildin­ formation.

7. Verfahren nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß die Differenzie­ rung mittels eines ersten Differenzieroperators durchgeführt wird, um eine Variation der Lichtintensität bezüglich des Teil­ chenmusters in horizontaler Richtung zu gewinnen, und mittels eines zweiten Differenzieroperators, um eine Variation der Lichtintensität bezüglich des Teilchenmusters in vertikaler Richtung zu gewinnen.

8. Verfahren nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß beim Differenzie­ ren eine Anzahl von Bildelementen extrahiert wird, welche zuein­ ander ausgerichtet sind, bestehend aus einer Bildelement-Fläche der Bildinformation des Teilchenmusters; daß die Lichtintensität jedes Bildelementes, das aus einer Bildelement-Fläche besteht, mit einem Koeffizienten der genannten ersten und zweiten Diffe­ renzieroperatoren und Addieren jedes multiplizierten Wertes ge­ mäß den folgenden Gleichungen: Y1 = (-1 × A) + (0 × B) + (1 × C)
   + (-2 × D) + (0 × E) + (2 × F)
   + (-1 × G) + (0 × H) + (1 × I)
Y2 = (-1 × A) + (-2 × B) + (-1 × C)
   + (0 × D) + (0 × E) + (0 × F)
   + (1 × G) + (2 × H) + (1 × I)
Y  = (|Y1| + |Y2|)/2wobei Y1 einen Wert darstellt, der berechnet ist unter Verwen­ dung des ersten Differenzieroperators und Y2 einen Wert dar­ stellt, der berechnet ist unter Verwendung des zweiten Diffe­ renzieroperators;
daß ein Mittelwert von Y1 und Y2 gewonnen wird durch die Gleichung Y = (|Y1|+|Y2|)/2, um die differenzierten Werte der Bildelement-Fläche zu erhalten; und daß nacheinander die Bild­ punktflächen bezüglich des gesamten Teilchenmusters extrahiert werden.

9. Verfahren nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß beim Untersuchen des Teilchenmusters dasselbe als agglutiniert eingestuft wird, wenn 2500 oder mehr extrahierte Bildelemente gefunden werden, die jeweils differenzierte Werte von mehr als 20 und weniger als 40 aufweisen.

10. Verfahren nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß bei der Beurtei­ lung des Teilchenmusters eine erste Anzahl von Bildelement- Flächen gewonnen wird, die jeweils differenzierte Werte von mehr als 20 aber weniger als 50 aufweisen und eine zweite Anzahl von Bildelemenet-Flächen, die jeweils differenzierte Werte von mehr als 100 aber weniger als 200 aufweisen, und daß das Teilchen­ muster als agglutiniert eingestuft wird, wenn der Werte, der er­ halten wird durch Division der ersten Bildelement-Anzahl durch die zweite Bildelement-Anzahl, kleiner ist als 22.

11. Verfahren nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß bei der Unter­ suchung des Teilchenmusters eine erste Anzahl von Bildelement- Flächen gewonnen wird, bei denen jeweils der differenzierte Wert größer als 20 aber kleiner als 50 ist, sowie eine zweite Anzahl von Bildelement-Flächen, bei denen der differenzierte Wert größer als 100 aber kleiner als 200 ist, und daß das Teilchen­ muster als nicht-agglutiniert eingestuft wird, wenn derjenige Wert, der erhalten wird durch Division der ersten Anzahl durch die zweite Anzahl, größer als 40 ist.

12. Verfahren nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß bei der Beurtei­ lung des Teilchenmusters eine erste Anzahl von Bildelement- Flächen gewonnen wird, deren differenzierte Werte größer als 20 aber kleiner 50 sind, sowie eine zweite Anzahl von Bildelement- Flächen, deren differenzierte Werte größer als 100 aber kleiner als 200 sind, und daß das Teilchenmuster als hinsichtlich der Agglutination nicht einstufbar beurteilt wird, wenn derjenige Wert, der erhalten wird durch Division der ersten Anzahl durch die zweite Anzahl größer als 22 aber kleiner als 40 ist.

13. Verfahren nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß bei der Beurtei­ lung des Teilchenmusters ein Vorhandensein von Bläschen im Teil­ chenmuster dadurch gemessen wird, daß 10 oder mehr Bildelement- Flächen gefunden werden, von denen jede differenzierte Werte von 200 oder mehr aufweist aus den differenzierten Werten bezüglich aller Bildelement-Flächen, die das Teilchenmuster bilden.

14. Verfahren nach Anspruch 13, dadurch gekennzeichnet, daß bei der Beurtei­ lung des Teilchenmusters erste Bildelement-Flächen extrahiert werden, die jeweils differenzierte Werte von mehr als 20 aber weniger als 50 aufweisen und daß die Anzahl der ersten Bildele­ ment-Flächen mit einem Faktor 1,2 multipliziert wird, um einen Wert c zu gewinnen; daß zweite Bildelement-Flächen extrahiert werden, die jeweils differenzierte Werte von mehr als 100 aber weniger als 200 aufweisen, und daß die Anzahl der zweiten Bild­ element-Flächen mit 0,5 multipliziert wird, um einen Wert d zu erhalten, und daß das Verhältnis zwischen den Werten c und d gebildet wird.

15. Verfahren nach Anspruch 14, dadurch gekennzeichnet, daß das Teilchenmuster als agglutiniert eingestuft wird, wenn das genannte Verhältnis kleiner als 22 ist.

16. Verfahren nach Anspruch 14, dadurch gekennzeichnet, daß das Teilchenmuster als nicht-agglutiniert eingestuft wird, wenn das Verhältnis größer als 40 ist.

17. Verfahren nach Anspruch 14, dadurch gekennzeichnet, daß das Teilchenmuster hinsichtlich der Agglutination als nicht-beurteilbar eingestuft wird, wenn das Verhältnis größer als 22 aber kleiner als 40 ist.