Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Untersuchen von Teil
chenmustern mit den Merkmalen des Oberbegriffs des Anspruchs 1,
bei dem eine Probe und ein Reagenz in einem Reak
tionsgefäß gemischt werden, um eine immunologische Agglutina
tionsreaktion (im Gefäß) zu bewirken, wobei sich am Boden des
Reaktionsgefäßes ein Teilchenmuster ausbildet, welches mit
optischen Mitteln vermessen wird, um automatisch zu bestimmen,
ob das Teilchenmuster einer Agglutination entspricht oder nicht
und wobei auch andere Eigenschaften des Musters für medizinische
Zwecke untersucht werden können.
In der japanischen Patent-Offenlegungschrift 58-105065 wird ein
Verfahren zum Beurteilen von Teilchenmustern beschrieben, bei
dem ein sich am Boden eines Reaktionsgefäßes durch eine Aggluti
nationsreaktion bildendes Teilchenmuster optisch vermessen wird
und bei dem ein Verhältnis der Helligkeiten eines zentralen Ab
schnittes des Reaktionsgefäßes und eines Umfangsabschnittes ge
bildet wird, um zu ermitteln, ob dem Teilchenmuster eine Agglu
tination zugrunde liegt oder nicht. Eine solche Technik zum
Untersuchen von Teilchenmustern ist auch in der US-PS 4 727 033
beschrieben, bei der Lichtintensitäten von zentralen und peri
pheren Abschnitten des geneigten Bodens des Reaktionsgefäßes ge
trennt voneinander gemessen werden unter Verwendung von zwei
lichtempfangenden Elementen und bei dem die Beurteilung hin
sichtlich der Bildung eines Teilchenmusters auf dem Boden dahin
gehend, ob eine Agglutination vorliegt oder nicht, aufgrund des
Verhältnisses zwischen den Ausgangssignalen der lichtempfangen
den Elemente getroffen wird. Das heißt, wenn das Teilchenmuster
agglutiniert ist, sind die Teilchen gleichförmig auf der Boden
fläche des Reaktionsgefäßes abgelagert, so daß die Differenz der
Lichtintensitäten der genannten lichtempfangenden Elemente ge
ring ist, während im Gegensatz hierzu dann, wenn die Teilchen
nicht agglutiniert sind, dieselben auf den geneigten Boden nach
unten rutschen und sich im mittleren Abschnitt des Gefäßes sam
meln, so daß die Differenz zwischen den Lichtintensitäten
relativ groß ist. Bei einem solchen herkömmlichen Verfahren zum
Untersuchen von Teilchenmustern wird das so erhaltene Verhältnis
verglichen mit vorgegebenen oberen und unteren Grenzwerten. Ist
das Verhältnis größer als der obere Grenzwert, wird das Teil
chenmuster als agglutiniert erkannt, während dann, wenn das Ver
hältnis kleiner ist als der untere Grenzwert, das Teilchenmuster
als nicht-agglutiniert beurteilt wird. Ist das Verhältnis zwi
schen dem oberen und dem unteren Grenzwert, so wird das Teil
chenmuster als nicht eindeutig identifizierbar beurteilt und es
ist deshalb unmöglich, dieses Muster automatisch zu untersuchen.
In den japanischen Patentveröffentlichungen 61-215948,
62-105031, 63-58237 und 63-256839 werden andere Verfahren zum
Untersuchen von Teilchenmustern beschrieben, bei denen Aggluti
nationsreaktionen durchgeführt werden in einer Anzahl von Ver
tiefungen, die in einer Mikroplatte ausgebildet sind und bei
denen ein optisches Bild der Vertiefungen mittels einer TV-Kame
ra aufgenommen wird. Die Bilddaten jeder Vertiefung werden mit
tels eines Rechners verarbeitet, um eine Fläche zu ermitteln, wo
die Teilchen jeder Vertiefung auf der Bodenfläche abgelagert
sind und die Teilchenstruktur wird hinsichtlich der Frage, ob
eine Agglutination vorliegt oder nicht, auf der Grundlage der so
gewonnenen Fläche ermittelt.
Nach einem aus der japanischen Patentveröffentlichung 63-58 237
bekannten Verfahren wird ein Bild der Bodenfläche jeder Vertie
fung in der Mikroplatte mittels einer TV-Kamera aufgenommen, um
entsprechende Bildsignale zu gewinnen, die Daten eines Mittel
punktes der Vertiefung werden gewonnen durch Verarbeitung der
erhaltenen Bildsignale, eine Kontur des in der Vertiefung ge
bildeten Teilchenmusters wird gewonnen durch Ermittlung des
Unterschiedes der Helligkeiten der Bildsignale innerhalb eines
Kreises, der um den Mittelpunkt gelegt ist und der Bildsignale
außerhalb dieses Kreises, die Fläche innerhalb der so gewonnenen
Kontur wird ermittelt und sodann wird die so gewonnene Fläche
mit einem vorgegebenen Standardwert verglichen. Ist die Fläche
größer als der Standardwert, so wird das Teilchenmuster als
agglutiniert eingestuft und dann, wenn die Fläche geringer ist
als der Standardwert, wird das Teilchenmuster als nicht-agglu
tiniert bewertet. Das heißt, bei diesem herkömmlichen Verfahren
wird das Teilchenmuster vermessen mittels einer Vielzahl von
Bildpunkten, die den im zentralen Bereich der Vertiefung gesam
melten Teilchen entsprechen.
In der japanischen Patentveröffentlichung 63-256839 wird ein
anderes Verfahren beschrieben, bei dem der Mittelpunkt der Ver
tiefung in ähnlicher Weise wie oben gewonnen wird, während die
Beurteilung derart erfolgt, daß eine Relativbeziehung zwischen
der Abmessung des mittleren Abschnittes, wo die Teilchen auf der
Bodenfläche des Reaktionsgefäßes abgelagert sind, und einer
Standard-Abweichung des Differentialkoeffizienten der Teilchen
struktur verwendet wird.
Bei den vorstehend erwähnten herkömmlichen Verfahren besteht
aber der Nachteil, daß es nicht möglichst ist, mit hinreichender
Genauigkeit zu beurteilen, ob dem Teilchenmuster eine Agglutina
tion zugrunde liegt oder nicht. Falls die Agglutinationskräfte
der zu untersuchenden Teilchen so schwach sind, daß eine große
Wahrscheinlichkeit besteht, daß eine Agglutinationstruktur
(Muster) fast die gleiche Form hat als eine nicht-agglutinierte
Struktur auf der Bodenfläche des Reaktionsgefäßes ist es sehr
schwierig, automatisch festzustellen, welchen Charakter das
Teilchenmuster hat. Deshalb ist bei den herkömmlichen Verfahren
die Zuverlässigkeit der Beurteilung so gering, daß eine Bedie
nungsperson die Muster visuell zu untersuchen und das mit einer
automatischen Vorrichtung gewonnene Ergebnis zu korrigieren hat.
Dies erfordert beträchtliche zusätzliche Arbeit. Bei den in der
JP 58-105065 und der US-PS 4 272 033 beschriebenen Verfahren be
steht das Problem, daß die Anzahl der Proben, welche nur als
zweifelhaft vermeßbar sind, sehr groß wird, weil die Agglutina
tionsreaktion im allgemeinen sehr empfindlich ist, so daß in
einer Vielzahl von Fällen zweifelhafte Teilchenmuster gebildet
werden. Deshalb ist die Effektivität bei der Vermessung derarti
ger Proben sehr gering und auch menschliche Fehler auf seiten
der Bedienungsperson treten häufig auf. Die Meßgenauigkeit und
auch die Zuverlässigkeit der Messung leidet.
Bei einem Verfahren gemäß der japanischen Patentveröffentlichung
63-58 237 ist es möglich, den Mittelpunkt der Teilchenstruktur
exakt zu bestimmen, jedoch hängt die Abmessung des Abschnittes,
in dem sich die Teilchen auf der Bodenfläche des Gefäßes abla
gern, nicht nur davon ab, ob die Teilchen agglutiniert sind oder
nicht sondern auch davon, wie groß die Menge der Probe oder des
Reagenzes ist. Auch hier ist es sehr schwer, genaue Messungen
durchzuführen.
Bei dem aus der japanischen Patentveröffentlichung 63-256839 be
kannten Verfahren ist das Meßergebnis durch Bläschen beeinfluß
bar, die in der Testflüssigkeit enthalten sind und auch durch
den Umstand, daß das Muster außer Form gerät oder sogar verzerrt
wird, was ebenfalls die genaue Messung beeinträchtigt.
Aus der EP 0 165 551 A1 ist ein optisches Verfahren zum Nachweis
und zur Bestimmung eines Partners einer Reaktion mittels
Agglutination und zur quantitativen Auswertung von Agglutiations
mustern bekannt, bei dem die durch die Präzipitate der Aggluti
nationsreaktion begrenzte Fläche unmittelbar gemessen wird
und daraus Menge oder Aktivität des Partners der immunologischen
Reaktion quantitativ bestimmt werden. Dies ist bei diesem
Verfahren möglich, weil die Menge oder Aktivität der Reaktions
partner eine monoton wachsende Funktion der Flächengröße ist.
Dazu wird der Ort der Kante des zentralen Abschnitts des Teilchen
musters arithmetisch bestimmt und dann aufgrund dieses Ortes
beurteilt, ob das Teilchenmuster agglutiniert ist oder
nicht.
Aus EP 0 257 660 A2 ist ein Verfahren zur Beurteilung der Agglu
tination bekannt, bei dem die Kante eines zentralen Abschnitts
eines Teilchenmusters aufgrund von Differentiationswerten
bestimmt wird. Aus den Differentiationswerten wird die
Fläche des zentralen Abschnitts ermittelt, der durch die Kante
eingegrenzt wird.
Die vorliegende Erfindung hat deshalb zum Ziel, die vorstehend
erwähnten Nachteile des Standes der Technik zu überwinden und
ein Verfahren zum Untersuchen eines auf dem geneigten Boden eines
Reaktionsgefäßes ausgeformten Teilchenmusters anzugeben, mit
dem es möglich ist, auch dann exakt zu beurteilen, ob ein Teil
chenmuster agglutiniert ist oder nicht, wenn die Agglutinations
kräfte der Teilchen sehr schwach sind, und bei dem es weiterhin
möglich ist, eine genaue Messung ohne Beeinflussung durch Bläs
chen durchzuführen und bei dem auch eine Verfälschung der
Struktur durch Verzerrung des Musters ausgeschlossen ist. Wei
terhin soll bei dem erfindungsgemäßen Verfahren die Anzahl der
Proben, bei denen eine Nachprüfung durch eine Bedienungsperson
mit visuellen Mitteln erforderlich ist, stark reduziert werden,
so daß die Messung mit hohem Wirkungsgrad und hoher Genauigkeit
durchführbar ist.
Das erfindungsgemäße Verfahren
weist die im Anspruch 1 gekennzeichneten Schritte auf.
Wenn eine Testflüssigkeit mit zu untersuchenden Teilchen in ein
Reaktionsgefäß eingegeben wird, das eine konische Bodenfläche
aufweist, zeigen sich bisweilen nicht-agglutinierte Teilchen
muster, die fast die gleiche Form haben wie ein agglutiniertes
Teilchenmuster, weil die Agglutinationskräfte der Testflüssig
keit sehr schwach sind. Fig. 1A zeigt ein Beispiel für ein der
artiges, nicht-agglutiniertes Teilchenmuster und Fig. 1B zeigt
ein agglutiniertes Teilchenmuster. Es hat sich aber gezeigt, daß
dabei die Grenze der agglutinierten Struktur gemäß Fig. 1B im
Vergleich mit der Grenze der nicht-agglutinierten Struktur gemäß
Fig. 1A weniger eindeutig (scharf) ist. Nach dem erfindungsge
mäßen Verfahren ist es möglich, solche nicht-agglutinierten
Teilchenmuster, die fast die gleiche Form haben wie ein agglu
tiniertes Teilchenmuster, dadurch zu unterscheiden, daß die vor
stehend erwähnte Grenz-Eigenschaft untersucht wird.
Die Fig. 2A und 2B zeigen die Variation der durch das Reaktions
gefäß und die darin enthaltene Testflüssigkeit durchgelassenen
Lichtmenge auf geraden Linien A und B, welche durch die Mittel
punkte der Reaktionsgefäße 1 gemäß den Fig. 1A und 1B gehen.
Werden die Grenzen der Teilchenmuster näher betrachtet, was in
den Figuren durch den Pfeil "D" angedeutet ist, dann ergibt
sich, daß das Veränderungsverhältnis bezüglich der an der Grenze
des Teilchenmusters durchgelassenen Lichtmenge in Fig. 2B klei
ner ist als bei dem nicht-agglutinierten Teilchenmuster gemäß
Fig. 2A. Deshalb ist es möglich durch Gewinnung von Meßdaten
bezüglich der Extinktion an den Grenzen bei Messung der Licht
mengen auf geraden Linien A und B und durch Bestimmung des Ver
änderungsverhältnisses der Meßdaten an der Grenze agglutinierte
Teilchenmuster und nicht-agglutinierte Teilchenmuster zu unter
scheiden, auch wenn die Agglutinationskräfte schwach sind.
Es ist möglich, das Veränderungsverhältnis der Lichtmenge auf
der Grenze dadurch zu gewinnen, daß Bilddaten an der Grenze auf
einer geraden Linie gewonnen werden, die den Mittelpunkt der auf
der Bodenfläche gebildeten Teilchenstruktur schneidet und zwar
des Teilchenmusters als ganzes, oder durch Extraktion von Bild
daten eines Teils oder der ganzen Grenze aus den Bilddaten der
Bodenfläche und anschließende Verarbeitung der extrahierten
Bilddaten in einem Rechner. Weiterhin kann die Grenze des Teil
chenmusters auch dadurch ermittelt werden, daß eine mittlere
Helligkeit gezählt wird auf Basis der Helligkeit des Mittelab
schnittes der Bodenfläche des Gefäßes und eines Umfangsabschnit
tes derselben sowie eines Abschnittes, der eine solche mittlere
Helligkeit aufweist und damit als Grenze ermittelbar ist. In
diesem Falle kann durch Vermessung des Variationsverhältnisses
derjenigen Daten, welche den Abschnitt mit mittlerer Helligkeit
betreffen, festgestellt werden, ob ein agglutiniertes Teilchen
muster vorliegt oder ein nicht-agglutiniertes.
Gemäß einer bevorzugten Ausgestaltung des erfindungsgemäßen Verfahrens
sind die in den Unteransprüchen gekennzeichneten Schritte vorgesehen.
Nachfolgend wird die Erfindung anhand der Zeichnung näher erläu
tert. Es zeigt bzw. zeigen:
Fig. 1A und 1B schematische Ansichten von Teilchenmustern,
die in einem Reaktionsgefäß gebildet sind;
Fig. 2A und 2B schematische Ansichten von Lichtmengen, die
auf geraden Linien A und B gemessen werden,
welche die Mittelpunkte der Reaktionsgefäße
gemäß den Fig. 1A und 1B schneiden, wobei die
se Figuren die Erfindung illustrieren;
Fig. 3 ein Blockdiagramm eines Ausführungsbeispieles
einer Vorrichtung zum automatischen Vermessen
von Teilchenmustern, mit dem ein erstes Aus
führungsbeispiel eines erfindungsgemäßen Ver
fahrens ausführbar ist;
Fig. 4 eine schematische Darstellung einer Mikroplat
te, welche zusammen mit einer Vorrichtung
gemäß Fig. 3 verwendet wird;
Fig. 5 eine schematische Darstellung einer einzigen
aus einer Vielzahl von in der Mikroplatte aus
geformten Vertiefungen, wobei vorab Flächen
angezeigt sind zum Gewinnen eines Mittelwertes
des Veränderungsverhältnisses der Lichtmenge;
Fig. 6 ein Blockdiagramm eines anderen Ausführungs
beispieles einer Vorrichtung zum automatischen
Vermessen von Teilchenmustern, wobei mit
dieser Vorrichtung ein zweites erfindungsge
mäßes Verfahren durchführbar ist;
Fig. 7A und 7B schematische Darstellungen eines Teilchen
musters, das in einer Vertiefung in einer
Mikroplatte gebildet wird sowie einer Verände
rung der auf einer geraden Linie C durchgelas
senen Lichtmenge, wobei diese Figuren das
zweite Ausführungsbeispiel gemäß Fig. 6 illu
strieren.
Fig. 3 ist ein Blockdiagramm einer Vorrichtung zum automatischen
Vermessen von Teilchenmustern, mit der ein erstes Ausführungs
beispiel eines erfindungsgemäßen Verfahrens durchführbar ist.
Bei diesem Ausführungsbeispiel wird eine Mikroplatte 11, in der
eine Vielzahl von Vertiefungen 11a matrixförmig ausgebildet sind
(Fig. 4), verwendet, wobei die Vertiefungen als Reaktionsgefäße
dienen. Die Mikroplatte 11 besteht aus transparentem Material,
wie einem Acryl-Kunstharz. Wie Fig. 3 zu entnehmen ist, wird die
Mikroplatte 11 durch eine Fluoreszenz-Lampe 13 auf der Untersei
te beleuchtet. Die Fluoreszenz-Lampe 13 ist mit einer Fluores
zenz-Stromversorgung 12 verbunden. Jede Vertiefung 11a der
Mikroplatte 11 hat eine konische Bodenfläche. Testflüssigkeit
einschließlich zu untersuchender Teilchen ist in den Vertiefun
gen 11a enthalten. Nachdem eine Probe und ein Reagenz jeweils in
den Vertiefungen 11a gemischt sind, bildet sich ein Teilchen
muster auf der Bodenfläche der Vertiefung 11a, wobei die Mikro
platte ortsfest gehalten ist. Mittels einer Videokamera 15 wird
von jeder Vertiefung 11a ein Bild der Bodenfläche aufgenommen,
wobei die Vertiefungen mittels der Fluoreszenz-Lampe 13 beleuch
tet sind. Die Kamera ist oberhalb der Mikroplatte 11 angeordnet
und die Bilder werden sukzessive gewonnen. Die derart gewonnenen
Daten werden einem Bild-Verarbeitungsschaltkreis 16 zugeführt.
Im Bild-Verarbeitungsschaltkreis 16 wird ein Mittelwert des Ver
änderungsverhältnisses der Lichtintensität an der Grenze der
Teilchenmuster auf Basis der Bilddaten der Vertiefung 11a ge
wonnen, d. h. einer Grenze zwischen dem zentralen Abschnitt
und einem Umfangsabschnitt.
Die Bilddaten bezüglich der Bodenfläche einer
Vertiefung 11a werden sukzessive aufgenommen mittels der Video
kamera 15, indem die Mikroplatte 11 und die Videokamera 15 rela
tiv zueinander zweidimensional bewegt werden.
Nachfolgend wird die Datenverarbeitung im Bild-Verarbeitungs
kreis 16 näher erläutert.
In dem Bild-Verarbeitungskreis 16 werden zunächst die Bilddaten
der Bodenfläche der Vertiefung 11a in Digitaldaten umgewandelt.
Diese Umwandlung wird derart ausgeführt, daß ein heller Bildwert
in eine große digitale Zahl und ein dunkler Bildwert in eine
kleine digitale Zahl umgewandelt wird. Sodann werden eine gege
bene Menge von digitalen Daten entsprechend einem vorgegebenen
zentralen Abschnitt 17 der Bodenfläche der Vertiefung 11a und
eine gegebene Menge der digitalen Daten entsprechend einem Um
fangsabschnitt 18 herausgegriffen. Fig. 5 zeigt den vorgegebenen
zentralen Abschnitt und den vorgegebenen Umfangsabschnitt der
Bodenfläche der Vertiefung 11a. Dann wird ein Mittelwert C der
digitalen Daten des zentralen Abschnittes 17 und ein Mittelwert
P der digitalen Daten eines peripheren Abschnittes 18 gewonnen.
Danach wird ein vorgegebener positiver Wert zum Mittelwert C ad
diert, um einen Wert c zu gewinnen, und ein vorgegebener positi
ver Wert wird vom Mittelwert P abgezogen, um einen Wert p zu ge
winnen. Weiterhin werden Daten x von den digitalen Daten des
Mittelabschnittes 17 der Vertiefung 11a extrahiert, die der Be
dingung p<x<c genügen, um Daten bezüglich der Grenze des
Teilchenmuster zu erhalten. Diese Daten bezüglich der Grenze des
Teilchenmusters sind in den Fig. 2A und 2B durch das Bezugszei
chen D markiert. Weiterhin werden die extrahierten Daten zwei-
oder eindimensional differenziert, um ein Veränderungsverhältnis
der transmittierten Lichtmenge an der Grenze zu gewinnen und es
wird ein Mittelwert X davon gebildet.
Der so erhaltene Mittelwert X des Veränderungsverhältnisses der
transmittierten Lichtmenge an der Grenze wird in einen Daten-
Prozessor 19 eingegeben. Im Daten-Prozessor 19 wird der Mittel
wert X verglichen mit einem gegebenen Standardwert, um festzu
stellen, ob das in der Vertiefung 11a gebildete Teilchenmuster
agglutiniert ist oder nicht. Das Ergebnis dieser Ermittlung wird
in einer Anzeigeeinrichtung 21 gemäß Befehlen angezeigt, die
über eine Eingabeeinrichtung 20, wie eine Tastatur, eingegeben
werden.
Auf diese Weise werden Bilddaten an der Grenze des Teilchen
musters extrahiert aus den Bilddaten der Bodenfläche der Vertie
fung 11a, um das Veränderungsverhältnis der Bilddaten zu erhal
ten. Das Teilchenmuster wird vermessen und beurteilt entspre
chend dem Veränderungsverhältnis. Wird deshalb das Teilchen
muster agglutiniert durch eine schwache Agglutinationskraft, ist
es trotzdem möglich, das Muster automatisch und mit großer Si
cherheit als agglutiniert zu erkennen. Eine zusätzliche Nachprü
fung durch eine Bedienungsperson ist nicht erforderlich.
Bei dem ersten Ausführungsbeispiel werden zur Gewinnung von
Bilddaten der Bodenfläche jeder Vertiefung 11a die Mikroplatte
11 und die Videokamera 15 relativ in zweidimensionaler Weise zu
einander verschoben. Es ist auch möglich, die Anordnung so
durchzuführen, daß zunächst Bilddaten der Mikroplatte 11 als
ganzes gewonnen werden und daß sodann Bilddaten jeder einzelnen
Vertiefung 11a aus den gesamten Bilddaten der Mikroplatte 11
extrahiert werden, um anschließend die Bilddaten des Musters in
der oben genannten Weise zu verarbeiten.
Fig. 6 ist ein Blockdiagramm einer anderen Anordnung zum automa
tischen Vermessen von Teilchenmustern gemäß einem zweiten Aus
führungsbeispiel des erfindungsgemäßen Verfahrens. Bei diesem
Ausführungsbeispiel wird die Mikroplatte 11 von ihrer Unterseite
her durch einen Lichtpunkt (Fleck) beleuchtet, und zwar mittels
einer Lichtquelle 32 und einer Linsengruppe 33. Der durch die
Mikroplatte 11 und die darin enthaltene Testflüssigkeit durchge
lassene Lichtfleck wird in einer Licht-Empfangseinrichtung 34
empfangen. Ein Ausgangssignal des Licht-Empfangselementes 34
wird in einer Datenverarbeitungseinrichtung 35 in ein digitales
Signal umgewandelt und das digitale Signal wird in einen Daten-
Prozessor 36 eingegeben. Die Mikroplatte 11 ist so angeordnet,
daß sie in einer horizontalen Ebene mittels einer Mikroplatten-
Bewegungseinrichtung 37 unter Steuerung durch den Datenprozessor
36 bewegbar ist. Durch diese Bewegung der Mikroplatte 11 wird
eine Vertiefung 11a in Richtung des Durchmessers d gemäß Fig. 7A
abgetastet. Fig. 7B zeigt die transmittierte Lichtmenge entlang
des Durchmessers d. Die Analog/Digital-Umwandlung in der Daten
verarbeitungseinrichtung 35 wird so durchgeführt, daß die hellen
Daten in eine große digitale Einheit und die dunklen Daten in
eine kleine digitale Einheit umgewandelt werden.
Beim zweiten Ausführungsbeispiel werden auf diese Weise die in
Fig. 7B gezeigten Lichtmengen-Daten gewonnen und ein Mittelwert
des Veränderungsverhältnisses an der Grenze des Teilchenmusters
zwischen einem zentralen Abschnitt und einem Umfangsabschnitt
wird im Daten-Prozessor 36 entsprechend den Licht-
Transmissionsdaten gewonnen.
Nachfolgend wird die Datenverarbeitung im Prozessor 36 näher er
läutert. Im Daten-Prozessor 36 wird zunächst der Mittelwert C
des vorgegebenen zentralen Abschnittes auf dem Durchmesser d be
züglich jeder Vertiefung 11a der Mikroplatte 11 gewonnen und es
wird überdies ein Mittelwert P des vorgegebenen Umfangsabschnit
tes auf dem Durchmesser D der Vertiefung 11a gewonnen. Sodann
wird der Mittelwert C mit einem vorgegebenen positiven Wert mul
tipliziert, wobei der vorgegebene Wert größer als 1 ist, um
einen Wert c zu gewinnen, und der Mittelwert P wird mit einem
vorgegebenen Wert multipliziert, der kleiner ist als 1, um einen
Wert p zu erhalten, wobei die gegebenen Werte c und p der Bedin
gung p<c genügen. Sodann werden die Daten, welche der Bedingung
p<x<c genügen, aus den Daten des Durchmessers D bezüglich der
betroffenen Vertiefung 11a extrahiert, um Daten bezüglich der
Grenze zwischen dem zentralen Abschnitt und dem Umfangsabschnitt
auf den Durchmesser D zu gewinnen. Durch Differenzierung der
extrahierten Daten wird das Veränderungsverhältnis der durchge
lassenen Lichtmengen auf der Grenze gewonnen und es wird ein
Mittelwert X des Veränderungsverhältnisses erhalten.
Danach wird der Mittelwert X mit einem gegebenen Standardwert
verglichen, um zu ermitteln, ob das Muster in der betroffenen
Vertiefung 11a agglutiniert ist oder nicht.
Nachdem das Teilchenmuster auf diese Weise im Daten-Prozessor 36
untersucht ist, wird das Untersuchungsergebnis auf einer Anzei
geeinrichtung 39 entsprechend Befehlen angezeigt, die über eine
Eingabeeinrichtung 38, wie eine Tastatur, eingegeben sind.
Da, wie oben festgestellt, das Veränderungsverhältnis der an der
Grenze des Teilchenmusters auf dem Durchmesser D durchgelassenen
Lichtmenge aus den Daten gewonnen wird, welche die auf dem
Durchmesser D der Vertiefung 11a durchgelassenen Lichtmengenver
teilung repräsentieren, ist es möglich, zu beurteilen, ob das
Teilchenmuster agglutiniert ist oder nicht aufgrund des Verände
rungsverhältnisses der durchgelassenen Lichtmenge.