DE3911052C2 - - Google Patents

Info

Publication number
DE3911052C2
DE3911052C2 DE19893911052 DE3911052A DE3911052C2 DE 3911052 C2 DE3911052 C2 DE 3911052C2 DE 19893911052 DE19893911052 DE 19893911052 DE 3911052 A DE3911052 A DE 3911052A DE 3911052 C2 DE3911052 C2 DE 3911052C2
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
emitted light
excited
intensity
amount
excitation
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
DE19893911052
Other languages
English (en)
Other versions
DE3911052A1 (de
Inventor
Gert Dr. 7520 Bruchsal De Meisel
Werner Dr. 7530 Pforzheim De Kaelber
Juergen 7500 Karlsruhe De Rink
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Forschungszentrum Karlsruhe GmbH
Original Assignee
Kernforschungszentrum Karlsruhe GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Kernforschungszentrum Karlsruhe GmbH filed Critical Kernforschungszentrum Karlsruhe GmbH
Priority to DE19893911052 priority Critical patent/DE3911052A1/de
Publication of DE3911052A1 publication Critical patent/DE3911052A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE3911052C2 publication Critical patent/DE3911052C2/de
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/62Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
    • G01N21/63Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited

Description

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Reduktion der spek­ tralen Linienbreite des von angeregten und in einer Paulschen Ionenfalle elektrodynamisch gespeicherten Gasionen emittierten Lichts nach dem Oberbegriff der nebengeordneten Patentansprüche 1 und 3.
Bei spektroskopischen Untersuchungen ist es oft nötig, eng be­ nachbarte Linien zu trennen.
Aus dem KfK-Bericht 4513, "Kernladungsradien und Kernmomente von Thorium-Isotopen aus laserspektroskopischen Untersuchungen an gespeicherten Thorium-Ionen in einer Hochfrequenz-Ionen­ falle" Seiten 20 bis 30, ist ein Verfahren bekannt, bei dem die Intensitäten der von geladenen Gasteilchen mittels einer Zweistufenanregung emittierten Spektrallinien aufgenommen werden. Die mit diesem Verfahren erreichbare spektrale Auflösung ist gegenüber der mit dem Verfahren der Einstufenanregung erzielbaren Auflösung beträchtlich verbessert.
Bei dem o. g. Verfahren werden elektrisch geladene Gasteilchen in einer sogenannten Paulschen Ionenfalle elektrodynamisch ge­ speichert. Das Verfahren zur Speicherung ist z. B. aus der Veröffentlichung E. Fischer, Z. Phys. 156 (1959) 1 bekannt. Mit einer Paulschen Ionenfalle können elektrisch geladene Gas­ teilchen für einen längeren Zeitraum, d. h. Stunden bis Tage, in einem begrenzten Raumgebiet festgehalten werden. Werden elektronische Übergänge durch Einstrahlung resonanten Laser­ lichts angeregt, so werden die Teilchen immer wieder, solange sie gespeichert sind, zur Emission von Fluoreszenzlicht ange­ regt. Es reicht daher eine geringe Anzahl gespeicherter Teil­ chen aus, um Spektren mit ausreichendem Signal zu Rauschver­ hältnis aufzunehmen. Diese Methode ist daher besonders emp­ findlich; sie läßt sich vorteilhaft dort einsetzen, wo nur ge­ ringe Substanzmengen zur Messung zur Verfügung stehen.
Bei den gespeicherten Teilchen werden elektronische Übergänge durch Einstrahlung resonanten monochromatischen Lichts ange­ regt. Die Anregung findet dabei in zwei Stufen statt. In der ersten Stufe erfolgt die Anregung vom elektronischen Grundzu­ stand der Teilchen oder von einem nahe dem Grundzustand lie­ genden, thermisch erheblich populierten Zustand zu einem ener­ getisch höher liegenden Zwischenzustand. In der zweiten Stufe erfolgt eine Anregung ausgehend vom Zwischenzustand zu einem energetisch höher liegenden Endzustand. Die Anregungen werden durch Einstrahlung von zwei sich überlappenden, in entgegen­ setzter Richtung laufenden Laserstrahlen realisiert, deren Frequenzen den jeweiligen elektronischen Übergangsfrequenzen der Teilchen entsprechen. Das von den geladenen Teilchen nach erfolgter Anregung emittierte Fluoreszenzlicht wird durch op­ tische Elemente auf die Kathode eines Photomultipliers abge­ bildet und anschließend mittels einer geeigneten Zählelektro­ nik registriert. Spektren der Zweistufenanregung werden aufge­ nommen, indem die Frequenz eines der beiden Laser in der Umge­ bung des betreffenden Übergangs durchgestimmt wird und die von der Zählelektronik pro Zeitintervall registrierte Photonenzahl als Funktion der Frequenzverstimmung aufgezeichnet wird.
Die mit diesem Verfahren erreichbare Linienbreite ist gegen­ über der natürlichen Linienbreite stark verbreitert, es kann damit nicht die optimale spektrale Auflösung erreicht werden.
Weiterhin ist aus der DE 32 06 407 A1 ein Verfahren bekannt, bei welchem der Meßkanal zur Unterdrückung der Streuung gegenüber der verzögerten Fluoreszenz nur für eine bestimmte Zeit zwischen zwei Anregungsimpulsen geöffnet ist. Damit ist lediglich eine integrale Erfassung der Fluoreszenz möglich.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren zu entwickeln, mit dem es möglich wird, Emissionsspektrallinien mit minimaler Linienbreite aufzunehmen.
Die Lösung dieser Aufgabe erfolgt bei einem Verfahren gemäß dem Oberbegriff der nebengeordneten Patentansprüche 1 und 3 durch die im jeweiligen kennzeichnenden Teil angegebenen Merkmale.
Durch Aufnahme des Detektorsignals in Abhängigkeit von der Frequenz eines der Laserstrahlen erhält man ein Spektrum. Um Spektrallinien minimaler Linienbreite aufzunehmen, bei denen nur in der Umgebung des Nulldurchgangs der Hf-Spannung gemes­ sen wird, sind verschiedene Verfahren möglich.
  • 1. Der Nachweiskanal (Detektoreinrichtung) ist nur während ei­ nes gegenüber der Schwingungsdauer der Hf-Wechselspannung kurzen Zeitintervalls in der Umgebung des Nulldurchgangs der Hf-Spannung aktiv.
  • 2. Die Ionen werden nur während eines Zeitintervalls in der Umgebung des Nulldurchgangs der Hf-Spannung mit Hilfe bei­ der Laser angeregt. Außerhalb dieses Zeitintervalls ist ei­ ner oder sind beide Laserstrahlen unterbrochen, so daß keine Ionenanregung erfolgt.
  • 3. Die Verfahren 1. und 2. können kombiniert werden, indem sowohl einer der Laserstrahlen oder beide außerhalb des kurzen Zeitintervalls unterbrochen sind, als auch der Nachweiskanal nur während eines bestimmten Zeitintervalls aktiviert ist.
Die Fig. 1 und 2 zeigen gemessene und berechnete Emissionsspektrallinien für Einstufen- und Zweistufenanregung sowie für das beschriebene Verfahren.
Ein Anwendungsbeispiel für die oben beschriebene Lösung ist die Aufnahme einer Anregungsspektrallinie des Thoriumisotops mit der Massenzahl 232.
Dies wird im folgenden anhand der Figuren näher erläutert.
Die Frequenzen der beiden Laserstrahlen sind so gewählt, daß sie die Übergänge ThII 0 <17 122 cm-1 und ThII 17 122 cm-1 <34 544 cm-1 anregen. Die Laserstrahlen mit den dafür benö­ tigten Wellenlängen von 583,9 nm und 573,8 nm werden mit zwei Argon-Ionenlaser gepumpten Dauerstrich-Farbstofflasern er­ zeugt, wobei der Farbstoff Rhodamin 6G verwendet wird. Der Nachweis der Anregung erfolgt durch Detektion des vom zweiten angeregten Zustand emittierten Lichts der Wellenlängen 332,6 nm, 358,9 nm und 367,4 nm mittels eines geeigneten Detektors, z. B. eines Photomultipliers mit Bialkali-Photokathode. Licht anderer Wellenlänge wird dabei, zur Erniedrigung des Unter­ grundes, mit Hilfe geeigneter Vorrichtungen, z. B. mit opti­ schen Filtern, unterdrückt. Die Frequenz des ersten Laser­ strahls ist resonant auf den ersten Übergang abgestimmt und die Frequenz des zweiten Laserstrahls wird schrittweise in der Nähe des zweiten Übergangs verändert. Indem das Resonanzfluo­ reszenzlicht in Abhängigkeit von der Frequenz des Laserstrahls für die zweite Anregung aufgenommen wird, erhält man Spektrum b) in Fig. 1. Die Halbwertsbreite beträgt 200 MHz und ist da­ mit wesentlich kleiner als ein vergleichbares Spektrum, das mit einer Einstufenanregung aufgenommen wurde (Spektrum a), Fig. 1). Die Halbwertsbreite beträgt hier typischerweise 1500 MHz.
  • 1. Eine Möglichkeit, die Linienbreite weiter zu verringern, besteht darin, daß das durch das Resonanzfluoreszenzlicht im Photomultiplier erzeugte elektrische Signal nur während eines Zeitintervalls von zum Beispiel 200 ns Länge, inner­ halb dem die Spannung an der Ionenfalle den Wert Null an­ nimmt, aufgenommen wird. Dies wird erreicht, indem mit der Hf-Wechselspannung als Triggersignal das Photomultiplier­ signal an- und abgeschaltet wird. Das resultierende Spek­ trum ist mit einer Halbwertsbreite von etwa 35 MHz wesent­ lich schmaler als das Spektrum mit kontinuierlichem Photomultipliersignal.
  • 2. Eine andere Möglichkeit, die Linienbreite weiter zu ver­ ringern besteht darin, daß der Laserstrahl für die erste Anregung nur in einem kleinen Zeitintervall, innerhalb dem die Hf-Spannung in der Nähe von Null ist, Ionen anregen kann. Während der Zeitdauer bis zum nächsten Nulldurchgang der Hf-Spannung werden keine Ionen angeregt. Um dies zu er­ reichen, wird ein elektro-optischer Modulator in den Strah­ lengang des Laserlichts für die erste Anregung gestellt. Aus der Hf-Wechselspannung wird mit Hilfe eines Puls-Gene­ rators ein Rechtecksignal erzeugt, das als Eingangssignal für den elektro-optischen Modulator dient. Die Zeitdauer der Breite des Rechtecks entspricht dann der Zeitdauer der Anregung der Ionen. Mit dieser Anordnung erreicht man im Gegensatz zum Verfahren 1., bei dem die Signalhöhe des Spektrums abnimmt, die volle Höhe des Spektrums b) in Fig. 1. Die Halbwertsbreite beträgt etwa 35 MHz.
  • 3. Als weiteres Verfahren bietet sich die Kombination aus 1. und 2. an. Die Thorium-Ionen werden nur innerhalb des oben beschriebenen Zeitintervalls angeregt und das durch das Re­ sonanzfluoreszenzlicht im Photomultiplier erzeugte Signal wird ebenfalls nur während eines kleinen Zeitintervalls aufgenommen. Das mit dieser Anordnung gemessene Spektrum ist in Fig. 2, Spektrum c) gezeigt, die Halbwertsbreite be­ trägt etwa 30 MHz. Spektrum b) in Fig. 2 stellt zum Ver­ gleich das Zweistufen-Spektrum mit kontinuierlichem Laser­ licht und kontiniuerlichem Photomultipliersignal dar.
Das oben beschriebene Verfahren zum Erreichen der optimalen spektralen Auflösung von Anregungsspektrallinien geladener Gasteilchen, die in einer Ionenfalle gespeichert sind, findet mögliche Anwendungen dort, wo empfindliche und hochauflösende Meßmethoden zur Aufnahme von Spektren erforderlich sind. Ein Anwendungsgebiet ist die Grundlagenforschung. Hier kann es er­ forderlich sein, eng beieinanderliegende Spektrallinien mit einer hochauflösenden Methode zu messen. Dieses Problem kann bei der Bestimmung von Hyperfeinaufspaltungen, Isotopiever­ schiebungen oder Feinstrukturaufspaltungen auftreten.
Weitere Anwendungsgebiete liegen in Bereichen analytischer Me­ thoden wie Umweltanalytik (Emissions- und Immissionsmessungen) oder Routineanalytik. Hier kann das Problem eng beieinander­ liegender Spektrallinien insbesondere bei Molekülspektren auf­ treten. Ein weiterer Problemfall kann das Vorhandensein vieler verschiedener Sorten von Teilchen sein, wobei eine spezielle Teilchensorte nachgewiesen werden muß. Diese Probleme können mit dem beschriebenen Verfahren in hervorragender Weise gelöst werden.

Claims (6)

1. Verfahren zur Reduktion der spektralen Linienbreite des von angeregten und in einer Paulschen Ionenfalle elektrodynamisch gespeicherten Gasionen emittierten Lichts, wobei die spektrale Anregung durch zwei Laser geeigneter variierbarer Frequenz geschieht und die Intensität des emittierten Lichtes als Funktion der angeregten Frequenzen mit einer Detektoreinrichtung erfaßt wird, dadurch gekennzeichnet, daß die Intensität des emittierten Lichtes nur innerhalb eines kurzen Meßintervalls gemessen wird, während dem der Betrag der an der Ionenfalle anliegenden Spannung klein ist gegen den Betrag der maximal anliegenden Spannung.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß mit Hilfe von frequenzselektiven Elementen in der Detektorein­ richtung nur emittiertes Licht, das innerhalb bestimmter Frequenz­ intervalle liegt, gemessen wird.
3. Verfahren zur Reduktion der spektralen Linienbreite des von angeregten und in einer Paulschen Ionenfalle elektrodynamisch gespeicherten Gasionen emittierten Lichts, wobei die spektrale Anregung durch zwei Laser geeigneter variierbarer Frequenz geschieht und die Intensität des emittierten Lichtes als Funktion der angeregten Frequenzen mit einer Detektoreinrichtung erfaßt wird, dadurch gekennzeichnet, daß die spektrale Anregung der elektrisch geladenen Gasteilchen durch die zwei Laser nur in einem kurzen Zeitintervall erfolgt, während dem der Betrag der an der Ionenfalle anliegenden Spannung klein ist gegen den Betrag der maximal anliegenden Spannung.
4. Verfahren nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß außerhalb des Zeitintervalls einer oder beide Laserstrahlen unterbrochen werden.
5. Verfahren nach Anspruch 3 oder 4, dadurch gekennzeichnet, daß nur während des Anregungsintervalls die Intensität des emittierten Lichtes erfaßt wird.
6. Verfahren nach einem der Ansprüche 3 bis 5 dadurch gekennzeichnet, daß man mit Hilfe von frequenzselektiven Elementen nur emittiertes Licht aus bestimmten Frequenzintervallen mißt.
DE19893911052 1989-04-06 1989-04-06 Verfahren zur reduktion der spektralen breite von anregungsspektrallinien Granted DE3911052A1 (de)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19893911052 DE3911052A1 (de) 1989-04-06 1989-04-06 Verfahren zur reduktion der spektralen breite von anregungsspektrallinien

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19893911052 DE3911052A1 (de) 1989-04-06 1989-04-06 Verfahren zur reduktion der spektralen breite von anregungsspektrallinien

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE3911052A1 DE3911052A1 (de) 1990-10-11
DE3911052C2 true DE3911052C2 (de) 1991-10-31

Family

ID=6377942

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19893911052 Granted DE3911052A1 (de) 1989-04-06 1989-04-06 Verfahren zur reduktion der spektralen breite von anregungsspektrallinien

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE3911052A1 (de)

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3206407A1 (de) * 1982-02-23 1983-09-01 Gesellschaft für Strahlen- und Umweltforschung mbH, 8000 München Einrichtung zum quantitativen nachweis biochemischer reaktionen

Also Published As

Publication number Publication date
DE3911052A1 (de) 1990-10-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0735378A2 (de) Verfahren und Anordnung zur Responseanalyse von optisch angeregten Halbleitermaterialien
DE3119903A1 (de) Fluoreszenzspektrometer
DE3604815A1 (de) Mikroskopphotometer
DE2411841C3 (de) Auger-Elektronenspektrometer
DE3911052C2 (de)
EP0519092A1 (de) Einrichtung zur Bestimmung von Raum- und Zeitkennlinien der schwachen optischen Emission eines Objektes
EP0708976B1 (de) Verfahren zum betreiben eines flugzeit-sekundärionen-massenspektrometers
DE4006790C2 (de)
DE19709377A1 (de) Verfahren zur Messung von lumineszierenden Substanzen mittels UV-Licht emittierender Leuchtdioden
DE3915692C2 (de)
DE2245161A1 (de) Analysiervorrichtung mit atomarer absorption
DE3630068C1 (en) Method, in particular for determining extremely low concentrations of elements and molecules in sample matrices by using laser beams
DE102010016801A1 (de) Fluoreszenz-Detektionseinheit für eine Flüssigchromatographie-Einrichtung
DE2002939A1 (de) Verfahren und Einrichtung zur Durchfuehrung von Spektral- oder Diffraktions-Roentgenanalysen
DE102020131374B4 (de) Fluoreszenzdetektion
EP1434976B1 (de) Kamerakopf zur schnellen aufzeichnung von spektren eines vuv spektrometers
DE19849585C2 (de) Vorrichtung und Verfahren zur Bestimmung der Fluoreszenz einer Probe
EP0038549A1 (de) Verfahren und Vorrichtung zum spektroskopischen Nachweis von an der Oberfläche eines Festkörpers befindlichen Elementen
EP2339379B1 (de) Vorrichtung und Verfahren zum Auslesen von in einer Speicherleuchtstoffschicht gespeicherter Röntgeninformation
DE3736368A1 (de) Optogalvanisches spektrometer
DE2822739C3 (de) Meßvorrichtung zur spektroskopischen Untersuchung von polyatomaren Molekülen
DE19522999C1 (de) Verfahren zur Unterdrückung der Fluoreszens bei der Ramanspektroskopie
DE102016102818A1 (de) Vorrichtung und Verfahren zur Spektralanalyse
WO2023186734A1 (de) Vorrichtung zum bestimmen des vorliegens einer eigenschaft einer probe und insbesondere zur geschlechtsbestimmung bei einem befruchteten vogelei, verwendung und verfahren
DE2906985C2 (de)

Legal Events

Date Code Title Description
OP8 Request for examination as to paragraph 44 patent law
D2 Grant after examination
8364 No opposition during term of opposition
8339 Ceased/non-payment of the annual fee