DE3887934T2

DE3887934T2 - Verfahren zur elektronischen Behandlung eines belichteten photographischen Materials.

Info

Publication number: DE3887934T2
Application number: DE3887934T
Authority: DE
Inventors: Joseph Michael C O Eastm Hodes; Lillian Marie C O East Kellogg
Original assignee: Eastman Kodak Co
Current assignee: Eastman Kodak Co
Priority date: 1987-07-30
Filing date: 1988-07-26
Publication date: 1994-09-22
Anticipated expiration: 2008-07-27
Also published as: EP0301800A2; JP2670095B2; DE3887934D1; US4788131A; EP0301800A3; EP0301800B1; JPS6449041A

Description

Die vorliegende Erfindung betrifft die elektronische Verarbeitung von exponiertem photographischem Material. Insbesondere betrifft diese Erfindung die Verwendung von ausgewählter elektromagnetischer Strahlung für die Erfassung eines latenten Bildes in exponiertem photographischem Material unter Anwendung einer durch Anregung induzierten Photoleitfähigkeitstechnik
In Silberhalogenidkristallen wird das latente Bild durch die Anregung von freien Ladungsträgern durch absorbierte Photonen und ihr nachfolgendes Einfangen innerhalb der Silberhalogenidkornstruktur unter Bildung latenter Bildzentren erzeugt. Die Anwendung von elektromagnetischer Strahlung zur Erfassung einer Latentbild-Formation in exponierten Silberhalogenidkörnern ist auf dem photographischen Gebiet bekannt. Beispielsweise werden in der Ausgabe des Journal of Imaging Science vom Januar/Februar 1986, Band 30, Nr. 1, S. 13-15 in einem Aufsatz mit dem Titel "Detection of Latent Image by Microwave Photoconductivity", Experimente beschrieben mit dem Ziel, eine Latentbild-Formation in Silberhalogenid unter Verwendung der Mikrowellen-Photoleitfähigkeit zu erfassen. Das Verfahren, das bei Raumtemperatur durchgeführt wird, wurde als potentiell geeignet für die Erfassung von Latentbildern erkannt, ohne daß es erforderlich ist, eine Entwicklung mit einer üblichen chemischen Entwicklungslösung durchzuführen.
Träger, von denen angenommen wird, daß sie eine wichtige Rolle bei der Formation von latenten Bildzentren in Silberhalogenidkörnern spielen, sind Elektronen, Leerstellen und Zwischengitter-Silberionen. Die Mobilität von Elektronen ist weit größer als die von Leerstellen oder Zwischengitter- Silberionen, so daß zu erwarten ist, daß eine Leitfähigkeit aufgrund von Photoelektronen erfaßbar ist durch Messung der Photoleitfähigkeit von Silberhalogenidkörnern durch Anwendung von Mikrowellenstrahlung. Von derartigen Messungen unter Anwendung niedriger Temperaturen wird berichtet von L. M. Kellog und anderen in der Zeitschrift Photogr. Sci. Eng. 16, 115 (1972).
Die Anwendung von Mikrowellen-Frequenzen zur Erfassung von latenten Bildern in exponierten photographischen Silberhalogenidmaterialien hat jedoch gezeigt, daß eine solche Photoleitfähigkeit nicht genügend empfindlich ist, um geringe Exponierungsgrade zu erfassen.
Demzufolge besteht ein Bedürfnis zur Verbesserung des Empfindlichkeitsgrades von elektronischen Verarbeitungstechniken zur Erfassung und Messung von latenten Bildern in photographischen Silberhalogenidmaterialien.
Durch die vorliegende Erfindung wird ein Verfahren zur elektronischen Verarbeitung eines latenten Bildes von einem photographischen Element bereitgestellt, das die folgenden Stufen umfaßt:
a) Bereitstellung eines exponierten photographischen Elementes;
b) Einbringen des Elementes in ein elektrisches Feld und Kühlung des Elementes zum Zwecke der Verhinderung einer weiteren Bilderzeugung;
c) Gleichförmige Exponierung des Elementes mit Strahlung einer relativ kurzen Wellenlänge;
d) Exponierung des Elementes mit gepulster Strahlung von relativ langer Wellenlänge hoher Intensität, unter Anregung von Elektronen aus den Bildzentren;
e) Messung jedes resultierenden Signals mit einer Radiofrequenz-Photoleitfähigkeits-Vorrichtung.
Das Verfahren dieser Erfindung führt zur Anwendung in Systemen, die auf Reaktionen basieren, bei denen ein Bild als Ergebnis von photochemischer Aktivität erzeugt wird. Dieses Verfahren ist insbesondere wirksam im Falle von photographischen Materialien mit Bereichen hoher Dichte oder Bereichen einer Überexponierung aufgrund seiner erhöhten Empfindlichkeit der Messung.
Nach der Messung eines beliebigen Signals unter Verwendung einer Radiofrequenz-Photoleitfähigkeits-Vorrichtung, kann ggf. eine weitere Verarbeitungsstufe der Aufzeichnung oder Umwandlung des Signals in eine sichtbare Darstellung oder Anzeige entsprechend dem latenten Bildmuster in dem Element durchgeführt werden.
Die Erfassung oder Bestimmung des Vorhandenseins oder der Abwesenheit eines latenten Bildes durch Anwendung von Strahlungsenergie unter Erzeugung freier Elektronen kann in einem Kondensator für eine Photoleitfähigkeitsmessung durchgeführt werden, indem eine Probe von exponiertem photographischem Material angeordnet und einer gleichförmigen Strahlungsexponierung unterworfen wird. Diese Stufe bewirkt die Erzeugung von freien Elektronen in der Probe unter Füllung von Elektronenfallen, die mit den latenten Bildzentren assoziiert sind. Wird ein Hohlraumresonator vom Reflexionstyp verwendet, so ändert sich ein Signal, das durch den Hohlraumresonator reflektiert wird, mit der Leitfähigkeit der eingeführten Probe.
Die Verwendung einer Radiofrequenz- oder Hochfrequenz-Photoleitfähigkeits-Vorrichtung zur Erfassung oder Bestimmung des Vorhandenseins oder der Abwesenheit eines latenten Bildes nach einer Exponierung des photographischen Materials mit einer gepulsten Strahlung hoher Intensität und relativ längerer Wellenlängen führt unter Anwendung von niedrigen Frequenz-Feldern einer Strahlung hoher Intensität zu Messungen erhöhter Empfindlichkeit, im Vergleich zu Mikrowellen-Photoleitfähigkeits-Messungen, die im Stande der Technik erwähnt werden. Geeignete Hochfrequenzfelder zwischen etwa 10³ bis etwa 10&sup9; Zyklen/Sekunde, oder gemessen als Wellenlänge, von etwa 10&supmin;¹ bis etwa 10&sup5; Metern, sind zur Erfassung kleiner Zahlen von Elektronen geeignet, die aus den latenten Bildzentren angeregt werden. Dies führt zu Messungen erhöhter Empfindlichkeit bei Anwendung von niedrigeren Frequenzfeldern von hoher Intensität.
Zu dem Silberhalogenidtyp, auf den das Verfahren dieser Erfindung angewandt werden kann, gehören Silberchlorid, Silberbromid, Silberbromoiodid, Silberchlorobromid, Silberchloroiodid, Silberchlorobromoiodid und Mischungen hiervon. Die Silberhalogenidkristalle können grobkörnig sein, eine mittlere Körnigkeit aufweisen oder feinkörnig sein oder aus Mischungen hiervon bestehen. Die Körner können von unterschiedlicher Morphologie sein, z. B. können sie aus sphärischen, kubischen, kubooktraedischen, tafelförmigen Körnern usw. oder Mischungen hiervon bestehen. Die Korngrößenverteilung kann monodispers oder polydispers sein oder es können Mischungen hiervon vorliegen.
Die Messung der Photoleitfähigkeit in einem exponierten photographischen Element wird bei verminderten Temperaturen durchgeführt. Die Kühlung des exponierten Elementes dient dem Schutz oder der Erhaltung des latenten Bildes, das in dem Material als Folge einer Exponierung vorliegt. Ein Kühlen dient ferner der Beibehaltung der Position von Elektronen, die in einem latenten Bildzentrum oder in Fallen oder Lücken enthalten sind. Ein Abkühlen auf eine Temperatur zwischen etwa 4 bis etwa 270 K, vorzugsweise etwa 40 bis etwa 180 K, führt nicht nur zu akzeptablen, sondern auch zu reproduzierbaren Ergebnissen.
Es wurde gefunden, daß die Methode dieser Erfindung unter Bedingungen durchgeführt werden kann, die ein geringeres Abkühlen erfordern unter adäquater Erhaltung des latenten Bildes, wenn das photographische Element Silberhalogenid umfaßt, wenn ein Komplexmittel für Silberionen in dem Element vorhanden ist. Liegt beispielsweise ein solches einen Komplex bildendes Mittel in reaktiver Assoziation mit Silberhalogenidkörnern vor, so kann das hier beschriebene Verfahren unter Erzielung zufriedenstellender Ergebnisse bei Temperaturen zwischen etwa 20 und 100 K durchgeführt werden.
Zu Silberhalogenid-Komplexbildnern, die im Rahmen dieser Erfindung verwendet werden können, gehören Stickstoffsäuren, wie z. B. Benzotriazol und die Alkyl-, Ralo- und Nitro- Substitutionsprodukte hiervon; Tetraazainden-Verbindungen, wie sie beispielsweise beschrieben werden in den U.S.-Patentschriften 2 444 605; 2 933 388; 3 202 512; der GB- Patentschrift 1 338 567 und in der Literaturstelle Research Disclosure, Band 134, Juni 1975, Nr. 13452 und Band 148, August 1976, Nr. 14851; sowie Mercaptotetrazolverbindungen, wie sie beispielsweise beschrieben werden in den U.S.-Patentschriften 2 403 927; 3 266 897; 3 397 987; 3 708 303 und der Literaturstelle Research Disclosure, Band 116, Dezember 1973, Nr. 11684.
Die Menge an Silberhalogenid-Komplexbildner, die verwendet werden kann, kann zwischen etwa 0,03 bis etwa 3 g pro Mol Silber liegen, wobei ein bevorzugter Bereich bei etwa 0,15 bis etwa 1,75 g/Mol Ag liegt.
Die Stufe, bei der das photographische Element eine Exponierung mit gleichförmiger Strahlung von kurzen Wellenlängen erfährt, hat den Effekt der Ausfüllung von Elektronenfallen, die während der ursprünglichen bildweisen Exponierung erzeugt wurden.
Die gefüllten Elektronenfallen werden dann entleert, unter Anwendung einer gepulsten Strahlung hoher Intensität und relativ kurzer Wellenlänge, die außerhalb des Bereiches des ursprünglich zur Bilderzeugung angewandten Strahlenwellenlängenbereiches liegt, unter Anregung von Elektronen aus den Bildzentren. Diese Strahlung längerer Wellenlängen wird zu einem engen Strahl fokussiert, um Elektronenfallen auf bildweiser Basis zu erfassen. Liegt die ursprüngliche bilderzeugende Strahlungswellenlänge in den blau-grünen Bereichen, so kann der längere Wellenlängenbereich beispielsweise im roten oder im infrarotem Bereich des Spektrums liegen.
Die ggf. angewandte Stufe der Aufzeichnung oder Umwandlung des erfaßten Signals als gepulste Radiofrequenz-Photoleitfähigkeits-Antwort eignet sich zur Speicherung und nachfolgenden Anzeige. Alternativ kann das erfaßte Signal sichtbar gemacht werden durch Anwendung bekannter Techniken, beispielsweise durch Verwendung eines Digitalisierers mit einer Kathodenstrahlröhre und einem Computer. Die Größenordnung des erfaßten Signal es ist proportional der ursprünglichen Bildexponierung des photographischen Elementes. Es ist offensichtlich, daß das erfaßte Signal nach bekannten Techniken aufgearbeitet werden kann, um das aufgezeichnete oder angezeigte Bild zu verstärken.
Die folgenden Beispiele und Zeichnungen dienen der Veranschaulichung der Erfindung. In den Zeichnungen sind dargestellt in:
Fig. 1 ein Fließ-Diagramm, das die einzelnen Stufen des elektronischen Verfahrens dieser Erfindung veranschaulicht;
Fig. 2 eine schematische Darstellung eines Hochfrequenz-Photoleitfähigkeits-Meßgerätes zur Verwendung in dem elektronischen Verfahren dieser Erfindung;
Fig. 3 eine detaillierte Ansicht des abgestimmten LC- Schwingkreises der Fig. 2; und
Fig. 4 eine Silberdichtekurve, erhalten durch chemische Entwicklung und eine optische Dichtekurve, erhalten durch elektronische Verarbeitung von in identischer Weise exponierten photographischen Proben.

Beispiel 1

Eine 0,9 um octaedrische Silberbromidemulsion wurde mit 4- Hydroxy-6-methyl-1,3,3a,7-tetraazainden (1 g/Mol Ag) mit einer Beschichtungsstärke von 4,3 g Ag/m² und 8,6 g Gel/m² auf einen Filmträger aufgetragen.
Sechs Proben der Emulsionsbeschichtung wurde derart herausgeschnitten, daß sie in einen Probenkondensator einer Radiofrequenz(RF)-Photoleitfähigkeits-Meßvorrichtung gemäß Fig. 2 paßten.
Fig. 2 veranschaulicht eine Photoleitfähigkeits-Meß-Vorrichtung 1 mit einem Radiofrequenz-Oszillator 2 und einer Radiofrequenzbrücke 3. In Verbindung mit der Brücke 3 befindet sich ein 50 Ohm-Terminator 4 und ein abgestimmter LC-Schwingkreis 5. Vorverstärkungsmittel 6, wie auch ein Detektor 7, sind vorgesehen.
Fig. 3 veranschaulicht im größeren Detail den abgestimmten LC-Schwingkreis 5 der Fig. 2 mit einem Induktor 8, sowie einem Proben-Kondensator 9 und einem variablen Kondensator 10.
Eine jede Probe wurde bei Raumtemperatur einer 10&supmin;² Sek. langen Exponierung mit einem EG&G-Sensitometer mit einem unterschiedlichen Neutraldichte(ND)-Filter im Exponierungsstrahl (ND - 2,0 bis 3,6) unterworfen. Eine Probe wurde dann einmalig in den Proben-Kondensator gebracht, mit flüssigem, siedenden Stickstoffgas auf etwa 97 K abgekühlt, mit blauer Strahlung belichtet und mit roter Strahlung gepulst. Erhaltene Signale wurden gemessen und auf einer Sichtanzeige aufgezeichnet. Im Falle dieser Messungsreihe lag die Wellenlänge der roten Strahlung bei 660 nm, wobei die Gesamtenergie pro Impuls bei 38 Mikrojoule lag und der Strahl auf einen Bereich von 1 mm² fokussiert wurde.
Zu Vergleichszwecken wurde ein anderer Streifen der gleichen Emulsionsbeschichtung durch einen graduierten Dichtestufenkeil belichtet (10&supmin;² Sek. EG&G, 2,0 ND) und in einem Elon- Hydrochinon-Entwickler (6 Min., 20ºC) entwickelt.
In der unten folgenden Tabelle 1 sind die Exponierung, das beobachtete induzierte Photoleitfähigkeitssignal und die entsprechende entwickelte Dichte der Vergleichsbeschichtung aufgetragen: Tabelle I 10&supmin;² Sek. EG&G Exponierung Induziertes Signal (mv) Entwickelte Dichte
Fig. 4 reflektiert die Anschläge 11 der Daten von Tabelle 1 für den chemisch entwickelten Vergleichsstreifen in Form einer H- und D-Kurve 13, und für den elektronisch entwickelten Streifen in Form eines Signals in Millivolt in Abhängigkeit von der Exponierung 12. Das Hintergrund-"Geräusch" ist auf der Kurve 12 mit 14 angegeben.

Beispiel 2

Die Hochfrequenz-Photoleitfähigkeits-Vorrichtung wurde modifiziert, so daß als Kühlmittel flüssiges Helium verwendet werden konnte und durch engere Kondensator-Elektroden. Ferner wurde ein Zeit-Verzögerungsschwingkreis errichtet, wobei die blaue Hintergrund-Exponierung durch ein Stroboskop- Blitzlicht herbeigeführt wurde und wobei der rote Impuls verzögert wurde, um einen Abfall von freien Trägern aufgrund der blauen Exponierung zu ermöglichen. Bei dieser Anordnung wurde der Laserstrahl auf eine Fläche von 0,1 mm² fokussiert.
Eine mit Schwefel sensibilisierte, 0,9 um octaedrische Silberbromidemulsion wurde mit 4-Hydroxy-6-methyl-1,3,3a,7- tetraazainden (1 g/Mol Ag) in einer Beschichtungsstärke von 4,3 g Ag/m² und 8,6 g Gel/m² auf einen Filmträger aufgetragen. Sieben Abschnitte dieser Emulsionsbeschichtung wurden zurechtgeschnitten, so daß sie in einen Probenkondensator in der RF-Vorrichtung paßten. Eine Probe wurde nicht exponiert. Diese Probe wurde dazu verwendet, um das Hintergrundsignal zu bestimmen. Eine jede der anderen sechs Proben wurde exponiert mit 10&supmin;² Sek. EG&G mit einer verschiedenen Neutraldichte (ND) in dem Exponierungsstrahl (ND = 2,0 bis 4,0). Eine Probe wurde dann in den Probenkondensator gebracht, auf etwa 65 K abgekühlt, mit einem blauen Blitzlicht geblitzt und dann mit roter Strahlung gepulst. Im Falle dieser Meßreihe lag die Wellenlänge der roten Strahlung bei 660 nm und die Gesamtenergie pro Impuls betrug 38 Mikrojoule.
Zu Vergleichszwecken wurden 7 Streifen der gleichen Emulsion herausgeschnitten und in gleicher Weise exponiert, jedoch wurde jeder einzelne Streifen 3 Min. lang bei 20ºC in einem Elon-Hydrochinonentwickler entwickelt.
In Tabelle II sind die Exponierung, das beobachtete induzierte Photoleitfähigkeitssignal und die entsprechende entwickelte Dichte der Vergleichsbeschichtung aufgezeichnet. Tabelle II 10&supmin;² Sek. EG&G Exponierung Induziertes Signal (mv) Entwickelte Dichte KEINE (Hintergrundschleier) (Schleier)
Die ±-Werte sind die 95% Vertrauensgrenze, bestimmt aus mehreren Messungen bei jedem Exponierungsgrad.

Beispiel 3

Im Falle hoher Exponierungsgrade werden zusätzliche latente Bildzentren in der Emulsion erzeugt, und obgleich ein maximaler Exponierungsgrad im Falle einer chemischen Entwicklung beobachtet wurde, ist dies nicht der maximale Exponierungsgrad für die elektronische Entwicklung. In Tabelle III sind die Exponierung, das beobachtete induzierte Photoleitfähigkeitssignal und die entwickelte Dichte für eine "Dmax"- Exponierung und zwei Exponierungsgrade gut unterhalb des "Dmax" für die chemische Entwicklung aufgezeichnet. Tabelle III 10&supmin;² Sek. EG&G Exponierung Induziertes Signal (mv) Entwickelte Dichte
Diese Ergebnisse zeigen, daß mehr Informationen von Streifen erhalten werden können, die auf elektronischem Wege entwickelt wurden, als von Streifen, die chemisch entwickelt wurden.

Beispiel 4

Um die Eignung des Verfahrens dieser Erfindung zur Erfassung von Signalen bildweise zu veranschaulichen, wurden zwei Spiegel, von denen einer fixiert wurde und einer bewegbar war, in den Laserstrahl gebracht, um es einem Erfassungsstrahl zu ermöglichen, eine exponierte photographische Probe horizontal abzutasten. Eine fokussierende Linse wurde auf einer Übersetzungsstufe angeordnet, so daß der Strahl nach jeder 1 mm Verschiebung in die Linse rezentriert wurde.
Bildbuchstaben wurden aus einer Schablone herausgeschnitten und die Schablone sowie eine 1,0 Neutraldichte wurden in das Exponierungsfenster des EG&G-Sensitometers gebracht. Da der Meß-Kondensator in der Vorrichtung, die verwendet wurde, sehr eng war, wurden 5 separate Streifen bei Raumtemperatur exponiert, um den gesamten Bereich der Bildbuchstaben aufzuzeichnen. Die Probe bestand aus einer octaedrischen 0,9 um AgBr-Emulsion, wie oben in Beispiel 2 beschrieben.
Jeder Streifen wurde auf 80 K abgekühlt und 14 separate Messungen in 1 mm Intervallen wurden im Falle eines jeden der fünf Streifen durchgeführt. Im Falle einer jeden Messung wurden die Signalgröße und die Strahl-Position aufgezeichnet. Unter Verwendung eines Plotters und eines Personal- Computers wurde ein sichtbares Bild aus diesen Daten unter Anwendung der folgenden Richtlinien erstellt:
1. Das Signalverhältnis (SR) = SIGNAL/MAXIMUM-SIGNAL
2. Wenn SR > 0,9 war, wurde ein Kästchen von 2,54 mm² gezeichnet.
3. Wenn SR > 0,85 war und SR < 0,9 war, wurde ein Kästchen von 2,03 mm² gezeichnet.
4. Wenn SR > 0,75 war und SR < 0,85, wurde ein Kästchen von 1,52 mm² gezeichnet.
5. Wenn SR > 0,65 und SR < 0,75 war, wurde ein Kästchen von 1,01 mm² gezeichnet.
6. Wenn SR > 0,5 und SR < 0,65 war, wurde ein Kästchen von 0,76 mm² gezeichnet.
Unter Anwendung dieser Richtlinien war es möglich, ein Bild auf einem Schirm zu konstruieren, der mit der Abtastvorrichtung verbunden war. Diese Ergebnisse zeigen, daß diese Technik ein latentes Bild bildweise zu erfassen vermag.
Eine elektronische Entwicklung eines latenten Bildes in einem farbphotographischen Material kann mit dem Verfahren dieser Erfindung unter Verwendung eines Materials durchgeführt, das besteht aus einem transparenten Poly(ethylentherephthalat)träger, auf den die folgenden Schichten in der angegebenen Reihenfolge aufgetragen sind. Die Beschichtungsstärken einer jeden Komponente sind in Klammern in g/mm² angegeben und sämtliche Teile, Prozentsätze und Verhältnisse beziehen sich auf das Gewicht, sofern nichts anderes angegeben ist.
1. Eine Silberbromid-(4,3)-Emulsionsschicht, wie in Beispiel 1 beschrieben, gegenüber blauem Licht sensibilisiert.
2. Eine gelbe Schicht aus Gelatine (8,6) und einem Filterfarbstoff (0,15), um zu verhindern, daß blaues Licht in die verbleibenden Schichten des Materials gelangt.
3. Eine Silberbromidemulsionsschicht, wie im Falle der Schicht 1 angegeben, die gegenüber grünem Licht sensibilisiert ist.
4. Eine Silberbromidemulsionsschicht, wie im Falle der Schicht 1 beschrieben, gegenüber rotem Licht sensibilisiert. Der rote Sensibilisierungsfarbstoff absorbiert im Wellenlängenbereich von etwa 600 bis 605 nm.
Wird das beschriebene farbphotographische Element exponiert und gekühlt, wie in Beispiel 1 beschrieben, so kann das latente Bild in folgender Weise entwickelt werden: Die blauempfindliche Schicht kann mit gleichförmigem blauen Licht geblitzt werden, um die latenten Bildzentren in der Emulsion mit Elektronen auszufüllen. Diese Schicht kann dann wie in Beispiel 1 beschrieben entwickelt werden. Die latenten Bildzentren in der grünempfindlichen Schicht können dann mit grünem Licht geblitzt werden und wie für die blauempfindliche Schicht angegeben entwickelt werden. Das photographische Element kann dann der Einwirkung von gepulstem roten Licht hoher Intensität ausgesetzt werden, das eine längere Wellenlänge von etwa 640 bis 645 nm aufweist. Jedes erzeugte Signal kann dann mit der Hochfrequenz-Photoleitfähigkeits- Vorrichtung gemessen werden.
Die oben beschriebene Methode ist in gleicher Weise anwendbar für die Erfassung von latenten Bildzentren, die bei der Lichtexponierung eines photographischen Schwarz-Weiß-Aufzeichnungsmaterials erzeugt werden, einschließlich von Röntgenfilmen, von anorganischen Leuchtstoffen, von Photoleitern, die in der Elektrophotographie verwendet werden, im Falle von Einfarb- und Mehrfarb-Aufzeichnungsmaterialien, einschließlich Materialien, die eingearbeitete Kuppler aufweisen oder die keine eingearbeiteten Kuppler enthalten, auf verschiedene anorganische Halbleiter-Materialien, wie auch auf Abänderungen und Modifizierungen der in dieser Erfindung beschriebenen elektronischen Vorrichtung.

Claims

1. Verfahren zur elektronischen Verarbeitung eines latenten Bildes von einem photographischen Element mit den Stufen:

a) Bereitstellung eines exponierten photographischen Elementes;

b) Einbringen des Elementes in ein elektrisches Feld und Kühlung des Elementes zum Zwecke der Verhinderung einer weiteren Bilderzeugung;

c) gleichförmige Exponierung des Elementes mit Strahlung einer relativ kurzen Wellenlänge;

d) Exponierung des Elementes mit impulsartiger Strahlung von relativ langer Wellenlänge und hoher Intensität, unter Anregung von Elektronen aus den Bildzentren; und

e) Messung jedes resultierenden Signals mit einer Hochfrequenz-Photoleitfähigkeits-Vorrichtung.

2. Verfahren nach Anspruch 1, mit der weiteren Stufe der Aufzeichnung oder der Überführung des Signals zu einer sichtbaren Darstellung entsprechend dem latenten Bildmuster im Element.

3. Verfahren nach Anspruch 1, bei dem die Wellenlänge des Hochfrequenzfeldes zwischen 10³ bis 10&sup9; Zyklen/Sekunde liegt.

4. Verfahren nach Anspruch 1, bei dem das Element photosensitive Silberhalogenidkörner aufweist.

5. Verfahren nach Anspruch 4, bei dem die Körner tafelförmige Silberhalogenidkörner sind.

6. Verfahren nach Anspruch 1, bei dem die Kühlung auf eine Temperatur zwischen 4 bis 270 K, vorzugsweise zwischen 40 bis 180 K erfolgt.

7. Verfahren nach einem der Ansprüche 4 bis 6, bei dem das Element einen Silberhalogenidkomplexbildner enthält.

8. Verfahren nach Anspruch 7, bei dem der Komplexbildner eine Benzotriazol-, Tetraazainden- oder Phenylmercaptotetrazolverbindung ist.

9. Verfahren nach Anspruch 7 oder 8, bei dem der Komplexbildner in einer Menge von 0,03 bis 3 g, vorzugsweise von 0,15 bis 1,75 g pro Mol Silber, das im Element vorhanden ist, vorliegt.

10. Verfahren nach Anspruch 6, bei dem die Kühlung auf eine Temperatur zwischen 20 bis 100 K erfolgt.