DE3838971C2 - - Google Patents
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- DE3838971C2 DE3838971C2 DE19883838971 DE3838971A DE3838971C2 DE 3838971 C2 DE3838971 C2 DE 3838971C2 DE 19883838971 DE19883838971 DE 19883838971 DE 3838971 A DE3838971 A DE 3838971A DE 3838971 C2 DE3838971 C2 DE 3838971C2
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- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/22—Secondary treatment of printed circuits
- H05K3/24—Reinforcing the conductive pattern
- H05K3/244—Finish plating of conductors, especially of copper conductors, e.g. for pads or lands
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
- H01R13/00—Details of coupling devices of the kinds covered by groups H01R12/70 or H01R24/00 - H01R33/00
- H01R13/02—Contact members
- H01R13/03—Contact members characterised by the material, e.g. plating, or coating materials
Description
Die Erfindung betrifft goldplattierte Anschlußelemente,
wie Klemmen und Kontakte, insbesondere zur Verwendung als
Anschlüsse für elektronische Schaltungen, wie gedruckte
Schaltungen und Niederfrequenzeinrichtungen zur Verwendung
in Automobilen.
Um den Kontaktwiderstand derartiger Klemmen und Kontakte
zu reduzieren und die Korrosionsbeständigkeit zu verbes
sern, werden derartige Klemmen und Kontakte bisher so her
gestellt, daß die Oberfläche eines Trägermetalls, etwa be
stehend aus Kupfer oder einer Kupferlegierung, zunächst
einer Elektro-Nickelplattierung und dann einer Goldplattierung
unterzogen wird. Die zunächst auf die Oberfläche des
Trägermetalls aufgebrachte Elektro-Nickelplattierung soll
dabei eine Diffusion des Goldes in das Trägermetall hinein
verhindern.
Die Erfahrung hat nun gezeigt, daß die gewünschte Reduzierung
des Kontaktwiderstands und Verbesserung der Korrosionsbeständigkeit
derartiger Klemmen und Kontakte bereits erreicht
werden kann, wenn die Dicke der Goldplattierung mindestens
etwa 0,1 µm beträgt. Dabei ergibt sich jedoch das
Problem, daß aufgrund der hohen Porosität der Goldplattierung
unvermeidbar eine große Anzahl von Unterbrechungen
vorhanden ist, durch die hindurch die Elektro-Nickelplattierungslage
für einen Korrosionsangriff zugänglich ist.
Um dem abzuhelfen ist es bekannt, die genannten Unterbrechungen
der Goldplattierung dadurch zu vermeiden, daß die
Goldplattierungslage vergleichsweise dick gemacht wird
(beispielsweise 0,6 µm bis 1,0 µm). Hierbei konnte allerdings
keine nennenswerte Änderung der Bedingungen hinsichtlich
des Kontaktwiderstands in Richtung Verbesserung, sondern
eher eine Verschlechterung festgestellt werden. Zwangsläufig
ergibt sich jedoch ein erhöhter Goldverbrauch, was sich
in einer beträchtlichen Kostensteigerung für die genannten
Klemmen und Kontakte niederschlägt.
Aus der DE 33 45 162 C1 ist ein Werkstoff für Schwachstromkontakte
bekannt, der durch eine Legierung mit weniger als
33% Gold und mehreren, weiteren Metallen, besteht. Diese
Legierung soll zur Erzielung eines geringen Goldverbrauchs
in Form einer dünnen Schicht auf eine Nickel-Zwischenschicht
aufgebracht werden. Bei diesem Stand der Technik bleibt also
die obenerwähnte Nickel-Zwischenschicht bestehen. Der
Goldverbrauch wird hierbei durch Verwendung einer Goldlegierung
gesenkt. Derartige Legierungen besitzen jedoch nicht
dieselben Eigenschaften wie Gold und sind diesem daher in
der Hinsicht unterlegen.
Hiervon ausgehend ist es daher die Aufgabe der vorliegenden
Erfindung Anordnungen eingangs erwähnter Art unter
Vermeidung der geschilderten Nachteile des Standes der
Technik mit einfachen und kostengünstigen Mitteln so zu
verbessern, daß ein hoher Korrosionswiderstand er
reicht wird und daß dennoch der Goldverbrauch gering ge
halten werden kann und so eine ausgezeichnete Wirtschaft
lichkeit erreicht wird.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß dadurch gelöst, daß
die Oberfläche eines Trägermetalls eine zur Aufnahme ei
ner Goldplattierung sich eignende Plattierungslage aus
einer nichtkristallinen Legierung trägt und daß hierauf
eine Goldplattierungslage angebracht ist.
Die genannte Plattierungslage aus einer nichtkristallinen
Legierung kann aus Ni-P und/oder Ni-B und/oder Ni-Fe-P
und/oder Co-P und/oder Ni-P-W und/oder Co-Ni-P und/oder
Co-W und/oder Fe-W und/oder Co-Re und/oder Cr-W und/oder
Cr-Mo oder dergleichen bestehen. Die aus einer nicht
kristallinen Legierung bestehende Plattierungslage be
sitzt in vorteilhafter Weise wesentlich bessere Korro
sionswiderstandseigenschaften als eine Elektro-Nickel
plattierungslage. Es besteht daher in vorteilhafter
Weise keine Korrosionsgefahr, auch wenn die Goldplat
tierungslage Poren bzw. Unterbrechungen aufweist. Die
Goldplattierungslage kann daher in vorteilhafter Weise
vergleichsweise dünn sein, das heißt an den Bedürfnissen
hinsichtlich der erwünschten Reduzierung des Kontakt
widerstands ausgerichtet sein, ohne daß sich dies un
günstig auf die erzielbare Korrosionsbeständigkeit aus
wirkte.
Nachstehend wird die Erfindung anhand der Zeichnung
näher erläutert.
Hierbei zeigt
Fig. 1 einen vergrößerten Ausschnitt aus einer
erfindungsgemäßen Klemme und
Fig. 2 und 3 den Stand der Technik in Fig. 1 entspre
chender Darstellung.
In den Figuren bezeichnet die Bezugsziffer 10 ein Träger
metall, beispielsweise bestehend aus Kupfer oder einer
Kupferlegierung etc., das eine Klemme für einen Stecker
etc. bildet. Hierauf ist eine Goldplattierungslage 30
vorgesehen, um den Kontaktwiderstand zu reduzieren und
den Korrosionswiderstand zu verbessern. Um eine Dif
fusion von Gold in das Trägermetall 10 hinein zu ver
hindern, ist zwischen der Goldplattierungslage 30 und
dem Trägermetall 10 eine Plattierungslage 20 aus einem
anderen Metall vorgesehen. Diese Zwischenlage besteht
aus einer nichtkristallinen Legierung.
Die aus einer nichtkristallinen Legierung bestehende
Plattierungslage 20 kann beispielsweise bestehen aus
Ni-P und/oder Ni-B und/oder Ni-Fe-P und/oder Co-P und/
oder Ni-P-W und/oder Co-Ni-P und/oder Co-W und/oder Fe-W
und/oder Co-Re und/oder Cr-W und/oder Cr-Mo etc. Da je
des dieser Materialien nur einer kleinen Segregation
unterworfen ist und keine Korngrenzen aufweist, ergibt
sich eine gleichmäßige, glatte Oberfläche, wodurch ein
gleichmäßiger, passivierter Film gebildet wird, der we
sentlich bessere Eigenschaften hinsichtlich Korrosions
widerstand aufweist als beispielsweise eine Elektro-
Nickelplattierung. Der Ausdruck "nichtkristallin" ist
im vorliegenden Zusammenhang für den ungeordneten Zu
stand der Atomanordnungen verwendet und soll eine teil
weise Kristallisation einschließen.
Es besteht die Möglichkeit, die aus nichtkristalliner
Legierung bestehende Plattierungslage 20 auf galvanischem
und ungalvanischem Wege aufzubringen.
Aufgrund der ausgezeichneten Korrosionswiderstandseigen
schaften der als Schutzschicht auf das Trägermetall 10
aufgebrachten Plattierungslage 20 ergeben sich auch dann,
wenn die Dicke der äußeren Goldplattierungslage 30 nur
etwa 0,1 µm beträgt und die Goldplattierungslage 30 dem
entsprechend eine große Anzahl von Poren bzw. Unterbre
chungen 30a aufweist, keinerlei Problem hinsichtlich
der Korrosionsbeständigkeit. Es ist daher nicht erfor
derlich, der Goldplattierungslage eine Dicke in der
Größenordnung von 0,6 bis 1,0 µm zu geben und dennoch
ergibt sich insgesamt ein Korrosionswiderstand, der je
denfalls nicht schlechter ist als bei den bekannten
Anordnungen, deren Goldplattierungslage eine Dicke von
0,6 bis 1,0 µm aufweist. Die aus einer nichtkristallinen
Legierung bestehende Plattierungslage 20 weist zwar ei
nen höheren elektrischen Widerstand als eine Elektro-
Nickelplattierungslage auf. Dies spielt jedoch keine
Rolle, da die Goldplattierungslage 30 auf der aus nicht
kristalliner Legierung bestehenden Lage 20 aufgebracht
ist, so daß sich keinerlei Probleme ergeben.
Von den oben genannten Materialien zur Bildung der Lage 20
kann Ni-P, das entweder galvanisch unter Verwendung von
beispielsweise Phosphorsäure als ein Phosphor enthalten
des Additiv oder ungalvanisch unter Verwendung von Hypo
phosphit als Reduktionsmittel aufgebracht werden kann,
aus 85 bis 95% Ni und 5 bis 15% P bestehen. Die Ver
wendung von Ni-P zur Bildung der Plattierungslage 20
stellt ferner sicher, daß diese eine geringere Porosität
als eine Elektro-Nickelplattierungslage aufweist, das
heißt eine geringere Anzahl von Poren bzw. Unterbre
chungen enthält. Auch eine aus Ni-Fe-P bzw. Co-P bzw.
CO-Ni-P bzw. Ni-P-W bestehende Plattierungslage 20 kann
in derselben Weise entweder auf galvanischem Wege bei
spielsweise unter Verwendung von Phosphorsäure als ein
Phosphor enthaltendes Additiv oder ungalvanisch beispiels
weise unter Verwendung von Hypophosphit als Reduktions
mittel hergestellt werden. Bei Verwendung von Ni-B kann
die Lage 20, die hier auf ungalvanischem Wege beispiels
weise unter Verwendung einer Borhydrid-Verbindung als
Reduktionsmittel aufgebracht werden kann, aus 93 bis 94%
Ni und 6 bis 7% B bestehen.
Die vorstehenden Ausführungen lassen erkennen, daß die
Erfindung nicht nur auf das beschriebene Ausführungs
beispiel beschränkt ist, sondern überall dort Verwen
dung finden kann, wo die eingangs geschilderten Wir
kungen erwünscht sind, beispielsweise bei Anschlüssen
für Leiterplatten, sowie für Niederfrequenzeinrichtungen
und dergleichen.
Der Fig. 2 liegt eine Ausführung zugrunde, bei der auf
das Trägermetall 10 eine Elektro-Nickel-Plattierungs
lage 200 und auf diese eine Goldplattierungslage 30 auf
gebracht ist, die zur Erzielung eines niedrigen Kontakt
widerstands und einer hoher Korrosionsfestigkeit eben
falls nur 0,1 µm beträgt und dementsprechend eine große
Anzahl von Poren bzw. Unterbrechungen 30a aufweist, im
Bereich derer die nichtkorrosionsfeste Elektro-Nickel-
Plattierungslage 200 für einen Korrosionsangriff offen
ist.
Bei der Ausführung gemäß Fig. 3 ist das Trägermetall 10
wiederum mit einer Elektro-Nickelplattierungslage 200
versehen, die mit einer Goldplattierungslage 30 belegt
ist, deren Dicke so groß gewählt ist, daß sich die oben
genannten Unterbrechungen 30a nicht mehr ergeben. Hier
bei wird jedoch keinesfalls eine Verbesserung der Eigen
schaften hinsichtlich des Kontaktwiderstands erreicht,
sondern eher eine Verschlechterung, und gleichzeitig
muß ein hoher Goldverbrauch in Kauf genommen werden,
was hohe Kosten verursacht.
Bei einem Vergleich der erfindungsgemäßen Ausführung mit
den vorstehend geschilderten bekannten Ausführungen
zeigt sich, daß nur hierbei die Unterbrechungen 30a der
Goldplattierungslage 30 unschädlich sind, so daß diese
äußerst dünn sein kann, ohne daß hierdurch die Korro
sionsbeständigkeit insgesamt Schaden nimmt und gleich
zeitig ein besonders geringer Kontaktwiderstand und be
sonders geringer Goldverbrauch gewährleistet sind.
Claims (16)
1. Goldplattierte Anschlußelemente, wie Klemmen und Kon
takte, insbesondere zur Verwendung als Anschlüsse
für elektronische Schaltungen, wie gedruckte Schal
tungen oder Niederfrequenzeinrichtungen zur Verwen
dung in Automobilen, dadurch gekennzeichnet, daß die
Oberfläche eines Trägermetalls (10) eine zur Aufnahme
einer Goldplattierung (30) sich eignende Plattierungs
lage (20) aus einer nichtkristallinen Legierung trägt
und daß hierauf die Goldplattierungslage (30) ange
bracht ist.
2. Anschlußelement nach Anspruch 1, dadurch gekennzeich
net, daß die aus nichtkristalliner Legierung be
stehende Plattierungslage (20) Ni-P enthält, vorzugs
weise aus Ni-P besteht.
3. Anschlußelement nach Anspruch 1, dadurch gekennzeich
net, daß die aus nichtkristalliner Legierung be
stehende Plattierungslage (20) Ni-B enthält, vorzugs
weise Ni-B besteht.
4. Anschlußelement nach Anspruch 1, dadurch gekennzeich
net, daß die aus nichtkristalliner Legierung be
stehende Plattierungslage (20) Ni-Fe-P enthält, vor
zugsweise aus Ni-Fe-P besteht.
5. Anschlußelement nach Anspruch 1, dadurch gekennzeich
net, daß die aus nichtkristalliner Legierung be
stehende Plattierungslage (20) Co-P enthält, vorzugs
weise aus Co-P besteht.
6. Anschlußelement nach Anspruch 1, dadurch gekennzeich
net, daß die aus nichtkristalliner Legierung be
stehende Plattierungslage (20) Ni-P-W enthält, vor
zugsweise aus Ni-P-W besteht.
7. Anschlußelement nach Anspruch 1, dadurch gekennzeich
net, daß die aus nichtkristalliner Legierung be
stehende Plattierungslage (20) Co-Ni-P enthält, vor
zugsweise aus Co-Ni-P besteht.
8. Anschlußelement nach Anspruch 1, dadurch gekennzeich
net, daß die aus nichtkristalliner Legierung be
stehende Plattierung (20) Co-W enthält, vorzugs
weise aus Co-W besteht.
9. Anschlußelement nach Anspruch 1, dadurch gekennzeich
net, daß die aus nichtkristalliner Legierung be
stehende Plattierungslage (20) Fe-W enthält, vorzugs
weise aus Fe-W besteht.
10. Anschlußelement nach Anspruch 1, dadurch gekennzeich
net, daß die aus nichtkristalliner Legierung be
stehende Plattierungslage (20) Co-Re enthält, vor
zugsweise aus Co-Re besteht.
11. Anschlußelement nach Anspruch 1, dadurch gekennzeich
net, daß die aus nichtkristalliner Legierung be
stehende Plattierungslage (20) Cr-W enthält, vorzugs
weise aus Cr-W besteht.
12. Anschlußelement nach Anspruch 1, dadurch gekennzeich
net, daß die aus nichtkristalliner Legierung be
stehende Plattierungslage (20) Cr-Mo enthält, vorzugs
weise aus Cr-Mo besteht.
13. Anschlußelement nach Anspruch 2, dadurch gekennzeich
net, daß die Plattierungslage (20) 85 bis 95% Ni und
5 bis 15% P enthält.
14. Anschlußelement nach Anspruch 3, dadurch gekennzeich
net, daß die Plattierungslage (20) 93 bis 94% Ni und
6 bis 7% B enthält.
15. Verfahren zur Herstellung nach einem der vorhergehen
den Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Plat
tierungslage (20) galvanisch unter Verwendung von
Phosphorsäure als Phosphorenthaltendes Additiv auf
das Trägermetall (10) aufgebracht wird und daß anschlie
ßend die Goldplattierung (30) auf die Plattierungsla
ge (20) aufgebracht wird.
16. Verfahren zur Herstellung nach einem der vorhergehen
den Ansprüche 1 bis 14, dadurch gekennzeichnet, daß
die Plattierungslage (20) ungalvanisch unter Verwen
dung von Hypophosphit als Reduktionsmittel auf das
Trägermetall (10) aufgebracht wird und daß anschlie
ßend die Goldplattierung (30) auf die Plattierungs
lage (20) aufgebracht wird.
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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1988
- 1988-11-16 GB GB8826815A patent/GB2212516A/en not_active Withdrawn
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