DE3705166C2 - - Google Patents

Description

Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Vorrichtung zum automatischen Beschicken eines Mikroskops mit Probenträgern aus einem Vorratsbehälter gemäß Oberbegriff des Anspruchs 1 und Oberbegriff des Anspruchs 2, wie sie z. B. aus der US-PS 38 48 962 bekannt sind.

Bei einer aus der US-PS 44 53 807 bekannten Vorrichtung zum automatischen Beschicken eines Mikroskops mit Probenträgern aus einem Vorratsbehälter werden die Probenträger einem Vorratsbehälter entnommen, einer Be­ obachtungsposition zugeführt und im Anschluß in einem zweiten Behälter gespeichert. Es sind also zwei Behälter notwendig, um den Automatismus zu gewährleisten. Zwei Behälter für Probenträger bedingen jedoch einen unver­ hältnismäßig großen apparativen Aufwand und Platzbedarf.

Aus der US-PS 42 48 498 ist eine Vorrichtung zum automatischen Beschicken eines Mikroskops mit Probenträgern aus einem Vorratsbehälter bekannt, bei welcher nur ein einziger Behälter benötigt wird. Diese Vorrichtung hat jedoch den Nachteil, daß die Zeitspanne, die zum Probenträgerwechsel notwendig ist, nicht zur Beobachtung von Proben zur Verfügung steht.

Die Aufgabe der vorliegenden Erfindung besteht darin, ein Verfahren und eine Vorrichtung der im Oberbegriff des Anspruchs 1 und des Anspruchs 2 genannten Art zu schaffen, welche ein rasches und zuverlässiges Beschicken eines Mikroskops mit den Probenträgern eines Vorratsbehälters ermöglichen.

Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß durch ein Verfahren gemäß Anspruch 1 und eine Vorrichtung gemäß Anspruch 2 gelöst.

Vorteilhafte Ausgestaltungen der erfindungsgemäßen Vorrichtung sind in den Unteransprüchen 3 bis 5 angeführt.

Im Nachfolgenden wird beispielhaft eine Ausführungsform der erfindungsge­ mäßen Vorrichtung in Verbindung mit der Zeichnung beschrieben. Darin zeigt

Fig. 1 eine schematische, perspektivische Darstellung eines Teils der Vorrichtung gemäß der Erfindung,

Fig. 2 einen Teil der Vorrichtung von Fig. 1 in einer schemati­ schen, teilweise geschnittenen Seitenansicht, von rechts gesehen,

Fig. 3 eine Zeittafel des Betriebsablaufes der in Fig. 1 dargestellten Vorrichtung;

Fig. 4 ein Vakuumsystem der Vorrichtung in Fig. 1;

Fig. 5 eine schematische, teilweise geschnittene Vorderansicht der Vorrichtung gemäß der Erfindung, und

Fig. 6 eine perspektische Darstellung eines Teils der Vorrichtung in Fig. 5.

Unter Bezugnahme auf die Fig. 1, 2, 5 und 6 wird nun eine Konstruktion der Vorrichtung zur Blutzell-Klassifi­ kation gemäß einer Ausführungsform der Erfindung beschrie­ ben.

Grob gesagt ist die Vorrichtung zur Blutzell-Klassifikation ausgerüstet mit einem Vorratsbehälter 150, einem Probenbe­ förderer 250 und einer Meßvorrichtung 400, die ein Mikroskop einschließt. Die Meßvorrichtung 400 ist mit dem Mikroskop ausgerüstet, welches Linsen 26, 27 und einen beweglichen Probenhalter 440 aufweist, der eine Unterdruck-Halteeinrichtung 16 hat.

Der Probenbeförderer 250 ist ausgerüstet mit einem eine Schiene 40 aufweisenden Beförderungsweg und einem Beför­ derer, der zwischen einer Probenaufnahmeposition 100, einer Ladeposition 200 und einer Zwischenlagerstation 300 läuft. Der Beförderer hat einen sich bewegenden Schlit­ ten 23 und zwei Beschickungshebel 24 A, 24 B, die an den Schlitten 23 montiert sind. In dem Vorratsbehälter 150 sind eine Vielzahl von Kassetten 130 untergebracht, die eine Vielzahl von Probenträgern 28 enthalten, die am Umfang einer Probenausgabesteuerung 120 herausziehbar sind. Die Probenausgabesteuerung 120 hat eine Konstruktion, um jede Kassette 130 vertikal und selektiv zu bewegen und so die auszugebenden und in Höhe des Beförderungsweges enthaltenen Proben zu positionieren. Weiter ist der Vorratsbehälter 150 noch mit einem Drehteller 110 ausgerüstet, der sich so dreht, daß er jede Kassette 130 selektiv zu einem Bereich positioniert, der dem Beförderungsweg entspricht.

Der Probenhalter 440 kann in beiden Richtungen X und Y verschoben werden, um so einen großen Bereich auf den gehaltenen Probenträgern 28 nacheinander zur Betrach­ tung durch das Mikroskop in Position zu setzen. Das Mi­ kroskop ist auf einem Grundkörper 1 angebracht. Eine Unterdruck-Halteeinrichtung mit einem Paar Haltearme 16 A, 16 B ist an einem X-Y-Objekttisch 2 fixiert. Der X-Y-Objekttisch 2 ist auf dem Grundkörper 1 in beiden Richtungen X und Y beweglich konstruiert. Eine Mutter­ schraube 8 ist an dem X-Y-Objekttisch 2 befestigt und eine Beschickungsschraube 5, die mit einem Schrittmotor 3 durch eine Verbindung 7 A verbunden ist, und eine Beschickungs­ schraube 6, die mit einem Schrittmotor 4 durch eine Verbin­ dung 7 B verbunden ist, sind drehbar darin eingeführt. Somit verschiebt sich der X-Y-Objekttisch 2 in der X-Richtung gemäß einer Drehung des Schrittmotors 4 und auch in der Y-Richtung gemäß einer Drehung des Schrittmotors 3. Der X-Y-Objekttisch 2 ist mit zwei Haltearmen 16 A, 16 B ausge­ rüstet, die horizontal und parallel herausragen. Das Haltearmpaar 16 A, 16 B kann auf dem Probenträger-Beförderungsweg auf dem Mikroskopgrundkörper 1 positioniert werden und kann auch senkrecht zu dem Proben­ träger-Beförderungsweg angeordnet werden.

Der Beförderer 250 zum Befördern der Probenträger zu einer gewünschten Position auf dem Beförderungsweg ist ausgestattet mit zwei geraden Achsen 25 A, 25 B, der Schlit­ ten 23 ist in die geraden Achsen eingesetzt und somit in deren Längsrichtung verschiebbar, die Beschickungshebel 24 A, 24 B sind auf dem Schlitten 23 angebracht und in der Lage, die Objektträgerprobe 28 zu greifen, und die Schiene steuert die Bewegung des Probenträgers 28 unter einem Bewegungsbereich des Probenträgers 28.

Auf der unteren Oberfläche beider Haltearme 16 A, 16 B ist eine glatte Vakuum-Adsorptionsoberfläche 50 gebildet und auf der Referenzebene 50 sind Öffnungen 37 A, 37 B, 37 C, 37 D gebildet, die mit einem in Fig. 4 gezeigten Vakuumgenerator in Verbindung stehen. Die Oberfläche des Probenträgers 28 wird durch Vakuumkraft von den Vakuum-Adsorptionslöchern 37 adsorbiert, um mit der Vakuum-Adsorptionsoberfläche 50 in Kontakt zu kommen.

Probenrückhalter 17 A, 17 B sind auf- und abbewegbar auf dem Haltearmpaar 16 A bzw. 16 B montiert. Die Probenrückhalter 17 A, 17 B sind plattenartig und sind ausgerüstet mit Gleit­ achsen 19 A, 19 B, Führungsachsen 20 A, 20 B und Probenablöse­ gliedern 18 A, 18 B. Diese sind einstückig auf- und abbeweg­ bar. Zwischen den oberen Oberflächen der Haltearme 16 A, 16 B und den Vorsprüngen 51 der Gleitachsen 19 A, 19 B sind Federn 21 A, 21 B eingesetzt und die Federn 21 A, 21 B wirken normaler­ weise so, daß sie die Probenrückhalter 17 A, 17 B aufwärts ziehen. Die Probenrückhalter 17 A, 17 B drücken auf die obere Oberfläche des Probenträgers 28, um durch die Federkraft mit der Vakuum-Adsorptionsoberfläche 50 in Kontakt zu kommen. Entsprechend kann die Probe mit der Vakuum-Adsorptionsoberfläche auch dann in Kontakt gehalten werden, wenn die Vakuumkraft geschwächt ist.

Die Probenrückhalter 17 A, 17 B werden in ihrer Bewegungs­ richtung reguliert durch die Führungsachsen 20 A, 20 B, die in auf den Armen 16 A, 16 B gebildeten Führungslöchern eingeführt sind und sich deshalb vertikal bewegen. Eine Tätigkeit der Haltearme 16 A, 16 B, um die Probe zu halten und loszulassen wird bei der Probenaustauschposition auf dem Beförderungsweg ausgeführt. Beim Austauschen wird gegen die Kraft der Federn 21 A, 21 B durch eine Abwärtsbewegung von Druckplatten 15 A, 15 B eine Kraft ausgeübt und die Probenrückhalter 17 A, 17 B und die Probenablöseglieder 18 A, 18 B senken sich. Eine Druckkraft durch die Federn auf die Probe wird entsprechend einem Absenken der Probenrückhalter freigesetzt. Dann wird die Probe unter Kraftanwendung von der Vakuum-Adsorptionsoberfläche abgelöst, weil auf die Probe 28 durch das Absenken der Probenablöseglieder 18 A, 18 B Druck ausgeübt wird. Somit ist die Probe bereit, um sich von den Haltearmen 16 A, 16 B abwärts freizusetzen.

Auf der Schiene 40, die den Beförderungsweg bildet, sind in einem vorbestimmten Bereich Schlitze 22 A, 22 B gebildet, so daß sich die Probenrückhalter 17 A, 17 B abwärts entfernen können, wenn die oberen Enden der Achsen 19 A, 19 B durch die Druckplatten 15 A, 15 B abwärts gedrückt werden.

Auf dem Grundkörper 1 ist ein Mechanismus installiert zum Abwärtsbewegen der Probenrückhalter 17 A, 17 B gegen die Federkraft, der die Druckplatten 15 A, 15 B, eine an die Druckplatten montierte drehende Achse 9, einen Arm 11, an dem das eine Ende der drehenden Achse 9 befestigt ist, einen weiteren Arm 12, der mit einem mit dem Arm 11 in Eingriff stehenden Zapfen 13 versehen ist und einen Dreh­ elektromagneten 14 aufweist, um den Arm 12 hin- und herzu­ bewegen. In einer solchen Einrichtung dreht sich die Drehachse 9 um einen vorbestimmten Winkel, um auf die Achsen 19 A, 19 B einen Druck auszuüben, wenn der Drehelek­ tromagnet 14 angetrieben wird.

Wie in Fig. 4 gezeigt ist, sind die auf den Haltearmen 16 A, 16 B gebildeten Öffnungen 37 A, 37 B, 37 C, 37 D über einen Schlauch 33 mit einem Öltank 29, einem Vakuumdruckdetektor 30, einem Dreiwege-Elektromagnetventil 31 zur Richtungs­ steuerung und einer Vakuumpumpe 32 verbunden.

Wie in Fig. 5 gezeigt ist, wird ein Probenträger 28 A, der in einer Kassette 130 A enthalten ist, die selektiv auf dem Beförderungsweg positioniert ist, durch einen Schiebehebel der Probenausgabesteuerung 120 in die Proben­ aufnahmeposition 100 auf den Beförderungsweg hinausgescho­ ben. Dies bedeutet, daß der Probenträgerbeschickungshebel gemäß dem Einschalten eines Elektromagneten 108 arbeitet und somit ein Betätigungsschaft an einer Nase des Elektro­ magneten 108 aufwärts gerichtet wird. Der Elektromagnet 108 wird ausgeschaltet, nachdem der Probenträger 28 A zur Position 100 geschoben ist und der Betätigungsschaft kehrt in seine Ausgangsposition zurück. Der Probenträgerbe­ schickungshebel kehrt gleichzeitig zurück.

Der Beförderer zum Befördern der Probe auf dem Beför­ derungsweg hat den Schlitten 23 und die Beschickungshebel 24 A, 24 B und führt eine geradlinige Bewegung aus mit den Achsen 25 A, 25 B als Führung. Eine Riemenscheibe 214 B ist koaxial mit einem Motor 212 ausgebildet und eine Drehkraft des Motors 212 wird durch einen Draht 213 auf eine Riemen­ scheibe 214 A gegeben.

Weil der Draht 213 und der sich bewegende Schlitten 23 aneinander gekoppelt sind, wird die Drehkraft des Motors auf den Beförderer übertragen.

Die Ladeposition 200 ist die Position zum Herausziehen des Probenträgers 28 A, der durch die Probenträgerbeschickungshebel 24 A, 24 B an das durch das Mikroskop und den Objekttisch gebildete Meßteil 400 ausgegeben wird. Das Meßteil 400 klassifiziert und mißt den Probenträger 28 A, nachdem er adsorbiert und durch die Haltearme 16 A, 16 B bewegt ist.

Die Zwischenlagerstation 300 ist auf einer nahezu geraden Ausdehnung angeordnet, die die Kassette 130 A des Vorratsbehälters 150 und die Ladeposition 200 verbin­ det. Eine Aufnahmeposition für dringliche Proben ist eine, bei der ein manuell zu bedienender Aufnehmer 310 für dringliche Proben mit einer darauf gesetzten dringlichen Probe 28 D installiert ist. Der Aufnehmer für dringliche Proben 310 ist so konstruiert, daß er durch manuelle Betätigung zur Probenhalteposition 300 schiebbar ist. Der Beförderer 250 dient zum Bewegen der dringlichen Probe 28 D zur Probenaufnahmeposition für dringliche Proben in Ein­ griff mit einer Bewegung der Probenträgerbeschickungshebel 24 A, 24 B. Die Bezugszeichen 218 A, 218 B, 218 C bezeichnen Positionsdetektoren zum Erfassen von Positionen der Proben­ trägerbeschickungshebel 24 A, 24 B.

Als nächstes wird die Funktion des Probenbeförderers beschrieben.

Wenn die Probe 28 A mit auf einem Probenträger ausgestriche­ nem Blut zur Aufnahmeposition 100 herausgezogen wird, bewegt sich der Draht 213 durch das Arbeiten des Motors 212. Der Schlitten 23 macht dann damit übereinstimmend eine geradlinige Bewegung und der Probenträger 28 A wird zur Ladeposition 200 des Meßteils geschickt und an den Meßteil adsorbiert. Während des Vorgangs zum Klassifizieren des Probenträgers 28 A kehren die Probenträgerbeschickungshebel 24 A, 24 B wieder in die Probenaufnahmeposition 100 zurück, um den Proben­ träger 28 B aufzunehmen und beginnen in gleicher Weise zu verschieben. Jedoch wird der Probenträger 28 B durch die Ladeposition 200 des Meßteils bis zur Zwischenlagerstation 300 geschickt und muß dann warten, bis die Arbeit zur Klassifikationsmessung des Probenträgers 28 A vorüber ist.

Nachdem die Arbeit vorüber ist, wird - weil der Proben­ träger 28 A vom Meßteil 400 zur Ladeposition 200 des Meßteils zurückgeführt wird - der wartende Proben­ träger 28 B durch den Probenträgerbeschickungshebel 24 B nach links geführt und während der zur Ladeposi­ tion des Meßteils zurückgeführte Probenträger 28 A durch den Hebel 24 A nach links geführt wird, wird die Probe 28 B bei der Ladeposition 200 des Meßteils gestoppt. Während dann der Probenträger 28 B für die Klassifi­ zierungsarbeit an den Meßteil 400 adsorbiert wird, wird der erste Probenträger 28 A geschoben, um sich bis zu der die Probe enthaltenden Position am linken Ende zu bewegen und somit ist der Probenträger 28 A in der Kassette 130 A enthalten, die identisch mit der Kassette ist, aus der er herausgezogen wurde. Nachdem der Probenträger 28 A in der Kassette 130 A enthalten ist, bewegen sich die Proben­ trägerbeschickungshebel 24 A, 24 B bis zur Probenaufnahme­ position 100, um den nächsten Probenträger, nament­ lich einen dritten Probenträger 28 C aufzunehmen.

Die Probe 28 C wird zur Zwischenlagerstation 300 geschoben und dort einmal zurückgehalten, um zu warten, bis die Betrachtung der vorhergehenden Probe 28 B durch das Mi­ kroskop zu einem Ende kommt.

Die Probenträger können sanft ausgetauscht werden, indem der oben beschriebene Arbeitsablauf sequentiell wiederholt wird.

Als nächstes wird die Funktion der Meßvorrichtung 400 beschrieben. Wie in Fig. 1 und Fig. 2 gezeigt ist, ist zwischen der Bündelungslinse 26 und dem Objektiv 27 eine Betrachtungsposition des Mikroskops gebildet. Wenn die Betrachtung des an der Unterdruck-Halteeinrichtung 16 A, 16 B gehaltenen Probenträgers 28 A vorüber ist, wird die Probe 28 A auf die Ladeposition 200 der Schiene 40 gesetzt, entsprechend einer Bewegung des X-Y-Objekttisches 2, wie in Fig. 1 und Fig. 2 gezeigt ist.

Immer wenn der Probenträger 28 A zur Ladeposition kommt, arbeitet das Dreiwege-Elektromagnetventil 31 zur Richtungssteuerung wie in Fig. 4 gezeigt, um den Vakuum­ druck in dem Schlauch 33 auf Atmosphärendruck abzuschalten und deshalb verliert der Probenträger 28 A, der bis dahin an die Referenzebene der unteren Oberfläche des Probenhaltearms 16 adsorbiert ist, eine Vakuumhaltekraft.

Wenn sich andererseits der Drehelektromagnet 14 synchron mit einem elektrischen Signal in dem Dreiwege-Elek­ tromagnetventil 31 zur Richtungssteuerung dreht, werden die Gleitachsen 19 A, 19 B genau unter den Druckplatten 15 A, 15 B durch die Druckplatten abgesenkt, weswegen sich die Proben­ rückhalter 17 A, 17 B ebenso senken, und der Probenträger 28 A wird in eine Rinne der Schiene 40 fallen gelassen. Die Probenrückhalter 17 A, 17 B passieren Schlitze der Schiene 40, um in eine tiefer als die Schiene 40 gelegene Position zu gelangen. Der Schlitten 23 wird durch den Schrittmotor 212 angetrieben. Wenn sich der Schlitten 23 nach links verschiebt, wird der Probenträger 28 A, der auf die Schiene 40 gefallen ist, durch den Hebel 24 A auf der linken Seite geschoben, um sich nach links zu verschie­ ben. Der nächste Probenträger 28 B, der zwischen den Hebeln 24 A, 24 B wartet, stoppt an der Ladeposi­ tion 200 zur selben Zeit. Zu diesem Zeitpunkt wird der Drehelektromagnet 14 durch das elektrische Signal abge­ schaltet und auch die Druckplatten 15 A, 15 B setzen sich durch eine Selbstrücksetzungskraft zurück, weshalb sich auch die Probenrückhalter 17 A, 17 B mit dem darauf gesetzten Probenträger 28 B auf die Kraft der Federn 21 A, 21 B hin heben und der Probenträger 28 B wird an der Vakuum-Adsorbtionsoberfläche der Haltearme 16 A, 16 B klebend gehalten. Wenn der Probenträger 28 an der unteren Oberfläche des Probenhaltearms 16 bei konstanter Position sowohl in X- als auch in Y-Richtung durch einen Posi­ tionierungsmechanismus (nicht gezeigt in der Zeichnung) gehalten wird, wird das Dreiwege-Elektromagnetventil 31 zur Richtungssteuerung angeschaltet und der Probenträger wird aufgrund eines Vakuums adsorbiert. Wenn durch den Vakuumdruckdetektor 30 ein vorgeschriebener Vakuumdruck erfaßt wird, wird der X-Y-Objektträger 2 angetrieben und der Probenträger 28 B wird bei einer Analysenabtast­ position unter dem Mikroskop betrachtet und gemessen.

Der vollständig gemessene Probenträger 28 A ist durch einen Arbeitsschritt des Schlittens 23 in einer Kassette des Vorratsbehälters aufbewahrt und der nächste Probenträger 28 C wird herausgezogen, um zu warten. Weil Öl an den Probenträger in Zusammenwirkung mit Vakuum-Absaugung abgesaugt wird, dient der Öltank 29 zum Aufbewahren des Öls, damit es nicht zu elektrischen Teilen wie dem Vakuum­ druckdetektor 30 und anderen fließt.

Während der oben beschriebene Arbeitsablauf wiederholt wird, können verzogene Probenträger unter einer Vielzahl von Proben wie vorstehend erwähnt vorhanden sein. Solche Probenträger können nicht einmal für das Verziehen durch das Einsetzen korrigiert werden, weswegen die Luft unter Umständen unvermeidbar leckt. Daneben leckt die Luft, wenn die Vakuum-Adsorptionsoberfläche 50 fehler­ haft ist. Weiterhin leckt die Luft auch da, wo der Probenträger beschädigt ist. Schließlich leckt die Luft selbst dann aufgrund von falschem Austausch, wenn der Probenträger nicht richtig eingesetzt ist. Die Luft kann lecken aufgrund von Gas, Staub und ähnlichem, welche auf die Oberfläche des Probenträgers zur Adsorption aufgestrichen sind. Es können somit vielfältige Ursachen für das Lecken der Luft auftreten, jedoch tritt Luftleckage aufgrund von Fehlern oder anderen Defekten der Vakuum-Ad­ sorptionsoberfläche 50 immer dann auf, wenn eine Probe geprüft und gemessen wird, jedoch Luftleckage aufgrund verzogener Probenträger, aufgrund von Gas, Staub oder ähnlichem tritt nur bei der Prüfungszeit auf. Entsprechend wird die Situation, ob die Luft leckt und somit ein norma­ ler Vakuumdruck bei der Prüfung nicht erreicht wird, durch den Vakuumdruckdetektor 30 erfaßt und durch eine Steuerungs­ schaltung 34 und einen Rechner 35 überwacht und es kann dann unterschieden werden, ob die Unterdruck-Halteeinrichtung 16 oder der Probenträger 28 fehlerhaft ist. In der Ausführungs­ form ist es vorgeschrieben, daß eine solche Prüfung dreimal aufeinanderfolgend wiederholt wird und die Vorrichtung wird bei der vierten Prüfung wegen Undurchführbarkeit des analytischen Abtastens angehalten.

Das Spiel zwischen dem Probenträger und dem Objektiv bei der Position des analytischen Abtastens ist auch auf einige µm begrenzt, weswegen die Probe beim Verschobenwer­ den in die Position des analytischen Abtastens, wenn großer Staub oder ähnliches darauf belassen wird, das Objektiv beschädigen kann. Demgemäß ist der Vakuumdruckdetektor 30, wenn für den Vakuumdruck ein gemäßigter Bereich vorge­ schrieben ist, wirksam genug, um die Größe eines Fehlers an der Unterdruck-Halteeinrichtung, die Größe von Staub auf dem Probenträger oder falsches Einsetzen desselben zu erfassen.

Claims (6)

1. Verfahren zum automatischen Beschicken eines Mikroskops mit Proben­ trägern aus einem Vorratsbehälter, das für jeden der zu untersuchenden Probenträger folgende Transportschritte aufweist:
Befördern des zu untersuchenden Probenträgers von dem Vorratsbehälter in eine Ladeposition,
Befördern dieses Probenträgers von der Ladeposition in eine Beobach­ tungsposition,
und Zurückführen des Probenträgers in den Vorratsbehälter nach dem Beobachtungsvorgang,
gekennzeichnet durch folgende, ab dem zweiten zu untersuchenden Probenträger ablaufende Transportschritte:
Befördern des jeweils nächsten zu untersuchenden Probenträgers in eine noch vor der Ladeposition einzunehmende Zwischenlagerstation bereits dann, wenn der vorhergehende Probenträger sich noch in der Beobachtungsposition befindet,
nach Abschluß des Beobachtungsvorganges des vorhergehenden Probenträgers Befördern dieses Probenträgers aus der Beobachtungsposition in die Ladeposition, und zwar vor Überführung des jeweils nächsten zu untersu­ chenden Probenträgers aus der Zwischenlagerstation in die Ladeposition, wobei der vorhergehende, bereits untersuchte Probenträger in Richtung des Vorratsbehälters verschoben und somit der Rücktransport zum Vorratsbehälter eingeleitet wird.

2. Vorrichtung zum automatischen Beschicken eines Mikroskops mit Proben­ trägern aus einem Vorratsbehälter,
mit einem Schlitten, welcher den zu untersuchenden Probenträger in eine Ladeposition überführt, aus der der Probenträger in eine Beobachtungs­ position gebracht wird, und welcher den Probenträger nach dem Beobach­ tungsvorgang in den Vorratsbehälter zurückführt,
dadurch gekennzeichnet,
daß ab dem zweiten zu untersuchenden Proben­ träger (28 B) für jeden der nachfolgenden Probenträger (28 C) eine noch vor der Ladeposition (200) einzunehmende Zwischenlagerstation (300) vorgesehen ist,
daß der Schlitten (23) den jeweils nächsten zu untersuchenden Proben­ träger in diese Zwischenlagerstation (300) bereits dann überführt, wenn der vorhergehende Probenträger (28 A) sich noch in der Beobachtungs­ position befindet, und daß dieser vorhergehende Probenträger (28 A) von der Beobachtungsposition in die Ladeposition (200) überführt wird, bevor der Schlitten (23) den jeweils nächsten zu untersuchenden Probenträger aus der Zwischenlagerstation (300) in die Ladeposition (200) bringt und dabei den vorhergehenden, bereits untersuchten Probenträger (28 A) in Richtung des Vorratsbehälters (150) verschiebt und somit den Rücktrans­ port zum Vorratsbehälter (150) einleitet.

3. Vorrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß der Schlitten (23) einen ersten (24 A) und einen zweiten (24 B) Beschickungshebel aufweist, zwischen denen der zu transportierende Probenträger (28 A, 28 B, 28 C) gehalten ist.

4. Vorrichtung nach Anspruch 2 oder 3, dadurch gekennzeichnet, daß eine Unterdruck-Halteeinrichtung (16 A, 16 B) vorgesehen ist, welche einen jeden Probenträger (28 A, 28 B, 28 C) in der Beobachtungsposition hält und welche die Überführung dieses Probenträgers (28 A, 28 B, 28 C) zwischen der Beobachtungsposition und der Ladeposition (200) übernimmt.

5. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 2 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß ein manuell zu bedienender Aufnehmer (310) vorgesehen ist, welcher zur Aufnahme eines vordringlichen, nicht im Vorratsbehälter (150) enthaltenen Probenträgers (28 D) dient und zusammen mit diesem zu der Zwischenlagerstation (300) schiebbar ist und somit die manuelle Einbrin­ gung des vordringlichen Probenträgers (28 D) gestattet.

6. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 2 bis 5, dadurch gekennzeichnet, daß der Vorratsbehälter (150) zwei identisch zueinander ausgebildete Kassetten (130 A, 130 N) aufweist, wobei die eine Kassette (130 A) die zu untersuchenden Probenträger und die andere Kassette (130 N) die bereits untersuchten Probenträger aufnimmt.