DE3619729A1 - Durchstrahlungs-elektronenmikroskop - Google Patents
Durchstrahlungs-elektronenmikroskopInfo
- Publication number
- DE3619729A1 DE3619729A1 DE19863619729 DE3619729A DE3619729A1 DE 3619729 A1 DE3619729 A1 DE 3619729A1 DE 19863619729 DE19863619729 DE 19863619729 DE 3619729 A DE3619729 A DE 3619729A DE 3619729 A1 DE3619729 A1 DE 3619729A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- lens
- image
- rotation
- electron microscope
- final image
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 title claims description 12
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 15
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 claims description 10
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 2
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 26
- 230000008859 change Effects 0.000 description 8
- 230000006870 function Effects 0.000 description 5
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 5
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 241001590997 Moolgarda engeli Species 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 238000004627 transmission electron microscopy Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/26—Electron or ion microscopes; Electron or ion diffraction tubes
- H01J37/261—Details
- H01J37/265—Controlling the tube; circuit arrangements adapted to a particular application not otherwise provided, e.g. bright-field-dark-field illumination
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Electron Beam Exposure (AREA)
- Electron Sources, Ion Sources (AREA)
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60127580A JPH0815060B2 (ja) | 1985-06-12 | 1985-06-12 | 透過形電子顕微鏡 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE3619729A1 true DE3619729A1 (de) | 1986-12-18 |
| DE3619729C2 DE3619729C2 (enExample) | 1991-05-16 |
Family
ID=14963574
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE19863619729 Granted DE3619729A1 (de) | 1985-06-12 | 1986-06-12 | Durchstrahlungs-elektronenmikroskop |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4775790A (enExample) |
| JP (1) | JPH0815060B2 (enExample) |
| DE (1) | DE3619729A1 (enExample) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0654647B2 (ja) * | 1986-04-11 | 1994-07-20 | 日本電子株式会社 | 電子顕微鏡 |
| JPH02152154A (ja) * | 1988-12-02 | 1990-06-12 | Jeol Ltd | 透過型電子顕微鏡 |
| US5254856A (en) * | 1990-06-20 | 1993-10-19 | Hitachi, Ltd. | Charged particle beam apparatus having particular electrostatic objective lens and vacuum pump systems |
| JP3390541B2 (ja) * | 1994-09-06 | 2003-03-24 | 株式会社日立製作所 | 荷電粒子投射装置 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0068896A2 (en) * | 1981-07-01 | 1983-01-05 | Hitachi, Ltd. | Image distortion-free, image rotation-free electron microscope |
| US4520264A (en) * | 1982-04-08 | 1985-05-28 | Jeol Ltd. | Electron microscope |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS52137257A (en) * | 1976-05-12 | 1977-11-16 | Jeol Ltd | Electron microscope |
| GB2008124B (en) * | 1977-11-11 | 1982-03-17 | Orobis Ltd | Process for producding dispersant detergents and lubricating oil compositions containing them |
| JPS614142A (ja) * | 1984-06-16 | 1986-01-10 | Jeol Ltd | 電子顕微鏡 |
-
1985
- 1985-06-12 JP JP60127580A patent/JPH0815060B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1986
- 1986-06-09 US US06/871,852 patent/US4775790A/en not_active Expired - Lifetime
- 1986-06-12 DE DE19863619729 patent/DE3619729A1/de active Granted
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0068896A2 (en) * | 1981-07-01 | 1983-01-05 | Hitachi, Ltd. | Image distortion-free, image rotation-free electron microscope |
| US4520264A (en) * | 1982-04-08 | 1985-05-28 | Jeol Ltd. | Electron microscope |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0815060B2 (ja) | 1996-02-14 |
| JPS61285647A (ja) | 1986-12-16 |
| US4775790A (en) | 1988-10-04 |
| DE3619729C2 (enExample) | 1991-05-16 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| DE2851640C2 (de) | Elektronenmikroskop | |
| DE2436160A1 (de) | Rasterelektronenmikroskop | |
| DE2461202A1 (de) | Verfahren und vorrichtung zum automatischen fokussieren eines elektronenstrahls in einem abtastgeraet | |
| DE19828741A1 (de) | Elektronenmikroskop mit einem abbildenden magnetischen Energiefilter | |
| DE1589825A1 (de) | Elektronenoptisches System zum Buendeln und Ablenken eines Elektronenstrahls | |
| DE3120942A1 (de) | "telezentrische beleuchtungsanordnung" | |
| DE3145606C2 (de) | Rasterelektronenmikroskop | |
| DE2930225A1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur kompensation des astigmatismus eines ladungstraegerstrahls | |
| WO1997014074A1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur erzeugung eines stereoskopischen videobildes | |
| DE69331620T2 (de) | Elektronische Linse | |
| EP0641012A1 (de) | Elektronenoptisches Abbildungssystem mit regelbarem Elementen | |
| DE3619729A1 (de) | Durchstrahlungs-elektronenmikroskop | |
| DE2063598A1 (de) | Elektronenstrahlablenkgerat fur eine Elektronenstrahl vorrichtung | |
| EP1006556B1 (de) | Teilchenoptische Anordnung und Verfahren zur teilchenoptischen Erzeugung von Mikrostrukturen | |
| EP1125428A1 (de) | Schaltung zur wandlung einer bildrate | |
| DE2414608C2 (de) | Adressierverfahren für eine matrixförmige Anzeigevorrichtung | |
| DE2643199A1 (de) | Verfahren zur bildlichen darstellung eines beugungsbildes bei einem durchstrahlungs-raster-korpuskularstrahlmikroskop | |
| DE2652273C2 (de) | Verfahren zur bildlichen Darstellung eines Beugungsbildes bei einem Durchstrahlungs-Raster-Korpuskularstrahlmikroskop | |
| DE2742264A1 (de) | Verfahren zur abbildung eines objektes mit geringer vergroesserung mittels eines korpuskularstrahlgeraets, insbesondere eines elektronen-mikroskops | |
| DE2726002A1 (de) | Stereobild-betrachtungsgeraet | |
| DE2225172C3 (de) | Ablenkspulensystem, insbesondere für eine Bildaufnahmeröhre und Fernsehkamera mit einem solchen Ablenkspulensystem | |
| DE69913313T2 (de) | Quadrupol-Vorrichtung für Projektionslithographie mittels geladener Teilchen | |
| DE2612492A1 (de) | Elektronisches abtastmikroskop | |
| DE69115200T2 (de) | Gerät zur Unterstützung der optischen Fokussierung einer Fernsehkamera und Kamera mit einer derartigen Vorrichtung. | |
| WO2002058101A1 (de) | Elektrostatischer korrektor |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
| D2 | Grant after examination | ||
| 8364 | No opposition during term of opposition |