DE3145606C2 - Rasterelektronenmikroskop - Google Patents
RasterelektronenmikroskopInfo
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Abstract
Ein Elektronenstrahlgerät mit einer Elektronenquelle (1), einer Kondensorlinse (3), einer Objektivlinse (8) und einer oberen und unteren Ablenkspule (6 und 20), die zwischen der Kondensorlinse (3) und der Objektivlinse (8) angeordnet sind, von denen die untere Ablenkspule sattelförmig ausgebildet ist, und die von einem gemeinsamen einzigen Ablenksignalgenerator (21) gespeist werden, der Abtastsignale erzeugt, mit unterschiedlichen Frequenzen, die von niedrigen Abrastergeschwindigkeiten bis zu Fernsehabrastergeschwindigkeiten reichen. Hierdurch wird eine Bildverschiebung vermieden, wenn ein Wechsel zwischen Fernsehabrastergeschwindigkeit und einer anderen niedrigeren Abrastergeschwindigkeit erfolgt.
Description
aufweisen und eine große Eigeninduktivität (im folgenden als »Induktivität« bezeichnet) pro Einheitsablenkwinkel
aufweisen. Demzufolge besitzen die obere und untere Ablenkspule 6 und 7 eine relativ hohe kombinierte
Induktivität. Diese hohe Induktivität führt zu kleinen Abtastwinkeln für den Fall, daß ein Strom mit
annähernder Fernsehabtastfrequenz vom Sägezahngenerator geliefert wird, um die Bedürfnisse einer Probenbeobachtung
mit Hochgeschwindigkeitsabrasterang zu
befriedigen. Durch die hohe Induktivität wird die Sägezahnform des Stromes beim Hindurchfließen durch die
Ablenkspulen gestört. Demzufolge ist ein Umschalten notwendig, damit der Impulsgenerator U einen Strom
in Rechteckwellenform liefert, der jedoch wiederum in Sägezahnwellenform bei einer Ferasehabrasterung verformt
wird. Außerdem ist es schwierig, die Nullpunkte des Impulsgenerators 11 und des Sägezahngenerators 17
zu jeder Zeit auf einer Linie zu halten. Demzufolge verschiebt sich das Probenbild und die Beobachtung des
gleichen Bereiches des Probenbildes wird verhindert, wenn die Abrastergeschv/iridigkeiten zwischen Fernsehabrastergeschwindigkeiten
und anderen A': rastergeschwindigkeiten wechselt.
Außerdem ist die Verwendung von zwei Quellen für die Abtastsignale aufwendig und erhöht die Herstel-Iungskosten
sowie den Platzbedarf des Gerätes.
Aus der GB-PS 12 48 061 ist ein Rasterelektronenmikroskop mit zwei Ablenkspulen zwischen Kondensor-
und Objektivlinse bekannt, bei dem die beiden Ablenkspulen durch einen Ablenksirom aus einem Ablenksignalgenerator
gespeist. Bei diesem Rasterelektronenmikroskop ist jedoch keine Veränderung der Abrastergeschwindigkeit
vorgesehen. Aus der DE-OS 23 20 283 ist die Verwendung von Sattelspulen als Ablenkspulen
bei Rasterelektronenmikroskopen bekannt.
Aufgabe der F.rfindung ist es. ein Rasterelektronenmikroskop
der eingangs genannten Art zu schaffen, das frei von einer Verschiebung des Probenbildes ist, wenn
die Abrastergeschwindigkeiten zwischen einer Fernsehabrastergescuwindigkeit
und einer anderen Abrastergeschwindigkeit gewechselt werden.
Diese Aufgabe wird gelöst durch die Merkmale des Anspruchs 1, wobei in den Unteransprüchen vorteilhafte
Weiterbildungen der Erfindung angegeben sind.
Dadurch, daß lediglich die obere Ablenkspule ringförmig
ausgebildet ist, und die untere Ablenkspule sattelförmig ausgebildet ist, wird die kombinierte Induktivität
aus der oberen und unteren Ablenkspule verringert. Ferner ist nur ein einziger Abtastsignalgenerator
vorhanden, der die AblenKspulen mit den Abtastsignalen
versorgt, die unterschiedliche Frequenzen aufweisen und deren Abrastergeschwindigkeiten von einer niedrigen
Abrastergeschwindigkeit bis zu Fernsehabrastergeschwindigkeit reichen. Auf diese Weise wird eine Bildverschiebung
verhindert, wenn zwischen den Abrastergeschwindigkeiten, insbesondere zwischen Fernsehabrastergeschwindigkeiten
und anderen Abrastergeschwindigkeiten gewechselt wird.
Ein weiterer Vorteil der Erfindung ist darin zu sehen, daß der Aufbau des Rasterelektronenmikroskops einfach
ist und die Herstellung mit verringertem Aufwand gegenüber bekannten Geräten möglich ist.
Anhand der beiliegenden Figuren wird ein Ausführungsbeispiel der Erfindung noch näher erläutert.
Es zeigt (S
Fig. 1 ein bekanntes Elektronenstrahlgerät;
Fig. 2 ein Ausführungiibeispiel der Erfindung;
Fig. 3 eine sattelförmige Ablenkspule und ,
Fig. 4 eine perspektivische Ansicht einer sattelförmigen
Ablenkspule.
In der Fig. 2 ist ein Ausführungsbeispiel der Erfindung dargestellt. Dieses Ausfühirungsbeispiel enthält
zum Unterschied zu einem in der Fig. 1 dargestellten bekannten Rasterelektronenmikroskop eine untere,
sattelförmig ausgebildete Ablenkspule 20 anstelle einer ringförmigen Ablenkspule. Die obere Ablenkspule 6 ist
als Ringspule ausgebildet. Die obere ringförmige Ablenkspule 6 und die untere sattelförmige Ablenkspule
20 werden von einem Sägezahngenerator 21 über eine Vergrößerungssteuerschaltung 22 mit Abtastsignalen
versorgt. Der Sägezahngenerator 21 erzeugt sägezahnförmige Signale mit unterschiedlichen Frequenzen
in Abhängigkeit von dem Umfang der Änderungsmöglichkeit der Abtastgeschwindigkeiten in einem Bereich,
der sich von einer niedrigen Abtastgeschwindigkeit bis zu Fernsehabtastgeschwindigkeit erstreckt. Die Fig. 3
dient zur Erläuterung der unteren Ablenkspule 20. In dieser Figur ist ein Ferritkern 23 dar—stellt. Innerhalb
des Ferritkernes 23 befinden sich vier i'aare sattelförmiger
Spulenelemente (24a, 24b), (25a, 25ö), (26a, 26b), (27a, TIb) in verschiedenen Schichten. Die Spulenelementpaare
liegen einander gegenüber in der gle.chen Schicht bzw. auf dem gleichen Radius. Die Spulenelemente
24a, 24b in der ersten Schicht bzw. auf dem ersten Radius dienen zur Ablenkung des Elektronenstrahls
in der ^-Richtung. Eines dieser Spulenelemente ist perspektivisch in der Fig. 4 dargestellt. Die in der
Fig. 3 dargestellten Spulenelemente sind dargestellt in Blickrichtung des Pfeiles A in der Fig. 4. Die ausgezogenen
Linienteile in der Fig. 3 entsprechen Spulenwindungen, die in der Fig. 4 mit M und N bezeichnet sind.
Diese Spulenwindungen leiten den elektrischen Strom senkrecht zur Zeichenoberfläche. Die Teile der Spulenelemente
24a und 24b mit Spulenwindungen, die den Strom in die gleiche Richtung wie oben erwähnt leiten,
liegen in einem Winkel von 120', wie e-> in Fig. 3 dargestellt ist. Auf diese Weise wird die Störung in
einem Magnetfeld, das von den Spulenelementen 24a und 246 erzeugt wird, verringert. Die sattelförmigen
Spulenelemente 25a und 25b in der zweiten Schicht bzw. auf dem zweiten Radius dienen zur Ablenkung in
der y-Richtung und besitzen zu den Spulenelementen 24a und 24b einen Winkelabstand von 90 und befinden
sich in enger Berührung mit diesen. Wenn das Verhältnis des Abstands zwischen den Spulenelementen 24c
und 246 sowie dem Kern 23 zu dem Abstand zwischen den Spulenelementen 25a und 25b und dem Kern 23 1
ist, dann ist die Kopplung zwischen dem Kern 23 und den Spulenelementen 24a und 24b sowie die Kopplung
zwischen dem Kern 23 und den Spulenelemen'ten 25a und l?-b äquivalent bzw. gleichwirkend. Demzufolge
sind die Spulenelemente 24a und 24b vom Spulenkern 23 im weitestmögli.iien Abstand, den die räumlichen
Begrenzungen erlauben (beispielsweise 1 mm), angeordnet. Da das Verhältnis nicht 1 sein kann, selbst wenn
der Abstand zwisrhen dem Kern 73 und den Spulenelementen 24a und 24^ groß ist, wird der Ablenkwinkel in
der A'-Richtung etwas größer sein als der Ablenkwinkel
in der K-Richtung, wenn der gleiche Strom dutch die
Spülerielemente auf dem ersten und üuf dem zweiten Radius durch die gleiche Anzahl an Windungen fließt.
Um diese Schwierigkeit zu beseitigen, ist die Anzahl der Windungen der Spulenelemente 25a und 25i>
größer als die Windungszahl der Spulenelemente 24a und 24b.
Beispielsweise beträgt der Unterschied zwei Windungen um die Ablenkwinkel in der X- und der y-Richtung
gleichzuhalten, wenn gleiche Ablenkströme durch die Spulenelemente fließen (der Winkel innerhalb welchem
die Spulenelemente 25a und 25b liegen ist daher etwas größerals 120°). Sattelförmige Spulenelemente 26a, 26b
in einer dritten Schicht bzw. auf einem dritten Radius besitzen gegenüber den sattelförmigen Spulenelementen
25a und 256 einen radialen Abstand, so daß eine geringe Verschiebung des Elektronenstrahls in der X-Richtung
ermöglicht wird. Die sattelförmigen Spuleneiemente 27a und 276 in einer vierten Schicht bzw. auf
einem vierten Radius besitzen ebenfalls einen radialen Abstand gegenüber den Spulenelementen 26a und 26b
und dienen zur geringen Verschiebung des Elektronenstrahls in y-Richtung. Die Spulenelemente 26a und 26b
sowie 27a und 27b werden dann verwendet wenn es notwendig ist. den beobachteten Bereich genau zu verschieben.
Wenn die Hauptebene der Objektivlinse 8 und die Mitte des Ablenkfeldes, welches durch die
sattelförmige Ablenkspule 20 erzeugt wird, einen Abstand F voneinander aufweisen und die Mitte des
Ablenkfeldes, welches von der ringförmigen Ablenkspule 6 erzeugt wird, einen Abstand G von der Mitte
des Ablenkfeldes, das von der sattelförmigen Ablenkspule 20 erzeugt wird, aufweist, werden die Objektivlinse
8 und die ringförmige Ablenkspule 6 sowie die sattelförmige Ablenkspule 20 relativ zueinander so
angeordnet, daß die Beziehung G/F§3 erfüllt wird.
Normalerweise besteht zwischen dem Ablenkwinkel Θ und der Ampere-Windungszahl Ni bei der Ablenkspule
die Beziehung Θ — Μ. Wenn man annimmt, daß
die obere Ablenkspule einen Ablenkwinkel Qx und die
untere Ablenkspule einen Ablenkwinkel von O2
erzeugt, ergibt sich hieraus die Beziehung 6>2 = (G/
F+\) Qx. Aus der Beziehung G/F>3 und der Beziehung
Q1 = (G/F+l) Qx läßt sich die Beziehung QxIQ1
> 1A ableiten. Wenn daher durch die obere und untere
Ablenkspule der gleiche Abienkstrom fließt, ergibt sich für die Windungszahlen Nl und N2 für die obere und
untere Ablenkspulen die Beziehung NVN2 < V».
Da L — N2 ist, wobei L die Spuleninduktivität ist,
ergibt sich LxIL2 <
Vi6 wenn die obere und die untere
Ablenkspule Ringspulen sind. Wenn daher die Beziehung G/F>3 gilt, läßt sich die kombinierte Induktivität
aus oberer und unterer Ablenkspule darstellen als wenn diese allein durch die Induktivität der unteren Ablenkspule
bestimmt wird. Auf diese Weise läßt sich die kombinierte Induktivität verringern, wenn eine Verringerung
der Induktivität der unteren Ablenkspule erzielt wird. Ein Vergleich zwischen ringförmigen und sattelförmigen
Ablenk«pulen mit Kernen, die gleichen Radius aufweisen, ergibt, daß die Induktivität der sattelförmigen
Ablenkspule, welche man zur Ablenkung eines Elektronenstrahls pro Winkeleinheit benötigt,
etwa Vt der Induktivität einer ringförmigen Ablenkspule ist. Da die ringförmige Ablenkspule einen erhöhten
Flußverlust, welcher durch das Linsenjoch fließt, zuläßt, beträgt die Induktivität der sattelförmigen
Ablenkspule etwa Vs bis Ά der von einer ringförmigen
Ablenkspule benötigten Induktivität, wenn sie im Gerät eingebaut wird. Bei dem beschriebenen Rasterelektronenmikroskop
ist die untere Ablenkspule als sattelförmige Spule ausgebildet, so daß die kombinierte Induktivität
aus oberer und unterer Ablenkspule äußerst gering ist. Die Ablenkspulen 6 und 20 werden mit einem
sägezahnförmigen Strom aus dem einzigen Sägezahngenerator 21 bei Rasterbetrieb innerhalb eines breiten·
Geschwindigkeitsspektrums versorgt. Das Abrasterspektrum
reicht von einer niedrigen Abrastergeschwindigkeit bis zu Fernsehabrastergeschwindigkeit. Es
ergibt sich keine Bildverschiebung beim Wechsel von der Fernsehabrastergeschwindigkeit zu einer anderen
Abrastergeschwindigkeit. Hierdurch ist es möglich, auf der Probe zu jeder Zeit immer den gleichen Bereich zu
beobachten.
Da nur eine Quelle zur Erzeugung der Abtastsignale notwendig ist, besitzt das Gerät einen einfachen Aufbau
und der Herstellungsaufwand ist niedrig.
ίο Die Anzahl der Windungen der sattelförmigen
Ablenkspulenelemente zur Ablenkung des Elektronenstrahls in der Al-Richtung weicht von deir Windungszahl
der sattelförmigen Ablenkspulenelemeinte zur Ablenkung des Elektronenstrahls in die y-Richtung ab. Auf
diese Weise wird die Differenz der Kopplungsgrade zwischen den Spulenelementen und dem Spulenkern
eliminiert. Wenn daher die Spulenelemente mit dem gleichen Ablenkstrom versorgt werden, ist der Ablenkwinkel
des Elektronenstrahls in der X- und K-Richtung
gleich. Auf diese Weise läßt sich eine leichte Auswahl und Steuerung der Ablenksignale, insbesondere auch
zur Drehung des Bildes, durch Drehung bzw. Verschwenkung der Rasterung erzielen.
Hierzu 3 Blatt Zeichnungen
Claims (6)
1. Rasterelektronenmikroskop mit einer Elektronenquelle
zum Aussenden eines Elektronenstrahls, einer Kondensorlinse zum Bündeln des Elektronenstrahls,
einer Objektivlinse zum Fokussieren des Elektronenstrahls auf die Probe, einer in Strahlrichtung
gesehen nach der Kondensorlinse angeordneten oberen und einer nachfolgend vor Objektivlinse
angeordneten unteren Ablenkspule, wobei die obere Ablenkspule als Ringspule ausgebildet ist, einem
Detektor zum Empfangen von Datensignalen, die von der bestrahlten Probe ausgesendet werden und
mit Bildwiedergabemitteln, die unter Auswertung der empfangenen Datensignale ein Probenbild liefern,
dadurch gekennzeichnet, daß die untere Ablenkspule (20) eine sattelförmige Ablenkspule
ist, und die obere und die untere Ablenkspule (6 und 20) durch einen Ablenkstrom aus einem
einzigen Abiinksignalgenerator (21) gespeist sind, dessen Abieiiksignale Frequenzen aufweisen, die
von niedrigeren Abrastergeschwindigkeiten bis zu Fernsehabrastergeschwindigkeiten reichen.
2. Rasterelektronenmikroskop nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Ablenkspulen (6
und 20) sowie die Objektivlinse '8) die Bedingung G/ F>3 erfüllen, wobei F der Abstand zwischen der
Hauptebene der Objektivlinse (8) und der Mitte des von der unteren sattelförmigen Ablenkspule (20)
erzeugten Ablenkfeldes und G der Abstand zwischen der M' te des von der oberen, ringförmigen
Ablenkspule (6) erzeugten AMenkfeldes und der
Mitte des von der unteren sattelförmigen Ablenkspule (20) erzeugten Ablensfeld^s ist.
3. Rasterelektronenmikroskop nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die sattelförmige
Ablenkspule (20) einen Kern (23) aufweist, in welchem sattelförmige Spulenelemente (24a bis 276)
ineinander geschichtet angeordnet sind.
4. Rasterelektronenmikroskop nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß die sattelförmigen
Spulenelemente (24a bis 21b) im größtmöglichen
radialen Abstand, so weit es die räumlichen Begrenzungen erlauben, vom Spulenkern (23) angeordnet
sind.
5. Rasterelektronenmikroskop nach Anspruch 3 oder 4. dadurch gekennzeichnet, daß die sattelförmigen
Spulenelemente (24a bis 2Tb) in einer ersten und zweiten Schicht angeordnete Spulenelemente (24a,
24b und 25a und 256) aufweisen, zur Ablenkung des Elektronenstrahls in der X- und y-Richtung, und
daß in einer dritten und in einer vierten radialen Schicht Spulenelemente (26a, 26f>, 27a, 21b) angeordnet
sind, zur geringen Verschiebung des Elektronenstrahls in der X- und V-Richtung.
6. Rasterelektronenmikroskop nach einem der Ansprüche 3 bis 5, dadurch gekennzeichnet, daß die
sattelförmigen, in den radialen Schichten angeordneten Spuienelemente (24a bis 276) in ersten und zweiten
radialen Schichten Spulenelemente (24a, 24b, 2Sa, 25b) aufweisen, weichenden Elektronenstrahl in
Her X- und y-Richtung ablenken, bei denen die Anzahl der Windungen der in der zweiten radialen
Schicht angeordneten Spulenelemente (25a, 256) um eine geringe Anzahl höher ist, als die Anzahl der
Windungen der in der ersten radialen Schicht angeordneten Spulenelemente (24a, 246).
Die Erfindung betrifft ein Rasterelektronenmikroskop mit den im Oberbegriff des Anspruchs 1 genannten
Merkmalen.
In einem derartigen Rasterelektronenmikroskop dienen die Ablenkspuien der Abrasterung der Probenoberfläche. Um eine Probe innerhalb eines breiten Geschwindigkeitsbereiches, der von einer niedrigen Abtastgeschwindigkeit bis zu Fernsehabtastgeschwindigkeiten reicht, abrastern zu können, ist ein in der
In einem derartigen Rasterelektronenmikroskop dienen die Ablenkspuien der Abrasterung der Probenoberfläche. Um eine Probe innerhalb eines breiten Geschwindigkeitsbereiches, der von einer niedrigen Abtastgeschwindigkeit bis zu Fernsehabtastgeschwindigkeiten reicht, abrastern zu können, ist ein in der
Fig. 1 dargestelltes Rasterelektronenmikroskop der eingangs genannten Art bekanntgeworden.
Wie aus der Fig. 1 zu ersehen ist, wird bei einem derartigen Gerät ein Elektronenstrahl 2 von einer Elektronenstrahlquelle
1 ausgesendet. Dieser Elcktronen-
sirahl wird mittels einer Kondensorlinse 3 gebündelt
und durch eine Blende 4 geschickt. Der Elektronenstrahl gelangt durch eine Blendenöffnung 5 der Blende
4, und wird durch eine obere Ringspule (auch als Toroidspule bezeichnet) 6 in einem Winkel 6>| abgclenkt,
und durch eine untere Ringspule 7 unter einem Winkel ©2 wieder zurückabgelcnkt. Anschließend
gelangt der Elektronenstrahl durch die Mitte einer Objektivlinse 8. Die Gesamtablenkung des Elektronenstrahles
2 beträgt 6> = Θ2- 6>, gegenüber der optischen
Achse 9 bevor er eine Probe 10 erreicht. Ein Fernsehabtastimpulsgenerator
11 erzeugt ein Ausgangssignal, das über eine Vergrößeiangssteuerschaltung an Kontakte
(α) von Schalter 13,14 gelegt wird, die über Verstärker 15, 16 mit der oberen und unteren Ringspule 6 und 7
verbunden sind. Ein Sägezahngenerator 17 erzeugt Abtastsignale mit unterschiedlichen Abtastgeschwindigkeiten,
die von einer niedrigen Abtastgeschwindigkeit bis zu einer sogenannten superschnellen Abtastgeschwindigkeit
(welche etwas geringer ist als eine Fernsehabtastgeschwindigkeit) reicht. Das Ausgangssignal
des Sägezahngenerators 17 wird über eine Vergrößerungssteuerschaltung 18 an Kontakte (b) der Schalter 13
und 14 gelegt. Ein Detektor 19 für Sekundärelektronen erzeugt ein Detektorsignal für eine oicht näher dargestellte
Kathodenstrahlröhre, die synchron mit der Abrasterung der Probe durch den Elektronenstrahl arbeitet.
Wenn eine Änderung der Abrastergeschwindigkeit durch den Elektronenstrahl 2 von einer niedrigen Abrastergeschwindigkeit
zu einer superschnellen Abrastergeschwindigkeit in einem herkömmlichen Rasterelektronenmikroskop
notwendig wird, werden die Schalter 13 und 14 an d*e Kontakte (6) gelegt, so daß das Signal
des Sägezahngenerator 17 an die obere und untere Ablenkringspule 6 und 7 gelegt wird. Der Sägezahngenerator
ist dabei so eingestellt, daß er Abtastsignale mit den gewünschten Frequenzen liefert. Wenn andererseits
eine Abrasterung mit Fernsehabtastgeschwindigkeit erwünscht ist, werden die Schalter 13 und 14 mit
den Kontakten (α) verbunden, so daß rechteckförmige Impulse des Impulsgenerators 11 an die Ablenkspulen 6
und 7 gelegt werden (die Wellenformen der Rechteckimpulse sind jedoch durch die Ablenkspulen 6 und 7
gestört, in welchen in Wirklichkeit ein Strom mit Sägezahnform fließt).
Dieses Umschalten zwischen den Abtastsignalqudlen ist aus den folgenden Gründen notwendig:
Im allgemeinen muß die obere Ablenkspule in ihren Abmessungen klein bemessen sein, da die obere
Ablenkspule nahe der Blende angeordnet werden muß.
Demzufolge ist die obere Ablenkspule als Ringspule ausgebildet. In herkömmlichen Elektronenstrahlgeriiten
ist jedoch auch die untere Ablenkspule als Ringspule ausgebildet, da Ringspulen kleine Abmessungen
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- 1981-11-20 GB GB8135087A patent/GB2088625B/en not_active Expired
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4208484A1 (de) * | 1992-03-14 | 1993-09-16 | Leybold Durferrit Gmbh | Magnetisches ablenksystem fuer einen hochleistungs-elektronenstrahl |
DE4208484C2 (de) * | 1992-03-14 | 1998-09-17 | Ald Vacuum Techn Gmbh | Magnetisches Ablenksystem für einen Hochleistungs-Elektronenstrahl |
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JPS6255263B2 (de) | 1987-11-19 |
GB2088625A (en) | 1982-06-09 |
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