DE2808119C2 - - Google Patents

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    • H01J29/00Details of cathode-ray tubes or of electron-beam tubes of the types covered by group H01J31/00
    • H01J29/46Arrangements of electrodes and associated parts for generating or controlling the ray or beam, e.g. electron-optical arrangement
    • H01J29/465Arrangements of electrodes and associated parts for generating or controlling the ray or beam, e.g. electron-optical arrangement for simultaneous focalisation and deflection of ray or beam

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  • Image-Pickup Tubes, Image-Amplification Tubes, And Storage Tubes (AREA)
  • Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)
  • Electron Sources, Ion Sources (AREA)

Description

Die Erfindung bezieht sich auf ein elektronenoptisches System gemäß dem Oberbegriff des Patentanspruchs.
Es ist bereits ein Elektronenfokussierungs-Projektions- und Abtastsystem bekannt (US-PS 33 19 110), bei dem eine Glühkathode Elektronen emittiert, welche mittels einer Gitterelektrode und einer Anodenelektrode derart gesteuert werden, daß sie durch eine Apertur-Elektrode als divergierender Strahl in einen Laufraum gelangen. Eine Einzellinse fokussiert den Strahl unter Bildung eines reellen Bildes in einem Fokussierungsprojektions- und Abtast-Hohlraum. Der Strahl gelangt dann durch einen Laufraum und wird schließlich auf eine Zielfläche fokussiert. Bei einer anderen Ausführungsform dieses bekannten Systems wird ein virtuelles Bild, nicht jedoch ein reelles Bild gebildet. In jedem Falle ist bei dem bekannten System ein gemischtes elektronenoptisches System geschaffen, bei dem ein Elektronenstrahl nach der Ablenkung nahezu parallel zu der ursprünglichen Bahn und rechtwinklig auf der Zielfläche landet. Die dazu getroffenen Maßnahmen genügen jedoch nicht, um eine Landungsfehler-Korrektur vornehmen zu können, wenn elektrische und magnetische Feldfehler auftreten.
Es ist ferner bekannt ("Proceedings of the IRE", Vol. 35, 1947, Seiten 1273 bis 1279), transversale Geschwindigkeitskomponenten der Elektronen eines Elektronenstrahls in einem Orthicon, die durch eine Verzögerungslinse hervorgerufen werden, mit Hilfe einer geeignet angeordneten Ablenkspule aufzuheben.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein elektronenoptisches System der eingangs genannten Art so weiterzubilden, daß auf relativ einfache Weise durch unterschiedliche Einflüsse entstehende Abbildungsfehler weitgehend aufgehoben sind.
Gelöst wird die vorstehend aufgezeigte Aufgabe durch die im Patentanspruch gekennzeichnete Maßnahme.
Die Erfindung zeichnet sich durch den Vorteil eines besonders geringen Aufwands aus.
Anhand der Figuren wird die Erfindung nachstehend an einem Ausführungsbeispiel näher erläutert.
Fig. 1 zeigt in einer dreidimensionalen Ansicht den Bahnverlauf eines Elektronenstrahls in einem theoretisch gleichförmigen magnetischen Feld und in einem theoretisch gleichförmigen elektrischen Feld eines elektronenoptischen Systems vom Mischfeldtyp.
Fig. 2 zeigt in einer rechtwinklig zur Längsachse Z des elektronenoptischen Systems verlaufenden Ebene eine graphische Projektion der Elektronenstrahlbahn, wie sie in Fig. 1 ist.
Fig. 3 zeigt eine schematische Längsschnittansicht eines Vidikons mit einem elektronenoptischen System vom Mischfeldtyp gemäß der Erfindung.
Fig. 4A bis 4E veranschaulichen schematisch Abweichungen längs der Achse des magnetischen Feldes und des elektrischen Feldes eines elektronenoptischen Systems vom Mischfeldtyp.
Fig. 5 zeigt eine graphische Darstellung der Strahlauftreffehler, die die in Fig. 4A bis 4E dargestellten magnetischen und elektrischen Feldänderungen begleiten.
In einem elektronenoptischen System vom Mischfeldtyp, welches ein magnetisches Feld -B z und ein elektrisches Feld -E y parallel zu der Z-Achse bzw. der Y-Achse gemäß Fig. 1 enthält und bei dem die betreffenden Felder in Richtung längs der Z-Achse gleichförmig sind, wird die Elektronenbewegung durch die nachstehenden Gleichungen beschrieben:
wobei ein Punkt über x oder y eine Differentiation in bezug auf die Zeit t angibt.
Eine Integration der obigen Gleichungen für Elektronen mit dem Ursprung O in Fig. 1 führt bei einer Ursprungsgeschwindigkeit (₀, ₀, ₀)=(v₀ tan R cos Φ, V₀ tan R sin Φ, v₀) zu:
wobei α=e Ey/m, ω=e Bz/m, R der halbe Strahlwinkel und v₀ die axiale Geschwindigkeit am Ursprungspunkt O bedeuten.
Die Elektronen, die am Ursprungspunkt O gemäß Fig. 1 dieselbe axiale Geschwindigkeit v₀ besitzen, fliegen in Z-Richtung mit konstanter Geschwindigkeit weit bezüglich der magnetischen und elektrischen Felder angenommen ist, daß diese keine Kräfte auf die Elektronen in Richtung der Z-Achse ausüben. In der X-Y-Ebene bewegen sich die Elektronen jedoch in verschiedenen Zykloidenbahnen und zwar in Abhängigkeit davon, ob die Elektronen am Ursprungspunkt O der Öffnung axial gerichtet sind oder nicht. Wie aus Fig. 2 ersichtlich ist, in der eine Projektion der Hauptstrahlbahn in der XY-Ebene veranschaulicht ist und in der die Pfeile F e in voll ausgezogenen Linien Kräfte infolge des elektrischen oder elektrostatischen Feldes darstellen und in der die durch gestrichelte Linien angedeuteten Pfeile F b auf das magnetische Feld zurückgehende Kräfte veranschaulichen, wird der Strahl zunächst durch das elektrostatische Feld E y nach oben abgelenkt. Dabei wird eine Bewegung zu der Seite hin und dann nach unten durch das magnetische Feld B z bewirkt, wobei die Abwärtsbewegung durch das elektrische oder elektrostatische Feld verlangsamt wird. Demgemäß wird am Ende eines Zyklus die Geschwindigkeitskomponente in der XY-Ebene Null werden.
Aus Vorstehendem dürfte ersichtlich sein, daß das elektrische oder elektrostatische Feld als Ablenkungsfeld wirkt. Wenn t=2n π/ω ist und wenn n eine ganze Zahl ist, dann konvergieren die Elektronen des Elektronenstrahls zu einem fokussierten Fleck. Im Falle des beschriebenen elektronenoptischen Systems mit einem gemischten Feld ist die Brennebene von der Mitte zu den Kanten hin eben, da das elektrostatische Feld E y keine Auswirkung auf die Fokussierungswirkung hat, was bedeutet, daß das System frei von einer Ablenkungs-Defokussierung ist. Obwohl das elektrostatische Feld eine Verschiebung des Elektronenstrahls bewirkt, beispielsweise in Richtung der X-Achse, tritt überdies keine Änderung in Richtung des einfallenden Strahles auf. Wenn der Strahl in axialer Richtung am Ursprungspunkt O oder der Öffnung Φ gerichtet wird, trifft demgemäß der Hauptstrahl auf die Zielfläche in einer Richtung auf, die rechtwinklig zur Ebene der betreffenden Zielfläche verläuft, was bedeutet, daß in dem Fall ein normales Auftreffen des Strahles erreicht ist, daß die Ebene der Zielfläche bzw. Bildfläche rechtwinklig zur Z-Achse verläuft. Schließlich ist die Ablenkung des Strahls durch das elektrostatische Feld E y direkt proportional zu der Stärke des elektrostatischen Feldes, was bedeutet, daß die Ablenkung der Abtastung frei von geometrischen Verzerrungen ist.
Sämtliche vorstehenden Eigenschaften sind insbesondere in einem elektronenoptischen System für eine Kameraröhre von Vorteil. Ein rechtwinkliges oder normales Auftreffen des Strahles, was von höchster Wichtigkeit im Falle einer Kameraröhre ist, wird jedoch lediglich unter idealisierten Bedingungen in dem beschriebenen elektronenoptischen System mit dem gemischten Feld erzielt, d. h. dann, wenn das magnetische Feld und das elektrische Feld gleichförmig sind, und zwar längs der Z-Achse. Derartige ideale Bedingungen, nämlich gleichförmige magnetische und elektrische Felder, können in der Praxis nicht ohne weiteres erzielt werden. Daraus folgt, daß eine erhebliche Schwierigkeit zu erwarten ist beim praktischen Gebrauch des elektronenoptischen Systems, wie es in der US-PS 33 19 110 angegeben ist.
Die Gründe dafür, weshalb die magnetischen und elektrischen Felder nicht ohne weiteres gleichförmig gemacht werden können, und die Gründe für die Beseitigung des Auftreffehlers gemäß der Erfindung werden nunmehr unter Bezugsnahme auf Fig. 3 erläutert werden, in der eine vidikonartige Röhre 10 mit einem ein gemischtes Feld bzw. Mischfeld verwendenden elektronenoptischen System gemäß der Erfindung dargestellt ist. Die vidikonartige Röhre 10 ist als insbesondere einen länglichen Glaskolben 11 mit einer Zielflächen- bzw. Bildschirmstruktur 12 an einem Ende enthaltend dargestellt. Diese Bildschirmstruktur umfaßt ein benachbartes Gitter 13 in einer Ebene, die rechtwinklig zu der Längsachse Z des Röhrenkolbens verläuft. Eine Elektronenkanonenanordnung 14 ist in geeigneter Weise in dem Röhrenkolben 11 in Abstand von der Bildflächenanordnung bzw. -struktur 12 dargestellt; sie enthält als Elektronenstrahlquelle eine Kathode 15, von der Elektronen unter der Steuerung einer Gitterelektrode 16 emittiert werden. Die emittierten Elektronen werden mittels einer Anodenelektrode 17 beschleunigt, die auf einem geeigneten positiven Potential bezogen auf die Kathode 15 gehalten wird. Neben der Anode 17 ist eine Elektrode 18 vorgesehen, die eine Öffnung 19 aufweist, welche ein reelles Objekt des elektronenoptischen Systems festlegt und mit der Z-Achse des Röhrenkolbens 11 zusammenfällt. Der Durchmesser der Öffnung 19 ist vergleichbar mit der gewünschten Punkt- bzw. Fleckgröße des Elektronenstrahls auf der Bildfläche 12.
Das elektronenoptische System der vidikonartigen Röhre 10 ist als eine Magnetspule bzw. Zylinderspule 20 enthaltend dargestellt, die sich um den Röhrenkolben 11 über einen nennenswerten Teil der Länge dieses Röhrenkolbens zwischen der Elektrode 18 und der Bildschirmanordnung 12 erstreckt. Außerdem ist ein elektrostatisches Joch 21 vorgesehen, das an dem Röhrenkolben 11 angebracht oder auf dessen Innenfläche gebildet sein kann, und zwar zwischen der Elektrode 18 und der Bildschirm- bzw. Zielflächenanordnung 12. Die Magnetspule 20 wird in geeigneter Weise von einer Speisequelle (nicht dargestellt) gespeist, die an den Anschlüssen 20 a und 20 b angeschlossen ist. Die betreffende Magnetspule erzeugt ein konstantes Magnetfeld, das parallel zur Achse Z innerhalb des Röhrenkolbens 11 verläuft. Sofern erwünscht, kann ein Permanentmagnet anstelle der Magnetspule 20 verwendet werden, um ein konstantes Magnetfeld bereitzustellen.
Das elektrostatische Joch 21 kann von dem Typ sein, wie er in der US-PS 33 19 110 angegeben ist, um gleichzeitig horizontale und vertikale Ablenkkräfte auf den Elektronenstrahl auszuüben. Das Joch 21 kann so beispielsweise Paare aus miteinander verschachtelten horizontalen und vertikalen Ablenkelektroden, die an der Innenfläche des Röhrenkolbens 11 angebracht oder gebildet sind, und zwar durch Plattieren, Überziehen oder dgl. Das elektrostatische Joch 21 erzeugt auf die Zuführung geeigneter Gegentaktspannungen oder Ablenksignale zu den Anschlüssen 21 a und 21 a′ sowie zu den Anschlüssen 21 b und 21 b′ ein drehbares biaxiales elektrisches Feld, welches rechtwinklig zu dem magnetischen Feld verläuft, das von der Magnetspule 20 erzeugt wird. Ein derartiges elektrisches Feld verläuft im wesentlichen diagonal, d. h., daß es weitgehend frei von jeglichen Komponenten längs der Z-Achse ist, die sonst dazu neigen würden, eine Defokussierung und Drehung des Strahles zu bewirken. Es dürfte aus vorstehendem ersichtlich sein, daß die Magnetspule 20 und das elektrostatische Joch 21 sich kreuzende Felder, und zwar ein magnetisches Feld und ein elektrisches Feld, erzeugen, die sich generell in miteinander übereinstimmender Weise innerhalb des Röhrenkolbens 11 zwischen der Elektrode 18 und der Bildschirmanordnung 12 erstrecken. Das magnetische Feld ist statisch oder konstant, während das elektrische Feld dynamisch ist oder sich in Übereinstimmung mit den Ablenksignalen ändert, die den Anschlüssen 21 a, 21 a′, 21 b und 21 b′ zugeführt werden. Obwohl den Anschlüssen des elektrostatischen Joches 21 sich ändernde Ablenksignale oder Gegentaktspannungen zugeführt werden, kann das Potential für das relativ lange Joch gemittelt werden, was zu einer Oberflächenpotentialverteilung entsprechend dem Kosinusgesetz führt und dadurch eine räumlich gleichförmige elektrische Feldverteilung innerhalb des Raumes 22 hervorruft, der von dem Joch 21 umschlossen ist.
Im Falle der vidikonartigen Röhre 10 sind gleichförmige magnetische und elektrische Felder, die zuvor für die theoretische Erzielung eines normalen bzw. senkrechten Auftreffens eines Elektronenstrahls auf der Bildschirmanordnung 12 unterstellt worden sind, praktisch nicht realisiert. So ist insbesondere das von der Magnetspule 20 endlicher Länge erzeugte Magnetfeld in der axialen Richtung ungleichförmig, und zwar aufgrund von ausladenden Feldbereichen oder Fransen, die an den gegenüberliegenden Enden des Magnetfeldes auftreten. Im Falle des von dem elektrostatischen Joch 20 erzeugten elektrischen oder elektrostatischen Feldes weist ein derartiges elektrisches Feld feldfreie Bereiche an seinen gegenüberliegenden Enden auf, und zwar durch den Abschluß des elektrischen Feldes durch die Elektrode 18, die die ein Objekt festlegende bzw. begrenzende Öffnung 19 enthält, bzw. durch das Gitter 13 der Bildschirmanordnung 12. Der Einfluß der Elektrode 18 und des Gitters 13 auf das elektrische Feld reicht in den Raum 22 über eine Strecke hinein, die gleich etwa dem einfachen oder doppelten Radius des Raumes 22 ist. Die vorstehenden Ungleichmäßigkeiten des elektrischen Feldes und des magnetischen Feldes beeinflussen in starkem Ausmaß die Eigenschaft des normalen bzw. senkrechten Auftreffens des Elektronenstrahls der Röhre.
Zur Erzielung eines Verständnisses bezüglich des Ausmaßes, in welchem das normale Auftreffen des Elektronenstrahls bei der vidikonartigen Röhre 10 beeinflußt ist, sind die Auftreffehler, die sich aus den feldfreien Bereichen an den gegenüberliegenden Enden des elektrischen Feldes ergeben, und die Auftreffehler, die sich aus den sich aufweitenden Feldbereichen an den gegenüberliegenden Enden des Magnetfeldes ergeben, individuell untersucht worden. Zum Zwecke einer derartigen Untersuchung hat der Raum 22 einen Durchmesser von 24 mm besessen, der Abstand von der Öffnung bzw. Aperture 19 zu dem Gitter 13 betrug 110 mm, der Begrenzungsdurchmesser der Apertur 19 betrug 30 µm, das Elektronenstrahl- Beschleunigungspotential betrug 500 V, die angelegte Ablenkspannung betrug 100 V ss , und der Strahl wurde um etwa 3 mm in Richtung der X-Achse abgelenkt.
Bei der Untersuchung der Auftreffehler des Strahls sind diese Fehler durch Verhältnisse der Geschwindigkeiten des Hauptstrahls in der X-Richtung bzw. Y-Richtung zu der Geschwindigkeit in der Z-Richtung an dem Gitter 13 der Bildschirmanordnung 12 ausgedrückt worden. Ferner ist bei einer vereinfachten elektrischen Feldverteilung angenommen worden, daß diese feldfreie Bereiche an den Enden des Raumes 22 und einen gleichförmigen elektrischen Feldbereich zwischen derartigen feldfreien Bereichen umfaßt. Außerdem ist angenommen worden, daß jegliche axiale Komponente des elektrischen oder elektrostatischen Feldes vernachlässigbar ist, so daß jeder feldfreie Bereich des elektrischen Feldes die Fokussierungsbedingung nicht verändert.
Wenn bezüglich der Magnetspule angenommen wird, daß es sich dabei um eine unendlich lange Spule handelt, so daß das Magnetfeld gleichförmig ist, wie dies in Fig. 4A und 4B dargestellt ist, dann kann die Elektronenbewegung in dem ungleichförmigen elektrischen Feld, das in das gleichförmige Magnetfeld hineinreicht, analytisch aufgelöst werden als den nachstehenden Auftreffehler enthaltend:
Dabei ist L=a+b+c, und diese Größe gibt den Abstand von der Apertur bzw. Öffnung 10 zu dem Gitter 13 der Bildschirmanordnung 12 an. Die Größe a ist die Länge des feldfreien Bereiches neben der Öffnung 19, b ist die Länge des gleichförmigen Bereiches des elektrischen Feldes zwischen den feldfreien Bereichen, und c ist die Länge des feldfreien Bereiches neben dem Gitter 13.
Die den ersten Bedingungen gemäß Fig. 4A und 4B entsprechenden Fehlergrößen sind in Fig. 5 alsKurven 23 A bzw. 23 B gesondert dargestellt. In jedem Falle besitzt der feldfreie Bereich eine Länge, die etwa 10% der Gesamtlänge L des Raumes 22 ausmacht. Deshalb ist der Fehler /=-0,1 so groß, daß die Verwendung des in ein Magnetfeld von sogar unendlicher Länge in einer Kameraröhre eingeführten bzw. eingetauchten Joches 21 ausgeschlossen ist.
Die Ursachen der Auftreffehler können in der Eigenschaft der Abweichungen des elektrischen oder elektrostatischen Feldes von einem gleichförmigen Zustand interpretiert werden. Wenn der feldfreie Bereich des elektrostatischen Feldes nahe der Bildschirmanordnung 12 vorhanden ist, ist die kollimierende Wirkung durch das elektrostatische Feld reduziert. Befindet sich somit ein Elektron in einem derartigen feldfreien Bereich, so bewegt sich das betreffende Elektron längs eines kreisförmigen Segments, ohne die Größe seiner Geschwindigkeit zu ändern, und der Auftreffehler liegt, wie dies durch die Kurve 23 A in Fig. 5 veranschaulicht ist, im dritten Quadranten.
Wenn sich der feldfreie Bereich des elektrischen oder elektrostatischen Feldes nahe der Öffnung 19 in der Elektrode 18 befindet, vervollständigt ein Elektron nicht gänzlich eine Bewegungszykloide an dem Gitter 13 der Bildschirmanordnung 12, da sich nämlich das betreffende Elektron längs einer geraden Bahn während seines Vorhandenseins in dem feldfreien Bereich bewegt. Deshalb liegt, wie dies durch die Kurve 23 B in Fig. 5 veranschaulicht ist, der Auftreffehler im vierten Quadranten.
Die Elektronenbewegung in einem gemischten Feld, bestehend aus einem ungleichförmigen Magnetfeld und einem gleichförmigen elektrostatischen Feld, ist ebenfalls mittels Rechnersimulationen untersucht worden. In Verbindung mit vorstehendem ist eine Magnetspule mit halber unendlicher Länge angenommen worden, und der Effekt eines sich erweiternden Feldbereichs an jedem Ende ist gesondert überprüft worden. Die Ergebnisse sind als Kurven 23 C bzw. 23 D in Fig. 5 dargestellt. Wenn der sich erweiternde Magnetfeldbereich nahe der Zielfläche bzw. Bildfläche liegt, wie dies in Fig. 4C dargestellt ist, dann befindet sich der resultierende Auftreffehler, wie dies die Kurve 23 C in Fig. 5 veranschaulicht ist, im ersten Quadranten. Dies ergibt sich aufgrund der Tatsache, daß eine tangentiale Kraft auf den Strahl bzw. Elektronenstahl durch die radiale Magnetfeldkomponente ausgeübt wird. Wenn der sich erweiternde Magnetfeldbereich nahe der Öffnung 19 liegt, wie dies in Fig. 4D veranschaulicht ist, dann befindet sich der resultierende Auftreffehler, wie dies durch die Kurve 23 D in Fig. 5 veranschaulicht ist, im zweiten Quadranten.
Auf der Grundlage der vorstehenden Untersuchungen und Simulationen der individuell berücksichtigten Ungleichförmigkeiten der magnetischen und elektrischen Felder sind die folgenden Eigenschaften eines elektronenoptischen Systems mit gemischtem Feld festgelegt worden:
  • 1) Die aus den Ungleichförmigkeiten der Felder resultierenden Auftreffehler können durch Vektorgrößen ausgedrückt werden die Richtungen der die feldfreien Bereiche an den gegenüberliegenden Enden des elektrischen Feldes und die sich erweiternden Feldbereiche an den gegenüberliegenden Enden des magnetischen Feldes angebenden bzw. darstellenden Vektoren liegen in vier unterschiedlichen Quadranten. Die Größen der Vektorwerte nehmen mit zunehmender Länge der feldfreien Bereiche oder sich erweiternden Feldbereiche zu.
  • 2) Der resultierende Auftreffehler oder Gesamtauftreffehler in einem tatsächlichen elektronenoptischen System mit einem gemischten Feld ist angenähert durch die vektorielle Summe der vier Vektoren gegeben, die die Auftreffehler aufgrund der feldfreien Bereiche des elektrischen Feldes bzw. der sich erweiternden Feldbereiche des magnetischen Feldes ergeben.
  • 3) Die Größen der Vektoren sind etwa direkt proportional dem elektrischen oder elektrostatischen Feld.
Auf der Grundlage der vorstehenden Ausführungen sind gemäß der vorliegenden Erfindung die Länge und die Lage der Magnetspule 20 und die Konfiguration und die Lage des elektrostatischen Jochs 21 so gewählt oder festgelegt, daß trotz Vorhandenseins von feldfreien Bereichen an gegenüberliegenden Enden des elektrischen Feldes und trotz Vorhandenseins von sich erweiternden Feldbereichen an gegenüberliegenden Enden des magnetischen Feldes, wie dies in Fig. 4E dargestellt ist, die durch derartige Ungleichförmigkeiten in den elektrischen und magnetischen Feldern hervorgerufenen Auftreffehler weitgehend einander aufgehoben sind, wodurch ein elektronenoptisches System mit einem gemischten Feld geschaffen ist, welches weitgehend frei von einem Auftreffehler ist. Dies bedeutet, daß ein System mit einem normalen bzw. senkrechten Auftreffen des Elektronenstrahls auf der Bildschirmanordnung geschaffen ist, und zwar obwohl die magnetischen und elektrischen Felder ungleichförmig sind.
Es ist festgestellt worden, daß in einer vidikonartigen Röhre, wie sie oben unter Bezugnahme auf Fig. 3 beschrieben worden ist, die Auftreffehler infolge der Ungleichförmigkeit des Magnetfeldes weitgehend die Auftreffehler aufgrund der Ungleichförmigkeit des elektrischen Feldes aufheben, so daß Auftreffehler /=0,006 und /=0,003 erzielt werden, was keine nennenswerte Abweichungen von dem gewünschten normalen bzw. senkrechten Auftreffen des Strahls darstellt.

Claims (1)

  1. Elektronenoptisches System (10) mit einem Röhrenkolben (11), in welchem ein Bildschirm (12) rechtwinklig zur Röhrenkolbenachse (Z) verläuft, mit einer in dem Röhrenkolben (11) enthaltenen Elektronenkanone (14), die einen Elektronenstrahl auf den Bildschirm (12) richtet und die eine Elektrode (18) umfaßt, welche ein elektronenoptisches Systemobjekt (19) festlegt, das in Richtung der Röhrenkolbenachse (Z) im Abstand vom Bildschirm (12) vorgesehen ist, mit einem Magnetfeld-Generator (20), der ein zeitlich konstantes Magnetfeld längs der Röhrenkolbenachse (Z) in einem Raum (22) zwischen dem Systemobjekt und dem Bildschirm (12) erzeugt, und mit Elektroden (21), die innerhalb dieses Raumes (22) ein veränderbares, elektrisches Feld (E) rechtwinklig zum magnetischen Feld erzeugen, wobei das elektrische Feld (E) eine Ablenkung des Elektronenstrahls längs zweier Koordinatenrichtungen in einer zur Röhrenkolbenachse (Z) senkrechten Ebene ermöglicht, derart, daß ein fokussiertes Bild des Systemobjekts auf der Bildschirmoberfläche erzeugt wird und gleichzeitig ein Abrastern des Bildschirms (12) erfoglt, dadurch gekennzeichnet, daß der Magnetfeld-Generator (20) und die Elektroden (21) zur Erzeugung des elektrischen Ablenkfeldes (E) so dimensioniert und aufeinander abgestimmt sind, daß die Auftreffehler (23 A, 23 B), welche durch die unvermeidlichen inhomogenen Randfehler der Elektroden (21) entstehen, und die Auftreffehler (23 C, 23 D), welche durch die unvermeidlichen inhomogenen Randfelder des Magnetfeld-Generators (20) entstehen, einander weitgehend aufheben.
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