DE3617869A1 - Spektralanalysenvorrichtung an einem konverter - Google Patents

Spektralanalysenvorrichtung an einem konverter

Info

Publication number
DE3617869A1
DE3617869A1 DE19863617869 DE3617869A DE3617869A1 DE 3617869 A1 DE3617869 A1 DE 3617869A1 DE 19863617869 DE19863617869 DE 19863617869 DE 3617869 A DE3617869 A DE 3617869A DE 3617869 A1 DE3617869 A1 DE 3617869A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
opening
spectral analysis
light guide
laser beam
light
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
DE19863617869
Other languages
English (en)
Inventor
Karl-Heinz Dr Ing Koch
Fritz Dr Meininghaus
Hermann Josef Prof Dr Kopineck
Wilhelm Dr Tappe
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hoesch Stahl AG
Original Assignee
Hoesch Stahl AG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hoesch Stahl AG filed Critical Hoesch Stahl AG
Priority to DE19863617869 priority Critical patent/DE3617869A1/de
Priority to AT87106222T priority patent/ATE61479T1/de
Priority to DE8787106222T priority patent/DE3768345D1/de
Priority to EP87106222A priority patent/EP0250765B1/de
Priority to US07/047,021 priority patent/US4818106A/en
Priority to JP62126083A priority patent/JPS62291521A/ja
Publication of DE3617869A1 publication Critical patent/DE3617869A1/de
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/02Details
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/02Details
    • G01J3/0205Optical elements not provided otherwise, e.g. optical manifolds, diffusers, windows
    • G01J3/0218Optical elements not provided otherwise, e.g. optical manifolds, diffusers, windows using optical fibers
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/02Constructional details
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/02Constructional details
    • G01J5/05Means for preventing contamination of the components of the optical system; Means for preventing obstruction of the radiation path
    • G01J5/051Means for preventing contamination of the components of the optical system; Means for preventing obstruction of the radiation path using a gas purge
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/02Constructional details
    • G01J5/08Optical arrangements
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/02Constructional details
    • G01J5/08Optical arrangements
    • G01J5/0818Waveguides
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/02Constructional details
    • G01J5/08Optical arrangements
    • G01J5/0896Optical arrangements using a light source, e.g. for illuminating a surface
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/62Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
    • G01N21/63Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited

Description

Die Erfindung betrifft eine Spektralanalysenvorrichtung an einem Konverter oder sonstigem mit flüssigem Metall, vor allem Eisen oder Stahl gefüllten Behälter oder Ofen, bei der eine von außen durch eine Wand des Behälters bis zum schmelzflüssigen Inhalt verlaufende mit einem inerten Gas gefüllte Öffnung op­ tisch für von der Schmelze ausgehende Strahlung mit dem an der Außenwand des Konverters angebrachten Apparat zur Spektralana­ lyse verbunden ist und durch diese Öffnung außerdem ein Laser­ strahl in den Konverter auf die Schmelze strahlend gerichtet ist.
Eine solche Spektralanalysenvorrichtung ist aus der DE-OS 21 38 540 bekannt. Diese Vorrichtung hat den Nachteil, daß die Öffnung einen relativ großen Durchmesser besitzen muß, damit eine ausreichend große Menge an Strahlung durch die Öffnung dringt, da die Entfernung zum Apparat für die Spektral­ analyse wegen der etwa 1 m dicken Auskleidung des Konverters mit feuerfestem Material relativ weit ist.
Diese große Öffnung wird an ihrem Rand durch den flüssigen Stahl nach kurzer Betriebszeit so stark angegriffen, daß sie im Durchmesser immer größer wird, wodurch die Auskleidung des Kon­ verters eine Fehlstelle erhält und dieser unbrauchbar wird. Es hat sich herausgestellt, daß solche Auswaschungen bei im Durch­ messer sehr kleinen Öffnungen und bei hohen Ausströmge­ schwindigkeiten des kühlenden inerten Gases nicht entstehen. Eine solche Öffnung mit extrem geringerem Durchmesser hat gegenüber der in der DE-OS 21 38 540 beschriebenen Öffnung den Nachteil, daß durch diese nur sehr wenig der zu analysierenden Strahlung hindurchgeht. Die Strahlungsintensität wird auch da­ durch stark verringert, daß das mit hoher Geschwindigkeit aus­ strömende inerte Gas, die durch den Laserstrahl gebildete und zur Strahlung angeregte Dampfschicht sofort verdünnt und weg­ wäscht.
Es ist die Aufgabe der Erfindung, die gesamte Spektralanalysen­ vorrichtung so zu gestalten, daß die Öffnung nicht durch vom inerten Gas abgekühlte erstarrende Schmelze teilweise zugesetzt wird und auch nicht durch die Schmelze ausgewaschen wird und daß trotz der Länge und des geringen Durchmessers der Öffnung eine sehr genaue und auswertbare Messung erhalten wird und die Geräte einfach und mit geringem Bauaufwand als betriebssichere Anlage zu installieren sind.
Diese Aufgabe wird durch die im Anspruch 1 beschriebenen Maß­ nahmen gelöst. Weiterbildungen sind in den Unteransprüchen 2 bis 12 beschrieben.
Durch den geringen Querschnitt der Öffnung und das mit über 5 bar Druck ausströmende Spül-Gas vorzugsweise Edelgase Ar oder N2Gas wird die Öffnung ausreichend gekühlt, damit ihre Ränder nicht wegbrennen oder chemisch stark angegriffen werden, an­ dererseits sorgt das Gas dafür, daß sich auch keine abgekühlten Stahlteile festsetzen können, da durch das Gas selbst kleinste Partikel mit hoher Geschwindigkeit von der Öffnung weggeschleu­ dert werden.
Die Ausmauerung des Konverters oder sonstigen Behälters wird im Laufe der Betriebszeit von der Schmelze angegriffen und immer dünner. Es ist deshalb erforderlich, daß der Brennpunkt des austretenden Laserstrahles nachreguliert wird. Die einfachste Möglichkeit des Nachregulierens besteht darin, daß der Licht­ leiter mit seiner am Ende befindlichen Linse in der Öffnung in regelmäßigen Abständen zurückgezogen wird. Dies hat außerdem den Vorteil, daß der Lichtleiter der Schmelze und somit dem hohen Temperaturbereich nicht so nahe kommt, daß er durch die Wärmeeinwirkung beschädigt und undurchsichtig wird. Dieses Zu­ rückziehen kann auch automatisch erfolgen.
Damit der Laserstrahl durch kleine Einstellungsungenauigkeiten nicht gegen die Wand der Öffnung strahlt, ist es von Vorteil, wenn der ihn in die Öffnung einleitende Licht­ leiter genau in der Längsachse der Öffnung liegt und die die zu analysierte Strahlung leitenden Lichtleiter um diesen herum an­ geordnet sind.
Die schnell ablaufenden Blasvorgänge haben bei einem Konverter zur Folge, daß es zumindest örtliche Unterschiede in der Zusam­ mensetzung des Stahles gibt. Um einen möglichst genauen Durch­ schnittswert für die Zusammensetzung des Stahles zu erhalten muß dieser an mehreren Stellen des Konverters analysiert wer­ den. Es ist deshalb von Vorteil, wenn an mehreren Öffnungen der ohnehin am Boden des Konverters vorhandenen Rührgasdüsen je­ weils eine Analysiervorrichtung angebaut ist. Der hohe appa­ rative Aufwand wird dadurch vereinfacht, daß jede Öffnung über Lichtleiter an einen gemeinsamen Analysierapparat oder eine ge­ meinsame Erzeugungsvorrichtung für Laserstrahlen angeschlossen ist.
Das zu analysierende Licht hat eine äußerst geringe Inten­ sität, weil die hohe Geschwindigkeit des ausströmenden inerten Gases den zum Leuchten durch den Laserstrahl angeregten Dampf sofort wegbläst und deshalb nur eine äußerst dünne Dampfschicht leuchtet.
Durch die lange dünne Öffnung werden auch die nicht genau mit der Richtung der Längsachse der Öffnung übereinstimmenden Lichtstrahlen zum Analysierapparat geleitet, wenn die Innenwän­ de der Öffnung z. B. durch eine dünne Aluminiumschicht verspie­ gelt sind. Mit dieser Maßnahme wird die Menge des durch die Öffnung fallenden Lichtes erheblich vergrößert. Die Verstellvor­ richtung an den Lichtleitern sorgt außer für die richtige Brennpunkteinstellung des Laserstrahles auch dafür, daß die Lichtleiter möglichst weit in Richtung zur Schmelze sitzen kön­ nen, wodurch die einfallende Lichtmenge ebenfalls vergrößert wird. Die Lichtleiter werden durch die Verstellvorrichtung immer soweit zurückgezogen, daß ihre Temperatur nicht soweit ansteigt, daß sie beschädigt werden. Die äußerst geringe zu analysierende Lichtintensität läßt sich nicht ohne weiteres sicher und genau analysieren. Sie erfordert vielmehr besondere Anordnungen.
So ist es beispielsweise zweckmäßig, das hintere Ende des Analysenlichtleiters so auszubilden, daß es den Eingangsspalt eines Spektralapparates bildet, der am oder im Boden des Kon­ verters angebracht wird, um möglichst kurze Lichtleitwege zu erreichen. Als besonders vorteilhaft hat es sich erwiesen, einen im zugehörigen UV-Bereich wirksamen Monochromator zu ver­ wenden, dem den einzelnen Linien zugeordnete Lichtverstärker­ geräte z. B. Multichannelplat es zugeordnet sind. Da die interessierenden Elementanteile sehr klein sein können, so sind auch die zugehörigen Strahlungsintensitäten besonders klein. Es kann daher zweckmäßig sein, innerhalb des Lichtleitersystems eine elektrooptische Verstärkung des spektralen Nutzsignals mit an sich bekannten Mitteln vorzunehmen. Da die analytische Über­ wachung einer Stahlschmelze während der Erzeugung in einem LD- Konverter bereits mit der Analyse von relativ wenigen Elementen auskommt, (z. B. C, S, T, Si) da viele der charakteristischen Linien im UV-Bereich liegen, ist es besonders vorteilhaft, die spektrale Messung dieser Linien möglichst nahe der Strahlenein­ trittsstelle durchzuführen. Dabei ist es weiterhin vorteilhaft, daß im Verlauf des das empfangene Spektrallicht leitenden Lichtleitersystems ein oder mehrere schmalbandige analysierende Elemente, wie Interferenzfilter mit zugehörigen Lichtmeßsy­ stemen, vorzugsweise Fotodetektoren angeordnet sind.
Ein Beispiel der Erfindung wird mit Hilfe der Fig. 1 und 2 näher erläutert.
In der Fig. 1 ist ein Teil des Bodens eines Konverters darge­ stellt, in dem sich die Öffnung 11 befindet. Im oberen Raum 12 der Schmelze wird durch das ausströmende inerte Gas ein in etwa halbkugelfförmiger freier Raum 13 gebildet. Die Öffnung 11 ist in ihrem unteren Teil 14 verbreitert. Die Öffnung 11 besteht aus einem Stahlrohr, das in die feuerfeste Masse des Konverters dicht eingebettet ist. Im unteren Teil 14 der Öffnung ist der Lichtleiter 15 eingebaut. Dieser ist von einem dünnwandigen, innen verspiegelten Rohr 16 umgeben. Am Rohr 16 sind 3 bis 4 abstützende Rippen 17 angebaut, die an der Wandung des unteren Teils der Öffnung 14 geführt sind. In der Mitte des Lichtlei­ ters 15 ist ein Lichtleiter 18 zum Einstrahlen des Laser­ strahles eingebaut. Das Innere der Öffnung 11 und 14 ist durch eine Dichtung 19 gegenüber der äußeren Atmosphäre abgedichtet. Das Rohr 16, mit den Lichtleitern 15, 18 ist durch den An­ trieb 20 schrittweise oder kontinuierlich aus der Öffnung 11 und 14 herausfahrbar zum Zwecke der Anpassung des Brennpunktes des Lasers bei sich im Betrieb verringernder Ausmauerung. Der Lichtleiter 18 ist zum Erzeugungsgerät 21 und der Licht­ leiter 15 zum Analysierapparat 22 geführt. Am Analysier­ apparat 22 ist das Multichannelplatesystem 23 angebaut, dessen Ausgang den Lichtintensitäten der Spektrallinien entsprechende Ströme an den Computer 24 liefert, der aus diesen Strömen mit Hilfe eines geeigneten Programmes die Anteile der Beimengungen des Stahles errechnet. Bei einer anderen Ausführungsform sind die Lichtleiter an den Stellen 25 und 26 unterbrochen. An der Stelle 26 wird das Licht des Lasers über einen wie eine Weiche funktionierenden beweglichen Spiegel zu Lichtleitern umgelei­ tet, die zu anderen ebenfalls für Meßzwecke benutzte Öffnungen führen. Die von diesen Öffnungen ankommende Strahlung kann ein bei 25 eingebauter ebenfalls beweglicher Spiegel in den zum Analysierapparat 22 führenden Lichtleiter einspiegeln.
Das Prinzip eines solchen beweglichen Spiegels ist in der Fig. 2 dargestellt.
Der z. B. vom Erzeugungsgerät 21 des Laserstrahles durch den Lichtleiter geleitete Laserstrahl verläßt diesen durch die Linse 23 im Punkt 26 und trifft den Spiegel 24 im Punkt 27 und wird zum Lichtleiter 18 reflektiert. Beim Verschieben des Spiegels 24 in Richtung 28 wird der reflektierte Strahl zu den Lichtleitern 29 oder 30 geworfen. Diese Lichtleiter 29 oder 30 führen zu anderen im Boden des Konverters befindlichen Öffnun­ gen. Die von diesen Öffnungen durch Lichtleiter ankommende Strahlung kann in der gleichen Weise in den zum Analysierappa­ rat führenden Lichtleiter eingespiegelt werden. Es muß dann allerdings der Spiegel 24 von einem Gehäuse umgeben werden, das zur Vermeidung von Absorbtionsverlusten luftleer ist oder mit dem Edelgas gefüllt ist.
Der Analysierapparat funktioniert normalerweise in herkömm­ licher Weise mit einem Prisma oder Gitter. Als vorteilhaft hat sich herausgestellt, das Austrittsende des Lichtleiters als Spalt-Eintrittsspalt des Analysiergerätes auszubilden. Es ist aber auch möglich, daß die gesamte Strahlung in mehrere Zweige aufgeteilt wird und jeder Zweig mit einem schmalbandigen Filter versehen wird, der nur das gewünschte spektrale Licht durch­ läßt. Dieses wird wiederum elektro-optisch verstärkt und wie beschrieben, weiterverarbeitet.
  • 11 Öffnung
    12 oberer Raum
    13 kegelf. Raum
    14 unterer Teil
    15 Lichtleiter
    16 dünnwandiges Rohr
    17 Rippe
    18 mittlerer Lichtleiter
    19 Dichtung
    20 Antrieb
    21 Laser zur Anregung
    22 Analysierapparat
    23 Linse
    24 Spiegel
    25 Unterbrechungsstelle
    26 Unterbrechungsstelle
    27 Punkt
    28 Richtung
    29 Lichtleiter
    30 Lichtleiter

Claims (12)

1. Spektralanalysenvorrichtung an einem Konverter oder sonsti­ gem mit flüssigem Metall beispielsweise Eisen oder Stahl gefüllten Behälter oder Ofen, bei der eine von außen durch die Wand des Behälters bis zum schmelzflüssigen Inhalt ver­ laufende mit einem UV-Licht absorbierendem Gas z. B. Edelgas gefüllte Öffnung optisch für von der Schmelze aus­ gehende Strahlung mit dem an der Außenwand des Konverters angebrachten Apparat zur Spektralanalyse verbunden ist und durch diese Öffnung außerdem ein Laserstrahl in den Behäl­ ter auf die Schmelze strahlend gerichtet ist, wobei Teile der Schmelze verdampfen und zur Aussendung einer element­ spezifischen Eigenstrahlung angeregt sind und die Erzeu­ gungsvorrichtung für den Laserstrahl und der Spektral­ analysenapparat mit der Öffnung durch jeweils einen Licht­ leiter verbunden sind und an die Spektralanalysenvorrichtung ein auf die Auswertung programmierter Computer ange­ schlossen ist, dadurch gekennzeichnet, daß die Öffnung mit ihrem in die Schmelze (12) mündenden Teil einen Querschnitt nicht größer als 1 cm2 hat und die Ausströmgeschwindig­ keit des Gases oder Gasgemisches so groß ist, daß pro Minute mindestens 10 Gramm Gas bezogen auf einen Quererschnitt von 1 mm2 ausströmen und der durch die Öffnung strahlende Laserstrahl auf von der Außenwand des Konverters verschieden weit entfernte Brenn- oder Arbeits­ punkte einstellbar ist.
2. Spektralanalysenvorrichtung nach Anspruch 1, dadurch ge­ kennzeichnet, daß der in den äußeren Teil (14) der Öffnung eingeführte Lichtleiter für den Laserstrahl (18) in Längs­ richtung der Öffnung verschiebbar gelagert ist und mit einer Verstellvorrichtung (20) verbunden ist.
3. Spektralanalysenvorrichtung nach den Ansprüchen 1 und 2, dadurch gekennzeichnet, daß auch der Lichtleiter (15) für die zu empfangende Strahlung in der Öffnung (14) in Längs­ richtung verschiebbar gelagert ist und mit einer Verstell­ vorrichtung (20) verbunden ist.
4. Spektralanalysenvorrichtung nach den Ansprüchen 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß das zur Schmelze hin gerichtete Ende des Lichtleiters (18) für den Laserstrahl zentrisch in der Längsachse der Öffnung (14) liegt und weniger als 20% der Querschnittsfläche der Öffnung ausfüllt und um diesen Lichtleiter (18) herum, in kreisringförmiger Anordnung, die die empfangende Analysenstrahlung leitenden Lichtleiter­ fasern (15) angeordnet sind.
5. Spektralanalysenvorrichtung nach den Ansprüchen 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß mit dieser und dem Erzeugerge­ rät (21) für den Laserstrahl mehr als eine durch die Wand oder sonstigen Behälters gehende Öffnung (11) optisch ver­ bunden ist.
6. Spektralanalysenvorrichtung nach Anspruch 5, dadurch ge­ kennzeichnet, daß die optische Verbindung (15, 18) wahl­ weise herstellbar und unterbrechenbar gebaut ist.
7. Spektralanalysenvorrichtung nach den Ansprüchen 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, daß die optische Verbindung über einen beweglichen Spiegel (24) herstellbar ist.
8. Spektralanalysenapparat nach den Ansprüchen 1 bis 7, da­ durch gekennzeichnet, daß die Wände der Öffnung (11) und (14) verspiegelt sind.
9. Spektralanalysenapparat nach Anspruch 8, dadurch gekenn­ zeichnet, daß die Wände mit Aluminium verspiegelt sind.
10. Spektralanalysenapparat nach den Ansprüchen 1 bis 9, da­ durch gekennzeichnet, daß das zur Analyse empfangene Licht nach der Zerlegung elektrooptisch verstärkt wird.
11. Spektralanalysenapparat nach den Ansprüchen 1 bis 10, da­ durch gekennzeichnet, daß die elektrooptische Verstärkung in einer Bildverstärkerröhre wie z. B. Multichannelplate geschieht und danach das verstärkte Licht durch einen lichtelektrischen Detektor in ein von einem Computer zu verarbeitendes elektrisches Signal umgewandelt wird.
12. Spektralanalysenapparat nach den Ansprüchen 1 bis 11, da­ durch gekennzeichnet, daß die Austrittsstelle des Licht­ leiters für die zu empfangende Strahlung als rechteckiger Spalt ausgebildet ist und in den Eingangsspalt des Ana­ lysierapparates, diesen ausfüllend, eingebaut ist.
DE19863617869 1986-05-27 1986-05-27 Spektralanalysenvorrichtung an einem konverter Withdrawn DE3617869A1 (de)

Priority Applications (6)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19863617869 DE3617869A1 (de) 1986-05-27 1986-05-27 Spektralanalysenvorrichtung an einem konverter
AT87106222T ATE61479T1 (de) 1986-05-27 1987-04-29 Spektralanalysenvorrichtung an einem konverter.
DE8787106222T DE3768345D1 (de) 1986-05-27 1987-04-29 Spektralanalysenvorrichtung an einem konverter.
EP87106222A EP0250765B1 (de) 1986-05-27 1987-04-29 Spektralanalysenvorrichtung an einem Konverter
US07/047,021 US4818106A (en) 1986-05-27 1987-05-05 Spectral analysis device on a converter
JP62126083A JPS62291521A (ja) 1986-05-27 1987-05-25 転炉その他の溶融金属を充てんした容器または炉のスペクトル分析装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19863617869 DE3617869A1 (de) 1986-05-27 1986-05-27 Spektralanalysenvorrichtung an einem konverter

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE3617869A1 true DE3617869A1 (de) 1987-12-03

Family

ID=6301767

Family Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19863617869 Withdrawn DE3617869A1 (de) 1986-05-27 1986-05-27 Spektralanalysenvorrichtung an einem konverter
DE8787106222T Expired - Fee Related DE3768345D1 (de) 1986-05-27 1987-04-29 Spektralanalysenvorrichtung an einem konverter.

Family Applications After (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE8787106222T Expired - Fee Related DE3768345D1 (de) 1986-05-27 1987-04-29 Spektralanalysenvorrichtung an einem konverter.

Country Status (5)

Country Link
US (1) US4818106A (de)
EP (1) EP0250765B1 (de)
JP (1) JPS62291521A (de)
AT (1) ATE61479T1 (de)
DE (2) DE3617869A1 (de)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4138157A1 (de) * 1991-11-21 1993-05-27 Krupp Ag Verfahren zum bestimmen der dicke einer beschichtung
DE4341462A1 (de) * 1993-11-30 1995-06-01 Hartmut Dr Rer Nat Lucht Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung der Materialzusammensetzung von Stoffen
DE4443407A1 (de) * 1993-12-08 1995-06-14 Fraunhofer Ges Forschung Vorrichtung für die chemische Analyse einer Substanz
DE10220849A1 (de) * 2002-05-08 2003-11-27 Forschungszentrum Juelich Gmbh Vorrichtung und Verfahren zur fluorimetrischen Erfassung von Substanzen in Medien

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
ES2065961T3 (es) * 1988-10-03 1995-03-01 Krupp Ag Hoesch Krupp Procedimiento para el acoplamiento optico de un sistema de analisis elemental y un laser de metal liquido en un recipiente de fundicion.
AT409553B (de) * 2000-09-28 2002-09-25 Voest Alpine Ind Anlagen Vorrichtung zur chemischen analyse von materialproben sowie metallurgisches gefäss hierfür
AT413244B (de) * 2004-03-30 2005-12-15 Innsitec Laser Technologies Gm Verfahren zur ermittlung und korrektur bzw. regelung des verlaufs eines laserlichtstrahls in einem hohlkörper
DE102010035412A1 (de) 2010-08-25 2012-03-01 Sms Siemag Ag Verfahren und Vorrichtung zur spektroskopischen Temperatur- und Analysebestimmung von flüsssigen Metallbädern in metallurgischen Gefäßen, insbesondere Konvertern
DE102018128754B4 (de) * 2018-11-15 2021-02-18 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Vorrichtung und Verfahren zur Elementanalyse von Materialien

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2138540A1 (de) * 1971-08-02 1973-02-15 Hoesch Ag Kontinuierliche analyse von fluessigen metallbaedern
DE2638398A1 (de) * 1975-10-10 1977-04-21 Ibm Verfahren zum eichen von spektralphotometern
DE3413589A1 (de) * 1984-04-11 1985-10-24 Fried. Krupp Gmbh, 4300 Essen Verfahren zur messung der zusammensetzung und der temperatur von fluessigem stahl und fluessiger schlacke in einem schmelzgefaess

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5399957A (en) * 1977-02-12 1978-08-31 Ritsuo Hasumi Light fiber input type spectrometer
JPS6061633A (ja) * 1983-09-16 1985-04-09 Kawasaki Steel Corp 精錬容器内溶湯温度の連続測定装置
JPS6132012A (ja) * 1984-07-25 1986-02-14 Toshiba Corp 光伝送装置
JPS6186636A (ja) * 1984-10-05 1986-05-02 Kawasaki Steel Corp 鋼のレ−ザ発光分光分析方法

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2138540A1 (de) * 1971-08-02 1973-02-15 Hoesch Ag Kontinuierliche analyse von fluessigen metallbaedern
DE2638398A1 (de) * 1975-10-10 1977-04-21 Ibm Verfahren zum eichen von spektralphotometern
DE3413589A1 (de) * 1984-04-11 1985-10-24 Fried. Krupp Gmbh, 4300 Essen Verfahren zur messung der zusammensetzung und der temperatur von fluessigem stahl und fluessiger schlacke in einem schmelzgefaess

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
DE-B.: G. Schröder: Technische Optik, Vogel Verlag, Würzburg, 1974, S. 96-101 *
Feinwerktechnik, Jg. 70, H. 3, 1966, S. 132 *

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4138157A1 (de) * 1991-11-21 1993-05-27 Krupp Ag Verfahren zum bestimmen der dicke einer beschichtung
DE4341462A1 (de) * 1993-11-30 1995-06-01 Hartmut Dr Rer Nat Lucht Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung der Materialzusammensetzung von Stoffen
DE4341462C2 (de) * 1993-11-30 1999-02-11 Hartmut Dr Rer Nat Lucht Verfahren zur Bestimmung der Materialzusammensetzung von Proben und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens
DE4443407A1 (de) * 1993-12-08 1995-06-14 Fraunhofer Ges Forschung Vorrichtung für die chemische Analyse einer Substanz
DE4443407C2 (de) * 1993-12-08 1999-07-22 Fraunhofer Ges Forschung Vorrichtung zur qualitativen und/oder quantitativen chemischen Analyse einer Substanz, insbesondere zur Analyse einer Metallschmelze
DE10220849A1 (de) * 2002-05-08 2003-11-27 Forschungszentrum Juelich Gmbh Vorrichtung und Verfahren zur fluorimetrischen Erfassung von Substanzen in Medien

Also Published As

Publication number Publication date
DE3768345D1 (de) 1991-04-11
EP0250765A1 (de) 1988-01-07
ATE61479T1 (de) 1991-03-15
JPS62291521A (ja) 1987-12-18
EP0250765B1 (de) 1991-03-06
US4818106A (en) 1989-04-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0868656B1 (de) Verfahren und vorrichtung zur bestimmung von aus einer schmelze ausgehenden elektromagnetischen wellen
DE2727265A1 (de) Optische mikroskop-laser-mikrosonde fuer raman-spektroskopie
DE2755320A1 (de) Radiometrisches abtastgeraet
EP0129150A2 (de) Verfahren zur berührungslosen, emissionsgradunabhängigen Strahlungsmessung der Temperatur eines Objekts und Vorrichtung zur Durchführung der Verfahren
DE3617869A1 (de) Spektralanalysenvorrichtung an einem konverter
EP0145877A2 (de) Fotometer zur kontinuierlichen Analyse eines Mediums (Gas oder Flüssigkeit)
AT409553B (de) Vorrichtung zur chemischen analyse von materialproben sowie metallurgisches gefäss hierfür
DE2808676B2 (de) Verfahren zum Bestimmen wenigstens einer Kenngröße der Ausziehzone einer optischen Faser
DE2052669B2 (de) Vorrichtung zur spektralanalytischen untersuchung von bereichen hoher temperatur, insbesondere von geschmolzenen metallen
DE4232371C2 (de) Analysengerät zur Bestimmung von Gasen oder Flüssigkeiten
EP0349839A2 (de) Mehrkomponenten-Photometer
US4652128A (en) Method of performing continuous on-line laser emission spectroscopic analysis on a flowing fluid sample by laser and apparatus therefor
DE69937618T2 (de) Vorrichtung und Methode zur Messung der optischen Dichte
AT503539B1 (de) Tauchsonde für lips-vorrichtungen
DE3942375A1 (de) Vorrichtung zur gleichzeitigen erfassung mehrerer wellenlaengenbereiche
EP0254282B1 (de) Spektralanalytisches Gasmessgerät
EP1337819A1 (de) Einrichtung zur aufnahme und weiterleitung elektromagnetischer wellen, die von einer materialprobe ausgesendet werden
DE2320937A1 (de) Optische vorrichtung zum aufnehmen der lichtabsorption in einem objekt, das ausserdem eine veraenderliche optische dichte aufweist
DE60318333T2 (de) Verfahren um eine durch ein metallurgisches gefäss durchtretende düse frei von skull zu halten
DE3631643A1 (de) Vorrichtung zur photoelektrischen temperaturmessung eines messobjektes
DE3223096A1 (de) Fotoelektrisches verfahren und messgeraet zur bestimmung der konzentration einer gaskomponente
DE3718407A1 (de) Anordnung fuer die optische analyse von partikelpopulationen in gasen und fluessigkeiten
EP0440577A1 (de) Interferometrische Messanordnung
CA1225844A (en) Method of continuously analyzing fluidized body by laser and apparatus therefor
WO2016177459A1 (de) Zytometrierverfahren und zytometereinheit

Legal Events

Date Code Title Description
OP8 Request for examination as to paragraph 44 patent law
8130 Withdrawal