DE3608410A1 - Herstellung von feinstrukturen fuer die halbleiterkontaktierung - Google Patents
Herstellung von feinstrukturen fuer die halbleiterkontaktierungInfo
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- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims abstract description 10
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims abstract description 7
- 239000004033 plastic Substances 0.000 claims abstract description 20
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 16
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 10
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 claims description 10
- 239000010949 copper Substances 0.000 claims description 10
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 claims description 7
- 239000003973 paint Substances 0.000 claims description 5
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 claims description 4
- 238000000576 coating method Methods 0.000 claims description 4
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 239000002650 laminated plastic Substances 0.000 claims 2
- 239000004744 fabric Substances 0.000 claims 1
- 238000000608 laser ablation Methods 0.000 claims 1
- 239000003351 stiffener Substances 0.000 claims 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 5
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 3
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000007858 starting material Substances 0.000 description 3
- 241000239290 Araneae Species 0.000 description 2
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 description 2
- 239000000969 carrier Substances 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 238000003475 lamination Methods 0.000 description 2
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 2
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 2
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 2
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 1
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 1
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 238000005234 chemical deposition Methods 0.000 description 1
- 238000005253 cladding Methods 0.000 description 1
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 1
- 238000009713 electroplating Methods 0.000 description 1
- 238000001764 infiltration Methods 0.000 description 1
- 230000008595 infiltration Effects 0.000 description 1
- 239000004922 lacquer Substances 0.000 description 1
- 239000002648 laminated material Substances 0.000 description 1
- 238000010030 laminating Methods 0.000 description 1
- 238000013532 laser treatment Methods 0.000 description 1
- 238000003754 machining Methods 0.000 description 1
- 230000000873 masking effect Effects 0.000 description 1
- 238000001465 metallisation Methods 0.000 description 1
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 1
- 238000004080 punching Methods 0.000 description 1
- 238000002910 structure generation Methods 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
- 238000011282 treatment Methods 0.000 description 1
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- H—ELECTRICITY
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- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
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- H05K3/0026—Etching of the substrate by chemical or physical means by laser ablation
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- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
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- H01L21/4803—Insulating or insulated parts, e.g. mountings, containers, diamond heatsinks
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- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K1/00—Printed circuits
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- H05K1/03—Use of materials for the substrate
- H05K1/0393—Flexible materials
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- H—ELECTRICITY
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- H05K2201/00—Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
- H05K2201/03—Conductive materials
- H05K2201/0332—Structure of the conductor
- H05K2201/0388—Other aspects of conductors
- H05K2201/0394—Conductor crossing over a hole in the substrate or a gap between two separate substrate parts
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- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K2203/00—Indexing scheme relating to apparatus or processes for manufacturing printed circuits covered by H05K3/00
- H05K2203/05—Patterning and lithography; Masks; Details of resist
- H05K2203/0548—Masks
- H05K2203/0554—Metal used as mask for etching vias, e.g. by laser ablation
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- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/40—Forming printed elements for providing electric connections to or between printed circuits
- H05K3/4092—Integral conductive tabs, i.e. conductive parts partly detached from the substrate
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- General Physics & Mathematics (AREA)
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Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Herstellung von
Feinstrukturen für die Halbleiterkontaktierung aus einem
doppelseitig mit Metall kaschierten Kunststoffband. Als
Metall eignet sich vorzugsweise Kupfer.
Halbleiterchips werden üblicherweise mit feinen Drähten
auf Systemträger kontaktiert, die dann zu Gehäusen um
spritzt werden.
Eine weitere Methode ist die über vorgefertigte Struk
turen, sogenannte Zwischensubstrate oder Spider. Bei
diesem TAB (tape automated bonding) genannten Verfahren
wird zunächst der Halbleiterchip mit allen seinen An
schlüssen gleichzeitig in den Innenbereich der Feinstruk
tur kontaktiert (Innenkontaktierung) und dann vom Anwen
der über den Außenbereich der Feinstruktur mit der Ver
drahtung verbunden. Diese Bauform ist extrem klein, flach
und leicht.
Für die Herstellung der Feinstrukturen gibt es mehrere
Verfahren.
Ein übliches Verfahren zur Herstellung eines sogenannten
3-Lagen-Bandes, das zum Beispiel in Solid State Techno
logy 3.78 "Beam Tape Carriers - A Design Guide" abgedruckt
ist, sieht zunächst das Stanzen der Öffnungen in das kle
berbeschichtete Kunststoffband vor, auf das dann Kupfer
laminiert wird. Dieses Band wird mit Photolack beschich
tet, auf der Kupferseite mit dem Negativmuster der Fein
struktur belichtet, entwickelt und dann in Form der
Struktur galvanisch, zum Beispiel mit Zinn, belegt. Nach
Entschichtung wird das Band mit der galvanisch abgeschie
denen Oberfläche als Ätzschutz geätzt.
Nachteilig bei diesem Verfahren ist die ausgeprägte
Schüsselbildung beim Laminieren des Kupfers über große
Öffnungen des Kunststoffbandes, die eine genaue photo
technische Strukturerzeugung verhindert. Auch die Be
schichtung mit Photolack ist auf der Bandrückseite mit
den Öffnungen nicht gleichmäßig möglich, was die Lack
trocknung behindert und später zu unkontrollierten
Fehlern durch Lackabplatzen und Galvanikdurchschlägen
führt.
Ein weiteres bekanntes Verfahren für das sogenannte
2-Lagen-Band ("Beam Tape Carriers - A Design Guide" in
Solid State Technology 3.78) enthält die Herstellung der
Öffnungen im Kunststoffband durch Ätzen bzw. Herauslösen
des Kunststoffes. Nachteilig bei diesem Verfahren ist,
daß das Herauslösen unter allseitiger Maskierung vorge
nommen werden muß und daß dann für die weitere Bandbe
handlung das zuvor hinsichtlich Lackungleichmäßigkeit
Gesagte gilt. Weiterhin ist das Herauslösen auch von
seitlicher Unterwanderung begleitet, was die Herstellung
genau tolerierter Öffnungen erschwert.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, das eingangs ge
nannte Verfahren zu konzipieren und damit die genannten
Nachteile größtenteils zu beheben. Diese Aufgabe wird
durch die Merkmale der Patentansprüche gelöst.
Im einzelnen ist der Ablauf folgendermaßen:
Ausgangsmaterial ist ein doppelseitig mit Kupfer kaschier
tes Kunststoffband.
Nach Beschichten mit Photolack wird auf die Oberseite das
Muster der Feinstruktur und auf die Unterseite das Muster
der späteren Kunststoffversteifung (negatives Öffnungs
muster) belichtet und entwickelt.
Diese Strukturen werden beidseitig geätzt und anschließend
von Photolack entschichtet.
Nun erfolgt auf der Unterseite die Bestrahlung mit einem
Excimer-Laser, wobei das stehengebliebene Kupfermuster
als Maskierung dient. Bei der Bestrahlung wird Kunststoff
solange abgetragen, bis entweder das darunter befindliche
Kupfermuster erreicht wird oder aber die Gesamtdicke ent
fernt ist.
Wahlweise kann jetzt chemisch oder galvanisch eine gut
kontaktierbare Endoberfläche aufgebracht werden.
Ausgehend von diesem Grundverfahren sind weitere Alter
nativen möglich.
So kann, wenn die Kaschierung auf der Unterseite stört,
eine gesonderte Blechmaske für die Laserbestrahlung auf
gelegt werden.
Weiterhin können doppelseitige Feinstrukturen realisiert
werden indem derartige Muster beidseitig geätzt werden
und die Laserbehandlung auch von beiden Seiten erfolgt.
An abgeschatteten Kreuzungspunkten bleibt dabei der Trä
gerkunststoff stehen und sorgt für Distanz. Die Verwen
dung gesonderter Masken bringt weitere Ausgestaltungsmög
lichkeiten.
Als Vorteile sind zu nennen:
Es wird handelsübliches kaschiertes Material verwendet.
Das glatte Band gestattet eine gleichmäßige und problem
lose Lackbeschichtung; Verwölbungen und Knicke treten
nicht auf.
Bei mitgeätzter Lasermaske entfällt jedes Positionier
problem. Später benötigte Bearbeitungslöcher werden mit
hoher Genauigkeit phototechnisch vorgegeben und jede be
liebige Öffnungs- oder Versteifungsstruktur ist möglich.
Dadurch lassen sich auch komplizierte Biegevorgänge bei
engster Teilung realisieren.
Teuere Stanzwerkzeuge entfallen, das Verfahren wird ein
facher und flexibel.
Die Erfindung wird anhand eines in den Figuren dargestell
ten Ausführungsbeispiels erläutert. Es zeigen:
Fig. 1 ein einzelnes Teil in der Draufsicht, das nach
dem erfindungsgemäßen Verfahren hergestellt ist
und
Fig. 2 einen Schnitt II durch Fig. 1.
Mit 1 ist ein Kunststoffband bezeichnet, das doppelseitig
mit Metall 2 (2 a, 2 b) beschichtet ist. Der Kunststoffträ
ger ist so strukturiert, daß sich zum Beispiel Stege und
Öffnungen ergeben. Die Stege 3 können als Versteifung bei
der Verarbeitung der Feinstruktur dienen. Die übrigen
Öffnungen bilden zum Beispiel den Innenkontaktierungsbe
reich 4, den Außenkontaktierungsbereich 5 und Positions-
6 und Perforationslöcher 7. Mit 8 ist ein Teil der Verbin
dungsleitungen (Feinstruktur) dargestellt, die sich vom
Innenbereich bis zum Außenbereich erstrecken und dabei
vom Kunststoffträger gehalten werden. Die Richtung, in
der der Excimer-Laser wirkt, ist mit den Pfeilen 9 ange
deutet.
Die Herstellung und Verarbeitung von Strukturen für die
Halbleiterkontaktierung geschieht stichpunktartig fol
gendermaßen:
Ausgangsmaterial ist doppelseitig kaschiertes Polyimid
(oder ähnliches),
Phototechnische Strukturierung. Positivmuster (oben Spider, unten Öffnungsstruktur),
Ätzen der Struktur,
Entschichten Photolack,
an dieser Stelle oder am Schluß: galvanische oder che mische Metallabscheidung,
Bestrahlen mit Excimer-Laser und Entfernung des Kunst stoffes gemäß der auf der Unterseite mitgeätzten Öffnungs struktur.
Phototechnische Strukturierung. Positivmuster (oben Spider, unten Öffnungsstruktur),
Ätzen der Struktur,
Entschichten Photolack,
an dieser Stelle oder am Schluß: galvanische oder che mische Metallabscheidung,
Bestrahlen mit Excimer-Laser und Entfernung des Kunst stoffes gemäß der auf der Unterseite mitgeätzten Öffnungs struktur.
Alternativ:
Ausgangsmaterial ist ein einseitig kupfer-kaschiertes- Polyimidband von zum Beispiel 50 µm Trägerstärke mit 35 µm Kupfer,
phototechnische Strukturierung durch Beschichten, Be lichten und Entwickeln; Positivmuster, das heißt Photo lack als Ätzreserve. Positionierung zum Beispiel über mitgestanzte Löcher.
Ätzen der Struktur in der Kupferkaschierung, Entschichten des Photolacks,
hier oder am Schluß: galvanische oder chemische Abschei dung einer in Art und Schichtdicke dem Kontaktieren an gepaßten Oberfläche,
Paßgerechtes Andrücken einer Blechmaske auf die un kaschierte Seite des Bandes. Diese Blechmaske hat alle Bereiche frei, an denen der Kunststoffträger entfernt werden soll.
Bestrahlen mit dem Excimer-Laser zur Entfernung des nicht benötigten Kunststoffes.
Ausgangsmaterial ist ein einseitig kupfer-kaschiertes- Polyimidband von zum Beispiel 50 µm Trägerstärke mit 35 µm Kupfer,
phototechnische Strukturierung durch Beschichten, Be lichten und Entwickeln; Positivmuster, das heißt Photo lack als Ätzreserve. Positionierung zum Beispiel über mitgestanzte Löcher.
Ätzen der Struktur in der Kupferkaschierung, Entschichten des Photolacks,
hier oder am Schluß: galvanische oder chemische Abschei dung einer in Art und Schichtdicke dem Kontaktieren an gepaßten Oberfläche,
Paßgerechtes Andrücken einer Blechmaske auf die un kaschierte Seite des Bandes. Diese Blechmaske hat alle Bereiche frei, an denen der Kunststoffträger entfernt werden soll.
Bestrahlen mit dem Excimer-Laser zur Entfernung des nicht benötigten Kunststoffes.
Claims (4)
1. Verfahren zur Herstellung von Feinstrukturen für die
Halbleiterkontaktierung aus einem doppelseitig mit Me
tall kaschierten Kunststoffband, dadurch ge
kennzeichnet, daß zur Entfernung des nicht
benötigten Kunststoffes und Erzeugung der Öffnungen (4
bis 7) im Kunststoffband (1) ein Excimer-Laser dient.
2. Verfahren nach Anspruch 1, wobei nach Beschichten mit
Photolack auf die Oberseite das Muster der Feinstruktur
und auf die Unterseite das Muster der späteren Kunst
stoffversteifung belichtet und entwickelt wird und diese
Strukturen beidseitig geätzt und anschließend von Photo
lack entschichtet werden, dadurch gekenn
zeichnet, daß auf der Unterseite die Bestrah
lung mit dem Excimer-Laser erfolgt, wobei das stehenge
bliebene Kupfermuster als Maskierung dient.
3. Verfahren nach Anspruch 1 und 2 zur Erzeugung von
doppelseitigen Feinstrukturen, dadurch ge
kennzeichnet, daß auf beiden Seiten des
metallkaschierten Bandes (1) Feinstrukturen (2 a, 2 b)
erzeugt werden und der Laserabtrag des Kunststoffes auch
von beiden Seiten erfolgt.
4. Verfahren nach Anspruch 2 mit einem einseitig mit Me
tall kaschierten Kunststoffband, dadurch ge
kennzeichnet, daß auf der Unterseite eine
Blechmaske aufgelegt wird, durch deren Öffnungen der La
serabtrag des Kunststoffes erfolgt.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19863608410 DE3608410A1 (de) | 1986-03-13 | 1986-03-13 | Herstellung von feinstrukturen fuer die halbleiterkontaktierung |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19863608410 DE3608410A1 (de) | 1986-03-13 | 1986-03-13 | Herstellung von feinstrukturen fuer die halbleiterkontaktierung |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3608410A1 true DE3608410A1 (de) | 1987-09-17 |
DE3608410C2 DE3608410C2 (de) | 1991-10-10 |
Family
ID=6296268
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19863608410 Granted DE3608410A1 (de) | 1986-03-13 | 1986-03-13 | Herstellung von feinstrukturen fuer die halbleiterkontaktierung |
Country Status (1)
Country | Link |
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---|---|
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