DE3447345C2 - - Google Patents
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Description
Die Erfindung betrifft eine integrierte Halbleiterschalt-
Kreisanordnung mit
den Merkmalen des Oberbegriffs des Anspruchs 1.
Eine derartige Halbleiterschaltkreisanordnung
ist aus JP-56-51 851 (A) bekannt.
Bei ihr sind die Anschlußflächen auf dem Chip wie auch die
Anschlußelemente auf der Chipbefestigungseinrichtung jeweils
abwechselnd entlang zweier versetzter Linien angeordnet. Dies
erlaubt eine außerordentlich hohe Dichte an Anschlußflächen
und Anschlußelementen. Es besteht jedoch eine erhöhte Gefahr
von Kurzschlüssen durch losgelöste Drähte.
Außer der eben genannten integrierten Halbleiterschaltkreis
anordnung mit Anschlußflächen entlang zweier paralleler Linien
sind integrierte Halbleiterschaltkreisanordnungen mit An
schlußflächen entlang einer einzigen Linie bekannt, z. B. aus
DE 31 19 239 A1. Bei der Anordnung gemäß der oben genannten
Schrift verlaufen die Verbindungsdrähte zu unregelmäßig ange
ordneten Anschlußelementen auf der Chipbefestigungseinrich
tung.
Eine andere integrierte Halbleiterschaltkreisanordnung
mit einer einzigen Reihe von Anschlußflächen wird nun unter
Bezugnahme auf Fig. 1 erläutert. Bei dieser Anordnung bilden
auch die Anschlußelemente ein regelmäßiges Muster, indem sie
voneinander gleich beabstandet entlang einer einzigen Linie
angeordnet sind. In Fig. 1 ist mit 1 ein Halbleiterchip und
mit 2 ein Abschnitt zur Aufnahme äußerer Anschlußelemente 4
(Anschlußstifte o. dgl.) bezeichnet. Die äußeren Anschluß
elemente 4 und Anschlußflächen 3 entlang einer Kante des
Chips 1 sind über Verbindungsdrähte 5 miteinander verbunden.
Da die Anschlußelemente 4 breiter sind als die Anschlußflä
chen 3, verlaufen die Verbindungsdrähte 5 nach außen hin
immer schräger.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine sehr zuverläs
sige integrierte Halbleiterschaltkreisanordnung mit hoher
Dichte der Anschlußflächen und Anschlußelemente anzugeben.
Die Erfindung ist durch die Merkmale von Anspruch 1 gegeben.
Eine vorteilhafte Ausgestaltung ist Gegenstand von Anspruch 2.
Die erfindungsgemäße integrierte Halbleiterschaltkreisanord
nung stellt eine Kombination der beiden ersten aus dem Stand der
Technik bekannten Lösungen dar. Es sind nämlich die Anschluß
flächen auf einer Linie
entlang einem Rand des Halbleiterchips angeordnet, während
die Anschlußelemente abwechselnd entlang zweier zueinander paralleler
Linien angeordnet sind. Es ist offensichtlich, daß sich damit
eine erheblich höhere Packungsdichte der Anschlußelemente und
damit auch der Anschlußflächen erzielen läßt als beim Stand
der Technik gemäß Fig. 1. Die erzielbare Verpackungsdichte
ist zwar nicht so hoch wie bei der eingangs beschriebenen An
ordnung, jedoch besteht gegenüber dieser Anordnung der Vor
teil, daß die Gefahr von Kurzschlüssen losgelöster Drähte
mit dem Chip erheblich verringert ist. Dies, weil alle An
schlußflächen dicht entlang einer Kante des Chips verlaufen,
während bei der eingangs genannten Anordnung die Hälfte der
Drähte bis zu Anschlußflächen führen muß, die etwas weiter im
Inneren des Chips liegen. Es ist offensichtlich, daß die Ge
fahr von Kurzschlüssen durch losgelöste Drähte mit dem Chip
um so größer ist, je weiter die Drähte den Chip überdecken.
Die erfindungsgemäße Halbleiterschaltkreisanordnung stellt
also eine sehr gute Optimierung zwischen hoher Packungsdichte
und sicherer Kontaktierung dar.
Die Erfindung ist anhand von vorteilhaften Ausführungs
beispielen in den Zeichnungsfiguren näher erläutert.
Diese zeigen:
Fig. 1 eine schematische Darstellung einer integrier
ten Halbleiterschaltkreisanordnung nach dem
Stand der Technik,
Fig. 2 eine schematische Darstellung eines ersten
Ausführungsbeispieles einer integrierten Halb
leiterschaltkreisanordnung nach der Erfindung,
Fig. 3 eine schematische Darstellung eines zweiten
vorteilhaften Ausführungsbeispieles der Er
findung.
Im folgenden wird auf Fig. 2 Bezug genommen, die eine
mögliche Ausführungsform der vorliegenden Erfindung
zeigt.
Das Referenzzeichen 21 bezeichnet einen Halbleiterchip.
Die Bezugszeichen 23a-23h bzw. 26a-26h beziehen
sich auf Anschlußflächen, die auf einer Linie entlang einer Kante auf
der Fläche des Halbleiterchips 21 unter vorgegebenem
Abstand zueinander angeordnet sind. Dabei bezeichnen
die Bezugszeichen 23a-23h eine erste Gruppe von
Anschlußflächen, die durch jede übernächste Anschluß
fläche gebildet werden, die Bezugszeichen 26a-26h
bezeichnen die verbleibenden zweiten Anschlußflächen.
Die Bezugszeichen 24a-24h bezeichnen erste äußere
Anschlußelemente, die auf einer ersten Anordnungslinie
AL1 parallel zur Kante des Chips 21 unter denselben
Abständen wie die ersten Anschlußflächen 23a-23h
vorgesehen sind. Die Bezugszeichen 27a-27h beziehen
sich auf zweite äußere Anschlußelemente, die auf einer
zweiten Anordnungslinie AL 2 parallel zur ersten Linie
AL1 angesiedelt sind und deren Zwischenräume denen
zwischen den zweiten Anschlußflächen 26a-26h ent
sprechen. Die Bezugszeichen 22 und 29 bezeichnen einen
ersten und einen zweiten Abschnitt zur Aufnahme der
ersten und zweiten äußeren Anschlußelemente 24a-24h
bzw. 27a-27h, beide vorgesehen in einem Verbund zur
Befestigung des Chips 21.
Die Bezugszeichen 25a-25h beziehen sich auf erste
Drähte zur Verbindung der ersten Anschlußflächen 23a-
23h und der ersten äußeren Anschlußelemente 24a-24
h. Die Bezugszeichen 28a-28h bezeichnen zweite
Drähte zur Verbindung der zweiten Anschlußflächen 26a
-26h und der zweiten äußeren Anschlußelemente 27a-
27h.
Die ersten äußeren Anschlußelemente 24a-24h, die
zur Verbindung mit den ersten Anschlußflächen 23a-23
h vorgesehen sind, sind unter denselben Abständen angeordnet
wie die ersten Anschlußflächen 23a-23h. Die
geraden Linien, die die ersten Anschlußflächen 23a-
23h und die ersten äußeren Anschlußelemente 24a-24
h miteinander verbinden, sind zueinander parallel und
sie schneiden sich nicht untereinander. Die zweiten
äußeren Anschlußelemente 27a-27h, die zur Ver
bindung mit den zweiten Anschlußflächen 26a-26h
vorgesehen sind, sind in den Zwischenräumen zwischen
zwei benachbart liegenden Geraden vorgesehen, die die
ersten Anschlußflächen 23a-23h und die zugehörigen
ersten äußeren Anschlußelemente 24a-24h verbinden.
Die geraden Linien, die die zweiten Anschlußflächen 26
a-26h und die zweiten äußeren Anschlußelemente 27a-
27h verbinden, sind zueinander parallel und schnei
den sich nicht. Demzufolge können die Drähte, die die
Anschlußflächen mit den äußeren Anschlußelementen ver
binden, so verdrahtet werden, daß sie alle parallel
zueinander liegen. Deswegen laufen die Drähte nicht
über die ihnen benachbart liegenden Anschlußflächen und
äußeren Anschlußelemente und ermöglichen es dabei, die
Zwischenräume zwischen den Anschlußflächen und zwischen
den äußeren Anschlußelementen im Hinblick auf die An
ordnungen nach dem Stand der Technik zu verkleinern.
Dies ermöglicht eine Erhöhung der Anzahl der Signal
pins.
Bei der vorstehend erläuterten Ausführungsform sind
alle Anschlußflächen unter ungefähr gleichen Abständen
zueinander angeordnet, jedoch können die Anschluß
flächen auch mit unterschiedlichen Zwischenräumen zu
einander vorgesehen sein. Eine diesbezügliche Abände
rung ist in Fig. 3 als weiteres Ausführungsbeispiel
der vorliegenden Erfindung gezeigt. In dieser Zeich
nungsfigur ist eine Gruppe von Anschlußflächen 33a, 36
a, . . ., 33c, 36d unter gleichbleibenden Zwischenräu
men auf einer Linie entlang einer Kante des Chips 21
angeordnet, eine weitere Gruppe von Anschlußflächen 33
e, 36d, . . ., 36f, 33 h ist ebenfalls unter gleich
bleibenden Abständen auf derselben Linie entlang einer
Kante des Chips 21 unter Einhaltung eines Abstandes der
ersten Gruppe von Anschlußflächen angeordnet; zudem ist
eine einzelne Anschlußfläche 59 auf derselben Linie wie
die anderen vorgesehen und nimmt eine zentrale, zwi
schen den beiden vorstehend bezeichneten Gruppen von
Anschlußflächen liegende Position ein. Die ersten äuße
ren Anschlußelemente 34a-34f, die zur Verbindung
mit den ersten Anschlußflächen 36a-36f vorgesehen
sind, welch letztere als jeweils übernächste auf den
beiden Gruppen der Anschlußflächen ausgewählt sind,
sind auf einer ersten Anordnungslinie AL1 angeordnet,
die zweiten äußeren Anschlußelemente 37a-37h, die
zum Anschluß an die verbleibenden zweiten Anschluß
flächen 33a-33h vorgesehen sind, sind auf einer
zweiten Linie AL2 vorgesehen, ein einzelner äußerer
Anschlußstift 61, der zur Anschlußfläche 59 gehört, ist
auf der ersten Anordnungslinie AL1 in einer mittigen
Position zwischen den beiden ersten äußeren Anschluß
elementen 34c und 34d vorgesehen. Demzufolge können
die Drahtabschnitte 38a-38f sowie 35a-35h, die
die Anschlußflächen 33a, 36a, . . ., 36f, 36 h und die
äußeren Anschlußelemente 34a-34f bzw. 37a-37h
verbinden, so verdrahtet werden, daß sie parallel zu
einander und auch parallel zum Draht 60 liegen, welch
letzterer die Anschlußfläche 59 und das äußere An
schlußelement 61 verbindet.
Claims (2)
1. Integrierte Halbleiterschaltkreisanordnung mit
- - einem Halbleiterchips (21) mit mehreren Anschlußflächen (23, 26, 33, 36) im Bereich einer Kante des Halbleiterchips,
- - einer Chipbefestigungseinrichtung (22) mit mehreren An schlußelementen (24, 27, 34, 37), die abwechselnd entlang zweier unterschiedlich weit von der genannten Chipkante entfernter, zur Chipkante paralleler Linien angeordnet sind, und
- - je einem Verbindungsdraht (25, 28, 35, 38) von jeweils
einer Anschlußfläche zu jeweils einem Anschlußelement, wo
bei die Anschlußflächen und die Anschlußelemente so ange
ordnet sind, daß die Verbindungsdrähte im wesentlichen
parallel zueinander verlaufen,
dadurch gekennzeichnet, daß - - die Anschlußflächen (23, 26, 33, 36) alle auf einer Linie entlang der genannten Kante des Halbleiterchips (21) lie gen.
2. Anordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß
die Anschlußflächen (23a, 26a, 23b, 26b, . . ., 23h, 26h) unter
jeweils gleichem gegenseitigem Abstand angeordnet sind.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58246871A JPS60138931A (ja) | 1983-12-27 | 1983-12-27 | 半導体集積回路装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3447345A1 DE3447345A1 (de) | 1985-07-11 |
DE3447345C2 true DE3447345C2 (de) | 1993-04-01 |
Family
ID=17154967
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19843447345 Granted DE3447345A1 (de) | 1983-12-27 | 1984-12-24 | Integrierte halbleiterschaltkreisanordnung |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS60138931A (de) |
DE (1) | DE3447345A1 (de) |
FR (1) | FR2557366B1 (de) |
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1984
- 1984-12-24 DE DE19843447345 patent/DE3447345A1/de active Granted
- 1984-12-26 FR FR8419816A patent/FR2557366B1/fr not_active Expired
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Publication number | Publication date |
---|---|
FR2557366A1 (fr) | 1985-06-28 |
FR2557366B1 (fr) | 1988-10-14 |
JPS60138931A (ja) | 1985-07-23 |
DE3447345A1 (de) | 1985-07-11 |
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8110 | Request for examination paragraph 44 | ||
D2 | Grant after examination | ||
8363 | Opposition against the patent | ||
8320 | Willingness to grant licences declared (paragraph 23) | ||
8331 | Complete revocation |