DE3340180C1 - Kontaktfeldanordnung fuer ein rechnergesteuertes Leiterplattenpruefgeraet - Google Patents

Kontaktfeldanordnung fuer ein rechnergesteuertes Leiterplattenpruefgeraet

Info

Publication number
DE3340180C1
DE3340180C1 DE3340180A DE3340180A DE3340180C1 DE 3340180 C1 DE3340180 C1 DE 3340180C1 DE 3340180 A DE3340180 A DE 3340180A DE 3340180 A DE3340180 A DE 3340180A DE 3340180 C1 DE3340180 C1 DE 3340180C1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
contact
circuit board
contact field
base plate
computer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
DE3340180A
Other languages
German (de)
English (en)
Inventor
Hubert Dipl.-Phys. Driller
Paul 6384 Schmitten Mang
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mania GmbH and Co
Mania Elektronik Automatisation Entwicklung und Geraetebau GmbH
Original Assignee
Mania GmbH and Co
Mania Elektronik Automatisation Entwicklung und Geraetebau GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mania GmbH and Co, Mania Elektronik Automatisation Entwicklung und Geraetebau GmbH filed Critical Mania GmbH and Co
Priority to DE3340180A priority Critical patent/DE3340180C1/de
Priority to AT84107010T priority patent/ATE29597T1/de
Priority to EP84107010A priority patent/EP0145830B1/de
Priority to DE8484107010T priority patent/DE3466079D1/de
Priority to CA000467101A priority patent/CA1229425A/en
Priority to JP59233381A priority patent/JPS60161568A/ja
Application granted granted Critical
Publication of DE3340180C1 publication Critical patent/DE3340180C1/de
Priority to US06/903,835 priority patent/US4674006A/en
Priority to US07/779,910 priority patent/USRE34491E/en
Expired legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes
    • G01R1/073Multiple probes
    • G01R1/07307Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
    • G01R1/07364Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card with provisions for altering position, number or connection of probe tips; Adapting to differences in pitch
    • G01R1/07378Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card with provisions for altering position, number or connection of probe tips; Adapting to differences in pitch using an intermediate adapter, e.g. space transformers
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes
    • G01R1/073Multiple probes
    • G01R1/07307Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
    • G01R1/07314Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card the body of the probe being perpendicular to test object, e.g. bed of nails or probe with bump contacts on a rigid support

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
  • Measuring Leads Or Probes (AREA)
DE3340180A 1983-11-07 1983-11-07 Kontaktfeldanordnung fuer ein rechnergesteuertes Leiterplattenpruefgeraet Expired DE3340180C1 (de)

Priority Applications (8)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE3340180A DE3340180C1 (de) 1983-11-07 1983-11-07 Kontaktfeldanordnung fuer ein rechnergesteuertes Leiterplattenpruefgeraet
AT84107010T ATE29597T1 (de) 1983-11-07 1984-06-19 Kontaktfeldanordnung fuer ein rechnergesteuertes leiterplattenpruefgeraet.
EP84107010A EP0145830B1 (de) 1983-11-07 1984-06-19 Kontaktfeldanordnung für ein rechnergesteuertes Leiterplattenprüfgerät
DE8484107010T DE3466079D1 (en) 1983-11-07 1984-06-19 Contact spring assembly for a computer-controlled printed circuit board testing device
CA000467101A CA1229425A (en) 1983-11-07 1984-11-06 Contact array assembly for a computer-controlled printed circuit board testing apparatus
JP59233381A JPS60161568A (ja) 1983-11-07 1984-11-07 接点配列モジユ−ル
US06/903,835 US4674006A (en) 1983-11-07 1986-09-03 Contact array assembly for a computer-controlled printed circuit board testing apparatus
US07/779,910 USRE34491E (en) 1983-11-07 1991-10-21 Contact array assembly for a computer-controlled printed circuit board testing apparatus

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE3340180A DE3340180C1 (de) 1983-11-07 1983-11-07 Kontaktfeldanordnung fuer ein rechnergesteuertes Leiterplattenpruefgeraet

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE3340180C1 true DE3340180C1 (de) 1985-05-15

Family

ID=6213645

Family Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE3340180A Expired DE3340180C1 (de) 1983-11-07 1983-11-07 Kontaktfeldanordnung fuer ein rechnergesteuertes Leiterplattenpruefgeraet
DE8484107010T Expired DE3466079D1 (en) 1983-11-07 1984-06-19 Contact spring assembly for a computer-controlled printed circuit board testing device

Family Applications After (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE8484107010T Expired DE3466079D1 (en) 1983-11-07 1984-06-19 Contact spring assembly for a computer-controlled printed circuit board testing device

Country Status (6)

Country Link
US (1) US4674006A (enExample)
EP (1) EP0145830B1 (enExample)
JP (1) JPS60161568A (enExample)
AT (1) ATE29597T1 (enExample)
CA (1) CA1229425A (enExample)
DE (2) DE3340180C1 (enExample)

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0263244A1 (de) * 1986-09-08 1988-04-13 MANIA Elektronik Automatisation Entwicklung und Gerätebau GmbH Vorrichtung zum elektronischen Prüfen von Leiterplatten mit Kontaktpunkten in extrem feinem Raster (1/20 bis 1/10 Zoll)
DE3823367A1 (de) * 1988-07-09 1990-01-11 Manfred Prokopp Leiterplattenpruefgeraet
FR2666693A1 (fr) * 1990-09-11 1992-03-13 Option Dispositif pour la connexion a un circuit electrique ou electronique, d'une multiplicite d'elements conducteurs repartis sur une surface de dimensions restreintes.
DE4116457C1 (enExample) * 1991-05-21 1992-10-29 Helmut 7800 Freiburg De Lang-Dahlke
DE19508902A1 (de) * 1995-03-11 1996-09-12 Nadejda Dipl Phys Poskatcheeva Vorrichtung zur Prüfung von Platinen sowie deren Verwendung
DE19627801C1 (de) * 1996-07-10 1998-03-26 Atg Test Systems Gmbh Vorrichtung zum Prüfen von elektrischen Leiterplatten
WO2002031516A1 (de) 2000-10-04 2002-04-18 Atg Test Systems Gmbh & Co. Kg Modul für eine prüfvorrichtung zum testen von leiterplatten
WO2008071541A3 (de) * 2006-12-15 2008-08-21 Atg Luther & Maelzer Gmbh Modul für eine prüfvorrichtung zum testen von leiterplatten
DE102008006130A1 (de) 2008-01-25 2009-07-30 Atg Luther & Maelzer Gmbh Modul für einen Paralleltester zum Prüfen von Leiterplatten
WO2010081834A1 (de) 2009-01-14 2010-07-22 Dtg International Gmbh Verfahren zum prüfen von leiterplatten

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
USRE34491E (en) * 1983-11-07 1993-12-28 Mania Elektronik Automatisation Entwicklung Und Geratebau Gmbh Contact array assembly for a computer-controlled printed circuit board testing apparatus
DE3441578A1 (de) * 1984-11-14 1986-05-22 Riba-Prüftechnik GmbH, 7801 Schallstadt Leiterplatten-pruefeinrichtung
DE3539720A1 (de) * 1985-11-08 1987-05-14 Martin Maelzer Adapter fuer ein leiterplattenpruefgeraet
US6978277B2 (en) * 1989-10-26 2005-12-20 Encyclopaedia Britannica, Inc. Multimedia search system
ATE140542T1 (de) 1991-04-11 1996-08-15 Methode Electronics Inc Gerät zum elektronischen testen von gedruckten leiterplatten oder ähnlichem
DE4436354A1 (de) * 1994-10-12 1996-04-25 Hanno Link Vorrichtung zum gleichzeitigen Prüfen einer Mehrzahl von elektrischen oder elektronischen Teilen
DE19943388B4 (de) 1999-09-10 2010-04-08 Atg Luther & Maelzer Gmbh Vorrichtung zum Prüfen von Leiterplatten
DE10223867B4 (de) * 2002-05-29 2006-07-06 Elco Europe Gmbh Leiterplatten-Prüfeinheit

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3110056A1 (de) * 1981-03-16 1982-09-30 Mang, Paul Kontaktanordnung mit einer vielzahl von in einer kontaktebene angeordneten kontakten

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2951185A (en) * 1956-12-28 1960-08-30 Gen Dynamics Corp Printed circuit subassemblies and test fixtures
US2945989A (en) * 1957-08-15 1960-07-19 Electronic Eng Co Plug-in circuit units
US3829741A (en) * 1973-01-15 1974-08-13 Hobart Mfg Co Mounting for printed circuit boards
JPS5155979A (enExample) * 1974-11-12 1976-05-17 Fujitsu Ltd
US4063172A (en) * 1976-06-01 1977-12-13 International Business Machines Corporation Multiple site, differential displacement, surface contacting assembly
DE3249770C2 (en) * 1982-11-05 1987-11-12 Martin Maelzer Device for testing electrical circuit boards

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3110056A1 (de) * 1981-03-16 1982-09-30 Mang, Paul Kontaktanordnung mit einer vielzahl von in einer kontaktebene angeordneten kontakten

Cited By (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0263244A1 (de) * 1986-09-08 1988-04-13 MANIA Elektronik Automatisation Entwicklung und Gerätebau GmbH Vorrichtung zum elektronischen Prüfen von Leiterplatten mit Kontaktpunkten in extrem feinem Raster (1/20 bis 1/10 Zoll)
EP0406919A3 (en) * 1986-09-08 1991-06-12 Mania Elektronik Automatisation Entwicklung Und Geraetebau Gmbh Arrangement for electronically testing printed circuits with extremely fine contact-point screen
DE3823367A1 (de) * 1988-07-09 1990-01-11 Manfred Prokopp Leiterplattenpruefgeraet
FR2666693A1 (fr) * 1990-09-11 1992-03-13 Option Dispositif pour la connexion a un circuit electrique ou electronique, d'une multiplicite d'elements conducteurs repartis sur une surface de dimensions restreintes.
DE4116457C1 (enExample) * 1991-05-21 1992-10-29 Helmut 7800 Freiburg De Lang-Dahlke
DE19508902A1 (de) * 1995-03-11 1996-09-12 Nadejda Dipl Phys Poskatcheeva Vorrichtung zur Prüfung von Platinen sowie deren Verwendung
DE19627801C1 (de) * 1996-07-10 1998-03-26 Atg Test Systems Gmbh Vorrichtung zum Prüfen von elektrischen Leiterplatten
EP0818684A3 (de) * 1996-07-10 1999-05-19 atg test systems GmbH Vorrichtung zum Prüfen von elektrischen Leiterplatten
US6150825A (en) * 1996-07-10 2000-11-21 Atg Test Systems Gmbh Electric circuit board tester
WO2002031516A1 (de) 2000-10-04 2002-04-18 Atg Test Systems Gmbh & Co. Kg Modul für eine prüfvorrichtung zum testen von leiterplatten
WO2008071541A3 (de) * 2006-12-15 2008-08-21 Atg Luther & Maelzer Gmbh Modul für eine prüfvorrichtung zum testen von leiterplatten
US7893705B2 (en) 2006-12-15 2011-02-22 Atg Luther & Maelzer Gmbh Module for test device for testing circuit boards
DE102008006130A1 (de) 2008-01-25 2009-07-30 Atg Luther & Maelzer Gmbh Modul für einen Paralleltester zum Prüfen von Leiterplatten
WO2010081834A1 (de) 2009-01-14 2010-07-22 Dtg International Gmbh Verfahren zum prüfen von leiterplatten
DE102009004555A1 (de) 2009-01-14 2010-09-30 Atg Luther & Maelzer Gmbh Verfahren zum Prüfen von Leiterplatten

Also Published As

Publication number Publication date
CA1229425A (en) 1987-11-17
JPH0437956B2 (enExample) 1992-06-22
JPS60161568A (ja) 1985-08-23
EP0145830B1 (de) 1987-09-09
EP0145830A1 (de) 1985-06-26
US4674006A (en) 1987-06-16
DE3466079D1 (en) 1987-10-15
ATE29597T1 (de) 1987-09-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0145830B1 (de) Kontaktfeldanordnung für ein rechnergesteuertes Leiterplattenprüfgerät
DE4231185C2 (de) Prüfelektrodeneinheit für gedruckte Leiterplatten sowie Prüfgerät mit einer solchen Prüfelektrodeneinheit
DE2319011C2 (de) Verfahren zum Prüfen eines Leiternetzes auf einem isolierenden Substrat und Anordnung zur Durchführung des Verfahrens
DE3630548A1 (de) Vorrichtung zum elektronischen pruefen von leiterplatten mit kontaktpunkten im 1/20 zoll-raster
DE4133769A1 (de) Zwei-funktions nockenfuehrungs-ring-system fuer parallele elektrische zwischenverbindungen einer bauelement-testplatte und handhabbare testaufbau-kupplungen
EP0759174A1 (de) Adaptersystem für baugruppen-platinen, zu verwenden in einer prüfeinrichtung
DE1800657A1 (de) Kontaktvorrichtung,insbesondere zur elektrischen Pruefung der Leitungszuege gedruckter oder geaetzter Schaltungsplatten der Fernmeldetechnik
DE1233038B (de) Elektrisches Geraet, bei dem die elektrischen Verbindungen zwischen seinen Bauelementen mittels Schaltungsplatten hergestellt sind
DE102004028067A1 (de) Verfahren zum Anbringen einer Steckverbindung auf einem Substrat und Steckverbindung aufgebracht nach dem Verfahren
EP0818684B1 (de) Vorrichtung zum Prüfen von elektrischen Leiterplatten
DE1924447A1 (de) Anordnung zum dichten Packen elektrischer Schaltungen
DE3143768C2 (de) Adapter zur Verbindung von in einer Ebene angeordneten Kontaktpunkten eines Prüflings mit den Anschlüssen einer Prüfeinrichtung
DE69203110T2 (de) Vorrichtung zum Verbinden der Kontaktstifte eines in einem dual-in-line (DIL) Gehäuse montierten integrierten Schaltkreises mit gedruckten Schaltungen auf einer Leiterplatte auf n verschiedene Weisen.
DE3806792A1 (de) Vorrichtung zum pruefen von leiterplatten
EP1031042B1 (de) Vorrichtung zum prüfen von leiterplatten
EP2238461B1 (de) Modul für einen paralleltester zum prüfen von leiterplatten
DE8331861U1 (de) Kontaktfeldanordnung für ein rechnergesteuertes Leiterplattenprüfgerät
DE19707485A1 (de) Umsetzervorrichtung mit eine Kraft anlegenden Blindstiften
DE3340243C2 (enExample)
DE19943388B4 (de) Vorrichtung zum Prüfen von Leiterplatten
DE112005003526T5 (de) Teststecksockel
DE19958029C2 (de) Burn-In-Leiterplatte
DE19821225A1 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Prüfen von gedruckten Leiterplatten
DE4337500A1 (de) Zweiteilige Adaptereinrichtung
EP0238886A1 (de) Vorrichtung zum Bestücken eines Adapters mit Kontaktnadeln für eine Leiterplatten-Prüfeinrichtung

Legal Events

Date Code Title Description
8100 Publication of patent without earlier publication of application
D1 Grant (no unexamined application published) patent law 81
8364 No opposition during term of opposition
8339 Ceased/non-payment of the annual fee