DE3319111C2 - - Google Patents
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Description
Die vorliegende Erfindung betrifft eine neue ternäre Graphit-Einlagerungsverbindung
aus einem Graphit, einem Alkalifluorid
und Fluor, die nicht nur beständig gegen Feuchtigkeit oder
Nässe ist, sondern auch eine ausgezeichnete elektrische
Leitfähigkeit zeigt. Außerdem betrifft die vorliegende Erfindung
ein Verfahren zur Herstellung einer solchen Einlagerungsverbindung,
sowie die Verwendung dieser ternären Einlagerungsverbindung als elektrisch leitfähiges Material.
Aus der DE-OS 25 43 788 sind bereits feste Verbindungen des Kohlenstoffs
bekannt, die
Kohlenstoff und Fluor in Kombination mit BF₃, BF₅, AsF₅,
SbF₅, TaF₅, SiF₄, SO₃, PtF₄, NbF₅, VF₅, UF₆ oder TiF₄
als Lewis-Säure enthalten,
und dadurch hergestellt werden, daß man Kohlenstoff mit einer der
vorstehend genannten Lewis-Säuren und Fluor bei einer
Temperatur, bei der die Lewis-Säuren zumindest teilweise
fließfähig sind, solange in Berührung bringt, bis die mit
dem Kohlenstoff kombinierte Menge an Fluor und Lewis-Säure
im Bereich von 0,05 bis 75 Gew.-% liegt.
In den letzten Jahren haben derartige Graphit-Einlagerungsverbindungen
von Fluoriden aufgrund ihrer ausgezeichneten elektrischen
Leitfähigkeiten steigende Beachtung gefunden. Jedoch
haben die meisten der herkömmlichen bekannten Graphit-Fluorid-
Einlagerungsverbindungen von Fluoriden keine praktische Anwendung gefunden, da sie sehr empfindlich
gegenüber Feuchtigkeit oder Nässe sind
und sich augenblicklich zersetzen, wenn man sie der
Luft aussetzt.
Die bisher als einzulagernde Verbindung eingesetzten Fluoride,
haben niedrige Schmelz- und
Siedepunkte, d. h. sie sind gasförmig oder flüssig bei Raumtemperatur.
Es wurde deshalb allgemein angenommen,
daß das einzulagernde Fluorid einen hohen Dampfdruck bei
relativ niedriger Temperatur haben soll, so daß
keine Versuche unternommen wurden, eine Graphit-Einlagerungsverbindung
aus einem Fluorid mit einem hohen Schmelzpunkt
oder hohen Siedepunkt herzustellen. In der Tat ist es unmöglich,
eine binäre Einlagerungsverbindung aus Graphit
und einem Alkalifluorid, das einen extrem niedrigen Dampfdruck
bei niedrigen Temperaturen zeigt, herzustellen.
Aufgabe der vorliegenden Erfindung war es daher eine
praktisch einsetzbare Graphit-Fluorid-Einlagerungsverbindung
zur Verfügung zu stellen, die nicht nur eine
ausgezeichnete elektrische Leitfähigkeit aufweist, sondern
auch eine hervorragende Beständigkeit gegenüber Feuchtigkeit
oder Nässe zeigt.
Gelöst wurde diese Aufgabe durch
eine ternäre Einlagerungsverbindung aus einem Graphit,
einem Alkalifluorid und Fluor der allgemeinen Formel
C x F(MF) y , worin M ein Alkalimetall darstellt und x etwa 2 bis etwa 100 und y etwa 0,001 bis etwa 0,80 bedeuten. Die nachfolgend
einfachheitshalber mit "ternäre Graphit-Einlagerungsverbindungen"
bezeichneten Verbindungen werden in einer 100%igen Ausbeute, bezogen
auf das eingesetzte Graphitmaterial, erhalten und besitzen
nicht nur eine hervorragend Beständigkeit gegenüber
Feuchtigkeit oder Nässe, sondern zeigen auch eine exzellente
elektrische Leitfähigkeit. Die elektrische Leitfähigkeit
der erfindungsgemäßen ternären Graphit-Einlagerungsverbindung
ist hoch im Vergleich zu dem als Ausgangsmaterial eingesetzten Graphit.
Die vorliegende Erfindung wird nachfolgend im einzelnen
erläutert.
Fig. 1 zeigt die Röntgenbeugungsdiagramme von C₁₄F(LiF)0,5
und C₁₆F(LiF)0,8, welche zwei Formen der ternären
Graphit-Einlagerungsverbindungen gemäß der vorliegenden
Erfindung verkörpern.
Fig. 2 zeigt eine DTA-Kurve (Differential-Thermo-Analyse)
von C₁₄F(LiF)0,5, die eine Form der ternären
Graphit-Einlagerungsverbindungen gemäß der vorliegenden
Erfindung darstellt.
Fig. 3 zeigt ein ESCA-Spektrum (Elektronen-Spektroskopie für
chemische Analyse) von C₁₄F(LiF)0,5, die eine Form
der ternären Graphit-Einlagerungsverbindungen gemäß
der vorliegenden Erfindung darstellt, im Vergleich
zu einem Graphit-Fluorid.
Fig. 4 zeigt Röntgenbeugungsdiagramme von C₁₀F(NaF)0,15,
C₈F(KF)0,09 und C9,3F(CsF)0,05, die weitere Formen
von erfindungsgemäßen ternären Graphit-Einlagerungsverbindungen
darstellen.
Fig. 5 zeigt Röntgenbeugungsdiagramme von C₁₃F(LiF)0,20,
die noch eine weitere Form der erfindungsgemäßen
ternären Graphit-Einlagerungsverbindungen darstellt.
Gemäß der Erfindung kann das mit M in der allgemeinen Formel
dargestellte Alkalimetall Li, Na, K, Rb, Cs oder Fr
sein.
Die ternären Graphit-Einlagerungsverbindungen
der Formel C x F(MF) y gemäß der vorliegenden Erfindung
umfassen Verbindungen im einstufigen,
zweistufigen, dreistufigen, vierstufigen, fünfstufigen,
sechsstufigen, siebenstufigen und manchmal im
achtstufigen Schichtzustand, sowie Gemische
von Verbindungen, die in verschiedenen Schichtzuständen vorliegen.
Beispielsweise versteht man unter einem einstufigen Schichtzustand,
daß jede Graphitschicht eine Einlagerungsschicht, und
unter einem vierstufigen Schichtzustand, daß nur jede
4. Graphitschicht eine Einlagerungsschicht besitzt.
Die Schichtzustandszahl der ternären Graphit-Einlagerungsverbindung
kann durch Messung des Identitätsabstandes (Ic), den
man durch Röntgenbeugung erhält, bestimmt werden. Die Schichtzustandszahl
der gebildeten ternären Graphit-Einlagerungsverbindung
hängt nicht nur von der Reaktionstemperatur und
der Reaktionszeit ab, sondern auch von der Kristallinität
und Dicke (c-Achsenrichtung) des Graphitmaterials. Die Werte
von x und y schwanken entsprechend der Schichtzustandszahl der
ternären Graphit-Einlagerungsverbindungen. Für die Verbindung
des einstufigen Schichtzustandes bewegt sich der Wert von x zwischen
etwa 2,0 bis etwa 20 und der Wert von y zwischen etwa
0,02 und etwa 0,80. Für die Verbindung im zweistufigen Schichtzustand
variiert der Wert von x von etwa 5 bis etwa 50 und der Wert
von y von etwa 0,01 bis etwa 0,50. Für die Verbindung im
dreistufigen oder höherstufigen Schichtzustand liegt der Wert von x zwischen
etwa 20 und etwa 100 und der Wert von y zwischen etwa 0,001
bis etwa 0,30. Hinsichtlich jeder der Verbindungen im einstufigen,
zweistufigen, dreistufigen oder höherstufigen Schichtzustand variieren die
Werte für x und y, innerhalb der vorstehend angegebenen
Bereiche in jedem Fall, nicht nur in Abhängigkeit von der
Reaktionstemperatur und der Reaktionszeit, sondern auch von
der Kristallinität und der Dicke in c-Achsenrichtung des Graphitmaterials.
Das Graphitmaterial, das zur Herstellung einer ternären
Graphit-Einlagerungsverbindung gemäß der vorliegenden Erfindung
eingesetzt wird, kann irgendein natürlicher Graphit
oder ein künstlicher Graphit sein, den man erhält,
indem man Erdölkoks oder dergleichen einer Hitzebehandlung
unterwirft. Die Größe des Graphitmaterials ist nicht kritisch.
Man kann daher einen schuppigen (im allgemeinen von
etwa 1,651 bis etwa 0,175 mm Maschenweite) oder pulverisierten Graphit
(im allgemeinen nicht weniger als etwa 0,175 bis etwa 0,037 mm
Maschenweite) einsetzen. Soll blockförmiger Graphit eingesetzt
werden, so kann man ein Material verwenden, das man
durch ein Verfahren erhalten hat, bei dem man einen Kohlenwasserstoff,
beispielsweise Methan, Propan, Benzol und/oder
Acetylen mit einem Substrat (im allgemeinen aus künstlichem
Graphit gemacht) bei annähernd 2100°C erhitzt, um
den Kohlenwasserstoff zu pyrolysieren und das dabei entstehende
Graphitmaterial auf dem Substrat abzuscheiden.
Das auf dem Substrat abgeschiedene Graphitmaterial unterwirft
man dann einer Hitzebehandlung. Je nach der Temperatur,
bei der die Hitzebehandlung stattfindet, erhält man
blockförmige Graphite mit unterschiedlichen Graphitierungsgraden.
Führt man die Hitzebehandlung bei etwa 2400°C
durch, so erhält man einen pyrolytischen Kohlenstoff (Pyrokohlenstoff).
Führt man die Hitzebehandlung bei etwa
2600°C bis 3000°C durch, so erhält man einen pyrolytischen
Graphit mit einer höheren Kristallinität im Vergleich zu
dem pyrolytischen Kohlenstoff.
Bei der Herstellung einer Graphiteinlagerungsverbindung durch
Umsetzung von Graphit mit einem Metallfluorid in einer Fluorgasatmosphäre,
geht man gemäß der Erfindung so vor, daß man als Metallfluorid ein Alkalifluorid
einsetzt und die Reaktion bei einer Temperatur von 0 bis 250°C
so durchführt, daß unter Gewichtszunahme des Graphits eine ternäre
Einlagerungsverbindung der vorstehend angegebenen allgemeinen Formel C x F(MF) y entstanden ist.
Die vorstehend erwähnte Reaktion
kann auf verschiedenen Wegen durchgeführt werden und ist
damit nicht auf die nachfolgend geschilderten Wege beschränkt.
Beispielsweise kann man ein Verfahren anwenden, das ähnlich
dem Verfahren ist, das bekannt ist unter der Bezeichnung
"Dual Furnace Process" [J. Phys., D 1, 291 (1968)]. Bei
diesem Verfahren, das ähnlich dem Dual Furnace Process ist,
plaziert man in einem Reaktor getrennt voneinander ein Graphitmaterial
und ein Alkalifluorid, wobei ein Netz zwischen
den beiden Substanzen angeordnet ist. Das Graphitmaterial
reagiert dann mit dem Alkalifluorid in der Fluorgasatmosphäre,
wobei man die gewünschte ternäre Graphit-Einlagerungsverbindung
erhält. Dieses Verfahren ist deshalb vorteilhaft,
weil auf diese Weise eine mühsame Trennoperation vermieden
wird, um die erhaltenen ternären Graphit-Einlagerungsverbindungen
von dem zurückgebliebenen nicht umgesetzten
Alkalifluorid zu trennen. Ein anderer Weg, um die vorstehend
genannte Reaktion durchzuführen, ist beispielsweise
der, bei dem man ein Graphitmaterial mit einem Alkalifluorid
in einer Fluorgasatmosphäre in Berührung bringt. In diesem
Fall muß das zurückgebliebene nicht umgesetzte Alkalifluorid
mittels eines Siebes oder einer Pinzette abgetrennt werden,
um die gewünschte ternäre Graphit-Einlagerungsverbindung
zu erhalten.
Nachfolgend werden die gewünschten Reaktionsbedingungen
bei der Herstellung einer ternären Graphit-Einlagerungsverbindung
der Formel C x F(MF) y
angegeben, bei der ein Graphitmaterial mit einem Alkalifluorid
in einer Fluorgasatmosphäre bei einer Temperatur
von 0°C bis 250°C mindestens so lange umgesetzt wird, bis eine
Gewichtszunahme des Graphits eingetreten ist. Der Fluorgasdruck
ist nicht kritisch; er kann üblicherweise zwischen
0,49 und 9,8 bar betragen. Die Reaktionstemperatur beträgt
vorzugsweise von 0 bis 200°C. Wie bereits
vorstehend erwähnt, hängt die Reaktionszeit zur Herstellung
der Verbindung der Formel C x F(MF) y mit den gewünschten
Werten für x und y von der Kristallinität und der Dicke
in c-Achsenrichtung des Graphitmaterials sowie der Reaktionstemperatur
ab. Die Reaktionszeit beträgt im allgemeinen
30 Minuten bis 10 Tage, üblicherweise 1 Stunde bis 7
Tage. Das Gewichtsverhältnis von Graphitmaterial zu Alkalifluorid
hängt von der gewünschten Schichtzustandszahl der ternären
Graphit-Einlagerungsverbindung ab und beträgt im allgemeinen
1 : 0,01 bis 1 : 50. Hinsichtlich der Reaktionsbedingungen
wird bemerkt, daß, wenn die Temperatur des Reaktionssystems
auf eine Temperatur von höher als 100°C ausgedehnt wird,
eine Gewichtserhöhung des Graphits während der Abkühlungsphase
des vorher erhitzten Reaktionssystems beobachtet
wird und zwar zu einem Zeitpunkt, wenn die Temperatur unterhalb
von 100°C kommt. Ist die Dicke in c-Achsenrichtung
des Graphitmaterials größer als 1 mm, dann tendiert das
Produkt dazu, im zweistufigen oder einem höherstufigen Schichtzustand
vorzuliegen als im einstufigen Schichtzustand. Um eine Verbindung im
einstufigen Schichtzustand zu erhalten, ist es im allgemeinen bevorzugt,
ein Graphitmaterial mit einer Dicke in c-Achsenrichtung
von bis zu 0,8 mm einzusetzen.
Nach Beendigung der Reaktion wird das Reaktionssystem,
falls die Temperatur des Reaktionssystems oberhalb von
Raumtemperatur liegt, auf Raumtemperatur abgekühlt, wobei
man die gewünschte ternäre Graphit-Einlagerungsverbindung
der Formel C x F(MF) y erhält.
Ist in der Formel C x F(MF) y M Lithium, so betragen die
Identitätsabstände (Ic) von C x F(MF) y
etwa 9,3 bis 9,5 Å, etwa 12,7 bis 12,9 Å, etwa 16,0 bis
16,2 Å, etwa 19,4 bis 19,6 Å, etwa 22,7 bis 22,9 Å, etwa
26,1 bis 26,3 Å, etwa 29,4 bis 29,6 Å bzw. etwa 32,8 bis
33,0 Å für die Verbindungen im einstufigen, zweistufigen, dreistufigen,
vierstufigen, fünfstufigen, sechsstufigen siebenstufigen bzw. achtstufigen Schichtzustand.
Im allgemeinen variieren die Identitätsabstände (Ic) von
C x F(MF) y für jede Verbindung im einstufigen, zweistufigen, dreistufigen,
vierstufigen, fünfstufigen, sechsstufigen, siebenstufigen und achtstufigen Schichtzustand
etwas in Abhängigkeit von der Art des Alkalimetalls M in
der Formel C x F(MF) y . Die erfindungsgemäßen ternären Graphit-Einlagerungsverbindungen
sind im allgemeinen in der
Farbe schwarz. Alle erfindungsgemäßen ternären Graphit-Einlagerungsverbindungen
der Formel C x F(MF) y , worin M
ein Alkalimetall ist, sind sehr beständig, so daß sie
selbst dann, wenn sie mehrere Wochen der Luft ausgesetzt
sind oder über Nacht in Wasser eingetaucht wurden, beständig
sind, d. h. es wurden keinerlei Änderungen der Röntgenbeugungsdiagramme
beobachtet.
Die Ergebnisse der Elementaranalyse und der Röntgenbeugung
von einigen Formen der erfindungsgemäßen ternären
Graphit-Einlagerungsverbindungen der Formel C x F(MF) y sind
in der nachfolgenden Tabelle 1 aufgezeichnet.
Bei der Durchführung der Elementaranalysen bedient man sich
hinsichtlich der Bestimmung der Kohlenstoffgehalte der ternären
Graphit-Einlagerungsverbindungen eines
C, H, N-Automaten.
Die
Fluorgehalte der ternären Graphit-Einlagerungsverbindungen
bestimmt man mit Hilfe der Sauerstoffverbrennungs-Methode.
Hinsichtlich der Elementaranalyse
von ternären Graphit-Einlagerungsverbindungen,
die Lithium enthalten, kann die Fluormenge, die im Lithiumfluorid
in der ternären Graphit-Einlagerungsverbindung
vorliegt, nicht genügend genau mittels der Sauerstoffverbrennungs-Methode
bestimmt werden, da Lithiumfluorid in
Wasser nur schwach löslich ist. Daher erhält man die Fluorgehalte
der ternären Graphit-Einlagerungsverbindungen, die
Lithium enthalten, mittels eines Korrekturfaktors, den man
durch einen Vergleichsversuch, bei dem eine Standard-Lithiumfluorid-Probe
mittels der Sauerstoffverbrennungs-Methode
analysiert wird, wobei der gefundene Fluorgehalt und der
errechnete Fluorgehalt verglichen werden. Hinsichtlich der
Elementaranalyse der anderen ternären Einlagerungsverbindungen
sind solche Korrekturen nicht notwendig. Die Analyse
der Alkalimetalle kann mittels der Atomabsorptionsmethode
durchgeführt werden.
In den Fig. 1, 4 und 5 sind Röntgenbeugungsdiagramme
(Cu-K α ) von C14F(LiF)0,5, C16F(LiF)0,8, C10F(NaF)0,15,
C8F(KF)0,09, C9,3F(CsF)0,05 und C13F(LiF)0,20 dargestellt.
Beim Studium der Röntgenbeugung von solchen ternären Graphit-Einlagerungsverbindungen
beobachtet man manchmal
breite Beugungslinien. Die Identitätsabstände (Ic) von
fünf Arten von C x F(MF) y , die in den Fig. 1, 4 und 5 dargestellt
sind, sind berechnet aus den (00l) Beugungslinien,
wobei man erhält etwa 9,4 Å, etwa 9,38 Å, etwa
9,55 Å, etwa 9,45 Å, etwa 9,55 Å bzw. etwa 9,32 Å.
In Fig. 2 ist eine DTA-Kurve von C14F(LiF)0,5 dargestellt
(gemessen in Luft bei einer Erhitzungsgeschwindigkeit von
20°C/Min). In der Fig. 2 beginnt der breite Peak der Exotherme
für C14F(LiF)0,5 bei etwa 50°C und zeigt seinen Höhepunkt
bei etwa 270°C.
ESCA (Elektronen-Spektroskopie für chemische Analysen) ist eines der brauchbarsten Hilfsmittel, um wertvolle
Informationen hinsichtlich einer chemischen Bindung zwischen
dem Wirt-Graphit und der Einlagerung zu geben. In Fig. 3
sind die ESCA-Spektren von einer Verbindung im ersten Zustand
[C14F(LiF)0,5] im Vergleich zu einem Graphitfluorid,
zusammengesetzt aus 59 Gew.-% (C₂F) n und Rest (CF) n , dargestellt.
Ein (C₂F) n -Typ-Graphitfluorid hat zwei Kohlenstoff-ls
Peaks bei 289,0 eV und 287,0 eV im Vergleich zu einem
Kontaminationskohlenstoff ls Peak, der bei 284,0 eV liegt.
Der Cls Peak bei 289,0 eV gehört zu C-F-Bindungen und der,
der bei 287,0 eV erscheint, zu C-C-Bindungen in Nachbarschaft
zu C-F-Bindungen. Da ein (CF) n -Typ-Graphitfluorid
nur C-F kovalente Bindungen hat, zeigt das ESCA-Spektrum
auch nur einen Cls Peak bei 289,0 eV. Hinsichtlich
C14F(LiF)0,5 beobachtet man einen starken Peak bei 284,0 eV
und einen anderen Peak bei 288,7 eV. Der letztere weist auf
die Anwesenheit von Fluoratomen hin, die an den Kohlenstoffatomen
des Wirt-Graphits chemisch adsorbiert und kovalent
gebunden sind. Das Fls-Spektrum zeigt auch einen verhältnismäßig
breiten Peak bei 687,8 eV. Bei der ESCA-Studie
wird eine kinetische Energie von Photoelektronen gemessen,
die von einer inneren Schale jedes Elements emittiert werden.
Da die hauptsächliche freie Weglänge von Photoelektronen
in festen Materialien in den meisten Fällen einige
10 Angström beträgt, werden nur einige Graphitschichten
in den Graphit-Einlagerungsverbindungen analysiert. Dementsprechend
wird die chemische Bindung entlang der Oberfläche
der Verbindung in den ESCA-Spektren hervorgehoben.
Hinsichtlich der Verbindung C14F(LiF)0,5 ist der Peak,
der zu den C-F-Bindungen gehört, klein, was die Vermutung
nahelegt, daß entlang der Oberfläche von C14F(LiF)0,5
nur spärlich irgendwelche C-F-Bindungen vorhanden sind.
Die vorstehend beschriebenen ESCA-Studien wurden mit Hilfe
eines Elektronen-Spektrometers mit Mg-K α -Strahlung
durchgeführt. Die DTA wurde in Luft unter Verwendung
von α-Al₂O₃ als Referenz durchgeführt. Die Röntgenbeugungsuntersuchungen
wurden mit einem Röntgenbeugungsapparat
mit Cu-K α -Strahlung durchgeführt.
Hinsichtlich der Bildung der ternären Graphit-Einlagerungsverbindung
der Formel C x F(MF) y (worin M ein Alkalimetall
bedeutet), wird folgendes angenommen: Zunächst werden gasförmige
Spezies (MF) m · (F2) n (worin M ein Alkalimetall bedeutet)
durch die Umsetzung von MF mit Fluor entsprechend
der folgenden Gleichung gebildet:
mMF+nF2⇄(MF) m · (F2) n
Die gasförmigen Spezies werden dann in den Graphit eingelagert.
Da sich diese chemischen Gleichgewichte bei Erhöhung
der Temperatur nach links verschieben, zersetzen sich
die gasförmigen Komplexe bei höheren Temperaturen.
Wie bereits bemerkt, zeigt die Analyse der erfindungsgemäßen
ternären Graphit-Einlagerungsverbindung, selbst nachdem
sie für mehrere Wochen der Luft ausgesetzt ist,
im wesentlichen das gleiche Röntgenbeugungsdiagramm wie
vor dem Lufteinlaß. Im Gegensatz zu den herkömmlichen
bekannten Graphit-Fluorid-Einlagerungsverbindungen, die
sich augenblicklich zersetzen, wenn sie der Luft ausgesetzt
sind, ist die erfindungsgemäße ternäre Graphit-Einlagerungsverbindung
beständig gegenüber Feuchtigkeit
oder Nässe.
Nachfolgend wird eine Erklärung hinsichtlich der elektrischen
Leitfähigkeiten in der a-Achsenrichtung (parallel
zu den Graphitschichten) der erfindungsgemäßen ternären
Graphit-Einlagerungsverbindungen gegeben. Es ist dem Fachmann
allgemein bekannt, daß im wesentlichen kein Unterschied
in der elektrischen Leitfähigkeit zwischen einer
Verbindung im zweistufigen Schichtzustand und einer Verbindung im
dreistufigen Schichtzustand besteht, und daß die Verbindung im zweistufigen
Schichtzustand und die Verbindung im dreistufigen Schichtzustand eine
hervorragende elektrische Leitfähigkeit gegenüber Verbindungen
anderer Schichtzustände aufweisen (siehe D. Billand, A.
H´rold und F. Vogel, SYNTHETIC METALS, 3 (1981) 279-288).
Gemäß der in Synthetic Metals, 3, 247 (1981) beschriebenen
"Nicht-Kontaktmethode" mißt man den spezifischen Widerstand
in Richtung a-Achse an einem pyrolytischen Graphit
an C27F(LiF)0,5 (Verbindung mit gemischten Schichtzuständen des
zweistufigen Schichtzustandes, vierstufigen Schichtzustandes und sechsstufigen Schichtzustandes),
an C18F(LiF)0,5 (Verbindung mit gemischten Schichtzuständen
des dreistufigen Schichtzustandes und achtstufigen Schichtzustandes) und an
C14F(LiF)0,5 (Verbindung mit einstufigem Schichtzustand).
Die Ergebnisse sind in Tabelle 2 wiedergegeben.
Verbindung | |
Spezifischer Widerstand | |
Ω · cm bei 25°C | |
Pyroytischer Graphit | |
6,0×10-5 | |
C27F(LiF)0,5 | 5,0×10-6 |
C18F(LiF)0,5 | 5,0×10-6 |
C14F(LiF)0,5 | 8,3×10-6 |
Wie aus Tabelle 2 ersichtlich ist, sind die spezifischen
Widerstände von jeder der Verbindungen C27F(LiF)0,5,
C18F(LiF)0,5 und C14F(LiF)0,5 um eine Zehnerpotenz niedriger
als der spezifische Widerstand von dem ursprünglichen
pyrolytischen Graphit. Die erfindungsgemäße ternäre Graphit-Einlagerungsverbindung
ist nicht nur gegenüber Feuchtigkeit
und Nässe hervorragend beständig, sondern zeigt
auch eine hohe elektrische Leitfähigkeit. Die erfindungsgemäße
ternäre Graphit-Einlagerungsverbindung kann mit
einer Kupferfolie ummantelt oder in ein Epoxyharz eingearbeitet
werden, so daß sie als elektrisch leitfähiges
Material verwendet werden kann. Die erfindungsgemäße ternäre
Graphit-Einlagerungsverbindung ist aber nicht nur als
elektrisch leitfähigs Material brauchbar, sondern auch als
Katalysator für verschiedene organische Reaktionen.
Die nachfolgenden Beispiele erläutern weiterhin die Erfindung.
In ein Reaktionsgefäß aus Nickel gibt man 0,305 g schuppigen
natürlichen Graphit mit einer Teilchengröße von 0,833 bis
0,295 mm lichte Maschenweite aus Madagaskarerz und 0,307 g eines im
Handel erhältlichen LiF (Spezialqualität), getrennt durch
ein Nickelnetz, und bringt dann das Reaktionsgefäß in eine
Fluorierungsapparatur, die anschließend evakuiert und mit
Fluorgas auf 0,98 bar gefüllt und auf 230°C erhitzt wird. Das
Reaktionssystem läßt man bei dieser Temperatur 7 Tage stehen
und kühlt dann auf Raumtemperatur ab und läßt die
Fluorierungsapparatur bei Raumtemperatur stehen. Die Gesamtzeit
aus Abkühlungszeit und der Zeit, bei der die Apparatur
bei Raumtemperatur gehalten wird, beträgt zwei Stunden.
Dann ersetzt man das Fluorgas in der Apparatur durch
Stickstoff. Man erhält eine schwarze Einlagerungsverbindung
der Formel C13F(LiF)0,4. Die Ergebnisse der Elementaranalyse
und der Röntgenbeugung für diese Verbindung ersieht
man aus Tabelle 1.
In ein Reaktionsgefäß aus Nickel gibt man 0,307 g schuppigen
natürlichen Graphit mit einer Teilchengröße von 0,833 bis
0,295 mm lichte Maschenweite aus Madagaskarerz und 0,300 g eines im
Handel erhältlichen LiF (Spezialqualität), getrennt durch
ein Nickelnetz, und bringt dann das Reaktionsgefäß in eine
Fluorierungsapparatur, die anschließend evakuiert und mit
Fluorgas auf 0,98 bar gefüllt und auf 200°C erhitzt wird.
Das Reaktionssystem läßt man bei dieser Temperatur 2 Tage
stehen und kühlt dann auf Raumtemperatur ab und läßt die
Fluorierungsapparatur bei Raumtemperatur stehen. Die Gesamtzeit
aus Abkühlungszeit und der Zeit, bei der die Apparatur
bei Raumtemperatur gehalten wird, beträgt zwei Stunden.
Dann ersetzt man das Fluorgas in der Apparatur durch
Stickstoff. Man erhält eine schwarze Einlagerungsverbindung
der Formel C14F(LiF)0,5. Die Ergebnisse der Elementaranalyse
und der Röntgenbeugung für diese Verbindung ersieht
man aus Tabelle 1.
In ein Reaktionsgefäß aus Nickel gibt man 0,300 g schuppigen
natürlichen Graphit mit einer Teilchengröße von 0,833 bis
0,295 mm lichte Maschenweite aus Madagaskarerz und 0,302 g eines im
Handel erhältlichen LiF (Spezialqualität), getrennt durch
ein Nickelnetz, und bringt dann das Reaktionsgefäß in eine
Fluorierungsapparatur, die anschließend evakuiert und mit
Fluorgas auf 0,98 bar gefüllt und auf 190°C erhitzt wird. Das
Reaktionssystem läßt man bei dieser Temperatur 63 Stunden
stehen und kühlt dann auf Raumtemperatur ab und läßt die
Fluorierungsapparatur bei Raumtemperatur stehen. Die Gesamtzeit
aus Abkühlungszeit und der Zeit, bei der die
Apparatur bei Raumtemperatur gehalten wird, beträgt zwei
Stunden. Dann ersetzt man das Fluorgas in der Apparatur
durch Stickstoff. Man erhält eine schwarze Einlagerungsverbindung
der Formel C16F(LiF)0,8. Die Ergebnisse der
Elementaranalyse und der Röntgenbeugung für diese Verbindung
ersieht man aus Tabelle 1.
In ein Reaktionsgefäß aus Nickel gibt man 2,00 g schuppigen
natürlichen Graphit mit einer Teilchengröße von 0,175 mm
lichte Maschenweite oder mehr aus Madagaskarerz und 0,500 g
eines im Handel erhältlichen NaF, getrennt durch ein Nickelnetz,
und bringt dann das Reaktionsgefäß in eine Fluorierungsapparatur,
die anschließend evakuiert und mit Fluorgas
auf 1 atm gefüllt und auf 160°C erhitzt wird. Das Reaktionssystem
läßt man bei dieser Temperatur 68 Stunden stehen
und kühlt dann auf Raumtemperatur ab und läßt die Fluorierungsapparatur
bei Raumtemperatur stehen. Die Gesamtzeit aus
Abkühlungszeit und der Zeit, bei der die Apparatur bei Raumtemperatur
gehalten wird, beträgt 24 Stunden. Dann ersetzt
man das Fluorgas in der Apparatur durch Stickstoff. Man erhält
eine schwarze Einlagerungsverbindung der Formel
C10F(NaF)0,15. Die Ergebnisse der Elementaranalyse und der
Röntgenbeugung für diese Verbindung ersieht man aus Ta
belle 1.
In ein Reaktionsgefäß aus Nickel gibt man 2,00 g schuppigen
natürlichen Graphit mit einer Teilchengröße von 0,175 mm
lichte Maschenweite oder mehr aus Madagaskarerz und 0,5 g
eines im Handel erhältlichen KF, getrennt durch ein Nickelnetz,
und bringt dann das Reaktionsgefäß in eine Fluorierungsapparatur,
die anschließend evakuiert und mit Fluorgas
auf 0,98 bar gefüllt und auf 140°C erhitzt wird. Das
Reaktionssystem läßt man bei dieser Temperatur 64 Stunden
stehen und kühlt dann auf Raumtemperatur ab und läßt die
Fluorierungsapparatur bei Raumtemperatur stehen. Die Gesamtzeit
aus Abkühlungszeit und der Zeit, bei der die
Apparatur bei Raumtemperatur gehalten wird, beträgt 24
Stunden. Dann ersetzt man das Fluorgas in der Apparatur
durch Stickstoff. Man erhält eine schwarze Einlagerungsverbindung
der Formel C8F(KF)0,09. Die Ergebnisse der
Elementaranalyse und der Röntgenbeugung für diese Verbindung
ersieht man aus Tabelle 1.
In ein Reaktionsgefäß aus Nickel gibt man 2,00 g schuppigen
natürlichen Graphit mit einer Teilchengröße von 0,175 mm
lichte Maschenweite oder mehr aus Madagaskarerz und 0,5 g eines
im Handel erhältlichen CsF, getrennt durch ein Nickelnetz,
und bringt dann das Reaktionsgefäß in eine Fluorierungsapparatur,
die anschließend evakuiert und mit Fluorgas
auf 0,98 bar gefüllt und auf 140°C erhitzt wird. Das Reaktionssystem
läßt man bei dieser Temperatur 48 Stunden stehen und
kühlt dann auf Raumtemperatur ab und läßt die Fluorierungsapparatur
bei Raumtemperatur stehen. Die Gesamtzeit aus Abkühlungszeit
und der Zeit, bei der die Apparatur bei Raumtemperatur
gehalten wird, beträgt 24 Stunden. Dann ersetzt
man das Fluorgas in der Apparatur durch Stickstoff. Man erhält
eine schwarze Einlagerungsverbindung der Formel
C9,3F(CsF)0,05. Die Ergebnisse der Elementaranalyse und
der Röntgenbeugung für diese Verbindung ersieht man aus
Tabelle 1.
In ein Reaktionsgefäß aus Nickel gibt man 100 mg schuppigen
natürlichen Graphit mit einer Teilchengröße von 0,833 bis
0,295 mm lichte Maschenweite aus Madagaskarerz und 200 mg eines im
Handel erhältlichen LiF, und bringt dann das Reaktionsgefäß
in eine Fluorierungsapparatur, die anschließend evakuiert
und mit Fluorgas auf 0,98 bar gefüllt und auf 148°C
erhitzt wird. Das Reaktionssystem läßt man bei dieser
Temperatur 24 Stunden stehen und kühlt dann auf Raumtemperatur
ab und läßt die Fluorierungsapparatur bei Raumtemperatur
stehen. Die Gesamtzeit aus Abkühlungszeit und
der Zeit, bei der die Apparatur bei Raumtemperatur gehalten
wird, beträgt 5 Stunden. Dann ersetzt man das Fluorgas
in der Apparatur durch Stickstoff. Man erhält eine
schwarze Einlagerungsverbindung der Formel C13F(LiF)0,20.
Die Ergebnisse der Elementaranalyse und der Röntgenbeugung
für diese Verbindung ersieht man aus Tabelle 1.
In ein Reaktionsgefäß aus Nickel gibt man 2,00 g schuppigen
natürlichen Graphit mit einer Teilchengröße von 0,175 mm lichte Maschenweite
oder mehr aus Madagaskarerz und 0,500 g eines im
Handel erhältlichen NaF, und bringt dann das Reaktionsgefäß
in eine Fluorierungsapparatur, die anschließend evakuiert
und mit Fluorgas auf 0,98 bar gefüllt und auf 160°C
erhitzt wird. Das Reaktionssystem läßt man bei dieser Temperatur
87 Stunden stehen und kühlt dann auf Raumtemperatur
ab und läßt die Fluorierungsapparatur bei Raumtemperatur
stehen. Die Gesamtzeit aus Abkühlungszeit und der Zeit,
bei der die Apparatur bei Raumtemperatur gehalten wird,
beträgt 192 Stunden. Dann ersetzt man das Fluorgas in der
Apparatur durch Stickstoff. Man erhält eine schwarze Einlagerungsverbindung
aus Graphit mit Natriumfluorid und
Fluor. Die Ergebnisse der Röntgenbeugung
für diese Verbindung ersieht man aus der folgenden
Tabelle 3.
In ein Reaktionsgefäß aus Nickel gibt man einen 45,9-mg-Block
aus pyrolytischem Graphit (Temperatur der Hitzebehandlung:
3000°C)
und 200 mg eines im Handel erhältlichen
LiF (Spezialqualität), getrennt durch ein Nickelnetz,
und bringt dann das Reaktionsgefäß in eine Fluorierungsapparatur,
die anschließend evakuiert und mit Fluorgas
auf 0,98 bar bei Raumtemperatur (etwa 25°C) gefüllt wird.
Das Reaktionssystem läßt man bei dieser Temperatur 40 Minuten
stehen. Dann ersetzt man das Fluorgas in der Apparatur
durch Stickstoff. Man erhält eine schwarze Einlagerungsverbindung
der Formel C27F(LiF)0,5. Der spezifische Widerstand
des Produktes beträgt 5,0×10-6Ω · cm, wohingegen
der spezifische Widerstand des ursprünglichen pyrolytischen
Graphits 6×10-5Ω · cm beträgt. Das Produkt ist eine Verbindung
mit gemischten Schichtzuständen aus zweistufigem, vierstufigem und
sechsstufigem Zustand.
In ein Reaktionsgefäß aus Nickel gibt man einen 19,8-mg-Block
aus pyrolytischem Graphit (Temperatur der Hitzebehandlung:
3000°C)
und 200 mg eines im Handel erhältlichen
LiF (Spezialqualität), getrennt durch ein
Nickelnetz, und bringt dann das Reaktionsgefäß in eine
Fluorierungsapparatur, die anschließend evakuiert und
mit Fluorgas auf 0,98 bar bei Raumtemperatur (etwa 25°C)
gefüllt wird. Das Reaktionssystem läßt man bei dieser
Temperatur 90 Minuten stehen. Dann ersetzt man das Fluorgas
in der Apparatur durch Stickstoff. Man erhält eine
schwarze Einlagerungsverbindung der Formel C18F(LiF)0,5.
Der spezifische Widerstand des Produktes beträgt
5,0×10-6Ω · cm, wohingegen der spezifische Widerstand
des ursprünglichen pyrolytischen Graphits 6×10-5Ω · cm
beträgt. Das Produkt ist eine Verbindung mit gemischten Schichtzuständen
aus dreistufigem und achtstufigem Schichtzustand.
In ein Reaktionsgefäß aus Nickel gibt man einen 27,1-mg-Block
aus pyrolytischem Graphit (Temperatur der Hitzebehandlung:
3000°C)
und 200 mg eines im Handel erhältlichen
LiF (Spezialqualität), getrennt durch ein Nickelnetz,
und bringt dann das Reaktionsgefäß in eine Fluorierungsapparatur,
die anschließend evakuiert und mit Fluorgas
auf 0,98 bar bei Raumtemperatur (etwa 25°C) gefüllt wird.
Das Reaktionssystem läßt man bei dieser Temperatur 24 Stunden
stehen. Dann ersetzt man das Fluorgas in der Apparatur
durch Stickstoff. Man erhält eine schwarze Einlagerungsverbindung
der Formel C14F(LiF)0,5. Der spezifische Widerstand
des Produktes beträgt 8,3×10-6Ω · cm, wohingegen
der spezifische Widerstand des ursprünglichen pyrolytischen
Graphits 6×10-5Ω · cm beträgt. Das Produkt ist eine Verbindung
mit einstufigem Schichtzustand.
Claims (7)
1. Ternäre Einlagerungsverbindung aus einem Graphit, Alkalifluorid und
Fluor der allgemeinen Formel C x F(MF) y worin bedeuten M ein Alkalimetall,
x etwa 2 bis etwa 100 und y etwa 0,001 bis etwa 0,80.
2. Ternäre Einlagerungsverbindung gemäß Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß sie eine Verbindung aus verschiedenstufigen Schichtzuständen darstellt,
die mindestens zwei Verbindungen enthält, die im einstufigen,
zweistufigen, dreistufigen, vierstufigen, fünfstufigen, sechsstufigen,
siebenstufigen oder achtstufigen Schichtzustand vorliegen.
3. Verfahren zur Herstellung einer Graphit-Einlagerungsverbindung durch
Umsetzung von Graphit mit einem Metallfluorid in einer Fluorgasatmosphäre,
dadurch gekennzeichnet, daß man als Metallfluorid ein Alkalifluorid
einsetzt und die Reaktion bei einer Temperatur von 0 bis 250°C
so durchführt, daß unter Gewichtszunahme des Graphits eine ternäre
Einlagerungsverbindung der allgemeinen Formel C x F(MF) y entstanden ist,
worin bedeuten M ein Alkalimetall, x etwa 2 bis etwa 100 und y etwa
0,001 bis etwa 0,80.
4. Verfahren nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß das Graphitmaterial
und das Alkalifluorid in einem Gewichtsverhältnis von
1 : 0,01 bis 1 : 50 eingesetzt werden.
5. Verfahren nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Temperatur
von 0 bis 200°C beträgt.
6. Verfahren nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß in der Fluorgasatmosphäre
ein Fluorgasdruck von 0,49 bis 9,8 bar herrscht.
7. Verwendung der ternären Einlagerungsverbindungen gemäß den Ansprüchen
1 bis 6 als elektrisch leitfähiges Material.
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